JPH07117474B2 - リークテスト方法および装置 - Google Patents
リークテスト方法および装置Info
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- JPH07117474B2 JPH07117474B2 JP2254068A JP25406890A JPH07117474B2 JP H07117474 B2 JPH07117474 B2 JP H07117474B2 JP 2254068 A JP2254068 A JP 2254068A JP 25406890 A JP25406890 A JP 25406890A JP H07117474 B2 JPH07117474 B2 JP H07117474B2
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- pressure
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、容器等の検体のリークテスト方法および装置
に関する。
に関する。
［従来の技術］ 一般的なリークテスト装置の構成について、差圧検出型
を例にとって説明する。このリークテスト装置は、エア
通路（流体通路）を備えており、エア通路の一端に圧縮
エア源（流体圧源）が接続されている。エア通路の他端
部は２つに分岐しており、これら分岐路の中途部にはそ
れぞれ弁が設置されている。そして、２つの分岐路の端
には、それぞれ基準容器と検体が接続される。基準容器
は、予め漏れがないことが確認された容器であり、一方
の分岐路に接続されたまま継続して用いられる。そし
て、多数の検体を順次他方の分岐路に接続して以下に述
べるリークテストを行う。最初に、２つの弁を開いて基
準容器および検体にテスト圧を導入した後で弁を閉じ、
所定時間経過後に、検体と基準容器の差圧を検出する。
テスト圧力が正圧の場合、検体に漏れがあると検体の圧
力が低下し、基準容器と検体の圧力に差が生じる。この
差圧を差圧センサ（圧力検出手段）で検出することによ
り、検体の漏れを知ることができる。
を例にとって説明する。このリークテスト装置は、エア
通路（流体通路）を備えており、エア通路の一端に圧縮
エア源（流体圧源）が接続されている。エア通路の他端
部は２つに分岐しており、これら分岐路の中途部にはそ
れぞれ弁が設置されている。そして、２つの分岐路の端
には、それぞれ基準容器と検体が接続される。基準容器
は、予め漏れがないことが確認された容器であり、一方
の分岐路に接続されたまま継続して用いられる。そし
て、多数の検体を順次他方の分岐路に接続して以下に述
べるリークテストを行う。最初に、２つの弁を開いて基
準容器および検体にテスト圧を導入した後で弁を閉じ、
所定時間経過後に、検体と基準容器の差圧を検出する。
テスト圧力が正圧の場合、検体に漏れがあると検体の圧
力が低下し、基準容器と検体の圧力に差が生じる。この
差圧を差圧センサ（圧力検出手段）で検出することによ
り、検体の漏れを知ることができる。
上記差圧は、理論的には検体の漏れに起因する検体の圧
力変動を表すものである。しかし、実際には、検体に漏
れが無くても差圧センサが差圧を検出してしまう。この
差圧に含まれる誤差成分は、例えば周囲温度、湿度等に
よる基準容器と検体への影響が異なることに起因して生
じる。
力変動を表すものである。しかし、実際には、検体に漏
れが無くても差圧センサが差圧を検出してしまう。この
差圧に含まれる誤差成分は、例えば周囲温度、湿度等に
よる基準容器と検体への影響が異なることに起因して生
じる。
特公平１−34333合に開示されたリークテスト装置は、
検出された差圧から、リークテスト中の検体の前に良品
と判定された複数の検体における差圧の平均を、差し引
き、この減算によって得られた値を許容値と比較し、良
否判定を行っている。良品と判断された検体の差圧の平
均値は、時事刻々と変化する周囲温度等の環境に対応す
る誤差成分を含んでいるため、上記減算によって得られ
た値が純粋に検体の漏れ成分を表していると想定したの
である。
検出された差圧から、リークテスト中の検体の前に良品
と判定された複数の検体における差圧の平均を、差し引
き、この減算によって得られた値を許容値と比較し、良
否判定を行っている。良品と判断された検体の差圧の平
均値は、時事刻々と変化する周囲温度等の環境に対応す
る誤差成分を含んでいるため、上記減算によって得られ
た値が純粋に検体の漏れ成分を表していると想定したの
である。
［発明が解決しようとする課題］ しかし、上記公報の装置では、最初の検体のリークテス
トでどのように良否を判定するのか不明である。最初の
検体のリークテストでは、周囲温度等の環境の影響が不
明であり、テストで得られた差圧を上記許容値と直接比
較することはできないはずである。
トでどのように良否を判定するのか不明である。最初の
検体のリークテストでは、周囲温度等の環境の影響が不
明であり、テストで得られた差圧を上記許容値と直接比
較することはできないはずである。
［課題を解決するための手段］ 上記課題を解決するために、第１の発明の要旨は、次の
工程を備えたことを特徴とするリークテスト方法にあ
る。
工程を備えたことを特徴とするリークテスト方法にあ
る。
（ａ）最初に、複数の漏れのない基準容器の疑似リーク
テストを行い、その際に生じる圧力変動ΔPrを検出し、
その平均値を初期誤差成分Eoとして求める。
テストを行い、その際に生じる圧力変動ΔPrを検出し、
その平均値を初期誤差成分Eoとして求める。
（ｂ）その直後から複数の検体のリークテストを順次行
う。すなわち、検出された圧力変動のうちの漏れ成分As
を許容値Amaxと比較し、許容値以下の時には良品と判定
し、許容値を超えた時には不良品と判定する。上記疑似
リークテスト直後の漏れ成分Asは次式から求める。次式
において、ΔPsは検出された圧力変動である。
う。すなわち、検出された圧力変動のうちの漏れ成分As
を許容値Amaxと比較し、許容値以下の時には良品と判定
し、許容値を超えた時には不良品と判定する。上記疑似
リークテスト直後の漏れ成分Asは次式から求める。次式
において、ΔPsは検出された圧力変動である。
As＝ΔPs−Eo 上記良否判定と合わせて、良品と判定された複数の検体
の漏れ成分Asの平均値を良品漏れ成分Aoとして求める。
の漏れ成分Asの平均値を良品漏れ成分Aoとして求める。
（ｃ）次に、検体のリークテストを順次行う。すなわ
ち、検出された圧力変動ΔPiのうちの漏れ成分Aiを許容
値Amaxと比較し、許容値以下の時には良品と判定し、許
容値を超えた時には不良品と判定する。上記漏れ成分Ai
は次式から求める。次式において、ΔPavは、現在テス
ト中の検体より前に良品と判定された検体における圧力
変動の実質的な平均値である。
ち、検出された圧力変動ΔPiのうちの漏れ成分Aiを許容
値Amaxと比較し、許容値以下の時には良品と判定し、許
容値を超えた時には不良品と判定する。上記漏れ成分Ai
は次式から求める。次式において、ΔPavは、現在テス
ト中の検体より前に良品と判定された検体における圧力
変動の実質的な平均値である。
Ai＝ΔPi−ΔPav＋Ao 第２の発明の要旨は、第１の（ｂ）の工程において、良
品の検体を用いて良否判定を省いたものである。
品の検体を用いて良否判定を省いたものである。
第３の発明の要旨は、第1,第２の発明を実現するための
装置である。
装置である。
［作用］ 一般的に、テストされた検体の圧力変動ΔPiは、漏れに
よって発生した変動成分すなわち漏れ成分Aiと、漏れ以
外の影響で発生した変動成分すなわち誤差成分Eiとを含
んでいる。式で表すと下記のようになる。
よって発生した変動成分すなわち漏れ成分Aiと、漏れ以
外の影響で発生した変動成分すなわち誤差成分Eiとを含
んでいる。式で表すと下記のようになる。
ΔPi＝Ai＋Ei 本発明の最も重要な点は、上記漏れ成分Aiを正確に見極
めて良否判定を行うことである。以下、詳述する。
めて良否判定を行うことである。以下、詳述する。
まず、漏れがゼロであることが判明している基準容器の
疑似リークテストを行い、圧力変動ΔPrを検出する。こ
の圧力変動ΔPrは、漏れ成分を含まないから、この圧力
変動ΔPrの平均値を初期誤差成分Eoとして求める。
疑似リークテストを行い、圧力変動ΔPrを検出する。こ
の圧力変動ΔPrは、漏れ成分を含まないから、この圧力
変動ΔPrの平均値を初期誤差成分Eoとして求める。
初期誤差成分Eo検出の直後、すなわち初期誤差成分Eoが
変化しないように、検体のリークテストを行い圧力変動
ΔPsを検出する。そして、この圧力変動ΔPsと上記誤差
成分Eoに基づいて、良品の検体における漏れ成分Asを求
め、さらにその平均値Aoを求める。この平均値Aoを求め
る場合、良否が判別しない検体を用い、検体の漏れ成分
と許容値Amaxとを比較して検体の良否判定を行い、良品
と判定された検体について漏れ成分の平均値を求めても
よい。また、あらかじめ良品と判定された検体を用いて
平均値Aoを求めてもよい。
変化しないように、検体のリークテストを行い圧力変動
ΔPsを検出する。そして、この圧力変動ΔPsと上記誤差
成分Eoに基づいて、良品の検体における漏れ成分Asを求
め、さらにその平均値Aoを求める。この平均値Aoを求め
る場合、良否が判別しない検体を用い、検体の漏れ成分
と許容値Amaxとを比較して検体の良否判定を行い、良品
と判定された検体について漏れ成分の平均値を求めても
よい。また、あらかじめ良品と判定された検体を用いて
平均値Aoを求めてもよい。
引き続いて、多数の検体のリークテストを順次実行す
る。この際、漏れ成分Aiは、次式で求められる。
る。この際、漏れ成分Aiは、次式で求められる。
Ai＝ΔPi−ΔPav＋Ao ここでΔPavは、テスト中の検体の前にテストされた検
体のうち良品における圧力変動の実質的な平均値であ
る。この平均値ΔPavには誤差成分の平均値だけでな
く、良品の漏れ成分の平均値Aoが含まれている。上記式
のように漏れ成分の平均値Aoを加えることにより、正確
な漏れ成分Aiが求められる。その理由をさらに述べるこ
とにする。上記式は次のように書き換えることができ
る。
体のうち良品における圧力変動の実質的な平均値であ
る。この平均値ΔPavには誤差成分の平均値だけでな
く、良品の漏れ成分の平均値Aoが含まれている。上記式
のように漏れ成分の平均値Aoを加えることにより、正確
な漏れ成分Aiが求められる。その理由をさらに述べるこ
とにする。上記式は次のように書き換えることができ
る。
Ai＝ΔPi−（ΔPav−Ao） この式の（ΔPav−Ao）は上記テスト中の誤差成分Eiを
正確に表している。したがって、検出された圧力変動Pi
から正確な誤差成分Eiを差し引くことにより、正確な漏
れ成分Aiを求めることができ、ひいては正確な良否判定
を行うことができる。
正確に表している。したがって、検出された圧力変動Pi
から正確な誤差成分Eiを差し引くことにより、正確な漏
れ成分Aiを求めることができ、ひいては正確な良否判定
を行うことができる。
［実施例］ 以下、本発明の一実施例を第１図から第３図までの図面
に基づいて説明する。第１図に示す差圧検出型のリーク
テスト装置は、ブロック形成された孔またはパイプから
なるエア通路10（流体通路）を備えている。エア通路10
は、上流側に接続端10aを有し、下流側に２つの分岐路1
1,12を有しており、これら分岐路11,12の端が接続端10
b,10cとして提供されている。上記接続端10aは圧縮エア
源20（流体圧源）に接続されている。
に基づいて説明する。第１図に示す差圧検出型のリーク
テスト装置は、ブロック形成された孔またはパイプから
なるエア通路10（流体通路）を備えている。エア通路10
は、上流側に接続端10aを有し、下流側に２つの分岐路1
1,12を有しており、これら分岐路11,12の端が接続端10
b,10cとして提供されている。上記接続端10aは圧縮エア
源20（流体圧源）に接続されている。
エア通路10には上流から下流に向かって順に、リリーフ
弁付き源圧弁からなるレギュレータ21、圧力計22,二位
置三ポート電磁弁23が設られている。また、エア路10の
分岐路11,12にはそれぞれ常開の二位置二ポート電磁弁2
4,25が設けられている。
弁付き源圧弁からなるレギュレータ21、圧力計22,二位
置三ポート電磁弁23が設られている。また、エア路10の
分岐路11,12にはそれぞれ常開の二位置二ポート電磁弁2
4,25が設けられている。
リークテスト装置は、さらに差圧センサ26（圧力検出手
段）を備えている。この差圧センサ26は、周知なので詳
述しないが、２つの圧力導入ポートを有しており、一方
の圧力導入ポートは、電磁弁24と接続端10b間に位置す
る上記一方の分岐路11に接続され、他方の圧力導入ポー
トは電磁弁25と接続端10cとの間に位置する他方の分岐
路12に接続されている。両ポートの差圧が差圧センサ26
で電圧信号に変換される。
段）を備えている。この差圧センサ26は、周知なので詳
述しないが、２つの圧力導入ポートを有しており、一方
の圧力導入ポートは、電磁弁24と接続端10b間に位置す
る上記一方の分岐路11に接続され、他方の圧力導入ポー
トは電磁弁25と接続端10cとの間に位置する他方の分岐
路12に接続されている。両ポートの差圧が差圧センサ26
で電圧信号に変換される。
リークテスト装置は、さらにマイクロコンピュータ30を
備えている。マイクロコンピュータの入力ポートには、
上記差圧センサ26の出力が増幅器27,アナログデジタル
コンバータ28を介して入力する。マイクロコンピュータ
30の出力ポートには、ブザーやランプ等からなる警報器
29が接続されている。マイクロコンピュータ30は、上記
電磁弁23,24,25をシーケンス制御する機能と、第３図に
示すように上記差圧センサ26からの出力に基づいてリー
ク検出を行う機能を備えている。すななち、マイクロコ
ンピュータ30は初期誤差成分演算手段31と、漏れ成分平
均値演算手段32と、差圧平均値演算手段33（圧力変動平
均値演算手段）と、漏れ成分演算手段34a,34bと、許容
値設定手段35と、良否判定手段36a,36bとを備えてい
る。
備えている。マイクロコンピュータの入力ポートには、
上記差圧センサ26の出力が増幅器27,アナログデジタル
コンバータ28を介して入力する。マイクロコンピュータ
30の出力ポートには、ブザーやランプ等からなる警報器
29が接続されている。マイクロコンピュータ30は、上記
電磁弁23,24,25をシーケンス制御する機能と、第３図に
示すように上記差圧センサ26からの出力に基づいてリー
ク検出を行う機能を備えている。すななち、マイクロコ
ンピュータ30は初期誤差成分演算手段31と、漏れ成分平
均値演算手段32と、差圧平均値演算手段33（圧力変動平
均値演算手段）と、漏れ成分演算手段34a,34bと、許容
値設定手段35と、良否判定手段36a,36bとを備えてい
る。
上記構成において、第１図に示すように、一方の分岐路
11の接続端10bには、漏れがないことが確認されている
基準容器100が接続されたまま維持されている。この状
態で、漏れがないことが確認されている他の数個の基準
容器100′について順次に疑似リークテストを行う。こ
れら基準容器100,100′は後述する検体200と同一形状で
あるのが好ましい。特に基準容器100′は同一形状であ
るのが好ましい。しかし、これら基準容器100,100′は
検体200と形状，容量が異なっていてもよい。
11の接続端10bには、漏れがないことが確認されている
基準容器100が接続されたまま維持されている。この状
態で、漏れがないことが確認されている他の数個の基準
容器100′について順次に疑似リークテストを行う。こ
れら基準容器100,100′は後述する検体200と同一形状で
あるのが好ましい。特に基準容器100′は同一形状であ
るのが好ましい。しかし、これら基準容器100,100′は
検体200と形状，容量が異なっていてもよい。
上記基準容器100′の疑似リークテストについて詳述す
ると、電磁弁23,24,25がオフの状態、すなわち第１図に
示すように分岐路11,12が圧縮エア源20に対して遮断さ
れ大気に開放されている状態で、他方の接続端10cに基
準容器100′を接続する。この状態で、電磁弁23をオン
にしレギュレータ21と基準容器100,100′とを連通さ
せ、基準容器100,100′内の圧力をレギュレータ21のセ
ット圧力すなわちテスト圧力にする。この状態を所定時
間続けて基準容器100,100′内の圧力を安定させた後
で、電磁弁24,25をオンにして閉じ、これにより、基準
容器100,100′を閉鎖系にする。所定時間経過後に、差
圧センサ26からの差圧ΔPr（基準容器100′の圧力変
動）を表す電圧信号をマイクロコンピュータ30で読み込
む。この後、電磁弁23,24,25をオフにして基準容器100,
100′を大気に開放し、基準容器100′を接続端10cから
外す。
ると、電磁弁23,24,25がオフの状態、すなわち第１図に
示すように分岐路11,12が圧縮エア源20に対して遮断さ
れ大気に開放されている状態で、他方の接続端10cに基
準容器100′を接続する。この状態で、電磁弁23をオン
にしレギュレータ21と基準容器100,100′とを連通さ
せ、基準容器100,100′内の圧力をレギュレータ21のセ
ット圧力すなわちテスト圧力にする。この状態を所定時
間続けて基準容器100,100′内の圧力を安定させた後
で、電磁弁24,25をオンにして閉じ、これにより、基準
容器100,100′を閉鎖系にする。所定時間経過後に、差
圧センサ26からの差圧ΔPr（基準容器100′の圧力変
動）を表す電圧信号をマイクロコンピュータ30で読み込
む。この後、電磁弁23,24,25をオフにして基準容器100,
100′を大気に開放し、基準容器100′を接続端10cから
外す。
上記のようにして数個の基準容器100′の疑似リークテ
ストを順次行う。マイクロコンピュータ30では、その差
圧ΔPrの平均値を演算する。この差圧ΔPrには漏れ成分
がないから、その平均値はその時の周囲温度等により決
定される初期誤差成分Eoを表している。したがって、マ
イクロコンピュータ30は前述した初期誤差成分演算手段
31を実質的に備えている。
ストを順次行う。マイクロコンピュータ30では、その差
圧ΔPrの平均値を演算する。この差圧ΔPrには漏れ成分
がないから、その平均値はその時の周囲温度等により決
定される初期誤差成分Eoを表している。したがって、マ
イクロコンピュータ30は前述した初期誤差成分演算手段
31を実質的に備えている。
上記疑似リークテストの直後、すなわち上記初期誤差成
分Eoが変化しないうちに、検体のリークテストを開始す
る。すなわち、接続端10cに検体200を接続して、前述の
疑似リークテストと同様のテストを行って差圧ΔPa（圧
力変動）を求める。この差圧ΔPsは、初期誤差成分Eoと
漏れ成分Asを含んでいる。そこで、マイクロコンピュー
タ30は次式により漏れ成分Asを求める。この機能は第３
図の漏れ成分演算手段34aで示される。
分Eoが変化しないうちに、検体のリークテストを開始す
る。すなわち、接続端10cに検体200を接続して、前述の
疑似リークテストと同様のテストを行って差圧ΔPa（圧
力変動）を求める。この差圧ΔPsは、初期誤差成分Eoと
漏れ成分Asを含んでいる。そこで、マイクロコンピュー
タ30は次式により漏れ成分Asを求める。この機能は第３
図の漏れ成分演算手段34aで示される。
As＝ΔPs−Eo …（１） そして、上記漏れ成分Asを許容値設定部35からの許容値
Amaxと比較し、良否判定を行う。この機能は第３図の良
否判定手段36aで示される。
Amaxと比較し、良否判定を行う。この機能は第３図の良
否判定手段36aで示される。
マイクロコンピュータ30は、良品と判定された検体200
の漏れ成分Asの平均値Ao（良品漏れ成分）を演算する。
換言すれば、マイクロコンピュータ30は実質的に、良否
判定手段36aからの良品判定信号Sokと、漏れ成分演算手
段34aからの漏れ成分Asに基づいて平均値Aoを演算する
漏れ成分平均値演算手段32を備えている。
の漏れ成分Asの平均値Ao（良品漏れ成分）を演算する。
換言すれば、マイクロコンピュータ30は実質的に、良否
判定手段36aからの良品判定信号Sokと、漏れ成分演算手
段34aからの漏れ成分Asに基づいて平均値Aoを演算する
漏れ成分平均値演算手段32を備えている。
上記漏れ成分平均値Aoを求めるリークテストにおいて、
上記検体200は予め良品であることが分かっているもの
を用いてもよい。この場合、良否判定手段36aは不要と
なる。
上記検体200は予め良品であることが分かっているもの
を用いてもよい。この場合、良否判定手段36aは不要と
なる。
次に、多数の検体について順次本格的なリークテストを
行う。このリークテストにおいては、周囲温度等に起因
する誤差成分が時間の経過につれて変化し、初期誤差成
分Eoと異なるので、もはや上記（１）式と同様にして漏
れ成分を求めることはできない。そこで、マイクロコン
ピュータ30では次の演算を行う。なお、この機能は第３
図の漏れ成分演算手段34bに示されている。
行う。このリークテストにおいては、周囲温度等に起因
する誤差成分が時間の経過につれて変化し、初期誤差成
分Eoと異なるので、もはや上記（１）式と同様にして漏
れ成分を求めることはできない。そこで、マイクロコン
ピュータ30では次の演算を行う。なお、この機能は第３
図の漏れ成分演算手段34bに示されている。
Ai＝ΔPi−ΔPav＋Ao …（２） ここで、Aiは、ｉ番目の検体200のリークテストでの漏
れ成分、ΔPiは検出された差圧（圧力変動）、ΔPavは
ｉ番目の検体200の前にテストされた多数の検体200（但
し良品と判定されたものだけに限る）の検出差圧の平均
値であり、例えば（ｉ−１）番目の検体200が良品であ
る場合には、次式で表される。
れ成分、ΔPiは検出された差圧（圧力変動）、ΔPavは
ｉ番目の検体200の前にテストされた多数の検体200（但
し良品と判定されたものだけに限る）の検出差圧の平均
値であり、例えば（ｉ−１）番目の検体200が良品であ
る場合には、次式で表される。
ΔPav−｛ΔP(i-1)＋（ｎ−１）ΔPav′｝/n …（３） 但し、ΔP(i-1)は、（ｉ−１）番目の検体200のテスト
で検出された差圧であり、ΔPav′は、（ｉ−１）番目
の検体200の前に検出された検体200（但し良品と判定さ
れたものだけに限る）の検出差圧の平均値である。
（３）式の差圧平均値ΔPavの演算の機能は、第３図の
差圧平均値演算手段33で示されている。
で検出された差圧であり、ΔPav′は、（ｉ−１）番目
の検体200の前に検出された検体200（但し良品と判定さ
れたものだけに限る）の検出差圧の平均値である。
（３）式の差圧平均値ΔPavの演算の機能は、第３図の
差圧平均値演算手段33で示されている。
なお、本格的なリークテストの１番目の検体200の漏れ
成分を演算する際には、（２）式におけるΔPavとし
て、漏れ成分平均値Eoを求める時に検出した良品検体で
の差圧ΔPsの平均値を用いる。
成分を演算する際には、（２）式におけるΔPavとし
て、漏れ成分平均値Eoを求める時に検出した良品検体で
の差圧ΔPsの平均値を用いる。
上記平均値ΔPavを求める式において、ｎを小さくとれ
ば直前の（ｉ−１）番目の検体200のリークテストで得
られた差圧ΔPiの占める割合が高くなり、周囲温度変化
の対して敏感になる。なお、ｎは整数でなくてもよい。
ば直前の（ｉ−１）番目の検体200のリークテストで得
られた差圧ΔPiの占める割合が高くなり、周囲温度変化
の対して敏感になる。なお、ｎは整数でなくてもよい。
また、マイクロコンピュータ30は、漏れ成分平均値Aoと
差圧平均値成分ΔPavとを記憶して、検体の漏れ成分を
演算すればよいので、記憶容量の小さいマイクロコンピ
ュータを用いることができる。
差圧平均値成分ΔPavとを記憶して、検体の漏れ成分を
演算すればよいので、記憶容量の小さいマイクロコンピ
ュータを用いることができる。
マイクロコンピュータ30では、上記漏れ成分Aiと許容値
Amaxとを比較して、許容値以下の時には良品と判定し、
許容値以上の時には不良品と判定してNG信号を出力し
て、警報器29を作動させる。この機能は第３図の良品判
定手段36bで示されている。
Amaxとを比較して、許容値以下の時には良品と判定し、
許容値以上の時には不良品と判定してNG信号を出力し
て、警報器29を作動させる。この機能は第３図の良品判
定手段36bで示されている。
上記実施例において、良品検体の漏れ成分平均値Aoは、
良品検体の差圧ΔPs（圧力変動）の平均値を演算し、こ
の平均値から初期誤差成分Eoを差し引くことにより求め
てもよい。
良品検体の差圧ΔPs（圧力変動）の平均値を演算し、こ
の平均値から初期誤差成分Eoを差し引くことにより求め
てもよい。
また、差圧平均値ΔPavは、直前に良品と判定された一
定個数ｍの検体の差圧の単純平均であってもよい。すな
わち、マイクロコンピュータでは、差圧のための記憶部
をｍ個有しており、最も古い差圧データが新しく良品と
判定された差圧データと入れ換えられ、ｍ個の差圧デー
タの単純平均が演算される。これは、一般に移動平均と
称されるものである。
定個数ｍの検体の差圧の単純平均であってもよい。すな
わち、マイクロコンピュータでは、差圧のための記憶部
をｍ個有しており、最も古い差圧データが新しく良品と
判定された差圧データと入れ換えられ、ｍ個の差圧デー
タの単純平均が演算される。これは、一般に移動平均と
称されるものである。
第４図は本発明の他の実施例を示す。第４図の装置で
は、エア通路10′の下流側は分岐されていない。ここで
は、前述の実施例の基準容器100は用いない。差圧セン
サ26の一方の圧力導入ポートは、大気に開放されてい
る。この装置を用いる場合、基準容器100′，検体200を
下流側の接続端10dに接続した状態でテスト圧を導入す
ると、差圧センサ26には大気圧とテスト圧との差圧に起
因した電圧が生じる。差圧センサ26ではこの電圧を基準
として検体200の圧力変動の変化に対応して変化する電
圧信号が検出される。他の点は前述の実施例と同じであ
るので説明を省略する。
は、エア通路10′の下流側は分岐されていない。ここで
は、前述の実施例の基準容器100は用いない。差圧セン
サ26の一方の圧力導入ポートは、大気に開放されてい
る。この装置を用いる場合、基準容器100′，検体200を
下流側の接続端10dに接続した状態でテスト圧を導入す
ると、差圧センサ26には大気圧とテスト圧との差圧に起
因した電圧が生じる。差圧センサ26ではこの電圧を基準
として検体200の圧力変動の変化に対応して変化する電
圧信号が検出される。他の点は前述の実施例と同じであ
るので説明を省略する。
本発明は上記実施例に制約されず種々の態様が可能であ
る。
る。
［発明の効果］ 以上説明したように本発明では、最初に漏れゼロの基準
容器での疑似リークテストにより初期誤差成分を求め、
さらにその直後の良品検体のリークテストにより得られ
た圧力変動と初期誤差成分に基づいて良品の検体での漏
れ成分を求め、その御の検体のリークテストにおいて、
その直前の良品検体の圧力変動の平均値と、上記良品漏
れ成分を用いることにより、検査対象となる検体の正確
な漏れ成分を得ることができ、ひいては上記良品判定を
正確に行うことができる。
容器での疑似リークテストにより初期誤差成分を求め、
さらにその直後の良品検体のリークテストにより得られ
た圧力変動と初期誤差成分に基づいて良品の検体での漏
れ成分を求め、その御の検体のリークテストにおいて、
その直前の良品検体の圧力変動の平均値と、上記良品漏
れ成分を用いることにより、検査対象となる検体の正確
な漏れ成分を得ることができ、ひいては上記良品判定を
正確に行うことができる。
【図面の簡単な説明】 第１図，第２図は本発明に係わる装置の一実施例を示す
概略構成図であり、第１図はエア通路の両方の分岐路に
基準容器を接続した状態を示す図、第２図はエア通路の
一方の分岐路に基準容器を接続し、他方の分岐路に検体
を接続した状態を示す図、第３図は第１図，第２図のマ
イクロコンピュータで実行されるタスクをブロックで概
略的に示す図である。第４図は本発明の他の態様を示す
概略構成図である。 10……流体通路（エア通路）、20……流体圧源（圧縮エ
ア源）、24,25……弁手段（二位置二ポート弁）、26…
…圧力検出手段（差圧センサ）、30……マイクロコンピ
ュータ、31……初期誤差成分演算手段、32……漏れ成分
平均値演算手段、33……圧力変動平均値演算手段（差圧
平均値演算手段）、34b……漏れ成分演算手段、35……
許容値設定手段、36b……良否判定手段。
概略構成図であり、第１図はエア通路の両方の分岐路に
基準容器を接続した状態を示す図、第２図はエア通路の
一方の分岐路に基準容器を接続し、他方の分岐路に検体
を接続した状態を示す図、第３図は第１図，第２図のマ
イクロコンピュータで実行されるタスクをブロックで概
略的に示す図である。第４図は本発明の他の態様を示す
概略構成図である。 10……流体通路（エア通路）、20……流体圧源（圧縮エ
ア源）、24,25……弁手段（二位置二ポート弁）、26…
…圧力検出手段（差圧センサ）、30……マイクロコンピ
ュータ、31……初期誤差成分演算手段、32……漏れ成分
平均値演算手段、33……圧力変動平均値演算手段（差圧
平均値演算手段）、34b……漏れ成分演算手段、35……
許容値設定手段、36b……良否判定手段。
Claims (3)
- 【請求項１】検体に所定の流体圧を付与し、この検体の
圧力の変動を検出してリークの有無を判定するリークテ
スト方法において、次の工程を備えたことを特徴とする
リークテスト方法。 （ａ）最初に、複数の漏れのない基準容器の疑似リーク
テストを行い、その際に生じる圧力変動ΔPrを検出し、
その平均値を初期誤差成分Eoとして求める。 （ｂ）その直後から複数の検体のリークテストを順次行
う。すなわち、検出された圧力変動のうちの漏れ成分As
を許容値Amaxと比較し、許容値以下の時には良品と判定
し、許容値を超えた時には不良品と判定する。上記疑似
リークテスト直後の漏れ成分Asは次式から求める。次式
において、ΔPsは検出された圧力変動である。 As＝ΔPs−Eo 上記良否判定と合わせて、良品と判定された複数の検体
の漏れ成分Asの平均値を良品漏れ成分Aoとして求める。 （ｃ）次に、検体のリークテストを順次行う。すなわ
ち、検出された圧力変動ΔPiのうちの漏れ成分Aiを許容
値Amaxと比較し、許容値以下の時には良品と判定し、許
容値を超えた時には不良品と判定する。上記漏れ成分Ai
は次式から求める。次式において、ΔPavは、現在テス
ト中の検体より前に良品と判定された検体における圧力
変動の実質的な平均値である。 Ai＝ΔPi−ΔPav＋Ao - 【請求項２】検体に所定の流体圧を付与し、この検体の
圧力の変動を検出してリークの有無を判定するリークテ
スト方法において、次の工程を備えたことを特徴とする
リークテスト方法。 （ａ）最初に、複数の漏れのない基準容器の疑似リーク
テストを行い、その際に生じる圧力変動ΔPrを検出し、
その平均値を初期誤差成分Eoとして求める。 （ｂ）その直後に複数の良品の検体の疑似リークテスト
を行って、その圧力変動ΔPsを検出し、この圧力変動の
うちの漏れ成分Asを次式から求める。 As＝ΔPs−Eo さらに、この漏れ成分Asの平均値を良品漏れ成分Aoとし
て求める。 （ｃ）次に、検体のリークテストを順次行う。すなわ
ち、検出された圧力変動ΔPiのうちの漏れ成分Aiを許容
値Amaxと比較し、許容値以下の時には良品と判定し、許
容値を超えた時には不良品と判定する。上記漏れ成分Ai
は次式から求める。次式において、ΔPavは、現在テス
ト中の検体より前に良品と判定された検体における圧力
変動の実質的な平均値である。 Ai＝ΔPi−ΔPav＋Ao - 【請求項３】流体通路と、流体通路の一端に接続された
流体圧源と、流体通路の中途部に配された弁手段と、流
体通路の他端と弁手段との間の圧力を検出する圧力検出
手段と、この圧力検出手段に接続されたマイクロコンピ
ュータとを備えたリークテスト装置において、上記マイ
クロコンピュータが次の構成を備えていることを特徴と
するリークテスト装置。 （ａ）漏れの全くない複数個の基準容器を流体通路の他
端に接続して疑似リークテストを行った際に圧力検出手
段で検出された圧力変動ΔPrの平均値を演算して、初期
誤差成分Eoを求める初期誤差成分演算手段。 （ｂ）上記基準容器の疑似リークテストの直後のテスト
で検出された複数の良品の検体の圧力変動ΔPsと上記初
期誤差成分Eoに基づいて漏れ成分Asを求めるとともに、
その平均値を良品漏れ成分Aoとして求める漏れ成分平均
値演算手段。 （ｃ）現在リークテスト中の検体の前に良品と判定され
た複数の検体における圧力変動の実質的な平均値ΔPav
を演算する圧力変動平均値演算手段。 （ｄ）現在のリークテストで検出された圧力変動ΔPiの
うちの漏れ成分Aiを次式に基づいて演算する漏れ成分演
算手段。 Ai＝ΔPi−ΔPav＋Ao （ｅ）上記漏れ成分Aiを許容値Amaxと比較して、許容値
以下の場合には良品と判定し、許容値を超えた場合には
不良品と判定する良否判定手段。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2254068A JPH07117474B2 (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | リークテスト方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2254068A JPH07117474B2 (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | リークテスト方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04132926A JPH04132926A (ja) | 1992-05-07 |
| JPH07117474B2 true JPH07117474B2 (ja) | 1995-12-18 |
Family
ID=17259775
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2254068A Expired - Lifetime JPH07117474B2 (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | リークテスト方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07117474B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB9302958D0 (en) * | 1993-02-13 | 1993-03-31 | Lucas Ind Plc | Method of and apparatus for detecting fuel system leak |
| US5367797A (en) * | 1993-10-25 | 1994-11-29 | Omega Environmental, Inc. | Process for testing a vessel |
| JP4107970B2 (ja) * | 2003-01-15 | 2008-06-25 | 三菱レイヨン株式会社 | 浄水カートリッジのリーク検査方法 |
| US10816434B2 (en) | 2015-12-14 | 2020-10-27 | Fukuda Co., Ltd. | Apparatus and method for leak testing |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59142748U (ja) * | 1983-03-14 | 1984-09-25 | トヨタ自動車株式会社 | 学習機能を持つ差圧検出式漏れ検査装置 |
| JPS6079132U (ja) * | 1983-11-04 | 1985-06-01 | 株式会社コスモ計器 | 漏れ検査装置 |
| JPS6434333A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-03 | Toshiba Corp | Image processing apparatus |
-
1990
- 1990-09-26 JP JP2254068A patent/JPH07117474B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04132926A (ja) | 1992-05-07 |
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