JPH0687874U - Ｉｃテスタ用接続リングの検査ジグ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＩＣテスタ用接続リング１の接触ピン１Ｂの
接触抵抗を測定する検査ジグを提供する。 【構成】 アタッチメントボード２上に台３を取り付け
る。複数のねじ付きのガイドピン３Ａを台３に立設す
る。鍔１Ａに形成された穴にガイドピン３Ａを入れて接
続リング１を台３に搭載し、接触ピン１Ｂの上端が要求
される降下量に対応した長さのスペーサ５をガイドピン
３Ａに入れる。スペーサ５上に接触ピン１Ｂの上端が電
気的に接触する全面導通基板４を搭載し、押えねじ６で
接続リング１全面導通基板４を台３に固定する。アタッ
チメントボード２にボードテスタを接続して接触ピン１
Ｂの接触抵抗を測定する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は、接触ピンを複数保持するＩＣテスタ用接続リングの接触抵抗を検 査するジグについてのものである。

【０００２】

【従来の技術】

次に、図１を参照して検査されるＩＣテスタ用接続リングについて説明する。 図１の１は接続リングであり、接続リング１の外周には鍔１Ａが形成され、接続 リング１内には両端が弾性をもって伸縮する接触ピン１Ｂが複数本保持される。

【０００３】 図１の接続リング１はＩＣテスタのテストヘッドに搭載され、接触ピン１Ｂの 下端はテストヘッドと電気的に接触し、接触ピン１Ｂの上端はプローブカードや コンタクトボードに接触する。テストヘッドから測定信号を送受し、接続リング １を中継してＩＣチップやＩＣを測定する。

【０００４】 次に、接触ピン１Ｂの構造を図２により説明する。図２は図１の要部拡大断面 図である。図２の１１と１２は接触針、１３と１４は絶縁リング、１５は外筒、 １７は球、１６は圧縮コイルばねである。

【０００５】 図２では、外筒１５は絶縁リング１３・１４で接続リング１に保持される。外 筒１５は圧縮コイルばね１６と球１７を内包し、圧縮コイルばね１６は球１７を 仲介して接触針１１・１２を押圧する。

【０００６】

【考案が解決しようとする課題】

図１に示される接続リング１は、テストヘッドに搭載される前に接触ピン１Ｂ の接触抵抗を検査する必要がある。また、接触針１１・１２の押下量は接続リン グ１の仕様により異なるので、接触針１１・１２が要求される押下量を維持した 状態で接触ピン１Ｂの接触抵抗を検査する必要がある。

【０００７】 この考案は、アタッチメントボードに台を取り付け、台にねじ付きガイドピン を立設し、台に接続リングを搭載し、ガイドピンに所定の長さのスペーサを入れ 、スペーサ上に接触ピンと電気的に接触する全面導通基板を設けることにより、 接触ピンの接触抵抗を測定するＩＣテスタ用接続リングの検査ジグの提供を目的 とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】

この目的を達成するため、この考案では、鍔１Ａが形成され、両端が弾性をも って伸縮する接触ピン１Ｂを複数保持するＩＣテスタ用の接続リング１の接触抵 抗を測定する場合に、接続リング１が入る空間が形成され、アタッチメントボー ド２上に取り付けられる台３と、台３に立設する複数のねじ付きのガイドピン３ Ａと、接触ピン１Ｂの上端が電気的に接触する全面導通基板４とを備え、鍔１Ａ に形成された穴にガイドピン３Ａを入れて接続リング１を台３に搭載し、接触ピ ン１Ｂの上端が要求される降下量に対応した長さのスペーサ５をガイドピン３Ａ に入れ、スペーサ５上に全面導通基板４を搭載し、押えねじ６で接続リング１と 全面導通基板４を台３に固定する。

【０００９】

【作用】

次に、この考案による検査ジグの構成を図１により説明する。図１の２はアタ ッチメントボード、３は台、３Ａはねじ付きのガイドピン、４は全面導通基板、 ５はスペーサ、６は固定ねじである。

【００１０】 図１では、アタッチメントボード２上には絶縁板３Ｂと敷板３Ｃを仲介して台 ３が取り付けられる。台３の中央部には接続リング１が入る空間が形成される。 台３上には複数のねじ付きガイドピン３Ａが立設する。全面導通基板４は接触ピ ン１Ｂの上端が接触すると、接触ピン１Ｂ同しが電気的に導通するように表面に 導通材が形成されている。

【００１１】 スペーサ５はガイドピン３Ａに入り、異なる長さのものが用意される。押えね じ６には雌ねじが形成され、ガイドピン３Ａに装着して回転すると、ガイドピン ３Ａの装着物を固定する。

【００１２】 次に、図１の作用を説明する。鍔１Ａに形成された穴にガイドピン３Ａを入れ て接続リング１を台３に搭載する。次に、スペーサ５をガイドピン３Ａに入れる 。このとき、スペーサ５の長さは接触ピン１Ｂの上端が要求される降下量に対応 したものを実装する。次に、スペーサ５上に全面導通基板４を搭載し、押えねじ ６で接続リング１と全面導通基板４を台３に固定すれば、検査準備が完了する。

【００１３】 図１の状態では、スペーサ５の長さに対応して図２の間隔Ｘが選択できる。す なわち、接触針１１の押下量をスペーサ５の長さで調整する。また、台３とアタ ッチメントボード２の間には絶縁板３Ｂと敷板３Ｃが挟まれているので、図２の 間隔Ｙが確保できる。すなわち、接触針に一定の押下量を得ることができる。

【００１４】 図１では、接続リング１をテストヘッドに搭載したときと同じ状態を確保でき 、接触針１１同しは全面導通基板４で短絡しているので接触ピン１Ｂの接触抵抗 を測定することが可能になる。

【００１５】 図３はこの考案による検査ジグ２０とボードテスタ３０を接続した図である。 図３に示されるように、検査ジグ２０とボードテスタ３０は測定信号を送受し、 コネクタ２１で接続される。図３は 512本の接触ピン１Ｂをもつ接続リング１で あり、接触ピン１Ｂの抵抗および、全面導通基板４とアタッチメントボード２と の接触抵抗が測定ができ、不良の接触ピン１Ｂを特定することもできる。

【００１６】

【考案の効果】

この考案は、アタッチメントボードに台を取り付け、台にねじ付きガイドピン を立設し、台に接続リングを搭載し、ガイドピンに所定の長さのスペーサを入れ 、スペーサ上に接触ピンと電気的に接触する全面導通基板を設けているので、Ｉ Ｃテスタ用接続リングの接触ピンの接触抵抗を測定することが容易になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案による検査ジグの構成図である。

【図２】図１の要部拡大断面図である。

【図３】この考案による検査ジグとボードテスタを接続
した図である。

【符号の説明】

１ 接続リング １Ａ 鍔 １Ｂ 接触ピン ２ アタッチメントボード ３ 台 ３Ａ ガイドピン ４ 全面導通基板 ５ スペーサ ６ 押えねじ

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 鍔(1A)が形成され、両端が弾性をもって
   伸縮する接触ピン(1B)を複数保持するＩＣテスタ用の接
   続リング(1) の接触抵抗を測定する場合に、 接続リング(1) が入る空間が形成され、アタッチメント
   ボード(2) 上に取り付けられる台(3) と、 台(3) に立設する複数のねじ付きのガイドピン(3A)と、 接触ピン(1B)の上端が電気的に接触する全面導通基板
   (4) とを備え、 鍔(1A)に形成された穴にガイドピン(3A)を入れて接続リ
   ング(1) を台(3) に搭載し、接触ピン(1B)の上端が要求
   される降下量に対応した長さのスペーサ(5) をガイドピ
   ン(3A)に入れ、スペーサ(5) 上に全面導通基板(4) を搭
   載し、押えねじ(6) で接続リング(1) と全面導通基板
   (4) を台(3) に固定することを特徴とするＩＣテスタ用
   接続リングの検査ジグ。