JPH0664132U - フィルタ評価装置 - Google Patents
フィルタ評価装置Info
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- JPH0664132U JPH0664132U JP499793U JP499793U JPH0664132U JP H0664132 U JPH0664132 U JP H0664132U JP 499793 U JP499793 U JP 499793U JP 499793 U JP499793 U JP 499793U JP H0664132 U JPH0664132 U JP H0664132U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 低透過率帯域のスペクトルを測定できる装置
を実現する。 【構成】 白色光源と回折格子を組み合わせてなる単色
光源と、この単色光源の出力光を分岐するハーフミラー
と、このハーフミラーにより分岐された一方の光を検出
する参照光検出系と、他方が入射される被測定フィルタ
および被測定フィルタとは相補的特性を有する光学フィ
ルタと、この被測定フィルタおよび光学フィルタを透過
した光を検出するフォトン・カウンティング法を用いた
透過光検出系と、この透過光検出系から出力される透過
光信号と前記参照光検出系から出力される参照光信号の
比から前記被測定フィルタの透過率を求める信号処理部
を備え、前記単色光源の波長をスキャンすることにより
透過スペクトルを得るようにしたことを特徴とするもの
である。
を実現する。 【構成】 白色光源と回折格子を組み合わせてなる単色
光源と、この単色光源の出力光を分岐するハーフミラー
と、このハーフミラーにより分岐された一方の光を検出
する参照光検出系と、他方が入射される被測定フィルタ
および被測定フィルタとは相補的特性を有する光学フィ
ルタと、この被測定フィルタおよび光学フィルタを透過
した光を検出するフォトン・カウンティング法を用いた
透過光検出系と、この透過光検出系から出力される透過
光信号と前記参照光検出系から出力される参照光信号の
比から前記被測定フィルタの透過率を求める信号処理部
を備え、前記単色光源の波長をスキャンすることにより
透過スペクトルを得るようにしたことを特徴とするもの
である。
Description
【0001】
本考案は、光学フィルタの透過率を測定する装置に関し、特に、10-6〜10 -12 の低透過率を測定できる装置に関するものである。
【0002】
従来、光学フィルタの透過率は、自記分光光度計により測定されていた。しか し、この自記分光光度計の透過率の測定限界は、10-6程度であるため、10-6 より抑制率の優れた光学フィルタの評価は不可能であった。
【0003】 この原因としては、 ・検出装置が低感度である。 ・光源(白色光源を回折格子で分光したもの)が、その程度のオーダでは、単色 光と見做せない(光源の光のスペクトルがブロードになっている)。 の2つの原因がある。
【0004】
本考案は上記従来技術の課題を踏まえて成されたものであり、検出系にフォト ン・カウンティング法を用いた検出系と光源からの不純光をカットするための補 助の光学フィルタを用いることにより、低透過率帯域のスペクトルを測定できる フィルタ評価装置を提供することを目的としたものである。
【0005】
上記課題を解決するための本考案の構成は、 白色光源と回折格子を組み合わせてなる単色光源と、 この単色光源の出力光を分岐するハーフミラーと、 このハーフミラーにより分岐された一方の光を検出する参照光検出系と、 他方が入射される被測定フィルタおよび被測定フィルタとは相補的特性を有す る光学フィルタと、 この被測定フィルタおよび光学フィルタを透過した光を検出するフォトン・カ ウンティング法を用いた透過光検出系と、 この透過光検出系から出力される透過光信号と前記参照光検出系から出力され る参照光信号の比から前記被測定フィルタの透過率を求める信号処理部を備え、 前記単色光源の波長をスキャンすることにより透過スペクトルを得るようにし たことを特徴とするものである。
【0006】
本考案によれば、透過光検出系にフォトンカウンティング法を用いているため 、極微弱光検出が可能であり、10-16 〜10-17 Wオーダの微弱光まで検出で きるため、単色光源に10-3〜10-4Wオーダの光源を用いたとしても、透過率 10-12 〜10-13 が測定できる。
【0007】
以下、本考案を図面に基づいて説明する。 図1は本考案のフィルタ評価装置の一実施例を示す構成図である。 図1において、1は単色光源であり、白色光源11と回折格子12からなる。 2は単色光源1の出力光を分岐するハーフミラーである。3はハーフミラー2に より分岐された一方の光を検出する参照光検出系である。4は被測定フィルタ、 5は被測定フィルタ4とは相補的な特性を持つフィルタ、つまり被測定フィルタ 4の透過率が高い帯域においては自身の透過率が低く、また、被測定フィルタ4 の透過率が従来法では測定できないほど低い帯域では、自身の透過率がほぼ1に 近いフィルタである。6は被測定フィルタ4と相補的フィルタ5を透過した光を 検出するフォトン・カウンタを用いた透過光検出系である。7は参照光検出系3 から得られる参照光信号PR (λ)と透過光検出系6から得られる透過光信号P i (λ)の比(T(λ)=Pi (λ)/PR (λ))を求める信号処理部である 。
【0008】 このような構成において、回折格子12により分光された光は、図2に示すよ うなスペクトル特性になっており、回折格子12を動かすことにより、波長λ’ を移動させることができるようになっている。また、一般に単色光源のスペクト ル出力S(λ)は、数式1が成立している。
【0009】
【数1】 ただし、Δλは、スリット幅で決まる光源のバンド幅である。
【0010】 したがって、単色光源の出力パワーPR (λ’)は、数式2で表される。
【0011】
【数2】
【0012】 しかし、光学フィルタの高抑制領域(例えば、10-8〜10-10 )の透過特性 を測定すると、図3に示すように、バックグラウンド光がノイズとなって表れる ために、光学フィルタの透過特性を測れなくなる。
【0013】 このため、本考案では、図4(イ)に示すような被測定フィルタ4と相補的な 特性を持つフィルタ5を作成し、被測定フィルタ4と重ねることにより、フィル タの透過帯域でのバックグラウンド光を相補フィルタ5でカットするようにして いる。この時の透過光検出系6で検出されるスペクトルは、図4(ロ)に示すよ うになり、透過特性が測定できる。これにより、被測定フィルタ4の遮光域での 特性を得ることができる。
【0014】 ここで、被測定フィルタ4の透過率をTS (λ)、相補的フィルタ5の透過率 をTC (λ)とすると、透過光検出系6への入力パワーPi は、単色光源1の設 定波長λ’のとき、
【0015】
【数3】
【0016】 であり、 (A)≫(B) となるように、相補的フィルタ5の透過率TC (λ)を設定すれば、
【0017】
【数4】
【0018】 となり、TS (λ’)≒0のとき、TC (λ’)≒1であるから、 Pi ≒TS (λ’)・PR (λ’) となり、被測定フィルタ4の透過率TS (λ’)は、 TS (λ’)=Pi (λ’)/PR (λ’) となる。つまり、単色光源1の出力パワー(参照光検出系3から得られる参照光 信号列)と透過光検出系6から得られる透過光信号の比から、透過率が求められ る。
【0019】 なお、透過光検出系6に用いたフォトン・カウンティング法は、極微弱光検出 が可能であり、10-16 〜10-17 Wオーダの微弱光まで検出できる。このため 、単色光源1に10-3〜10-4Wオーダの光源を用いたとして、透過率10-12 〜10-13 が測定できることになる。
【0020】
以上、実施例と共に具体的に説明したように、本考案によれば、10-6〜10 -12 といった低透過率の評価ができるフィルタ評価装置を実現できる。
【図1】本考案のフィルタ評価装置の一実施例を示す構
成図である。
成図である。
【図2】図1装置の単色光源のスペクトル特性を示す図
である。
である。
【図3】光学フィルタの高抑制領域の透過特性を示す図
である。
である。
【図4】図1装置の相補的フィルタの透過特性および透
過光検出系でのスペクトル特性を示す図である。
過光検出系でのスペクトル特性を示す図である。
1 単色光源 2 ハーフミラー 3 参照光検出系 4 被測定フィルタ 5 相補的フィルタ 6 透過光検出系 7 信号処理部
Claims (1)
- 【請求項1】 白色光源と回折格子を組み合わせてなる
単色光源と、 この単色光源の出力光を分岐するハーフミラーと、 このハーフミラーにより分岐された一方の光を検出する
参照光検出系と、 他方が入射される被測定フィルタおよび被測定フィルタ
とは相補的特性を有する光学フィルタと、 この被測定フィルタおよび光学フィルタを透過した光を
検出するフォトン・カウンティング法を用いた透過光検
出系と、 この透過光検出系から出力される透過光信号と前記参照
光検出系から出力される参照光信号の比から前記被測定
フィルタの透過率を求める信号処理部を備え、 前記単色光源の波長をスキャンすることにより透過スペ
クトルを得るようにしたことを特徴とするフィルタ評価
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP499793U JP2581464Y2 (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | フィルタ評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP499793U JP2581464Y2 (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | フィルタ評価装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0664132U true JPH0664132U (ja) | 1994-09-09 |
JP2581464Y2 JP2581464Y2 (ja) | 1998-09-21 |
Family
ID=11599241
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP499793U Expired - Fee Related JP2581464Y2 (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | フィルタ評価装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2581464Y2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017081723A1 (ja) * | 2015-11-09 | 2017-05-18 | オリンパス株式会社 | 減光率測定方法および光強度測定装置 |
WO2024093899A1 (zh) * | 2022-11-02 | 2024-05-10 | 华为技术有限公司 | 光谱仪和电子设备 |
-
1993
- 1993-02-17 JP JP499793U patent/JP2581464Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017081723A1 (ja) * | 2015-11-09 | 2017-05-18 | オリンパス株式会社 | 減光率測定方法および光強度測定装置 |
JPWO2017081723A1 (ja) * | 2015-11-09 | 2018-09-06 | オリンパス株式会社 | 減光率測定方法および光強度測定装置 |
WO2024093899A1 (zh) * | 2022-11-02 | 2024-05-10 | 华为技术有限公司 | 光谱仪和电子设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2581464Y2 (ja) | 1998-09-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |