JPH0682573A - 時間間隔検出回路 - Google Patents

時間間隔検出回路

Info

Publication number
JPH0682573A
JPH0682573A JP5045693A JP4569393A JPH0682573A JP H0682573 A JPH0682573 A JP H0682573A JP 5045693 A JP5045693 A JP 5045693A JP 4569393 A JP4569393 A JP 4569393A JP H0682573 A JPH0682573 A JP H0682573A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
time
signal
time interval
circuit
delay
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5045693A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0769442B2 (ja
Inventor
Pii Fuorei Kuraaku
クラーク・ピー・フォレイ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tektronix Japan Ltd
Original Assignee
Sony Tektronix Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Tektronix Corp filed Critical Sony Tektronix Corp
Publication of JPH0682573A publication Critical patent/JPH0682573A/ja
Publication of JPH0769442B2 publication Critical patent/JPH0769442B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G04HOROLOGY
    • G04FTIME-INTERVAL MEASURING
    • G04F10/00Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means
    • G04F10/005Time-to-digital converters [TDC]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】リアルタイムで迅速且つ高精度に時間間隔を検
出可能な低コストの時間間隔検出回路を提供すること。 【構成】第1信号を受け、上記第2信号に応じて上記第
1信号の時点を検出し、上記第1及び第2信号間の時間
間隔を粗い分解能で表す第1データを記憶する第1タイ
ム・トラップ回路10と、この第1データに応じて上記
第1及び第2信号を相対的に夫々遅延させ、所定の時間
間隔以内の遅延第1信号及び遅延第2信号を発生する遅
延制御手段34及び38と、上記遅延第1信号を受け、
上記遅延第2信号に応じて上記遅延第1信号の時点を検
出し、上記遅延第1及び第2信号間の時間間隔を精細な
分解能で表す第2データを記憶する第2タイム・トラッ
プ回路40とを具え、上記第1及び第2データに応じて
上記第1及び第2信号間の時間間隔を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、2つの信号の時間間隔
を検出する時間間隔検出回路に関する。
【0002】
【従来技術及び発明が解決しようとする課題】電子シス
テム及び電子機器において、2つの信号間の時間間隔を
アナログ電圧又はデジタル信号に変換して検出する回路
を使用したい場合がある。例えば、オシロスコープにお
いては、信号間の変調その他タイミング関係をリアルタ
イムに表す際にこのような時間間隔検出回路を使用する
場合がある。通常、このような時間間隔検出回路には、
極めて高速な変換速度及び極めて高い分解能が求められ
る。例えば、オシロスコープに使用した場合、100M
Hzより高速の変換速度及び50ピコ秒より小さい時間
分解能を達成する必要が生じることもある。
【0003】時間間隔を測定するのに使用されてきた回
路は、一まとめにして時間補間器(タイム・インタポレ
ーター)と呼ぶことが出来る。この最も単純な形態は、
被測定時間間隔中に発生した内部クロック信号のサイク
ル数をカウントすることにより時間間隔を測定するもの
である。高周波数のクロック信号を使用することによ
り、時間分解能を向上出来るが、その時間分解能にも±
1クロック期間の不確定性が伴う。この不確定性は、ク
ロック信号と被測定時間間隔の遷移エッジとの時間関係
が一致していないことに起因している。例えば、被測定
時間間隔の両遷移エッジがクロック・サイクルの最初と
最後の高レベル状態の真ん中で発生した場合には、クロ
ック期間を余分に測定することにもなる。
【0004】この不確定性を補正するには、クロック信
号と被測定信号の遷移エッジとの間の時間を測定しなけ
ればならない。例えば線形補間の場合、時間間隔の開始
エッジからクロック信号が低レベルから高レベルに遷移
するまでの期間中、コンデンサを充電し、クロック信号
が高レベルに達した時点で、前の充電速度より低速の既
知の速度でコンデンサを放電させる。この時、放電期間
を別のクロック信号をカウントして測定する。この場
合、被測定信号の開始エッジとクロック信号の立ち上が
りエッジとの間の時間間隔は、(放電期間中のクロック
・サイクル数×クロック周期×放電速度)をコンデンサ
の充電速度で除算した値に等しい。この線形補間測定方
法を被測定時間間隔の終了エッジとクロック信号のエッ
ジ間の測定にも同様に適用し、それらの補正値を最初の
測定値に加算又は減算することにより、最終測定値を得
ることが出来る
【0005】上述の線形補間測定法は、コンデンサの充
放電を行うことにより時間分解能を向上することが出来
る反面、長い放電時間により測定時間が遅延することが
問題となる。更に、この線形補間測定法の精度は、カウ
ンタの性能及びコンデンサの充放電回路の性能の外、ク
ロック信号の周波数と精度によっても制限される。その
上、この線形補間測定では、クロックのカウント数をデ
ジタル・アナログ変換する必要があるが、一般にこの変
換処理の技術はリアルタイムではないので低速で時間が
かかるという問題もある。
【0006】時間間隔は、「タイム・トラップ」と呼ば
れる回路を用いても測定することが出来る。このタイム
・トラップ回路は、既知の遅延時間を有する遅延線を用
いて時間間隔を測定する。この遅延線には等間隔に複数
のタップが設けてあり、遅延線上を第1の入力信号が伝
播する際に、これら一連のタップは、信号の進行を検出
する手段として機能する。各タップ間の単位遅延時間
は、遅延線の総伝播時間をタップの総数で除算した値に
等しい。各タップは、デジタル・ラッチのようなメモリ
装置の入力端に接続されており、これらのラッチに第2
の入力信号が入力された時、第1の入力信号と第2の入
力信号との間の時間間隔を表すデジタル情報パターンが
これらのラッチに取り込まれる。
【0007】このタイム・トラップ回路の時間分解能
は、遅延線の単位長さ当たりのタップ数によって決ま
る。タップ数を増加すると、タップ間の間隔を小さく出
来るので各タップ間の単位時間間隔も小さく出来る。し
かし、タップの数は、タップ間の物理的最小間隔で制限
される外、遅延線の固有損失及びラッチの入力容量によ
っても制限される。
【0008】従って、本発明の目的は、リアルタイムで
且つ高精度で2つの信号間の時間間隔を検出可能な時間
間隔検出回路を提供することである。
【0009】
【課題を解決する為の手段】本発明の時間間隔測定回路
は、2つのタイム・トラップ回路を用いた2重階層構成
である。一方のタイム・トラップ回路は第1信号を受
け、第2信号に応じて第1信号を検出することにより、
第1及び第2信号の時間間隔を表す粗い分解能の第1デ
ータを記憶する。遅延制御手段は、この第1データに応
じて第1及び第2信号を相対的に夫々遅延させ、所定の
時間間隔以内の遅延第1信号及び遅延第2信号を発生す
る。第2タイム・トラップ回路は、遅延第1信号を受
け、遅延第2信号に応じて遅延第1信号を検出すること
により、遅延第1及び第2信号間の時間間隔を表す精細
な分解能の第2データを記憶する。これら第1及び第2
データから第1信号及び第2信号間の時間間隔をリアル
タイムで且つ高精度に検出する。
【0010】
【実施例】説明の都合上、先ず、図5に示した従来のタ
イム・トラップ型時間間隔検出回路の例を説明する。こ
のタイム・トラップ回路10の遅延線18は、第1信号
入力端子20、伝播信号出力端子22及び等間隔に設け
られた複数のタップ24を含んでいる。タップ24の数
は、変数Mで表す。この遅延線18は、インダクタ及び
コンデンサ等の個別の素子で構成しても良いし、マイク
ロストリップ線でも良いし、その他の構成のものでも良
い。この遅延線18において重要な点は、信号伝播速度
が既知であることと、タップ24が等間隔に接続されて
いるということである。
【0011】タップ24は、多連型デジタル・ラッチ2
6のデータ入力端子25に夫々接続されている。ラッチ
26の入力端子25の数は、少なくともタップ24の数
Mだけは必要である。デジタル・ラッチ26は、出力端
子27及び第2信号入力端子28も有する。少なくとも
M本の出力端子27を介してタイム・トラップ回路10
は、デジタル・バス12に接続される。このバス12
は、少なくともMビットの幅を有する。
【0012】このタイム・トラップ回路10の動作は、
第1信号入力端子20に印加された第1信号の遷移エッ
ジの伝播を考慮することにより理解出来る。入力された
第1信号は、遅延線18に沿って各タップ24を順次伝
播していく。タップ24は、等間隔に設けられ、遅延線
18の伝播速度が既知なので、各タップの遅延時間に対
応する量子化時間D(c)は、遅延線18の総伝播時間
をタップ24の総数Mで除算した値に等しい。各タップ
24は、デジタル・ラッチ26のデータ入力端子25の
1つに接続されているので、第2信号入力端子28に入
力された第2信号の遷移エッジの時点に応じて、デジタ
ル・ラッチ26は、各タップ24の第1信号のレベルを
表す情報をラッチする。すなわち、タップ24は、遅延
線18上を伝播する第1信号の遷移エッジの進行を表す
情報を検出してラッチ26に与える。このラッチされた
情報は、第1信号と第2信号との間の時間間隔に対応し
ている。
【0013】デジタル・ラッチ26によりラッチされた
情報は、所謂サーモメータ・コードであり、デジタル形
式ではあるが2進コードではない。サーモメータ・コー
ドの情報は、各ビットの重みが等しい直線的スケールの
データであり、この情報の最大値は、ビット数の最大値
Mに等しい。例えば、各タップ24に対応する量子化時
間D(c)が50ピコ秒であり、Mの値が16であり、
デジタル・ラッチ26がデジタル・データ列「1111
111111110000」をラッチしたとすると、時
間間隔は、12×D(c)=600ピコ秒となる。つま
り、論理1のビット数に量子化時間D(c)を乗算した
値となる。
【0014】既知の信号伝播速度の遅延線18を用いて
いるので、タイム・トラップ回路10の分解能は、遅延
線18の所定長に沿って等間隔に設けられたタップ24
の数によって決まる。タップ24の数を増加すると、タ
ップ24の間の間隔が短くなり、各タップ24に対応す
る量子化時間D(c)も小さくなる。しかし、遅延線1
8の所定長に亘って配置可能なタップ24の最大数は、
デジタル・ラッチの入力数及び遅延線に接続可能なタッ
プ数の物理的限界によって制限される。
【0015】更に、タップ24の数は、遅延線18の固
有損失及びデジタル・ラッチ26の入力端子25の入力
容量によっても制限される。例えば、16個のタップ2
4を伝播した電圧信号は、遅延線の固有損失及びラッチ
の入力端子の入力容量によって劣化することが観測され
