JPH0670685B2 - 光フアイバ信号試験装置 - Google Patents

光フアイバ信号試験装置

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JPH0670685B2
JPH0670685B2 JP62012635A JP1263587A JPH0670685B2 JP H0670685 B2 JPH0670685 B2 JP H0670685B2 JP 62012635 A JP62012635 A JP 62012635A JP 1263587 A JP1263587 A JP 1263587A JP H0670685 B2 JPH0670685 B2 JP H0670685B2
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Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、光ファイバシステム内における信号の有無を
非破壊的に検出するための装置に関する。
(公知技術の説明) 光ファイバは、業界において一般的に周知のものであ
り、一般に、適切なガラス又はプラスチック材料からで
きた透光性のコアを有するものであり、該コアは、コア
の屈折率より小さい屈折率を持つ円筒形クラディング内
に包含されている。プラスチック製の外装若しくは被覆
はファイバ外面を保護する。光信号をファイバの一端に
集光した場合、ファイバコアは導波路として働き、比較
的小さな内部での強度損失及び無視できる程度での、ク
ラディングへの信号伝達でもって、光信号を、コアを通
して伝達又は伝搬する。このようなタイプの光ファイバ
にとっての重要な特徴とは、ファイバ内にある徐々のね
じれ若しくは曲げは、光信号の伝達に大して、ほとんど
影響を及ぼさないということである。光ファイバケーブ
ルは、単一のファイバ又は多くの光ファイバから成るも
のである。各ファイバは、(その各々が持つ)信号を完
全に収容して伝達することにより、また実質的には、外
部に光エネルギーを輻射しないことにより、動作上、独
立した光導波路である。
ファイバー光学システムを設備及び/又は修理するにあ
たって、ファイバに光信号が存在するか否かを検出する
ことができるようにすることが必要である。このこと
は、ワイヤ内の電流を検出して、どの回路が“生きて”
いるかを調べることと似ている。このような必要性は当
然ながら、ファイバの一終端にアクセスすることによ
り、満足されうる。しかしながら、ファイバの中間位置
では、端部分が得られず、然れどもファイバを切断し
て、光の案内状態を調べるのも望ましくない。したがっ
て、信号を検出するための、非破壊的な手段が明らかに
望まれる。
光ファイバにおける信号検出のための種々の手段が提案
されている。米国特許第3884585号は、ファイバー光学
ケーブル束中の破損したファイバ若しくはフィラメント
を検出するための方法について開示している。この方法
では、ファイバを束から1つ1つ取りはずして、試験固
定代に配置し、そこで、1本のファイバの一端を光源で
照射し、受光側のケーブル端面から出力される、伝達光
を増幅する。破損したファイバ面を残留バックグラウン
ドから弁別するため、第2の光源が、受光側のケーブル
端面を照射するのに使用される。
米国特許第4288161号では、別のタイプの光学プローブ
について記述してある。フォーテスキュー(Fortescu
e)の装置は、ファイバー光学ケーブルからの一時的で
反復性のある光信号を検出し、さらに音声の又は光度計
の出力信号を設けており、それにより、モニタリングの
能力を提供していることになる。
数ミリメータ程度の周期を持つ短いベンド(曲げ)であ
る、マイクロベンドが、伝搬光信号の減衰を生じさせる
ということもまた理解されていることであろう。このよ
うな減衰は、信号の一部が、ファイバコアからクラディ
ングに散乱した結果である。あるいくつかの適用例にお
いて、この減衰現象は、有用な特徴となる。例えば米国
特許第4253727号は、光学カップラ(結合器)について
開示している。このカップラは1つ又は1つ以上のマイ
クロベンドをファイバ中に誘起させ、光信号の一部をそ
こから取り出したり、又は、付加的な光信号をそこから
ファイバ内に入力させたりするものである。
光ファイバにおけるマイクロベンディングの概念をま
た、変換機構としても提案されている。本願において、
マイクロベンディングはファイバを通過する光信号に、
検出可能な程度の減衰を引き起こし、その減衰度は圧力
および光度を表すようになっている。該変換機構は、物
理的構造に作用する前記圧力を関知し、定量化する。マ
イクロベンド圧力変換器については、フィールズ(Fiel
ds)等著“ファイバ オプティック プレッシャーセン
サ(Fiber Optic Pressure Sensor)”ジェー,アコウ
スト,ソシアル,アメリカン(J,Acoust.Soc.Am.)1980
年3月発行の、ページ816−818にかけてさらに詳述され
ている。
米国特許第4477725号は、構造体の長さに沿って作用す
る力の位置及び大きさを検出するための、光ファイバ及
びマイクロベンド変換装置について記載している。そこ
では、単一の遠隔監視場所で、いくつかのマイクロベン
ド変換器を同時に監視している。
光ファイバ信号タッピングアセンブリが、米国特許第42
70839号に記載されている。このアセンブリは、光ファ
イバ内を伝搬する光信号の一部をサンプルとして取り出
し、また、そのような伝搬の方向をも判別することがで
きるものである。このアセンブリを効果的にするために
は、ファイバの保護緩衝被覆の一部をはぎ取ることによ
って、ファイバを変形させなければならない。ファイバ
を曲げて、指向的な(directional)方法でファイバに
漏洩が生じるようにした後、逃散した信号エネルギー
を、信号を検出器に導く役目の、光パイプロッドで捕獲
する。
一般に、ファイバー光学ケーブル内での欠陥又は、信号
を検出するための、公知技術の装置は、全体システムか
らケーブルを取り除くか又は、ファイバ自体に或るタイ
プの変形を施すことを必要とする。したがって、光ファ
イバ内を伝搬する光信号の存在及びある種の特徴を検出
する装置で、比較的安価であり、組立て及び製造の容易
なものであり、ファイバを変形する必要がなく、ファイ
バにおいて、過度の損失を導入することが避けられ、そ
して、ファイバー光学システムをほとんど破壊させるこ
となく使用できる装置に対する必要性が存在する。
(発明の概要) 本発明により、手持ち式の光ファイバ試験プローブが提
供される。該プローブは、ばね付勢されたフックが、光
ファイバにマイクロベンディングを形成するために、係
合するようになっている。前記フックの近くの、試験プ
ローブハウジング内に取り付けられた光検出器が、ファ
イバ内に光信号が存在しているか否かを検出する。光検
出器により生じた信号を受けとるため結合されている発
光ダイオードによって、信号の存在が示される。
試験プローブ内に、追加の光検出器と発光ダイオードの
組み合わせを包含することによって、光信号の存在及び
その方向の両方を示すことができるのが、本発明の特徴
である。また、それ以上で発光ダイオードが働くしきい
点を設けるか、又は、発光ダイオードの代わりに、光検
出器が光信号を検出した時に生じる電流を想定するメー
タを使用することにより、光信号の強度を示すことがで
きるのが、本発明のもう1つの特徴である。
(実施例の説明) 図面、特に第1図に明確に図示されているように、ハウ
ジング10は、中空の管状部材11より成り、該部材11は環
状フランジ12、ガイド部材13および、検出回路と出力回
路を収容している端部分1とを備えている。ハウジング
10はガイド部材13により滑動可能にキャンプ20に係合す
る。キャップ20は穴21を有することがあり、該穴21を通
って、電力線が挿入され、ハウジング10内を貫通して、
ハウジング端部分1内に収容されている回路に接続され
うる。そのような場合、ハウジング10およびキャップ20
は、不慮の電気的接触を避けるために、電気的に絶縁の
材料により構成される。あるいは、電源を直接にハウジ
ング端部分1およびその中に収容されている回路に供給
することができる。
軸50は、ハウジング10内を長手方向に往復運動可能のよ
うになっており、隣接する2つの区間すなわち幅狭区間
52と幅広区間51とにより構成されている。幅広区間51の
一端は、キャップ20内に固定的に埋め込まれており、好
ましくは、軸50はハウジング内に同軸に配置されるよう
にし、ハウジング10内を通してキャップ20より延在する
ようにする。軸50の幅狭区間52は、管状部材11およびハ
ウジング端部分1内を通して延在しており、一端にフッ
ク55を有す。フック55は、開口部4を貫通して、ハウジ
ング端部分1の外側に突出しており、フック55の端部55
1は、ハウジング端部分1の表面5上の、みぞ40内に通
常は、載置されている。
コイルばね60がハウジング10内に収容されており、軸50
の幅狭区間52の周りを取り巻いている。該ばね60は、所
与の力でもって、ハウジング端部分1の内面と、軸50の
幅広区間51との間を押し合い、それにより、図面の第1
図に図示されているように、ハウジング端部分1の外面
5上の、みぞ40に縁部551をおさめた状態で、フック55
が通常位置にあるようになる。
上記装置にフランジを係合するために、環状フラジ12が
設けられており、それを片手の指でつかみ、キャップ20
の方へ押し下げる。この動作により、ばね60は圧縮さ
れ、軸50のフック55がハウジング端部分1の外面5か
ら、少しの距離、離れて突出する。第2図に図示されて
いるように、いったん光ファイバ70が、光検出器2の上
を横切って、フック55と外面5との間に係合されれば、
環状フランジ12の押さえを解除してよい。ばね60は、ハ
ウジング端部分1をフック55の方へ押しつけるようにな
り、それにより、光ファイバ70にマイクロベンディング
が引き起こされる。もし、光ファイバ70内をいくらかで
も光信号が伝搬しているならば、該マイクロベンディン
グはいくらかの光を、ファイバコアからクラディング
へ、それからファイバを外包している、プラスチック製
外装若しくは被覆を通して外部へと逃散させるようにな
る。マイクロベンドの実際の幾何形状により、どれだけ
の光が逃散するかを正確に決定されるようになる。
ハウジング端部分1は試験クリップの検出回路および出
力回路を有している。第2図に図示されているように、
光ファイバ70は光検出器2の上に横置され、フック55に
係合すわちはめ込まれ、それにより、ファイバにマイク
ロベンドが生じるようになる。光検出器2は、ファイバ
のマイクロベンディングの結果として生じる、ファイバ
コアから逃散してきた光を検出する。第3図に図示され
ているように、光検出器2がファイバ70から逃散してき
た光を検出した場合、信号が、所与の増幅率になるよう
にバイアスのかけられている演算増幅器すなわちオペア
ンプ8を通して送られ、その後、増幅された信号は発光
ダイオード(LED)3を発光させるようになる。この出
力用LEDは、例えばブザー(図示せず)によって与えら
れる音声信号と、置き換えられたり、又は、音声信号を
伴なったりする。このことにより、信号の存在がさらに
確定して与えられる。
上述の実施例は、容易に組み立て、使用のできる装置を
提供している。該装置は、光ファイバ内の光信号の存在
の有無を判断するための、非破壊的で、試験される光フ
ァイバ又は、全体装置の変形を必要としない方法を提供
するものである。
試験クリップ装置はまた、出力回路のためのハウジング
を別に設けるように変形することもできる。第4図に図
示されているように、ハウジング端部分1の大きさは、
小さくされており、フック55に加えて、検出回路と光検
出器2とを含んでいるだけである。リード線7は、光検
出器2と、別のハウジング9に含まれているLED3を含
む、出力回路との間に電気的接続を与えている。
追加の光検出器2aを有する、本発明の別の実施例が第5
図に図示されている。この場合における操作方法は、先
述した場合と同様であるが、ただし光ファイバは、今度
は、光検出器2および2aの両方の上に配置されている。
光検出器2および2aは、それぞれ、出力用LED3および3a
に接続されている。フック55に光ファイバを係合すなわ
ちはめ込んだ時に、マイクロベンドが生ずる。マイクロ
ベンディングの際に、光は、信号伝達の方向へ散乱する
ようになる。したがって、光が光検出器2又は光検出器
2aのどちらかで検出されるかによって、対応するLED3又
はLED3aのいずれかが発光するようになる。この方法で
使用されることにより、第5図の試験クリップは、光フ
ァイバ内の光信号の存在の有無を示すのみならず、信号
の伝達がなされた方向もまた示すことができる。
光信号の存在および、伝達の方向を指示することに加え
て、試験クリップを、光ファイバを通して伝達される光
信号の強度を指示するようにさらに変形することができ
る。出力回路のLEDの発光度を目で見ることにより、信
号強度を簡単に知ることができる。信号強度レベルを指
示する、別の方法としては、LEDが発光するためのしき
い値を設けることである。あるいは、試験クリップの出
力回路を、検出された信号が、光検出器内で生ぜしめた
電流を測定するメータと、LEDを置き換えるように、配
置し直してもよい。
本発明の上述の実施例は、光ファイバ内の光信号を試験
することにおいて、いくつかの長所を提供する。試験ク
リップ装置は、使用が簡単で、大きさも非常に小さめで
あり、試験するファイバを変形する必要がなく、さらに
光学装置を破壊せずに済むのである。本願に記述された
装置を、特許請求の範囲に記載された範囲およびねらい
よりそれることなく、全体的に変更または変形しうると
いうことも了解されるであろう。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に基づいて作製された光ファイバ信号
試験クリップの拡大斜視図、 第2図は、光ファイバを係合したすなわちはめ込んだ状
態を示す、第1図に述べた試験クリップの拡大図、 第3図は、試験クリップの検出回路図、 第4図は、出力回路を別のハウジングに収容した、試験
クリップの変形例を示す拡大図、そして、 第5図は、2つの光検出器を持つ、試験クリップの変形
例を示す、拡大図、 である。 1……ハウジング端部分 2……指示回路 10……ハウジング 40……光検出器 50……軸 55……フック部分 60……ばね

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ハウジングと、 前記ハウジング内を長手方向に往復運動可能な、第1お
    よび第2の端を持つ軸と、 前記軸の第1端に取り付けられたフック部分と、 前記軸の第2端が常に前記ハウジング内にあり、かつ前
    記フック部分が、前記ハウジングの一端に近接した位置
    からそれより少しの距離離れた位置に移動可能となるよ
    うに前記軸の滑動を制限する手段と、 前記軸のフック部分を、前記ハウジングの一端に近接し
    た位置に付勢する前記ハウジング内に取り付けられたバ
    ネ手段と、 前記フック部分を前記ハウジングより少しの距離離れた
    位置におくことにより、前記フック部分に光ファイバを
    係合させ、かつ前記バネ手段が前記軸に作用したときに
    前記光ファイバにマイクロベンディングを誘起するよう
    に前記軸を移動させるための操作手段と、および 前記マイクロベンディングの近くに放出された光の存在
    を検出し、かつ前記ファイバ内の光信号伝播の方向を決
    定する検出手段と、を含む光ファイバにおける光信号を
    試験する装置。
  2. 【請求項2】特許請求の範囲第1項に記載の装置におい
    て、前記検出手段が前記光ファイバに誘起されたマイク
    ロベンディングの中心線からずれた位置にあることを特
    徴とする装置。
  3. 【請求項3】特許請求の範囲第1項に記載の装置におい
    て、前記検出手段が少なくとも1つの光検出器を有する
    ことを特徴とする装置。
  4. 【請求項4】特許請求の範囲第1項に記載の装置におい
    て、前記光の存在の検出に応じて光が検出されたことを
    表示する表示手段を更に含むことを特徴とする装置。
  5. 【請求項5】特許請求の範囲第4項に記載の装置におい
    て、前記表示手段が、 上記検出手段に接続されている入力を持つ演算増幅器、
    および 前記演算増幅器によりトリガーされる発光ダイオードと
    を有することを特徴とする装置。
  6. 【請求項6】特許請求の範囲第4項に記載の装置におい
    て、前記表示手段が、前記ハウジングの外に配置されて
    いることを特徴とする装置。
  7. 【請求項7】特許請求の範囲第1項に記載の装置におい
    て、前記検出手段は前記光ファイバ内の光信号の2つの
    伝播方向の内の一方の方向に伝播する光信号にのみ応答
    することを特徴とする装置。
  8. 【請求項8】特許請求の範囲第1項に記載の装置におい
    て、前記検出手段は前記検出手段は前記光ファイバ内の
    光信号の2つの伝播方向のそれぞれに伝播する光信号に
    応答することを特徴とする装置。
  9. 【請求項9】特許請求の範囲第8項に記載の装置におい
    て、前記検出手段は前記ハウジングの一端に位置しかつ
    前記軸の前記フック部分によって隔てられた第1および
    第2の光検出器を含むことを特徴とする装置。
  10. 【請求項10】特許請求の範囲第9項に記載の装置にお
    いて、前記第1および第2の光検出器にそれぞれ応じる
    第1および第2の発光ダイオードを更に含むことを特徴
    とする装置。
  11. 【請求項11】特許請求の範囲第4項に記載の装置にお
    いて、前記表示手段は前記光信号の強度を示す手段を含
    むことを特徴とする装置。
  12. 【請求項12】特許請求の範囲第11項に記載の装置にお
    いて、前記光信号の強度を示す手段はメーターを含むこ
    とを特徴とする装置。
JP62012635A 1986-01-24 1987-01-23 光フアイバ信号試験装置 Expired - Lifetime JPH0670685B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

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US822141 1986-01-24
US06/822,141 US4672198A (en) 1986-01-24 1986-01-24 Signal sampler microbending fiber test clip

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JPS62189411A JPS62189411A (ja) 1987-08-19
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JP62012635A Expired - Lifetime JPH0670685B2 (ja) 1986-01-24 1987-01-23 光フアイバ信号試験装置

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US (1) US4672198A (ja)
EP (1) EP0230938B1 (ja)
JP (1) JPH0670685B2 (ja)
KR (1) KR910002747B1 (ja)
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