JPH0682736B2 - 面実装ｉｃのピン検査用テーブル - Google Patents
面実装ｉｃのピン検査用テーブルInfo
- Publication number
- JPH0682736B2 JPH0682736B2 JP23502190A JP23502190A JPH0682736B2 JP H0682736 B2 JPH0682736 B2 JP H0682736B2 JP 23502190 A JP23502190 A JP 23502190A JP 23502190 A JP23502190 A JP 23502190A JP H0682736 B2 JPH0682736 B2 JP H0682736B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pin
- inspection table
- inspection
- surface mounting
- pin inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はQFP、SOP等の面実装ICのピンを画像所理装置を
用いて検査する際、ICを載置するためのピン検査用テー
ブルに関するものである。
用いて検査する際、ICを載置するためのピン検査用テー
ブルに関するものである。
面実装ICのピンを画像処理装置を用いて検査するに当っ
ては、従来は第２図に示すように、鏡面台２の中央部
に、四角柱型の透明アクリル樹脂製検査台１を、その上
部を突出させて設置したテーブルを用い、IC3を当該検
査台１上に載せ、IC3のピン４を鏡面台２に接触させて
ピン４の撮影をしていた ところで、近時スタンドオフ、即ち、ピン４によってIC
3が浮上する距離（第３図ｄ）が０のICが増えてきた
が、そのようなICの場合、従来の検査台を用いると、ピ
ン４が鏡面台２から浮上してしまうことになり、その場
合はピン４の検査を正確に行なうことができなくなる。
また、IC3が検査台１上で滑動しやすいという問題もあ
る。
ては、従来は第２図に示すように、鏡面台２の中央部
に、四角柱型の透明アクリル樹脂製検査台１を、その上
部を突出させて設置したテーブルを用い、IC3を当該検
査台１上に載せ、IC3のピン４を鏡面台２に接触させて
ピン４の撮影をしていた ところで、近時スタンドオフ、即ち、ピン４によってIC
3が浮上する距離（第３図ｄ）が０のICが増えてきた
が、そのようなICの場合、従来の検査台を用いると、ピ
ン４が鏡面台２から浮上してしまうことになり、その場
合はピン４の検査を正確に行なうことができなくなる。
また、IC3が検査台１上で滑動しやすいという問題もあ
る。
従来の検査台を用いた場合、上述した理由により、スタ
ンドオフが０の面実装ICについて適確なピン検査を行な
うことは困難であった。
ンドオフが０の面実装ICについて適確なピン検査を行な
うことは困難であった。
そこで本発明は、スタンドオフが０の面実装ICであって
も、適確にピン検査を行なうことができる面実装ICのピ
ン検査用テーブルを提供することを目的とする。
も、適確にピン検査を行なうことができる面実装ICのピ
ン検査用テーブルを提供することを目的とする。
本発明は、鏡面台の中央部に透孔を形成し、そこに、上
面にICの下半部が収まる凹陥部を形成した透明アクリル
樹脂等の透明資材製の検査台を嵌装して成る面実装ICの
ピン検査用テーブル、を以て上記課題を解決した。
面にICの下半部が収まる凹陥部を形成した透明アクリル
樹脂等の透明資材製の検査台を嵌装して成る面実装ICの
ピン検査用テーブル、を以て上記課題を解決した。
IC本体の下半部は検査台の凹陥部内に収まるので、ピン
は確実に鏡面台に接触すると共に、ICの位置決めがなさ
れ、以て適確なピン検査が可能となる。
は確実に鏡面台に接触すると共に、ICの位置決めがなさ
れ、以て適確なピン検査が可能となる。
本発明の好ましい実施例を第１図に拠って説明する。
図中２は従来のものと同様の鏡面台で、その中央部に透
孔2aが形成され、その下方に適宜光源が配備される。５
は透孔2a内に嵌装された検査台で、その上面に、IC3の
下半部が楽に収まる大きさの凹陥部６が形成される。検
査台５は、透明アクリル樹脂、ガラスその他の透明資材
製とする。
孔2aが形成され、その下方に適宜光源が配備される。５
は透孔2a内に嵌装された検査台で、その上面に、IC3の
下半部が楽に収まる大きさの凹陥部６が形成される。検
査台５は、透明アクリル樹脂、ガラスその他の透明資材
製とする。
かかる構成のピン検査用テーブルを用い、IC3のピン４
を画像処理装置にて検査するに当っては、IC3の検査台
５上に載せるが、その際IC3の下半部は検査台５の凹陥
部６内に収まるので、ピン４は確実に鏡面台２に接触す
ることとなる。その際、ピン４が、検査台５の側壁5a上
に当接しないよう側壁5aの高さが設定される。また、ピ
ン４が検査台５の側壁5aに跨がることになるので、そこ
においてIC3が横ずれすることはなく、何らの操作も要
せずに確実に位置決めを行なうことができることとな
り、確実にピン検査を行なうことができる。
を画像処理装置にて検査するに当っては、IC3の検査台
５上に載せるが、その際IC3の下半部は検査台５の凹陥
部６内に収まるので、ピン４は確実に鏡面台２に接触す
ることとなる。その際、ピン４が、検査台５の側壁5a上
に当接しないよう側壁5aの高さが設定される。また、ピ
ン４が検査台５の側壁5aに跨がることになるので、そこ
においてIC3が横ずれすることはなく、何らの操作も要
せずに確実に位置決めを行なうことができることとな
り、確実にピン検査を行なうことができる。
本発明は上述した通りであって、簡易な構成にして、ス
タンドオフが０のICであっても適確なピン検査を行なう
ことができ、また、ICを載置するだけで位置決めができ
ると共にICを静止状態に保持し得る効果がある。
タンドオフが０のICであっても適確なピン検査を行なう
ことができ、また、ICを載置するだけで位置決めができ
ると共にICを静止状態に保持し得る効果がある。
第１図は本発明の実施例の一部縦断面図、第２図は従来
のピン検査用テーブルを示す図、第３図はスタンドオフ
の説明図である。 符号の説明 ２……テーブル、2a……透孔 ３……IC、４……ピン ５……検査台、６……凹陥部
のピン検査用テーブルを示す図、第３図はスタンドオフ
の説明図である。 符号の説明 ２……テーブル、2a……透孔 ３……IC、４……ピン ５……検査台、６……凹陥部
Claims (1)
- 【請求項１】鏡面台（２）の中央部に透孔（2a）を形成
し、そこに、上面にIC（３）の下半部が収まる凹陥部
（６）を形成した透明アクリル樹脂等の透明資材製の検
査台（５）を嵌装して成る面実装ICのピン検査用テーブ
ル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23502190A JPH0682736B2 (ja) | 1990-09-05 | 1990-09-05 | 面実装ｉｃのピン検査用テーブル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23502190A JPH0682736B2 (ja) | 1990-09-05 | 1990-09-05 | 面実装ｉｃのピン検査用テーブル |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04115548A JPH04115548A (ja) | 1992-04-16 |
| JPH0682736B2 true JPH0682736B2 (ja) | 1994-10-19 |
Family
ID=16979904
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23502190A Expired - Lifetime JPH0682736B2 (ja) | 1990-09-05 | 1990-09-05 | 面実装ｉｃのピン検査用テーブル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0682736B2 (ja) |
-
1990
- 1990-09-05 JP JP23502190A patent/JPH0682736B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04115548A (ja) | 1992-04-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0257553B1 (en) | Apparatus for detecting a position of an electronic part | |
| DE3689840T2 (de) | Tragbares gerät zur digitalmessung der pupillengrösse. | |
| KR910013499A (ko) | Ic리드검사장치와 ic리드검사방법 | |
| TW201344339A (zh) | 鏡頭模組測試治具 | |
| KR950033507A (ko) | Ic 측정시험장치 및 이것을 사용한 ic 측정시험방법 | |
| JPH0682736B2 (ja) | 面実装ｉｃのピン検査用テーブル | |
| US3192375A (en) | Illuminated level | |
| KR880008731A (ko) | 인쇄회로 기판의 부품배치상태 검사방법 및 이를 이용한 인쇄회로 기판 | |
| US3778686A (en) | Carrier for beam lead integrated circuits | |
| TW577163B (en) | A shadow-creating apparatus | |
| JPH02193061A (ja) | 被検体固定機構 | |
| JP2544318Y2 (ja) | 位置決めピン装置 | |
| JPH062127U (ja) | レベルセンサ用標尺アダプタ | |
| DK579888D0 (da) | Fremgangsmaade og indretning til detektering af proevepositioner i multibroendplader samt anvendelse af indretningen | |
| JP2541191Y2 (ja) | フローティングガイド付きハンドラ用キャリア | |
| KR970006519Y1 (ko) | 디바이스의 리드변형 측정장치 | |
| KR960035040A (ko) | 전자부품의 단자 검사장치 | |
| JPS62251603A (ja) | レンズ形状の測定方法 | |
| JPH0726832B2 (ja) | Ｉｃの外観検査装置 | |
| JP2577033Y2 (ja) | ソフトコンタクトレンズ用サイズ検査器 | |
| JPH0543416Y2 (ja) | ||
| JPH04343006A (ja) | 面実装用部品のリード線検査方法及び装置 | |
| JPH0652138U (ja) | ウェハｉｄ読み取り装置 | |
| KR920017192A (ko) | 연마장치 | |
| JPS578438A (en) | Bottle inspecting device |