JPH0698201A - 輪郭測定前処理回路 - Google Patents
輪郭測定前処理回路Info
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- JPH0698201A JPH0698201A JP5139636A JP13963693A JPH0698201A JP H0698201 A JPH0698201 A JP H0698201A JP 5139636 A JP5139636 A JP 5139636A JP 13963693 A JP13963693 A JP 13963693A JP H0698201 A JPH0698201 A JP H0698201A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/28—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03D—DEMODULATION OR TRANSFERENCE OF MODULATION FROM ONE CARRIER TO ANOTHER
- H03D1/00—Demodulation of amplitude-modulated oscillations
- H03D1/14—Demodulation of amplitude-modulated oscillations by means of non-linear elements having more than two poles
- H03D1/18—Demodulation of amplitude-modulated oscillations by means of non-linear elements having more than two poles of semiconductor devices
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 再生器などからピックアップされた再信号の
輪郭は、そのまま保持し、周波数だけを低周波に変え
て、低速のサンプリングによっても輪郭の平坦度を測定
する装置を提供する。 【構成】 輪郭平坦度の測定のため入力される信号中に
含まれているＤＣ成分を遮断するか、一定周波数以上の
みを通過させる調整手段と、上記入力信号調整手段から
出力された信号の輪郭を上下側に分離して検出する。第
１，２半波整流手段と、上記第１，２半波整流部からそ
れぞれ検出された高周波信号を低周波信号に変換する第
１，２周波数変換手段と、上記第１，２周波数変換手段
からそれぞれ出力された低周波信号中から選択されたデ
イジタル信号に変換するアナログ／デイジタル変換手段
と、上記アナログ／デイジタル変換手段から出力された
データと、内部プログラム上にたくわえられた基準デー
タとを比較して輪郭平坦度を測定するシステムコントロ
ーラとから構成される。
輪郭は、そのまま保持し、周波数だけを低周波に変え
て、低速のサンプリングによっても輪郭の平坦度を測定
する装置を提供する。 【構成】 輪郭平坦度の測定のため入力される信号中に
含まれているＤＣ成分を遮断するか、一定周波数以上の
みを通過させる調整手段と、上記入力信号調整手段から
出力された信号の輪郭を上下側に分離して検出する。第
１，２半波整流手段と、上記第１，２半波整流部からそ
れぞれ検出された高周波信号を低周波信号に変換する第
１，２周波数変換手段と、上記第１，２周波数変換手段
からそれぞれ出力された低周波信号中から選択されたデ
イジタル信号に変換するアナログ／デイジタル変換手段
と、上記アナログ／デイジタル変換手段から出力された
データと、内部プログラム上にたくわえられた基準デー
タとを比較して輪郭平坦度を測定するシステムコントロ
ーラとから構成される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、輪郭測定前処理回路
に関し、特に再生器から再生される高周波信号を低周波
信号に変えて、輪郭平坦度を自動測定する前処理回路に
関するものである。
に関し、特に再生器から再生される高周波信号を低周波
信号に変えて、輪郭平坦度を自動測定する前処理回路に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、記録媒体に記録されているデー
タをピックアップして再生して再生器（たとえば、ＶＴ
Ｒ）の特定信号輪郭状態の検査のため、従来には、ユー
ザーがオシロスコープを使用して目視により検査をする
か、プログラムのできるオシロスコープを用いて信号を
サンプリングしたのち、そのデータから信号波形の輪郭
を計算した。
タをピックアップして再生して再生器（たとえば、ＶＴ
Ｒ）の特定信号輪郭状態の検査のため、従来には、ユー
ザーがオシロスコープを使用して目視により検査をする
か、プログラムのできるオシロスコープを用いて信号を
サンプリングしたのち、そのデータから信号波形の輪郭
を計算した。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
従来の輪郭状態の検査方法は、（１）ユーザーが目で測
定するため、作業測度がのろく、不正確であり、（２）
波形輪郭計算のためのデータサンプリングがデイジタル
オシロスコープにより具現されるため高価であり、
（３）輪郭検査に要される信号が高周波であり、周期の
長い場合（例えば、ＶＴＲの輪郭検査時に用いられる信
号の場合、周波数は数ＭＨｚ、周期は約３０Ｈｚ）スコ
ープ分解能力のために、波形の１周期を多数に分割して
サンプリングすると共に、各区間の初のトリガ信号を適
宜生成しなければならないなどの問題点があった。
従来の輪郭状態の検査方法は、（１）ユーザーが目で測
定するため、作業測度がのろく、不正確であり、（２）
波形輪郭計算のためのデータサンプリングがデイジタル
オシロスコープにより具現されるため高価であり、
（３）輪郭検査に要される信号が高周波であり、周期の
長い場合（例えば、ＶＴＲの輪郭検査時に用いられる信
号の場合、周波数は数ＭＨｚ、周期は約３０Ｈｚ）スコ
ープ分解能力のために、波形の１周期を多数に分割して
サンプリングすると共に、各区間の初のトリガ信号を適
宜生成しなければならないなどの問題点があった。
【０００４】
【発明の目的】従って、この発明の目的は、再生器など
でピックアップされ出力された再生信号の輪郭は、その
ままに保持し、周波数だけを低周波に変換させ低速のサ
ンプリング速度をもっても輪郭の平坦度を測定できる輪
郭測定前処理回路を提供することにある。
でピックアップされ出力された再生信号の輪郭は、その
ままに保持し、周波数だけを低周波に変換させ低速のサ
ンプリング速度をもっても輪郭の平坦度を測定できる輪
郭測定前処理回路を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、この発明は、輪郭平坦度の測定のため入力される
信号中に含まれているＤＣ成分を遮断するか、一定周波
数以上のみを通過させる調整手段と、上記入力信号調整
手段から出力された信号の輪郭を上下側に分離して検出
する第１，２半波整流手段と、上記第１，２半波整流部
からそれぞれ検出された高周波信号を低周波信号に変換
する第１，２周波数変換手段と、上記第１，２周波数変
換手段からそれぞれ出力された低周波信号中から選択さ
れたデイジタル信号に変換するアナログ／デイジタル変
換手段と、上記アナログ／デイジタル変換手段から出力
されたデータと、内部プログラム上にたくわえられた基
準データとを比較して輪郭平坦度を測定するシステムコ
ントローラとからなる。
めに、この発明は、輪郭平坦度の測定のため入力される
信号中に含まれているＤＣ成分を遮断するか、一定周波
数以上のみを通過させる調整手段と、上記入力信号調整
手段から出力された信号の輪郭を上下側に分離して検出
する第１，２半波整流手段と、上記第１，２半波整流部
からそれぞれ検出された高周波信号を低周波信号に変換
する第１，２周波数変換手段と、上記第１，２周波数変
換手段からそれぞれ出力された低周波信号中から選択さ
れたデイジタル信号に変換するアナログ／デイジタル変
換手段と、上記アナログ／デイジタル変換手段から出力
されたデータと、内部プログラム上にたくわえられた基
準データとを比較して輪郭平坦度を測定するシステムコ
ントローラとからなる。
【０００６】
【実施例】以下、例示された図面に沿ってこの発明につ
いて述べる。図２において、入力信号調整手段１０は、
図示のない再生器の出力ターミナルにコンデンサＣ１と
抵抗Ｒ１とからなる高域通過フィルタを連結し、コンデ
ンサＣ１の両端にスイッチＳＷ１を連結してＤＣ成分を
選択的に遮断または通過させるように構成される。
いて述べる。図２において、入力信号調整手段１０は、
図示のない再生器の出力ターミナルにコンデンサＣ１と
抵抗Ｒ１とからなる高域通過フィルタを連結し、コンデ
ンサＣ１の両端にスイッチＳＷ１を連結してＤＣ成分を
選択的に遮断または通過させるように構成される。
【０００７】第１半波整流手段２０は、伝達関数が抵抗
Ｒ２，Ｒ３により−Ｒ３／Ｒ２に決定される演算増幅器
ＯＰ１と、この演算増幅器ＯＰ１の反転ターミナルと出
力ターミナル間に順方向に接続されたダイオードＤ１
と、上記ダイオードＤ１のカソードターミナルと出力タ
ーミナルに順方向に接続されたダイオードＤ２とから構
成される。
Ｒ２，Ｒ３により−Ｒ３／Ｒ２に決定される演算増幅器
ＯＰ１と、この演算増幅器ＯＰ１の反転ターミナルと出
力ターミナル間に順方向に接続されたダイオードＤ１
と、上記ダイオードＤ１のカソードターミナルと出力タ
ーミナルに順方向に接続されたダイオードＤ２とから構
成される。
【０００８】第２半波整流手段３０は、伝達関数が抵抗
Ｒ４，Ｒ５により、−Ｒ５／Ｒ４に決定される演算増幅
器ＯＰ２と、この演算増幅器ＯＰ２の反転ターミナルと
出力ターミナルに逆方向に接続されたダイオートＤ３
と、上記ダイオードＤ３のカソードターミナルと出力タ
ーミナルに逆方向に接続されたダイオードＤ４から構成
される。
Ｒ４，Ｒ５により、−Ｒ５／Ｒ４に決定される演算増幅
器ＯＰ２と、この演算増幅器ＯＰ２の反転ターミナルと
出力ターミナルに逆方向に接続されたダイオートＤ３
と、上記ダイオードＤ３のカソードターミナルと出力タ
ーミナルに逆方向に接続されたダイオードＤ４から構成
される。
【０００９】上記第１周波数変換手段４０は、第１半波
整流手段２０で測定され出力された高周波信号を入力と
し、低周波信号に変換するべく抵抗Ｒ６とコンデンサＣ
２とから成る低域フィルタ及び抵抗Ｒ８とから構成され
る。
整流手段２０で測定され出力された高周波信号を入力と
し、低周波信号に変換するべく抵抗Ｒ６とコンデンサＣ
２とから成る低域フィルタ及び抵抗Ｒ８とから構成され
る。
【００１０】上記第２周波数変換手段５０は、第２半波
整流手段３０で検出された高周波信号を入力とし、低周
波信号に変換するべく抵抗Ｒ７とコンデンサＣ３とから
成る低域フィルタ及び抵抗Ｒ９とから構成される。
整流手段３０で検出された高周波信号を入力とし、低周
波信号に変換するべく抵抗Ｒ７とコンデンサＣ３とから
成る低域フィルタ及び抵抗Ｒ９とから構成される。
【００１１】Ａ−Ｄ変換手段６０は、スイッチＳＷ２、
ＳＷ３により選択された第１，２周波数変換手段４０，
５０の出力信号をデイジタル信号に変換させ、システム
コントローラ７０に印加されるように構成される。
ＳＷ３により選択された第１，２周波数変換手段４０，
５０の出力信号をデイジタル信号に変換させ、システム
コントローラ７０に印加されるように構成される。
【００１２】上記の構成を持つこの発明の前処理回路の
作動関係を次に述べる。再生器から再生された信号Ｖ１
の輪郭平坦度を測定するために、第２図の前処理回路の
入力信号調整手段１０の入力端子に上記信号Ｖ１を印加
する。入力信号調整手段１０でスイッチＳＷ１がオフさ
れると、ＤＣ成分が遮断され、スイッチＳＷ１がオンさ
れると、一定値以下の周波数がフィルタリングされた入
力信号Ｖ１が抵抗Ｒ２，Ｒ４をそれぞれ介して第１，２
半波整流手段２０，３０内の演算増幅機ＯＰ１，ＯＰ２
の反転端子−に夫々供給される。演算増幅機ＯＰ１，Ｏ
Ｐ２の非反転端子＋には、アース電圧ＧＮＤが供給され
る。したがって、演算増幅機ＯＰ１，ＯＰ２の反転端子
−に印加される。入力信号Ｖ２が＋の電圧の場合は、演
算増幅機ＯＰ１，ＯＰ２の出力端子電位は、ロー状態と
なるため、この入力信号は第２半波整流手段３０から検
出されて出力される。
作動関係を次に述べる。再生器から再生された信号Ｖ１
の輪郭平坦度を測定するために、第２図の前処理回路の
入力信号調整手段１０の入力端子に上記信号Ｖ１を印加
する。入力信号調整手段１０でスイッチＳＷ１がオフさ
れると、ＤＣ成分が遮断され、スイッチＳＷ１がオンさ
れると、一定値以下の周波数がフィルタリングされた入
力信号Ｖ１が抵抗Ｒ２，Ｒ４をそれぞれ介して第１，２
半波整流手段２０，３０内の演算増幅機ＯＰ１，ＯＰ２
の反転端子−に夫々供給される。演算増幅機ＯＰ１，Ｏ
Ｐ２の非反転端子＋には、アース電圧ＧＮＤが供給され
る。したがって、演算増幅機ＯＰ１，ＯＰ２の反転端子
−に印加される。入力信号Ｖ２が＋の電圧の場合は、演
算増幅機ＯＰ１，ＯＰ２の出力端子電位は、ロー状態と
なるため、この入力信号は第２半波整流手段３０から検
出されて出力される。
【００１３】一方、入力信号Ｖ２が−の電圧の場合は、
演算増幅機ＯＰ１，ＯＰ２の出力端子の電位がハイ状態
となるため、この入力信号Ｖ２は、第１半波整流手段２
０で検出されて出力する。第１，２半波整流手段２０，
３０からそれぞれ検出された上下側信号Ｖ３，Ｖ４は、
第１，２周波数変換部手段４０，５０内の低域フィルタ
により低周波は信号Ｖ５，Ｖ６に変換されたのち、選択
されている。スイッチＳＷ２，ＳＷ３を介してＡ−Ｄ変
換部手段６０に供給される。
演算増幅機ＯＰ１，ＯＰ２の出力端子の電位がハイ状態
となるため、この入力信号Ｖ２は、第１半波整流手段２
０で検出されて出力する。第１，２半波整流手段２０，
３０からそれぞれ検出された上下側信号Ｖ３，Ｖ４は、
第１，２周波数変換部手段４０，５０内の低域フィルタ
により低周波は信号Ｖ５，Ｖ６に変換されたのち、選択
されている。スイッチＳＷ２，ＳＷ３を介してＡ−Ｄ変
換部手段６０に供給される。
【００１４】スイッチＳＷ２，ＳＷ３は、ユーザーが選
択するもので、再生器から出力された再生信号が、アー
スレベルより上側レベルであれば、スイッチＳＷ３をオ
ンし、逆にアースレベルより下側レベルであれば、スイ
ッチＳＷ２をオンする。
択するもので、再生器から出力された再生信号が、アー
スレベルより上側レベルであれば、スイッチＳＷ３をオ
ンし、逆にアースレベルより下側レベルであれば、スイ
ッチＳＷ２をオンする。
【００１５】このように、Ａ−Ｄ変換手段６０に印加さ
れる低周波信号Ｖ５，Ｖ６はデイジタル信号に変換後、
システムコントローラ７０に入力され基準データと比較
されて平坦度が測定される。上記において、Ａ−Ｄ変換
手段６０は、入力される低周波信号Ｖ５，Ｖ６が再生信
号Ｖ１より周波数が低いため、サンプリング速度の遅い
ものを用いてもよい。
れる低周波信号Ｖ５，Ｖ６はデイジタル信号に変換後、
システムコントローラ７０に入力され基準データと比較
されて平坦度が測定される。上記において、Ａ−Ｄ変換
手段６０は、入力される低周波信号Ｖ５，Ｖ６が再生信
号Ｖ１より周波数が低いため、サンプリング速度の遅い
ものを用いてもよい。
【００１６】
【発明の効果】上述のように、この発明は、測定をする
ために、信号のレベル中、一定値以下、又は以上だけを
検出し、検出された信号を低域フィルタでフィルタリン
グして低周波信号に変換後、サンプリングするため、サ
ンプリング速度の遅いいＡ−Ｄ変換器を用いて高周波信
号の輪郭を測定できる長所を有する。
ために、信号のレベル中、一定値以下、又は以上だけを
検出し、検出された信号を低域フィルタでフィルタリン
グして低周波信号に変換後、サンプリングするため、サ
ンプリング速度の遅いいＡ−Ｄ変換器を用いて高周波信
号の輪郭を測定できる長所を有する。
【図１】図１はこの発明による輪郭測定前処理回路を説
明するブロック図である。
明するブロック図である。
【図２】図２はこの発明による輪郭測定前処理回路を説
明する詳細回路図である。
明する詳細回路図である。
１０……入力信号調整手段 ２０，３０……第１，２半波整流手段 ４０，５０……第１，２周波数変換手段 ６０……アナログ／デイジタル変換手段 ７０……システムコントローラ
Claims (3)
- 【請求項１】 輪郭平坦度の測定のため入力される信号
中に含まれているＤＣ成分を遮断するか、一定周波数以
上のみを通過させる調整手段と、上記入力信号調整手段
から出力された信号の輪郭を上下側に分離して検出する
第１，２半波整流手段と、上記第１，２半波整流部から
夫々検出された高周波信号を低周波信号に変換する第
１，２周波数変換手段と、上記第１，２周波数変換手段
からそれぞれ出力された低周波信号中から選択されたデ
イジタル信号に変換するアナログ／デイジタル変換手段
と、上記アナログ／デイジタル変換手段から出力された
データと、内部プログラム上に蓄えられた基準データと
を比較して輪郭平坦度を測定するシステムコントローラ
とから構成されたことを特徴とする輪郭測定前処理回
路。 - 【請求項２】 第１半波整流手段は、伝達関数が抵抗に
より−Ｒ３／Ｒ２に決定される演算増幅器と、この演算
増幅器の反転ターミナルと出力ターミナルに順方向に接
続されたダイオードと、上記ダイオードのカソードター
ミナルと出力ターミナルに順方向に接続されたダイオー
ドとから構成されたことを特徴とする請求項１に記載の
輪郭測定前処理回路。 - 【請求項３】 上記第１，２周波数変換手段は、第１，
２輪郭分離測定手段で測定され出力された高周波信号を
低周波信号に変換するべく低域フィルタから構成された
ことを特徴とする請求項１に記載の輪郭検出前処理回
路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR199210088 | 1992-06-10 | ||
| KR1019920010088A KR0168063B1 (ko) | 1992-06-10 | 1992-06-10 | 윤곽검출 전처리 회로 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0698201A true JPH0698201A (ja) | 1994-04-08 |
| JP2582221B2 JP2582221B2 (ja) | 1997-02-19 |
Family
ID=19334501
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5139636A Expired - Fee Related JP2582221B2 (ja) | 1992-06-10 | 1993-06-10 | 輪郭測定前処理回路 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5461305A (ja) |
| JP (1) | JP2582221B2 (ja) |
| KR (1) | KR0168063B1 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2759459B1 (fr) * | 1997-02-13 | 1999-03-26 | Elf Aquitaine | Methode d'analyse automatique de bande passante frequentielle de signaux enregistres |
| US6509934B1 (en) * | 1998-12-22 | 2003-01-21 | Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. | Directing an antenna to receive digital television signals |
| US7298130B2 (en) * | 2001-05-17 | 2007-11-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Signal detector |
| US20120041695A1 (en) * | 2010-08-16 | 2012-02-16 | Csi Technology, Inc. | Integrated vibration measurement and analysis system |
| CN110039298B (zh) * | 2018-01-15 | 2020-06-19 | 浙江宇视科技有限公司 | 平整度调整方法及系统 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3811093A (en) * | 1972-09-19 | 1974-05-14 | Singer Co | Phase sensitive demodulator which automatically compensates for variations in the ac reference voltage |
| US4158882A (en) * | 1978-02-27 | 1979-06-19 | Zenith Radio Corporation | Full-wave rectifier circuit |
| US4250457A (en) * | 1979-03-05 | 1981-02-10 | Zenith Radio Corporation | Full wave rectifier envelope detector |
| US4258327A (en) * | 1979-07-05 | 1981-03-24 | Rca Corporation | Detector circuit with integrating feedback means |
| US4485348A (en) * | 1982-06-01 | 1984-11-27 | Motorola, Inc. | Full wave envelope detector using current mirrors |
| US4817154A (en) * | 1986-12-09 | 1989-03-28 | Ncr Corporation | Method and apparatus for encoding and decoding speech signal primary information |
| NL8702246A (nl) * | 1987-09-21 | 1989-04-17 | Philips Nv | Omhullende detektor. |
| JPH01160261A (ja) * | 1987-12-17 | 1989-06-23 | Victor Co Of Japan Ltd | 輪郭信号発生回路 |
-
1992
- 1992-06-10 KR KR1019920010088A patent/KR0168063B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1993
- 1993-05-17 US US08/061,239 patent/US5461305A/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-06-10 JP JP5139636A patent/JP2582221B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5461305A (en) | 1995-10-24 |
| JP2582221B2 (ja) | 1997-02-19 |
| KR940000852A (ko) | 1994-01-10 |
| KR0168063B1 (ko) | 1999-05-01 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19960917 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |