JPH0679742U - Vacuum deposition equipment - Google Patents

Vacuum deposition equipment

Info

Publication number
JPH0679742U
JPH0679742U JP2234893U JP2234893U JPH0679742U JP H0679742 U JPH0679742 U JP H0679742U JP 2234893 U JP2234893 U JP 2234893U JP 2234893 U JP2234893 U JP 2234893U JP H0679742 U JPH0679742 U JP H0679742U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
holding frame
sample holding
vapor deposition
door
attached
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2234893U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2591955Y2 (en
Inventor
重一 川口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP1993022348U priority Critical patent/JP2591955Y2/en
Publication of JPH0679742U publication Critical patent/JPH0679742U/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2591955Y2 publication Critical patent/JP2591955Y2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板の着脱、成膜室の掃除の容易な真空蒸着
装置を提供する。 【構成】 複数の電極棒を一列に並べるとともに、スリ
ット部を設けた試料保持枠に基板を装着することで、試
料保持枠の装置への着脱はこのスリットを通過するよう
に行うことで電極棒を取り外すことなく試料保持枠の着
脱を行えるようにする。
(57) [Abstract] [Purpose] To provide a vacuum vapor deposition apparatus which facilitates attachment / detachment of a substrate and cleaning of a film forming chamber. [Structure] By arranging a plurality of electrode rods in a line and mounting a substrate on a sample holding frame provided with a slit portion, attachment / detachment of the sample holding frame to / from the device is performed by passing through the slits. The sample holding frame can be attached and detached without removing.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、抵抗加熱型の真空蒸着装置に関する。 The present invention relates to a resistance heating type vacuum deposition apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

抵抗加熱方式による真空蒸着装置は、従来から各種分野での薄膜形成に利用さ れている。この装置では成膜室を高真空状態にしてから成膜工程を行うが、真空 引きに長い時間を要するので量産用装置などにおいては一回の成膜工程毎に多数 の基板を同時に成膜できるように工夫されている。 Vacuum evaporation systems using resistance heating have been used for thin film formation in various fields. In this device, the film formation process is performed after the film formation chamber is in a high vacuum state, but it takes a long time to evacuate, so in a mass production device, many substrates can be formed simultaneously in each film formation process. It is devised to be.

【0003】 一回の成膜工程毎に多数の基板を蒸着できるようにした真空蒸着装置の例とし て、たとえば、実公昭59−9006号にて開示されるものがある。この装置の 成膜室の斜視図を図5に、その断面図を図6に示す。An example of a vacuum vapor deposition apparatus capable of vapor-depositing a large number of substrates for each film forming step is disclosed in Japanese Utility Model Publication No. 59-9006, for example. FIG. 5 shows a perspective view of the film forming chamber of this apparatus, and FIG. 6 shows a sectional view thereof.

【0004】 図において、1は架台、2はチャンバ、3は扉、4は扉とチャンバを連結する ヒンジ、5は扉とチャンバで形成される成膜室、6は蒸着機構、7は扉に取り付 けられる底板、8と9はローラ、11はターンテーブル、12は電極、14は試 料保持枠、15と16は蒸発源、21は駆動円板、22はモータである。In the figure, 1 is a pedestal, 2 is a chamber, 3 is a door, 4 is a hinge connecting the door and the chamber, 5 is a film forming chamber formed by the door and the chamber, 6 is a vapor deposition mechanism, and 7 is a door. A bottom plate to be mounted, 8 and 9 are rollers, 11 is a turntable, 12 is an electrode, 14 is a sample holding frame, 15 and 16 are evaporation sources, 21 is a drive disk, and 22 is a motor.

【0005】 チャンバ2は架台1上に設置され、その開口部2aにはヒンジ4にて接続され る扉3の開口部3aが蝶着される。扉3はチャンバ2の左右両側に取り付けられ 、いずれの扉3もチャンバ2に接続できるようになっている。そして、いずれか 一方の扉(たとえば右側)3をチャンバ2に接続して閉じることで成膜室5が形 成される。成膜室5内はチャンバ2の側壁に設けられた排気口から図示しない真 空ポンプによって真空排気されて成膜室内が真空状態にされる。もう一方の扉3 (たとえば左側)はその間に基板の着脱ができるように大気解放されている。扉 3には蒸着機構6が設けられる。この蒸着機構6は片半面を扉3の底壁部3cの 上面に固着した円板状の底板7と、この底板7上に案内ローラ8、9を介して水 平旋回可能に支持したリング状のターンテーブル11の軸心中空部に位置させて 前記底板7上に固設した電極12と、この電極12に接続される電極棒12a、 12bを囲繞するようにして前記ターンテーブル11上に載置した角形の試料保 持枠14とからなる。電極棒12a、12bはそれぞれ2本ずつで対をなし、そ の間に張られた導電性のワイヤ15、16に蒸発源が取付けられる。ワイヤ自身 が蒸発源であってもよい。そして電極12には電力導入端子を介して電源が接続 される。基板は電極棒12a、12bの廻りを囲繞する試料保持枠14に、その 成膜面が蒸発源15、16に対向するように取り付けられる。The chamber 2 is installed on a pedestal 1, and an opening 3 a of a door 3 connected by a hinge 4 is hinged to the opening 2 a. The doors 3 are attached to both left and right sides of the chamber 2, and any of the doors 3 can be connected to the chamber 2. Then, one of the doors (for example, the right side) 3 is connected to the chamber 2 and closed to form the film forming chamber 5. The inside of the film forming chamber 5 is evacuated from an exhaust port provided on the side wall of the chamber 2 by a vacuum pump (not shown) to bring the film forming chamber into a vacuum state. The other door 3 (for example, the left side) is open to the atmosphere so that the substrate can be attached / detached therebetween. The door 3 is provided with a vapor deposition mechanism 6. The vapor deposition mechanism 6 has a disk-shaped bottom plate 7 whose one half surface is fixed to the upper surface of the bottom wall 3c of the door 3, and a ring-shaped support which is supported on the bottom plate 7 via guide rollers 8 and 9 so as to be horizontally rotatable. The turntable 11 is mounted on the turntable 11 so as to surround the electrode 12 fixedly placed on the bottom plate 7 in the hollow center of the turntable 11 and the electrode rods 12a and 12b connected to the electrode 12. And a rectangular sample holding frame 14 placed. The two electrode rods 12a and 12b form a pair, and the evaporation source is attached to the conductive wires 15 and 16 stretched between the electrode rods 12a and 12b. The wire itself may be the evaporation source. Then, a power source is connected to the electrode 12 via a power introduction terminal. The substrate is attached to the sample holding frame 14 surrounding the electrode rods 12a and 12b so that the film forming surface thereof faces the evaporation sources 15 and 16.

【0006】 駆動円板21はモータ22によって回転駆動され、この駆動円板21の下面に 突設した駆動ピン21aにより前記試料保持枠14の上面に突設した従動ピン1 4aを押圧してこの試料保持枠14を前記ターンテーブル11とともに旋回させ ることができるようになっている。The drive disk 21 is rotationally driven by a motor 22, and a drive pin 21 a protruding from the lower surface of the drive disk 21 presses a driven pin 14 a protruding from the upper surface of the sample holding frame 14. The sample holding frame 14 can be rotated together with the turntable 11.

【0007】 以上のような装置では、扉3を開いて蒸着機構6を外部に露呈した状態で扉3 に取り付けられた試料保持枠14に基板を載置し、基板載置完了後にこの扉3を チャンバ2に接続し、所定の圧力に真空排気した後に前記回転機構によって試料 保持枠14を回転しつつ、前記ワイヤ15、16に電流を流すことで蒸発源を加 熱し基板面に成膜するようにしていた。In the apparatus as described above, the substrate is placed on the sample holding frame 14 attached to the door 3 with the door 3 opened and the vapor deposition mechanism 6 exposed to the outside, and the door 3 is placed after the substrate placement is completed. Is connected to the chamber 2 and is evacuated to a predetermined pressure, and then the sample holder frame 14 is rotated by the rotating mechanism, and an electric current is passed through the wires 15 and 16 to heat the evaporation source to form a film on the substrate surface. Was doing.

【0008】[0008]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

しかしながら、上記のような蒸着装置では、次のような問題があった。 However, the vapor deposition apparatus as described above has the following problems.

【0009】 成膜工程を繰り返すことにより試料保持枠にも蒸着物質が付着し、やがてこれ が剥離して成膜室内の基板に付着するようになる。このような剥離片の基板付着 を防ぐには定期的に試料保持枠の掃除をしなければならず、掃除のため試料保持 枠を交換する必要がある。試料保持枠は、蒸着機構から取り外せるようにしてあ るが、その取り外し作業は非常に煩わしいものであった。すなわち、できるだけ 多数の基板を取り付けて一回の成膜工程ごとの処理枚数を増やすようにするため 、試料保持枠は可能な限り大きくしてある。ところが試料保持枠を大きくするに ともなって、取り外すときに試料保持枠が扉の壁面などに衝突しやすくなるため 、非常に取り外しが困難になった。特に、試料保持枠の内側に存在する棒状の電 極が取り外し作業の障害となる。したがって、通常はこの電極を取り外してから 試料保持枠を取り出し、洗浄済の新たな試料保持枠を取り付けた後で再び電極棒 を取り付けるようにしていた。By repeating the film forming process, the vapor deposition substance adheres also to the sample holding frame, and eventually this peels off and adheres to the substrate in the film forming chamber. In order to prevent such peeling pieces from adhering to the substrate, the sample holding frame must be regularly cleaned, and the sample holding frame must be replaced for cleaning. The sample holding frame was designed to be removable from the vapor deposition mechanism, but the removal work was extremely troublesome. That is, the sample holding frame is made as large as possible in order to attach as many substrates as possible and increase the number of substrates processed in each film forming process. However, as the sample holding frame became larger, it became easier for the sample holding frame to collide with the wall surface of the door during removal, making removal very difficult. In particular, the rod-shaped electrodes inside the sample holding frame hinder the removal work. Therefore, normally, after removing this electrode, the sample holding frame was taken out, a new washed sample holding frame was attached, and then the electrode rod was attached again.

【0010】 また、前回の成膜工程が終了後、次回の成膜のための基板の取り外し、取り付 け作業を行う際、試料保持枠を扉に接続したままの状態でこの作業をするのは、 作業者にとって作業性が悪いものであった。作業者は試料保持枠ごと取り外して 別の場所で作業したいのであるがそのためにはやはり電極棒を外さねばならず、 電極棒を取り外すか、扉に試料保持枠を付けたままで基板の着脱をするかのいず れかの煩わしい作業を行わねばならなかった。Further, after the previous film forming process is completed, when the substrate is removed and mounted for the next film formation, this work is performed with the sample holding frame still connected to the door. Has a poor workability for workers. The operator wants to remove the sample holding frame and work in a different place, but for that purpose the electrode rod must be removed, either by removing the electrode rod or by attaching or detaching the substrate with the sample holding frame attached to the door. I had to do some annoying work.

【0011】 本考案は上記のような問題を解消し、基板の脱着やメンテナンスの作業性が優 れた装置を提供することを目的とするものである。It is an object of the present invention to solve the above problems and to provide an apparatus having excellent workability for substrate attachment / detachment and maintenance.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

上記問題を解決するためになされた本考案の真空蒸着装置は、蒸着手段を囲繞 する試料保持枠が回転自在に設置され、この試料保持枠に載置される基板に成膜 を行う真空蒸着装置において、 前記蒸着手段の蒸発源に通電するための電極棒を一列状態に配置するとともに、 前記試料保持枠にはその一部にスリット部を設け、 試料保持枠を成膜室に着脱する際、前記スリット部の空間を一列状に揃列した電 極棒が通過できるようにしたことを特徴とする。 The vacuum vapor deposition apparatus of the present invention made to solve the above problem is a vacuum vapor deposition apparatus in which a sample holding frame surrounding the vapor deposition means is rotatably installed and a film is formed on a substrate placed on the sample holding frame. In, while arranging the electrode rods for energizing the evaporation source of the vapor deposition means in one row, the sample holding frame is provided with a slit portion in a part thereof, when the sample holding frame is attached to or detached from the film forming chamber, It is characterized in that the electrodes arranged in a line in the space of the slit portion can pass through.

【0013】 以下、この考案の真空蒸着装置がどのように作用するかを説明する。Hereinafter, how the vacuum vapor deposition device of the present invention works will be described.

【0014】[0014]

【作用】 本考案によれば、試料保持枠に設けられるスリット内を蒸着手段が通るように してこの試料保持枠を成膜室の所定の位置に装着する。したがって、成膜室の中 央に取り付けられている電極棒をいちいち取り外すことなく、この試料保持枠を 蒸着手段の廻りを囲繞するよう取り付けることができる。According to the present invention, the sample holding frame is mounted at a predetermined position in the film forming chamber such that the vapor deposition means passes through the slit provided in the sample holding frame. Therefore, the sample holding frame can be attached so as to surround the vapor deposition means without removing the electrode rod attached to the center of the film forming chamber.

【0015】[0015]

【実施例】【Example】

以下、本考案の実施例を図を用いて詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0016】 図1は本考案による真空蒸着装置の一実施例の斜視図であり、図2は試料保持 枠に丸型基板が載置された様子を示す図、図3は成膜室の要部についての斜視図 である。FIG. 1 is a perspective view of an embodiment of a vacuum evaporation apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a view showing a round substrate placed on a sample holding frame, and FIG. It is a perspective view about a part.

【0017】 これらの図において前記従来例と同じものは同符号を付してあるのでその説明 を省略する。この蒸着装置では、電極棒12a、12bは扉の開口部3aに対し 、ほぼ直角方向に一列に並べられる。すなわち、電極棒12a、12bは扉を開 けたとき正面から見ると奥に向かって一列に並ぶように配設される。In these figures, the same parts as those in the conventional example are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. In this vapor deposition device, the electrode rods 12a and 12b are arranged in a line in a direction substantially perpendicular to the opening 3a of the door. That is, the electrode rods 12a and 12b are arranged so as to be lined up in a row when viewed from the front when the door is opened.

【0018】 電極棒12aと12bとはそれぞれ2本ずつで対をなし、その間に張られた導 電性のワイヤ15、16に蒸発源15、16を載せる。あるいはワイヤ15、1 6そのものを蒸発源とする。このワイヤ15、16は電極棒12a、12bを介 して図示しない電源が接続される。The electrode rods 12a and 12b are paired with two each, and the evaporation sources 15 and 16 are placed on the conductive wires 15 and 16 stretched between them. Alternatively, the wires 15, 16 themselves are used as the evaporation source. A power source (not shown) is connected to the wires 15 and 16 via the electrode rods 12a and 12b.

【0019】 一方、試料保持枠14は、その外形がほぼ四角の角型の枠体形状をなし、四隅 のうち一隅にはスリット14aが設けられている。試料保持枠14の4側面には 、それぞれ複数の丸型基板が取り付けられるサブホルダ14bが止め具によって 固定される。On the other hand, the sample holding frame 14 has a rectangular frame shape whose outer shape is substantially square, and a slit 14a is provided at one of the four corners. Sub-holders 14b to which a plurality of round substrates are attached are fixed to the four side surfaces of the sample holding frame 14 by fasteners.

【0020】 次に本実施例の動作作用を説明する。予め、新しく真空蒸着装置に装着される 試料保持枠14に基板が取り付けられたサブホルダ14bを取り付けておく。こ の取り付け作業は作業性のよい別の場所で行う。そして、基板を取り付ける側の 扉3(図1では右側の扉)を全開して開口部3aが作業者の正面に来るようにす る。このとき、電極棒12a、12bは作業者に対して縦方向に一列に並んでい る。作業者は新しい試料保持枠14を、試料保持枠14に設けたスリット14a を前方にして持ち、一列に並んだ電極棒12a、12bがスリット14a内を通 過するようにしてターンテーブル11上に載せる。このとき、ターンテーブル1 1に位置決め孔22を設けておき、この孔に挿入される位置決めピン21を試料 保持枠14側に設けておけば、正確な位置決めができるので各成膜工程ごとの再 現性がよくなる。成膜終了後も同様にスリット14a内を電極12a、12bが 通過するようにして試料保持枠14を取り外す。このようにすることで作業者は 、いちいち電極棒12a、12bを取り外すことなく新しい保持枠14を真空蒸 着装置に着脱することが可能になる。Next, the operation and operation of this embodiment will be described. In advance, the sub-holder 14b with the substrate attached is attached to the sample holding frame 14 which is newly attached to the vacuum vapor deposition apparatus. This work should be done in another place with good workability. Then, the door 3 on the side where the board is mounted (the door on the right side in FIG. 1) is fully opened so that the opening 3a comes to the front of the operator. At this time, the electrode rods 12a and 12b are aligned in a line in the vertical direction with respect to the operator. The operator holds a new sample holding frame 14 with the slit 14a provided in the sample holding frame 14 on the front side, and the electrode rods 12a and 12b arranged in a row pass through the slit 14a so that they are placed on the turntable 11. Put. At this time, if the positioning hole 22 is provided in the turntable 11 and the positioning pin 21 to be inserted into this hole is provided on the sample holding frame 14 side, accurate positioning can be performed, so that it is possible to reposition each film forming process. Reality improves. Similarly, after the film formation is completed, the sample holding frame 14 is removed so that the electrodes 12a and 12b pass through the slit 14a. By doing so, the operator can attach / detach the new holding frame 14 to / from the vacuum evaporation apparatus without removing the electrode rods 12a and 12b.

【0021】 なお、本実施例では試料保持枠の脱着を作業者の手作業ですることとしたがこ れをロボットを使用した自動作業としてもよい。図4にロボットを使用した自動 作業のときの試料保持枠14の流れの様子を示す。この例では、複数の試料保持 枠14へのサブホルダ装着は前工程で行う。サブホルダが装着された試料保持枠 14は供給コンベア31に載せられてロボット32の横に運ばれる。このとき試 料保持枠14のスリット部14aは、すべて同じ方向に揃えられて搬送される。 ロボット32は、試料保持枠14をつかんで扉3に取り付ける。このとき試料保 持枠14はスリット部14a内を電極棒12a、12bが通過するようにして移 動され、ターンテーブル11上に載せられる。そして、扉3がチャンバ2に接続 され、所定の成膜工程が行われる。その後再び、扉3が開かれ、ロボット32に よって排出コンベア33に載せられ、次の工程に運ばれる。In this embodiment, the sample holding frame is detached and attached manually by an operator, but this may be an automatic operation using a robot. FIG. 4 shows the flow of the sample holding frame 14 during automatic work using a robot. In this example, the sub-holders are attached to the plurality of sample holding frames 14 in the previous step. The sample holding frame 14 to which the sub holder is attached is placed on the supply conveyor 31 and carried to the side of the robot 32. At this time, the slit portions 14a of the sample holding frame 14 are all aligned and conveyed in the same direction. The robot 32 holds the sample holding frame 14 and attaches it to the door 3. At this time, the sample holding frame 14 is moved so that the electrode rods 12a and 12b pass through the inside of the slit portion 14a, and is placed on the turntable 11. Then, the door 3 is connected to the chamber 2 and a predetermined film forming process is performed. After that, the door 3 is opened again, and the robot 32 places it on the discharge conveyor 33 and carries it to the next step.

【0022】 本実施例では試料保持枠が四角形状としたがこれに限るものではなく、円筒形 や多角形にスリット部を設けたものであってもよい。In this embodiment, the sample holding frame has a quadrangular shape, but the sample holding frame is not limited to this, and may have a cylindrical or polygonal slit portion.

【0023】 また、本実施例では基板はサブホルダに取り付け、サブホルダを介して試料保 持枠に着脱されるものとしたが、基板を直接試料保持枠自身に着脱されるもので あってもよい。サブホルダを用いないときはたとえば試料保持枠の枠間にワイヤ を張り、これに基板をクリップにて吊り下げるようにすれば基板着脱を容易に行 うことができる。Further, in the present embodiment, the substrate is attached to the sub-holder and is attached / detached to / from the sample holding frame via the sub-holder, but the substrate may be directly attached / detached to / from the sample holding frame itself. When the sub holder is not used, for example, a wire can be attached between the frames of the sample holding frame and the substrate can be hung by a clip to easily attach and detach the substrate.

【0024】 さらに、本実施例は2つの扉を持ち、それぞれの扉に蒸着機構を持つようにし たが、これに限らず、1つの扉だけのものであっても、またこの蒸着機構を扉側 に設けるのではなく、チャンバ側に設けるものでもよい。Further, in this embodiment, two doors are provided and each door has a vapor deposition mechanism. However, the present invention is not limited to this, and even if only one door is provided, this vapor deposition mechanism can be used as a door. It may be provided on the chamber side instead of on the side.

【0025】[0025]

【考案の効果】[Effect of device]

以上、説明したように本考案によれば、一列に並んだ電極棒を設け、またスリ ットを設けた試料保持枠を使用することにより、いちいち電極棒を取り外す必要 なく、基板の取付け、取り外しができるようになる。また、この発明により、試 料保持枠のロボットによる着脱が容易になり、作業能率が向上する。 As described above, according to the present invention, by providing the electrode rods arranged in a line and using the sample holding frame provided with the slits, it is possible to attach and detach the substrate without removing the electrode rods one by one. Will be able to. Further, according to the present invention, the sample holding frame can be easily attached and detached by the robot, and the work efficiency is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案の一実施例である真空蒸着装置の斜視
図。
FIG. 1 is a perspective view of a vacuum vapor deposition apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の装置において試料保持枠に丸型基板を載
置したときの図。
FIG. 2 is a diagram when a round substrate is placed on a sample holding frame in the apparatus of FIG.

【図3】図1の装置の要部を示す斜視図。FIG. 3 is a perspective view showing a main part of the apparatus shown in FIG.

【図4】本考案をロボットによる自動作業に実施したと
きの試料保持枠の流れを示す図。
FIG. 4 is a view showing a flow of a sample holding frame when the present invention is applied to an automatic work by a robot.

【図5】従来よりの真空蒸着装置の斜視図。FIG. 5 is a perspective view of a conventional vacuum vapor deposition device.

【図6】図4の従来装置で扉を閉じたときの断面図。6 is a cross-sectional view of the conventional device of FIG. 4 when the door is closed.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2:チャンバ 3:扉 6:蒸着機構 11:ターンテーブル 12:電極 12a、12b:電極棒 14:試料保持枠 14a:スリット部 14b:サブホルダ 15、16:ワイヤ(蒸着源) 21:駆動円板 2: Chamber 3: Door 6: Vapor deposition mechanism 11: Turntable 12: Electrodes 12a, 12b: Electrode rod 14: Sample holding frame 14a: Slit portion 14b: Sub-holder 15, 16: Wire (vapor deposition source) 21: Driving disk

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】蒸着手段を囲繞する試料保持枠が回転自在
に設置され、この試料保持枠に載置される基板に成膜を
行う真空蒸着装置において、 前記蒸着手段の蒸発源に通電するための電極棒を一列状
態に配置するとともに、前記試料保持枠にはその一部に
スリット部を設け、 試料保持枠を成膜室に着脱する際、前記スリット部の空
間を一列状に揃列した電極棒が通過できるようにしたこ
とを特徴とする真空蒸着装置。
1. A vacuum vapor deposition apparatus in which a sample holding frame surrounding the vapor deposition means is rotatably installed and a film is formed on a substrate placed on the sample holding frame, in order to energize an evaporation source of the vapor deposition means. The electrode rods are arranged in a line, and the sample holding frame is provided with a slit portion in a part thereof, and when the sample holding frame is attached to or detached from the film forming chamber, the spaces of the slit portions are arranged in a line. A vacuum vapor deposition device characterized in that the electrode rod can pass through.
JP1993022348U 1993-04-27 1993-04-27 Vacuum deposition equipment Expired - Lifetime JP2591955Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1993022348U JP2591955Y2 (en) 1993-04-27 1993-04-27 Vacuum deposition equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1993022348U JP2591955Y2 (en) 1993-04-27 1993-04-27 Vacuum deposition equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0679742U true JPH0679742U (en) 1994-11-08
JP2591955Y2 JP2591955Y2 (en) 1999-03-10

Family

ID=12080169

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1993022348U Expired - Lifetime JP2591955Y2 (en) 1993-04-27 1993-04-27 Vacuum deposition equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2591955Y2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JP2591955Y2 (en) 1999-03-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111041444B (en) Vacuum coating fixture and vacuum coating equipment
JPH05270997A (en) Atomic layer epitaxial device and atomic layer epitaxy
JPH0679742U (en) Vacuum deposition equipment
CN218812073U (en) Deposition equipment
JP4403882B2 (en) Deposition system
JP4098283B2 (en) Sputtering equipment
JPH0959776A (en) Sputtering method and substrate holder
JPS60113428A (en) Manufacturing equipment of semiconductor
KR0148384B1 (en) Vertical heat-treating apparatus
JP3358522B2 (en) Aging method and apparatus for plasma display panel
JP3602372B2 (en) Vacuum processing equipment
CN215404490U (en) Vacuum coating equipment
JP3756237B2 (en) Thin foil holding device and hanging thin foil holding device
JP3928272B2 (en) Surface treatment equipment
JPH07138746A (en) Thin film producing apparatus
JPH02112255A (en) Wafer loading mechanism
JPS6171622A (en) Plasma discharge processing apparatus
JP2561322Y2 (en) Work rotating device in surface treatment equipment
JPS63141344A (en) Clean wafer case of sheet type
JPS5921090A (en) Rotary depositing device
JP2596367B2 (en) Sputtering equipment
JP2000124285A (en) Auto-loader and substrate processor using the same
JPH0288765A (en) Vacuum treating device
JP2556297B2 (en) Plasma vapor deposition equipment
JPS60124815A (en) Attaching and detaching device for substrate holder of vacuum processing device