JPH07130618A - 基板処理装置 - Google Patents
基板処理装置Info
- Publication number
- JPH07130618A JPH07130618A JP5271491A JP27149193A JPH07130618A JP H07130618 A JPH07130618 A JP H07130618A JP 5271491 A JP5271491 A JP 5271491A JP 27149193 A JP27149193 A JP 27149193A JP H07130618 A JPH07130618 A JP H07130618A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- cup
- liquid
- supply nozzle
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 異なる処理液を別々に回収し、しかも装置の
高さを抑える。 【構成】 基板現像装置は、少なくとも2種の処理液
(現像液,洗浄液)を基板Pに供給して基板処理を行う
装置であり、基板保持部1と洗浄液供給ノズル2と現像
液供給ノズルと第1カップ4と第2カップ5と振り分け
機構6とを備えている。基板保持部1は基板Pを水平方
向に保持して回転させる。洗浄液供給ノズル2は基板P
に洗浄液を供給する。現像液供給ノズルは基板Pに現像
液を供給する。第1カップ4は、基板保持部1の下方に
おいて洗浄液を回収する。第2カップ5は、第1カップ
4よりも外周側において現像液を回収する。振り分け機
構6は、水平方向に移動することで、基板Pから放射状
に離れる洗浄液または現像液を対応する第1カップ4ま
たは第2カップ5に振り分ける。
高さを抑える。 【構成】 基板現像装置は、少なくとも2種の処理液
(現像液,洗浄液)を基板Pに供給して基板処理を行う
装置であり、基板保持部1と洗浄液供給ノズル2と現像
液供給ノズルと第1カップ4と第2カップ5と振り分け
機構6とを備えている。基板保持部1は基板Pを水平方
向に保持して回転させる。洗浄液供給ノズル2は基板P
に洗浄液を供給する。現像液供給ノズルは基板Pに現像
液を供給する。第1カップ4は、基板保持部1の下方に
おいて洗浄液を回収する。第2カップ5は、第1カップ
4よりも外周側において現像液を回収する。振り分け機
構6は、水平方向に移動することで、基板Pから放射状
に離れる洗浄液または現像液を対応する第1カップ4ま
たは第2カップ5に振り分ける。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、基板処理装置、特に、
少なくとも2種の処理液を基板に供給して基板処理を行
う基板処理装置に関する。
少なくとも2種の処理液を基板に供給して基板処理を行
う基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体製造工程や液晶表示装置の製造工
程において、フォトプロセスでパターンを形成する際に
は、基板にフォトレジストを塗布する工程や、基板を現
像液で現像する工程や、基板を洗浄液で洗浄する工程等
の処理液による基板処理工程が不可欠である。この種の
基板処理工程に用いられる基板処理装置として、同一の
処理室内で異なる種類の処理液を用いて現像・洗浄等の
複数の処理を行う装置が既に知られている。
程において、フォトプロセスでパターンを形成する際に
は、基板にフォトレジストを塗布する工程や、基板を現
像液で現像する工程や、基板を洗浄液で洗浄する工程等
の処理液による基板処理工程が不可欠である。この種の
基板処理工程に用いられる基板処理装置として、同一の
処理室内で異なる種類の処理液を用いて現像・洗浄等の
複数の処理を行う装置が既に知られている。
【0003】実公平4−34902号公報には、基板を
回転可能に保持する基板保持部と、基板保持部の周りに
配置された複数のカップと、基板保持部を上下させる機
構とを備えた基板処理装置が示されている。前記カップ
の開口は、上下に積み重ねられた状態で中心方向にそれ
ぞれ開口している。この基板処理装置では、基板保持部
が上下することにより、異なる処理工程で使用される異
なる処理液を別々のカップに流れ込ませることができ
る。これによって、異なる処理液の混合を防止し、再利
用ができるようになる。
回転可能に保持する基板保持部と、基板保持部の周りに
配置された複数のカップと、基板保持部を上下させる機
構とを備えた基板処理装置が示されている。前記カップ
の開口は、上下に積み重ねられた状態で中心方向にそれ
ぞれ開口している。この基板処理装置では、基板保持部
が上下することにより、異なる処理工程で使用される異
