JPH066259B2 - 両面研削装置の砥石形状検出方法および砥石形状検出手段を備えた両面研削装置 - Google Patents

両面研削装置の砥石形状検出方法および砥石形状検出手段を備えた両面研削装置

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JPH066259B2
JPH066259B2 JP61188412A JP18841286A JPH066259B2 JP H066259 B2 JPH066259 B2 JP H066259B2 JP 61188412 A JP61188412 A JP 61188412A JP 18841286 A JP18841286 A JP 18841286A JP H066259 B2 JPH066259 B2 JP H066259B2
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JP
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grindstone
double
shape
grinding machine
sided grinding
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伸哉 関山
孝雄 中村
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、上・下定盤の間にキャリアを介し保持した被
加工物を上・下定盤およびキャリアを回転させ研削する
両面研削装置の砥石形状検出方法および砥石形状検出手
段を備えた両面研削装置に関するものである。
〔従来の技術〕
従来の両面研削装置は、特開昭56−146665号公
報に記載のように、両面研削装置の上・下定盤間の距離
を非接触で検出し、その距離により被加工物に与える圧
力および回転速度を制御し、被加工物が最終仕上がり寸
法となった際には、被加工物に対する圧力を減圧すると
共に、上・下定盤の回転を停止するような方法となって
いた。しかし、検出する距離(厚さ)は被加工物直接の
ものでなく、また、被加工物の加工と共に局部的に消耗
する上・下定盤の平面度の測定や修正については配慮さ
れていなかった。
上・下定盤の間にキャリアを介し被加工物を保持し、上
・下定盤およびキャリアを回転させながら被加工物の両
面を研削する両面研削装置においては、加工により上・
下定盤に取付けた砥石が局部的に減耗し、砥石の平面度
が劣化する。従来、この砥石の平面度を平らに修正する
方法は、第3図に示すように、修正キャリア10にダイ
アモンドペレット11を固着させてペレット面を平らに
仕上げた第4図に示すような修正リングを上・下定盤3
および4の間に入れ、両者を回転させ砥石面を平らに削
り修正するものである。
しかし、この修正作業を行う時期および時間は、定量的
なものではなく、修正作業を行うかどうかの検査作業も
非常に手間のかかるものであるため、主に作業者の勘に
より決めていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前述のように、両面研削装置の上・下定盤に取付けた砥
石の減耗の検査作業は作業者を必要とし、この作業は非
常に手間のかかるものであり、検査作業が遅れると砥石
の減耗により被加工物の形状を劣化させ、逆に修正作業
が早すぎると砥石を無駄に消耗させ、無駄な作業時間を
費やす等の問題があった。
本発明は上記問題を解決するもので、両面研削装置の上
・下定盤に取付けた砥石の形状を検出する方法および砥
石の形状を検出し演算処理により砥石形状および合否結
果を表示する処理装置を備えた両面研削装置を提供する
ことを目的としている。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は上記の目的を達成するため、砥石を取付けた上
・下定盤を持つ両面研削装置の砥石形状検出方法におい
て、前記上・下定盤に取付けた複数の砥石の一以上の砥
石間の定盤直径方向に複数の距離センサを設置し、該複
数の距離センサの出力を演算処理することにより上・下
定盤に取付けた砥石の形状を検出する両面研削装置の砥
石形状を検出する方法である。
また、砥石を取付けた上・下定盤の砥石形状検出手段を
備えた両面研削装置において、前記上・下定盤に取付け
た複数の砥石の一以上の砥石間の定盤直径方向に設置し
た複数の距離センサと、該複数の距離センサの出力を演
算処理により予め定めた砥石平面度と比較判定し砥石形
状および合否結果を表示する処理装置とを備えた両面研
削装置である。
〔作用〕
両面研削装置の上・下定盤に取付けた砥石の平面度の測
定、例えば上定盤に取付けた砥石の平面度は、上定盤を
数rpmで低速回転させ、下定盤に取付けた複数のブロ
ツク状の扇形砥石の一以上の砥石間の定盤直径方向に多
数設置された被接触の距離センサによって測定する。す
なわち、下定盤の砥石の間に設置した非接触の距離セン
サの出力は、上定盤に取付けた砥石との距離を示す。こ
の出力は処理装置により演算処理され第5図のように表
わせられる。この平面度をあらかじめ設定された砥石修
正を施した高い平面度の砥石形状のデータと比較し、許
容値を越えた場合信号により表示を行い砥石修正時期を
知らせる。下定盤も同様に測定することができる。この
信号により表示が出たならばすぐに修正リングにより砥
石を修正し再び上・下の砥石形状を測定、比較し許容値
に入っていれば加工可能の信号により表示を出す。
これにより、常に高い平面度の砥石で高い平面度の被加
工物の加工が可能になる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。
第1図は両面研削装置を示し、被加工物1,被加工物1
を保持するキャリア2,上・下定盤3,4,インターナ
ル歯車5,太陽歯車6,上・下定盤3,4に取付けた砥
石7,上・下定盤3,4の直径方向にそれぞれ設置した
多数の超音波センサ8,超音波センサ8の出力を演算処
理し上・下定盤3,4に取付けた砥石7の形状を測定し
砥石形状を表示すると共に砥石修正作業の要否を判断し
表示する処理装置から構成されている。
次に本発明による両面研削装置の上・下定盤に取付けた
砥石の形状の検出方法および演算処理を説明する。
まづ、砥石形状の検出方法を説明する。加工液供給装置
(図示せず)によって水を下定盤4の面上まで浸す。次
いで上定盤3を水中に浸るまで下降させる。但し、上定
盤3と下定盤4とは接触しないようにする。この状態で
例えば下定盤4の砥石形状を検出する場合は、下定盤4
を数rpmの低速で回転させ、上定盤3の直径方向に設
置した多数の超音波センサ8によって下定盤4の砥石形
状を測定する。すなわち、それぞれの超音波センサ8に
よる出力は、下定盤4に取付けた砥石7との距離を示
し、この超音波センサ8の出力信号は処理装置9によっ
て演算処理の結果例えば第5図のように表示される。こ
の第5図に示すような砥石形状は、第4図に示し上述し
た修正キャリア10に修正ダイアモンドペレット11を
複数個固着させ両面を平らに仕上げた修正リングを上・
下定盤3,4の間に入れ両者を回転させ砥石面を数分間
削り平らに修正することで得られる。また実験による
と、上・下定盤3,4に取付けた砥石の平面度が数回の
加工により第6図に示すように劣化した状態で外径21
0mm,内径100mm,板厚2mmのアルミニウム円
板を加工すると、被加工物1のアルミニウム円板は第7
図に示すように平面度2μmと劣化することが分かっ
た。発明者は、実験により、被加工物1(上記アルミニ
ウム)の平面度が1μmを得るためには砥石の平面度が
30μm以内でなければならないことが分かっている。
そこで第9図に示すように処理装置9による砥石修正の
要否判定基準、即ち上・下定盤3,4の砥石の平面度の
許容値を30μmとしている。
上記方法により下定盤4の砥石7の平面度を測定し、演
算処理の結果第6図に示す形状が得られると、処理装置
9は「修正作業要」の表示をする。そこで上記の方法で
砥石の修正作業を例えば5分間行い再び前述のごとく測
定する。下定盤4に取付けた砥石7の形状は第5図に示
すように平面度15μmを得ており、許容値を満足して
いるので処理装置9は「加工可」の表示をする。上定盤
3の砥石形状の検出をする場合も同様に行う。上・下定
盤3,4とも「加工可」の表示が得られたところで、上
記アルミニウム円板を加工したところ第8図に示すよう
に平面度0.3μmの高い平面度を持つ加工面を得るこ
とができた。
上述のように、本発明によれば、被加工物1の加工によ
る上・下定盤3,4に取付けた砥石7の形状の劣化が常
に分かる。この形状を予め処理装置9に入力されていた
許容値と比較し演算処理を行い、「修正作業要」「加工
可」の判定をし、この判定結果に基づき修正作業あるい
は加工を行う。従って、常に砥石7は高い平面度を保つ
ことができるので、被加工物1の形状劣化を防ぐことが
できる。更に、不要な修正作業を無くすことができるの
で無駄な砥石7の消耗を無くし、無駄な修正時間を無く
すことができる。
第9図は、上述した本発明による両面研削装置の上・下
定盤に取付けた砥石の形状検出、修正そして被加工物の
加工についてのステップを示すフローチャートの一例で
ある。
〔発明の効果〕
本発明によれば、上・下定盤に取付けた砥石の平面度劣
化が常に分かるので、被加工物の加工により局部的に減
耗した場合の管理および修正が容易となり、被加工物の
形状劣化の要因の一つである砥石の平面度を高く維持で
き、常に高い平面度の被加工物を得ることができる。
更に、修正作業を知す時期が具体的に分かるので、最適
修正作業により、無駄な砥石消耗も防げるし、無駄な修
正作業時間も無くすことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の断面図、第2図は下定盤の
平面図、第3図は砥石修正の上・下定盤と修正リングを
表した図、第4図は砥石修正時の平面図、第5図は修正
後の下定盤の測定例を示す図、第6図は砥石が局部的に
減耗した下定盤の測定例を示す図、第7図および第8図
は被加工物の断面形状を示す図、第9図は本発明のステ
ップを示すフローチャート。 1…被加工物、2…キャリア、3…上定盤、4…下定
盤、5…インターナル歯車、6…太陽歯車、7…砥石、
8…超音波センサ、9…処理装置、10…修正キャリ
ア、11…ダイアモンドペレット。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】砥石を取付けた上・下定盤を持つ両面研削
    装置の砥石形状検出方法において、前記上・下定盤に取
    付けた複数の砥石の一以上の砥石間の定盤直径方向に複
    数の距離センサを設置し、該複数の距離センサの出力を
    演算処理することにより上・下定盤に取付けた砥石の形
    状を検出することを特徴とする両面研削装置の砥石形状
    検出方法。
  2. 【請求項2】砥石を取付けた上・下定盤の砥石形状検出
    手段を備えた両面研削装置において、前記上・下定盤に
    取付けた複数の砥石の一以上の砥石間の定盤直径方向に
    設置した複数の距離センサと、該複数の距離センサの出
    力を演算処理により予め定めた砥石平面度と比較判定し
    砥石形状および合否結果を表示する処理装置とを備えた
    とを特徴とする砥石形状検出手段を備えた両面研削装
    置。
JP61188412A 1986-08-13 1986-08-13 両面研削装置の砥石形状検出方法および砥石形状検出手段を備えた両面研削装置 Expired - Lifetime JPH066259B2 (ja)

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JPS6347051A JPS6347051A (ja) 1988-02-27
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5380895A (en) * 1976-12-04 1978-07-17 Waida Seisakushiyo Kk Precision twinnhead plane grinding machine
JPS57168109A (en) * 1981-04-10 1982-10-16 Shinetsu Eng Kk Device for measuring thickness of work piece in lapping plate
JPS57211471A (en) * 1981-06-17 1982-12-25 Hitachi Ltd High accuracy polishing device for thin board member

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