JPH0712569A - 対象反射物体及び対象反射物体検出装置 - Google Patents
対象反射物体及び対象反射物体検出装置Info
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- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/28—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising
Abstract
(57)【要約】
【目的】 特定の反射物体である対象反射物体以外のも
のからの反射光を有効に排除して、所定の対象反射物体
を確実に識別することができる対象反射物体及び対象反
射物体検出装置を提供すること。 【構成】 本体より出射光を出射し、対象反射物体から
の反射光を検出して該対象反射物体であることを認識す
る対象反射物体検出装置において、前記対象反射物体検
出装置からの出射は偏光方向を規定した偏光であり、前
記反射光と前記出射光との偏光は偏光方向が異なり、前
記対象反射物体検出装置は前記対象反射物体からの偏光
方向の成分のみを検出する対象反射物体検出装置。
のからの反射光を有効に排除して、所定の対象反射物体
を確実に識別することができる対象反射物体及び対象反
射物体検出装置を提供すること。 【構成】 本体より出射光を出射し、対象反射物体から
の反射光を検出して該対象反射物体であることを認識す
る対象反射物体検出装置において、前記対象反射物体検
出装置からの出射は偏光方向を規定した偏光であり、前
記反射光と前記出射光との偏光は偏光方向が異なり、前
記対象反射物体検出装置は前記対象反射物体からの偏光
方向の成分のみを検出する対象反射物体検出装置。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は本体より光を出射し、特
定の反射物体を検出することにより、マーキングまたは
設置等の位置を決める回転レーザレベルに関する。
定の反射物体を検出することにより、マーキングまたは
設置等の位置を決める回転レーザレベルに関する。
【０００２】
【従来技術】土木・建築の分野で高さの基準を決定する
ために、回転レーザレベルが使用されるようになってい
る。最近は、可視半導体レーザが実用化されて、これを
使用した回転レーザレベルが出現している。しかし、半
導体レーザの出力は作業者の安全性の確保の点から制約
され、目視確認を伴う測定は比較的短い作業距離に限定
されている。
ために、回転レーザレベルが使用されるようになってい
る。最近は、可視半導体レーザが実用化されて、これを
使用した回転レーザレベルが出現している。しかし、半
導体レーザの出力は作業者の安全性の確保の点から制約
され、目視確認を伴う測定は比較的短い作業距離に限定
されている。
【０００３】この作業距離を長くするために、平成４年
１０月２７日に出願された特願平４ー２８９０４２号に
おいては、所定の位置に配置された特定の反射物体の位
置をレーザ光が往復走査するように構成したレーザ回転
照射装置が開示されている。
１０月２７日に出願された特願平４ー２８９０４２号に
おいては、所定の位置に配置された特定の反射物体の位
置をレーザ光が往復走査するように構成したレーザ回転
照射装置が開示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した特願平４−２
８９０４２号に開示されたレーザ回転照射装置において
は、反射物体であることを確実に検出するため、反射物
体に特定のパターンを形成している。しかし、使用する
場所は種々あるため、不要反射物体から生じる反射信号
パターンは特定できず、対象反射物体と不要反射物体と
を完全に区別することが困難であり、間違った位置でス
キャン動作を起こすことがある。
８９０４２号に開示されたレーザ回転照射装置において
は、反射物体であることを確実に検出するため、反射物
体に特定のパターンを形成している。しかし、使用する
場所は種々あるため、不要反射物体から生じる反射信号
パターンは特定できず、対象反射物体と不要反射物体と
を完全に区別することが困難であり、間違った位置でス
キャン動作を起こすことがある。
【０００５】特に光沢面部材からなる不要反射物体の反
射面に、レーザ回転照射装置からのレーザ光が直角に当
たるような時、出射光軸と反射光軸は互いに重なり、強
い反射光（以後、正反射光とする）が本体検出部に入
り、これが所定のパターン信号と似た配置になっている
と、本体と距離が離れていても、スキャン動作を起こし
易い。
射面に、レーザ回転照射装置からのレーザ光が直角に当
たるような時、出射光軸と反射光軸は互いに重なり、強
い反射光（以後、正反射光とする）が本体検出部に入
り、これが所定のパターン信号と似た配置になっている
と、本体と距離が離れていても、スキャン動作を起こし
易い。
【０００６】また作業場近く平面ガラス等の光沢平面部
材があると、その表面を介して本体と特定反射物体を結
ぶ光路ができることがある。これによる反射光（以後、
多重反射光とする）を検出し、光沢面部材による虚像に
向かってスキャン動作をしてしまうという問題があっ
た。
材があると、その表面を介して本体と特定反射物体を結
ぶ光路ができることがある。これによる反射光（以後、
多重反射光とする）を検出し、光沢面部材による虚像に
向かってスキャン動作をしてしまうという問題があっ
た。
【０００７】
【発明の目的】本発明は、従来のレーザ回転照射装置の
上述した問題点に鑑みてなされたものであって、特定の
反射物体である対象反射物体以外のものからの反射光を
有効に排除して、所定の対象反射物体を確実に識別する
ことができる対象反射物体及び対象反射物体検出装置を
提供することを目的とする。
上述した問題点に鑑みてなされたものであって、特定の
反射物体である対象反射物体以外のものからの反射光を
有効に排除して、所定の対象反射物体を確実に識別する
ことができる対象反射物体及び対象反射物体検出装置を
提供することを目的とする。
【０００８】
【発明の構成】本発明は、本体より出射光を出射し、対
象反射物体からの反射光を検出して該対象反射物体であ
ることを認識する対象反射物体検出装置において、前記
対象反射物体検出装置からの出射は偏光方向を規定した
偏光であり、前記反射光と前記出射光との偏光は偏光方
向が異なり、前記対象反射物体検出装置は前記対象反射
物体からの偏光方向の成分のみを検出することを特徴と
する対象反射物体及び対象反射物体検出装置である。
象反射物体からの反射光を検出して該対象反射物体であ
ることを認識する対象反射物体検出装置において、前記
対象反射物体検出装置からの出射は偏光方向を規定した
偏光であり、前記反射光と前記出射光との偏光は偏光方
向が異なり、前記対象反射物体検出装置は前記対象反射
物体からの偏光方向の成分のみを検出することを特徴と
する対象反射物体及び対象反射物体検出装置である。
【０００９】
１．正反射光の除去方法としては、正反射光の偏光方向
が対象反射物体検出装置本体からの出射光の偏光方向を
保存した状態になることに着目したものである。つまり
本体から放射される光を所定の偏光方向に規定し、対象
反射物体で偏光方向を変えて反射させ、その反射光の偏
光方向成分のみを検出するようにすることにより、対象
反射物体による反射光だけを検出でき、正反射光を除去
できる。この場合、対象反射物体には、偏光方向を変更
させるために複屈折部材が含まれる。
が対象反射物体検出装置本体からの出射光の偏光方向を
保存した状態になることに着目したものである。つまり
本体から放射される光を所定の偏光方向に規定し、対象
反射物体で偏光方向を変えて反射させ、その反射光の偏
光方向成分のみを検出するようにすることにより、対象
反射物体による反射光だけを検出でき、正反射光を除去
できる。この場合、対象反射物体には、偏光方向を変更
させるために複屈折部材が含まれる。
【００１０】本発明で対象とする偏光とは円偏光と直線
偏光の両方であり、円偏光の場合の偏光方向とは右回
転、左回転を意味し、直線偏光の場合の偏光方向とは互
いに直交する２つの方向を意味する。また、対象反射物
体で偏光方向を変えて反射させる手段として、具体的に
は直交軸において互いにλ／４の位相差をもたらす複屈
折率部材を反射板の全面に取付けることによって得ら
れ、光はこの複屈折率部材を往復通過することにより、
偏光方向を変える。
偏光の両方であり、円偏光の場合の偏光方向とは右回
転、左回転を意味し、直線偏光の場合の偏光方向とは互
いに直交する２つの方向を意味する。また、対象反射物
体で偏光方向を変えて反射させる手段として、具体的に
は直交軸において互いにλ／４の位相差をもたらす複屈
折率部材を反射板の全面に取付けることによって得ら
れ、光はこの複屈折率部材を往復通過することにより、
偏光方向を変える。
【００１１】この複屈折率部材によって、偏光を変える
状態を図１乃至図４に示す。図１は対象反射物体と不要
反射物体の円偏光の場合の反射状態を示している。図２
は対象反射物体に円偏光が入射した場合の状態を示して
いる。同じく図３、図４は直線偏光の場合を示してい
る。 ２．平面ガラス等の光沢平面部材における多重反射の防
止としては、ガラス面や光沢物面での反射は偏光特性を
持つことに着目したものである。この偏光特性は、本体
と反射面とのなす角度に依存するが、直線偏光のある方
向成分のみを反射する特性を利用するものである。
状態を図１乃至図４に示す。図１は対象反射物体と不要
反射物体の円偏光の場合の反射状態を示している。図２
は対象反射物体に円偏光が入射した場合の状態を示して
いる。同じく図３、図４は直線偏光の場合を示してい
る。 ２．平面ガラス等の光沢平面部材における多重反射の防
止としては、ガラス面や光沢物面での反射は偏光特性を
持つことに着目したものである。この偏光特性は、本体
と反射面とのなす角度に依存するが、直線偏光のある方
向成分のみを反射する特性を利用するものである。
【００１２】具体的には、本体からの光が円偏光の場合
は、反射面の偏光特性により反射光が直線偏光となるこ
とを利用している。つまり対象反射物体の全面部に取付
けるλ／４の複屈折率部材の軸を本体の回動方向に対し
ておよそ４５°方向に設定することにより、反射面から
対象反射物体に向かった直線偏光は、対象反射物体で折
返した時にその直線偏光の方向は反対面の偏光特性方向
と直交する状態になる。再び反射面に光が戻ったときに
この光は反射し難いものとなり、結局対象反射物体検出
装置本体に戻らないことになる。図５はその状態を示し
ている。
は、反射面の偏光特性により反射光が直線偏光となるこ
とを利用している。つまり対象反射物体の全面部に取付
けるλ／４の複屈折率部材の軸を本体の回動方向に対し
ておよそ４５°方向に設定することにより、反射面から
対象反射物体に向かった直線偏光は、対象反射物体で折
返した時にその直線偏光の方向は反対面の偏光特性方向
と直交する状態になる。再び反射面に光が戻ったときに
この光は反射し難いものとなり、結局対象反射物体検出
装置本体に戻らないことになる。図５はその状態を示し
ている。
【００１３】また、対象反射物体検出装置本体からの光
が直線偏光の場合は、その偏光方向を反射面による偏光
特性の方向と一致または直交するように本体の回動方向
と対応付けておくことにより達せられる。対象反射物体
検出装置からの直線偏光が直交の場合には、反射面の偏
光特性によってその光は減衰する。一致の場合は、一度
反射面を通過するが、円偏光の時と同様に対象反射物体
で偏光方向が直交方向にかえられるため、戻り時の反射
面において光が減衰することになる。図７は直線偏光を
一致させた場合を示している。 ３．一般に回転レーザレベルにおいては、回動軸部の安
定性の問題から光源である半導体レーザを固定部に設
け、ペンタプリズム等の光学部材を回転させることで光
の放射方向を回転させることが多い。この場合、固定部
に設けられる半導体レーザは直線偏光しているが、これ
が放射方向の回動に伴って偏光方向が回転を生じる。
が直線偏光の場合は、その偏光方向を反射面による偏光
特性の方向と一致または直交するように本体の回動方向
と対応付けておくことにより達せられる。対象反射物体
検出装置からの直線偏光が直交の場合には、反射面の偏
光特性によってその光は減衰する。一致の場合は、一度
反射面を通過するが、円偏光の時と同様に対象反射物体
で偏光方向が直交方向にかえられるため、戻り時の反射
面において光が減衰することになる。図７は直線偏光を
一致させた場合を示している。 ３．一般に回転レーザレベルにおいては、回動軸部の安
定性の問題から光源である半導体レーザを固定部に設
け、ペンタプリズム等の光学部材を回転させることで光
の放射方向を回転させることが多い。この場合、固定部
に設けられる半導体レーザは直線偏光しているが、これ
が放射方向の回動に伴って偏光方向が回転を生じる。
【００１４】偏光方向の規定方法は円偏光された光は光
軸の回りに沿って装置を回転しても円偏光の回転方向は
変わらないことに着目したものである。つまり、図７に
示すように、半導体レーザは直線偏光をλ／４の位相差
をもたらす複屈折率部材を用いて円偏光にする。この円
偏光した光を回転するペンタプリズム等の光学部材を通
すと、光学部材から放射される光は光学部材の回転によ
らず、円偏光の回転方向は常に同じとなる。
軸の回りに沿って装置を回転しても円偏光の回転方向は
変わらないことに着目したものである。つまり、図７に
示すように、半導体レーザは直線偏光をλ／４の位相差
をもたらす複屈折率部材を用いて円偏光にする。この円
偏光した光を回転するペンタプリズム等の光学部材を通
すと、光学部材から放射される光は光学部材の回転によ
らず、円偏光の回転方向は常に同じとなる。
【００１５】上記は装置から放射する光を円偏光に規定
する場合であって、装置から放射する光を直線偏光に規
定する場合は、図８に示すように、上記光学部材から放
射される円偏光を回動部に設けられたλ／４の位相差を
もたらす複屈折部材を再度通すことで得られる。ここで
直線偏光の方向は複屈折部材の軸方向を回転することに
より自由に選ぶことができる。
する場合であって、装置から放射する光を直線偏光に規
定する場合は、図８に示すように、上記光学部材から放
射される円偏光を回動部に設けられたλ／４の位相差を
もたらす複屈折部材を再度通すことで得られる。ここで
直線偏光の方向は複屈折部材の軸方向を回転することに
より自由に選ぶことができる。
【００１６】なお、検出部については、ペンタプリズム
を通った円偏光の反射光がλ／４の位相差をもたらす複
屈折部材を通り、直線偏光になったものを偏光板で選択
することにより対象反射物体からの反射光のみを検出す
るものである。
を通った円偏光の反射光がλ／４の位相差をもたらす複
屈折部材を通り、直線偏光になったものを偏光板で選択
することにより対象反射物体からの反射光のみを検出す
るものである。
【００１７】
【実施例】以下、本発明の実施例の対象反射物体及び対
象反射物体検出装置を有するレーザ回転照射装置を図に
基づいて説明する。レーザ回転照射装置は、図８に示す
ように、パルス駆動回路２によって駆動される可視半導
体レーザ３から放射されるレーザ光束の光軸Ｏ上に、コ
リメータレンズ４と、傾斜角補正系６と、反射鏡８と、
ビームエキスパンダ９と、光軸Ｏが通過する孔７Ａを有
する孔開きミラー７と、λ／４の位相差をもたらす複屈
折部材１１と、ビーム回転系１０とを配置してなる。パ
ルス駆動回路２は、レーザの発振器２Ａ及びＬＤ駆動回
路２Ｂからなる。レーザ回転照射装置は、傾斜角補正系
６を含むことなく構成することも可能である。
象反射物体検出装置を有するレーザ回転照射装置を図に
基づいて説明する。レーザ回転照射装置は、図８に示す
ように、パルス駆動回路２によって駆動される可視半導
体レーザ３から放射されるレーザ光束の光軸Ｏ上に、コ
リメータレンズ４と、傾斜角補正系６と、反射鏡８と、
ビームエキスパンダ９と、光軸Ｏが通過する孔７Ａを有
する孔開きミラー７と、λ／４の位相差をもたらす複屈
折部材１１と、ビーム回転系１０とを配置してなる。パ
ルス駆動回路２は、レーザの発振器２Ａ及びＬＤ駆動回
路２Ｂからなる。レーザ回転照射装置は、傾斜角補正系
６を含むことなく構成することも可能である。
【００１８】傾斜角補正系６は、本体（図示せず）の傾
斜にかかわらず可視半導体レーザ３から放射されるレー
ザ光束を常に垂直に対し一定の角度関係を持つように反
射する光学系すなわち液体コンペンセイターであって、
封入ガラス２０と、液体裏面の反射面２２を有するオイ
ルバス２４と、封入ガラス２６と、一対のプリズム部材
３０、３２からなり光軸Ｏを偏向させる２軸傾斜補正バ
ランス調整器すなわち光軸調整系３４とを有する。ビー
ムエキスパンダ９は、異なった焦点距離を有する一対の
レンズ３６、３８を所定間隔をおいて配置するこによっ
て構成され、レーザ光束の幅を拡張する。
斜にかかわらず可視半導体レーザ３から放射されるレー
ザ光束を常に垂直に対し一定の角度関係を持つように反
射する光学系すなわち液体コンペンセイターであって、
封入ガラス２０と、液体裏面の反射面２２を有するオイ
ルバス２４と、封入ガラス２６と、一対のプリズム部材
３０、３２からなり光軸Ｏを偏向させる２軸傾斜補正バ
ランス調整器すなわち光軸調整系３４とを有する。ビー
ムエキスパンダ９は、異なった焦点距離を有する一対の
レンズ３６、３８を所定間隔をおいて配置するこによっ
て構成され、レーザ光束の幅を拡張する。
【００１９】ビーム回転系１０は、垂直上向きに入射し
たレーザ光束を水平面内で回転走査するように反射する
光学系であって、回転支持台４０にペンタプリズム４２
を配置してなる。回転支持台４０の下部には、歯車４６
が取付けられ、回転支持台４０の回転駆動源となるモー
タ４８の出力歯車５０が減速機（図示せず）を介して歯
車４６に噛み合っている。モータ４８の回転駆動は制御
系１００によって制御される。
たレーザ光束を水平面内で回転走査するように反射する
光学系であって、回転支持台４０にペンタプリズム４２
を配置してなる。回転支持台４０の下部には、歯車４６
が取付けられ、回転支持台４０の回転駆動源となるモー
タ４８の出力歯車５０が減速機（図示せず）を介して歯
車４６に噛み合っている。モータ４８の回転駆動は制御
系１００によって制御される。
【００２０】ペンタプリズム４２から射出されたレーザ
光束を反射する対象反射物体６０は、図１０に示すよう
に、垂直に延びた２つの反射ゾーン６２、６４を間隔を
おいて配置して構成され、図１１に示すように、基板６
０Ａに、反射板６０Ｂ、及びλ／４の位相差をもたらす
複屈折部材６０Ｃを貼付してなる。反射板６０Ｂは、複
数の再帰反射部材であるコーナキューブあるいは球反射
体等を配置したものである。複屈折部材６０Ｃは、ペン
タプリズム４２から射出されたレーザ光束の円偏光の回
動方向に対し約４５°方向に向くように配置される。
光束を反射する対象反射物体６０は、図１０に示すよう
に、垂直に延びた２つの反射ゾーン６２、６４を間隔を
おいて配置して構成され、図１１に示すように、基板６
０Ａに、反射板６０Ｂ、及びλ／４の位相差をもたらす
複屈折部材６０Ｃを貼付してなる。反射板６０Ｂは、複
数の再帰反射部材であるコーナキューブあるいは球反射
体等を配置したものである。複屈折部材６０Ｃは、ペン
タプリズム４２から射出されたレーザ光束の円偏光の回
動方向に対し約４５°方向に向くように配置される。
【００２１】レーザ光束検出系８０は、孔開きミラー７
の反射光軸00上に、コンデンサーレンズ８２と、偏光板
８３と、ピンホール板８４と、光電変換素子８６とを適
当な間隔をおいて配置してなる。レーザ回転照射装置の
電気系は、パルス駆動回路２の出力が可視半導体レーザ
３に入力する。電気系はさらに、対象反射物体６０から
反射されたレーザ光束を受光する光電変換素子８６と、
モータ４８と、制御系１００とを有する。制御系１００
は、例えば、レーザ光束を２つの対象反射物体６０の形
成する角度範囲のみを往復走査させることによってレー
ザ光束の視認を容易にするための制御を行う。
の反射光軸00上に、コンデンサーレンズ８２と、偏光板
８３と、ピンホール板８４と、光電変換素子８６とを適
当な間隔をおいて配置してなる。レーザ回転照射装置の
電気系は、パルス駆動回路２の出力が可視半導体レーザ
３に入力する。電気系はさらに、対象反射物体６０から
反射されたレーザ光束を受光する光電変換素子８６と、
モータ４８と、制御系１００とを有する。制御系１００
は、例えば、レーザ光束を２つの対象反射物体６０の形
成する角度範囲のみを往復走査させることによってレー
ザ光束の視認を容易にするための制御を行う。
【００２２】次に、上述したレーザ回転照射装置の光学
的作用について説明する。可視半導体レーザ３から放射
された直線偏光レーザ光束は、傾斜角補正系６によって
所定方向に方向補正され、孔開きミラー７の孔７Ａを通
過して複屈折部材１１に入射する。直線偏光レーザ光束
は、複屈折部材１１によって円偏光に変換され、ペンタ
プリズム４２によって水平面内で回転させられる。
的作用について説明する。可視半導体レーザ３から放射
された直線偏光レーザ光束は、傾斜角補正系６によって
所定方向に方向補正され、孔開きミラー７の孔７Ａを通
過して複屈折部材１１に入射する。直線偏光レーザ光束
は、複屈折部材１１によって円偏光に変換され、ペンタ
プリズム４２によって水平面内で回転させられる。
【００２３】円偏光のレーザ光束が対象反射物体６０に
入射すると、対象反射物体６０の複屈折部材６０Ｃによ
って直線偏光に変換され、反射板６０Ｂによって反射さ
れ、再び複屈折部材６０Ｃに入射して円偏光に戻されて
ペンタプリズム４２に入射する。ペンタプリズム４２か
ら下方に向いて射出された円偏光レーザは、複屈折部材
１１によって直線偏光に変換され、孔開きミラー７の孔
７Ａ以外の部分によって反射され、偏光板８３に入射す
る。直線偏光レーザ光束は、偏光板８３によって所定の
偏光方向のもののみが選択されて、光電変換素子８６に
入射して検出される。
入射すると、対象反射物体６０の複屈折部材６０Ｃによ
って直線偏光に変換され、反射板６０Ｂによって反射さ
れ、再び複屈折部材６０Ｃに入射して円偏光に戻されて
ペンタプリズム４２に入射する。ペンタプリズム４２か
ら下方に向いて射出された円偏光レーザは、複屈折部材
１１によって直線偏光に変換され、孔開きミラー７の孔
７Ａ以外の部分によって反射され、偏光板８３に入射す
る。直線偏光レーザ光束は、偏光板８３によって所定の
偏光方向のもののみが選択されて、光電変換素子８６に
入射して検出される。
【００２４】次に、本発明の上記実施例の変形について
述べる。上記実施例におては、対象反射物体６０が垂直
に延びた２つの反射ゾーン６２、６４を間隔をおいて配
置して構成されていたが、外来光の影響が大きくないと
きは、１つの反射ゾーンだけでよい。また、上記実施例
においては、光源である可視半導体レーザ及び検出部を
固定された本体に配置し、レーザ光束回転用のペンタプ
リズムだけを回動させることによってレーザ光束を回転
走査させているが、光源である可視半導体レーザ及び検
出部を回動させることによってレーザ光束を回転走査さ
せてもよい。この場合、回転走査させられるレーザ光束
の偏光方向が回転することはない。
述べる。上記実施例におては、対象反射物体６０が垂直
に延びた２つの反射ゾーン６２、６４を間隔をおいて配
置して構成されていたが、外来光の影響が大きくないと
きは、１つの反射ゾーンだけでよい。また、上記実施例
においては、光源である可視半導体レーザ及び検出部を
固定された本体に配置し、レーザ光束回転用のペンタプ
リズムだけを回動させることによってレーザ光束を回転
走査させているが、光源である可視半導体レーザ及び検
出部を回動させることによってレーザ光束を回転走査さ
せてもよい。この場合、回転走査させられるレーザ光束
の偏光方向が回転することはない。
【００２５】さらに、可視半導体レーザから放射される
レーザ光束を直線偏光として扱ったが、実際には純粋な
直線偏光ではなく、ノイズ成分が含まれいる。このノイ
ズ成分が許容量以上に大きい場合には、可視半導体レー
ザの光軸上に偏光板を配置してノイズ成分を除去する。
レーザ光束を直線偏光として扱ったが、実際には純粋な
直線偏光ではなく、ノイズ成分が含まれいる。このノイ
ズ成分が許容量以上に大きい場合には、可視半導体レー
ザの光軸上に偏光板を配置してノイズ成分を除去する。
【００２６】
【発明の効果】本発明による対象反射物体及び複合反射
物体検出装置によれば、所定複合反射物体以外のものか
らの反射光であるノイズ成分を有効に排除して所定対象
反射物体を確実に識別することができる利点を得ること
ができ、また本発明の回転照射装置によれば、所定角度
範囲を確実に照射できる利点を得ることができる。
物体検出装置によれば、所定複合反射物体以外のものか
らの反射光であるノイズ成分を有効に排除して所定対象
反射物体を確実に識別することができる利点を得ること
ができ、また本発明の回転照射装置によれば、所定角度
範囲を確実に照射できる利点を得ることができる。
【図１】円偏光の対象反射物体による反射の概略説明図
である。
である。
【図２】円偏光の対象反射物体による反射の詳細説明図
である。
である。
【図３】直線偏光の対象反射物体による反射の概略説明
図である。
図である。
【図４】直線偏光の対象反射物体による反射の詳細説明
図である。
図である。
【図５】対象反射物体以外のものにより反射された走査
円偏光が本体に戻らないないことを示す偏光説明図であ
る。
円偏光が本体に戻らないないことを示す偏光説明図であ
る。
【図６】対象反射物体以外のものにより反射された走査
直線偏光が本体に戻らないことを示す偏光説明図であ
る。
直線偏光が本体に戻らないことを示す偏光説明図であ
る。
【図７】円偏光光束を回転走査させる本発明の実施例の
対象反射物体検出装置の光学系説明図である。
対象反射物体検出装置の光学系説明図である。
【図８】直線偏光光束を回転走査させる本発明の実施例
の対象反射物体検出装置の光学系説明図である。
の対象反射物体検出装置の光学系説明図である。
【図９】本発明の実施例の対象反射物体及び対象反射物
体検出装置の光学図である。
体検出装置の光学図である。
【図１０】本発明の実施例の対象反射物体の正面図であ
る。
る。
【図１１】本発明の実施例の対象反射物体の側面図であ
る。
る。
Ｏ、OO 光軸 ２ パルス駆動回路 ３ 可視半導体レーザ ４ コリメータレンズ ６ 傾斜角補正系 ８ 孔開きミラー ９ ビームエキスパンダ １０ ビーム回転系 １１ 複屈折部材 ２４ コンペンセイター ３４ 光軸調整系 ４０ 回転支持台 ４２ ペンタプリズム ４８ モータ ６０ 対象反射物体 ６０Ａ 基板 ６０Ｂ 反射板 ６０Ｃ 複屈折部材 ６２、６４ 発射ゾーン ８３ 偏光板 １００ 制御系
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西沢 裕之 東京都板橋区蓮沼町75番１号 株式会社ト プコン内 (72)発明者 吉野 健一郎 東京都板橋区蓮沼町75番１号 株式会社ト プコン内
Claims (10)
- 【請求項１】 本体より出射光を出射し、対象反射物体
からの反射光を検出して該対象反射物体であることを認
識する対象反射物体検出装置において、前記対象反射物
体検出装置からの出射は偏光方向を規定した偏光であ
り、前記反射光と前記出射光との偏光は偏光方向が異な
り、前記対象反射物体検出装置は前記対象反射物体から
の偏光方向の成分のみを検出することを特徴とする対象
反射物体及び対象反射物体検出装置。 - 【請求項２】 対象反射物体検出装置の出射光は出射方
向が回動する装置であることを特徴とする請求項１記載
の対象反射物体及び対象反射物体検出装置。 - 【請求項３】 対象反射物体検出装置の光を出射する光
源は固定部にあり、回動軸部においては円偏光に規定さ
れていることを特徴とする請求項２記載の対象反射物体
及び対象反射物体検出装置。 - 【請求項４】 回動軸部における円偏光は、固定部に設
けられた複屈折部材によって得られることを特徴とする
請求項３記載の対象反射物体及び対象反射物体検出装
置。 - 【請求項５】 対象反射物体検出装置からの出射光は円
偏光であることを特徴とする請求項１、２、３、４のう
ちのいずれか１項に記載の対象反射物体及び対象反射物
体検出装置。 - 【請求項６】 対象反射物体検出装置から出射される光
は直線偏光であり、対象反射物体には本体からの出射光
に対して反射光の偏光方向を直交させる手段を有するこ
とを特徴とする請求項１、２、３、４のうちのいずれか
１項に記載の対象反射物体及び対象反射物体検出装置。 - 【請求項７】 複屈折軸を対象反射物体検出装置から出
射される直線偏光の軸に対しておよそ４５゜方向に向け
て複屈折部材を反射物体の前面に設けた対象反射物体で
あることを特徴とする請求項項記載の対象反射物体及び
対象反射物体検出装置。 - 【請求項８】 対象反射物体検出装置からの出射は、回
動軸部における円へ偏光を回動部に設けられた複屈折部
材によって得られた直線偏光であることを特徴とする請
求項６又は７に記載の対象反射物体及び対象反射物体検
出装置。 - 【請求項９】 対象反射物体検出装置から出射される直
線偏光の偏光方向が、対象反射物体検出装置の出射光の
回動方向に対応づけられていることを特徴とする請求項
６、７、８の内の何れか１項に記載の対象反射物体及び
対象反射物体検出装置。 - 【請求項１０】 対象反射物体は反射物体と、複屈折部
材とを有し、複屈折軸を対象反射物体検出装置の出射光
の回動方向に対して４５゜方向に向けられて取付けられ
ていることを特徴とする１〜５項記載の対象反射物体及
び対象反射物体検出装置。
Priority Applications (6)
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|---|---|---|---|
| JP15560893A JP3474605B2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 対象反射物体検出装置 |
| CN94109009A CN1039159C (zh) | 1993-06-25 | 1994-06-24 | 目标反射器探测装置 |
| EP94109829A EP0631110B1 (en) | 1993-06-25 | 1994-06-24 | Object reflector detecting apparatus |
| US08/265,145 US5703718A (en) | 1993-06-25 | 1994-06-24 | Object reflector detecting apparatus |
| DE69414761T DE69414761T2 (de) | 1993-06-25 | 1994-06-24 | Objektreflektordetektionsvorrichtung |
| US08/851,647 US5909311A (en) | 1993-06-25 | 1997-05-06 | Object reflector detecting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15560893A JP3474605B2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 対象反射物体検出装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0712569A true JPH0712569A (ja) | 1995-01-17 |
| JP3474605B2 JP3474605B2 (ja) | 2003-12-08 |
Family
ID=15609748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15560893A Expired - Lifetime JP3474605B2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 対象反射物体検出装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5703718A (ja) |
| EP (1) | EP0631110B1 (ja) |
| JP (1) | JP3474605B2 (ja) |
| CN (1) | CN1039159C (ja) |
| DE (1) | DE69414761T2 (ja) |
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| WO1997016703A1 (fr) * | 1995-10-30 | 1997-05-09 | Kabushiki Kaisha Topcon | Systeme laser rotatif |
| JP2009117370A (ja) * | 1997-06-30 | 2009-05-28 | Cedes Ag | 光カーテン部材のアライメントをとる方法及び光カーテンまたは光ゲート |
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| DE102010061928A1 (de) | 2009-11-30 | 2011-06-09 | Denso Corporation, Kariya-City | Optische Abtastvorrichtung, Laserradarvorrichtung und Verfahren für optische Abtastung |
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| US6262801B1 (en) | 1995-05-25 | 2001-07-17 | Kabushiki Kaisha Topcon | Laser reference level setting device |
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- 1994-06-24 EP EP94109829A patent/EP0631110B1/en not_active Expired - Lifetime
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- 1994-06-24 CN CN94109009A patent/CN1039159C/zh not_active Expired - Lifetime
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