なる処理液を別々のカップに流れ込ませることができ
る。これによって、異なる処理液の混合を防止し、再利
用ができるようになる。
【0004】また同公報には、カップ間に上下動可能な
仕切を設け、当該仕切を上下させることにより、異なる
処理液を別々のカップに流れ込ませる構成も示されてい
る。
仕切を設け、当該仕切を上下させることにより、異なる
処理液を別々のカップに流れ込ませる構成も示されてい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】実公平4−34902
号公報に開示された基板処理装置では、基板保持部また
は仕切り部を上下に移動させる構造であるため、装置高
さが高くならざるを得ない。ところが、基板保持部の上
方には基板搬送用のロボットハンド等が配置されている
ために、装置が高くなりすぎるのは問題である。
号公報に開示された基板処理装置では、基板保持部また
は仕切り部を上下に移動させる構造であるため、装置高
さが高くならざるを得ない。ところが、基板保持部の上
方には基板搬送用のロボットハンド等が配置されている
ために、装置が高くなりすぎるのは問題である。
【0006】本発明の目的は、異なる種類の処理液を別
々に回収し、しかも装置の高さを抑えることにある。
々に回収し、しかも装置の高さを抑えることにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に係る基板処理装
置は、互いに種類の異なる第1及び第2の液を時をずら
せて基板に供給して基板処理を行うものであり、基板保
持部と第1液供給手段と第2液供給手段と第1回収部と
第2回収部と振り分け部とを備えている。基板保持部
は、基板を水平方向に保持して回転させる。第1液供給
手段は、基板保持部に保持された基板に第1液を供給す
る。第2液供給手段は、基板保持部に保持された基板に
第2液を供給する。第1回収部は、基板保持部の下方に
おいて第1液を回収する。第2回収部は、基板保持部の
下方でかつ第1回収部よりも外周側において第2液を回
収する。振り分け部は、基板保持部により回転させられ
る基板から飛散する第1液を第1回収部に導くととも
に、その状態から水平方向に移動することにより、同じ
く基板から飛散する第2液を第2回収部に導く。
置は、互いに種類の異なる第1及び第2の液を時をずら
せて基板に供給して基板処理を行うものであり、基板保
持部と第1液供給手段と第2液供給手段と第1回収部と
第2回収部と振り分け部とを備えている。基板保持部
は、基板を水平方向に保持して回転させる。第1液供給
手段は、基板保持部に保持された基板に第1液を供給す
る。第2液供給手段は、基板保持部に保持された基板に
第2液を供給する。第1回収部は、基板保持部の下方に
おいて第1液を回収する。第2回収部は、基板保持部の
下方でかつ第1回収部よりも外周側において第2液を回
収する。振り分け部は、基板保持部により回転させられ
る基板から飛散する第1液を第1回収部に導くととも
に、その状態から水平方向に移動することにより、同じ
く基板から飛散する第2液を第2回収部に導く。
【0008】
【作用】本発明に係る基板処理装置では、第1及び第2
液供給手段は、基板保持部に保持された基板に第1及び
第2液をそれぞれ供給する。供給された第1及び第2液
は回転する基板から飛散し、回収部に回収される。この
とき、振り分け部が水平方向に移動して、第1及び第2
液をそれぞれ第1及び第2回収部に導く。
液供給手段は、基板保持部に保持された基板に第1及び
第2液をそれぞれ供給する。供給された第1及び第2液
は回転する基板から飛散し、回収部に回収される。この
とき、振り分け部が水平方向に移動して、第1及び第2
液をそれぞれ第1及び第2回収部に導く。
【0009】ここでは、異なる処理液を別々に回収する
ことができるので、これらの処理液の再利用が可能にな
る。また、振り分け部が水平方向に移動する構成である
ので、基板処理装置の高さを抑えることができる。
ことができるので、これらの処理液の再利用が可能にな
る。また、振り分け部が水平方向に移動する構成である
ので、基板処理装置の高さを抑えることができる。
【0010】
【実施例】第1実施例 図1〜図4に示す基板現像装置は、同一処理室内で現像
液による現像と洗浄液による洗浄とを基板Pに対して行
う装置である。この基板現像装置は、主に、基板保持部
1と洗浄液供給ノズル2と現像液供給ノズル3と第1カ
ップ4と第2カップ5と振り分け機構6とから構成され
ている。
液による現像と洗浄液による洗浄とを基板Pに対して行
う装置である。この基板現像装置は、主に、基板保持部
1と洗浄液供給ノズル2と現像液供給ノズル3と第1カ
ップ4と第2カップ5と振り分け機構6とから構成され
ている。
【0011】基板保持部1は、基板Pを水平方向に保持
する真空チャック7と、真空チャック7を垂直軸線回り
に回転させ得るモータ機構8とから構成されている。洗
浄液供給ノズル2(図1,図3)は、図示しない洗浄液
タンクに連結されており、基板Pの中心部上方位置と退
避位置との間で移動可能である。現像液供給ノズル3
(図2,図4)は、図示しない現像液タンクに連結され
ており、基板Pの中心部上方位置と退避位置との間で移
動可能である。
する真空チャック7と、真空チャック7を垂直軸線回り
に回転させ得るモータ機構8とから構成されている。洗
浄液供給ノズル2(図1,図3)は、図示しない洗浄液
タンクに連結されており、基板Pの中心部上方位置と退
避位置との間で移動可能である。現像液供給ノズル3
(図2,図4)は、図示しない現像液タンクに連結され
ており、基板Pの中心部上方位置と退避位置との間で移
動可能である。
【0012】第1カップ4は、円筒状であり、真空チャ
ック7の下方において同心に配置されている。第1カッ
プ4の下端は円板状になって閉じており、第1排出管1
4の上端が開口している。第1排出管14の下端は、現
像液回収タンク(図示せず)に接続されている。第2カ
ップ5は、第1カップ4より径の大きい円筒状であり、
第1カップ4を内側に同心に収容している。第2カップ
5の下端には、第2排出管15の上端が開口している。
第2排出管15の下端は、洗浄液回収タンク(図示せ
ず)に接続されている。第2カップ5の上端には、円錐
台形のカバー5aの下端が固定されている。
ック7の下方において同心に配置されている。第1カッ
プ4の下端は円板状になって閉じており、第1排出管1
4の上端が開口している。第1排出管14の下端は、現
像液回収タンク(図示せず)に接続されている。第2カ
ップ5は、第1カップ4より径の大きい円筒状であり、
第1カップ4を内側に同心に収容している。第2カップ
5の下端には、第2排出管15の上端が開口している。
第2排出管15の下端は、洗浄液回収タンク(図示せ
ず)に接続されている。第2カップ5の上端には、円錐
台形のカバー5aの下端が固定されている。
【0013】振り分け機構6は4個設けられており、そ
れらは基板保持部1と同心に円環状に配置されている。
各振り分け機構6は、エアシリンダ10と、エアシリン
ダ10のピストンロッド11の先端に固定された仕切り
板9とから構成されている。仕切り板9は、図3に示す
ように、下端に円筒部を有する円錐台形を4分割した形
状である。
れらは基板保持部1と同心に円環状に配置されている。
各振り分け機構6は、エアシリンダ10と、エアシリン
ダ10のピストンロッド11の先端に固定された仕切り
板9とから構成されている。仕切り板9は、図3に示す
ように、下端に円筒部を有する円錐台形を4分割した形
状である。
【0014】仕切り板9は、ピストンロッド11が伸び
たときにとる第1位置(図1,図3)とピストンロッド
11が引き込まれたときにとる第2位置(図2,図3)
との間で移動可能である。図1及び図3に示す第1位置
では、各仕切り板9の隣接する側部同士が当接して全体
で円環ドーム状の壁を形成する。このとき、各仕切り板
9の外周円筒部の径は第1カップ4の径と同一であり、
仕切板9の下端と第1カップ4の上端とが一致する。一
方、図2及び図4に示す第2位置では、各仕切り部9は
水平方向外方に互いに離れ、その円筒部分は第2カップ
5の内壁面に近接する。
たときにとる第1位置(図1,図3)とピストンロッド
11が引き込まれたときにとる第2位置(図2,図3)
との間で移動可能である。図1及び図3に示す第1位置
では、各仕切り板9の隣接する側部同士が当接して全体
で円環ドーム状の壁を形成する。このとき、各仕切り板
9の外周円筒部の径は第1カップ4の径と同一であり、
仕切板9の下端と第1カップ4の上端とが一致する。一
方、図2及び図4に示す第2位置では、各仕切り部9は
水平方向外方に互いに離れ、その円筒部分は第2カップ
5の内壁面に近接する。
【0015】この基板現像装置は、図5に示すように、
マイクロコンピュータからなる制御部51を有してい
る。制御部51は、洗浄液供給ノズル2及び現像液供給
ノズル3からの液の供給及び停止を行う弁(図示せず)
または洗浄液供給ノズル2及び現像液供給ノズル3を移
動させる移動機構(図示せず)等が接続されている。ま
た、制御部51には、真空チャック7、モータ機構8及
びエアシリンダ11が接続されている。さらに、制御部
51には、洗浄液供給ノズル2及び現像液供給ノズル3
の位置等を検出する各種センサやその他の入出力装置が
接続されている。
マイクロコンピュータからなる制御部51を有してい
る。制御部51は、洗浄液供給ノズル2及び現像液供給
ノズル3からの液の供給及び停止を行う弁(図示せず)
または洗浄液供給ノズル2及び現像液供給ノズル3を移
動させる移動機構(図示せず)等が接続されている。ま
た、制御部51には、真空チャック7、モータ機構8及
びエアシリンダ11が接続されている。さらに、制御部
51には、洗浄液供給ノズル2及び現像液供給ノズル3
の位置等を検出する各種センサやその他の入出力装置が
接続されている。
【0016】次に、図6〜図8に示された制御フローチ
ャートにしたがって、上述の基板現像装置の動作を説明
する。ステップS1において、各種の初期設定を行う。
ここでは、エアシリンダ10のピストンロッド11は引
き込まれ、仕切り板9は図2及び図4に示す第2位置に
配置される。ステップS2に移行すると、図示しない基
板搬送機構により基板Pが上方から搬入されるのを待
つ。基板Pが真空チャック7上に配置されると、ステッ
プS3に移行して基板Pを真空吸着する。吸着が完了す
れば、ステップS4に移行し、現像処理を行う。
ャートにしたがって、上述の基板現像装置の動作を説明
する。ステップS1において、各種の初期設定を行う。
ここでは、エアシリンダ10のピストンロッド11は引
き込まれ、仕切り板9は図2及び図4に示す第2位置に
配置される。ステップS2に移行すると、図示しない基
板搬送機構により基板Pが上方から搬入されるのを待
つ。基板Pが真空チャック7上に配置されると、ステッ
プS3に移行して基板Pを真空吸着する。吸着が完了す
れば、ステップS4に移行し、現像処理を行う。
【0017】現像処理では、仕切り板9は第2に位置に
あり、水平方向外方に互いに離れて第2カップ5の内壁
面に近接している(図2及び図4)。即ち、ここでは、
真空チャック7に保持された基板Pに対して第2カップ
5が露出した状態にある。この状態で、図7のステップ
S11において、現像液供給ノズル3を基板Pの中心部
上方に配置する。そして、ステップS12において、モ
ータ機構8により真空チャック7及び基板Pを低速で回
転させる。さらに、ステップS13において、現像液供
給ノズル3から基板P上に現像液を吐出させる。
あり、水平方向外方に互いに離れて第2カップ5の内壁
面に近接している(図2及び図4)。即ち、ここでは、
真空チャック7に保持された基板Pに対して第2カップ
5が露出した状態にある。この状態で、図7のステップ
S11において、現像液供給ノズル3を基板Pの中心部
上方に配置する。そして、ステップS12において、モ
ータ機構8により真空チャック7及び基板Pを低速で回
転させる。さらに、ステップS13において、現像液供
給ノズル3から基板P上に現像液を吐出させる。
【0018】現像液供給ノズル3から基板Pの中心に供
給される現像液は、遠心力によって基板Pの外周に移動
し、基板Pから放射状に離れる。この現像液は、第1カ
ップ4を越えて、第2位置にある仕切り板9に当たり、
第2カップ5内に回収される。第2カップ5内に流れ込
んだ現像液は第2排出管15から図示しない現像液回収
タンクに回収される。ここでは、新鮮な現像液が基板P
の表面に常に供給されるため、高い反応速度が維持さ
れ、必要な現像時間が短縮される。
給される現像液は、遠心力によって基板Pの外周に移動
し、基板Pから放射状に離れる。この現像液は、第1カ
ップ4を越えて、第2位置にある仕切り板9に当たり、
第2カップ5内に回収される。第2カップ5内に流れ込
んだ現像液は第2排出管15から図示しない現像液回収
タンクに回収される。ここでは、新鮮な現像液が基板P
の表面に常に供給されるため、高い反応速度が維持さ
れ、必要な現像時間が短縮される。
【0019】ステップS14において一定時間が経過す
る(現像が終了する)と、ステップS15に移行して現
像液供給ノズル3からの現像液を停止させる。そして、
ステップS16において、モータ機構8により基板Pを
高速で回転させ、基板P上の現像液を遠心力により振り
切って除去する。ここで除去された現像液も、第2カッ
プ5内に流れ込み、第2排出管15から図示しない現像
液回収タンクに回収される。
る(現像が終了する)と、ステップS15に移行して現
像液供給ノズル3からの現像液を停止させる。そして、
ステップS16において、モータ機構8により基板Pを
高速で回転させ、基板P上の現像液を遠心力により振り
切って除去する。ここで除去された現像液も、第2カッ
プ5内に流れ込み、第2排出管15から図示しない現像
液回収タンクに回収される。
【0020】ステップS17では、現像液供給ノズル3
を退避位置に移動させる。そして、図6のメインルーチ
ンに戻り、ステップS5に移行して洗浄処理を行う。図
8に示す洗浄処理では、ステップS21において、エア
シリンダ10により仕切り板9を図1及び図3に示す第
1位置に配置する。これにより、各仕切り板9の隣接す
る側部同士が当接し、4個の仕切板9が全体で円環ドー
ム状の壁を形成する。このとき、仕切板9の下端と第1
カップ4の上端とが一致する。
を退避位置に移動させる。そして、図6のメインルーチ
ンに戻り、ステップS5に移行して洗浄処理を行う。図
8に示す洗浄処理では、ステップS21において、エア
シリンダ10により仕切り板9を図1及び図3に示す第
1位置に配置する。これにより、各仕切り板9の隣接す
る側部同士が当接し、4個の仕切板9が全体で円環ドー
ム状の壁を形成する。このとき、仕切板9の下端と第1
カップ4の上端とが一致する。
【0021】ステップS22では、洗浄液供給ノズル2
を基板Pの中心部上方に移動させる。そして、ステップ
S23において、モータ機構8により基板Pを低速で回
転させる。さらに、ステップS24において、洗浄液供
給ノズル2から基板P上に洗浄液を吐出させる。洗浄液
供給ノズル2から基板Pの中心に供給される洗浄液は、
遠心力によって基板Pの外周に移動し、基板Pから放射
状に離れる。ここでは、仕切り板9が円環ドーム状の壁
を構成しているので、洗浄液は第1カップ4内に回収さ
れる。第1カップ4内に流れ込んだ現像液は第1排出管
14から図示しない洗浄液回収タンクに回収される。
を基板Pの中心部上方に移動させる。そして、ステップ
S23において、モータ機構8により基板Pを低速で回
転させる。さらに、ステップS24において、洗浄液供
給ノズル2から基板P上に洗浄液を吐出させる。洗浄液
供給ノズル2から基板Pの中心に供給される洗浄液は、
遠心力によって基板Pの外周に移動し、基板Pから放射
状に離れる。ここでは、仕切り板9が円環ドーム状の壁
を構成しているので、洗浄液は第1カップ4内に回収さ
れる。第1カップ4内に流れ込んだ現像液は第1排出管
14から図示しない洗浄液回収タンクに回収される。
【0022】ステップS25で一定時間が経過するのを
待ち、洗浄が完了すればステップS26に移行する。ス
テップS26では洗浄液供給ノズル2からの洗浄液の吐
出を停止する。さらに、ステップS27では洗浄液供給
ノズル2を退避位置に移動させる。ステップS28で
は、モータ機構8により基板Pの回転速度を高くする。
これにより、基板P上に残っている洗浄液は外周に振り
切られる。ステップS29で一定時間が経過するのを待
ち、液切り乾燥が終了するとステップS30に移行し
て、基板Pの回転を停止させる。そして、ステップS3
1で仕切り板9を再び第2位置にセットした後、図6の
メインルーチンに戻る。
待ち、洗浄が完了すればステップS26に移行する。ス
テップS26では洗浄液供給ノズル2からの洗浄液の吐
出を停止する。さらに、ステップS27では洗浄液供給
ノズル2を退避位置に移動させる。ステップS28で
は、モータ機構8により基板Pの回転速度を高くする。
これにより、基板P上に残っている洗浄液は外周に振り
切られる。ステップS29で一定時間が経過するのを待
ち、液切り乾燥が終了するとステップS30に移行し
て、基板Pの回転を停止させる。そして、ステップS3
1で仕切り板9を再び第2位置にセットした後、図6の
メインルーチンに戻る。
【0023】図6のステップS6では、真空チャック7
による基板Pの真空吸着を解除する。続いて、ステップ
S7で、図示しない搬送機構が基板Pを他の処理工程に
搬出するのを待つ。基板Pが搬出されると、ステップS
2に戻り、次の基板Pが搬入されるのを待つ。以上に説
明したように、この実施例では、仕切り板9が水平移動
によって洗浄液と現像液とを第1カップ4と第2カップ
5とに振り分ける構造となっているため、洗浄液と現像
液とを別々に回収することができ、それらの再利用が可
能である。また、上下方向にコンパクトである。
による基板Pの真空吸着を解除する。続いて、ステップ
S7で、図示しない搬送機構が基板Pを他の処理工程に
搬出するのを待つ。基板Pが搬出されると、ステップS
2に戻り、次の基板Pが搬入されるのを待つ。以上に説
明したように、この実施例では、仕切り板9が水平移動
によって洗浄液と現像液とを第1カップ4と第2カップ
5とに振り分ける構造となっているため、洗浄液と現像
液とを別々に回収することができ、それらの再利用が可
能である。また、上下方向にコンパクトである。
【0024】なお、この実施例では4個の振り分け機構
6が設けられているが、2個、3個または5個以上の振
り分け機構を用いても本発明を実施できる。第2実施例 図9〜図12に示す基板現像装置は、図1〜図4に示す
装置と同様、同一処理室内で現像液による現像と洗浄液
による洗浄とを基板Pに対して行う装置であり、基板保
持部21と洗浄液供給ノズル22と現像液供給ノズル2
3と第1カップ24と第2カップ25と振り分け機構2
6とを備えている。
6が設けられているが、2個、3個または5個以上の振
り分け機構を用いても本発明を実施できる。第2実施例 図9〜図12に示す基板現像装置は、図1〜図4に示す
装置と同様、同一処理室内で現像液による現像と洗浄液
による洗浄とを基板Pに対して行う装置であり、基板保
持部21と洗浄液供給ノズル22と現像液供給ノズル2
3と第1カップ24と第2カップ25と振り分け機構2
6とを備えている。
【0025】基板保持部21は、基板Pを水平に保持す
るための真空チャック27と、真空チャック27を垂直
軸線回りに回転させるモータ機構28とから構成されて
いる。洗浄液供給ノズル22(図9)は、図示しない洗
浄液タンクに接続されており、基板Pの中心部上方の位
置と図示しない退避位置との間で移動可能である。現像
浄液供給ノズル23(図10)は、図示しない現像液供
給タンクに接続されており、基板Pの中心部上方の位置
(図10)と図示しない退避位置との間で移動可能であ
る。
るための真空チャック27と、真空チャック27を垂直
軸線回りに回転させるモータ機構28とから構成されて
いる。洗浄液供給ノズル22(図9)は、図示しない洗
浄液タンクに接続されており、基板Pの中心部上方の位
置と図示しない退避位置との間で移動可能である。現像
浄液供給ノズル23(図10)は、図示しない現像液供
給タンクに接続されており、基板Pの中心部上方の位置
(図10)と図示しない退避位置との間で移動可能であ
る。
【0026】第1カップ24は、真空チャック27の下
方に配置されており、真空チャック27を内部に収容し
ている。第1カップ24は、真空チャック27の中心上
方に向かって延びる円錐台形のカバー24aを有してい
る。また、カップ24の円筒部分には、円周方向に延び
るスリット24bが形成されている。第1カップ24の
下端は円板状になって閉じており、洗浄液排出管34の
上端が開口している。洗浄液排出管34の下端は、図示
しない洗浄液回収タンクに接続されている。
方に配置されており、真空チャック27を内部に収容し
ている。第1カップ24は、真空チャック27の中心上
方に向かって延びる円錐台形のカバー24aを有してい
る。また、カップ24の円筒部分には、円周方向に延び
るスリット24bが形成されている。第1カップ24の
下端は円板状になって閉じており、洗浄液排出管34の
上端が開口している。洗浄液排出管34の下端は、図示
しない洗浄液回収タンクに接続されている。
【0027】第2カップ25は、第1カップ24の外周
側に設けられ、その上端内周部が第1カップ24のスリ
ット24bに開口している。第2カップ25の下端に
は、現像液排出管35の上端が接続されている。現像液
排出管35の下端は、図示しない現像液回収タンクに接
続されている。振り分け機構26は2個設けられてお
り、各振り分け機構26は、エアシリンダ30と、エア
シリンダ30のピストンロッド31の先端に固定された
液受け部29とから構成されている。液受け部29は、
概ね半円状の樋状部材であり、第1カップ24のスリッ
ト24bを塞ぎ得るようになっている。
側に設けられ、その上端内周部が第1カップ24のスリ
ット24bに開口している。第2カップ25の下端に
は、現像液排出管35の上端が接続されている。現像液
排出管35の下端は、図示しない現像液回収タンクに接
続されている。振り分け機構26は2個設けられてお
り、各振り分け機構26は、エアシリンダ30と、エア
シリンダ30のピストンロッド31の先端に固定された
液受け部29とから構成されている。液受け部29は、
概ね半円状の樋状部材であり、第1カップ24のスリッ
ト24bを塞ぎ得るようになっている。
【0028】この実施例では、図9及び図11に示すよ
うに、ピストンロッド30が引き込まれた状態では、液
受け部29がスリット24aを閉鎖する。また、図10
及び図12に示すようにピストンロッド30が延びた状
態では、液受け部29はスリット24aから中心方向に
移動し、スリット24bを開口させる。このとき、樋状
の液受け部29が第1カップ24内に引き出しを開けた
ような状態で配置され、液受け部29が第2カップ25
への液経路を構成する。
うに、ピストンロッド30が引き込まれた状態では、液
受け部29がスリット24aを閉鎖する。また、図10
及び図12に示すようにピストンロッド30が延びた状
態では、液受け部29はスリット24aから中心方向に
移動し、スリット24bを開口させる。このとき、樋状
の液受け部29が第1カップ24内に引き出しを開けた
ような状態で配置され、液受け部29が第2カップ25
への液経路を構成する。
【0029】この実施例では、現像液供給ノズル23か
ら現像液を供給する際には、ピストンロッド30を延ば
してスリット24aを開口させる。その結果、図10及
び図12に示すように、基板Pから放射状に飛散する現
像液は液受け部29に入り、第2カップ25に回収され
る。一方、洗浄液供給ノズル22から洗浄液を基板Pに
供給する際には、ピストンロッド30を引き込んで液受
け部29によりスリット24aを閉鎖する。その結果、
図9及び図11に示すように、基板Pから放射状に飛散
する洗浄液は第1カップ24内に回収される。
ら現像液を供給する際には、ピストンロッド30を延ば
してスリット24aを開口させる。その結果、図10及
び図12に示すように、基板Pから放射状に飛散する現
像液は液受け部29に入り、第2カップ25に回収され
る。一方、洗浄液供給ノズル22から洗浄液を基板Pに
供給する際には、ピストンロッド30を引き込んで液受
け部29によりスリット24aを閉鎖する。その結果、
図9及び図11に示すように、基板Pから放射状に飛散
する洗浄液は第1カップ24内に回収される。
【0030】この実施例でも、前記実施例と同様な効果
が得られる。第3実施例 図13及び図14に示す基板現像装置には、2つの振り
分け機構36が設けられており、各振り分け機構36は
三日月状液受け部39を有している。この液受け部39
は、その一端に設けられた垂直方向の回動軸60を中心
に回動可能であり、これによって第1カップ34の円筒
部分に円周方向に伸びて形成されたスリットの開閉がな
される。
が得られる。第3実施例 図13及び図14に示す基板現像装置には、2つの振り
分け機構36が設けられており、各振り分け機構36は
三日月状液受け部39を有している。この液受け部39
は、その一端に設けられた垂直方向の回動軸60を中心
に回動可能であり、これによって第1カップ34の円筒
部分に円周方向に伸びて形成されたスリットの開閉がな
される。
【0031】液受け部49が図14に示すように中心側
に回動すると、基板Pに供給された処理液は液受け部3
9内に回収される。また、図13に示すように液受け部
49が外周側に回動して第1カップ44のスリットを閉
鎖すると、基板Pから放射状に飛散する処理液は第1カ
ップ44内に回収される。なお、回動部60を1ヵ所と
して、鋏のように両液受け部39が回動するようにして
もよい。この実施例でも、前記実施例と同様な効果が得
られる。
に回動すると、基板Pに供給された処理液は液受け部3
9内に回収される。また、図13に示すように液受け部
49が外周側に回動して第1カップ44のスリットを閉
鎖すると、基板Pから放射状に飛散する処理液は第1カ
ップ44内に回収される。なお、回動部60を1ヵ所と
して、鋏のように両液受け部39が回動するようにして
もよい。この実施例でも、前記実施例と同様な効果が得
られる。
【0032】なお、上記実施例においては現像液供給ノ
ズルと洗浄液供給ノズルとを別々に設けていたが、本発
明はこれに限らず、単一のノズルに現像液と洗浄液とが
選択的に供給されるように構成してもよい。さらに、本
発明は、現像液と洗浄液とを別々に回収する場合のみに
用いられるのではなく、別々に回収すべき複数種類の処
理液の組み合わせについても適用することができる。
ズルと洗浄液供給ノズルとを別々に設けていたが、本発
明はこれに限らず、単一のノズルに現像液と洗浄液とが
選択的に供給されるように構成してもよい。さらに、本
発明は、現像液と洗浄液とを別々に回収する場合のみに
用いられるのではなく、別々に回収すべき複数種類の処
理液の組み合わせについても適用することができる。
【0033】
【発明の効果】本発明に係る基板処理装置では、振り分
け部が水平方向に移動して、基板から放射状に離れる処
理液を第1または第2回収部に振り分けるので、基板処
理装置の高さを抑えつつ、異なる処理液を別々に回収で
きる。
け部が水平方向に移動して、基板から放射状に離れる処
理液を第1または第2回収部に振り分けるので、基板処
理装置の高さを抑えつつ、異なる処理液を別々に回収で
きる。
【図1】第1実施例の洗浄処理の一状態を示す概略縦断
面図。
面図。
【図2】その現像処理の一状態を示す概略縦断面図。
【図3】図1と同じ洗浄処理状態を示す斜視図。
【図4】図3と同じ現像処理状態を示す斜視図。
【図5】第1実施例の制御構成を示すブロック図。
【図6】第1実施例の制御フローチャート。
【図7】第1実施例の制御フローチャート。
【図8】第1実施例の制御フローチャート。
【図9】第2実施例の洗浄処理の一状態を示す概略縦断
面図。
面図。
【図10】その現像処理の一状態を示す概略縦断面図。
【図11】図9と同じ洗浄処理状態を示す斜視図。
【図12】図10と同じ現像処理状態を示す斜視図。
【図13】第3実施例の図11に相当する図。
【図14】第3実施例の図12に相当する図。
1 基板保持部 2,22 現像液供給ノズル 3,23 洗浄液供給ノズル 4,24 第1カップ 5,25 第2カップ 6,26,36 振り分け機構 P 基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G03F 7/30 502 7124−2H
Claims (1)
- 【請求項1】互いに種類の異なる第1及び第2の液を時
をずらせて基板に供給して基板処理を行う基板処理装置
であって、 前記基板を水平方向に保持して回転させる基板保持部
と、 前記基板保持部に保持された前記基板に第1液を供給す
る第1液供給手段と、 前記基板保持部に保持された前記基板に第2液を供給す
る第2液供給手段と、 前記基板保持部の下方において第1液を回収する第1回
収部と、 前記基板保持部の下方でかつ前記第1回収部よりも外周
側において第2液を回収する第2回収部と、 前記基板保持部により回転させられる前記基板から飛散
する第1液を前記第1回収部に導くとともに、その状態
から水平方向に移動することにより、同じく前記基板か
ら飛散する第2液を前記第2回収部に導く振り分け部
と、 を備えた基板処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5271491A JPH07130618A (ja) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | 基板処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5271491A JPH07130618A (ja) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | 基板処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07130618A true JPH07130618A (ja) | 1995-05-19 |
Family
ID=17500796
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5271491A Pending JPH07130618A (ja) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | 基板処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07130618A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09187706A (ja) * | 1995-12-29 | 1997-07-22 | Samsung Electronics Co Ltd | 回転式塗布器の排出感光液の回収装置 |
KR20040012111A (ko) * | 2002-08-01 | 2004-02-11 | 주식회사 에이알티 | 다층 캐치컵 및 이를 구비한 반도체 웨이퍼 클리닝장치 |
KR100488753B1 (ko) * | 2001-07-23 | 2005-05-11 | 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 | 기판처리방법 및 그 장치 |
CN100397155C (zh) * | 2004-06-11 | 2008-06-25 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 基板处理装置及处理方法 |
-
1993
- 1993-10-29 JP JP5271491A patent/JPH07130618A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09187706A (ja) * | 1995-12-29 | 1997-07-22 | Samsung Electronics Co Ltd | 回転式塗布器の排出感光液の回収装置 |
KR100488753B1 (ko) * | 2001-07-23 | 2005-05-11 | 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 | 기판처리방법 및 그 장치 |
KR20040012111A (ko) * | 2002-08-01 | 2004-02-11 | 주식회사 에이알티 | 다층 캐치컵 및 이를 구비한 반도체 웨이퍼 클리닝장치 |
CN100397155C (zh) * | 2004-06-11 | 2008-06-25 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 基板处理装置及处理方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |