JPH07107650B2 - 自動検査装置における基準基板デ−タの教示方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 《産業上の利用分野》 本発明は、部品が実装された被検査基板を撮像して得ら
れる像を処理して前記被検査基板上の部品の有無，位置
ずれ等を検査する自動検査装置に基準基板の情報を教示
する自動検査装置における基準基板データの教示方法に
関する。

《従来の技術》 プリント基板に抵抗器や半導体素子等の各種チツプ部品
を実装するときにおいて自動実装装置を用いた場合、実
装後において実装データ通りに部品が実装されていない
ことがある。

このため、このような自動実装装置等を用いる場合に
は、実装後にプリント基板をチエツクして、このプリン
ト基板上の正規の位置に正当なチツプ部品が正しい姿勢
（位置，方向）で実装されているかどうか、また脱落が
ないかどうかを検査する必要がある。

しかしこのような検査を従来と同じように人手による目
視検査で行なつていたのでは、検査ミスの発生を完全に
無くすことができず、また検査速度を高めることができ
ないという問題がある。

そこで、近年、この種の検査を自動的に行なうことがで
きるプリント基板の自動検査装置が各メーカから種々提
案されている。

第７図は、このような自動検査装置の一例を示すブロツ
ク図である。

この図に示す自動検査装置は、部品１が実装された被検
査プリント基板２−２を撮像するTVカメラ３と、キーボ
ード８から入力されたデータ、つまり第８図に示すよう
に基準基板となる基準プリント基板２−１の種類等に関
するデータおよびこの基準プリント基板２−１上に載つ
ている各部品１の種類，配置位置，取付け姿勢，形状等
に関するデータおよびこれらの各部品１の検査処理手順
等に関する情報（データ）を記憶する記憶部４と、この
記憶部４に記憶されている情報と前記TVカメラ３からの
画像によつて示される情報とを比較して前記被検査プリ
ント基板２−２上に全ての部品１が有るかどうか、また
これらの部品１が位置ずれ等を起こしているかどうかを
判定する判定回路５と、この判定回路５の判定結果を表
示する表示器６とを備えて構成されている。

そしてこの自動検査装置を使用する場合、被検査プリン
ト基板２−２の検査に先立ち、まず素基板７上に各部品
１が正しく載つている基準プリント基板２−１に関する
データをキーボード８から入力（テイーチング）する。

この場合、第９図のフローチヤートで示す如く、このテ
イーチング動作ではステツプST1でキーボード８から基
準プリント基板２−１のカードナンバが入力される。

次いで、ステツプST2でキーボード８からこの基準プリ
ント基板２−１に載つている部品１の位置，形状等に関
する数値データおよびこの部品１の特徴（この部品１の
色，明度等の情報）に関する数値データが入力される。

次いで、ステツプST3で全ての部品１に関する数値デー
タが入力されたかどうかがチエツクされ、もしまだ数値
データが入力されていない部品があれば、このステツプ
ST3から前記ステツプST2へ戻つて残りの部品に関する数
値データ入力が繰り返し実行される。

そして、全ての部品１についてデータ入力が終了すれ
ば、ステツプST4でこれらの数値データが基準データと
して記憶部４に記憶される。

また、被検査プリント基板２−２の検査時においては、
前記TVカメラ３によつて撮像された被検査プリント基板
２−２の画像から得られる数値データと前記記憶部４が
出力する数値データとが判定回路５によつて比較され、
この比較結果が表示器６上に表示される。

そして、前記TVカメラ３によつて撮像された被検査プリ
ント基板２−２のある部品が欠落していれば、前記TVカ
メラ３が出力する画像に基づいて得られる数値データ
と、前記記憶部４が出力する数値データとが一致しなく
なり、判定回路５がこれを検知して、欠落している部品
を表示器６上に表示する。

《発明が解決しようとする問題点》 しかしながらこのような従来の自動検査装置において
は、判定基準となる数値データの数を多くして検査精度
を高くしようとすれば、テイーチング時において、キー
ボード８から入力しなければならないデータ数が増大
し、これを入力するのに、多大な時間と労力が必要にな
るという問題がある。

本発明は上記の事情に鑑み、キーボード等を用いること
なく、自動検査装置に部品の特徴を示す特徴データをテ
イーチングすることができ、これによつてテイーチング
時におけるデータの登録時間を短くすることができると
ともに、登録に要する労力を軽減することができ、さら
に検査精度をも高めることができる自動検査装置におけ
る基準基板データの教示方法を提供することを目的とし
ている。

《問題点を解決するための手段》 上記問題点を解決するため本発明は、部品が実装された
被検査基板を撮像して得られる像を処理して前記被検査
基板上の部品を検査する自動検査装置に基準基板の情報
を教示する自動検査装置における基準基板データの教示
方法において、予め部品の位置データおよび形状に関す
るデータを入力すると共に、この入力データに基づき判
定基準を生成する受光データを抽出する抽出領域を生成
し、次に素基板と基準基板とを撮像し、これら撮像して
得られる前記素基板の受光データと前記基準基板の受光
データとの相違に基づき、前記被検査基板を検査するの
に必要な判定基準を設定することを特徴としている。

《実施例》 第１図は、この発明による基準基板データの教示方法の
一実施例を適用した自動検査装置の一構成例を示すブロ
ツク図である。

この図に示すプリント基板の自動検査装置は、部品19−
１〜19−ｎが実装さる前の素基板18を撮像して得られた
素基板画像データと、部品19−１〜19−ｎが実装された
基準プリント基板16−１を撮像して得られた基準基板画
像データとを比較して、前記部品19−１〜19−ｎの有
無，位置ずれ等を検査するのに必要なパラメータ等を抽
出するようになつており、Ｘ−Ｙテーブル部10と、撮像
部11と、処理部12と、判定結果出力部26と、情報入力部
27と、テーブルコントローラ29と、撮像コントローラ30
とを備えている。

Ｘ−Ｙテーブル部10は、テーブルコントローラ29によつ
て制御される２つのパルスモータ13,14と、これらの各
パルスモータ13,14によつてＸ軸方向およびＹ軸方向に
駆動されるテーブル15と、このテーブル15上に載せられ
た素基板18または基準プリント基板16−１、被検査プリ
ント基板16−２を固定するチヤツク機構17とを備えて構
成されるものであり、前記テーブル15上に載せられた素
基板18（または基準プリント基板16−１もしくは被検査
プリント基板16−２）は前記チヤツク機構17によつて固
定された後、前記各パルスモータ13,14によつてＸ軸方
向およびＹ軸方向の位置が決められ、撮像部11によつて
撮像される。

この場合、基準プリント基板16−１上には、第２図に示
す如く素基板18上に部品19−１〜19−ｎが正しい位置
で、かつ正しい姿勢で載せられている。

また、素基板18は部品19−１〜19−ｎが載せられる前の
基板であり、部品が載せられていない点だけが前記基準
プリント基板16−１と異なつている。

また、前記被検査プリント基板16−２は、前記基準プリ
ント基板16−１上の部品19−１〜19−ｎと同じくなるよ
うに、部品が配置された量産基板である。

また撮像部11は、前記Ｘ−Ｙテーブル部10の上方に配置
され、前記撮像コントローラ30が出力する制御信号によ
つてそのピント，倍率，感度等が制御されるTVカメラ20
と、このTVカメラ20に対して同軸的に配置され、前記撮
像コントローラ30が出力する制御信号によつてその明る
さ等が制御されるリング照明装置21とを備えて構成され
るものであり、前記TVカメラ20によつて得られた画像信
号（アナログ信号）は処理部12へ供給される。

処理部12は、テイーチングモードのときに、前記撮像部
11から供給される前記素基板18の画像信号と、前記基準
プリント基板16−１の画像信号とを比較して部品19−１
〜19−ｎの有無，位置ずれ等を検査するのに必要なパラ
メータ（基準パラメータ）およびこのパラメータの抽出
基準，処理手順などを作成し、また検査モードのときに
は、前記パラメータの抽出基準，処理手順などに基づい
て、前記撮像11から供給される被検査プリント基板16−
２の画像信号を処理して各部品19−１〜19−ｎの検査パ
ラメータを抽出するとともに、この検査パラメータと前
記基準パラメータとを比較して、この比較結果から前記
被検査プリント基板16−２の良否を判定して、これを判
定結果出力部26に表示させるものであり、画像入力部22
と、画像処理部23と、メモリ24と、判定部25と、制御部
28とを備えて構成されている。

画像入力部22は、前記撮像部11から供給された画像信号
をA/D変換したり、各種の補正処理（例えば、シエーデ
イング補正など）をしたりして、前記素基板18,基準プ
リント基板16−１、被検査プリント基板16−２の画像デ
ータ（画像信号を補正して量子化したデータ）を作成す
るものであり、ここで得られた前記素基板18〜被検査プ
リント基板16−２に関する画像データは前記制御部28な
どへ供給される。

また、画像処理部23は、テイーチングモードのときにお
いて前記制御部28を介して前記素基板18の画像データと
前記基準プリント基板16−１の画像データとが供給され
たときに、処理手順などに基づいてこれらを比較しなが
ら前記基準プリント基板16−１上にある部品19−１〜19
−ｎの特徴を抽出して有効なパラメータを見い出すとと
もに、この有効なパラメータの抽出基準を求めこの抽出
基準に基づいて前記基準プリント基板16−１の画像デー
タから基準パラメータを生成し、また検査モードのとき
には前記パラメータの抽出基準，処理手順などに基づい
て前記制御部28を介して供給される被検査プリント基板
16−２の画像データを処理して、この被検査プリント基
板16−２上にある部品19−１〜19−ｎの検査パラメータ
を抽出することであり、ここで得られた前記基準プリン
ト基板16−１（または、被検査プリント基板16−２）に
関する各パラメータは前記制御部28などへ供給される。

この場合、パラメータとしては、第３図に示す如く前記
各部品19−１〜19−ｎを各々切り出すような各処理エリ
ア31−１〜31−ｎ内の光学画像そのものである光学画像
パラメータ、これら各処理エリア31−１〜31−ｎ内にあ
る特定部分の光学画像そのものである部分光学画像パラ
メータ、各処理エリア31−１〜31−ｎ内にある各画素値
の総加算値である総加算値パラメータ、これらの総加算
値を各処理エリア31−１〜31−ｎの画素数で割つて得ら
れる総平均値パラメータ、各処理エリア31−１〜31−ｎ
内の明度（または色）のヒストグラムであるヒストグラ
ムパラメータ、前記各部品19−１〜19−ｎに対応して射
像である射像パラメータ、前記各処理エリア31−１〜31
−ｎ内を複数に区分して各区分エリア毎の加算値である
部分加算値パラメータ、などのうち前記処理手順によつ
て指定されるものが生成される。また、これらの各パラ
メータの他にも、前記部分加算値を各区分エリアの画素
数で割つて得られる部分平均値パラメータ、前記各処理
エリア31−１〜31−ｎ内の特定走査ラインの相関を示す
相関値パラメータ、各処理エリア31−１〜31−ｎ内にあ
る特定画素の座標を示す座標値パラメータ、各処理エリ
ア31−１〜31−ｎにある部品19−１〜19−ｎの中心座標
値を示す中心座標値パラメータ、前記各処理エリア31−
１〜31−ｎ内の画像を２値化するのに必要なルツクアツ
プテーブルとなるテーブルパラメータ、前記各処理エリ
ア31−１〜31−ｎ内の画像をｎ値化するときの基準値と
なるｎ値化基準値パラメータ、前記ヒストグラムを解析
するのに必要な基準値であるヒストグラム解析基準値パ
ラメータ、前記各処理エリア31−１〜31−ｎ内の画像を
フイルタするのに必要な論理フイルタ定数値を示すフイ
ルタパラメータ、前記処理エリア31−１〜31−ｎ内の画
像の重心を示す重心パラメータなども用いられる。

そしてこの場合、前記画像処理部23は検査時においてテ
イーチング時と同じ種類のパラメータを求める。

またメモリ24は前記制御部28から前記素基板18−１の画
像データ，基準プリント基板16−１上にある各部品19−
１〜19−ｎのパラメータ（基準パラメータ），位置デー
タ，形状データや処理手順フアイルなどを供給されたと
きに、これらを記憶するものであり、前記制御部28から
転送要求があつたときに、この基準パラメータなどを前
記画像処理部23や前記判定部25などへ供給する。

判定部25は、検査モードのときに前記メモリ24が出力す
る前記基準パラメータと、前記制御部28を介して供給さ
れる画像処理部23で得られた検査パラメータとを比較し
て、前記被検査プリント基板16−２の部品19−１〜19−
ｎが脱落しているかどうか、およびこれらの部品19−１
〜19−ｎが姿勢ずれを起こしているかどうかなどを判定
するものであり、この判定結果は前記制御部28などへ供
給される。

また、制御部28は処理部12内にある前記画像入力部22
と、画像処理部23と、メモリ24と、判定部25とを制御し
てこれらをテイーチングモードで動作させたり、検査モ
ードで動作させたりするものであり、これら各モードの
ときに得られたデータは判定結果出力部26へ供給され
る。

判定結果出力部26はCRT（ブラウン管表示器）やプリン
タ等を備えて構成されるものであり、前記制御部28から
基準パラメータや検査パラメータを供給されたり、素基
板18〜被検査プリント基板16−２の画像データを供給さ
れたり、判定結果を供給されたりしたときにこれを表示
したり、プリントアウトしたりする。

また、情報入力部27は、基準プリント基板16−１の種類
（例えば、基板ナンバ等）およびこの基準プリント基板
16−１に載つている部品19−１〜19−ｎの種類，部品
数，位置，形状等に関するデータや処理手順等の操作情
報などを入力するためのキーボードやマウスとを備え、
さらに入力したデータや操作情報などを確認するための
モニタ，プリンタ等を備えて構成されるものであり、こ
こから入力されたデータや操作情報などは前記制御部28
へ供給される。

また、テーブルコントローラ29は前記制御部28と前記Ｘ
−Ｙテーブル部10とを接続するインターフエ−ス等を備
えて構成されるものであり、前記Ｘ−Ｙテーブル部10で
得られたデータを前記制御部28へ供給したり、前記制御
部28から供給される制御信号に基づいて前記Ｘ−Ｙテー
ブル部10を制御したりする。

また、撮像コントローラ30は前記制御部28と前記撮像部
11とを接続するインターフエース等を備えて構成される
ものであり、前記制御部28から供給される制御信号に基
づいて前記撮像部11を制御したりする。

次に、この実施例の動作をテイーチングモードと検査モ
ードに分けて説明する。

まず、テイーチングモードにおいては第４図（Ａ）で示
されるフローチヤートのステツプST5が実行されて装置
各部がテイーチングモードにされるとともにステツプST
6で情報入力部27から基準プリント基板16−１上に載せ
られている各部品19−１〜19−ｎの位置データおよび形
状データおよび処理手順等が入力される。

そしてこれらの各データが入力されれば、制御部28はス
テップST7で前記処理手順をメモリ24に記憶させるとと
もに、前記位置データおよび形状データから各部品19−
１〜19−ｎ毎に第３図に示す各処理エリア（ウインド）
31−１〜31−ｎを作成してこれをウインド情報（判定基
準を生成する受光データを抽出する抽出領域）としてメ
モリ24に記憶させる。この場合、各ウインド31−１〜31
−ｎは、各々対応する部品19−１〜19−ｎに外接した
り、1.5mm程度外側を囲んだりするように作られる。

この後、Ｘ−Ｙテーブル部10のテーブル15上に素基板18
−１が載せられれば、制御部28はチヤツク機構17を動作
させて、この素基板18を固定させるとともに、各パルス
モータ13,14を動作させて、この素基板18のＸ軸方向位
置およびＹ軸方向位置を決めるとともに、リング照明装
置21の明るさおよびTVカメラ20の撮像条件を調整する。

次いで、制御部28はステツプST8で前記TVカメラ20に素
基板18を撮像させるとともに、画像入力部22と、画像処
理部23と、メモリ24と、判定部25とを制御して画像処理
動作の実行を開始させる。

この画像処理動作では、制御部28の制御動作によつて前
記撮像部11で得られた前記素基板18の画像信号が画像入
力部22に取り込まれて、この素基板18−１の画像データ
（受光データとしての素基板画像データ）が作成される
とともに、この素基板画像データがメモリ24へ転送され
て記憶される。

次いで、Ｘ−Ｙテーブル部10のテーブル15上から素基板
18−１が外されて、基準プリント基板16−１が載せられ
れば、制御部28はステツプST9でチヤツク機構17と、各
パルスモータ13,14と、リング照明装置21と、TVカメラ2
0とを制御して、このTVカメラ20に基準プリント基板16
−１を撮像させるとともに、画像入力部22〜判定部25を
制御して前記TVカメラ20によつて得られた前記基準プリ
ント基板16−１の画像信号を画像入力部22によつて画像
データに変換させ、この変更結果（受光データとしての
基準基板画像データ）をメモリ24に記憶させる。

次いで、制御部28はステツプST10で前記メモリ24にある
素基板画像データと基準基板画像データと、ウインド情
報と、処理手順とを画像処理部24へ転送させて、必要な
パラメータを抽出させる。

この場合、抽出すべきパラメータが総加算値パラメータ
であれば、画像処理部23は第４図（Ｂ）に示す総加算値
パラメータ抽出ルーチンのステツプST11で前記ウインド
情報で示されるウインド31−１を用いて第５図（Ａ）に
示す如く前記素基板画像データから部品19−１が載せら
れれる部分を切り出すとともに、ステツプST12でこの部
分内にある各画素の値（画素の明暗を示す値）を全て加
算し、ステツプST13でこの加算結果を素基板加算値とし
て記憶する。

次いで、画像処理部23は、ステツプST14で前記ウインド
31−１を用いて前記基準基板画像データから部品19−１
部分を切り出すとともに、ステツプST15でこの部分にあ
る各画素の値を全て加算し、ステツプST16でこの加算結
果を基準基板加算値として記憶する。この後、画像処理
部23はステツプST17で、この基準基板加算値から素基板
加算値を減算して、ステツプST18でこの減算結果SUBの
大きさを判定する。

そして、この減算結果の大きさが所定の値Ａよりも大き
ければ、画像処理部23は前記基準基板加算値によつて部
品19−１の有無，位置ずれ等を判定することができるも
のと判断して、ステツプST18からステツプST19へ分岐
し、ここで、前記素基板加算値と基準基板加算値との相
加平均値を求めるとともに、ステツプST20でこの相加平
均値を部品19−１に対するパラメータの抽出基準とし
て、また前記基準基板加算値を前記部品19−１に対する
総加算値パラメータとして前記制御部28へ供給し、これ
らをメモリ24に記憶させる。

また、前記減算結果SUBの大きさが所定の値Ａよりも小
さければ、画像処理部23は前記基準基板加算値によつて
部品19−１の有無，位置ずれ等を判定することができな
いものとみなして、ステツプST18からステツプST21へ分
岐し、ここで前記制御部28に部品19−１については他の
パラメータでなければ、処理できないことを知らせる。

この後、画像処理部23はステツプST22において部品19−
１〜19−ｎの全てについて総加算値パラメータの抽出処
理が終わつたかどうかをチエツクし、もしこの処理が終
了していない部品があれば、前記ステツプST11戻る。

そして全ての部品19−１〜19−ｎについて総加算値パラ
メータの抽出処理が終了したときこの処理を終了する。

また抽出すべきパラメータが４分割部分加算値パラメー
タであれば、画像処理部23は第４図（Ｃ）に示す４分割
部分加算値パラメータ抽出ルーチンの実行を開始する。

この４分割部分加算値パラメータ抽出ルーチンでは、画
像処理23はステツプST23において前記ウインド31−１を
第５図（Ｂ）に示す如く４分割して４つの小ウインド35
−1a〜35−1dを作成するとともに、ステツプST24で前記
総加算値抽出ルーチンを呼び出し、各小ウインド35−1a
〜35−1d毎に総加算値パラメータを抽出し得るかどうか
をチエツクさせ、もしこの総加算値パラメータを抽出す
ることができば、その総加算値パラメータとその抽出基
準とを前記制御部28へ供給する。

そして、部品19−１〜19−ｎの全てについて処理が終了
したとき、画像処理部23はステツプST25でこれを検出し
てこの処理を終了する。

また、抽出すべきパラメータが８分割部分加算値パラメ
ータである場合や16分割部分加算値パラメータである場
合にも、上述した４分割部分加算値パラメータ処理と同
じ処理が行なわれる。

また、抽出すべきパラメータが相関値パラメータであれ
ば、画像処理部23は第４図（Ｄ）に示す相関値パラメー
タ抽出ルーチンの処理を開始し、ステツプST26で前記ウ
インド31−１を用いて第５図（Ｃ）に示す如く前記素基
板画像データから部品19−１が載せられる部分を切り出
すとともに、ステツプST27でこの部分の走査線ａに対応
する１ライン情報を抽出し、これを素基板１ライン情報
として記憶する。

次いで、画像処理部23はステツプST28で前記ウインド31
−１を用いて前記素基板画像データから部品19−１部分
を切り出すとともに、ステツプST29でこの部分の走査線
ａに対応する１ライン情報を抽出し、ステツプST30でこ
れら基準基板１ライン情報と素基板１ライン情報との間
に相関があるかどうかをチエツクする。

そして、これら基準基板１ライン情報と素基板１ライン
情報との間に相関が無ければ、画像処理部23は、前記基
準基板１ライン情報を有効なものとみなしてステツプST
30からステツプST31へ分岐し、ここで前記基準基板１ラ
イン情報を相関値パラメータとして前記制御部28へ供給
し、メモリ24に記憶させる。

また、前記基準基板１ライン情報と素基板１ライン情報
との間に相関があれば、画像処理部23は前記基準基板１
ライン情報を無効なものとみなしてステツプST30からス
テツプST32へ分岐し、ここで前記制御部28に相関値パラ
メータが抽出不能であることを知らせる。

この後、画像処理部23はステツプST33で部品19−１〜19
−ｎの全てについて相関値パラメータの抽出処理が終わ
つたかどうかをチエツクし、全ての部品19−１〜19−ｎ
について処理が終わるまで上述した処理を繰り返し実行
する。

また、抽出すべきパラメータがヒストグラムパラメータ
であれば、画像処理部23は第４図（Ｅ）に示すヒストグ
ラムパラメータ抽出ルーチンのステツプST35において前
記ウインド情報で示されるウインド31−１を用いて前記
素基板画像データから部品19−１が載せられる部分を切
り出すとともに、ステツプST36でこの部分内にある各ガ
イドの明るさ（または色）についてのヒストグラムを作
成し、これを素基板ヒストグラムとして記憶する。

次いで、画像処理部23はステツプST37で前記ウインド31
−１を用いて前記基準基板画像データから部品19−１部
分を切り出すとともに、ステツプST38でこの部分にある
各画素の明るさ（または色）についてのヒストグラムを
作成し、これを素基板ヒストグラムとして記憶する。こ
の後、画像処理部23はステツプST39でこの基準基板ヒス
トグラムと前記素基板ヒストグラムとを比較して、基準
基板画像データを２値化するときの２値化基準値（スレ
ツシユ・ホールド・レベル）を作成して、これを記憶す
る。

次いで、画像処理部23はステツプST40を介して前記ステ
ツプST35へ戻り残りのウインド31−２〜31−ｎについて
も２値化基板値を求め、全ウインド31−１〜31−ｎに対
応する２値化基準値が得られたとき、ステツプST41へ分
岐して、ここでこれら２値化基準値と各部品19−１〜19
−ｎ番号とを対応させたフアイルを作成し、これを前記
制御部28へ供給する。

また、抽出すべきパラメータが他のパラメータであると
きも、上述したように素基板18−１の画像データと、基
準プリント基板16−１の画像データとの比較によつて抽
出される。

そして、各部品19−１〜19−ｎに対して、最適なパラメ
ータが見つかれば、制御部28は各部品19−１〜19−ｎに
対する最適パラメータを記した検査処理手順フアイルを
作成してメモリ24に記憶させる。

この場合、部品によつては２つ以上のパラメータが必要
なものもある。

また検査モードにおいては、前記Ｘ−Ｙテーブル部10の
テーブル15上に被検査プリント基板16−２が載せられ
る。

この後、制御部28は、チヤツク機構17を動作させて、こ
の被検査プリント基板16−２を固定させ、次いで各パル
スモータ13,14を制御して、被検査プリント基板16−２
のＸ軸方向位置およびＹ軸方向位置を決めるとともに、
リング照明装置21の明るさおよびTVカメラ20の撮像条件
等を調整する。

次いで、制御部28は、動作TVカメラ20に被検査プリント
基板16−２を撮像させるとともに、第６図に示すフロー
チヤートのステツプST42で前記撮像部11によつて撮像さ
れた前記被検査プリント基板16−２の画像信号を画像入
力部22に取り込ませて、この被検査プリント基板16−２
の画像データを作成させるととともに、この画像データ
と前記メモリ24にあるウインド情報および前記各部品19
−１〜19−ｎに関する検査処理手順フアイルを画像処理
部23へ転送させ、このウインド情報のウインド31−１〜
31−ｎと処理手順フアイルとを用いて画像データ中に含
まれる全部品について検査処理手順フアイルで指定され
るパラメータを抽出させる。

次いで、制御部28はステツプST43でこの全パラメータを
判定部25へ転送させるとともに、前記メモリ24にある前
記各部品19−１〜19−ｎに関するパラメータ（基準パラ
メータ）を判定部25へ転送させて、この基準パラメータ
と前記画像処理部23で得られた今回の被検査パラメータ
とを比較させて、被検査プリント基板16−２の部品が脱
落しているかどうか、およびこれらの部品が姿勢ずれを
起こしているかどうかなどを判定させ、ステツプST44で
この判定結果を判定結果出力部26へ供給させて表示させ
る。

また上述した実施例においては、画像処理部23や判定部
25で画像の処理やパラメータの判定処理を行なうように
しているが、これら画像処理部23や判定部25で行う処理
は、制御部28のプログラムで行うようにしても良い。

また上述した実施例においては、１つの部品に対して１
つのウインドを設けているが、１つの部品であつても、
その各部品の特徴が異なるものについては、１つの部品
に対して複数のウインドを設け、そのウインド毎にパラ
メータを抽出するようにしても良い。

《発明の効果》 以上説明したように本発明によれば、キーボード等を用
いることなく自動検査装置に部品の特徴を示す特徴デー
タをテイーチングすることができ、これによつてテイー
チング時におけるデータの登録時間を短くすることがで
きるとともに、登録に要する労力を軽減することがで
き、さらに検査精度をも高めることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明による基準基板データの教示方法の一
実施例を適用した自動検査装置の一構成例を示すブロツ
ク図、第２図はこの実施例で用いられる基準プリント基
板の一例を示す平面図、第３図はこの実施例で用いられ
るウインドの一例を示す模式図、第４図（Ａ）〜（Ｅ）
は各々この実施例のテイーチング動作例を示すフローチ
ヤート、第５図（Ａ）〜（Ｃ）は、各々この実施例にお
けるテイーチング動作でのパラメータ抽出動作例を説明
するための模式図、第６図はこの実施例における検査時
の動作例を示すフローチヤート、第７図は従来の自動検
査装置の一例を示すブロツク図、第８図はこの自動検査
装置の検査基準となる基準プリント基板の一例を示す側
面図、第９図はこの自動検査装置のテイーチング動作例
を示すフローチヤートである。 11……撮像部、12……処理部、16−１……基準基板（基
準プリント基板）、16−２……被検査基板（被検査プリ
ント基板）、18……素基板、19−１〜19−ｎ……部品。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】部品が実装された被検査基板を撮像して得
   られる像を処理して前記被検査基板上の部品を検査する
   自動検査装置に基準基板の情報を教示する自動検査装置
   における基準基板データの教示方法において、予め部品
   の位置データおよび形状に関するデータを入力すると共
   に、この入力データに基づき判定基準を生成する受光デ
   ータを抽出する抽出領域を生成し、次に素基板と基準基
   板とを撮像し、これら撮像して得られる前記素基板の受
   光データと前記基準基板の受光データとの相違に基づ
   き、前記被検査基板を検査するのに必要な判定基準を設
   定することを特徴とする自動検査装置における基準基板
   データの教示方法。