た。
【0016】従って、この情報の表現可能な値を増加
し、分解能を向上する為にタップ24の数を増加するの
は実際には制限されてしまう。上述の制限は、8ビット
の2進コードを発生するのに必要な256個のタップ2
4を設けた時間間隔検出回路を実現するのにはそれ程の
妨げにはならないかも知れないが、もっと分解能を高く
する為に更に多ビットの2進コードを出力する回路を実
現することは困難になろう。例えば、比較的高い分解能
を得る為に16ビットの2進コード出力実現することは
上述の制限により無理である。すなわち、その場合に
は、遅延線上に6万5千個以上のタップを設けなければ
ならないからである。この問題は、後述するように、第
2のタイム・トラップ回路を追加してペアで使用する2
段構成の本発明の時間間隔検出回路によって解決するこ
とが出来る。
【0017】図1は、本発明の時間間隔検出回路の一実
施例の構成を示すブロック図である。タイム・トラップ
回路10は、デジタル・バス12によって加算増幅器3
3、優先2進エンコーダ16及びプログラマブル遅延発
生器34に接続されている。タイム・トラップ回路10
の第2信号入力端子28は、固定遅延発生器36に並列
に接続されており、第2信号は、第2信号入力端子28
と固定遅延発生器の入力端に同時に供給される。この固
定遅延発生器36は、インダクタ及びコンデンサのよう
な個別の素子で構成しても良いし、本発明の要旨から逸
脱しない限り、その他どのような構成でも構わない。し
かし、固定遅延発生器36は、第2信号の伝播を固定量
だけ遅延させてプログラマブル遅延発生器36に供給す
るように構成されている。
【0018】タイム・トラップ回路10の伝播信号出力
端子22は、可変遅延発生器38に接続されている。可
変遅延発生器38は、校正入力端子39を有する。可変
遅延発生器38の出力端子は、第2タイム・トラップ回
路40に接続されている。この可変遅延発生器38もイ
ンダクタ及びコンデンサ等の個別の素子で構成しても良
いし、本発明の要旨から逸脱しない限り、その他どのよ
うな回路構成でも良い。この可変遅延発生器38は、第
1のタイム・トラップ回路10からの第1信号の伝播を
可変遅延時間だけ遅延させて第2のタイム・トラップ回
路40に供給するものである。この回路構成の理由につ
いては、詳細に後述する。
【0019】第2タイム・トラップ回路40の中の遅延
線42は、遅延第1信号入力端子44、伝播信号出力端
子46及び遅延線42に等間隔に設けられた複数のタッ
プ48を有する。遅延第1信号入力端子44は、第2タ
イム・トラップ回路40と可変遅延発生器38との接続
点である。タップ48の数を変数Nで表す。第1タイム
・トラップ回路10の遅延線18と同様に、遅延線42
もインダクタ及びコンデンサ等を個別に使用した回路や
マイクロストリップ線路を使用した回路でも良いし、本
発明の要旨を逸脱しない限りその他どのような回路構成
でも良い。しかし、この遅延線42は、既知の信号伝播
速度を有し、タップ48が等間隔に配列出来るように構
成されている。
【0020】タップ48はデジタル・ラッチ50のデー
タ入力端子49に接続されている。よって、デジタル・
ラッチ50のデータ入力端子49の数は、少なくともN
個なければならない。デジタル・ラッチ50の遅延第2
信号入力端子52は、 第2タイム・トラップ回路40
とプログラマブル遅延発生器34との接続点である。デ
ジタル・ラッチ50のデータ出力端子53の数は少なく
ともN個あり、これにより、第2タイム・トランジスタ
回路40は、少なくともNビット幅の第2デジタル・バ
ス54に接続されている。この第2デジタル・バスは、
第2タイム・トラップ回路40を加算増幅器33及び第
2優先2進エンコーダ58の両方に接続している。
【0021】プログラマブル遅延発生器34は、遅延線
62、遅延線62に等間隔に設けられた複数のタップ6
4及びデジタル・ラッチ66を含む。デジタル・ラッチ
66は、ストローブ入力端子68、遅延第2信号信号出
力端子70、クリア信号入力端子72、データ入力端子
74及びデータ出力端子76を有する。ストローブ入力
端子68は、プログラマブル遅延発生器34と固定遅延
発生器36との接続点である。遅延第2信号出力端子7
0は、第2タイム・トラップ回路40の遅延第2信号入
力端子52(終端抵抗器78の一端)とラッチ66のク
リア信号入力端子72とに並列に接続されている。
【0022】データ入力端子74の各々は、第1タイム
・トラップ回路10のM個のデータ出力端子27の1つ
に別々に接続されているので、データ入力端子74の端
子数は少なくともM個である。プログラマブル遅延発生
器34のデータ出力端子76の各々は、遅延線62のタ
ップ64の1つに別々に接続されており、このタップの
数は、第1タイム・トラップ回路10のタップ数と同じ
M個である。遅延線62は、本発明の原理から逸脱しな
い限り、インダクタ及びコンデンサ等の個別素子、マイ
クロストリップ線路その他どのような回路で構成しても
良い。しかし、遅延線62は、その信号伝播速度が既知
であり、タップ64が等間隔に接続出来ることが望まし
い。遅延線62は、第1タイム・トラップ回路10の遅
延線18と同様の構成であることが望ましい。
【0023】この2重階層構成の時間間隔検出回路の出
力段は、加算増幅器33及び2進データ出力段80で構
成されている。加算増幅器33及び2進データ出力段8
0は、当業者には容易に理解出来る従来の回路構成であ
る。加算増幅器33は、各R(m)の抵抗値を持つM個
の第1抵抗器群82と、各R(n)の抵抗値を持つN個
の第2抵抗器群84を含み、これら第1及び第2抵抗器
群82及び84は、夫々デジタル・バス12及び54に
接続されている。加算増幅器33は、演算増幅器83、
抵抗値R(s)のスケーリング抵抗器85及び比例電圧
出力端子87を含んでいる。このスケーリング抵抗値R
(s)は、加算増幅器33の利得を所望値に調整するよ
うに選択される。2進データ出力段80は、第1優先2
進エンコーダ16、第2優先2進エンコーダ58、2進
加算器86及び一まとめの2進エンコード出力端子88
を含んでいる。図1の実施例では、出力段として加算増
幅器33及び2進データ出力段80を採用しているが、
本発明の原理を逸脱しない範囲で他の出力回路構成を用
いても良い。しかし、第1タイム・トラップ回路16の
デジタル・ラッチ26のデータ出力と第2タイム・トラ
ップ回路40のデジタル・ラッチ50のデータ出力は、
検出した時間間隔に対応したデジタル情報となることが
望ましい。
【0024】図1において、第1タイム・トラップ回路
10は、時間間隔を粗い(低い)時間分解能で検出し、
第2タイム・トラップ回路40は、精細な(高い)時間
分解能で検出する。この時間間隔検出回路の動作は、第
1信号信号入力端子20に印加された第1信号の状態遷
移エッジの伝播を考慮することにより理解出来る。図5
の従来の1段構成のタイム・トラップ回路に関して上述
したように、第1信号は、遅延線18に沿って順次タッ
プ24を通過していく。各タップに対応している量子化
時間は、D(c)であって既知の時間である。各タップ
24は、デジタル・ラッチ26のデータ入力端子25の
1つに別々に接続されており、第2信号入力端子28に
印加された第2信号によってデジタル・ラッチ26がス
トローブされると、デジタル・ラッチ26は、このスト
ローブの時点でデータ入力端子25のデジタル情報をラ
ッチし、各タップ24の第1信号のデジタル・レベルが
捕捉される。この第1タイム・トラップ回路10により
捕捉され、出力されるデジタル・データは、第1信号の
遷移エッジと第2信号の遷移エッジとの間の時間間隔を
粗量子化時間D(c)で検出した粗い精度の値を表して
いる。
【0025】上述の粗い時間精度での時間間隔検出動作
からの類推により、第2タイム・トラップ回路40によ
る精細な時間精度の検出動作を理解することが出来る。
すなわち、第2タイム・トラップ回路40の動作は、第
2信号が第2信号入力端子28に印加された後の第1信
号の遷移エッジの伝播を考察することにより理解出来
る。第1タイム・トラップ回路10による検出動作の
後、第1信号は、引き続いて遅延回路18を伝播し続
け、伝播信号出力端子22を通過して可変遅延発生器3
8に供給される。この可変遅延発生器38により遅延さ
れた後、第1信号は第2タイム・トラップ回路40の遅
延第1信号入力端子44に入力される。この第1信号
は、遅延線42のタップ48を順次通過する。このタッ
プ48の間隔に対応する精細量子化時間は、D(f)で
ある。タップ48の各々は、デジタル・ラッチ50のデ
ータ入力端子49の1つに別々に接続されており、デジ
タル・ラッチ50がストローブされると、デジタル・ラ
ッチ50は、そのストローブ時点におけるタップ48の
第1信号の状態を表すデータを捕捉する。この第2タイ
ム・トラップ回路40にラッチされ、出力される情報
は、第1タイム・トラップ回路10では検出出来なかっ
た第1及び第2信号の遷移エッジ間の粗い精度の量子化
時間D(c)の時間部分を更に精細な精度(高精度)の
量子化時間D(f)で検出した値を表している。
【0026】この時間間隔検出回路の時間分解能は、精
細量子化時間D(f)によって決まる。この回路の時間
分解能を向上するには、タップ48の間隔が所定値の場
合に遅延線42の信号伝播速度が増加するか又は遅延線
42の長さが所定値の場合にタップ48の間隔を小さく
すれば良い。図1の実施例では、遅延線18及び42の
信号伝播速度は等しいので、遅延線42のタップ48の
間隔をその間の信号の伝播時間が精細量子化時間D
(f)になるように設定する。本発明の原理から逸脱し
ない限り、精細量子化時間D(f)を得るために、遅延
線42の信号伝播速度を増加する等の他の方法を採用し
ても良い。何れにしても、第2タイム・トラップ回路4
0は、第1タイム・トラップ回路10の各タップに対応
する量子化時間D(c)の部分を精細に測定できるよう
な小さい量子化時間D(f)を達成するように構成され
る。
【0027】図1の実施例において、第2タイム・トラ
ップ回路40のタップ48の間隔は、その量子化時間D
(f)が2D(c)/Nに等しくなるように設定する。
ここで、D(c)は、第1タイム・トラップ回路10の
粗い精度の量子化時間であり、Nは、第2タイム・トラ
ップ回路40のタップ48の数である。この時、第2タ
イム・トラップ回路40の総遅延時間は、D(f)とN
との積となり、粗い精度の量子化時間D(c)の2倍に
等しい。第2タイム・トラップ回路40の総遅延時間を
D(c)の2倍にしたのは、第2タイム・トラップ回路
40は次の2つの検出作業を行うからである。第1は、
第2タイム・トラップ回路40は、ストローブされた
時、前に通過したタップ24の最後のタップと伝播信号
の前縁との間の間隔に対応した時間間隔を検出すること
であり、第2は、伝播信号が通過したタップ24の最後
のタップでその信号の前縁の通過の検出が失敗するのを
防止することである。すなわち、第2タイム・トラップ
回路40の遅延線42は、第1タイム・トラップ回路1
0の1ビットの量子化誤差を補償する為に粗い量子化時
間の2倍の遅延時間を必要とする。
【0028】この2重階層の回路構成おいてに、2段構
成のタイム・トラップ回路を伝播する第1及び第2信号
の印加を同期させる為の付随回路が必要である。この付
随回路は、第1タイム・トラップ回路10で検出した時
間間隔を使用して、第1信号とプログラマブル遅延発生
器からの遅延ストローブ信号とを粗量子化時間D(c)
の範囲内に強制的に調整する。このらの2つの信号の時
間関係を調整することにより、これらの2つの信号の時
間差を第2タイム・トラップ回路40の遅延時間範囲内
に制限する。その後、この時間差は、第2タイム・トラ
ップ回路40により精細量子化時間D(f)によって検
出される。
【0029】図1の実施例では、上述の付随回路は、プ
ログラマブル遅延発生器34、固定遅延発生器36及び
可変遅延発生器38で構成されている。これらの動作を
説明する。第1タイム・トラップ回路10により検出さ
れたデジタル情報は、プログラマブル遅延発生器34の
デジタル・ラッチ66のデータ入力端子74に送られ
る。デジタル・ラッチ66は、ストローブ入力端子68
に供給される第2信号の状態遷移に応じてデジタル情報
をラッチする。第2信号は、固定遅延発生器36の遅延
の後でストローブ入力端子68に供給される。固定遅延
発生器36は、第1タイム・トラップ回路10が第1信
号を検出し、そのデータをデジタル・ラッチ26のデー
タ出力端子27に出力することが出来るような遅延時間
を第2信号に与える。
【0030】第2信号の遷移エッジがストローブ信号入
力端子68に印加されると、第1タイム・トラップ回路
10のデジタル情報がプログラマブル遅延発生器34の
データ出力端子76に出力される。タップ64を介して
データ出力端子76と遅延線62が接続しているので、
データ出力端子76に発生するデジタル情報遅延線62
に印加される。よって、プログラマブル遅延発生器34
のデータ出力端子76は、エミッタ結合論理(ECL)
を使用した所謂「ワイヤード・オア」構成であることが
望ましい。この構成を採用した場合、第1信号の前縁遷
移は、遅延線62を伝播し、遅延第2信号出力端子70
に出力され、第2タイム・トラップ回路40の遅延第2
信号入力端子52に供給され、このストローブ入力に応
じて第2タイム・トラップ回路40は、第1信号を捕捉
する。プログラマブル遅延発生器34から発生し、遅延
第2信号出力端子70に出力された遅延ストローブ信号
は、プログラマブル遅延発生器34のクリア入力端子7
2にも同時に供給される。これにより、そのデータ出力
端子76のデータが論理0に対応する電圧レベルにリセ
ットされる。プログラマブル遅延発生器34の発生した
遅延ストローブ信号は、遅延線62の信号伝播速度、長
さ及びタップ間隔を第1タイム・トラップ回路10の遅
延線18のものと整合させることにより、粗量子化時間
D(c)の範囲内に入るように設定されている。便宜
上、第1タイム・トラップ回路10が第1信号のエッジ
を検出する時、伝播遅延以外には何等量子化誤差が発生
しないものと仮定する。この仮定の下では第1タイム・
トラップ回路10が第1信号を検出した後も第1信号は
遅延線18を伝播し続け、伝播信号出力端子22に達す
る。ストローブ信号の印加に応じて、第1タイム・トラ
ップ回路10のタップ24の中の1つのタップT(d)
が第1信号の前縁の遷移を粗量子化時間D(c)の分解
能で検出する。このタップT(d)は、各信号の遷移の
時点を表すデジタル信号(即ち、論理1)をプログラマ
ブル遅延発生器34のタップ64の中の対応するタップ
T(d′)に送る。これにより、タップT(d′)に接
続された遅延線62に沿ってストローブ信号が伝播す
る。遅延線62及び18の長さ及びタップ間隔が極めて
近似していれば、第1信号及び遅延ストローブ信号は、
共に同じ長さの遅延線を夫々伝播して第1タイム・トラ
ップ回路10の出力端子及びプログラマブル遅延発生器
34のストローブ出力端子に1タップ分の量子化時間の
範囲内で到達する。更に、遅延線62及び18の信号伝
播速度が整合していれば、第1信号及び遅延ストローブ
信号は、粗量子化時間D(c)の範囲内の時点で夫々の
出力端子に到達する。
【0031】実際には、遅延線以外にも信号の伝播を遅
延させる要素は存在する。例えば、固定遅延発生器36
並びにラッチ26及び66の素子伝播遅延等により更に
信号は遅延する。そのため、可変遅延発生器38を設け
ることにより、他の信号遅延源の補償を行っており、第
1信号とプログラマブル遅延発生器34の発生する遅延
ストローブ信号とを同期させる。換言すると、可変遅延
発生器38は、2つの回路段間の調整を行うことによ
り、図2で示すように、粗量子化時間D(c)の2つ分
の期間をN個の精細量子化時間D(f)で分割した関係
を実現する。動作上では、可変遅延発生器38の校正入
力端39に校正信号を供給し、時間間隔検出回路の補償
及び同期関係を調整する。
【0032】また、第1タイム・トラップ回路10は、
実際に、伝播する第1信号の前縁遷移を粗量子化時間D
(c)の分解能で検出することに失敗するかも知れな
い。その場合に発生した量子化誤差は、プログラマブル
遅延発生器34に送られ、プログラマブル遅延発生器3
4からの遅延ストローブ信号は、第2タイム・トラップ
回路40に量子化時間D(c)だけ遅れて到着すること
になる。この誤差が発生し得るので、上述のように、第
2タイム・トラップ回路40は粗量子化時間D(c)の
2個分の範囲の遅延時間を有する。もし、この余分な量
子化誤差がなければ、2つの回路段は量子化時間D
(c)の範囲内で同期しているので、第2タイム・トラ
ップ回路40の遅延時間範囲も量子化時間D(c)の1
つ分だけあれば良いことになる。
【0033】粗分解能段及び精細分解能段で構成された
本発明の2重階層構成の時間間隔検出回路で検出したデ
ジタル情報は、所謂サーモメータ・コード形式であり、
デジタル・データではあるが2進コードではない。2重
階層構成のサーモメータ・コードは、粗分解能段の各ビ
ットの重み付けは等しく、精細分解能段の各ビットの重
み付けも互いに等しいが、粗分解能段のビットの重み付
けは、精細分解能段のビットの重み付けより大きく設定
されている。具体的に言えば、精細分解能段のNビット
の情報は、粗分解能段の2ビット分に等しい。精細分解
能段の各ビットの重み付けは、粗分解能段の各ビットの
重み付けの2/N倍である。
【0034】その上、検出したデジタル情報の到達可能
な数値は、Nと(M−1)との積に等しい。ここで、N
は、精細分解能段のタップ48の数であり、Mは、粗分
解能段のタップ24の数である。(M−1)となるの
は、精細分解能段が粗量子化時間の2つ分の時間範囲に
設定されているので、各段で時間検出を行う際にオーバ
ラップする部分が存在するためである。例えば、粗量子
化時間D(c)が50ピコ秒で、M=16、N=16の
場合に、粗分解能段のデジタル・ラッチ26は、デジタ
ル・データ列「1111111111110000」を
捕捉し、精細分解能段のデジタル・ラッチ50は、デジ
タル・データ列「1111111111110000」
を捕捉した場合、精細量子化時間D(f)=6.25ピ
コ秒であり(D(f)=D(c)×2/N)、求める時
間間隔は、各段の論理1の数に各量子化時間を乗算して
和を求めると、675ピコ秒となる(12×D(c)+
12×D(f))。
【0035】2重階層構成のデジタル・ラッチ26及び
50により捕捉されるデジタル情報がサーモメータ・コ
ード形式なので、加算増幅器33は、デジタル情報の論
理1の数に比例した電圧を比例電圧出力端子87に出力
する。第1信号入力端子20に印加される第1信号の遷
移エッジと第2信号入力端子28に印加される第2信号
の遷移エッジとの間の時間間隔が大きくなればなる程、
比例電圧出力端子87の出力電圧も大きくなる。しか
し、精細分解能段と粗分解能段との重み付けの寄与に応
じて比例電圧出力端子の出力電圧を発生させねばならな
い。従って、粗分解能段用の抵抗器群82の各抵抗値R
(m)と精細分解能段用の抵抗器群84の各抵抗値R
(n)との間には、R(n)=R(m)×N/2の関係
がある。
【0036】このデジタル情報は、エンコーダにより容
易に2進コードに変換され、2進エンコード出力端子8
8に出力される。2進加算器86は、粗分解能段の2進
エンコーダ16と精細分解能段の2進エンコーダ58間
のエンコード処理における量子化誤差を補正する。この
誤差は、粗分解能段が1粗量子化時間分だけ第1信号の
遷移の捕捉を失敗した場合に生じる。粗分解能段が捕捉
し損なった情報は、精細分解能段により捕捉され、エン
コーダ58によりMSB(最上位ビット)としてエンコ
ードされる。このMSBが粗量子化時間D(c)の1つ
分に相当する。
【0037】図3は、2進データ出力段80の構成をよ
り詳細に示すブロック図である。2進加算器86は、複
数の半加算器90を含む。この半加算器90の数は、2
進エンコーダ16から供給される2進エンコード・デー
タのビット数に等しい。この回路構成において、第2の
2進エンコーダ58のMSBが第1の2進エンコーダ1
6のLSB(最下位ビット)に加算され、合計値が2進
出力となる。この加算処理において、LSBの桁上げ
(キャリー)は、次のLSBに加算され、更に桁上げが
あればその次のビットへと順に加算される。以上の動作
は当業者には容易に理解出来よう。
【0038】図4は、図1のプログラマブル遅延発生器
34の別の実施例の構成を示す回路図である。この実施
例は、複数の電圧比較器92と、ストローブ信号入力端
子94と、ストローブ・インバータ95と、比較データ
端子96と、比較ストローブ端子97と、比較出力端子
98と、複数のタップ99と、遅延線100と、遅延ス
トローブ信号出力端子102とを含んでいる。この実施
例では、電圧比較器92は、計億装置として使用され、
各比較器は、デジタル・ラッチ66の代わりに記憶エレ
メントを含んでいる。従って、この実施例では、上述の
図1のプログラマブル遅延発生器34のように、クリア
信号を帰還するように構成する必要がない。
【0039】この回路の動作を説明する。ストローブ電
圧信号がストローブ信号入力端子94に印加される。こ
の信号は、ストローブ・インバータ95によって反転さ
れ、この反転ストローブ信号が各比較器92の比較スト
ローブ端子97に供給される。ストローブ信号が論理0
(低レベル)から論理1(高レベル)に遷移すると、比
較データ端子96を受けている比較器92は、比較出力
端子98に論理1の電圧出力を発生する。これらの電圧
出力は、タップ99を介して遅延線100の入力端子に
供給され、この遅延線100により遅延ストローブ信号
が生成される。この遅延ストローブ信号は遅延線100
を伝播し、遅延ストローブ信号出力端子102から出力
される。ストローブ信号入力端子94のストローブ信号
が論理1(高レベル)から論理0(低レベル)に遷移す
ると、比較器92は、全て論理0(低レベル)出力を発
生する。
【0040】以上本発明の好適実施例について説明した
が、本発明はここに説明した実施例のみに限定されるも
のではなく、本発明の要旨を逸脱することなく必要に応
じて種々の変形及び変更を実施し得ることは当業者には
明らかである。
【0041】
【発明の効果】本発明の時間間隔検出回路は、第1タイ
ム・トラップ回路で時間間隔を粗量子化時間に基づく低
分解能で検出し、第1タイム・トラップ回路で検出出来
なかった所定範囲内の時間を精細な量子化時間に基づく
高分解能の第2タイム・トラップ回路で検出し、これら
2つの検出データから2つの信号間の時間間隔をリアル
タイムで迅速に且つ高精度に検出することが出来る。高
分解能のタイム・トラップ回路は、求める時間間隔の僅
かな部分のみを精細な量子化時間により検出するだけな
ので、比較的少ないビット数で高精度の測定を実現する
ことが出来、大幅なコストの低減にも寄与する。更に、
タイム・トラップ回路のビット数が比較的少なくて良い
ので、伝播信号の劣化も少なくて済む。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
【図2】第1タイム・トラップ回路の粗量子化時間D
(c)と第2タイム・トラップ回路の精細量子化時間D
(f)との関係を示す模式図である。
【図3】図1の2進データ出力段80の一実施例の構成
を示すブロック図である。
【図4】図1のプログラマブル遅延発生器34の他の実
施例の構成を示す簡略回路図である。
【図5】従来のタイム・トラップ回路の構成を示すブロ
ック図である。
【符号の説明】
10 第1タイム・トラップ回路 34 プログラマブル遅延発生器 38 可変遅延発生器 40 第2タイム・トラップ回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1信号と第2信号との間の時間間隔を
    検出する回路であって、 上記第1信号を受け、上記第2信号に応じて上記第1信
    号の時点を検出し、上記第1及び第2信号間の時間間隔
    を粗い分解能で表す第1データを記憶する第1タイム・
    トラップ回路と、 上記第1データに応じて上記第1及び第2信号を相対的
    に夫々遅延させ、所定の時間間隔以内の遅延第1信号及
    び遅延第2信号を発生する遅延制御手段と、 上記遅延第1信号を受け、上記遅延第2信号に応じて上
    記遅延第1信号の時点を検出し、上記遅延第1及び第2
    信号間の時間間隔を精細な分解能で表す第2データを記
    憶する第2タイム・トラップ回路とを具え、 上記第1及び第2データに応じて上記第1及び第2信号
    間の時間間隔を検出することを特徴とする時間間隔検出
    回路。
JP5045693A 1992-02-10 1993-02-10 時間間隔検出回路 Expired - Fee Related JPH0769442B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US834190 1992-02-10
US07/834,190 US5204678A (en) 1992-02-10 1992-02-10 Dual-ranked time-interval conversion circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0682573A true JPH0682573A (ja) 1994-03-22
JPH0769442B2 JPH0769442B2 (ja) 1995-07-31

Family

ID=25266334

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5045693A Expired - Fee Related JPH0769442B2 (ja) 1992-02-10 1993-02-10 時間間隔検出回路

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5204678A (ja)
EP (1) EP0555985A1 (ja)
JP (1) JPH0769442B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4821504A (en) * 1987-06-25 1989-04-18 Howa Machinery, Ltd. System for controlling displacement of carriage working machines
CN109725185A (zh) * 2019-02-01 2019-05-07 中电科仪器仪表有限公司 一种实现波形快速捕获的示波器及其运行方法

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6263290B1 (en) 1995-02-22 2001-07-17 Michael K. Williams Process and machine for signal waveform analysis
US5703838A (en) * 1996-02-16 1997-12-30 Lecroy Corporation Vernier delay line interpolator and coarse counter realignment
US5793709A (en) * 1996-04-19 1998-08-11 Xli Corporation Free loop interval timer and modulator
US5903522A (en) * 1996-04-19 1999-05-11 Oak Technology, Inc. Free loop interval timer and modulator
KR100539888B1 (ko) 1998-11-19 2006-03-22 삼성전자주식회사 무선단말기의휩안테나구조
US6177901B1 (en) 1999-02-03 2001-01-23 Li Pan High accuracy, high speed, low power analog-to-digital conversion method and circuit
US6377094B1 (en) 2002-03-25 2002-04-23 Oak Technology, Inc. Arbitrary waveform synthesizer using a free-running ring oscillator
US6501706B1 (en) * 2000-08-22 2002-12-31 Burnell G. West Time-to-digital converter
JP2006520169A (ja) * 2003-03-04 2006-08-31 タイムラブ コーポレーション クロックおよびデータの回復方法および回路
DE102005024648B4 (de) * 2005-05-25 2020-08-06 Infineon Technologies Ag Elektrische Schaltung zum Messen von Zeiten und Verfahren zum Messen von Zeiten
TWI339526B (en) * 2006-03-17 2011-03-21 Realtek Semiconductor Corp Image scaling method and related apparatus
WO2009026435A1 (en) * 2007-08-23 2009-02-26 Amherst Systems Associates, Inc. Waveform anomoly detection and notification systems and methods
US9479187B2 (en) * 2014-12-12 2016-10-25 Intel Corporation Predictive time-to-digital converter and method for providing a digital representation of a time interval
CN107241188B (zh) * 2017-06-02 2022-01-28 丁爱民 一种量子存储数据编解码方法、装置及系统
CN113835332B (zh) * 2021-09-29 2022-08-23 东南大学 一种高分辨率的两级时间数字转换器及转换方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3753111A (en) * 1971-07-09 1973-08-14 S Denbnovetsky Method for measuring time intervals and apparatus
US4468746A (en) * 1981-12-01 1984-08-28 Cincinnati Electronics Corporation Apparatus for determining interval between two events
US4439046A (en) * 1982-09-07 1984-03-27 Motorola Inc. Time interpolator
US4613951A (en) * 1984-10-11 1986-09-23 Hewlett-Packard Company Time interval measuring apparatus and method
US4879700A (en) * 1987-05-04 1989-11-07 Ball Corporation Method and apparatus for determining the time between two signals
GB8717173D0 (en) * 1987-07-21 1987-08-26 Logic Replacement Technology L Time measurement apparatus
US4998109A (en) * 1989-12-13 1991-03-05 Lechevalier Robert E Analog to digital conversion device by charge integration using delay-line time measurement

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4821504A (en) * 1987-06-25 1989-04-18 Howa Machinery, Ltd. System for controlling displacement of carriage working machines
CN109725185A (zh) * 2019-02-01 2019-05-07 中电科仪器仪表有限公司 一种实现波形快速捕获的示波器及其运行方法
CN109725185B (zh) * 2019-02-01 2021-10-08 中电科思仪科技股份有限公司 一种实现波形快速捕获的示波器及其运行方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0769442B2 (ja) 1995-07-31
US5204678A (en) 1993-04-20
EP0555985A1 (en) 1993-08-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0682573A (ja) 時間間隔検出回路
JP3553639B2 (ja) タイミング調整回路
US4345241A (en) Analog-to-digital conversion method and apparatus
US4303983A (en) Method and apparatus for measuring time
US7884748B2 (en) Ramp-based analog to digital converters
US6956422B2 (en) Generation and measurement of timing delays by digital phase error compensation
US6990613B2 (en) Test apparatus
JPH0854481A (ja) 時間間隔測定装置
JP2006333185A (ja) A/d変換回路、a/d変換器およびサンプリングクロックのスキュー調整方法
JP2907033B2 (ja) タイミング信号発生装置
JP4953714B2 (ja) エンコーダ出力の内挿方法及び内挿回路
JP5577232B2 (ja) 時間デジタル変換器
JP3810318B2 (ja) アナログデジタル変換装置
US5373292A (en) Integration type D-A/A-D Conversion apparatus capable of shortening conversion processing time
JP2024023650A (ja) A/d変換回路
RU2303803C2 (ru) Преобразователь время-код
RU2260830C1 (ru) Устройство для измерения интервала времени
JP2005354617A (ja) A/d変換器試験装置及びa/d変換器の生産方法
JP3285524B2 (ja) ビット誤り測定装置
WO2023033103A1 (ja) 逐次比較型a/dコンバータ
JPH05211442A (ja) アナログ・ディジタル変換器の試験方法
JP2712820B2 (ja) A―d変換回路試験装置
JP2002214305A (ja) Adコンバータ
JPH02119592A (ja) モータ速度制御装置
SU652570A2 (ru) Устройство дл централизованного контрол

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees