JPH0689591A - 読み出し専用メモリ - Google Patents

読み出し専用メモリ

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JPH0689591A
JPH0689591A JP24014692A JP24014692A JPH0689591A JP H0689591 A JPH0689591 A JP H0689591A JP 24014692 A JP24014692 A JP 24014692A JP 24014692 A JP24014692 A JP 24014692A JP H0689591 A JPH0689591 A JP H0689591A
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JP
Japan
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line
gnd line
pseudo gnd
pseudo
memory
Prior art date
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Pending
Application number
JP24014692A
Other languages
English (en)
Inventor
Shintaro Shibata
信太郎 柴田
Yoshinori Goto
後藤  義徳
Shigeru Date
滋 伊達
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 擬似GND線のダイナミックな消費電力を抑
えた読出し専用メモリを提供することを目的とする。 【構成】 擬似GND線を用いた読み出し専用メモリに
おいて、擬似GND線を分割し、擬似GND線選択時に
これを LOWレベルに制御するドライバを分割された擬似
GND線毎に設けることを特徴とする。このような構成
により擬似GND線の寄生容量を減少させることがで
き、消費電力を減少させることができる。分割数を最適
化することにより、メモリセルアレイの規模に依存する
ことなく擬似GND線のダイナミックな消費電力を一定
に保てる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はMOSメモリに関するも
のであり、特に擬似GND線を用いた低電力な読出し専
用メモリの改良に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の読出し専用メモリの構成を図4に
示す。M(j,k);(j=1,・・・,J),(k=1, ・・・,K)はメモリセ
ル、WL(k);(k=1,・・・,K)はワード線、BL(j);(j=1,・・
・,J)はビット線、VG'(j);(j=1,・・・,J)は擬似GND
線、L(j);(j=1,・・・,J) は負荷抵抗、QB(j)とQ'VG
(j);(j=1,・・・,J)はMOSトランジスタである。QB(j)
はビット線を選択するスイッチ、Q'VG(j)は選択時に擬
似GND線を LOWレベルに制御するドライバとして機能
する。ロウデコーダは、入力されたロウアドレス信号を
デコードして、ひとつのワード線を選択する回路であ
る。ワード線は選択状態でHIGHレベル、非選択状態で L
OWレベルとなる。コラムデコーダは、入力されたコラム
アドレス信号をデコードし、一対のビット線BL(j)と
擬似GND線VG'(j)を選択する回路である。メモリセ
ルの等価回路を図5(a)、(b) 、(c) に示す。メモリセル
は物理的に構造を一部変化させることによって情報を記
憶している。ワード線が選択されてゲート電極2にHIGH
レベルの電圧が印加されると、データ「1」を記憶した
図5(a)のセルでは端子1と3が導通する。これに対し
て、データ「0」を記憶した図5(b) 、(c) のセルは、
非導通状態を維持する。この違いによって、メモリセル
当り1ビットのデータが記憶される。読出し専用メモリ
の動作は以下の通りである。初期状態として、ビット線
BL(j);(j=1,・・・,J)は負荷抵抗L(j);(j=1,・・・,J)によ
ってHIGHレベルにプルアップされている。ロウアドレス
とコラムアドレスでひとつのメモリセルM(j,k) が特定
されると、メモリセルにデータ「1」が記憶されている
場合は、電源VCCから負荷抵抗L(j)、メモリセルM(j,k)、擬
似GND 線 VG'(j) 、GND への順の経路で電流が流れる。
その結果、負荷抵抗L(j)で電圧降下が発生し、ビット
線のレベルが低下する。メモリセルにデータ「0」が記
憶されているメモリは、メモリセルの端子1と3が非導
通の為に電圧降下は発生せず、ビット線はHIGHレベルを
維持する。このビット線のレベルの違いをセンス回路で
検出して出力する。
【0003】上記の説明から判るように、擬似GND線
方式と呼ばれる従来の低電力化技術は、コラムデコーダ
から出力されるビット線の選択信号を用いて、擬似GN
D線ドライバQ'VG(j);(j=1,・・・,J)の導通/非導通を制
御する処に特徴がある。すなわち、コラムデコーダで選
択されていないメモリセルについては、Q'VG(j);(j= 1,
・・・,J)を非導通状態に制御することにより、スタティッ
クな消費電力を零下している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】さて、ひとつのワード
線WL(k) が選択されると、選択ワード線上のメモリセ
ルM(j,k);(j=1,・・・,J) 内のMOSTのゲート電極には
一律にHIGHレベル電圧が印加される。すなわち、データ
「1」を記憶しているメモリセルM(j,k);(j=1,・・・,J)
については、端子1と3が導通状態となり、上述したと
同様の経路で擬似GND線VG(j)に流入した電荷は、
その寄生容量CVG(j)に蓄えられる。CVG(j)に蓄積され
た電荷は、ビット線BL(j) が選択された際にGNDに
放電され、ダイナミックな消費電力となる。ダイナミッ
クな消費電力は、CVG(j) が大きいほど、また充放電の
周期が短いほど大きくなる。CVG(j) 擬似GND線に接
続されるメモリセル数と共に増大する性質がある。ま
た、読出し専用メモリの使用状況のひとつに、コラムア
ドレスを優先的にインクリメントしたりデクリメントす
る場合があるが、このような状況では最も短い周期でG
VG(j) を充放電することになる。すなわち、擬似GND
線を用いた従来の読出し専用メモリは、擬似GND線に
接続されるメモリセル数と共にダイナミックな消費電力
が増大する欠点があり、特に大容量メモリや、ダイナミ
ックな消費電力成分が支配的な高速メモリでは問題であ
る。本発明の目的は、上述の問題点を解決するべく、擬
似GND線のダイナミックな消費電力を抑えた読出し専
用メモリを提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、擬似GND線
を分割し、擬似GND線選択時にこれを LOWレベルに制
御するドライバを分割された擬似GND線毎に設けるこ
とを主要な特徴とする。
【0006】
【作用】擬似GND線を分割することにより擬似GND
線の寄生容量を減少させることができ、消費電力を減少
させることができる。分割数を最適化することにより、
メモリセルアレイの規模に依存することなく擬似GND
線のダイナミックな消費電力を一定に保てる。
【0007】
【実施例】
(実施例1)本発明の実施例1を図1に示す。VG(j,
p);(j=1,・・・,J),(p=1,・・・,P) はP個に分割された擬似
GND線、MOSトランジスタQVG(j,p);(j=1,・・・,J),
(p=1,・・・,P) は選択時に擬似GND線を LOWレベルに制
御するドライバである。他の構成要素については、図4
に示した従来の読出し専用メモリの構成と同じである。
【0008】本発明の読出し専用メモリの動作は、図4
に示した従来の読出し専用メモリの動作と同様である。
すなわち、入力されたアドレスに従って、ワード線WL
(k)とビット線BL(j)でメモリセルを特定し、負荷抵抗
L(j) の両端に発生する電圧降下の有無をセンス回路で
検出することによって記憶内容(データ「0」または
「1」)を読み出す。ひとつのワード線WL(k) が選択
されると、選択ワード線上のメモリセルM(j,k);(j=1,・
・・,J) 内のMOSTゲード電極には一律にHIGHレベル電
圧が印加される。その際、従来の読出し専用メモリと同
様に、データ「1」を記憶しているメモリセルM(j,k);
(j=1,・・・,J) については、端子1と3が導通状態とな
り、擬似GND線に電荷が流入する。ところが、本発明
の読出し専用メモリでは擬似GND線がP個に分割され
ており、擬似GND線の寄生容量はGVG(j)/Pに低減さ
れている。すなわち、読出し動作に伴って非選択状態の
擬似GND線に流入する電荷量は従来構成の1/Pであ
り、擬似GND線の充放電に伴うダイナミックな消費電
力は1/Pに低減される。擬似GND線の分割数に特に
制限はなく、例えば分割された擬似GND線あたりのメ
モリセル数が一定になるように分割数を最適化すること
により、メモリアレイの規模に依存することなくダイナ
ミックな消費電力を一定に保つことも可能である。
【0009】(実施例2)本発明の実施例2を図2に示
す。出力データ幅が2ビットの読出し専用メモリに本発
明の分割擬似GND線を適用した例である。ワード線方
向に隣接するメモリセルM(2j-1,k)とM(2j,k)で擬似G
ND線VG(j,p) とそのドライバQVG(j,p)を共用して
いる。他の構成要素については、実施例1と同じであ
る。擬似GND線を分割することにより、実施例1と同
等のダイナミックな消費電力を低減する効果がある。さ
らに、擬似GND線とドライバ、そして擬似GND線の
選択信号の伝送線路を共用することにより、メモリアレ
イを小形化できる利点がある。実施例2では、簡単の為
に出力データ幅が2ビットの例を示したが3ビット以上
でも同じであり、同様の消費電力低減効果とメモリアレ
イを小形化できる利点がある。
【0010】(実施例3)本発明の実施例3を図3に示
す。図3はサブデコーダを用いて、ロウアドレス信号を
2段階にデコードする場合への適用例である。MDC
(p);(p=1,・・・, P)は入力されたアドレス信号をメインデ
コーダでデコードした信号である。MDC(p)は隣接し
たQ本のワード線グループWL(p,q);(q=1,・・・,Q)の選
択信号に相当する。メモリセルからの読出し動作では、
ワード線をひとつに特定することが必要であり、同図中
に点線で囲んだように、MDC(p) とロウアドレスの一
部のビットをデコードした信号SDC(q);(q=1,・・・,Q)
で論理をとることでこれを実現する。QR(j,p);(j=1,・・
・,J),(p=1,・・・,P)はMOSトランジスタであり、メイン
デコーダの出力信号MDC(p);(p=1,・・・,P) によって導
通状態/非導通状態に制御されるスイッチとして機能す
る。M(j,p,q);(j=1,・・・,J),(p=1,・・・,P),(q=1, ・・・,Q)
はメモリセル、VG(j,p);(j=1,・・・,J),(p=1,・・・,P) は
擬似GND線、QVG(j,p);(j=1,・・・,J),(p=1,・・・,P) は
擬似GND線のドライバである。その他の構成要素につ
いては、実施例1と同じである。実施例1とは、QR(j,
p)を介して、擬似GND線VG(j,p) とドライバQVG
(j,p)が接続されていることが異なる。分割された擬似
GND線VG(j,p)に蓄積された電荷は、VG(j,p)上の
メモリセルが選択され、QR(j,p)とQVG(j,p) が共に導
通状態にならない限り放電されない。言い換えれば、分
割された擬似GND線VG(j,p) の寄生容量が充電され
てから放電されるまでの周期を長く設定できる。その
為、実施例3では、アドレスを順にインクリメント/デ
クリメントするシーケンシャルアクセスだけでなく、ラ
ンダムアクセスにおいてもダイナミックな消費電力を低
減できる。実施例3において、出力データ幅が多ビット
の場合は実施例2のように、分割擬似GND線VG(j,
p)、そのドライバQVG(j,p)、そしてMDC(p) で制御さ
れるスイッチQR(j,p)などをメモリセル間で共用可能で
ある。その結果、同等の消費電力低減効果とメモリアレ
イを小形化できる利点が得られる。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の読出し専
用メモリでは、擬似GND線を分割構成しており、非選
択状態の擬似GND線の充放電によるダイナミックな消
費電力を低減できる利点がある。擬似GND線の分割数
には制限がなく、この値を最適化することにより、メモ
リセルアレイの規模に依存せず、ダイナミックな消費電
力を一定に保つことが可能である。その為、ワード数の
大きい大容量メモリや、消費電力のダイナミックな成分
が支配的となる高速メモリにおいて本発明を適用すると
効果大である。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1の読出し専用メモリの構成を示す概略
図である。
【図2】実施例2の読出し専用メモリの構成を示す概略
図である。
【図3】実施例3の読出し専用メモリの構成を示す概略
図である。
【図4】従来の読出し専用メモリの構成を示す概略図で
ある。
【図5】メモリセルの構成を示す図である。
【符号の説明】
1,3 メモリセルの端子 2 ゲート電極 M(j,k),M(j,p,q);(j=1,・・・,J),(k=1,・・・,K),(p=1,・・
・,P),(q=1,・・・,Q) メモリセル WL(k),WL(p,q);(k=1,・・・,K),(p=1,・・・,P),(q=1,・・
・,Q) ワード線BL(j);(j=1,・・・,J) ビット線 VG'(j),VG'(j);(j=1,・・・,J) 擬似GND線 QB(j),Q'VG(j),QVG(j,p),QR(j,p);(j=1,・・・,J),(p=
1,・・・,P) NchMOSトランジスタ MDC(p),SDC(q);(p=1,・・・,P),(q=1,・・・,Q) デコ
ードされたアドレス信号

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アドレスデータをデコードした信号で制
    御されるスイッチを介してGND線に接続された擬似G
    ND線と、 MOSトランジタの構造を一部変化させることによりデ
    ータを記憶させた読み出し専用のメモリセルを有し、 該MOSトランジスタのドレイン(またはソース)がビ
    ット線に接続され、該MOSトランジスタのソース(ま
    たはドレイン)が上記の擬似GND線に接続され、選択
    時に該MOSトランジスタのゲート電極の電位を一定の
    レベルに制御した際に、該MOSトランジスタのドレイ
    ン・ソース間が導通するか否かを検出することによっ
    て、メモリセルに記憶されたデータを読み出すメモリに
    おいて、 一つのビット線に接続された前記メモリセルが接続され
    た擬似GND線を分割構成とすることを特徴とする読み
    出し専用メモリ。
JP24014692A 1992-09-09 1992-09-09 読み出し専用メモリ Pending JPH0689591A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005203079A (ja) * 2003-12-19 2005-07-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
WO2007060904A1 (en) * 2005-11-25 2007-05-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and operating method thereof
JP2007172814A (ja) * 2005-11-25 2007-07-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及びその動作方法
US7324397B2 (en) 2002-02-20 2008-01-29 Renesas Technology Corp. Semiconductor integrated circuit

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7324397B2 (en) 2002-02-20 2008-01-29 Renesas Technology Corp. Semiconductor integrated circuit
JP2005203079A (ja) * 2003-12-19 2005-07-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
WO2007060904A1 (en) * 2005-11-25 2007-05-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and operating method thereof
JP2007172814A (ja) * 2005-11-25 2007-07-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及びその動作方法
US7529125B2 (en) 2005-11-25 2009-05-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and operating method thereof

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