JPH0666515A - Interferometer apparatus - Google Patents

Interferometer apparatus

Info

Publication number
JPH0666515A
JPH0666515A JP24259692A JP24259692A JPH0666515A JP H0666515 A JPH0666515 A JP H0666515A JP 24259692 A JP24259692 A JP 24259692A JP 24259692 A JP24259692 A JP 24259692A JP H0666515 A JPH0666515 A JP H0666515A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
lens
interferometer
optical axis
main body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP24259692A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3348447B2 (en
Inventor
Shigenori Oi
重徳 大井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujinon Corp
Original Assignee
Fuji Photo Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Optical Co Ltd filed Critical Fuji Photo Optical Co Ltd
Priority to JP24259692A priority Critical patent/JP3348447B2/en
Publication of JPH0666515A publication Critical patent/JPH0666515A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3348447B2 publication Critical patent/JP3348447B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

PURPOSE:To fix a mount part for setting an object of inspection to be inspected by an interferometer, by regulating the position of the side of the main body of the interferometer provided with a reference lens, even when the kind of the object changes. CONSTITUTION:A fixed board 21 is fitted on the upper part of a main body frame 20 and an X-Y stage 24 constituting a mechanism for regulating a position in the direction intersecting an optical axis perpendicularly is provided on the lower side of the fixed board 21. Moreover, an optical-axis direction position regulating mechanism 29 is provided on this X-Y stage 24 and the main body 1 of an interferometer is fitted to a Z-axis guide 31 of this optical-axis direction position regulating mechanism 29. An X-axis table 26 and a Y-axis table 28 of the X-Y stage 24 are driven by a stepping motor 35 respectively and, besides, the main body 1 of the interferometer is driven to move up and down by a stepping motor 35. A lens mount part 45 on which a lens 8 to be inspected is set is fitted in a fixed manner on the upper side of the fixed board 21.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、レンズ等の精密光学製
品の表面状態をレーザ干渉計を用いて検査するための干
渉計装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an interferometer device for inspecting the surface condition of precision optical products such as lenses using a laser interferometer.

【0002】[0002]

【従来の技術】精密光学製品として、例えばレンズの仕
上げ精度の検査を行うためにレーザ干渉計を用いるよう
に構成したものは、従来から知られている。即ち、レー
ザ光源からのレーザ光の光路にレンズの基準となる基準
レンズを配設すると共に、この光路における基準レンズ
の延長線上に被検レンズを配設し、基準レンズの基準面
からの反射光と被検レンズの被検面からの反射光との間
で生じる干渉縞の本数(通常、ニュートン本数と呼ばれ
る)を測定することによって、このレンズの表面状態を
検査するようにしたものである。このように、レーザ干
渉計を用いると、被検レンズを非接触で検査できること
から、基準レンズにも、また被検レンズにも損傷を来す
ことなく精密に検査できるので極めて都合が良い。
2. Description of the Related Art As a precision optical product, for example, a structure in which a laser interferometer is used to inspect the finishing accuracy of a lens is known. That is, a reference lens that serves as a reference for the lens is provided in the optical path of the laser light from the laser light source, and a lens to be inspected is provided on the extension line of the reference lens in this optical path, and the reflected light from the reference surface of the reference lens is provided. The surface state of this lens is inspected by measuring the number of interference fringes (normally called Newton's number) generated between the reflected light from the surface to be inspected of the lens to be inspected. As described above, when the laser interferometer is used, the lens to be inspected can be inspected in a non-contact manner, so that the reference lens and the lens to be inspected can be precisely inspected without damage, which is extremely convenient.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、被検レンズ
の検査を正確に行うには、干渉計本体の基準レンズと被
検レンズとの間の相対位置を調整する必要がある。この
位置調整は、両者の光軸を一致させると共に、被検レン
ズの種類等に応じて被検レンズと基準レンズとの間の間
隔を変化させることにより行われるものである。従来技
術においては、この位置調整機構としては、光軸方向ま
たは光軸と直交する方向の位置調整のうち、少なくとも
一方は被検レンズがセットされるマウント部の側で行う
ようにしていた。しかしながら、このようにマウント部
側を動かすようにすると、被検レンズがセットされる位
置が一定しないことになり、このために被検レンズがセ
ットされる位置が変化してしまう。
In order to accurately inspect the lens to be inspected, it is necessary to adjust the relative position between the reference lens of the interferometer body and the lens to be inspected. This position adjustment is performed by matching the optical axes of the two and changing the distance between the test lens and the reference lens according to the type of the test lens. In the prior art, as the position adjusting mechanism, at least one of the position adjustment in the optical axis direction or the direction orthogonal to the optical axis is performed on the side of the mount portion on which the lens to be inspected is set. However, when the mount side is moved in this way, the position where the lens to be inspected is set is not constant, which changes the position where the lens to be inspected is set.

【0004】而して、近年においては、干渉計を用いた
検査の自動化に対する要請が強くなってきている。然る
に、前述したように、被検物体がセットされるマウント
部の位置が変化すると、その都度被検物体のマウント部
へのセット及びそれから取り出し位置を調整する必要が
あり、しかもこの被検物体を厳格に位置決めしなければ
ならないので、この位置の調整は極めて面倒である。ま
た、被検物体をハンドリングする部材にセンサ等を装着
して、このセンサによってマウント部の位置を確認した
上で、被検物体をセットすることも可能ではあるが、ハ
ンドリング部材の構成が極めて複雑となってしまうと共
に、動作の高速性を確保できず、また誤動作のおそれも
ある等といった問題点がある。このために、従来は、被
検物体のセット及び取り外し作業の自動化は困難である
とされていた。
In recent years, there has been a strong demand for automation of inspection using an interferometer. However, as described above, when the position of the mount part on which the test object is set changes, it is necessary to adjust the setting of the test object to the mount part and the taking-out position from the mount object each time, and this test object is Adjusting this position is very cumbersome because it must be positioned strictly. It is also possible to attach a sensor or the like to a member that handles the object to be inspected, and then to set the object to be inspected after confirming the position of the mount section with this sensor, but the configuration of the handling member is extremely complicated. In addition, there is a problem in that high speed operation cannot be ensured and there is a risk of malfunction. For this reason, conventionally, it has been difficult to automate the work of setting and removing the object to be inspected.

【0005】本発明は以上の点に鑑みてなされたもので
あって、その目的とするところは、基準レンズと被検物
体との間の位置調整を行うに当って、被検物体のマウン
ト部を動かす必要がないようにすることにある。
The present invention has been made in view of the above points, and it is an object of the present invention to mount a mount portion of an object to be inspected in adjusting the position between the reference lens and the object to be inspected. To avoid having to move.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明は、干渉計本体における基準レンズから
の反射光と、被検物体からの反射光との間で干渉縞を発
生させることにより被検物体の表面状態の検査を行うも
のであって、干渉計本体を、その基準レンズが被検物体
に近接・離間する方向に位置調整を行う光軸方向位置調
整機構と、光軸と直交する方向に位置調整を行う光軸ず
れ調整機構とからなる調整手段に支承させて設け、被検
物体をセットするマウント部を固定的に設置する構成と
したことをその特徴とするものである。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention generates an interference fringe between the reflected light from the reference lens in the interferometer body and the reflected light from the object to be inspected. The optical axis direction position adjusting mechanism for adjusting the position of the interferometer body in the direction in which the reference lens approaches and separates from the object to be inspected, It is characterized in that it is provided so as to be supported by an adjusting means consisting of an optical axis deviation adjusting mechanism for performing position adjustment in a direction orthogonal to the above, and a mount portion for setting an object to be inspected is fixedly installed. is there.

【0007】[0007]

【作用】以上のように、基準レンズと被検物体との間の
位置調整を、光軸方向及び光軸と直交する方向の全てを
基準レンズが装着されている干渉計本体側で行うように
することによって、被検物体がセットされるマウント部
の位置を固定できる。従って、被検物体をセットした
り、また取り外したりする位置が常に一定となり、この
作業の自動化を円滑かつ容易に図ることができ、被検物
体の検査の全工程を自動化が可能となる。
As described above, the position adjustment between the reference lens and the object to be inspected is performed in the optical axis direction and in the direction orthogonal to the optical axis on the side of the interferometer body on which the reference lens is mounted. By doing so, the position of the mount portion on which the object to be inspected is set can be fixed. Therefore, the position where the object to be inspected is set or removed is always constant, and the automation of this work can be smoothly and easily achieved, and the entire process of inspecting the object to be inspected can be automated.

【0008】自動機により被検物体をセットするに当っ
て、マウント部を水平方向に配置して、その上に被検物
体を載せるようにするのが最も合理的である。このため
には、定盤を水平方向に配設し、この定盤の上面側にマ
ウント部を設けると共に、下面には調整手段を装着し、
この調整手段に干渉計本体を取り付けて、それを光軸方
向、即ち上下方向と、光軸と直交する方向、即ち水平方
向に位置調整を行うようにする。これによって、被検物
体のハンドリング手段は、ローダ部から被検物体を取り
出して、水平方向に移動させることによりマウント部の
上部位置に変位させた後に下降させると、この被検物体
はマウント部の上に位置させることができる。この状態
で、ハンドリング手段による被検物体のハンドリングを
解除すれば、被検物体はマウント部に正確にセットされ
る。また、被検物体の検査を行った後のマウント部から
の取り外しも容易に行うことができる。
When setting an object to be inspected by an automatic machine, it is most rational to arrange the mount portion in the horizontal direction and place the object to be inspected thereon. For this purpose, the surface plate is arranged in the horizontal direction, the mount portion is provided on the upper surface side of the surface plate, and the adjusting means is attached to the lower surface.
The interferometer body is attached to the adjusting means, and the position of the interferometer body is adjusted in the optical axis direction, that is, the vertical direction, and the direction orthogonal to the optical axis, that is, the horizontal direction. As a result, when the handling means for the object to be inspected takes out the object to be inspected from the loader part, moves it horizontally, displaces it to the upper position of the mount part, and then lowers it, this object to be inspected of the mount part. Can be located on top. In this state, if the handling of the test object by the handling means is released, the test object is set accurately on the mount portion. Further, it is possible to easily remove the object to be inspected from the mount portion after the inspection.

【0009】[0009]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。まず、図1において、1は干渉計本体を示
し、この干渉計本体1のケーシングは本体ケーシング1
aと、この本体ケーシング1aの上面に立設した筒体部
1bとを有する。本体ケーシング1aには、筒体部1b
と平行にHe−Neレーザ等からなるレーザ発振器2が
取り付けられる構成となっている。本体ハウジング1a
内には、反射ミラー3及びエクスパンダやダイバージャ
等を備えたレーザ光導光用光学系4が設けられている。
レーザ発振器2からのレーザ光は、反射ミラー3によっ
て90°曲折せしめられて、レーザ光導光用光学系4を
介することによってそのスポット径を広げながら、ビー
ムスプリッタ5に反射して再び90°方向を転換して、
筒体部1bの軸線方向に沿ってレーザ発振器2から出射
方向とは反対方向に向けて進行し、コリメータレンズ6
により平行光となされて、その前方に設けた基準レンズ
7に入射される。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. First, in FIG. 1, reference numeral 1 denotes an interferometer body, and the casing of the interferometer body 1 is a body casing 1.
The main body casing 1a has a cylindrical body portion 1b provided upright on the upper surface of the main body casing 1a. The body casing 1a has a cylindrical body portion 1b.
A laser oscillator 2 made of a He-Ne laser or the like is attached in parallel with. Body housing 1a
A laser light guiding optical system 4 including a reflection mirror 3 and an expander, a diver, and the like is provided therein.
The laser light from the laser oscillator 2 is bent by 90 ° by the reflection mirror 3 and is reflected by the beam splitter 5 while expanding the spot diameter through the optical system 4 for guiding the laser light and again in the 90 ° direction. Convert
The collimator lens 6 travels in the direction opposite to the emission direction from the laser oscillator 2 along the axial direction of the cylindrical body portion 1b.
Is made into parallel light by and is incident on the reference lens 7 provided in front of it.

【0010】基準レンズ7は、その入射面7aとは反対
面が基準面7bとなっており、入射面7aは反射防止コ
ーティングが施されている。基準レンズ7に入射された
レーザ光はその基準面7bで一部が反射し、大部分はこ
の基準レンズ7を透過してその前方位置にセットされて
いる被検物体としての被検レンズ8の被検面8aに入射
され、その一部がこの被検面8aで反射する。そして、
この被検面8aからの反射光と基準レンズ7の基準面7
bからの反射光とが干渉し合って干渉縞が生じる。この
ように干渉縞を有する反射光はコリメータレンズ6及び
ビームスプリッタ5を透過して、スクリーン9及び干渉
縞結像用レンズ10を介して撮像手段11に入射され、
この撮像手段11により干渉縞の撮影が行われ、その映
像が図示しないモニタ装置に表示できるようになってい
る。
The reference lens 7 has a reference surface 7b opposite to the incident surface 7a, and the incident surface 7a is provided with an antireflection coating. A part of the laser light incident on the reference lens 7 is reflected by the reference surface 7b, and most of the laser light is transmitted through the reference lens 7 and a laser beam of a lens 8 to be inspected as an object to be inspected is set at the front position thereof. It is incident on the surface 8a to be inspected, and a part thereof is reflected by the surface 8a to be inspected. And
The reflected light from the surface 8a to be inspected and the reference surface 7 of the reference lens 7
The reflected light from b interferes with each other to form an interference fringe. Thus, the reflected light having the interference fringes passes through the collimator lens 6 and the beam splitter 5, and enters the image pickup means 11 via the screen 9 and the interference fringe image forming lens 10.
An image of the interference fringe is taken by the image pickup means 11, and the image can be displayed on a monitor device (not shown).

【0011】次に、図2において、20は干渉計装置の
本体機枠を示し、この本体機枠20の上部には定盤21
が装着されており、この定盤21と本体機枠20との間
には防振部材22が介装されている。そして、定盤21
の下面には調整手段23が垂設されている。干渉計本体
1はこの調整手段23に昇降可能に装着されている。調
整手段23は、干渉計本体1を、その基準レンズ7を被
検レンズ8に対して位置調整するためのものである。こ
の位置調整は、光軸方向及び光軸と直交する方向におい
て行われる。
Next, in FIG. 2, reference numeral 20 denotes a main body frame of the interferometer device, and a surface plate 21 is provided above the main body frame 20.
A vibration-proof member 22 is interposed between the surface plate 21 and the main body machine frame 20. And the platen 21
An adjusting means 23 is vertically provided on the lower surface of the. The interferometer body 1 is mounted on the adjusting means 23 so as to be able to move up and down. The adjusting means 23 is for adjusting the position of the reference lens 7 of the interferometer body 1 with respect to the lens 8 to be inspected. This position adjustment is performed in the optical axis direction and the direction orthogonal to the optical axis.

【0012】而して、図3からも明らかなように、定盤
21の下面には、ボルト等の手段でプレート21aを固
定し、このプレート21aには、干渉計本体1を光軸と
直交する方向の位置調整機構を構成するXYステージ2
4が設けられている。このXYステージ24は、プレー
ト21aの下面にX軸方向に延設した一対のX軸ガイド
25にX軸テーブル26を摺動可能に連結し、このX軸
テーブル26にY軸方向に延在させて設けた一対のY軸
ガイド27にY軸テーブル28を摺動可能に連結するこ
とにより構成される。このY軸テーブル28には干渉計
本体1を光軸方向に変位させる光軸方向位置調整機構2
9が設けられている。この光軸方向位置調整機構29
は、Y軸テーブル28に垂設した支持部材30にZ軸ガ
イド31を設け、このZ軸ガイド31に昇降ブロック3
2を摺動可能に連結してなるものである。そして、この
昇降ブロック32に干渉計本体1が取り付けられてい
る。
As is apparent from FIG. 3, a plate 21a is fixed to the lower surface of the surface plate 21 by means of bolts or the like, and the interferometer body 1 is orthogonal to the optical axis on this plate 21a. XY stage 2 that constitutes a position adjustment mechanism in the direction
4 are provided. In the XY stage 24, an X-axis table 26 is slidably connected to a pair of X-axis guides 25 extending in the X-axis direction on the lower surface of the plate 21a, and the X-axis table 26 is extended in the Y-axis direction. A Y-axis table 28 is slidably connected to a pair of Y-axis guides 27 provided in the table. The Y-axis table 28 has an optical axis direction position adjusting mechanism 2 for displacing the interferometer body 1 in the optical axis direction.
9 is provided. This optical axis direction position adjusting mechanism 29
Is provided with a Z-axis guide 31 on a support member 30 vertically provided on the Y-axis table 28.
The two are slidably connected. The interferometer body 1 is attached to the lifting block 32.

【0013】以上のように、干渉計本体1を光軸方向位
置調整機構29に連結し、またこの光軸方向位置調整機
構29を光軸と直交する方向の位置調整機構を構成する
XYステージ24に連結することによって、干渉計本体
1は光軸方向にも、また光軸と直交する方向にも位置調
整できるようになる。しかも、この位置調整は全て自動
的に行われるように構成されている。このために、X軸
テーブル26及びY軸テーブル28を変位させる機構と
して、図4に示した構成のものが用いられる。なお、X
軸テーブル26の変位機構と、Y軸テーブル28の変位
機構とは実質的に同じ構成のものであるから、図にはX
軸テーブル26の変位機構を示し、Y軸テーブル28の
変位機構については、図示及び説明は省略する。
As described above, the XY stage 24 which connects the interferometer main body 1 to the optical axis direction position adjusting mechanism 29 and constitutes the position adjusting mechanism of the optical axis direction position adjusting mechanism 29 in the direction orthogonal to the optical axis. The interferometer body 1 can be positionally adjusted in the direction of the optical axis as well as in the direction orthogonal to the optical axis. Moreover, this position adjustment is configured to be automatically performed. Therefore, as the mechanism for displacing the X-axis table 26 and the Y-axis table 28, the one having the configuration shown in FIG. 4 is used. Note that X
Since the displacement mechanism of the shaft table 26 and the displacement mechanism of the Y-axis table 28 have substantially the same configuration, X in the drawing shows
The displacement mechanism of the shaft table 26 is shown, and the displacement mechanism of the Y-axis table 28 is not shown and described.

【0014】而して、図4において、33は進退軸であ
り、この進退軸33はプレート21aに設けた取付板3
4に回転自在に挿通されている。そして、進退軸33の
先端はX軸テーブル26に当接しており、また図示しな
いばね等の付勢手段によってX軸テーブル26は進退軸
33に当接する方向に付勢されている。また、進退軸3
3は、ステッピングモータ35により回転駆動されるも
のである。このために進退軸33は、先端にX軸テーブ
ル26に当接する頭部33aが形成され、中間部には取
付板34に螺挿したねじ部33bが形成され、また基端
側の部位にはスプライン部33cとなっている。そし
て、プーリ36はこのスプライン部33cにその軸線方
向に変位可能に嵌合されており、またステッピングモー
タ35の出力軸35aにもプーリ37が取り付けられ
て、両プーリ36,37間にはタイミングベルト38が
巻回して設けられている。従って、ステッピングモータ
35を駆動すると、プーリ36が回転して、進退軸32
が進退せしめられて、X軸テーブル26がX軸ガイド2
5に沿って摺動せしめられる。
In FIG. 4, reference numeral 33 denotes an advancing / retreating shaft, and this advancing / retreating shaft 33 is a mounting plate 3 provided on the plate 21a.
4 is rotatably inserted. The tip end of the advancing / retreating shaft 33 is in contact with the X-axis table 26, and the X-axis table 26 is biased in a direction in which it is in contact with the advancing / retreating shaft 33 by a biasing means such as a spring (not shown). Also, advance / retreat axis 3
Reference numeral 3 is rotated by a stepping motor 35. For this reason, the forward / backward shaft 33 has a head portion 33a formed in contact with the X-axis table 26 at the tip, a screw portion 33b screwed into the mounting plate 34 in the middle portion, and a base end side portion. It is a spline portion 33c. The pulley 36 is fitted to the spline portion 33c so as to be displaceable in the axial direction thereof, and the output shaft 35a of the stepping motor 35 is also attached with a pulley 37 so that a timing belt is provided between the pulleys 36 and 37. 38 is wound and provided. Therefore, when the stepping motor 35 is driven, the pulley 36 rotates and the advancing / retreating shaft 32 moves.
Is moved back and forth, and the X-axis table 26 moves the X-axis guide 2
It is made to slide along 5.

【0015】次に、光軸方向位置調整機構29の駆動機
構としては、ねじ軸39を有し、このねじ軸39は支持
部材30の上下に設けた支承板30a,30b間に架設
されている。そして、このねじ軸39にはナット部材4
0が嵌合されており、このナット部材40は昇降ブロッ
ク32に連結されている。そして、このねじ軸39の下
端部にはプーリ41が連結されており、また支持部材3
0にはステッピングモータ42が設置されており、この
ステッピングモータ42の出力軸42aにはプーリ43
が取り付けられており、このプーリ43とねじ軸39の
プーリ41との間にはタイミングベルト44が巻回して
設けられている。従って、ステッピングモータ42を正
逆回転させることによって、干渉計本体1が昇降駆動さ
れるようになっている。
Next, a screw shaft 39 is provided as a drive mechanism of the optical axis direction position adjusting mechanism 29, and the screw shaft 39 is provided between the support plates 30a and 30b provided above and below the support member 30. . The nut member 4 is attached to the screw shaft 39.
0 is fitted, and the nut member 40 is connected to the elevating block 32. A pulley 41 is connected to the lower end of the screw shaft 39, and the supporting member 3
0 has a stepping motor 42 installed, and an output shaft 42 a of the stepping motor 42 has a pulley 43.
Is attached, and a timing belt 44 is wound around the pulley 43 and the pulley 41 of the screw shaft 39. Therefore, by rotating the stepping motor 42 forward and backward, the interferometer main body 1 is driven up and down.

【0016】一方、定盤21の上面には、被検レンズ8
をセットするためのレンズマウント部45が設けられて
おり、このレンズマウント部45の上面には、被検レン
ズ8を位置決めするための突起46が設けられている。
ここで、被検レンズ8が球面レンズである場合には、突
起46は120°毎に3箇所設けられる。また、定盤2
1には、干渉計本体1と被検レンズ8との間に光路を確
保するための導光用透孔21bが開設されている。
On the other hand, on the upper surface of the surface plate 21, the lens 8 to be inspected
Is provided with a lens mount portion 45, and a projection 46 for positioning the lens 8 to be inspected is provided on the upper surface of the lens mount portion 45.
Here, when the lens 8 to be inspected is a spherical lens, the protrusions 46 are provided at three positions every 120 °. Also, surface plate 2
1 is provided with a light guiding through hole 21b for securing an optical path between the interferometer body 1 and the lens 8 to be inspected.

【0017】ここで、前述したXYステージ24及び光
軸方向位置調整機構29からなる調整手段23により、
干渉計本体1の光路を、その光軸と直交する方向及び光
軸方向の位置調整を行うことができるようになっている
が、光軸の傾き調整機構は備えていない。被検レンズ8
の種類等に応じて、基準レンズ7と被検レンズ8との間
の光軸方向と光軸と直交する方向に位置調整する必要は
あるが、傾き方向は初期的に調整されておれば、干渉計
本体1を移動させた時に、その光軸が傾くようなことが
なければ、この傾き調整は格別必要ではない。而して、
前述した如く、調整手段23も、また被検レンズ8がセ
ットされるレンズマウント部45も定盤21に取り付け
られているから、プレート21aを定盤21と厳格に平
行な状態に装着されており、かつZ軸ガイド31が定盤
21に対して正確に鉛直状態となるように組み付けてお
けば、干渉計本体1の位置調整を行っても、光軸に傾き
が生じるおそれはない。
Here, by the adjusting means 23 including the XY stage 24 and the optical axis direction position adjusting mechanism 29 described above,
The position of the optical path of the interferometer main body 1 can be adjusted in the direction orthogonal to the optical axis and in the direction of the optical axis, but no tilt adjustment mechanism for the optical axis is provided. Lens to be inspected 8
It is necessary to adjust the position in the optical axis direction between the reference lens 7 and the lens 8 to be inspected and the direction orthogonal to the optical axis according to the type of the above, but if the tilt direction is initially adjusted, If the optical axis does not tilt when the interferometer body 1 is moved, this tilt adjustment is not particularly necessary. Therefore,
As described above, since the adjusting means 23 and the lens mount portion 45 on which the lens 8 to be inspected are set are also attached to the surface plate 21, the plate 21a is mounted in a state strictly parallel to the surface plate 21. Further, if the Z-axis guide 31 is assembled to the surface plate 21 so as to be correctly in the vertical state, even if the position of the interferometer body 1 is adjusted, the optical axis will not be tilted.

【0018】干渉計装置は以上のように構成されるもの
であって、この干渉計装置を用いることによって、被検
レンズ8のニュートン本数を測定するものとして用いる
ことができ、これによって被検レンズ8の仕上げ精度の
検査を行うことができる。しかも、図5に示したよう
に、ローダ部Lに多数の被検レンズ8を配置しておき、
ハンドリング部材Hによって、このローダ部Lから被検
レンズ8を1枚ずつ取り出して、レンズマウント部45
にセットして、この被検レンズ8の検査を行い、検査が
終了すると、被検レンズ8はアンローダ部Uに移行させ
て、このアンローダ部Uにおいて、検査結果に基づいて
分類分けした状態にして収容されるようになっている。
The interferometer device is constructed as described above, and by using this interferometer device, it can be used as a device for measuring the number of Newtons of the lens 8 to be inspected. It is possible to perform an inspection of finishing accuracy of 8. Moreover, as shown in FIG. 5, many test lenses 8 are arranged in the loader section L,
The lenses 8 to be inspected are taken out one by one from the loader L by the handling member H, and the lens mount 45
, The inspection lens 8 is inspected, and when the inspection is completed, the inspection lens 8 is moved to the unloader unit U, and in this unloader unit U, the state is classified based on the inspection result. It is supposed to be housed.

【0019】而して、まず被検レンズ8のニュートン本
数を測定するのに適したF値の基準レンズ7を干渉計本
体1に装着しておき、レンズマウント部45は、被検レ
ンズ8の外径寸法に応じて、その外周縁近傍部を支承す
るのに最適な寸法のものを定盤21に取り付けておく。
そこで、レンズマウント部45にニュートンゲージをセ
ットする。ここで、ニュートンゲージは、被検レンズ8
の被検面8aの形状が理想状態に形成されいるものであ
る。ただし、その材質は必ずしも被検レンズ8と同じも
のではなくとも良い。
Then, first, the reference lens 7 having an F value suitable for measuring the number of Newtons of the lens 8 to be inspected is attached to the interferometer main body 1, and the lens mount portion 45 is attached to the lens 8 to be inspected. According to the outer diameter dimension, the one having the optimum dimension for supporting the outer peripheral edge portion is attached to the surface plate 21.
Therefore, a Newton gauge is set on the lens mount portion 45. Here, the Newton gauge is the lens 8 to be inspected.
The surface 8a to be inspected has an ideal shape. However, the material is not necessarily the same as that of the lens 8 to be inspected.

【0020】この状態で、干渉計本体1とニュートンゲ
ージとの位置関係が、被検レンズ8をセットした時にニ
ュートン本数の測定を行うのに最適な相対位置関係とな
るように調整する。この相対位置関係の調整は、調整手
段23により行われる。即ち、干渉計本体1における基
準レンズ7と被検レンズ8との間隔、即ち光軸方向の位
置を調整するには、光軸方向位置調整機構29を構成す
るステッピングモータ42を作動させることによって、
昇降ブロック32を上下動させることにより行うことが
できる。また、光軸と直交する方向に位置調整を行うに
は、XYステージ24のX軸テーブル26及びY軸テー
ブル28を動かすことにより行うことができる。ここ
で、これらX軸テーブル26及びY軸テーブル28はそ
れぞれに設けたステッピングモータ35を作動させるこ
とにより行われる。
In this state, the positional relationship between the interferometer main body 1 and the Newton gauge is adjusted so as to be the optimum relative positional relationship for measuring the number of Newtons when the lens 8 to be inspected is set. The adjustment means 23 adjusts the relative positional relationship. That is, in order to adjust the distance between the reference lens 7 and the lens 8 to be inspected in the interferometer body 1, that is, the position in the optical axis direction, by operating the stepping motor 42 that constitutes the optical axis direction position adjusting mechanism 29,
This can be done by moving the elevating block 32 up and down. The position adjustment in the direction orthogonal to the optical axis can be performed by moving the X-axis table 26 and the Y-axis table 28 of the XY stage 24. Here, the X-axis table 26 and the Y-axis table 28 are operated by operating the stepping motors 35 provided respectively.

【0021】以上のように、干渉計本体1の光軸方向及
び光軸と直交する方向に位置調整を行うに当って、干渉
計本体1を動かすようにしているので、レンズマウント
部45は固定した状態に保持でき、従って被検レンズ8
をセットする位置は常に一定となる。
As described above, since the interferometer body 1 is moved when the position is adjusted in the optical axis direction of the interferometer body 1 and in the direction orthogonal to the optical axis, the lens mount portion 45 is fixed. Can be held in a fixed state, and therefore the lens 8 to be inspected
The position to set is always constant.

【0022】このようにして、干渉計本体1の位置調整
が完了すると、ニュートンゲージをレンズマウント部4
5から取り外し、ハンドリング手段Hを作動させて、ロ
ーダ部Lから被検レンズ8を1個取り出し、レンズマウ
ント部45にセットする。そして、レーザ発振器2から
出射されるレーザ光を基準レンズ7の基準面7bに一部
反射させると共に、その透過光の一部を被検レンズ8の
被検面8aに反射させて、両反射光の間に生じる干渉縞
を撮像手段11上に結像させる。そして、この撮像手段
11からの信号をモニタ装置に伝送して、このモニタ装
置に干渉縞画像を表示し、またこの干渉縞の本数を画像
処理に基づいて自動計測する。このようにして被検レン
ズ8の検査が終了すると、ハンドリング手段Hによって
測定済みの被検レンズ8がレンズマウント部45から取
り出されて、アンローダ部Uに送り込まれ、干渉縞の測
定結果に基づいて分類分けされる。
When the position adjustment of the interferometer body 1 is completed in this way, the Newton gauge is moved to the lens mount portion 4.
5, the handling means H is operated, and one lens 8 to be inspected is taken out from the loader section L and set on the lens mount section 45. Then, the laser light emitted from the laser oscillator 2 is partially reflected by the reference surface 7b of the reference lens 7, and a part of the transmitted light is reflected by the surface 8a of the lens 8 to be inspected so that both reflected light beams are reflected. The interference fringes generated between the two are imaged on the image pickup means 11. Then, the signal from the image pickup means 11 is transmitted to the monitor device, the interference fringe image is displayed on the monitor device, and the number of the interference fringes is automatically measured based on the image processing. When the inspection of the lens 8 to be inspected is finished in this way, the lens 8 to be inspected, which has been measured by the handling means H, is taken out from the lens mount part 45 and sent to the unloader part U, based on the measurement result of the interference fringes. Be classified.

【0023】このように、被検レンズ8の自動測定を行
うに当っては、被検レンズ8をいかに正確にレンズマウ
ント部45にセットするかが極めて重要となるが、レン
ズマウント部45の位置が常に一定に保持されているこ
とから、ハンドリング手段Hのティーチングは、当初に
1回行えば、検査対象となる被検レンズ8の種類が変わ
る毎に改めて再調整する必要がなく、円滑かつ確実に、
しかも厳格に位置決めした状態で被検レンズ8のセット
を行うことができる。
As described above, in performing automatic measurement of the lens 8 to be inspected, how accurately the lens 8 to be inspected is set on the lens mount 45 is extremely important. Is always held constant, the teaching of the handling means H can be carried out once at the beginning, and it is not necessary to readjust again every time the type of the lens 8 to be inspected changes, and it is smooth and reliable. To
Moreover, the lens 8 to be inspected can be set in a state where the lens 8 is strictly positioned.

【0024】なお、前述した実施例においては、自動機
によって被検レンズ8をレンズマウント部45にセット
するように構成したが、必ずしも自動機を用いる必要は
なく、手動で被検レンズ8のセットを行う場合にあって
も、レンズマウント部45が固定されていると作業の効
率化が図られる。
In the above-described embodiment, the lens 8 to be inspected is set by the automatic machine, but it is not always necessary to use the automatic machine, and the lens 8 is manually set. Even when performing, the work efficiency can be improved if the lens mount portion 45 is fixed.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、干渉計
本体を、その基準レンズが被検物体に近接・離間する方
向に位置調整を行う光軸方向位置調整機構と、光軸と直
交する方向に位置調整を行う光軸ずれ調整機構とからな
る調整手段に支承させて設け、被検物体をセットするマ
ウント部を固定的に設置するように構成しているので、
被検物体をセットする位置が常に一定となり、この被検
物体のマウント部へのセット及びその取り外しを極めて
容易に、しかも正確に行うことができ、また被検物体の
マウント部への着脱の自動化が可能となる等の諸効果を
奏する。
As described above, according to the present invention, an optical axis direction position adjusting mechanism for adjusting the position of the interferometer main body in the direction in which the reference lens approaches and separates from the object to be inspected, and the optical axis orthogonal to the optical axis. It is provided by being supported by an adjusting means consisting of an optical axis shift adjusting mechanism for adjusting the position in the direction of, and the mount part for setting the object to be inspected is fixedly installed.
The position where the object to be inspected is set is always constant, and it is extremely easy and accurate to set and remove the object to be inspected, and the attachment / detachment of the object to be inspected is automated. There are various effects such as possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】レーザ干渉計の構成説明図である。FIG. 1 is a diagram illustrating the configuration of a laser interferometer.

【図2】本発明の干渉計装置の全体構成を示す断面図で
ある。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing the overall configuration of the interferometer device of the present invention.

【図3】調整手段の外観斜視図である。FIG. 3 is an external perspective view of adjusting means.

【図4】光軸ずれ調整機構の駆動部分の構成説明図であ
る。
FIG. 4 is a structural explanatory view of a drive portion of an optical axis shift adjusting mechanism.

【図5】自動機を用いた被検レンズの検査機構の構成説
明図である。
FIG. 5 is a structural explanatory view of an inspection mechanism of a lens to be inspected using an automatic machine.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 干渉計本体 2 レーザ発振器 7 基準レンズ 7b 基準面 8 被検レンズ 8a 被検面 20 本体機枠 21 定盤 21a 開口 22 防振部材 23 調整手段 24 XYステージ 26 X軸テーブル 28 Y軸テーブル 29 光軸方向調整機構 32 昇降ブロック 35,42 ステッピングモータ 45 レンズマウント部 46 突起 L ローダ部 H ハンドリング手段 U アンローダ部 1 Interferometer Main Body 2 Laser Oscillator 7 Reference Lens 7b Reference Surface 8 Test Lens 8a Test Surface 20 Main Machine Frame 21 Surface Plate 21a Opening 22 Vibration Isolator 23 Adjusting Means 24 XY Stage 26 X Axis Table 28 Y Axis Table 29 Optical Axial adjustment mechanism 32 Lifting block 35, 42 Stepping motor 45 Lens mount part 46 Protrusion L Loader part H Handling means U Unloader part

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 干渉計本体における基準レンズからの反
射光と、被検物体からの反射光との間で干渉縞を発生さ
せることにより被検物体の表面状態の検査を行うものに
おいて、前記干渉計本体を、その基準レンズが被検物体
に近接・離間する方向に位置調整を行う光軸方向位置調
整機構と、光軸と直交する方向に位置調整を行う光軸ず
れ調整機構とからなる調整手段に支承させて設け、被検
物体をセットするマウント部を固定的に設置する構成と
したことを特徴とする干渉計装置。
1. An apparatus for inspecting a surface state of an object to be inspected by generating interference fringes between reflected light from a reference lens in an interferometer main body and light reflected from the object to be inspected. Adjustment with an optical axis direction position adjustment mechanism that adjusts the position of the main body of the meter in the direction in which the reference lens approaches and separates from the object to be inspected, and an optical axis deviation adjustment mechanism that adjusts the position in the direction orthogonal to the optical axis. An interferometer device characterized in that it is provided so as to be supported by a means, and a mount portion for setting an object to be inspected is fixedly installed.
【請求項2】 前記マウント部を水平方向に設けた定盤
上面に設置し、この定盤にレーザ光を導くための開口を
形成し、この定盤の下面に前記調整手段を装着する構成
としたことを特徴とする請求項1記載の干渉計装置。
2. A structure in which the mount portion is installed on an upper surface of a surface plate provided in a horizontal direction, an opening for guiding a laser beam is formed in the surface plate, and the adjusting means is mounted on a lower surface of the surface plate. The interferometer device according to claim 1, wherein
【請求項3】 前記調整手段の光軸方向位置調整機構及
び光軸ずれ調整機構をそれぞれモータ等の駆動手段によ
り駆動する構成としたことを特徴とする請求項1記載の
干渉計装置。
3. The interferometer apparatus according to claim 1, wherein the optical axis direction position adjusting mechanism and the optical axis shift adjusting mechanism of the adjusting means are each driven by a driving means such as a motor.
JP24259692A 1992-08-20 1992-08-20 Interferometer device Expired - Lifetime JP3348447B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24259692A JP3348447B2 (en) 1992-08-20 1992-08-20 Interferometer device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24259692A JP3348447B2 (en) 1992-08-20 1992-08-20 Interferometer device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0666515A true JPH0666515A (en) 1994-03-08
JP3348447B2 JP3348447B2 (en) 2002-11-20

Family

ID=17091402

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24259692A Expired - Lifetime JP3348447B2 (en) 1992-08-20 1992-08-20 Interferometer device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3348447B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011133326A (en) * 2009-12-24 2011-07-07 Olympus Corp Interferometer

Also Published As

Publication number Publication date
JP3348447B2 (en) 2002-11-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5011282A (en) Laser beam path alignment apparatus for laser processing machines
JP2018021860A (en) Outer diameter measuring apparatus and measuring method
JP3328960B2 (en) Interferometer device
CN114577125A (en) Non-contact optical lens center thickness measuring method and measuring device
JP2012078330A (en) Method for adjusting movement of camera unit in lens inspection apparatus and focus check tool
JPH0666515A (en) Interferometer apparatus
JPH11125520A (en) Member for supporting semiconductor wafer, and flatness measuring instrument for semiconductor wafer
JP2920830B1 (en) Three-dimensional piping assembly device using laser light
CN212390966U (en) Multifunctional detection device based on laser triangulation method
JP2006337148A (en) On-machine shape-measuring apparatus and working machine
CN111947575A (en) Multifunctional detection device and detection method based on laser triangulation
JPS5924819A (en) Mechanism for aligning optical axis of interference measuring device
JPH02240990A (en) Characteristic measuring device
JPH07229812A (en) Eccentricity measuring apparatus for aspheric lens and aligning apparatus employing it
JP3218711B2 (en) Interferometer device
JPH05157947A (en) Assembly device for optical element module
JPS58139326A (en) Automatic adjusting device of vtr head position
JP3225617B2 (en) Interferometer device
JP2001124543A (en) Method and apparatus for measurement of planarity of thin-sheet material
JP3580960B2 (en) 3D shape measuring device
JPH02163601A (en) Scanning type tunnel microscope
JPH11344330A (en) Three dimensional shape measuring device
JP3282229B2 (en) Interferometer device
JPH10221039A (en) Method for measuring squareness of moving axis
JP3003453B2 (en) Optical device module assembly equipment

Legal Events

Date Code Title Description
S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313532

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313532

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080913

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 6

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080913

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090913

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090913

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 8

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100913

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 8

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100913

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 8

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100913

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100913

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110913

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 10

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120913

EXPY Cancellation because of completion of term