JPH07120396A - Ｉｃｐ発光分析装置 - Google Patents
Ｉｃｐ発光分析装置Info
- Publication number
- JPH07120396A JPH07120396A JP27027593A JP27027593A JPH07120396A JP H07120396 A JPH07120396 A JP H07120396A JP 27027593 A JP27027593 A JP 27027593A JP 27027593 A JP27027593 A JP 27027593A JP H07120396 A JPH07120396 A JP H07120396A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- discharge
- plasma
- plasma torch
- holder
- icp emission
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明の目的は、プラズマ点灯開始時に火花放
電を行う放電クリップを外さないで、信頼性・安全性・
保守性の高いＩＣＰ発光分析装置を提供することにあ
る。 【構成】プラズマトーチ１は、プラズマトーチ保持用ホ
ールダ９により、高周波誘導コイル２の中心に固定され
る。プラズマトーチ保持用ホールダ９に、放電ピン１０
が組込まれており、高圧ケーブル５を介して電圧をかけ
ることにより火花放電を行う。 【効果】本発明によれば、放電クリップを外す必要がな
いので、信頼性・安全性・保守性を大幅に向上させる効
果がある。
電を行う放電クリップを外さないで、信頼性・安全性・
保守性の高いＩＣＰ発光分析装置を提供することにあ
る。 【構成】プラズマトーチ１は、プラズマトーチ保持用ホ
ールダ９により、高周波誘導コイル２の中心に固定され
る。プラズマトーチ保持用ホールダ９に、放電ピン１０
が組込まれており、高圧ケーブル５を介して電圧をかけ
ることにより火花放電を行う。 【効果】本発明によれば、放電クリップを外す必要がな
いので、信頼性・安全性・保守性を大幅に向上させる効
果がある。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、金属元素等の分析を行
うＩＣＰ発光分析装置に係り、特にテスラーコイル放電
部を組込めるプラズマトーチ保持用ホールダを有するＩ
ＣＰ発光分析装置に関する。
うＩＣＰ発光分析装置に係り、特にテスラーコイル放電
部を組込めるプラズマトーチ保持用ホールダを有するＩ
ＣＰ発光分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣＰ発光分析装置の構成は既に良く知
られている。その主な構成は、ＩＣＰ励起源，試料導入
システム，分光器，検知部及び演算部である。霧状にな
った試料は、プラズマの中心を下から上に通過する際
に、プラズマからのエネルギーを受けとって励起され
る。プラズマは、三重管構造のプラズマトーチに３種類
のアルゴンガス（キャリアアルゴン，補助アルゴン，冷
却アルゴン）を流し、プラズマトーチ上部にセットされ
た高周波誘導コイルを通して高周波電力をかけて高周波
誘導によってアルゴンガスを放電させて点灯する。
られている。その主な構成は、ＩＣＰ励起源，試料導入
システム，分光器，検知部及び演算部である。霧状にな
った試料は、プラズマの中心を下から上に通過する際
に、プラズマからのエネルギーを受けとって励起され
る。プラズマは、三重管構造のプラズマトーチに３種類
のアルゴンガス（キャリアアルゴン，補助アルゴン，冷
却アルゴン）を流し、プラズマトーチ上部にセットされ
た高周波誘導コイルを通して高周波電力をかけて高周波
誘導によってアルゴンガスを放電させて点灯する。
【０００３】又、点灯開始時には高周波のみでの自己放
電は困難であるため、テスラーコイルの火花放電を利用
して、アルゴンの放電を開始させる。
電は困難であるため、テスラーコイルの火花放電を利用
して、アルゴンの放電を開始させる。
【０００４】図４により従来の技術を説明する。プラズ
マトーチ１には、キャリアアルゴン＋霧状試料６，補助
アルゴン７，冷却アルゴン８を流し、高周波誘導コイル
２に高周波電力をかけてプラズマを点灯する。プラズマ
トーチ１は、プラズマトーチ保持用ホールダ９により、
高周波誘導コイル２の中心に固定される。放電クリップ
４は、プラズマトーチ１に取り付けられ、高圧ケーブル
５より電圧を受け火花放電することにより、プラズマ点
灯を開始させていた。
マトーチ１には、キャリアアルゴン＋霧状試料６，補助
アルゴン７，冷却アルゴン８を流し、高周波誘導コイル
２に高周波電力をかけてプラズマを点灯する。プラズマ
トーチ１は、プラズマトーチ保持用ホールダ９により、
高周波誘導コイル２の中心に固定される。放電クリップ
４は、プラズマトーチ１に取り付けられ、高圧ケーブル
５より電圧を受け火花放電することにより、プラズマ点
灯を開始させていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の技術は、放電ク
リップの取り付け方法について配慮がされておらず、プ
ラズマトーチの保守・交換の際、その都度放電クリップ
を外す必要があった。放電クリップを再度取り付ける際
に、放電クリップ取り付け位置のずれによる火花放電の
不良、又取り付け忘れによる感電の恐れ等の危険性があ
った。
リップの取り付け方法について配慮がされておらず、プ
ラズマトーチの保守・交換の際、その都度放電クリップ
を外す必要があった。放電クリップを再度取り付ける際
に、放電クリップ取り付け位置のずれによる火花放電の
不良、又取り付け忘れによる感電の恐れ等の危険性があ
った。
【０００６】本発明は、放電クリップを外さないことを
目的としており、信頼性・安全性・保守性の高いＩＣＰ
発光分析装置を提供することにある。
目的としており、信頼性・安全性・保守性の高いＩＣＰ
発光分析装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、放電クリップをプラズマトーチ保持用ホールダに組
込んだものである。
に、放電クリップをプラズマトーチ保持用ホールダに組
込んだものである。
【０００８】また、絶縁性を得るために、プラズマトー
チ保持用ホールダを絶縁材料としたものである。
チ保持用ホールダを絶縁材料としたものである。
【０００９】
【作用】本発明によれば、放電クリップを外す必要がな
い。それによって、火花放電の不良，放電クリップの取
り付け忘れによる感電の恐れを予め防止することができ
る。
い。それによって、火花放電の不良，放電クリップの取
り付け忘れによる感電の恐れを予め防止することができ
る。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１により説明す
る。プラズマトーチ１は、プラズマトーチ保持用ホール
ダ９により高周波誘導コイル２の中心に固定されてい
る。また、プラズマトーチ保持用ホールダ９は電気絶縁
材料により成形されている。放電ピン１０は、高圧ケー
ブル５より電圧を受け火花放電する。プラズマトーチ保
持用ホールダ９に放電ピン１０を組込む方法は以下の方
法がある。
る。プラズマトーチ１は、プラズマトーチ保持用ホール
ダ９により高周波誘導コイル２の中心に固定されてい
る。また、プラズマトーチ保持用ホールダ９は電気絶縁
材料により成形されている。放電ピン１０は、高圧ケー
ブル５より電圧を受け火花放電する。プラズマトーチ保
持用ホールダ９に放電ピン１０を組込む方法は以下の方
法がある。
【００１１】（１）プラズマトーチ保持用ホールダ９と
放電ピン１０の一体成形 （２）ねじ込みによる取り付け （３）接着剤による取り付け （４）圧入による取り付け （５）Ｏリングを用いた取り付け （６）２と３の併用又は３と４の併用。
放電ピン１０の一体成形 （２）ねじ込みによる取り付け （３）接着剤による取り付け （４）圧入による取り付け （５）Ｏリングを用いた取り付け （６）２と３の併用又は３と４の併用。
【００１２】上記取り付けにより、放電ピン１０は、常
に同じ位置に固定されることになる。プラズマトーチ保
持用ホールダ９と放電ピン１０の位置は、火花放電によ
る高周波誘導コイル２への損傷を防止するため、実験で
決めた高適位置まで下げている。図２は本発明の変形例
である。図１では、高圧ケーブル５に放電ピン１０を取
り付けて、プラズマトーチ保持用ホールダ９に組込んだ
が、変形例では、放電ピン１０を取り付けず高圧ケーブ
ル５を直接プラズマトーチ保持用ホールダ９ａに組込ん
だものである。この変形例によっても同等の効果を得る
ことができる。以上のことにより本実施例によれば、放
電クリップを外すことがなくなるので、火花放電の不
良，放電クリップの取り付け忘れによる感電の恐れを予
め防止する効果がある。
に同じ位置に固定されることになる。プラズマトーチ保
持用ホールダ９と放電ピン１０の位置は、火花放電によ
る高周波誘導コイル２への損傷を防止するため、実験で
決めた高適位置まで下げている。図２は本発明の変形例
である。図１では、高圧ケーブル５に放電ピン１０を取
り付けて、プラズマトーチ保持用ホールダ９に組込んだ
が、変形例では、放電ピン１０を取り付けず高圧ケーブ
ル５を直接プラズマトーチ保持用ホールダ９ａに組込ん
だものである。この変形例によっても同等の効果を得る
ことができる。以上のことにより本実施例によれば、放
電クリップを外すことがなくなるので、火花放電の不
良，放電クリップの取り付け忘れによる感電の恐れを予
め防止する効果がある。
【００１３】また、図３に本発明の応用例を示す。図１
では、プラズマトーチ保持用ホールダ９に放電ピン１０
を組込むことを詳述したが、プラズマトーチ保持用ホー
ルダ９は、プラズマトーチ１の固定用とし、新たに放電
ピン用ホールダ１１を設け、放電ピン１０を組込むこと
によっても、図１の例と同様の効果が得られるものであ
る。
では、プラズマトーチ保持用ホールダ９に放電ピン１０
を組込むことを詳述したが、プラズマトーチ保持用ホー
ルダ９は、プラズマトーチ１の固定用とし、新たに放電
ピン用ホールダ１１を設け、放電ピン１０を組込むこと
によっても、図１の例と同様の効果が得られるものであ
る。
【００１４】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
放電クリップを外す必要がないので、信頼性・安全性・
保守性の向上を大幅に図る効果がある。
放電クリップを外す必要がないので、信頼性・安全性・
保守性の向上を大幅に図る効果がある。
【図１】本発明の一実施例の構成図である。
【図２】本発明の変形例を示す図である。
【図３】本発明の応用例を示す図である。
【図４】従来技術の構成図である。
１…プラズマトーチ、５…高圧ケーブル、９…プラズマ
トーチ保持用ホールダ、１０…放電ピン。
トーチ保持用ホールダ、１０…放電ピン。
Claims (2)
- 【請求項１】プラズマを点灯させるＩＣＰ励起源，溶液
試料を噴霧させる試料導入部，測定元素の測定波長を取
り出すための分光器，分光器より取り出された目的波長
の光を検知する検知部，検知された光の量を演算し、発
光信号として表示する演算表示部を有するＩＣＰ発光分
析装置において、プラズマ点灯開始時に火花放電させる
テスラーコイル放電部を、プラズマトーチを保持するホ
ールダに組込んだことを特徴とするＩＣＰ発光分析装
置。 - 【請求項２】テスラーコイル放電部を組込んだホールダ
を、絶縁材料としたことを特徴とする請求項１記載のＩ
ＣＰ発光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27027593A JPH07120396A (ja) | 1993-10-28 | 1993-10-28 | Ｉｃｐ発光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27027593A JPH07120396A (ja) | 1993-10-28 | 1993-10-28 | Ｉｃｐ発光分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07120396A true JPH07120396A (ja) | 1995-05-12 |
Family
ID=17483987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27027593A Pending JPH07120396A (ja) | 1993-10-28 | 1993-10-28 | Ｉｃｐ発光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07120396A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000214093A (ja) * | 1999-01-25 | 2000-08-04 | Seiko Instruments Inc | 誘導結合プラズマ分析装置 |
| JP2004502958A (ja) * | 2000-07-06 | 2004-01-29 | ヴァリアン オーストラリア ピーティーワイ．エルティーディー． | プラズマ発生方法、分光測定用プラズマ源および導波路 |
| JP2017130255A (ja) * | 2016-01-18 | 2017-07-27 | 株式会社島津製作所 | 誘導結合プラズマ発生装置 |
-
1993
- 1993-10-28 JP JP27027593A patent/JPH07120396A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000214093A (ja) * | 1999-01-25 | 2000-08-04 | Seiko Instruments Inc | 誘導結合プラズマ分析装置 |
| JP2004502958A (ja) * | 2000-07-06 | 2004-01-29 | ヴァリアン オーストラリア ピーティーワイ．エルティーディー． | プラズマ発生方法、分光測定用プラズマ源および導波路 |
| JP4922530B2 (ja) * | 2000-07-06 | 2012-04-25 | アジレント・テクノロジーズ・オーストラリア（エム）プロプライエタリー・リミテッド | プラズマ発生方法、分光測定用プラズマ源および導波路 |
| JP2017130255A (ja) * | 2016-01-18 | 2017-07-27 | 株式会社島津製作所 | 誘導結合プラズマ発生装置 |
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