JPH0667130A - 光制御素子 - Google Patents

光制御素子

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JPH0667130A
JPH0667130A JP21679292A JP21679292A JPH0667130A JP H0667130 A JPH0667130 A JP H0667130A JP 21679292 A JP21679292 A JP 21679292A JP 21679292 A JP21679292 A JP 21679292A JP H0667130 A JPH0667130 A JP H0667130A
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JP
Japan
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substrate
buffer layer
optical waveguide
optical
light
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JP21679292A
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Hiroshi Miyazawa
弘 宮澤
Osamu Mitomi
修 三冨
Kazuto Noguchi
一人 野口
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/03Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on ceramics or electro-optical crystals, e.g. exhibiting Pockels effect or Kerr effect
    • G02F1/035Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on ceramics or electro-optical crystals, e.g. exhibiting Pockels effect or Kerr effect in an optical waveguide structure
    • G02F1/0356Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on ceramics or electro-optical crystals, e.g. exhibiting Pockels effect or Kerr effect in an optical waveguide structure controlled by a high-frequency electromagnetic wave component in an electric waveguide structure

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  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電気光学結晶からなるデバイスの作製時の内
部応力や、基板とバッファ層あるいは、電極,パッケー
ジ等との熱膨張差による内部応力等に起因する光出力特
性のシフトを防止し、安定した光出力を得る。 【構成】 少なくとも1本の光導波路を表面近傍に備え
た電気光学効果を有する基板と、該基板上に形成された
バッファ層と、該バッファ層上に配置された電極とで構
成される光制御素子において、前記基板101、バッフ
ァ層113、電極114のうち少なくとも1つの、光導
波路102,103の近傍でかつ光導波路を伝搬する光
波の界分布に影響を与えない程度離れた位置に、所定の
幅、長さ及び深さの溝115を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光波の変調,光伝送路
の切り替え等を行う能動的光デバイスとしての光制御素
子、特に、基板中に設けられた光導波路を用いて制御を
行う導波路形の光制御素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、光通信システムの実用化が進むに
つれ、超大容量、高機能のシステムが要求されている。
そのため、より高速の光信号の発生、光伝送路の切り替
え、光伝送路の交換等の新たな機能の付加が必要とされ
ている。
【0003】現在の実用システムにおいては、光信号
は、半導体レーザや発光ダイオードの注入電流を直接変
調することによって得ているが、このような内部変調に
対して外部で変調を行う高速の光変調器や光スイッチ等
の光制御素子が必要となっている。
【0004】高速の光制御素子としては、電気光学効果
を利用する光制御素子が代表的であり、方向性結合器形
の光変調器やスイッチ、全反射形光スイッチ、マッハツ
ェンダ形の光変調器やスイッチに関する報告がなされて
いる。
【0005】例えば、10Gb/s以上の超高速信号の
変調器、あるいは、スイッチング素子として、電気光学
結晶であるLiNbO3結晶中にTiを拡散して形成し
た光導波路を利用する素子があり、マイクロ波と光波と
の速度整合を行った進行波電極を用いることにより20
GHz程度の変調帯域の値が得られている。
【0006】このような光変調器の従来例を図9及び図
10に示す。図9は概略平面図、図10は図9のA−A
線断面図である。この光変調器は、マッハツェンダ形で
あり、電気光学効果を有するzカットLiNbO3の基
板101の上に、一対の幅数〜数十μm、長さ数〜数十
mmの光導波路102,103を互いに平行に数十μm
の間隔で近接した一対の光導波路を設け、この光導波路
上にそれぞれ進行波電極114を設け、光導波路10
2,103と一組の電極114との間に、電極による光
吸収を防止するためのバッファ層(SiO2膜)113
を介在させている。これらの光導波路102,103と
一組の電極114とにより、二つの位相変調形の光制御
素子が構成される。
【0007】また、基板101の一端部上には、端面に
入射端108を持つ入力光導波路106が形成され、こ
の入力光導波路106と位相変調部光導波路102,1
03とが、3dBのY分岐部光導波路104により接続
されている。同様に、基板101の他端部上にも、入射
端108の反対側端面に出射端109を持つ出力光導波
路107が形成され、この出力光導波路107と位相変
調部光導波路102,103とが、3dBのY合波部光
導波路105により接続される。なお、分岐・合波部光
導波路104,105の開き角は数mradであり、各
光導波路のパターン幅は5〜10μmである。
【0008】次に、図9の光変調器の動作を説明する。
入射端108への入射光111は、入射光導波路106
を通過して3dB分岐部光導波路104に導かれ、位相
変調部光導波路102と103とに分岐する。ここで、
この光導波路102と103とは、光導波路の幅及び長
さが全く等しい光導波路である。このような光変調器に
駆動電圧が供給されると、この光変調器では、電極11
4間に電界が加わる。LiNbO3基板101は電気光
学効果を有するので、この電界により屈折率変化を生じ
る。その結果、二本の光導波路102,103を伝搬す
る光の位相にずれが生じる。このずれがπ(ラジアン)
になった場合、マッハツェンダ形光導波路の合波部10
5で高次モードを励振し、出射光はOFF状態となる。
【0009】従って、出射光112は、印加電圧に対し
て正弦波状に変化し、図13の実線で示すような光出力
特性を示す。なお、図13において、光出力をon/o
ffさせるのに必要な電圧を半波長電圧Vπとしてい
る。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】前述のような従来の光
変調器構造において、半波長電圧Vπを小さくするた
め、電気光学定数が最大となるようにデバイスを構成し
ている。即ち、光導波路を伝搬する光の偏光をz軸方向
とし、印加する電界の方向もz軸方向としているため、
図10に示したように電極114が光導波路102,1
03の直上に配置される。そのため、電極114による
光吸収を防止すべく、電極114と光導波路102,1
03との間にSiO2膜を形成してバッファ層113と
している。このSiO2バッファ層113の厚さは、通
常0.4μm程度必要である。
【0011】このようにバッファ層113がある状態
で、電極114にバイアス電圧123を印加すると、電
気力線124は、図10中で示すような形態となり、光
導波路に実効的に印加される電界は、バッファ層113
がない状態より小さくなる。これは、基板101や光導
波路102,103、及びバッファ層113をコンデン
サ及び抵抗体に置き換えた図8で示す等価回路で説明す
ることができる。図11において、R1及びC1は、そ
れぞれ、LiNbO3基板と光導波路部を合わせた実効
的な抵抗及び静電容量である。R2及びC2は、それぞ
れ、バッファ層113の実効的な抵抗及び静電容量であ
る。
【0012】このような従来の光変調器において、図1
2に示すように、バイアス電圧Veを一定電圧で印加し
た状態で長時間動作させると、光導波路に印加される実
効的な電圧Vwの大きさは、初期(t=0)において
は、静電容量C1及びC2の大きさで決まる値、すなわ
ち、Ve印加直後の光導波路に印加される実効的な電圧
Vw1(=C2/(C2+C1))になる。また、充分
に長い時間経過した後(t=∞)には、Vwの大きさは
抵抗R1及びR2の大きさで決まる値、すなわち、Ve
印加後充分時間を経たときの光導波路に誘起される実効
的な電圧Vw2(=R1/(R1+R2))に収束す
る。このように、動作点が経時的に変動し、光出力特性
がシフトする、いわゆるDCドリフト現象が生じる。こ
の状態は、図13の点線で示すような特性となる。
【0013】このため、バイアス電圧Veをその動作点
変動に応じて変動させる動作点ロッキング制御法を行な
う必要がある。この場合、C1R1>C2R2の場合で
は、Vw1<Vw2となるために、バイアス電圧Veは
減少し最終的に飽和し安定する。一方、C1R1<C2
R2の場合では、Vw1>Vw2となるために、バイア
ス電圧VeはVw1/Vw2(>1)倍にする必要が生
じる。この時、Vw1>>Vw2となり、動作点ロッキ
ング制御の制御範囲を越えてしまい制御不可能な状態と
なる。
【0014】R1,C1,R2,C2の値は、電極の形
状と、LiNbO3基板101あるいはバッファ層11
3の抵抗率や誘電率によって決まる。ここで、LiNb
3のバルク結晶の抵抗率及び誘電率は室温において、
ρ〜1017Ωcm、及びε〜35である。SiO2薄膜の
抵抗率及び誘電率は、製作法や製作条件等により異な
り、大体ρ〜1015Ωcm、及びε〜4程度の値である。
よって、R1〜1017Ω,R2〜1015Ω,C1〜C2
〜数pFとなり、C1R1<C2R2の場合となり、安
定した動作となる。
【0015】しかしながら、デバイスを製作する過程に
おいて加わる加工歪、あるいは基板結晶内歪等の影響に
より、LiNbO3基板に応力が発生する。例えば、プ
ラズマ化学気相堆積法(PCVD法)等でSiO2バッ
ファ層113を形成する際に、通常、薄膜内に108
a(パスカル)程度の内部応力が発生する。この内部応
力によってLiNbO3基板101が応力を受けるた
め、LiNbO3基板101が反ってしまう。
【0016】LiNbO3基板中の応力σLNは、SiO2
バッファ層中の応力をσbとすると、次式で与えられ
る。
【0017】
【数1】 σLN=a・σb・(db/dLN) ここで、a:比例定数,dLN:LiNbO3基板の厚
み、db:SiO2バッファ層の厚みである。内部応力の
様子は、図10中に矢印で示している。
【0018】この内部応力は、LiNbO3結晶のエネ
ルギーバンド構造を変化させ、抵抗率ρLNを変える。抵
抗率の変化△ρLN(=ρLN−ρLN0)は、次式で与えら
れる。
【0019】
【数2】 △ρLN/ρLN0≒Π・σLN ここで、ρLN0:応力のないときのLiNbO3の抵抗
率、Π:ピエゾ抵抗係数である。
【0020】一方、SiO2バッファ層は非晶質である
ため、応力による抵抗率変化は、結晶と比較して非常に
小さい。従って、内部応力によってSiO2バッファ層
の抵抗率と比較して、LiNbO3基板の抵抗率が大き
く減少することになる。
【0021】以上述べたように、バッファ層113が形
成されていると、LiNbO3基板101に内部応力1
21が存在し、LiNbO3の光導波路102,103
近傍の抵抗率が減少する。例えばR1が〜1013Ωとな
り、バッファ層の抵抗率より小さくなる。すなわち、C
1R1<C2R2で、Vw1>>Vw2の状態になり、
DCドリフトを動作点ロッキング制御法を用いても制御
不可能となってしまうという問題があった。
【0022】また、LiNbO3基板101の熱膨張係
数は、SiO2膜の熱膨張係数と大きく異なり、使用環
境温度等の変化によっても、内部応力121が随時変化
することになる。また、電極114、あるいはパッケー
ジ用ケース材料等と基板101においても同様な熱膨張
係数に差があるため、上述と同様の問題があった。
【0023】さらに、LiNbO3基板101は、電歪
効果(圧電逆効果)も有するため、外部印加電界の変化
により上述した現象と同様に基板が歪んで、内部応力1
21が随時変化し、上述と同様の問題があった。
【0024】本発明は、前述の問題点を解決するために
なされたものであり、本発明の目的は、電気光学結晶か
らなるデバイスの作製時の内部応力や、基板とバッファ
層あるいは、電極,パッケージ等との熱膨張差による内
部応力等に起因する光出力特性のシフトを防止し、安定
した光出力を得ることが可能な光制御素子を提供するこ
とにある。
【0025】本発明の前記ならびにその他の目的及び新
規な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明ら
かにする。
【0026】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、少なくとも1本の光導波路を表面近傍に
備えた電気光学効果を有する基板と、該基板上に形成さ
れたバッファ層と、該バッファ層上に配置された電極と
で構成される光制御素子において、前記基板、バッファ
層、電極のうち少なくとも1つの、光導波路の近傍でか
つ光導波路を伝搬する光波の界分布に影響を与えない程
度離れた位置に、所定の幅、長さ及び深さの溝を設けた
ことを最も主要な特徴とする。
【0027】
【作用】前述の手段によれば、基板のバッファ層あるい
は電極には、作製時あるいは使用時に内部応力が生じよ
うとするが、基板,バッファ層あるいは電極の、光導波
路近傍かつ光導波路を伝搬する光波の界分布に影響を与
えない程度離れた位置に所定の幅、長さ及び深さの溝が
形成されていると、各々の溝において応力が開放される
ために、光導波路に加わる内部応力が無くなり、光導波
路の抵抗率減少が生じることがなくなる。また、熱や電
歪効果による応力は、上記溝で開放されるため、同様に
光導波路の抵抗率減少が生じなくなる。これにより、正
常な正弦波状の光出力を安定して出力することができ
る。
【0028】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳
細に説明する。
【0029】なお、実施例を説明する全図において、同
一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの
説明は省略する。
【0030】(実施例1)図1は、本発明をマッハツェ
ンダ形の光変調器に適用した実施例1の概略構成を示す
平面図、図2は図1のA−A線断面図である。なお、従
来と同様あるいは相当する部分には同一符号を付してあ
る。
【0031】図1において、マッハツェンダ形光変調器
は、電気光学効果を有するzカットLiNbO3の基板
101の上に、Ti熱拡散の後にリッジ加工を施した一
対の光導波路102,103(幅数〜数十μm,長さ数
〜数十mm,間隔数十μm)を平行に近接配置してい
る。この光導波路102,103近傍に、幅WLN,深さ
LN,長さLLNの応力開放溝115を形成している。さ
らに、光導波路102,103上に一組の進行波電極1
14を形成し、光導波路102,103と一組の電極1
14との間に、電極による光吸収を防止するためのバッ
ファ層(SiO2膜)113を介在させている。これら
の光導波路102,103と一組の電極114により、
二つの位相変調形の光制御素子が構成される。
【0032】また、基板101の一端部上には、端面に
入射端108を持つ入力光導波路106が形成され、こ
の入力光導波路106と位相変調部光導波路102,1
03とが、3dBのY分岐部光導波路104により接続
されている。同様に、基板101の他端部上にも、入射
端の反対側端面に出射端109を持つ出力光導波路10
7が形成され、この出力光導波路107と位相変調部光
導波路102,103とが、3dBのY合波部光導波路
105により接続される。なお、分岐・合波部光導波路
104,105の開き角は数mradであり、各光導波
路のパターン幅は5〜10μmである。
【0033】以上のような構成において、電極114間
に電界が加わると、LiNbO3基板の電気光学効果に
より、二本の位相変調光導波路102,103を伝搬す
る光の位相にずれが生じる。このずれがπになると、合
波部光導波路105における高次モードの励振により光
はOFF状態となる。従って、出射光112は、印加電
圧に対して正弦波状に変化する。
【0034】図3は、本発明の原理を説明するための図
であり、基板に形成した溝115の幅WLN,深さDLN
及び長さLLNと、光導波路近傍に誘起される応力σLN
21、及び光導波路近傍の抵抗率ρLNとの関係の概略を
示す。なお、実際には応力及び抵抗率は分布を示すが、
詳細には、有限要素法等の応力解析を行なうことによっ
て求めることができる。この図3からわかるように、溝
の幅,深さ,あるいは長さが大きくなる程、誘起される
応力121が低下し、抵抗率の減少が抑制されることが
わかる。
【0035】実際には、溝115の幅WLNとしては光導
波路幅と同程度から数倍の大きさ、また、溝115の深
さDLNとしては光導波路深さの大きさと同程度から数倍
の大きさ、さらに、溝115の長さLLNは、位相変調部
の長さと同程度であれば、LiNbO3の抵抗率の減少
はかなり抑えられる。なお、図1の構成において、光導
波路に沿った方向に複数の溝を並べて形成してもよい。
【0036】(実施例2)図4は、本発明の実施例2の
概略構成を示す断面図であり、基板101に形成した溝
115の方向とバッファ層113に形成した溝116の
方向を同一方向したものである。ここでは、バッファ層
113に基板101に形成した溝115とほぼ同じ位置
に溝116を形成した場合である。ここで、バッファ層
113の溝116部分は、光導波路を伝搬する光波の界
分布に影響を与えなければ、完全に除去してもよい。
【0037】(実施例3)図5は、本発明の実施例3の
概略構成を示す平面図、図6は図5のB−B線断面図で
あり、基板101に形成した溝115と交差させるよう
にバッファ層113に溝117を形成したものである。
【0038】これにより、後述する図10に示す応力の
方向と直交する方向、すなわち、光導波路の伝搬方向に
対する応力も緩和することができる。溝の深さは、光導
波路を伝搬する光波の界分布に影響を与えない程度に深
くしてもよい。また、溝115と溝116は直交してい
なくてもよい。
【0039】(実施例4)図7は、本発明の実施例4の
概略構成を示す断面図、図8は、図7のA−A線断面図
であり、基板101に形成した溝115の方向と電極1
14に形成した溝118の方向を同一方向としたもので
ある。この構成により、電極114によって誘起される
応力を低減することができる。ここで、バッファ層11
3の厚さは一様としているが、図4あるいは図5のよう
な溝をバッファ層に形成してもよい。
【0040】前述した基板101、バッファ層113、
及び電極114の溝115,116,117,118
は、光導波路102,103に必ずしも沿う必要はな
く、斜めに形成しても、また、複数の溝を並べて形成し
ても同様の効果がある。
【0041】また、溝の上に形成する層を平坦化する場
合、例えば溝117を有するバッファ層113上の電極
114を平坦化しようとする場合、溝117に応力を開
放しやすい材料、例えば軟質樹脂等を充填する、あるい
は、溝117を空隙としても、応力がほとんど生じるこ
とはないので、上記と同様の効果がある。
【0042】前記実施例1,2では、基板に溝を形成し
た例を中心に示したが、基板,バッファ層,電極のいず
れか一つに溝を形成する、あるいはそれらを組み合わせ
ても同様の効果がある。
【0043】また、光導波路として、リッジ形の光導波
路を用いた例を示したが、図10の従来例で示した光導
波路と同じ拡散形光導波路、あるいは埋め込み形光導波
路等の光導波路を用いなくても同様の効果がある。
【0044】さらに、バッファ層を形成した例を示した
が、バッファ層がなく基板上に直接電極を形成した場
合、例えば、xカットLiNbO3基板を用いた光変調
器等に対しても、基板あるいは電極に溝を形成して同様
の効果を得ることができる。
【0045】なお、本発明は、前述の実施例に限定され
るものではなく、光の位相を制御することを利用する種
々の光制御素子、例えば方向性結合器の光スイッチやバ
ランスブリッジ形の光強度変調器等に対しても適用でき
る。
【0046】本発明に用いる基板及びバッファ層の材料
・光導波路の形状・電極の形状等も前述の実施例に限定
されない。例えば、基板材料としては、LiTaO3
BaTaO3等の強誘電体,GaAs,InP等の半導
体あるいは有機材料等を用いることができる。
【0047】また、バッファ層材料としては、Al
23,有機材料等を用いることができる。電極形状とし
ては、高速化に適した進行波形の電極、集積化あるいは
低駆動電圧化に適した電極等を用いることができる。
【0048】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明の光制御
素子によれば、電気光学効果を有する基板上にバッファ
層と電極を備えた光変調器や光スイッチ等において、少
なくとも基板、もしくはバッファ層、もしくは電極の光
導波路近傍かつ光導波路を伝搬する光波の界分布に影響
を与えない程度離れた位置に、所定の幅、長さ及び深さ
有する溝を設けることにより、デバイスの作製時あるい
は使用時に発生した内部応力が、基板,バッファ層,あ
るいは電極の溝で開放されるために、光導波路に加わる
内部応力が無くなり、光導波路の抵抗率減少が生じるこ
とがなく、正常な正弦波状の光出力を安定して出力する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明をマッハツェンダ形の光変調器に適用
した実施例1の概略構成を示す平面図、
【図2】 図1のA−A線断面図、
【図3】 実施例1の基板の光導波路近傍に形成した溝
の深さ,幅,長さに対する光導波路近傍の応力及び抵抗
率の関係を示す図、
【図4】 本発明の実施例2の概略構成を示す断面図、
【図5】 本発明の実施例3の概略構成を示す平面図、
【図6】 図5のB−B線断面図、
【図7】 本発明の実施例4の概略構成を示す断面図、
【図8】 図7のA−A線断面図、
【図9】 従来のマッハツェンダ光強度変調器の制御の
一例を示す概略平面図、
【図10】 図9のA−A線断面図、
【図11】 図9に示す従来のマッハツェンダ光強度変
調器の基板及び光導波路,バッファ層を電気的な等価回
路で示した図、
【図12】 図11の抵抗及び静電容量により、光導波
路に実効的に印加される電圧の時間変化を示す図、
【図13】 入力信号と出力波形の関係を説明するため
の説明図。
【符号の説明】
101…基板、102,103…位相変調部光導波路、
104…分岐部光導波路、105…合波部光導波路、1
06…入力光導波路、107…出力光導波路、108…
入射端、109…出射端、111…入射光、112…出
射光、113…バッファ層、114…進行波電極、11
5…光導波路近傍の基板に形成した溝、116…光導波
路近傍のバッファ層に形成した溝、117…基板の溝の
方向と交差するように光導波路近傍のバッファ層に形成
した溝、118…光導波路近傍の電極に形成した溝、1
21…基板の光導波路近傍に発生した応力σLN、122
…バッファ層の光導波路近傍に発生した応力σb、12
3…バイアス電圧、124…電気力線。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも1本の光導波路を表面近傍に
    備えた電気光学効果を有する基板と、該基板上に形成さ
    れたバッファ層と、該バッファ層上に配置された電極と
    で構成される光制御素子において、前記基板、バッファ
    層、電極のうち少なくとも1つの光導波路の近傍でかつ
    光導波路を伝搬する光波の界分布に影響を与えない程度
    離れた位置に、所定の幅、長さ及び深さを有する溝を設
    けたことを特徴とする光制御素子。
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