JPH0676885B2 - シヤツタ異常検出装置 - Google Patents
シヤツタ異常検出装置Info
- Publication number
- JPH0676885B2 JPH0676885B2 JP60184947A JP18494785A JPH0676885B2 JP H0676885 B2 JPH0676885 B2 JP H0676885B2 JP 60184947 A JP60184947 A JP 60184947A JP 18494785 A JP18494785 A JP 18494785A JP H0676885 B2 JPH0676885 B2 JP H0676885B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shutter
- level
- abnormality
- radiation
- period
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は放射線厚み計などの放射線計測装置における放
射線源容器のシャッタ動作異常を検出するシャッタ異常
検出装置の改良に関する。
射線源容器のシャッタ動作異常を検出するシャッタ異常
検出装置の改良に関する。
第５図は放射線厚み計に適用した従来のシャッタ異常検
出装置の構成図である。放射線源１を収納した線源容器
２と放射線検出器３とは対向配置され、これら放射線源
１と放射線源検出器３との間に被測定物（不図示）が設
置される。放射線検出器３は入射した放射線量に応じた
レベルの検出信号Viを出力し、この検出信号ViがA/D
（アナログ−ディジタル）変換器４よりディジタル検出
信号に変換されて厚み演算部５に送られ、この厚み演算
部５によって被測定物の厚みが演算し求められる。
出装置の構成図である。放射線源１を収納した線源容器
２と放射線検出器３とは対向配置され、これら放射線源
１と放射線源検出器３との間に被測定物（不図示）が設
置される。放射線検出器３は入射した放射線量に応じた
レベルの検出信号Viを出力し、この検出信号ViがA/D
（アナログ−ディジタル）変換器４よりディジタル検出
信号に変換されて厚み演算部５に送られ、この厚み演算
部５によって被測定物の厚みが演算し求められる。
ところで、線源容器２は厚み計測時にのみシャッタ６に
より完全に開状態となっている。つまり、開閉スイッチ
７の操作よりシャッタ開指令がシャッタ開閉シーケンス
８に送られると、このシャッタ開閉シーケンス８からシ
ャッタ開信号がソレノイド９に送出され、これによりシ
ャッタ６が開いて放射線を放射する。さて、このシャッ
タ６の開閉動作は特に人体等に対して危険性があるため
マイクロスイッチ（不図示）により検出されているが、
安全性をより向上するために放射線検出器３から出力さ
れる検出信号Viのレベルを測定してシャッタ６の動作異
常を検出している。つまり、検出信号ViはA/D変換器10
によりディジタル検出信号に変換されてシャッタ異常演
算部11に送られる。そこで、このシャッタ異常演算部11
は第６図に示すシャッタ異常検出フローチャートに従っ
て例えば10ms毎にシャッタ動作異常を検出する。すなわ
ち、シャッタ開閉シーケンス８からシャッタ閉信号を取
込んだ時から内部カウンタのカウントを開始する。な
お、シャッタ閉信号が取込まれていなければカウンタの
カウント値ｎを「０」にクリアする。そして、シャッタ
６により完全に閉状態となるには約２秒要するので、こ
の期間に相当するカウント値Nsまで内部カウンタをカウ
ントさせる。そうしてカウント値がNsに達するとディジ
タル検出信号を取込んで検出信号Viのレベルと予め設定
されたシャッタ閉状態に対応する放射線量を示す判定レ
ベルEsとを比較してVi＞Esならば放射線量が多くシャッ
タ６が完全に閉状態となっていないと判断してアラーム
ランプ12を点灯させる。もしVi＜Esならばアラームラン
プ12は点灯しない。
より完全に開状態となっている。つまり、開閉スイッチ
７の操作よりシャッタ開指令がシャッタ開閉シーケンス
８に送られると、このシャッタ開閉シーケンス８からシ
ャッタ開信号がソレノイド９に送出され、これによりシ
ャッタ６が開いて放射線を放射する。さて、このシャッ
タ６の開閉動作は特に人体等に対して危険性があるため
マイクロスイッチ（不図示）により検出されているが、
安全性をより向上するために放射線検出器３から出力さ
れる検出信号Viのレベルを測定してシャッタ６の動作異
常を検出している。つまり、検出信号ViはA/D変換器10
によりディジタル検出信号に変換されてシャッタ異常演
算部11に送られる。そこで、このシャッタ異常演算部11
は第６図に示すシャッタ異常検出フローチャートに従っ
て例えば10ms毎にシャッタ動作異常を検出する。すなわ
ち、シャッタ開閉シーケンス８からシャッタ閉信号を取
込んだ時から内部カウンタのカウントを開始する。な
お、シャッタ閉信号が取込まれていなければカウンタの
カウント値ｎを「０」にクリアする。そして、シャッタ
６により完全に閉状態となるには約２秒要するので、こ
の期間に相当するカウント値Nsまで内部カウンタをカウ
ントさせる。そうしてカウント値がNsに達するとディジ
タル検出信号を取込んで検出信号Viのレベルと予め設定
されたシャッタ閉状態に対応する放射線量を示す判定レ
ベルEsとを比較してVi＞Esならば放射線量が多くシャッ
タ６が完全に閉状態となっていないと判断してアラーム
ランプ12を点灯させる。もしVi＜Esならばアラームラン
プ12は点灯しない。
しかしながら上記装置ではただ単に検出信号Viのレベル
と判定レベルEsとを比較しているだけなので、第７図に
示すようにノイズＺが混入してこのノイズＺが判定レベ
ルEs以上となると、これによりアラームランプ12が点灯
してしまう。このため、シャッタ６が正常に動作してい
るにも係わらずシャッタ動作異常と判断されてしまう。
と判定レベルEsとを比較しているだけなので、第７図に
示すようにノイズＺが混入してこのノイズＺが判定レベ
ルEs以上となると、これによりアラームランプ12が点灯
してしまう。このため、シャッタ６が正常に動作してい
るにも係わらずシャッタ動作異常と判断されてしまう。
本発明は上記実情に基づいてなされたもので、その目的
とするところは、ノイズの影響を受けずにシャッタ異常
動作のみ確実に検出し得るシャッタ異常検出装置を提供
することにある。
とするところは、ノイズの影響を受けずにシャッタ異常
動作のみ確実に検出し得るシャッタ異常検出装置を提供
することにある。
本発明は、放射線検出器から出力される検出信号レベル
がシャッタ閉状態に対応する判定レベル以上かをレベル
判断手段により判断し、この判定レベル以上の判断が所
定期間以上連続するかを期間判定手段により判断してこ
の所定期間以上であればシャッタ異常判断手段によりシ
ャッタ動作異常と判断するシャッタ異常検出装置であ
る。
がシャッタ閉状態に対応する判定レベル以上かをレベル
判断手段により判断し、この判定レベル以上の判断が所
定期間以上連続するかを期間判定手段により判断してこ
の所定期間以上であればシャッタ異常判断手段によりシ
ャッタ動作異常と判断するシャッタ異常検出装置であ
る。
以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。なお、第５図と同一部分には同一符号を付してその
詳しい説明は省略する。第１図は放射線厚み計に適用し
たシャッタ異常検出装置の構成図である。同図において
20はシャッタ異常演算部であって、これは線源容器２の
シャッタ閉信号送出時から放射線検出器３から出力され
る検出信号Viのレベルがシャッタ６の閉状態と対応する
判定レベルEs以上かを判断するレベル判断機能と、この
レベル判断機能により検出信号Viのレベルが判定レベル
Es以上と判断する期間が所定期間（例えば10sec）以上
連続するかを判断する期間判定機能と、この期間判断機
能により所定期間以上と判断された場合にシャッタ動作
が異常と判断するシャッタ異常判断機能との各機能をも
ったものである。具体的な構成は、CPU（中央処理装
置）21にバス22を介してRAM（ランダム・アクセス・メ
モリ）23、ROM（リード・オンリ・メモリ）24、A/D変換
器10と接続されたI/O（インプット・アウトプット）ボ
ート25、シャッタ開閉シーケンス８からのシャッタ閉信
号を取込むためのデータ入力ポート（Di）26およびアラ
ーム駆動回路27と接続されたデータ出力ポート（Do）28
が接続されたものとなっている。ROM24には、前記各機
能を実行するための第２図に示すシャッタ異常検出フロ
ーチャートのプログラムが記憶されている。28はアラー
ムランプである。
る。なお、第５図と同一部分には同一符号を付してその
詳しい説明は省略する。第１図は放射線厚み計に適用し
たシャッタ異常検出装置の構成図である。同図において
20はシャッタ異常演算部であって、これは線源容器２の
シャッタ閉信号送出時から放射線検出器３から出力され
る検出信号Viのレベルがシャッタ６の閉状態と対応する
判定レベルEs以上かを判断するレベル判断機能と、この
レベル判断機能により検出信号Viのレベルが判定レベル
Es以上と判断する期間が所定期間（例えば10sec）以上
連続するかを判断する期間判定機能と、この期間判断機
能により所定期間以上と判断された場合にシャッタ動作
が異常と判断するシャッタ異常判断機能との各機能をも
ったものである。具体的な構成は、CPU（中央処理装
置）21にバス22を介してRAM（ランダム・アクセス・メ
モリ）23、ROM（リード・オンリ・メモリ）24、A/D変換
器10と接続されたI/O（インプット・アウトプット）ボ
ート25、シャッタ開閉シーケンス８からのシャッタ閉信
号を取込むためのデータ入力ポート（Di）26およびアラ
ーム駆動回路27と接続されたデータ出力ポート（Do）28
が接続されたものとなっている。ROM24には、前記各機
能を実行するための第２図に示すシャッタ異常検出フロ
ーチャートのプログラムが記憶されている。28はアラー
ムランプである。
次に上記の如く構成された装置の特にシャッタ異常検出
の作用について説明する。開閉スイッチ７の操作により
シャッタ閉指令がシャッタ開閉シーケンス８に送られる
と、このシャッタ開閉シーケンス８からシャッタ閉信号
がソレノイド９およびシャッタ異常演算部20に送出され
る。これによりシャッタ６がソレノイド９の作用により
線源容器２を閉状態にするように作動する。これと同時
にシャッタ異常演算部20のCPU21はシャッタ開信号を受
けてROM24に記憶されたシャッタ異常検出プログラムを
読出して第２図に示すフローチャートに従って10ms毎に
シャッタ異常動作検出を実行する。ここで、シャッタ閉
信号の取込み時刻が第３図に示すようにt1であると、こ
の時刻t1からディジタル検出信号をI/Oポート25を介し
て取込んでこれをRAM23に一時記憶する。そして、この
ディジタル検出信号を読み出すとともにROM24に記憶さ
れた判定レベルEsとを比較してVi＜Esならば内部カウン
タをクリアして「０」としてアラームランプ29の消灯指
令をアラーム駆動回路27に送出する。ところが検出信号
Viのレベルが第３図に示すVi−１のようにVi−１＞Esと
判断されると、この判断時t1から内部カウントをカウン
ト動作させる。そして、Vi−１＞Esの判断が所定期間10
秒連続すると、つまりカウント値ｎが10秒に相当するカ
ウント値Qsに達すると、この時刻t2にアラームランプ29
の点灯指令が発せられる。したがって、Vi−１＞Esの期
間が10秒間連続すればアラームランプ29が点灯される。
この後、、Vi−１＜Esとなるとこの時刻t3においてカウ
ント値がクリアされるとともにアラームランプ29が消灯
される。
の作用について説明する。開閉スイッチ７の操作により
シャッタ閉指令がシャッタ開閉シーケンス８に送られる
と、このシャッタ開閉シーケンス８からシャッタ閉信号
がソレノイド９およびシャッタ異常演算部20に送出され
る。これによりシャッタ６がソレノイド９の作用により
線源容器２を閉状態にするように作動する。これと同時
にシャッタ異常演算部20のCPU21はシャッタ開信号を受
けてROM24に記憶されたシャッタ異常検出プログラムを
読出して第２図に示すフローチャートに従って10ms毎に
シャッタ異常動作検出を実行する。ここで、シャッタ閉
信号の取込み時刻が第３図に示すようにt1であると、こ
の時刻t1からディジタル検出信号をI/Oポート25を介し
て取込んでこれをRAM23に一時記憶する。そして、この
ディジタル検出信号を読み出すとともにROM24に記憶さ
れた判定レベルEsとを比較してVi＜Esならば内部カウン
タをクリアして「０」としてアラームランプ29の消灯指
令をアラーム駆動回路27に送出する。ところが検出信号
Viのレベルが第３図に示すVi−１のようにVi−１＞Esと
判断されると、この判断時t1から内部カウントをカウン
ト動作させる。そして、Vi−１＞Esの判断が所定期間10
秒連続すると、つまりカウント値ｎが10秒に相当するカ
ウント値Qsに達すると、この時刻t2にアラームランプ29
の点灯指令が発せられる。したがって、Vi−１＞Esの期
間が10秒間連続すればアラームランプ29が点灯される。
この後、、Vi−１＜Esとなるとこの時刻t3においてカウ
ント値がクリアされるとともにアラームランプ29が消灯
される。
このように上記一実施例においては、放射線検出器３か
ら出力される検出信号Viのレベルがシャッタ閉状態を示
す判定レベルEs以上かをレベル判断機能により判断し、
この判定レベルEs以上の判断が所定期間（10秒）以上連
続するかを期間判定機能により判断してこの所定期間以
上であればシャッタ異常判断機能によりシャッタ動作異
常と判断してアラームランプ29を点灯する構成としたの
で、シャッタ６により完全に閉状態とならないシャッタ
動作異常のみを確実にかつ安定して検出できこれを報知
することができる。よって、第３図に示すようにノイズ
の混入した検出信号Vi−２であっても、ノイズは所帯期
間連続して判定レベルEs以上とはならないためにノイズ
によりシャッタ異常検出動作が影響を受けることは全く
ない。したがって、判定レベルEsを低下することが可能
となり高精度でシャッタ動作異常を検出することができ
る。また、シャッタ閉信号の送出からシャッタ６により
閉状態となるまで期間とその後の状態を内部カウンタ１
つでカウントすることができ処理が簡単となる。
ら出力される検出信号Viのレベルがシャッタ閉状態を示
す判定レベルEs以上かをレベル判断機能により判断し、
この判定レベルEs以上の判断が所定期間（10秒）以上連
続するかを期間判定機能により判断してこの所定期間以
上であればシャッタ異常判断機能によりシャッタ動作異
常と判断してアラームランプ29を点灯する構成としたの
で、シャッタ６により完全に閉状態とならないシャッタ
動作異常のみを確実にかつ安定して検出できこれを報知
することができる。よって、第３図に示すようにノイズ
の混入した検出信号Vi−２であっても、ノイズは所帯期
間連続して判定レベルEs以上とはならないためにノイズ
によりシャッタ異常検出動作が影響を受けることは全く
ない。したがって、判定レベルEsを低下することが可能
となり高精度でシャッタ動作異常を検出することができ
る。また、シャッタ閉信号の送出からシャッタ６により
閉状態となるまで期間とその後の状態を内部カウンタ１
つでカウントすることができ処理が簡単となる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものではなく
その主旨を逸脱しない範囲で変形することが可能であ
る。例えば、カウント値Qs以上の時すべてアラームラン
プ29を点灯するために第４図に示すようなフローチャー
トに変更してもよい。さらに、A/D変換器４と10および
厚み演算部５とシャッタ異常演算部20を同一のA/D変換
器と演算部に構成してもよい。これは厚み演算部５がシ
ャッタ６の開状態にのみ動作するものであり、一方シャ
ッタ異常演算部20がシャッタ６の閉状態にのみ動作する
ものだからである。
その主旨を逸脱しない範囲で変形することが可能であ
る。例えば、カウント値Qs以上の時すべてアラームラン
プ29を点灯するために第４図に示すようなフローチャー
トに変更してもよい。さらに、A/D変換器４と10および
厚み演算部５とシャッタ異常演算部20を同一のA/D変換
器と演算部に構成してもよい。これは厚み演算部５がシ
ャッタ６の開状態にのみ動作するものであり、一方シャ
ッタ異常演算部20がシャッタ６の閉状態にのみ動作する
ものだからである。
以上詳記したように本発明によれば、ノイズの影響を受
けずにシャッタ異常動作のみ確実に検出し得るシャッタ
異常検出装置を提供できる。
けずにシャッタ異常動作のみ確実に検出し得るシャッタ
異常検出装置を提供できる。
第１図は本発明に係わるシャッタ異常検出装置を放射線
厚み計に適用した場合の一実施例を示す構成図、第２図
は本発明装置のシャッタ異常検出フローチャート、第３
図は本発明装置のシャッタ異常検出動作を説明するため
の図、第４図は本発明装置の変形例を示すシャッタ異常
検出フローチャートの一部を示す図、第５図は従来装置
の構成図、第６図は従来のシャッタ異常検出フローチャ
ート、第７図は従来のシャッタ異常検出動作を説明する
ための図である。 １……放射線源、２……線源容器、３……放射線検出
器、６……シャッタ、７……開閉スイッチ、８……シャ
ッタ開閉シーケンス、９……ソレノイド、20……シャッ
タ異常演算部、27……アラーム駆動回路、29……アラー
ムランプ。
厚み計に適用した場合の一実施例を示す構成図、第２図
は本発明装置のシャッタ異常検出フローチャート、第３
図は本発明装置のシャッタ異常検出動作を説明するため
の図、第４図は本発明装置の変形例を示すシャッタ異常
検出フローチャートの一部を示す図、第５図は従来装置
の構成図、第６図は従来のシャッタ異常検出フローチャ
ート、第７図は従来のシャッタ異常検出動作を説明する
ための図である。 １……放射線源、２……線源容器、３……放射線検出
器、６……シャッタ、７……開閉スイッチ、８……シャ
ッタ開閉シーケンス、９……ソレノイド、20……シャッ
タ異常演算部、27……アラーム駆動回路、29……アラー
ムランプ。
Claims (1)
- 【請求項１】線源容器に収納された放射線源から放射さ
れ被測定物を通過してくる放射線量を放射線検出器によ
り検出して厚さ等を測定する放射線計測装置において、
前記線源容器のシャッタ閉信号送出時から前記放射線検
出器から出力される検出信号レベルが前記シャッタ閉状
態に対応する判定レベル以上かを判断するレベル判断手
段と、このレベル判断手段により前記検出信号レベルの
前記判定レベル以上と判断される期間が所定期間以上連
続するかを判断する期間判定手段と、この期間判断手段
により前記所定期間以上と判断された場合に前記シャッ
タ動作が異常と判断するシャッタ異常判断手段とを具備
したことを特徴とするシャッタ異常検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60184947A JPH0676885B2 (ja) | 1985-08-22 | 1985-08-22 | シヤツタ異常検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60184947A JPH0676885B2 (ja) | 1985-08-22 | 1985-08-22 | シヤツタ異常検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6244616A JPS6244616A (ja) | 1987-02-26 |
| JPH0676885B2 true JPH0676885B2 (ja) | 1994-09-28 |
Family
ID=16162135
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60184947A Expired - Lifetime JPH0676885B2 (ja) | 1985-08-22 | 1985-08-22 | シヤツタ異常検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0676885B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023190743A1 (ja) * | 2022-03-30 | 2023-10-05 | 横河電機株式会社 | 測定装置及び制御方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7001084B2 (ja) * | 2018-11-28 | 2022-01-19 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 異常監視機能付き放射線式厚さ計および放射線式厚さ計の異常監視方法 |
| JP6983966B1 (ja) * | 2020-09-16 | 2021-12-17 | 株式会社東芝 | 厚み測定装置 |
-
1985
- 1985-08-22 JP JP60184947A patent/JPH0676885B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023190743A1 (ja) * | 2022-03-30 | 2023-10-05 | 横河電機株式会社 | 測定装置及び制御方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6244616A (ja) | 1987-02-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |