JPH0668949B2 - Phosphor screen forming method - Google Patents

Phosphor screen forming method

Info

Publication number
JPH0668949B2
JPH0668949B2 JP40467790A JP40467790A JPH0668949B2 JP H0668949 B2 JPH0668949 B2 JP H0668949B2 JP 40467790 A JP40467790 A JP 40467790A JP 40467790 A JP40467790 A JP 40467790A JP H0668949 B2 JPH0668949 B2 JP H0668949B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
insulating layer
phosphor
forming
insulating
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP40467790A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH04209442A (en
Inventor
幾雄 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP40467790A priority Critical patent/JPH0668949B2/en
Publication of JPH04209442A publication Critical patent/JPH04209442A/en
Publication of JPH0668949B2 publication Critical patent/JPH0668949B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【技術分野】本発明は、蛍光表示管、光プリンタの光書
き込み部等に使用される蛍光体ドットアレイ管の蛍光面
形成方法に関するものであり、フラットディスプレイパ
ネル等にも応用可能なものである。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method for forming a phosphor screen of a phosphor dot array tube used in a fluorescent display tube, an optical writing section of an optical printer, and the like, and is also applicable to a flat display panel and the like. .

【0002】[0002]

【従来技術】蛍光体ドットアレイ管は、一方向に一列又
は複数列に配列形成された多数の短冊状電極(セグメン
ト電極)に蛍光面を形成して、これを熱陰極とともに真
空容器中に封入し、熱陰極から熱電子を発生せしめる一
方、短冊状電極に選択的に正電圧を印加して、選択され
た短冊状電極に熱電子を引き付け、この熱電子が蛍光面
に衝突する際に発する蛍光により表示等を行うものであ
り、蛍光表示管、バーコード表示管、光プリンタの光書
き込み部、あるいはフラットディスプレイパネル等に応
用されている。
2. Description of the Related Art In a phosphor dot array tube, a phosphor screen is formed on a large number of strip electrodes (segment electrodes) arranged in one direction or in a plurality of lines in one direction, and the phosphor screen is enclosed in a vacuum container together with a hot cathode. Then, while generating thermoelectrons from the hot cathode, a positive voltage is selectively applied to the strip electrodes to attract the thermoelectrons to the selected strip electrodes, which are emitted when they collide with the phosphor screen. The display is performed by fluorescence and is applied to a fluorescent display tube, a bar code display tube, an optical writing section of an optical printer, a flat display panel, or the like.

【0003】図4及び図5は蛍光体ドットアレイ管の一
例を示す分解斜視図及び断面図で、基板20はガラス、
セラミック、樹脂等からなり、該基板20には、一連の
短冊状電極21が該基板20の長手方向に列設されてい
る。この短冊状電極21には、その個々にドット状の蛍
光面26が形成されておりドットアレイを構成してい
る。尚、個々の蛍光面26のサイズは、40×40μm
のように極めて微細なものであるが、図示の例では、
蛍光面の形状を判り易くするため、蛍光面の寸法を他の
部材に比べて大きく表してある。
4 and 5 are an exploded perspective view and a sectional view showing an example of a phosphor dot array tube, in which a substrate 20 is glass,
A series of strip-shaped electrodes 21 made of ceramic, resin, etc. are arranged in a row in the longitudinal direction of the substrate 20. Dot-shaped fluorescent screens 26 are individually formed on the strip electrodes 21 to form a dot array. The size of each phosphor screen 26 is 40 × 40 μm.
2 is extremely fine, but in the example shown,
In order to make the shape of the phosphor screen easier to understand, the dimensions of the phosphor screen are shown larger than those of other members.

【0004】基板20の蛍光面26の配列の両側には、
絶縁体層22a,22bが基板長手方向に沿って形成さ
れ、これらの上には、グリッド電極23a,23bがそ
れぞれ形成されている。また、符号24は、基板長手方
向に張り渡された熱陰極としてのタングステンワイヤを
示しており、その表面にはBaSrO等の電子放射性物
質が塗布されている。また、符号25は、ガラス等から
なる透明な材料で形成されたフェイス部材で、図5に示
すように、基板側と一体化される。かくして、基板2
0、絶縁体層22a,22b,グリッド電極23a,2
3b、フェイス部材25は、閉空間を形成し、この空間
内には、短冊状電極21、蛍光体層による蛍光面26、
熱陰極24,24が封入され、上記閉空間は高度に真空
化される。
On both sides of the array of fluorescent screens 26 of the substrate 20,
Insulator layers 22a and 22b are formed along the longitudinal direction of the substrate, and grid electrodes 23a and 23b are formed thereon, respectively. Further, reference numeral 24 indicates a tungsten wire as a hot cathode extended in the longitudinal direction of the substrate, and the surface thereof is coated with an electron emissive substance such as BaSrO. Further, reference numeral 25 is a face member formed of a transparent material such as glass, and is integrated with the substrate side as shown in FIG. Thus, substrate 2
0, insulator layers 22a, 22b, grid electrodes 23a, 2
3b, the face member 25 forms a closed space, and in this space, the strip-shaped electrode 21, the fluorescent surface 26 of the fluorescent material layer,
The hot cathodes 24, 24 are enclosed and the closed space is highly evacuated.

【0005】さて、上記構成の蛍光体ドットアレイ管に
おいて、グリッド電極23a,23bに適宜の電圧を印
加しておいて、熱陰極24,24に数10mAの交流電
圧を通ずると、熱陰極24,24はジュール熱によって
加熱されて熱電子を放出する。かかる状態において、短
冊状電極列21の一つに正電圧を印加してこれを正電位
にすると、上記熱電子は正電位の短冊状電極の電極部に
引き寄せられ、該電極部に衝突して蛍光面26の蛍光物
質のエネルギー状態を励起させる。そして、励起した蛍
光物質は、基底状態へ戻る際に蛍光を発し、この蛍光が
フェイス部材25を介して観察される。
Now, in the phosphor dot array tube having the above structure, when an appropriate voltage is applied to the grid electrodes 23a and 23b and an alternating voltage of several tens of mA is passed to the hot cathodes 24 and 24, the hot cathode 24 and 24 is heated by Joule heat and emits thermoelectrons. In this state, when a positive voltage is applied to one of the strip-shaped electrode rows 21 to set it to a positive potential, the thermoelectrons are attracted to the electrode portion of the strip-shaped electrode having a positive potential and collide with the electrode portion. The energy state of the fluorescent substance on the fluorescent screen 26 is excited. The excited fluorescent substance emits fluorescence when returning to the ground state, and this fluorescence is observed via the face member 25.

【0006】ところで、上述したような構成の蛍光体ド
ットアレイ管においては、短冊状電極に蛍光面を形成す
る際に、その蛍光面のサイズを正確に制御する必要があ
り、また、輝度の経時劣化が少ない蛍光面を形成するこ
とが必要とされる。このため、特開昭62−15453
0号公報記載の発明等、従来より種々の蛍光面形成方法
が提案されている。
By the way, in the phosphor dot array tube having the above-mentioned structure, when the phosphor screen is formed on the strip-shaped electrodes, the size of the phosphor screen needs to be accurately controlled, and the luminance is not changed with time. It is necessary to form a phosphor screen with less deterioration. Therefore, JP-A-62-15453
Various phosphor screen forming methods have been proposed in the past, such as the invention described in JP-A-0.

【0007】上記公報記載の蛍光面形成方法において
は、電極形成工程で、基板上に導電性材料からなる短冊
状電極を少なくとも一列設け、絶縁層形成工程で、上記
短冊状電極を含む基板表面に、短冊状電極の配列方向に
沿って上記短冊状電極の一部を露出させる絶縁層を形成
してセグメント電極列を形成し、フォトレジスト層形成
工程で、上記絶縁層及びセグメント電極列をフォトレジ
スト層で被覆したのち、上記セグメント電極列状のフォ
トレジスト層のみをドット状に除去して上記セグメント
電極列を露出させ、蛍光面形成工程で、露出している上
記セグメント電極の一つ一つの蛍光体粒子の分散液を滴
下付着させて蛍光面を形成し、フォトレジスト層除去工
程で、上記フォトレジスト層を除去して蛍光体ドットア
レイを形成するようにしている。
In the phosphor screen forming method described in the above publication, at least one row of strip electrodes made of a conductive material is provided on the substrate in the electrode forming step, and the substrate surface including the strip electrodes is formed on the substrate surface in the insulating layer forming step. A segment electrode row is formed by forming an insulating layer that exposes a part of the strip electrode along the arrangement direction of the strip electrodes, and in the photoresist layer forming step, the insulating layer and the segment electrode row are formed by photoresist. After coating with a layer, only the segment electrode row-shaped photoresist layer is removed in a dot shape to expose the segment electrode row, and in the phosphor screen forming step, each exposed segment electrode is exposed to fluorescence. A dispersion liquid of body particles is dropped and attached to form a phosphor screen, and in the photoresist layer removing step, the photoresist layer is removed to form a phosphor dot array. It is.

【0008】次に、図6を参照して、従来技術による蛍
光体ドットアレイ管の蛍光面形成方法のより具体的な例
について説明する。
Next, with reference to FIG. 6, a more specific example of the conventional phosphor screen forming method for phosphor dot array tubes will be described.

【0009】図6に示す方法は、一般には、リフトオフ
法と呼ばれ、フォトレジストで基板を被覆した後に蛍光
体の付着する部分を現像露光で除去してから電着などの
方法により露出した電極部に蛍光体を付着させ、最後
に、残ったレジスト層を焼成などの方法により除去し蛍
光体ドットを形成するものである。
The method shown in FIG. 6 is generally called a lift-off method. After the substrate is covered with a photoresist, the portion to which the phosphor is attached is removed by development exposure and then the electrode exposed by a method such as electrodeposition. A phosphor is attached to the part, and finally, the remaining resist layer is removed by a method such as baking to form phosphor dots.

【0010】先ず、基板1上に短冊状電極2を形成し、
短冊状電極2を含む基板表面に、短冊状電極2の配列方
向に沿って上記短冊状電極2の一部を露出させる絶縁層
3を形成してセグメント電極列を形成した後、フォトレ
ジスト層4で基板1を被覆し(a)、この後、蛍光体を
付着するべき部分をフォトマスク6の穴5を通して現像
し(b)、その部分を除去(c)してから、電着などの
方法により、上記露出した電極部に蛍光体7を付着させ
(d)、最後に、残ったフォトレジスト層4を焼成など
の方法により除去し(e)、蛍光体ドット7を形成する
ものである。
First, a strip electrode 2 is formed on a substrate 1,
On the surface of the substrate including the strip-shaped electrodes 2, an insulating layer 3 exposing a part of the strip-shaped electrodes 2 is formed along the arrangement direction of the strip-shaped electrodes 2 to form a segment electrode row, and then a photoresist layer 4 is formed. The substrate 1 is covered with (a), and then, the portion to which the phosphor is to be attached is developed through the hole 5 of the photomask 6 (b), the portion is removed (c), and then a method such as electrodeposition is used. Thus, the phosphor 7 is attached to the exposed electrode portion (d), and finally, the remaining photoresist layer 4 is removed by a method such as baking (e) to form the phosphor dot 7.

【0011】ここで、フォトレジスト4は、セグメント
電極2の露出部分以外に蛍光体が付着することを防止す
るための設けられているが、フォトレジストとしては、
精度上の問題により、ポジ型のフォトレジストを用い
る。このポジ型のフォトレジストは、通常、電着時に分
散媒として用いるIPAなどの有機溶媒に溶解しないよ
うに、紫外線などを照射してハードニングを行い、蛍光
体を付着させた後、焼成などにより除去する。
Here, the photoresist 4 is provided to prevent the fluorescent substance from adhering to other than the exposed portion of the segment electrode 2. However, as the photoresist,
A positive photoresist is used due to accuracy problems. This positive photoresist is usually hardened by irradiating it with ultraviolet rays or the like so as not to be dissolved in an organic solvent such as IPA used as a dispersion medium at the time of electrodeposition. Remove.

【0012】ところが、この方法ではフォトレジストの
除去の際、付着している蛍光体がその雰囲気などによ
り、蛍光体自身の発光効率や、発光寿命を低下させられ
てしまうなどの影響が考えられる。また、基板の長手方
向にわたって均一に十分なレジストのハードニングが行
われなかった場合、電着時に、レジストが溶解して適切
な蛍光体ドットが形成できなかったり、電着液を汚染し
たり、また、逆に部分的に過剰なハードニングをされた
場合、通常の焼成条件ではレジストが除去できず、基板
表面上に残ってしまい、管球化後の諸特性(輝度、寿命
など)に悪影響するなども考えられ、問題となる。
However, in this method, when the photoresist is removed, it is considered that the adhering phosphor has an effect such that the luminous efficiency and the luminous life of the phosphor itself are shortened due to the atmosphere or the like. Further, if the resist is not sufficiently hardened uniformly in the longitudinal direction of the substrate, the resist cannot be dissolved to form an appropriate phosphor dot during electrodeposition, or the electrodeposition solution may be contaminated, On the other hand, if it is partially over-hardened, the resist cannot be removed under normal baking conditions and remains on the substrate surface, adversely affecting various characteristics (luminance, life, etc.) after tube formation. It is also possible that it will cause a problem.

【0013】ところで、従来より蛍光ドットアレイ管に
用いられている絶縁層は、アルミニウム(A1)などか
らなる短冊状電極を直接覆うように、スクリーン印刷な
どの方法により形成されているが、この絶縁層は酸化鉛
を主成分とする硼硅酸鉛ガラスで構成されており、腐食
性が高く、短冊状電極であるA1を劣化させてしまう。
また、スクリーン印刷で塗布された後、大気中550〜
600℃の条件で焼成する際や、高湿な雰囲気による水
分の付着などにより、A1電極が腐食されてしまい電気
伝導度が著しく低下してしまうという問題が生じる。
By the way, the insulating layer conventionally used for the fluorescent dot array tube is formed by a method such as screen printing so as to directly cover the strip electrode made of aluminum (A1) or the like. The layer is composed of lead borosilicate glass containing lead oxide as a main component, has high corrosiveness, and deteriorates A1 which is a strip electrode.
In addition, after being applied by screen printing, it will be
There is a problem that the A1 electrode is corroded during firing under the condition of 600 ° C. or due to adhesion of water in a high-humidity atmosphere, resulting in a significant decrease in electrical conductivity.

【0014】上述の問題点を解決するために、本出願人
は、先に、前述したフォトレジストによる蛍光体ドット
パターンを形成する方法ではなく、全工程にわたって、
蛍光体自身に影響せず、かつ管球後の諸特性にも全く影
響しない蛍光面形成方法について提案した。
In order to solve the above-mentioned problems, the applicant of the present invention did not use the above-described method of forming a phosphor dot pattern by a photoresist, but rather the entire process.
We proposed a method for forming a phosphor screen that does not affect the phosphor itself and does not affect the properties after the bulb.

【0015】更に、前述した腐食の問題に対して、腐食
がアルミニウム薄膜と絶縁層の界面で生ずることから、
アルミニウム配線と絶縁層との間に、SiOなどの不
純物の無い膜や層を設けて、その界面に生ずる腐食の原
因を除去し、蛍光体ドットアレイ管の寿命の向上を図る
ことことについて提案した。
Further, in response to the above-mentioned problem of corrosion, since corrosion occurs at the interface between the aluminum thin film and the insulating layer,
Proposed to provide a film or layer free from impurities such as SiO 2 between the aluminum wiring and the insulating layer to eliminate the cause of corrosion occurring at the interface and to improve the life of the phosphor dot array tube. did.

【0016】図7は、本出願人が先に提案した蛍光面形
成方法の一例を説明するための図で、電極形成工程にお
いて、先ず、スパッタリングや真空蒸着等の方法を用い
て導電性材料2を基板表面1に付着させる。尚、導電性
材料としては、コスト面からA1を用いる。次に、通常
のフォトリソグラフィ法により短冊状のA1の配線パタ
ーン2を形成する(a)。
FIG. 7 is a view for explaining an example of the phosphor screen forming method previously proposed by the present applicant. In the electrode forming step, first, a conductive material 2 is formed by using a method such as sputtering or vacuum deposition. Are attached to the substrate surface 1. As the conductive material, A1 is used in terms of cost. Next, a strip-shaped wiring pattern 2 of A1 is formed by a normal photolithography method (a).

【0017】次に、絶縁パターン層形成工程において、
絶縁膜として例えばSiO膜を用い、低温(400℃
以下)のプラズマCVDや、SiO被膜形成用塗布液
等による方法を用いて、上記短冊状のA1配線パターン
2上にSiO膜8を形成し被覆する(b)。尚、CV
D法を用いる場合、下地の電極2がA1等の熱に弱い導
電性材料の場合には、高温になると粒界が移動したヒー
ロック等の突起が多く発生する等の問題が生じるため、
低温下での成膜を行う。
Next, in the insulating pattern layer forming step,
For example, a SiO 2 film is used as the insulating film, and the low temperature (400 ° C.
And plasma CVD below), using the method according SiO 2 film-forming coating liquid or the like, the SiO 2 film 8 formed to cover on the strip-shaped A1 wiring pattern 2 (b). Incidentally, CV
When the D method is used, in the case where the underlying electrode 2 is a conductive material such as A1 which is weak against heat, there arises a problem that a large number of protrusions such as Healock caused by movement of grain boundaries occur at high temperature.
The film is formed at a low temperature.

【0018】また、塗布液を用いる方法の場合は、例え
ば、SiO系被膜形成塗布液OCD(東京応化社製)
等を用いて、スピナーにより塗布すれば3000Å位ま
での膜厚のSiO膜が得られ、1000℃位までの耐
熱性を持つ。
In the case of using the coating liquid, for example, a SiO 2 film forming coating liquid OCD (manufactured by Tokyo Ohka Co., Ltd.)
When applied with a spinner using the above, a SiO 2 film having a film thickness of up to about 3000 Å can be obtained, and it has heat resistance up to about 1000 ° C.

【0019】さて、上述の絶縁パターン層形成工程によ
って短冊状電極列2をSiO絶縁層膜8で被覆した後
は、通常のフォトリソグラフィの工程と同様に、先ずフ
ォトレジスト層形成工程によりSiO絶縁膜8の上に
フォトレジスト層4が形成され(c)、フォトマスク6
を用いて露光・現像が行われ(d)、短冊状電極列2上
の蛍光体が付着するべきドット部のフォトレジスト層が
除去されたレジストパターン4が形成される(e)。そ
して、レジストパターン4を形成した後の、次のエッチ
ング工程により、蛍光体が付着される部分のSiO
縁膜8をエッチングにより除去する(f)。
After the strip-shaped electrode array 2 is covered with the SiO 2 insulating layer film 8 by the above-mentioned insulating pattern layer forming step, first, similarly to the ordinary photolithography step, first by the photoresist layer forming step, SiO 2 is formed. The photoresist layer 4 is formed on the insulating film 8 (c), and the photomask 6 is formed.
Is used to perform exposure / development (d), and a resist pattern 4 is formed in which the photoresist layer on the dot portions to which the phosphor on the strip electrode array 2 should be attached is removed (e). Then, in the next etching step after forming the resist pattern 4, the portion of the SiO 2 insulating film 8 to which the phosphor is attached is removed by etching (f).

【0020】次に、上述のエッチング工程終了後、フォ
トレジスト層除去工程で余分なレジストを剥離液などを
用いて完全に除去すれば、蛍光体が付着する部分のA1
電極2が露出される(g)。
Next, after the above etching process is completed, the excess resist is completely removed using a stripping solution or the like in the photoresist layer removing process.
The electrode 2 is exposed (g).

【0021】次に、絶縁層形成工程により、短冊状A1
電極列を含む基板1の表面に電極の配列方向に沿って上
記電極の蛍光体を付着すべき露出部分を含む一部を露出
させた絶縁層3を従来方法により形成する(h)。
Next, a strip-shaped A1 is formed by an insulating layer forming process.
An insulating layer 3 is formed by a conventional method on the surface of the substrate 1 including the electrode array, in which a part of the electrode including an exposed portion to which the phosphor is to be attached is exposed along the arrangement direction of the electrodes (h).

【0022】そして、絶縁層3の形成後、蛍光面形成工
程において、電着装置により、蛍光体7を電極列2の露
出部分にドット状に付着させれば所望の蛍光体ドットア
レイを得ることができる(i)。
After the insulating layer 3 is formed, in the phosphor screen forming step, a desired phosphor dot array is obtained by attaching the phosphors 7 to the exposed portions of the electrode rows 2 in a dot shape by an electrodeposition device. Can be done (i).

【0023】さて、このようにしてドットアレイ状の蛍
光面7が形成された蛍光体ドットアレイ管では、A1配
線(A1電極)2と絶縁層3との間にSiO絶縁膜8
が形成されているため、A1配線(A1電極)2と絶縁
層3とが直接接触することがないため、従来技術で問題
となっていた腐食によるA1配線の断線等の発生が著し
く改善される。
In the phosphor dot array tube in which the dot array-shaped phosphor screen 7 is formed in this manner, the SiO 2 insulating film 8 is provided between the A1 wiring (A1 electrode) 2 and the insulating layer 3.
Since the A1 wiring (A1 electrode) 2 and the insulating layer 3 do not come into direct contact with each other, the occurrence of breakage of the A1 wiring due to corrosion, which has been a problem in the prior art, is remarkably improved. .

【0024】また、上記蛍光面形成方法では、フォトレ
ジストを除去した後に蛍光面の形成が行われるため、蛍
光体7にフォトレジスト除去時の熱や有機溶媒等による
影響が及ばず、蛍光体の劣化等の問題が解消される。
Further, in the above-mentioned phosphor screen forming method, since the phosphor screen is formed after the photoresist is removed, the phosphor 7 is not affected by the heat or the organic solvent when removing the photoresist, and the phosphor 7 Problems such as deterioration are resolved.

【0025】図8は、本出願人が先に提案した蛍光面形
成方法の他の例を説明するための図で、その方法は、図
7に示した蛍光面形成方法の工程順を入れ替えて、絶縁
層3の形成工程を、絶縁パターン層8の形成工程後であ
ってフォトレジスト層4の形成工程の直前に行うように
したものである。
FIG. 8 is a view for explaining another example of the phosphor screen forming method previously proposed by the present applicant, in which the process order of the phosphor screen forming method shown in FIG. 7 is changed. The step of forming the insulating layer 3 is performed after the step of forming the insulating pattern layer 8 and immediately before the step of forming the photoresist layer 4.

【0026】つまり、電極2の形成工程(a)及び絶縁
パターン層8の形成工程(b)は、図7の(a)及び
(b)に示した工程と同様であり、絶縁層8の形成工程
(図8の(b))後の工程、すなわち、図8の(c)〜
(h)の工程は、図7の(c)〜(i)の工程から絶縁
層形成工程(図7の(g))を除いた工程と同様である
ため、説明を省略する。
That is, the step (a) of forming the electrode 2 and the step (b) of forming the insulating pattern layer 8 are the same as the steps shown in FIGS. 7A and 7B, and the formation of the insulating layer 8 is performed. Steps after the step ((b) of FIG. 8), that is, (c) to FIG.
The process of (h) is the same as the process of removing the insulating layer forming process ((g) of FIG. 7) from the processes of (c) to (i) of FIG.

【0027】ところで、図7に示す工程、若しくは図8
に示す工程を経て蛍光体ドットアレイが形成された蛍光
管においては、蛍光管の構造によって絶縁パターン層8
の表面にカソードフィラメントからの電子が滞ってしま
うチャージアップ現象が発生する場合があるが、この場
合には、絶縁パターン層8を絶縁層3とA1短冊状電極
2の電極面との境界面部分にのみ形成させるような構成
にするか、A1短冊状電極2間にチャージアップ防止用
の疑似電極を付加形成するなどの構成にすればよい。
By the way, the process shown in FIG. 7 or the process shown in FIG.
In the fluorescent tube in which the fluorescent substance dot array is formed through the process shown in FIG.
There is a case where a charge-up phenomenon occurs in which electrons from the cathode filament are stagnated on the surface of the insulating pattern layer 8 in this case, and the insulating pattern layer 8 is a boundary surface portion between the insulating layer 3 and the electrode surface of the A1 strip electrode 2. It is possible to adopt a configuration in which it is formed only on the substrate 1, or a pseudo electrode for preventing charge-up is additionally formed between the A1 strip electrodes 2.

【0028】上記本出願人が先に提案した蛍光用形成方
法によると、フォトレジストの代わりに管球化後も残る
絶縁層膜で被覆してパターニングして蛍光面を形成して
いる。しかし、これらは、蛍光面を形成した後に、絶縁
層の上に金属板(ステンレスが最も良く使われる)をエ
ッチング処理した制御電極を置き、低融点ガラスで固定
することが必要である。この制御電極の、寸法精度、組
立位置精度等は、蛍光体の輝度に非常に大きく影響す
る。特に、組立精度が他の精度と比較して非常に悪い。
また、制御電極それ自体の強度が必要なため、50ミク
ロン以下の厚さにするのは難しく、制御電極の上面の高
さの設計に自由が少なくなる。
According to the method for forming fluorescence previously proposed by the present applicant, instead of the photoresist, the fluorescent surface is formed by coating with an insulating layer film that remains after tube formation and patterning. However, in these, it is necessary to place a control electrode obtained by etching a metal plate (stainless steel is most often used) on the insulating layer after forming the phosphor screen, and fix it with a low melting point glass. The dimensional accuracy, the assembly position accuracy, and the like of the control electrode greatly affect the brightness of the phosphor. In particular, the assembly accuracy is very poor compared to other accuracy.
Further, since the strength of the control electrode itself is required, it is difficult to reduce the thickness to 50 μm or less, and there is less freedom in designing the height of the upper surface of the control electrode.

【0029】そこで、本出願人は、別途、パターニング
する絶縁膜の上に絶縁層を新たに設けること無く直接金
属薄膜を設け、これを制御電極として用いるようにした
ことにより、製法の簡単な精度の高い制御電極の形成工
程までも含んだ蛍光面形成方法について提案した。
Therefore, the present applicant separately provided a metal thin film directly on the insulating film to be patterned without newly providing an insulating layer, and used this as a control electrode, whereby the accuracy of the manufacturing method was simplified. We have proposed a method for forming a phosphor screen that includes the step of forming a high control electrode.

【0030】図9は、本出願人が別途提案した蛍光面形
成方法の一例を説明するための図で、図9(a)は、基
板1の上に電極2を形成する電極形成工程を示し、図9
(a),(b)は絶縁膜10を形成する絶縁膜形成工
程、図9(c)は金属薄膜11を形成する金属薄膜被覆
工程、図9(d)はレジスト12を塗布するレジスト塗
布工程(I)、図9(e)はレジストパターン12aを
形成するレジストパターニング工程(I)、図9(f)
は金属薄膜11をエッチングする金属薄膜エッチング工
程、図9(g)はレジスト12を除去するレジスト除去
工程、図9(h)はレジスト13を塗布するレジスト塗
布工程(II)、図9(i)はレジストパターン13a
を形成するレジストパターニング工程、図9(j)は絶
縁膜10をエッチングする絶縁膜エッチング工程、図9
(k)はレジスト13を除去するレジスト除去工程、図
9(l)は蛍光面7を形成する蛍光面形成工程である。
FIG. 9 is a view for explaining an example of the phosphor screen forming method separately proposed by the applicant, and FIG. 9A shows an electrode forming process for forming the electrode 2 on the substrate 1. , Fig. 9
9A and 9B are insulating film forming steps for forming the insulating film 10, FIG. 9C is a metal thin film covering step for forming the metal thin film 11, and FIG. 9D is a resist applying step for applying the resist 12. 9 (e) and FIG. 9 (e) are resist patterning steps (I) and 9 (f) for forming the resist pattern 12a.
9 (g) is a resist removing step of removing the resist 12, FIG. 9 (h) is a resist applying step (II) of applying the resist 13, and FIG. 9 (i). Is the resist pattern 13a
9 (j) is an insulating film etching step of etching the insulating film 10, FIG.
9K is a resist removing step of removing the resist 13, and FIG. 9L is a fluorescent screen forming step of forming the fluorescent screen 7.

【0031】しかし、この場合に3ミクロン程度の絶縁
膜10(SiOなど)は管球化の際の熱工程において
基板1のソーダガラスやA1との熱膨張係数との差から
クラックが生じやすく、一般には、1ミクロン以下であ
ればクラックが生じにくくなるものの、約1.2ミクロ
ンのA1の短冊状電極2の段差で非被覆部が生じやすく
なる。クラックが生じると、この絶縁膜10上に金属薄
膜によって制御電極を形成するため、クラックによって
蛍光体7付近の金属薄膜部分にまで導通がとれず、蛍光
体に電子が衝突しにくくなり、蛍光体が発光しない場合
もある。
However, in this case, the insulating film 10 (SiO 2 or the like) having a thickness of about 3 μm is apt to be cracked due to the difference in thermal expansion coefficient between the soda glass of the substrate 1 and A1 in the thermal process at the time of tube formation. Generally, if the thickness is 1 micron or less, cracks are less likely to occur, but an uncovered portion is likely to occur at a step of the strip-shaped electrode 2 of A1 of about 1.2 microns. When a crack occurs, a control electrode is formed on the insulating film 10 by a metal thin film, so that the crack does not allow conduction to the metal thin film portion in the vicinity of the phosphor 7, making it difficult for electrons to collide with the phosphor. May not emit light.

【0032】これに対して、絶縁層14を図10に示す
ように、厚膜印刷によって形成すると、例えば低融点の
ガラスを用いればクラックなどは生じないものの、10
ミクロン以上の膜厚になることが一般的なので、ウェッ
トでの等方性エッチングでは、金属薄膜11の下面の絶
縁層14が7から10ミクロン程度サイドエッチされ
(図10(e)の14a)、この部分のA1(11a,
11b)が破壊されたり、基板上の短冊状電極2とショ
ートしたりしやすい(図10(f))。特に、最後に、
電着により基板の電極面に蛍光面を形成する工程でこの
ような不良が起きやすい。また、短冊状電極が制御電極
の奥にあるため、これに蛍光体粒子を付着させて均一で
微小な蛍光面を形成するのも非常に難しい。
On the other hand, when the insulating layer 14 is formed by thick film printing as shown in FIG. 10, if a glass having a low melting point is used, for example, cracks do not occur, but 10
Since the thickness is generally more than a micron, the insulating layer 14 on the lower surface of the metal thin film 11 is side-etched by about 7 to 10 microns by wet isotropic etching (14a in FIG. 10E). A1 of this part (11a,
11b) is easily broken or short-circuited with the strip electrode 2 on the substrate (FIG. 10 (f)). Especially at the end,
Such defects are likely to occur in the process of forming a fluorescent screen on the electrode surface of the substrate by electrodeposition. Further, since the strip-shaped electrode is located at the back of the control electrode, it is very difficult to attach the phosphor particles to the control electrode to form a uniform and minute phosphor screen.

【0033】[0033]

【目的】本発明は、上述のごとき実情に鑑みてなされた
もので、金属薄膜を用いた制御電極の下地の絶縁層を改
良し、パターニングする絶縁層の他にもう一つの絶縁層
を新たに設けることにより、製法が簡単で精度が高く、
なおかつ、制御電極の形成工程までも含んだ信頼性の高
い蛍光面形成方法を提供することを目的とするものであ
る。
[Object] The present invention has been made in view of the above circumstances, and improves an insulating layer as a base of a control electrode using a metal thin film to newly add another insulating layer in addition to an insulating layer for patterning. By providing, the manufacturing method is simple and highly accurate,
Moreover, it is an object of the present invention to provide a highly reliable phosphor screen forming method including a step of forming a control electrode.

【0034】[0034]

【構成】本発明は、上記目的を達成するために、第1
に、蛍光体ドットアレイ管における蛍光面形成方法にお
いて、基板上に導電性材料からなる短冊状電極を少なく
とも一列設ける電極形成工程と、前記短冊状電極を含む
前記基板表面を絶縁性を有する薄膜で被覆する第一絶縁
層形成工程と、第一絶縁層で被覆された前記基板表面を
開口部を設けた絶縁性を有する物質で第一絶縁層よりも
厚い薄膜で被覆する第二絶縁層形成工程と、この2つの
絶縁性を有する膜で被覆された前記基板表面を金属薄膜
で被覆する工程と、第二絶縁層の開口部の中の金属薄膜
を一部除去する工程と、この金属薄膜を除去されて露出
した第一絶縁層の少なくとも前記蛍光体が付着する部分
を覆っている部分を除去し前記短冊状電極を一部露出さ
せる工程と、前記蛍光体が付着すべき電極部分の一つ一
つに蛍光体を付着させて蛍光面を形成する蛍光面形成工
程と含むことを特徴としたものである。
The present invention has a first object to achieve the above object.
In the method for forming a phosphor screen in a phosphor dot array tube, an electrode forming step of providing at least one row of strip electrodes made of a conductive material on a substrate, and a thin film having an insulating property on the substrate surface including the strip electrodes. First insulating layer forming step of covering, and second insulating layer forming step of covering the surface of the substrate covered with the first insulating layer with a thin film thicker than the first insulating layer with an insulating substance having openings And a step of coating the surface of the substrate coated with the two insulating films with a metal thin film, a step of partially removing the metal thin film in the opening of the second insulating layer, and One of the electrode portions to which the phosphor is to be attached, the step of removing at least the portion of the exposed first insulating layer covering the portion to which the phosphor is attached to expose the strip electrode partially. Attach phosphor to one It is obtained by comprising a phosphor screen forming step for forming a fluorescent screen by.

【0035】第2に、蛍光体ドットアレイ管における蛍
光面形成方法において、基板上に導電性材料からなる短
冊状電極を少なくとも一列設ける電極形成工程と、前記
短冊状電極を含む前記基板表面を開口部を設けた絶縁性
を有する物質で被覆する第一絶縁層形成工程と、この第
一絶縁層で被覆された前記基板表面を絶縁性を有する物
質からなる前記第一絶縁層より薄い薄膜で被覆する第二
絶縁層形成工程と、この2つの絶縁性を有する膜で被覆
され前記基板表面を金属薄膜で被覆する工程と、第一絶
縁層の開口部の中の金属薄膜を一部除去する工程と、こ
の金属薄膜を除去され露出した第二絶縁層の少なくとも
前記蛍光体が付着する部分を覆っている部分を除去し前
記短冊状電極を一部露出させる工程と、前記蛍光体が付
着すべき電極部分の一つ一つに蛍光体を付着させて蛍光
面を形成する蛍光面形成工程とを含むことを特徴とした
ものである。
Secondly, in the method for forming a phosphor screen in a phosphor dot array tube, an electrode forming step of providing at least one strip electrode made of a conductive material on the substrate in a row, and opening the substrate surface including the strip electrodes. A first insulating layer forming step of coating a portion with an insulating substance, and coating the surface of the substrate covered with the first insulating layer with a thin film thinner than the first insulating layer made of an insulating substance A second insulating layer forming step, a step of covering the substrate surface with a metal thin film covered with the two insulating films, and a step of partially removing the metal thin film in the opening of the first insulating layer. And a step of removing at least the portion of the second insulating layer exposed by removing the metal thin film to cover the portion to which the phosphor adheres and partially exposing the strip electrode, and the phosphor should adhere. Electrode part It is obtained is characterized in that one by one by attaching a phosphor and a phosphor screen forming step for forming a fluorescent screen.

【0036】第3に、前記第1及び第2に記載の蛍光体
ドットアレイ管における蛍光面形成方法において、前記
基板を、短冊状電極をパターニングする方の絶縁層をエ
ッチング除去するエッチャントに対してこの絶縁層とほ
ぼ同じまたは小さいエッチング速度である絶縁材料であ
らかじめ被覆していることを特徴としたものである。以
下、本発明の実施例に基づいて説明する。
Thirdly, in the phosphor screen forming method in the phosphor dot array tube according to the first and second embodiments, the substrate is used as an etchant for removing the insulating layer for patterning the strip electrodes by etching. It is characterized in that it is pre-coated with an insulating material having an etching rate substantially the same as or lower than that of this insulating layer. Hereinafter, description will be given based on examples of the present invention.

【0037】図1は、本発明による蛍光面形成方法の一
実施例(請求項1に対応)を説明するための図で、ま
ず、電極形成工程において、A1などの導電性材料をス
パッタなどの方法によりソーダガラス基板上1に形成さ
せ、通常のフォトリソグラフィ工程により短冊状のA1
配線パターン2を形成する(a)。
FIG. 1 is a diagram for explaining an embodiment (corresponding to claim 1) of the phosphor screen forming method according to the present invention. First, in the electrode forming step, a conductive material such as A1 is sputtered or the like. It is formed on the soda glass substrate 1 by the method, and the strip-shaped A1 is formed by a normal photolithography process.
The wiring pattern 2 is formed (a).

【0038】次に、第一絶縁層形成工程として、絶縁膜
として例えばSiO膜を用い、前述のようにして、スピ
ナーなどに厚さ1ミクロンの第一絶縁層15を形成する
(b)。
Next, in the first insulating layer forming step, a 1-micron-thick first insulating layer 15 is formed on the spinner or the like as described above using, for example, a SiO film as an insulating film (b).

【0039】絶縁膜15で被覆した後は、第二絶縁層形
成工程として、例えばスクリーン印刷法を用いた厚膜印
刷技術により低融点ガラスを印刷、焼成して、厚さ10
から20ミクロンの絶縁膜16(16a,16b)を形
成する(c)。
After coating with the insulating film 15, as a second insulating layer forming step, low melting point glass is printed and baked by a thick film printing technique using, for example, a screen printing method to obtain a thickness of 10
An insulating film 16 (16a, 16b) having a thickness of 20 μm is formed (c).

【0040】この絶縁膜は、少なくとも、蛍光面と制御
電極の蛍光面側の端部を含む範囲を開口部として待つよ
うになる。さらに、再びA1などの導電性材料をスパッ
タなどの方法により基板上に金属薄膜17として形成さ
せ(d)、通常のフォトリソグラフィ工程などにより少
なくとも蛍光面を形成する部分を含む範囲を除去するこ
とにより制御電極のパターン17a,17bを形成する
(e)。
This insulating film waits at least in the range including the fluorescent screen and the fluorescent screen side end of the control electrode as an opening. Further, a conductive material such as A1 is formed again as a metal thin film 17 on the substrate by a method such as sputtering (d), and a range including at least a portion forming a fluorescent screen is removed by a normal photolithography process or the like. The control electrode patterns 17a and 17b are formed (e).

【0041】これは、レジスト塗布工程で、例えば、ポ
ジ型レジスト5(OFPR800、東京応化等)をスピ
ナーにより塗布すれば、1.2ミクロン位の厚さに容易
にでき、紫外線をレジスト除去部に露光した後アルカリ
性現像液(NMD−W、東京応化等)に浸漬して、レジ
ストパターニングを行なったのち、酸性のエッチャント
(例えばリン酸を主成分とするもの)で金属薄膜のエッ
チングを行なう。また、必要ならばレジスト除去を行な
う。
This is a resist coating process. For example, if a positive type resist 5 (OFPR800, Tokyo Ohka Co., Ltd.) is applied by a spinner, it can be easily made to have a thickness of about 1.2 microns, and ultraviolet rays can be applied to the resist removing portion. After the exposure, the resist is patterned by immersing it in an alkaline developer (NMD-W, Tokyo Oka, etc.), and then etching the metal thin film with an acidic etchant (for example, phosphoric acid as a main component). If necessary, the resist is removed.

【0042】さて、この後、蛍光体が付着する部分の第
一絶縁層15を除去し(f)、短冊状電極2を露出させ
ると同時にアレイ方向を垂直な方向に絶縁層15a,1
5bでパターニングする。これも、通常のフォトリソグ
ラフィの方法により、再びレジストをこの基板の上に塗
布し露光、現像により、蛍光体が付着する部分を覆って
いる絶縁膜上のレジストを除去した後、この部分の絶縁
膜をエッチング除去する。
Then, after that, the first insulating layer 15 in the portion to which the phosphor adheres is removed (f), and the strip electrodes 2 are exposed, and at the same time, the insulating layers 15a, 1a are arranged in the direction perpendicular to the array direction.
Patterning is performed with 5b. This is also the case that the resist on the insulating film covering the part to which the fluorescent substance adheres is removed by applying the resist again on this substrate by the ordinary photolithography method, exposing and developing, and then insulating this part. Etch away the film.

【0043】次に、レジスト除去工程で余分なレジスト
を剥離液などで完全に除去すれば、蛍光体が付着する部
分のA1電極と、制御電極が露出する。最後に、この蛍
光体が付着する部分のA1電極に例えば蛍光体粒子を含
む電着液中で電着を行ない、蛍光面7を形成する
(g)。
Next, in the resist removing step, the excess resist is completely removed with a stripping solution or the like, so that the A1 electrode and the control electrode at the portion where the phosphor adheres are exposed. Finally, the A1 electrode in the portion to which the phosphor is attached is subjected to electrodeposition in an electrodeposition liquid containing phosphor particles to form a phosphor screen 7 (g).

【0044】これは、スピナーなどを使って形成した膜
厚の薄いSiO膜上に形成した金属薄膜で制御電極を
形成しているので、蛍光面付近の制御電極の精度が高
く、電極面高さを低くでき蛍光面に近ずけれる。また、
この制御電極がこのSiO膜上には比較的小さい部分
しかなくその下地のほとんどは低融点ガラスからなる絶
縁層であるので管球化の際の熱工程によるクラックが生
じにく、作製が容易になる。
This is because the control electrode is formed of a metal thin film formed on a thin SiO 2 film formed by using a spinner or the like, so that the control electrode near the fluorescent screen has high accuracy and the height of the electrode surface is high. The height can be lowered and it approaches the fluorescent screen. Also,
Since this control electrode has only a comparatively small portion on this SiO 2 film and most of the underlying layer is an insulating layer made of low melting point glass, cracks are less likely to occur due to a thermal process at the time of tube formation, and the production is easy. become.

【0045】また、従来の酸化鉛を主成分とする硼硅酸
鉛ガラスからなる絶縁層をソーダガラスやA1短冊状電
極と直接に接触させてないため、A1などの金属配線の
腐食を起こしにくい。さらに、蛍光体を付着する面をレ
ジストで被覆しておらず、電極面が汚染されにくく蛍光
体が付着しやすい。また、蛍光体を付着した後にレジス
トの除去工程が無いため、蛍光体の効率が低下しにく
い。
Further, since the conventional insulating layer made of lead borosilicate glass containing lead oxide as a main component is not in direct contact with soda glass or A1 strip electrodes, corrosion of metal wiring such as A1 is unlikely to occur. . Furthermore, since the surface to which the phosphor is attached is not covered with a resist, the electrode surface is unlikely to be contaminated and the phosphor is easily attached. Further, since there is no resist removing step after the phosphor is attached, the efficiency of the phosphor is unlikely to decrease.

【0046】図2は、本発明の他の実施例(請求項2に
対応)を説明するための図で、まず、電極形成工程にお
いて、A1などの導電性材料をスパッタなどの方法によ
りソーダガラス基板上1に形成させ、通常のフォトリソ
グラフィ工程により短冊状のA1配線パターン2を形成
する(a)。
FIG. 2 is a view for explaining another embodiment (corresponding to claim 2) of the present invention. First, in the electrode forming step, a conductive material such as A1 is soda-glass by a method such as sputtering. A strip-shaped A1 wiring pattern 2 is formed on a substrate 1 by a normal photolithography process (a).

【0047】次に、第一絶縁層形成工程として、例えば
スクリーン印刷法を用いた厚膜印刷技術により低融点ガ
ラスを印刷、焼成して、厚さ10から20ミクロンの絶
縁膜16(16a,16b)を形成する(b)。
Next, in the first insulating layer forming step, low melting point glass is printed and baked by a thick film printing technique using, for example, a screen printing method, and the insulating film 16 (16a, 16b) having a thickness of 10 to 20 microns is formed. ) Is formed (b).

【0047】この絶縁膜は、少なくとも、蛍光面と制御
電極の蛍光面側の端部を含む範囲を開口部として待っよ
うにする。絶縁膜16で被覆した後は、第二絶縁層形成
工程として、絶縁膜として例えばSiO膜を用い、前
述のようにして、スピナーなどの厚さ1ミクロンの第二
絶縁層15を形成する(c)。
The insulating film waits at least in the range including the fluorescent screen and the fluorescent screen side end of the control electrode as an opening. After coating with the insulating film 16, in the second insulating layer forming step, for example, a SiO 2 film is used as the insulating film, and the second insulating layer 15 having a thickness of 1 μm such as a spinner is formed as described above ( c).

【0048】この後は、図1に示した実施例と同一であ
り、再びA1などの導電性材料をスパッタなどの方法に
より基板上に金属薄膜17として形成させ(d)、通常
のフォトリソグラフィ工程などにより少なくとも蛍光面
を形成する部分を含む範囲を除去することにより制御電
極のパターン17a,17bを形成する(e)。
After this, the same procedure as in the embodiment shown in FIG. 1 is carried out. Again, a conductive material such as A1 is again formed as a metal thin film 17 on the substrate by a method such as sputtering (d), and a normal photolithography process is performed. The control electrode patterns 17a and 17b are formed by removing a range including at least a portion that forms a fluorescent screen by, for example, (e).

【0049】この後、蛍光体が付着する部分の第二絶縁
層15を除去し(f)、短冊状電極を露出させると同時
にアレイ方向を垂直な方向に絶縁層15a,15bでパ
ターニングする。その後に、この蛍光体が付着する部分
のA1電極に例えば蛍光体粒子を含む電着液中で電着を
行ない、蛍光面7を形成する(g)。
After that, the second insulating layer 15 at the portion where the phosphor adheres is removed (f), the strip electrodes are exposed, and at the same time, the array direction is patterned by the insulating layers 15a and 15b in the vertical direction. After that, the A1 electrode in the portion to which the phosphor adheres is subjected to electrodeposition in an electrodeposition solution containing phosphor particles to form a phosphor screen 7 (g).

【0050】この実施例は、基本的には実施例1とほぼ
同様のものが得られるが、その形成順序が変化したため
に構造が少し異なる。これは、蛍光面付近の制御電極の
精度が高く、電極面高さを低くでき蛍光面に近ずけれ、
また、この制御電極が管球化の熱工程によるクラックが
生じにくく、作製が容易になるのは同じである。
This embodiment is basically the same as that of the first embodiment, but the structure is slightly different because the order of formation is changed. This is because the precision of the control electrode near the phosphor screen is high, the height of the electrode surface can be reduced, and it can approach the phosphor screen.
In the same way, the control electrode is less likely to be cracked due to the heat step of tube formation, and the production is easy.

【0051】しかし、従来の酸化鉛を主成分とする硼硅
酸鉛ガラスからなる絶縁層をソーダガラスやA1電極と
直接に接触させているため、図1に示した実施例の場合
と比べてA1などの金属配線の腐食を起こしやすい。し
かし、厚さや材料にもよるが低融点ガラス形成における
例えば500℃以上60分程度の熱工程などを終わって
から、SiO膜を形成しているので、SiO膜のク
ラックなどが実施例1の場合より生じにくいという利点
もある。
However, as compared with the case of the embodiment shown in FIG. 1, since the conventional insulating layer made of lead borosilicate glass containing lead oxide as the main component is in direct contact with soda glass or A1 electrode. Corrosion of metal wiring such as A1 is likely to occur. However, although it depends on the thickness and the material, the SiO 2 film is formed after the thermal process of forming the low melting point glass, for example, at a temperature of 500 ° C. or higher for about 60 minutes, so that cracks in the SiO 2 film may occur. There is also an advantage that it is less likely to occur than in the case of.

【0052】図3は、本発明の他の実施例(請求項3に
対応)を説明するための図で、この実施例は、基板上1
にあらかじめ被覆したSiOコート18を設けたもの
である。このため、この被覆膜は、短冊状電極をパター
ニングする絶縁層をエッチング除去するフッ酸系エッチ
ャントに対して、絶縁層と同じエッチング速度であり、
A1からなる短冊状電極に対するエッチング速度は小さ
い。
FIG. 3 is a diagram for explaining another embodiment of the present invention (corresponding to claim 3). This embodiment is a substrate 1
1 is provided with a SiO 2 coat 18 previously coated thereon. Therefore, this coating film has the same etching rate as that of the insulating layer with respect to the hydrofluoric acid-based etchant that etches away the insulating layer for patterning the strip electrode.
The etching rate for the strip-shaped electrode made of A1 is low.

【0053】このような被覆を施した後、図1、図2に
おける(e)から(f)へのエッチングを行うと、短冊
状電極のA1だけがエッチング速度が小さくなるため、
基板をA1の電極の形状を保持したまま、必要な部分の
絶縁層だけを除去できる。
When the etching from (e) to (f) in FIGS. 1 and 2 is performed after applying such a coating, only the strip-shaped electrode A1 has a smaller etching rate.
It is possible to remove only the necessary portion of the insulating layer while maintaining the shape of the A1 electrode on the substrate.

【0054】また、ソーダガラスA1からなる短冊状電
極を直接に接触させていないので、電極の腐食にたいし
て非常に強くなる。
Further, since the strip electrodes made of soda glass A1 are not in direct contact with each other, the electrodes are very resistant to corrosion.

【効果】【effect】

【0055】以上の説明から明らかなように、請求項1
及び2の発明によると、蛍光体ドットアレイの蛍光面形
成方法において、2層の絶縁膜で短冊状電極を被覆し薄
い方の絶縁膜で短冊状電極のパターニングを行なうとと
もに、この厚い方の絶縁膜上に形成した金属薄膜を導通
させて、薄い方の金属薄膜の制御電極を形成しているの
で、制御電極の精度が高く、電極面の高さが低く、かつ
製法の容易な蛍光体ドットアレイを提供することができ
る。
As is apparent from the above description, claim 1
According to the invention of 2 and 2, in the method for forming the phosphor screen of the phosphor dot array, the strip-shaped electrode is covered with two layers of insulating films, and the strip-shaped electrode is patterned with the thin insulating film, Since the thin metal film control electrode is formed by conducting the thin metal film formed on the film, the control electrode has high accuracy, the height of the electrode surface is low, and the phosphor dot is easy to manufacture. An array can be provided.

【0056】また、請求項3の発明によると、蛍光体ド
ットアレイ管の蛍光面形成方法において、基板を、短冊
状電極をパターニングする方の絶縁層をエッチング除去
するエッチャントに対して、この絶縁層とほぼ同じまた
は小さいエッチング速度である絶縁材料であらかじめ被
覆しているので、他に影響を与えず、蛍光体を付着させ
る電極面上の絶縁層だけを除去できる。
According to the third aspect of the present invention, in the method for forming a phosphor screen of a phosphor dot array tube, the insulating layer is removed from the substrate by an etchant for etching away the insulating layer for patterning the strip electrodes. Since it is pre-coated with an insulating material having an etching rate almost the same as or smaller than that, it is possible to remove only the insulating layer on the electrode surface to which the phosphor is attached without affecting the others.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による蛍光面形成方法の一実施例を説明
するための工程図である。
FIG. 1 is a process chart for explaining an embodiment of a phosphor screen forming method according to the present invention.

【図2】本発明の他の実施例を説明するための工程図で
ある。
FIG. 2 is a process drawing for explaining another embodiment of the present invention.

【図3】本発明の他の実施例を説明するための要部工程
の断面構成図である。
FIG. 3 is a cross-sectional configuration diagram of a main part process for explaining another embodiment of the present invention.

【図4】蛍光体ドットアレイ管の一例を示す分解斜視図
である。
FIG. 4 is an exploded perspective view showing an example of a phosphor dot array tube.

【図5】図4の断面図である。5 is a cross-sectional view of FIG.

【図6】従来技術による蛍光面形成方法の具体例を断面
図で示す工程図である。
FIG. 6 is a process drawing showing a cross-sectional view of a specific example of a phosphor screen forming method according to a conventional technique.

【図7】本出願人が先に提案した従来技術による蛍光面
形成方法の他の具体例を断面図で示す工程図である。
FIG. 7 is a process diagram showing a cross-sectional view of another specific example of the phosphor screen forming method according to the conventional technique previously proposed by the applicant.

【図8】本出願人が先に提案した従来技術による蛍光面
形成方法の他の具体例を断面図で示す工程図である。
FIG. 8 is a process diagram showing in cross section another specific example of the phosphor screen forming method according to the conventional technique previously proposed by the applicant.

【図9】本出願人が別途提案した先行技術による蛍光面
形成方法の具体例を断面図で示す工程図である。
FIG. 9 is a process diagram showing a cross-sectional view of a specific example of a phosphor screen forming method according to the prior art separately proposed by the applicant.

【図10】図9に示した絶縁膜3を膜厚印刷によって形
成した場合の例を説明するための断面工程図である。
FIG. 10 is a sectional process diagram for explaining an example of a case where the insulating film 3 shown in FIG. 9 is formed by film thickness printing.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 配線パターン 3,8,10,14,15(15a,15b),16
(16a,16b),18 絶縁層 4,12,13 フォトレジスト層 6 フォトマスク 7 蛍光体 11(11a,11b),17(17a,17b) 金
属薄膜(制御電極)
1 substrate 2 wiring pattern 3,8,10,14,15 (15a, 15b), 16
(16a, 16b), 18 Insulating layer 4, 12, 13 Photoresist layer 6 Photomask 7 Phosphor 11 (11a, 11b), 17 (17a, 17b) Metal thin film (control electrode)

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】蛍光体ドットアレイ管における蛍光面形成
方法において、基板上に導電性材料からなる短冊状電極
を少なくとも一列設ける電極形成工程と、前記短冊状電
極を含む前記基板表面を絶縁性を有する薄膜で被覆する
第一絶縁層形成工程と、第一絶縁層で被覆された前記基
板表面を開口部を設けた絶縁性を有する物質で第一絶縁
層よりも厚い薄膜で被覆する第二絶縁層形成工程と、こ
れら2つの絶縁性を有する膜で被覆された前記基板表面
を金属薄膜で被覆する工程と、第二絶縁層の前記開口部
の中の前記金属薄膜の一部を除去する工程と、この金属
薄膜の一部が除去されて露出した前記第一絶縁層の少な
くとも一部を除去して前記短冊状電極の一部を露出させ
る工程と、露出した電極部分の一つ一つに蛍光体を付着
させて蛍光面を形成する蛍光面形成工程と含むことを特
徴とする蛍光面形成方法。
1. A method for forming a phosphor screen in a phosphor dot array tube, comprising: an electrode forming step of providing at least one row of strip electrodes made of a conductive material on a substrate; and insulating the substrate surface including the strip electrodes with insulation. A first insulating layer forming step of covering with a thin film having, and a second insulating covering the surface of the substrate covered with the first insulating layer with a thin film thicker than the first insulating layer with an insulating substance having openings A layer forming step, a step of coating the substrate surface covered with these two insulating films with a metal thin film, and a step of removing a part of the metal thin film in the opening of the second insulating layer. And a step of removing at least a part of the first insulating layer exposed by removing a part of the metal thin film to expose a part of the strip-shaped electrode, and each of the exposed electrode parts. Shape phosphor screen by attaching phosphor A phosphor screen forming method, which comprises a phosphor screen forming step for.
【請求項2】蛍光体ドットアレイ管における蛍光面形成
方法において、基板上に導電性材料からなる短冊状電極
を少なくとも一列設ける電極形成工程と、前記短冊状電
極を含む前記基板表面を開口部を設けた絶縁性を有する
物質で被覆する第一絶縁層形成工程と、この第一絶縁層
で被覆された前記基板表面を絶縁性を有する物質からな
る前記第一絶縁層より薄い薄膜で被覆する第二絶縁層形
成工程と、これら2つの絶縁性を有する膜で被覆された
前記基板表面を金属薄膜で被覆する工程と、第一絶縁層
の前記開口部の中の前記金属薄膜の一部を除去する工程
と、この金属薄膜の一部が除去されて露出した前記第二
絶縁層の少なくとも一部を除去して前記短冊状電極の一
部を露出させる工程と、露出した電極部分の一つ一つに
蛍光体を付着させて蛍光面を形成する蛍光面形成工程と
を含むことを特徴とする蛍光面形成方法。
2. A method of forming a phosphor screen in a phosphor dot array tube, comprising: an electrode forming step of providing at least one row of strip electrodes made of a conductive material on a substrate; and forming an opening at the substrate surface including the strip electrodes. A first insulating layer forming step of covering with a provided insulating material, and a step of covering the substrate surface covered with the first insulating layer with a thin film thinner than the first insulating layer made of an insulating material. A second insulating layer forming step, a step of coating the substrate surface covered with these two insulating films with a metal thin film, and removing a part of the metal thin film in the opening of the first insulating layer And a step of removing at least a part of the second insulating layer exposed by removing a part of the metal thin film to expose a part of the strip-shaped electrode, and one of the exposed electrode parts. Attach the phosphor to one A phosphor screen forming method, which comprises a phosphor screen forming step for forming a fluorescent screen.
【請求項3】請求項1又は2に記載の蛍光体ドットアレ
イ管における蛍光面形成方法において、前記基板を、短
冊状電極をパターニングする方の絶縁層をエッチング除
去するエッチャントに対して、この絶縁層とほぼ同じ
か、または小さいエッチング速度である絶縁材料であら
かじめ被覆していることを特徴とする栄光面形成方法。
3. The phosphor screen forming method for a phosphor dot array tube according to claim 1 or 2, wherein the substrate is insulated against an etchant for etching away an insulating layer for patterning the strip electrodes. A method of forming a glorious surface, characterized in that the layer is previously coated with an insulating material having an etching rate substantially equal to or lower than that of the layer.
JP40467790A 1990-12-05 1990-12-05 Phosphor screen forming method Expired - Fee Related JPH0668949B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP40467790A JPH0668949B2 (en) 1990-12-05 1990-12-05 Phosphor screen forming method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP40467790A JPH0668949B2 (en) 1990-12-05 1990-12-05 Phosphor screen forming method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04209442A JPH04209442A (en) 1992-07-30
JPH0668949B2 true JPH0668949B2 (en) 1994-08-31

Family

ID=18514334

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP40467790A Expired - Fee Related JPH0668949B2 (en) 1990-12-05 1990-12-05 Phosphor screen forming method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0668949B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04209442A (en) 1992-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6699642B2 (en) Method of manufacturing triode carbon nanotube field emitter array
US6387600B1 (en) Protective layer during lithography and etch
KR20060090433A (en) A flat display device and a method for preparing the same
US7030545B2 (en) Field emission cathode with emitters formed of acicular protrusions with secondary emitting protrusions formed thereon
JPH0668949B2 (en) Phosphor screen forming method
KR20070012134A (en) Electron emission device having a focus electrode and a fabrication method for thereof
EP1019935B1 (en) Row electrode anodization
JPH0668948B2 (en) Phosphor screen forming method in phosphor dot array tube
JPH0670893B2 (en) Phosphor screen forming method in phosphor dot array tube
KR950003649B1 (en) Spacer field emission display and manufacturing method thereof
JP4418801B2 (en) Electron emission device, electron emission display device, and method of manufacturing electron emission device
JP3062637B2 (en) Method of manufacturing fluorescent display tube
JPH04284325A (en) Electric field emission type cathode device
KR100724369B1 (en) Field emission device with ultraviolet protection layer and manufacturing method thereof
JP2646236B2 (en) Electron emitting device and method of manufacturing the same
JPH0443529A (en) Fluorescent surface forming method
KR100352972B1 (en) Field Emission Devices and Fabrication Methods thereof
KR100357832B1 (en) Method of Fabricating Focusing Device in Field Emission Display
KR910007733B1 (en) Manufacturing method for a flourescent display tube
JP3988770B2 (en) Display device using thin-film electron source and manufacturing method thereof
KR20040010224A (en) Method of manufacturing member pattern, method of manufacturing wiring structure, method of manufacturing electron source, and method of manufacturing image display device
KR20070001582A (en) Electron emission device and the fabrication method for thereof
KR20070042424A (en) Electron emission device and the method of fabricating thereof
JP2005116231A (en) Manufacturing method of cold cathode field electron emission display device
JPH0398239A (en) Forming method for fluorescent face of fluorescent substance dot-array tube

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 14

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080831

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080831

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 15

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090831

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees