JPH0682683A - 測距方法 - Google Patents
測距方法Info
- Publication number
- JPH0682683A JPH0682683A JP23487592A JP23487592A JPH0682683A JP H0682683 A JPH0682683 A JP H0682683A JP 23487592 A JP23487592 A JP 23487592A JP 23487592 A JP23487592 A JP 23487592A JP H0682683 A JPH0682683 A JP H0682683A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- receiving element
- light receiving
- circuit
- frequency
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 外来光ノイズ等の影響を除去し、高精度の測
距が可能な測距方法を提供することである。 【構成】 ［第１過程］投光素子１１を非発光状態にし
て、受光素子１３に外来光成分のみを受光させる。受光
素子１３からの光電変換信号は、アナログ処理回路１
４、Ａ／Ｄ変換回路１５を通してフィルタ回路１６に入
力され、予め決められた複数の周波数それぞれについて
その振幅特性が得られる。制御回路１７では振幅特性値
が最も小さいものを選定する。［第２過程］第１過程で
選択した周波数で変調された照射光で対象物を照射す
る。受光素子１３からの光電変換信号はアナログ処理回
路１４等を通してフィルタ回路１６に入力され、第１過
程で選択された周波数についてその振幅特性が得られ
る。この振幅特性データに基き、制御回路１７により対
象物までの測距動作が行われる。
距が可能な測距方法を提供することである。 【構成】 ［第１過程］投光素子１１を非発光状態にし
て、受光素子１３に外来光成分のみを受光させる。受光
素子１３からの光電変換信号は、アナログ処理回路１
４、Ａ／Ｄ変換回路１５を通してフィルタ回路１６に入
力され、予め決められた複数の周波数それぞれについて
その振幅特性が得られる。制御回路１７では振幅特性値
が最も小さいものを選定する。［第２過程］第１過程で
選択した周波数で変調された照射光で対象物を照射す
る。受光素子１３からの光電変換信号はアナログ処理回
路１４等を通してフィルタ回路１６に入力され、第１過
程で選択された周波数についてその振幅特性が得られ
る。この振幅特性データに基き、制御回路１７により対
象物までの測距動作が行われる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、オートフォーカスカメ
ラ等に用いる測距方法、特に三角測距の原理を用いた測
距方法に関する。
ラ等に用いる測距方法、特に三角測距の原理を用いた測
距方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】三角測距の原理を用いた測距方法として
は、一定の周波数でパルス変調された照射光を対象物に
照射し、その反射光をＰＳＤ（Position Sensing Devic
e ）等の受光素子で受光し、その受光位置に応じて生じ
る光電変換信号に基いて、対象物までの距離を測距する
ものが知らている。通常は、受光素子に入射する外来光
ノイズ等を除去するため、受光回路側に設けたバンドパ
スフィルタにより照射光の周波数成分を分離している。
は、一定の周波数でパルス変調された照射光を対象物に
照射し、その反射光をＰＳＤ（Position Sensing Devic
e ）等の受光素子で受光し、その受光位置に応じて生じ
る光電変換信号に基いて、対象物までの距離を測距する
ものが知らている。通常は、受光素子に入射する外来光
ノイズ等を除去するため、受光回路側に設けたバンドパ
スフィルタにより照射光の周波数成分を分離している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の測距方法では、
照射光の周波数に等しいかこれに近い周波数成分を持っ
た外来光ノイズがあると、これを十分に除去することが
できず、精度のよい測距ができない場合があった。
照射光の周波数に等しいかこれに近い周波数成分を持っ
た外来光ノイズがあると、これを十分に除去することが
できず、精度のよい測距ができない場合があった。
【０００４】本発明の目的は、外来光ノイズ等の影響を
除去し、高精度の測距が可能な測距方法を提供すること
である。
除去し、高精度の測距が可能な測距方法を提供すること
である。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、一定の周波数
で変調された照射光を対象物へ照射し、その反射光を受
光素子で受光し、受光素子から出力される光電変換信号
に基いて対象物までの距離を測距する測距方法におい
て、上記受光素子が上記照射光を受光しない状態で上記
受光素子から出力される信号を複数の周波数でフィルタ
リングし、フィルタリングされた複数の信号のなかで最
も信号レベルが小さい信号の周波数を選択する第１過程
と、上記第１過程で選択した周波数で変調された照射光
を対象物に照射することにより対象物までの距離を測距
する第２過程とを有する。
で変調された照射光を対象物へ照射し、その反射光を受
光素子で受光し、受光素子から出力される光電変換信号
に基いて対象物までの距離を測距する測距方法におい
て、上記受光素子が上記照射光を受光しない状態で上記
受光素子から出力される信号を複数の周波数でフィルタ
リングし、フィルタリングされた複数の信号のなかで最
も信号レベルが小さい信号の周波数を選択する第１過程
と、上記第１過程で選択した周波数で変調された照射光
を対象物に照射することにより対象物までの距離を測距
する第２過程とを有する。
【０００６】
【実施例】図１は、本発明の実施例を示したブロック図
である。
である。
【０００７】投光素子１１は、対象物に向けて赤外光を
照射するものであり、投光回路１２により一定周波数で
パルス駆動されている。受光素子１３は、ＰＳＤを用い
て構成され、照射光の対象物による反射光を受光して、
その長手方向における受光位置に応じて生じる光電変換
信号を出力するものである。アナログ処理回路１４は、
受光素子１３からの光電変換信号を受けて所定のアナロ
グ処理を行うものであり、Ｉ／Ｖ変換回路、増幅回路等
で構成される。Ａ／Ｄ変換回路１５は、アナログ処理回
路１４からの信号すなわち光電変換信号に対応した信号
を、所定のサンプリング周波数でＡ／Ｄ変換するもので
ある。フィルタ回路１６は、Ａ／Ｄ変換回路１５から順
次出力されるデジタル信号系列を用いて、離散的フーリ
エ変換の演算処理すなわちデジタル的なフィルタリング
処理を行うものである。なお、離散的フーリエ変換の演
算処理の詳細については、本願出願人がすでに出願した
特願平４−２１６１３１号に記載されている。制御回路
１７は、ＣＰＵ等で構成され、対象物までの測距その他
の処理を行うものである。
照射するものであり、投光回路１２により一定周波数で
パルス駆動されている。受光素子１３は、ＰＳＤを用い
て構成され、照射光の対象物による反射光を受光して、
その長手方向における受光位置に応じて生じる光電変換
信号を出力するものである。アナログ処理回路１４は、
受光素子１３からの光電変換信号を受けて所定のアナロ
グ処理を行うものであり、Ｉ／Ｖ変換回路、増幅回路等
で構成される。Ａ／Ｄ変換回路１５は、アナログ処理回
路１４からの信号すなわち光電変換信号に対応した信号
を、所定のサンプリング周波数でＡ／Ｄ変換するもので
ある。フィルタ回路１６は、Ａ／Ｄ変換回路１５から順
次出力されるデジタル信号系列を用いて、離散的フーリ
エ変換の演算処理すなわちデジタル的なフィルタリング
処理を行うものである。なお、離散的フーリエ変換の演
算処理の詳細については、本願出願人がすでに出願した
特願平４−２１６１３１号に記載されている。制御回路
１７は、ＣＰＵ等で構成され、対象物までの測距その他
の処理を行うものである。
【０００８】つぎに、本実施例の動作を説明する。
【０００９】まず、第１過程の動作から説明する。この
第１過程では、投光素子１１を非発光状態にして、受光
素子１３に外来光成分のみを受光させる。受光素子１３
からの光電変換信号は、アナログ処理回路１４で所定の
アナログ処理がされ、Ａ／Ｄ変換回路１５でＡ／Ｄ変換
される。Ａ／Ｄ変換回路からのデジタル信号系列は、フ
ィルタ回路１６に入力され、離散的フーリエ変換の演算
処理によりフィルタリング処理される。フィルタリング
処理は基本的にはバンドパスフィルタリングであり、予
め決められた複数の周波数（例えば２０ｋＨｚ、４０ｋ
Ｈｚ、８０ｋＨｚ）それぞれについてその振幅特性が得
られる。このようにして得られた各振幅特性値は制御回
路１７に入力され、ＣＰＵにより振幅特性値が最も小さ
いものが選定される。すなわち、上記複数の周波数のな
かで、外来光成分の信号レベルの最も小さい周波数ｆ０
が選択されることになる。
第１過程では、投光素子１１を非発光状態にして、受光
素子１３に外来光成分のみを受光させる。受光素子１３
からの光電変換信号は、アナログ処理回路１４で所定の
アナログ処理がされ、Ａ／Ｄ変換回路１５でＡ／Ｄ変換
される。Ａ／Ｄ変換回路からのデジタル信号系列は、フ
ィルタ回路１６に入力され、離散的フーリエ変換の演算
処理によりフィルタリング処理される。フィルタリング
処理は基本的にはバンドパスフィルタリングであり、予
め決められた複数の周波数（例えば２０ｋＨｚ、４０ｋ
Ｈｚ、８０ｋＨｚ）それぞれについてその振幅特性が得
られる。このようにして得られた各振幅特性値は制御回
路１７に入力され、ＣＰＵにより振幅特性値が最も小さ
いものが選定される。すなわち、上記複数の周波数のな
かで、外来光成分の信号レベルの最も小さい周波数ｆ０
が選択されることになる。
【００１０】上記第１過程が終了すると、つぎのように
して第２過程の動作が行われる。制御回路１７から投光
回路１２に制御信号が送出され、この制御信号に基き、
第１過程で選択した周波数ｆ０でパルス変調された照射
光が投光素子１１から対象物に向けて照射される。照射
光の対象物による反射光は受光素子１３で受光され、そ
の光電変換信号はアナログ処理回路１４で所定のアナロ
グ処理がされた後Ａ／Ｄ変換回路１５でＡ／Ｄ変換され
る。Ａ／Ｄ変換回路からのデジタル信号系列は、フィル
タ回路１６に入力され、離散的フーリエ変換の演算処理
によりフィルタリング処理され（バンドパスフィルタリ
ング処理）、上記周波数ｆ０についてその振幅特性が得
られる。このようにして得られた周波数ｆ０についての
振幅特性データに基き、制御回路１７により対象物まで
の測距動作が行われる。
して第２過程の動作が行われる。制御回路１７から投光
回路１２に制御信号が送出され、この制御信号に基き、
第１過程で選択した周波数ｆ０でパルス変調された照射
光が投光素子１１から対象物に向けて照射される。照射
光の対象物による反射光は受光素子１３で受光され、そ
の光電変換信号はアナログ処理回路１４で所定のアナロ
グ処理がされた後Ａ／Ｄ変換回路１５でＡ／Ｄ変換され
る。Ａ／Ｄ変換回路からのデジタル信号系列は、フィル
タ回路１６に入力され、離散的フーリエ変換の演算処理
によりフィルタリング処理され（バンドパスフィルタリ
ング処理）、上記周波数ｆ０についてその振幅特性が得
られる。このようにして得られた周波数ｆ０についての
振幅特性データに基き、制御回路１７により対象物まで
の測距動作が行われる。
【００１１】以上のように、第１過程で外来光成分の最
も小さい周波数を選択し、この周波数を用いて照射光の
変調およびフィルタリング処理を行うので、外来光ノイ
ズを効果的に除外することができる。特に、本実施例の
ように離散的フーリエ変換を用いてフィルタリング処理
を行うことにより、より効果的にノイズ除去を行うこと
ができる。
も小さい周波数を選択し、この周波数を用いて照射光の
変調およびフィルタリング処理を行うので、外来光ノイ
ズを効果的に除外することができる。特に、本実施例の
ように離散的フーリエ変換を用いてフィルタリング処理
を行うことにより、より効果的にノイズ除去を行うこと
ができる。
【００１２】
【発明の効果】本発明では、外来光ノイズ等の影響を除
去し、高精度の測距が可能な測距方法を得ることが可能
となる。
去し、高精度の測距が可能な測距方法を得ることが可能
となる。
【図１】本発明の実施例を示したブロック図である。
１１……投光素子 １３……受光素子 １６……フィルタ回路 １７……制御回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木村 好男 東京都墨田区太平四丁目１番１号 株式会 社精工舎内
Claims (1)
- 【請求項１】 一定の周波数で変調された照射光を対象
物へ照射し、その反射光を受光素子で受光し、受光素子
から出力される光電変換信号に基いて対象物までの距離
を測距する測距方法において、 上記受光素子が上記照射光を受光しない状態で上記受光
素子から出力される信号を複数の周波数でフィルタリン
グし、フィルタリングされた複数の信号のなかで最も信
号レベルが小さい信号の周波数を選択する第１過程と、 上記第１過程で選択した周波数で変調された照射光を対
象物に照射することにより対象物までの距離を測距する
第２過程とを有する測距方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23487592A JPH0682683A (ja) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | 測距方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23487592A JPH0682683A (ja) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | 測距方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0682683A true JPH0682683A (ja) | 1994-03-25 |
Family
ID=16977701
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23487592A Pending JPH0682683A (ja) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | 測距方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0682683A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008275616A (ja) * | 2007-04-26 | 2008-11-13 | Gebr Loepfe Ag | 周波数に応じた糸又は糸前駆体における欠陥箇所の検出 |
| WO2010021090A1 (ja) * | 2008-08-20 | 2010-02-25 | パナソニック株式会社 | 距離推定装置、距離推定方法、プログラム、集積回路およびカメラ |
| JP2012032605A (ja) * | 2010-07-30 | 2012-02-16 | Nikon Corp | 焦点検出装置および撮像装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0571957A (ja) * | 1991-09-10 | 1993-03-23 | Nikon Corp | アクテイブ測距装置 |
-
1992
- 1992-09-02 JP JP23487592A patent/JPH0682683A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0571957A (ja) * | 1991-09-10 | 1993-03-23 | Nikon Corp | アクテイブ測距装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008275616A (ja) * | 2007-04-26 | 2008-11-13 | Gebr Loepfe Ag | 周波数に応じた糸又は糸前駆体における欠陥箇所の検出 |
| WO2010021090A1 (ja) * | 2008-08-20 | 2010-02-25 | パナソニック株式会社 | 距離推定装置、距離推定方法、プログラム、集積回路およびカメラ |
| JPWO2010021090A1 (ja) * | 2008-08-20 | 2012-01-26 | パナソニック株式会社 | 距離推定装置、距離推定方法、プログラム、集積回路およびカメラ |
| JP2012032605A (ja) * | 2010-07-30 | 2012-02-16 | Nikon Corp | 焦点検出装置および撮像装置 |
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