JPH0663037A - ビーム減衰データを予備処理する方法と装置 - Google Patents
ビーム減衰データを予備処理する方法と装置Info
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- JPH0663037A JPH0663037A JP5154661A JP15466193A JPH0663037A JP H0663037 A JPH0663037 A JP H0663037A JP 5154661 A JP5154661 A JP 5154661A JP 15466193 A JP15466193 A JP 15466193A JP H0663037 A JPH0663037 A JP H0663037A
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- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 title claims description 9
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- SYUHGPGVQRZVTB-UHFFFAOYSA-N radon atom Chemical compound [Rn] SYUHGPGVQRZVTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 49
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
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- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 3
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- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T11/00—2D [Two Dimensional] image generation
- G06T11/003—Reconstruction from projections, e.g. tomography
- G06T11/005—Specific pre-processing for tomographic reconstruction, e.g. calibration, source positioning, rebinning, scatter correction, retrospective gating
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- G—PHYSICS
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- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2211/00—Image generation
- G06T2211/40—Computed tomography
- G06T2211/421—Filtered back projection [FBP]
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2211/00—Image generation
- G06T2211/40—Computed tomography
- G06T2211/432—Truncation
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- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 逆ラドン変換過程によって、対象の関心のあ
る特定の領域の３次元像を再生する為のコーン・ビーム
減衰データを予備処理する改良された方法と装置を提供
する。 【構成】 配列検出器の面３２の選ばれた閉じた領域４
４内で収集されたコーン・ビーム減衰データだけを、更
に処理する為に選択的に残し、これによって、必要な作
業の数を実質的に減少する。この領域は、対象２２の関
心のある領域２３を通過する時に実際に減衰したビーム
に対応するデータを発生する。こうして、像処理を促進
する為に、不要なビーム減衰データは、考えられる最も
速い機会に廃棄される。
る特定の領域の３次元像を再生する為のコーン・ビーム
減衰データを予備処理する改良された方法と装置を提供
する。 【構成】 配列検出器の面３２の選ばれた閉じた領域４
４内で収集されたコーン・ビーム減衰データだけを、更
に処理する為に選択的に残し、これによって、必要な作
業の数を実質的に減少する。この領域は、対象２２の関
心のある領域２３を通過する時に実際に減衰したビーム
に対応するデータを発生する。こうして、像処理を促進
する為に、不要なビーム減衰データは、考えられる最も
速い機会に廃棄される。
Description
【０００１】
【発明の分野】この発明は全般的に、コーン・ビーム源
によって照射された対象の関心のある一部分又は特定の
領域の３次元計算機式断層写真（３ＤＣＴ）像を正確に
再生する為の十分で完全なデータ集合を収集する方法と
装置に関する。更に具体的に云えば、この発明は、適当
な面配列検出器の面上で確認された選ばれた領域内で収
集されたデータだけを更に処理する為に残し、こうして
逆ラドン変換によって正確な３Ｄ像を再生する為に行な
う操作の数を大幅に減らして、コーン・ビーム減衰デー
タを予備処理する方法と装置に関する。
によって照射された対象の関心のある一部分又は特定の
領域の３次元計算機式断層写真（３ＤＣＴ）像を正確に
再生する為の十分で完全なデータ集合を収集する方法と
装置に関する。更に具体的に云えば、この発明は、適当
な面配列検出器の面上で確認された選ばれた領域内で収
集されたデータだけを更に処理する為に残し、こうして
逆ラドン変換によって正確な３Ｄ像を再生する為に行な
う操作の数を大幅に減らして、コーン・ビーム減衰デー
タを予備処理する方法と装置に関する。
【０００２】
【発明の背景】特願平４−１６６５１２号には、コーン
・ビーム源の視野の中で照射された対象の一部分の関心
のある領域（region of interest）の作像を行なう方法
と手段が記載されている。関心のある領域は、対象がコ
ーン・ビーム源の視野の中に完全に囲い込まれる場合に
は、対象の選ばれた一部分であってよい。この代りに、
対象全体が大きすぎてコーン・ビーム源によって全部照
射することが出来ない時、対象の内、コーン・ビーム源
の視野の中に入る部分だけが関心のある領域であっても
よい。何れの場合でも、この関心のある領域が、関心の
ある領域を限定するのに役立つ２つの走査通路に沿った
上限及び下限の所でコーン・ビーム照射源によって回転
走査される。正確な像を再生する為の完全なラドン・デ
ータ集合が収集される様に保証する為、上側及び下側走
査通路は、完全な走査軌跡となる様にする為に、その間
の走査通路によって連結されている。コーン・ビーム減
衰データが適当な面配列放射検出器によって収集され
る。源及び配列検出器は互いに固定であって、走査軌跡
に沿った複数個の源位置に対し、検出器の面に於けるコ
ーン・ビーム減衰データを収集する為に、関心のある領
域を回転走査する。
・ビーム源の視野の中で照射された対象の一部分の関心
のある領域（region of interest）の作像を行なう方法
と手段が記載されている。関心のある領域は、対象がコ
ーン・ビーム源の視野の中に完全に囲い込まれる場合に
は、対象の選ばれた一部分であってよい。この代りに、
対象全体が大きすぎてコーン・ビーム源によって全部照
射することが出来ない時、対象の内、コーン・ビーム源
の視野の中に入る部分だけが関心のある領域であっても
よい。何れの場合でも、この関心のある領域が、関心の
ある領域を限定するのに役立つ２つの走査通路に沿った
上限及び下限の所でコーン・ビーム照射源によって回転
走査される。正確な像を再生する為の完全なラドン・デ
ータ集合が収集される様に保証する為、上側及び下側走
査通路は、完全な走査軌跡となる様にする為に、その間
の走査通路によって連結されている。コーン・ビーム減
衰データが適当な面配列放射検出器によって収集され
る。源及び配列検出器は互いに固定であって、走査軌跡
に沿った複数個の源位置に対し、検出器の面に於けるコ
ーン・ビーム減衰データを収集する為に、関心のある領
域を回転走査する。
【０００３】像の正確な再生が確実に行なわれる様にす
る為、コーン・ビーム減衰データは、現実空間で対象の
関心のある領域が占める視野に対応するラドン空間での
所謂「支援領域」にわたってラドン空間を埋める様な形
で収集しなければならない。この様に埋めることによ
り、逆ラドン変換過程によって、３ＤＣＴ像を完全に且
つ正確に再生するのに十分なラドン・データが得られ
る。その時、ラドン空間に於ける核となる少なくとも所
要数の必要なデータ点が選択的に残される。こう云うデ
ータ点は、ラドン空間に於ける関心のある領域の作像に
寄与する。逆ラドン変換によって得られる３ＤＣＴコー
ン・ビーム再生像は、数学的に点毎の逆変換方式を利用
する。逆ラドン変換方式は本質的に大がゝりな計算を要
する過程であって、関心のある領域の３Ｄ像の再生に寄
与しないか或いは寄与があるとしても冗長である様なラ
ドン・データ点を追跡すると、この過程は著しい負担を
持つことになる。典型的には、ラドン空間全体にわたっ
て収集された全てのデータを点毎の逆変換処理の為に無
差別に残すか、対象を実際に通過する源ビームだけを表
わすラドン・データの切取った部分集合を点毎の逆変換
処理の為に選択的に残す。ラドン空間に於ける切取りの
境界が、直接的な点毎の数学操作を適用するよりも一層
容易な投影並びに／又は交差操作を使うことによって確
認されるのが典型的である。
る為、コーン・ビーム減衰データは、現実空間で対象の
関心のある領域が占める視野に対応するラドン空間での
所謂「支援領域」にわたってラドン空間を埋める様な形
で収集しなければならない。この様に埋めることによ
り、逆ラドン変換過程によって、３ＤＣＴ像を完全に且
つ正確に再生するのに十分なラドン・データが得られ
る。その時、ラドン空間に於ける核となる少なくとも所
要数の必要なデータ点が選択的に残される。こう云うデ
ータ点は、ラドン空間に於ける関心のある領域の作像に
寄与する。逆ラドン変換によって得られる３ＤＣＴコー
ン・ビーム再生像は、数学的に点毎の逆変換方式を利用
する。逆ラドン変換方式は本質的に大がゝりな計算を要
する過程であって、関心のある領域の３Ｄ像の再生に寄
与しないか或いは寄与があるとしても冗長である様なラ
ドン・データ点を追跡すると、この過程は著しい負担を
持つことになる。典型的には、ラドン空間全体にわたっ
て収集された全てのデータを点毎の逆変換処理の為に無
差別に残すか、対象を実際に通過する源ビームだけを表
わすラドン・データの切取った部分集合を点毎の逆変換
処理の為に選択的に残す。ラドン空間に於ける切取りの
境界が、直接的な点毎の数学操作を適用するよりも一層
容易な投影並びに／又は交差操作を使うことによって確
認されるのが典型的である。
【０００４】逆ラドン変換による典型的な３ＤＣＴ再生
では、ビーム減衰検出器の線積分に対応する平面積分を
計算し、ラドン空間内の個別のデータ点として構成す
る。ラドン・データ点がラドン空間に於ける平面の任意
の集合に構成される。この時、各々の積分面を使って、
ラドン空間に於ける１個のデータ点に対応するラドン微
分を計算する。この様に個別に構成されたラドン・デー
タ点が典型的に区切られ、対応する積分面が対象の関心
のある領域と交差するかしないかに従って、選択的に残
されるか又は廃棄される。ラドン空間は、その数学的な
性格から、積分面、例えば平面積分に夫々対応する個別
のラドン・データ点の集合である。関心のある領域と交
差する各々の積分平面に対しては、ラドン微分、即ちラ
ドン・データ点の対応する計算は、その平面と関心のあ
る領域との交差の仕方に関係する。従って、ラドン空間
に於ける支援領域の埋め方が適切であるかどうかは、一
般的には、下記の様に、ラドン空間に於けるデータ点に
寄与する積分平面を最初に区切ることによって評価され
る。
では、ビーム減衰検出器の線積分に対応する平面積分を
計算し、ラドン空間内の個別のデータ点として構成す
る。ラドン・データ点がラドン空間に於ける平面の任意
の集合に構成される。この時、各々の積分面を使って、
ラドン空間に於ける１個のデータ点に対応するラドン微
分を計算する。この様に個別に構成されたラドン・デー
タ点が典型的に区切られ、対応する積分面が対象の関心
のある領域と交差するかしないかに従って、選択的に残
されるか又は廃棄される。ラドン空間は、その数学的な
性格から、積分面、例えば平面積分に夫々対応する個別
のラドン・データ点の集合である。関心のある領域と交
差する各々の積分平面に対しては、ラドン微分、即ちラ
ドン・データ点の対応する計算は、その平面と関心のあ
る領域との交差の仕方に関係する。従って、ラドン空間
に於ける支援領域の埋め方が適切であるかどうかは、一
般的には、下記の様に、ラドン空間に於けるデータ点に
寄与する積分平面を最初に区切ることによって評価され
る。
【０００５】１．関心のある領域と交差しない積分平面 ２．関心のある領域だけと交差する積分平面 ３．関心のある領域と交差するが、その上又は下の領域
の何れかとも交差し、但し両方とは交差しない積分平面 ４．関心のある領域と交差すると共に、その上又は下の
領域の両方とも交差する積分平面。
の何れかとも交差し、但し両方とは交差しない積分平面 ４．関心のある領域と交差すると共に、その上又は下の
領域の両方とも交差する積分平面。
【０００６】上記のケース１の場合、平面積分は常にゼ
ロであり、従ってラドン微分を計算する必要がない。ケ
ース２の場合、ラドン微分は標準的な形で計算され、そ
れ以上考慮の必要がない。これは、関心のある領域自体
によるもの以外の寄与によって、ラドン・データが崩れ
ることがないからである。
ロであり、従ってラドン微分を計算する必要がない。ケ
ース２の場合、ラドン微分は標準的な形で計算され、そ
れ以上考慮の必要がない。これは、関心のある領域自体
によるもの以外の寄与によって、ラドン・データが崩れ
ることがないからである。
【０００７】ケース３の場合、平面積分は前に引用した
特願平４−１６６５１２号に従ってコーン・ビーム・デ
ータから計算される。この時、関心のある領域の外側か
ら発したコーン・ビーム・データは、ラドン微分を計算
する前にゼロに設定する。これにより、他の場合にはデ
ータ集合を劣化させる様な余分の寄与がなくなる。ケー
ス４の場合は、ケース２及び３の場合を含んでいるの
で、取上げるものとしては最も一般的な場合である。ケ
ース４の場合、ゼロにすることによっては十分ではな
い。それは、劣化させる様な寄与が、単に相加的に寄与
するだけでなく、他の源位置からの寄与と包括的に協働
して、その結果得られるラドン・データ集合の望ましく
ない劣化をもたらすからである。この場合、１つより多
くの源位置から取出したコーン・ビーム・データから計
算した結果を加算することによって、ラドン微分を求め
る。
特願平４−１６６５１２号に従ってコーン・ビーム・デ
ータから計算される。この時、関心のある領域の外側か
ら発したコーン・ビーム・データは、ラドン微分を計算
する前にゼロに設定する。これにより、他の場合にはデ
ータ集合を劣化させる様な余分の寄与がなくなる。ケー
ス４の場合は、ケース２及び３の場合を含んでいるの
で、取上げるものとしては最も一般的な場合である。ケ
ース４の場合、ゼロにすることによっては十分ではな
い。それは、劣化させる様な寄与が、単に相加的に寄与
するだけでなく、他の源位置からの寄与と包括的に協働
して、その結果得られるラドン・データ集合の望ましく
ない劣化をもたらすからである。この場合、１つより多
くの源位置から取出したコーン・ビーム・データから計
算した結果を加算することによって、ラドン微分を求め
る。
【０００８】この手順が、ケース４の場合のカテゴリー
に属する典型的な積分平面１を示した図１に例示されて
いる。平面１は、図面の平面であるが、“Ａ”と記した
源位置２と、レベル３で上側走査通路と交差し、“Ｂ”
と記した源位置４とはレベル５で下側走査通路と交差す
る。平面１の内、対象２２の関心のある領域１４と交差
する部分が、点Ａ及びＢを連結してその間の共通の境界
となる線６により、２つの部分的な平面に分割される。
部分的な平面８で表わした上側部分に対するラドン微分
が、レベル３にある上側境界と線６の間に限定された角
度範囲内にある、源位置Ａで放出されたコーン・ビーム
線から計算される。同様に、部分的な平面１２で示した
下側部分に対するラドン微分が、レベル５の下側境界と
線６の間に限定された角度範囲内にある、源位置Ｂで放
出されたコーン・ビーム線から計算される。従って、関
心のある領域１４の外側にある対象２２の部分、即ちレ
ベル３の上側走査通路及びレベル５の下側走査通路を越
えた所にあって、平面積分の計算を乱し、こうしてラド
ン微分を乱す様な部分による望ましくない寄与は、その
通路が、レベル３の上側走査通路及びレベル５の下側走
査通路によって区切られた範囲を越えて領域を横断する
様な全てのコーン・ビーム・データを廃棄することによ
って除くことが出来る。対象の残りの部分並びに関心の
ある領域１４に入り込む源ビームは、関心のある領域だ
けに帰因するものではないコーン・ビーム・データとな
り、即ち、ラドン・データ集合が乱れる。最初に積分平
面を前に述べた場合に区分することによるラドン・デー
タの操作は、こう云う望ましくない乱す様な寄与を除去
する為の必要な前提条件とするのが典型的であった。こ
の処理は、関心のある領域の正確な３Ｄ像を再生する為
に、乱れていないが、それでも十分完全なラドン・デー
タ集合が収集されることを保証する為に必要であった。
に属する典型的な積分平面１を示した図１に例示されて
いる。平面１は、図面の平面であるが、“Ａ”と記した
源位置２と、レベル３で上側走査通路と交差し、“Ｂ”
と記した源位置４とはレベル５で下側走査通路と交差す
る。平面１の内、対象２２の関心のある領域１４と交差
する部分が、点Ａ及びＢを連結してその間の共通の境界
となる線６により、２つの部分的な平面に分割される。
部分的な平面８で表わした上側部分に対するラドン微分
が、レベル３にある上側境界と線６の間に限定された角
度範囲内にある、源位置Ａで放出されたコーン・ビーム
線から計算される。同様に、部分的な平面１２で示した
下側部分に対するラドン微分が、レベル５の下側境界と
線６の間に限定された角度範囲内にある、源位置Ｂで放
出されたコーン・ビーム線から計算される。従って、関
心のある領域１４の外側にある対象２２の部分、即ちレ
ベル３の上側走査通路及びレベル５の下側走査通路を越
えた所にあって、平面積分の計算を乱し、こうしてラド
ン微分を乱す様な部分による望ましくない寄与は、その
通路が、レベル３の上側走査通路及びレベル５の下側走
査通路によって区切られた範囲を越えて領域を横断する
様な全てのコーン・ビーム・データを廃棄することによ
って除くことが出来る。対象の残りの部分並びに関心の
ある領域１４に入り込む源ビームは、関心のある領域だ
けに帰因するものではないコーン・ビーム・データとな
り、即ち、ラドン・データ集合が乱れる。最初に積分平
面を前に述べた場合に区分することによるラドン・デー
タの操作は、こう云う望ましくない乱す様な寄与を除去
する為の必要な前提条件とするのが典型的であった。こ
の処理は、関心のある領域の正確な３Ｄ像を再生する為
に、乱れていないが、それでも十分完全なラドン・デー
タ集合が収集されることを保証する為に必要であった。
【０００９】典型的には、不要なデータの切取りは、関
心のある領域の正確な像を処理する為の十分なラドン・
データ点が利用出来ることを保証する為に、ラドン空間
内だけで行なわれていた。ラドン逆変換による再生像の
処理のこの段階で切捨てを行なうことにより、時間、コ
ンピュータ資源及び金銭が不要に浪費される。従って、
前もってのカテゴリーへの分類並びに積分平面の操作を
何等必要とせずに、像の処理を促進する為に、可能な最
も速い機会に必要とする計算作業の数を減らすことが望
ましい。
心のある領域の正確な像を処理する為の十分なラドン・
データ点が利用出来ることを保証する為に、ラドン空間
内だけで行なわれていた。ラドン逆変換による再生像の
処理のこの段階で切捨てを行なうことにより、時間、コ
ンピュータ資源及び金銭が不要に浪費される。従って、
前もってのカテゴリーへの分類並びに積分平面の操作を
何等必要とせずに、像の処理を促進する為に、可能な最
も速い機会に必要とする計算作業の数を減らすことが望
ましい。
【００１０】
【発明の目的】この発明の目的は、ラドン逆変換によ
り、コーン・ビーム源によって照射された対象の関心の
ある領域の３ＤＣＴ像再生を、更に効率がよくて促進さ
れた形で実施することである。この発明の別の目的は、
適当な放射検出器配列の面で収集されたデータを選択的
に残し、正確な像の再生に必要なデータだけを残すこと
によって、コーン・ビーム減衰データの予備処理を通じ
て、必要とするデータ処理を簡単にすることである。
り、コーン・ビーム源によって照射された対象の関心の
ある領域の３ＤＣＴ像再生を、更に効率がよくて促進さ
れた形で実施することである。この発明の別の目的は、
適当な放射検出器配列の面で収集されたデータを選択的
に残し、正確な像の再生に必要なデータだけを残すこと
によって、コーン・ビーム減衰データの予備処理を通じ
て、必要とするデータ処理を簡単にすることである。
【００１１】この発明の別の目的は、特定のラドン・デ
ータ点に寄与する源位置の正確な数を記録しておく必要
をなくすことである。
ータ点に寄与する源位置の正確な数を記録しておく必要
をなくすことである。
【００１２】
【発明の要約】この発明は、逆ラドン変換過程を用い
て、３Ｄ対象の関心のある領域の３Ｄ像を再生する為に
コーン・ビーム減衰データを予備処理する方法と装置を
対象とする。この方法は、互いに隔たった照射用のコー
ン・ビーム源と適当な配列放射検出器とを設けて、コー
ン・ビーム源の視野の中にある関心のある領域を照射す
る為に、対象の関心のある領域に対して回転走査を行な
うことを含む。関心のある領域は、完全な走査軌跡とな
る様に連結走査通路によって結ばれた夫々上側及び下側
走査通路を用いて、この領域の上限及び下限に沿って回
転走査する。検出器の面の選ばれた領域を、上側及び下
側走査通路の同様な投影の間に区切られた対象のコーン
・ビーム投影として確認する。走査軌跡に沿った種々の
走査位置に対し、コーン・ビーム減衰データを検出器の
面で収集する。この選ばれた領域内で収集されたコーン
・ビーム減衰データだけを更に処理する為に残す。この
為、この選ばれた領域を正しく確認することにより、典
型的な逆ラドン変換方式により、関心のある領域の正確
な３Ｄ像を再生する為の処理に、関心のある領域自体を
通過する時に減衰したコーン・ビームに対応するデータ
だけを残す。
て、３Ｄ対象の関心のある領域の３Ｄ像を再生する為に
コーン・ビーム減衰データを予備処理する方法と装置を
対象とする。この方法は、互いに隔たった照射用のコー
ン・ビーム源と適当な配列放射検出器とを設けて、コー
ン・ビーム源の視野の中にある関心のある領域を照射す
る為に、対象の関心のある領域に対して回転走査を行な
うことを含む。関心のある領域は、完全な走査軌跡とな
る様に連結走査通路によって結ばれた夫々上側及び下側
走査通路を用いて、この領域の上限及び下限に沿って回
転走査する。検出器の面の選ばれた領域を、上側及び下
側走査通路の同様な投影の間に区切られた対象のコーン
・ビーム投影として確認する。走査軌跡に沿った種々の
走査位置に対し、コーン・ビーム減衰データを検出器の
面で収集する。この選ばれた領域内で収集されたコーン
・ビーム減衰データだけを更に処理する為に残す。この
為、この選ばれた領域を正しく確認することにより、典
型的な逆ラドン変換方式により、関心のある領域の正確
な３Ｄ像を再生する為の処理に、関心のある領域自体を
通過する時に減衰したコーン・ビームに対応するデータ
だけを残す。
【００１３】この発明の新規な特徴は特許請求の範囲に
具体的に記載してあるが、この発明の構成並びに内容
は、以下図面について詳しく説明する所から、その他の
目的並びに特徴と共に更によく理解されよう。
具体的に記載してあるが、この発明の構成並びに内容
は、以下図面について詳しく説明する所から、その他の
目的並びに特徴と共に更によく理解されよう。
【００１４】
【発明の詳しい説明】関心のある領域の典型的な像の再
生には、１）前に述べた様な各々の積分平面の形式の確
認、２）前述のケース４の場合の形式の各々の積分平面
に対するラドン微分を計算するのに必要な、寄与を持つ
各々の源位置に対するコーン・ビーム・データの角度範
囲の決定、及び３）特定のラドン・データ点に寄与する
源位置の正確な数の記録を必要とする。こゝで説明する
発明は、像の再生の為のコーン・ビーム減衰データを、
検出器配列の面で確認された選ばれた領域内で収集され
た検出器データだけを更に処理する為に残す様な形で予
備処理することにより、他の場合には必要であった手順
を省略することにより、特願平４−１６６５１２号に記
載された一般的な方式を改良するものである。即ち、像
の処理に必要な作業がずっと少なくなり、この結果、時
間、金銭及びコンピュータ資源が節約される。
生には、１）前に述べた様な各々の積分平面の形式の確
認、２）前述のケース４の場合の形式の各々の積分平面
に対するラドン微分を計算するのに必要な、寄与を持つ
各々の源位置に対するコーン・ビーム・データの角度範
囲の決定、及び３）特定のラドン・データ点に寄与する
源位置の正確な数の記録を必要とする。こゝで説明する
発明は、像の再生の為のコーン・ビーム減衰データを、
検出器配列の面で確認された選ばれた領域内で収集され
た検出器データだけを更に処理する為に残す様な形で予
備処理することにより、他の場合には必要であった手順
を省略することにより、特願平４−１６６５１２号に記
載された一般的な方式を改良するものである。即ち、像
の処理に必要な作業がずっと少なくなり、この結果、時
間、金銭及びコンピュータ資源が節約される。
【００１５】図１については前に説明した。図２に対象
２２を示すが、特定の領域２３が検査しようとする関心
のある領域である。この領域は“Ｘ”と記されており、
“Ｃ1 ”と記したそれを囲む上側走査通路２４と、“Ｃ
2 ”と記したそれを囲む下側走査通路２６とによって区
切られており、その間に連結走査通路（図に示してな
い）がある。例示の為、図では上側及び下側走査通路２
４，２６は、関心のある円柱形領域２３を取囲む好まし
くは円形のものとして示してある。上側走査通路Ｃ1 に
沿った任意の源位置２を考えると、上側及び下側走査通
路の配列検出器の面３２に対するコーン・ビーム投影が
通路Ｃ1 及びＣ2 に対して夫々作用する投影演算子
“Ｐ”によって示される。Ｐ（Ｃ1 ）が直線３４を投影
し、Ｐ（Ｃ2 ）が放物線曲線３６を投影する。
２２を示すが、特定の領域２３が検査しようとする関心
のある領域である。この領域は“Ｘ”と記されており、
“Ｃ1 ”と記したそれを囲む上側走査通路２４と、“Ｃ
2 ”と記したそれを囲む下側走査通路２６とによって区
切られており、その間に連結走査通路（図に示してな
い）がある。例示の為、図では上側及び下側走査通路２
４，２６は、関心のある円柱形領域２３を取囲む好まし
くは円形のものとして示してある。上側走査通路Ｃ1 に
沿った任意の源位置２を考えると、上側及び下側走査通
路の配列検出器の面３２に対するコーン・ビーム投影が
通路Ｃ1 及びＣ2 に対して夫々作用する投影演算子
“Ｐ”によって示される。Ｐ（Ｃ1 ）が直線３４を投影
し、Ｐ（Ｃ2 ）が放物線曲線３６を投影する。
【００１６】図２及び３に示す様に、検出器の面３２の
選ばれた閉じた領域４４が、投影演算子Ｍ及びＰが領域
Ｘに作用して領域ＭＰ（Ｘ）を作ることゝして示されて
いる。選ばれた閉じた領域４４は、この発明では、コー
ン・ビーム投影４２の、対象２２の検出器の面３２に対
する交差を求めることによって確認され、この投影が線
３４で示すＰ（Ｃ1 ）及び線３６で示すＰ（Ｃ2 ）によ
って区切られている。選ばれた投影領域４４は、配列検
出器の面３２上でＭＰ（Ｘ）として表わされる。回転走
査軌跡に沿った各々の位置に対し、コーン・ビーム・デ
ータを検出器配列の所で収集し、選ばれた領域４４内で
収集されたコーン・ビーム減衰データだけを更に処理す
る為に残す。この発明によるこのデータ予備処理方法
は、領域４４内で収集されたデータだけを処理すること
に相当し、この領域をこの明細書ではマスクされたコー
ン・ビーム像ＭＰ（Ｘ）と呼ぶ。マスク領域Ｍ ３８内
の配列検出器の面３２で検出されるビームは、数字２で
示した源位置Ａから、上側走査通路Ｃ1 （したがって線
３４）及び下側走査通路Ｃ2 （したがって線３６）によ
って限定された角度以内で放出されたビームによるもの
である。従って、こう云う２つの走査通路が関心のある
領域２３を囲い込んでいるから、この内のあるビームが
関心のある領域２３と交差する。従って、領域４４にあ
るマスクされたコーン・ビーム像ＭＰ（Ｘ）内の全ての
ビーム減衰データは、領域Ｘ以外の対象の部分による、
対象２２の他の部分による汚染なしに、領域Ｘと確認さ
れた関心のある領域２３を実際に通過する。この様に確
認された同等性に基づけば、明細書の冒頭に述べた様な
区分けを使って、積分平面のカテゴリーの違いを区別す
る必要はもはやなくなる。従って、他の場合には必要と
されるこの手順が、この発明では省略され、この結果、
時間、金銭及びコンピュータ資源が節約される。
選ばれた閉じた領域４４が、投影演算子Ｍ及びＰが領域
Ｘに作用して領域ＭＰ（Ｘ）を作ることゝして示されて
いる。選ばれた閉じた領域４４は、この発明では、コー
ン・ビーム投影４２の、対象２２の検出器の面３２に対
する交差を求めることによって確認され、この投影が線
３４で示すＰ（Ｃ1 ）及び線３６で示すＰ（Ｃ2 ）によ
って区切られている。選ばれた投影領域４４は、配列検
出器の面３２上でＭＰ（Ｘ）として表わされる。回転走
査軌跡に沿った各々の位置に対し、コーン・ビーム・デ
ータを検出器配列の所で収集し、選ばれた領域４４内で
収集されたコーン・ビーム減衰データだけを更に処理す
る為に残す。この発明によるこのデータ予備処理方法
は、領域４４内で収集されたデータだけを処理すること
に相当し、この領域をこの明細書ではマスクされたコー
ン・ビーム像ＭＰ（Ｘ）と呼ぶ。マスク領域Ｍ ３８内
の配列検出器の面３２で検出されるビームは、数字２で
示した源位置Ａから、上側走査通路Ｃ1 （したがって線
３４）及び下側走査通路Ｃ2 （したがって線３６）によ
って限定された角度以内で放出されたビームによるもの
である。従って、こう云う２つの走査通路が関心のある
領域２３を囲い込んでいるから、この内のあるビームが
関心のある領域２３と交差する。従って、領域４４にあ
るマスクされたコーン・ビーム像ＭＰ（Ｘ）内の全ての
ビーム減衰データは、領域Ｘ以外の対象の部分による、
対象２２の他の部分による汚染なしに、領域Ｘと確認さ
れた関心のある領域２３を実際に通過する。この様に確
認された同等性に基づけば、明細書の冒頭に述べた様な
区分けを使って、積分平面のカテゴリーの違いを区別す
る必要はもはやなくなる。従って、他の場合には必要と
されるこの手順が、この発明では省略され、この結果、
時間、金銭及びコンピュータ資源が節約される。
【００１７】図４は源位置２及び関心のある領域２６と
交差する任意の平面４６を示しており、この平面は、領
域４４にあるマスクされたコーン・ビーム像ＭＰ（Ｘ）
を通る“Ｌ”と記した線４８で示すように検出器配列の
面３２とも交差している。線Ｌの内、数字３８で示した
マスク領域Ｍ内にある部分４７は、数字２で示した源位
置Ａから、前に図２に示した様に、数字２４で示した上
側走査通路Ｃ1 及び数字２６で示した下側走査通路Ｃ2
によって限定された角度以内で放出されたビームに対応
する。図１に戻って説明すると、この角度範囲は、図１
の上側の部分的な平面８に対するラドン微分を計算する
為に使われるコーン・ビーム検出器データと全く同じ角
度範囲である。従って、領域４４に示したマスクされた
コーン・ビーム像ＭＰ（Ｘ）をラドン微分の計算の入力
として使うことにより、この他の余分な作業を何等必要
とせずに、部分的な平面８に対するラドン微分が得られ
る。数字４８で示した線Ｌと数字３６で示した領域Ｍの
下縁との間の交点が“Ｂ′”と記されており、これはま
た数字４９で示してある。線ＡＢ′が数字２で示した源
位置Ａを点Ｂ′と連結しながら、“Ｂ”と記した点４で
下側走査通路Ｃ2 と交差する。
交差する任意の平面４６を示しており、この平面は、領
域４４にあるマスクされたコーン・ビーム像ＭＰ（Ｘ）
を通る“Ｌ”と記した線４８で示すように検出器配列の
面３２とも交差している。線Ｌの内、数字３８で示した
マスク領域Ｍ内にある部分４７は、数字２で示した源位
置Ａから、前に図２に示した様に、数字２４で示した上
側走査通路Ｃ1 及び数字２６で示した下側走査通路Ｃ2
によって限定された角度以内で放出されたビームに対応
する。図１に戻って説明すると、この角度範囲は、図１
の上側の部分的な平面８に対するラドン微分を計算する
為に使われるコーン・ビーム検出器データと全く同じ角
度範囲である。従って、領域４４に示したマスクされた
コーン・ビーム像ＭＰ（Ｘ）をラドン微分の計算の入力
として使うことにより、この他の余分な作業を何等必要
とせずに、部分的な平面８に対するラドン微分が得られ
る。数字４８で示した線Ｌと数字３６で示した領域Ｍの
下縁との間の交点が“Ｂ′”と記されており、これはま
た数字４９で示してある。線ＡＢ′が数字２で示した源
位置Ａを点Ｂ′と連結しながら、“Ｂ”と記した点４で
下側走査通路Ｃ2 と交差する。
【００１８】図５に示す様な同じ様な状況が存在する。
この時、源は数字２６で示した下側走査通路Ｃ2 に沿っ
て、数字４で示した位置Ｂにあり、数字５２で示した対
応するマスクされた検出器領域Ｍ′が、数字５１で表わ
し、“Ａ′”と記した領域Ｍ′の上縁で、数字５３で示
した線Ｋと交差する。線ＢＡ′が数字４で示した源位置
Ｂを点Ａ′と連結しながら、“Ａ”と記した点２で上側
走査通路Ｃ1 と交差する。源点Ｂを点Ａ′と連結する線
ＢＡ′が、図４及び５の両方で、数字２で示したのと全
く同じ源点Ａで数字２４で示した上側走査通路Ｃ1 と交
差することを幾何学的に証明することが出来ることを看
てとることが重要である。従って、線Ｋの内、領域Ｍ′
の内側にある部分５４が、図１で云う部分的な平面１２
を限定する。この様に確認された同等性の結果として、
線Ｋの内、マスクされた検出器領域Ｍ′の内側にある部
分のデータを使って計算されたラドン微分は、部分的な
平面１２に対する値を生ずる。
この時、源は数字２６で示した下側走査通路Ｃ2 に沿っ
て、数字４で示した位置Ｂにあり、数字５２で示した対
応するマスクされた検出器領域Ｍ′が、数字５１で表わ
し、“Ａ′”と記した領域Ｍ′の上縁で、数字５３で示
した線Ｋと交差する。線ＢＡ′が数字４で示した源位置
Ｂを点Ａ′と連結しながら、“Ａ”と記した点２で上側
走査通路Ｃ1 と交差する。源点Ｂを点Ａ′と連結する線
ＢＡ′が、図４及び５の両方で、数字２で示したのと全
く同じ源点Ａで数字２４で示した上側走査通路Ｃ1 と交
差することを幾何学的に証明することが出来ることを看
てとることが重要である。従って、線Ｋの内、領域Ｍ′
の内側にある部分５４が、図１で云う部分的な平面１２
を限定する。この様に確認された同等性の結果として、
線Ｋの内、マスクされた検出器領域Ｍ′の内側にある部
分のデータを使って計算されたラドン微分は、部分的な
平面１２に対する値を生ずる。
【００１９】この発明では、関心のある領域と交差する
任意の積分平面の部分全体に対するラドン微分は、積分
平面の各々の形式のカデゴリーに従って、事前に区分け
することに何等考慮を払わずに、上側及び下側走査通路
に沿った位置Ａ及びＢに源がある時に計算された値を単
に加算することによって自動的に得られる。この為、対
象の関心のある領域の３Ｄ像を再生するのに使われるラ
ドン・データ集合から、望ましくない乱す様な寄与分を
取除く為に本来なら必要であった前提条件として、特願
平４−１６６５１２号に記載されている様な積分平面の
区分けがいらなくなる。この為、この発明では、必要と
する計算作業が一層少なくなり、時間、金銭及びコンピ
ュータ資源の節約になる。
任意の積分平面の部分全体に対するラドン微分は、積分
平面の各々の形式のカデゴリーに従って、事前に区分け
することに何等考慮を払わずに、上側及び下側走査通路
に沿った位置Ａ及びＢに源がある時に計算された値を単
に加算することによって自動的に得られる。この為、対
象の関心のある領域の３Ｄ像を再生するのに使われるラ
ドン・データ集合から、望ましくない乱す様な寄与分を
取除く為に本来なら必要であった前提条件として、特願
平４−１６６５１２号に記載されている様な積分平面の
区分けがいらなくなる。この為、この発明では、必要と
する計算作業が一層少なくなり、時間、金銭及びコンピ
ュータ資源の節約になる。
【００２０】関心のある領域と交差すると共に、上側及
び下側走査通路とも交差し、従ってそのラドン微分が上
側及び下側走査のコーン・ビーム・データから計算され
る様な任意の平面に対しては、２つの可能性がある。即
ち、１）平面が上側及び下側走査通路の両方と交差する
か、又は２）平面が上側又は下側走査通路の何れかと交
差するが、両方とは交差しない。図６はこの内の１）の
場合を示し、平面４６が数字２４で示した上側走査通路
Ｃ1 と２つの位置、即ち、点５６にあるＡ1 及び点５８
にあるＡ2 で交差すると共に、数字２６で示した下側走
査通路Ｃ2 と２つの位置、即ち点６２にあるＢ1 と点６
４にあるＢ2 で交差する。点５６にある位置Ａ1 で計算
された結果と、点６４にある位置Ｂ2 で計算された結果
との和が、関心のある領域と交差する平面４６の部分に
対するラドン微分に等しい。同様に、点５８にある位置
Ａ2 で計算された結果と点６２にある位置Ｂ1 で計算さ
れた結果との和が、平面４６の内、関心のある領域と交
差する部分に対するラドン微分に等しい。従って、４つ
の源位置（Ａ1 ，Ａ2 ，Ｂ1 ，Ｂ2 ）の全てゞ計算され
た結果の和が、所望の結果の２倍に等しく、従って２の
正規化係数で除さなければならない。図７は２）の場合
を示しており、平面４６が２つの位置、即ち点６６にあ
るＡ1 と点６８にあるＡ2 で、上側走査通路Ｃ1 と交差
する。平面４６は数字２６で示した下側走査通路Ｃ2 と
交差しない。従って、平面４６が検出器配列の面３２と
どこで交差するかを表わす線Ｌは、曲線Ｐ（Ｃ2 ）とは
交差せず、従って、マスク領域Ｍの範囲内にある線Ｌの
部分からの計算により、関心のある領域と交差する平面
４６の部分全体に対するラドン微分が得られる。これ
は、源位置Ａ1 に対して成立すると共に、点６８にある
位置Ａ2 についても成立する。従って、両方の源位置か
らの合計の結果は、所望の結果の２倍に等しく、その和
を２の正規化係数で除すだけでよい。この為、ラドン微
分が上側及び下側走査通路上の源位位置から計算される
全ての場合に対し、同じ正規化係数、即ち、２を用い
る。この発明では、各々のラドン点に対し、上側及び下
側走査通路に沿った源位置から計算された全ての結果の
和は、同じ正規化係数２によって正規化することが出来
る。この為、他の場合に要求される記録をとると云うも
う１つのレベルが、この発明では不要であることが証明
されたことにより、時間、金銭及びコンピュータ資源が
更に節約される。
び下側走査通路とも交差し、従ってそのラドン微分が上
側及び下側走査のコーン・ビーム・データから計算され
る様な任意の平面に対しては、２つの可能性がある。即
ち、１）平面が上側及び下側走査通路の両方と交差する
か、又は２）平面が上側又は下側走査通路の何れかと交
差するが、両方とは交差しない。図６はこの内の１）の
場合を示し、平面４６が数字２４で示した上側走査通路
Ｃ1 と２つの位置、即ち、点５６にあるＡ1 及び点５８
にあるＡ2 で交差すると共に、数字２６で示した下側走
査通路Ｃ2 と２つの位置、即ち点６２にあるＢ1 と点６
４にあるＢ2 で交差する。点５６にある位置Ａ1 で計算
された結果と、点６４にある位置Ｂ2 で計算された結果
との和が、関心のある領域と交差する平面４６の部分に
対するラドン微分に等しい。同様に、点５８にある位置
Ａ2 で計算された結果と点６２にある位置Ｂ1 で計算さ
れた結果との和が、平面４６の内、関心のある領域と交
差する部分に対するラドン微分に等しい。従って、４つ
の源位置（Ａ1 ，Ａ2 ，Ｂ1 ，Ｂ2 ）の全てゞ計算され
た結果の和が、所望の結果の２倍に等しく、従って２の
正規化係数で除さなければならない。図７は２）の場合
を示しており、平面４６が２つの位置、即ち点６６にあ
るＡ1 と点６８にあるＡ2 で、上側走査通路Ｃ1 と交差
する。平面４６は数字２６で示した下側走査通路Ｃ2 と
交差しない。従って、平面４６が検出器配列の面３２と
どこで交差するかを表わす線Ｌは、曲線Ｐ（Ｃ2 ）とは
交差せず、従って、マスク領域Ｍの範囲内にある線Ｌの
部分からの計算により、関心のある領域と交差する平面
４６の部分全体に対するラドン微分が得られる。これ
は、源位置Ａ1 に対して成立すると共に、点６８にある
位置Ａ2 についても成立する。従って、両方の源位置か
らの合計の結果は、所望の結果の２倍に等しく、その和
を２の正規化係数で除すだけでよい。この為、ラドン微
分が上側及び下側走査通路上の源位位置から計算される
全ての場合に対し、同じ正規化係数、即ち、２を用い
る。この発明では、各々のラドン点に対し、上側及び下
側走査通路に沿った源位置から計算された全ての結果の
和は、同じ正規化係数２によって正規化することが出来
る。この為、他の場合に要求される記録をとると云うも
う１つのレベルが、この発明では不要であることが証明
されたことにより、時間、金銭及びコンピュータ資源が
更に節約される。
【００２１】従って、コンピュータ資源及び処理時間を
消費する上に述べた様なものを含めて、他の場合に必要
であった手順が配列検出器の面自体で提供された最も速
い機会にビーム減衰データを予備処理することを通じ
て、効果的に除かれたことを示した。この予備処理は、
検出器配列の面上の選ばれた領域を、同じ様に投影され
た上側及び下側走査通路の間に区切られた対象のコーン
・ビーム面投影として確認し、この領域内で収集された
データだけを更に処理する為に残すことで構成されてい
る。
消費する上に述べた様なものを含めて、他の場合に必要
であった手順が配列検出器の面自体で提供された最も速
い機会にビーム減衰データを予備処理することを通じ
て、効果的に除かれたことを示した。この予備処理は、
検出器配列の面上の選ばれた領域を、同じ様に投影され
た上側及び下側走査通路の間に区切られた対象のコーン
・ビーム面投影として確認し、この領域内で収集された
データだけを更に処理する為に残すことで構成されてい
る。
【００２２】この発明の特定の実施例を図面に示して説
明したが、当業者にはいろいろな変更が考えられよう。
従って、特許請求の範囲は、この発明の範囲内に属する
この様な全ての変更を包括するものであることを承知さ
れたい。
明したが、当業者にはいろいろな変更が考えられよう。
従って、特許請求の範囲は、この発明の範囲内に属する
この様な全ての変更を包括するものであることを承知さ
れたい。
【図１】特願平４−１６６，５１２号に記載された様に
して、４の場合の形式の平面に対し、上側及び下側の源
位置に夫々対応する部分的な積分平面の寄与を示す典型
的なラドン微分を計算するための方式を示す平面図。
して、４の場合の形式の平面に対し、上側及び下側の源
位置に夫々対応する部分的な積分平面の寄与を示す典型
的なラドン微分を計算するための方式を示す平面図。
【図２】上側及び下側走査通路の夫々のコーン・ビーム
投影の間に定めた対象のコーン・ビーム投影の交差によ
って形成された、配列検出器の面に於ける選ばれた閉じ
た領域のこの発明による定め方を示す斜視図であって、
この選ばれた領域内で収集されたデータだけが一層の像
処理の為に残される。
投影の間に定めた対象のコーン・ビーム投影の交差によ
って形成された、配列検出器の面に於ける選ばれた閉じ
た領域のこの発明による定め方を示す斜視図であって、
この選ばれた領域内で収集されたデータだけが一層の像
処理の為に残される。
【図３】図２の配列検出器の面に於ける選ばれた閉じた
領域を定める方法を示す説明図。
領域を定める方法を示す説明図。
【図４】部分的な平面の寄与に対するラドン微分を釣合
わせる為の従来の条件を示す斜視図であり、この発明に
よれば、これが不要になる。
わせる為の従来の条件を示す斜視図であり、この発明に
よれば、これが不要になる。
【図５】部分的な平面の寄与に対するラドン微分を釣合
わせる為の従来の条件を示す斜視図であり、この発明に
よれば、これが不要になる。
わせる為の従来の条件を示す斜視図であり、この発明に
よれば、これが不要になる。
【図６】特定のラドン点に寄与する源位置の正確な数を
記録しておく従来の条件を示す斜視図であり、この発明
ではこれが不要になる。
記録しておく従来の条件を示す斜視図であり、この発明
ではこれが不要になる。
【図７】特定のラドン点に寄与する源位置の正確な数を
記録しておく従来の条件を示す斜視図であり、この発明
ではこれが不要になる。
記録しておく従来の条件を示す斜視図であり、この発明
ではこれが不要になる。
２，４ 源位置 ２２ 対象 ２３ 関心のある領域 ２４ 上側走査通路 ２６ 下側走査通路 ３２ 検出器の面 ４４ 選ばれた領域
Claims (8)
- 【請求項１】 逆ラドン変換を用いて対象の一部分の３
次元（３Ｄ）像を再生する為にビーム減衰データを予備
処理する方法に於て、 互いに一定の関係に、互いに隔たる照射ビーム源及び面
配列放射検出器を設け、 前記源と前記検出器との間に対象を設け、 前記源の視野の中にある該対象の少なくとも前記一部分
を照射し、 間を連結走査通路で結んだ上側及び下側走査通路によっ
て前記一部分のそれぞれ上限及び下限を囲い込む軌跡に
沿って、前記一定の源及び検出器に対して前記一部分を
回転走査し、 前記上側及び下側走査通路の同様な投影の間に区切られ
た前記対象のビーム投影として、前記配列検出器の面の
選ばれた領域を確認し、 前記走査軌跡に沿った複数個の源位置に対し、前記配列
検出器の面に於けるビーム減衰データを収集し、 前記選ばれた領域内で収集されたビーム減衰データだけ
を残し、 逆ラドン変換による前記対象の３Ｄ像の再生のために前
記残されたデータだけを処理する段階を含む方法。 - 【請求項２】 前記源がコーン・ビーム源である請求項
１記載の方法。 - 【請求項３】 前記検出器の面が平面状の面である請求
項１記載の方法。 - 【請求項４】 前記一部分の正確な３Ｄ像を再生する為
に、完全な１組のラドン・データが収集される請求項１
記載の方法。 - 【請求項５】 対象の一部分の正確な３次元（３Ｄ）像
を再生する為にコーン・ビーム減衰データを予備処理す
る装置に於て、放射ビーム源と、該源から一定距離だけ
互いに隔たった面配列放射検出器手段と、走査軌跡に沿
って前記一定の源及び検出器に対して前記対象を相対的
に回転させて、該源の視野の中にある前記対象の少なく
とも前記一部分を照射する手段と、前記一部分を通るコ
ーン・ビーム・データに対応する前記検出器の面の選ば
れた領域を確認する手段と、前記走査軌跡に沿った複数
個の源位置に対し、前記検出器の面に於けるビーム減衰
データを収集する手段と、前記検出器の面の前記選ばれ
た領域内で収集されたビーム減衰データだけを残す手段
と、前記残されたデータを逆ラドン変換によって前記一
部分の３Ｄ像に処理する手段とを有する装置。 - 【請求項６】 前記ビーム源がコーン・ビーム源である
請求項５記載の装置。 - 【請求項７】 前記面配列放射検出器が平面状配列放射
検出器である請求項５記載の装置。 - 【請求項８】 前記走査軌跡に沿って回転させる手段
が、前記対象の前記一部分の上限及び下限を夫々囲い込
む上側及び下側走査通路並びにその間の連結走査通路に
沿って走査する手段を含む請求項５記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US908114 | 1992-07-02 | ||
| US07/908,114 US5390226A (en) | 1992-07-02 | 1992-07-02 | Method and apparatus for pre-processing cone beam projection data for exact three dimensional computer tomographic image reconstruction of a portion of an object |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0663037A true JPH0663037A (ja) | 1994-03-08 |
| JP3901741B2 JP3901741B2 (ja) | 2007-04-04 |
Family
ID=25425209
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15466193A Expired - Fee Related JP3901741B2 (ja) | 1992-07-02 | 1993-06-25 | ビーム減衰データを予備処理する方法と装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5390226A (ja) |
| EP (1) | EP0577425B1 (ja) |
| JP (1) | JP3901741B2 (ja) |
| CA (1) | CA2097653A1 (ja) |
| DE (1) | DE69329514T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10804015B2 (en) | 2011-12-29 | 2020-10-13 | Posco | Electrical steel sheet and method for manufacturing the same |
Families Citing this family (31)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07312297A (ja) * | 1993-09-20 | 1995-11-28 | Philips Electron Nv | Ｘ線診断装置 |
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