JPH0654827A - 磁気共鳴画像化方法及び装置 - Google Patents
磁気共鳴画像化方法及び装置Info
- Publication number
- JPH0654827A JPH0654827A JP5185589A JP18558993A JPH0654827A JP H0654827 A JPH0654827 A JP H0654827A JP 5185589 A JP5185589 A JP 5185589A JP 18558993 A JP18558993 A JP 18558993A JP H0654827 A JPH0654827 A JP H0654827A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic resonance
- pulse
- gradient
- magnetic field
- sequence
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
- G01R33/56—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
- G01R33/565—Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities
- G01R33/56518—Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities due to eddy currents, e.g. caused by switching of the gradient magnetic field
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 渦電流の影響及びＲＦパルスの位相歪等の妨
害を補助コイル等を設けずに低減させた磁気共鳴画像化
方法及び装置を提供する。 【構成】 ＭＲＩ装置においては、スイッチされる勾配
磁場がスライス選択(231〜234)、位相符号化(241〜24
3、241'〜242')及び読出勾配(252〜253)の形で印加され
る。これら勾配磁場のスイッチは当該装置の金属部分に
渦電流を生じさせる。このような渦電流は印加された磁
場を妨害し、これにより被検物体の歳差運動するスピン
の位相を変化させ、再生画像の欠陥の原因となる。他の
妨害はＲＦ増幅器の位相歪である。励起パルス(221)と
最初の再フォーカスＲＦパルス(222)との間の勾配(25
1、231')を変更し、及び／叉はＲＦパルスの位相を変化
させるこにより、これら妨害を大幅に補償することがで
きる。上記勾配の大きさは準備シーケンス(121〜173)に
おけるスピン・エコー信号(162、163)の時間位置及び相
対位相を測定することにより調整される。
害を補助コイル等を設けずに低減させた磁気共鳴画像化
方法及び装置を提供する。 【構成】 ＭＲＩ装置においては、スイッチされる勾配
磁場がスライス選択(231〜234)、位相符号化(241〜24
3、241'〜242')及び読出勾配(252〜253)の形で印加され
る。これら勾配磁場のスイッチは当該装置の金属部分に
渦電流を生じさせる。このような渦電流は印加された磁
場を妨害し、これにより被検物体の歳差運動するスピン
の位相を変化させ、再生画像の欠陥の原因となる。他の
妨害はＲＦ増幅器の位相歪である。励起パルス(221)と
最初の再フォーカスＲＦパルス(222)との間の勾配(25
1、231')を変更し、及び／叉はＲＦパルスの位相を変化
させるこにより、これら妨害を大幅に補償することがで
きる。上記勾配の大きさは準備シーケンス(121〜173)に
おけるスピン・エコー信号(162、163)の時間位置及び相
対位相を測定することにより調整される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、略一様な静止主磁場中
に置かれた物体の画像化を行う磁気共鳴画像化方法に関
する。
に置かれた物体の画像化を行う磁気共鳴画像化方法に関
する。
【０００２】更に詳述すると、本発明は上記のような方
法であって、前記物体の少なくとも一部における核双極
子モーメントを励起するための励起無線周波パルス（Ｒ
Ｆパルス）を印加する過程と、この励起された部分にお
いて位置依存性の磁気共鳴信号を発生させるために上記
励起ＲＦパルスに続き複数の再フォーカスＲＦパルス
と、スイッチされた勾配磁場とを印加する過程と、を有
する少なくとも一つの測定系列（シーケンス）を含むよ
うな方法に関する。上記のようなＲＦパルスの系列はス
ピン・エコー系列として既知であり、上記再フォーカス
ＲＦパルスに続く複数の核磁気共鳴エコー信号（ＮＭＲ
信号）を発生させる。また、本発明は上記のような方法
を用いて磁気共鳴画像化を行う磁気共鳴画像化装置にも
関する。
法であって、前記物体の少なくとも一部における核双極
子モーメントを励起するための励起無線周波パルス（Ｒ
Ｆパルス）を印加する過程と、この励起された部分にお
いて位置依存性の磁気共鳴信号を発生させるために上記
励起ＲＦパルスに続き複数の再フォーカスＲＦパルス
と、スイッチされた勾配磁場とを印加する過程と、を有
する少なくとも一つの測定系列（シーケンス）を含むよ
うな方法に関する。上記のようなＲＦパルスの系列はス
ピン・エコー系列として既知であり、上記再フォーカス
ＲＦパルスに続く複数の核磁気共鳴エコー信号（ＮＭＲ
信号）を発生させる。また、本発明は上記のような方法
を用いて磁気共鳴画像化を行う磁気共鳴画像化装置にも
関する。
【０００３】
【従来の技術】上述したような画像化方法及び装置はヨ
ーロッパ特許出願公開第0309720号から既知である。こ
の既知の方法においては、スイッチされた勾配磁場が位
置情報をＮＭＲ信号中にコード化（符号化）するために
印加される。これら勾配磁場は、スライス選択勾配、位
相符号化勾配及び読出勾配を有する。上記ヨーロッパ特
許出願公開第0309720号に述べられているように、勾配
磁場のスイッチングは当該装置中に渦電流を発生させ、
このような渦電流はそれら自身の磁場をさせると共に供
給される磁場を妨害する。この結果、検査すべき物体の
歳差運動する核スピンの位相に影響し、再生画像中のア
ーチファクト（欠陥）の原因となる。このような欠陥
は、局部的な低コントラスト、画像中の局部的な信号の
欠落叉は画像中のゴーストとして現れる。既知の方法及
び装置においては、渦電流のスピン・エコー系列への影
響はＲＦパルスの間の短期間内に補助コイルを励磁して
主磁場を変化させることにより低減されている。この場
合、上記補助コイルにより発生される磁場の強度は勾配
磁場の中の一つの強度に比例させられる。
ーロッパ特許出願公開第0309720号から既知である。こ
の既知の方法においては、スイッチされた勾配磁場が位
置情報をＮＭＲ信号中にコード化（符号化）するために
印加される。これら勾配磁場は、スライス選択勾配、位
相符号化勾配及び読出勾配を有する。上記ヨーロッパ特
許出願公開第0309720号に述べられているように、勾配
磁場のスイッチングは当該装置中に渦電流を発生させ、
このような渦電流はそれら自身の磁場をさせると共に供
給される磁場を妨害する。この結果、検査すべき物体の
歳差運動する核スピンの位相に影響し、再生画像中のア
ーチファクト（欠陥）の原因となる。このような欠陥
は、局部的な低コントラスト、画像中の局部的な信号の
欠落叉は画像中のゴーストとして現れる。既知の方法及
び装置においては、渦電流のスピン・エコー系列への影
響はＲＦパルスの間の短期間内に補助コイルを励磁して
主磁場を変化させることにより低減されている。この場
合、上記補助コイルにより発生される磁場の強度は勾配
磁場の中の一つの強度に比例させられる。
【０００４】既知の方法の不利な点は、当該磁気共鳴画
像化（ＭＲＩ）装置に補助コイルを設ける必要があると
いう点にある。また、他の欠点は主磁場の変更が一つの
勾配磁場に関係し、容積全体に対して印加され、渦電流
の影響としての空間的変化に調整されていないという点
にある。
像化（ＭＲＩ）装置に補助コイルを設ける必要があると
いう点にある。また、他の欠点は主磁場の変更が一つの
勾配磁場に関係し、容積全体に対して印加され、渦電流
の影響としての空間的変化に調整されていないという点
にある。
【０００５】
【発明の目的及び概要】本発明の目的は、本明細書の冒
頭で述べたような磁気共鳴画像化方法であって、ＲＦパ
ルスにおける位相歪等の、装置に起因する渦電流及びそ
の他の障害の影響を、追加のコイルを設けることなく、
且つ上記のような影響の空間的変化を考慮に入れて、低
減することができるような方法を提供することにある。
頭で述べたような磁気共鳴画像化方法であって、ＲＦパ
ルスにおける位相歪等の、装置に起因する渦電流及びそ
の他の障害の影響を、追加のコイルを設けることなく、
且つ上記のような影響の空間的変化を考慮に入れて、低
減することができるような方法を提供することにある。
【０００６】この目的を達成するため、本発明による方
法は、励起ＲＦパルスと、再フォーカスＲＦパルスと、
スイッチされる勾配磁場とを有する準備シーケンスを印
加すると共に、この準備シーケンスにおいて発生される
磁気共鳴信号を測定し、測定シーケンスにおいては、最
初の再フォーカスＲＦパルスまでの初期段階と、この初
期段階に続く収集段階とを、前記準備シーケンスにおい
て測定された磁気共鳴信号から決定されるパラメータに
基づいて相互に調整することを特徴としている。この場
合、シーケンスの初期段階、即ちセットアップ段階、は
ＮＭＲ信号の発生及び収集に先行する部分であり、それ
より後の段階は収集段階と呼ぶ。測定シーケンスのこれ
らの何れかの段階における調整は、勾配磁場及びＲＦパ
ルスを殆ど任意の強度で且つ大きな柔軟性をもって発生
するＭＲＩ装置の能力を利用してなされる。本発明の方
法は、このような備わっている性能を使用する。準備シ
ーケンスにおいては磁気共鳴信号への妨害の影響が決定
され、これにより測定シーケンスにおいては比較を行う
ことができる。渦電流及びＲＦパルス発生手段における
歪のような妨害の影響は収集段階では一定であるから、
調整は初期段階のみで必要となる。しかしながら、初期
段階はそのままとして収集段階を同様の効果でもって調
整するか、叉はこれら両段階に調整を分散させることも
可能である。準備シーケンスは測定シーケンスとは同一
である必要はない。準備シーケンスと測定シーケンスと
の間の差は、これらの差が渦電流やＲＦパルスの歪のよ
うな妨害に結果として寄与しない限り許容することがで
きる。
法は、励起ＲＦパルスと、再フォーカスＲＦパルスと、
スイッチされる勾配磁場とを有する準備シーケンスを印
加すると共に、この準備シーケンスにおいて発生される
磁気共鳴信号を測定し、測定シーケンスにおいては、最
初の再フォーカスＲＦパルスまでの初期段階と、この初
期段階に続く収集段階とを、前記準備シーケンスにおい
て測定された磁気共鳴信号から決定されるパラメータに
基づいて相互に調整することを特徴としている。この場
合、シーケンスの初期段階、即ちセットアップ段階、は
ＮＭＲ信号の発生及び収集に先行する部分であり、それ
より後の段階は収集段階と呼ぶ。測定シーケンスのこれ
らの何れかの段階における調整は、勾配磁場及びＲＦパ
ルスを殆ど任意の強度で且つ大きな柔軟性をもって発生
するＭＲＩ装置の能力を利用してなされる。本発明の方
法は、このような備わっている性能を使用する。準備シ
ーケンスにおいては磁気共鳴信号への妨害の影響が決定
され、これにより測定シーケンスにおいては比較を行う
ことができる。渦電流及びＲＦパルス発生手段における
歪のような妨害の影響は収集段階では一定であるから、
調整は初期段階のみで必要となる。しかしながら、初期
段階はそのままとして収集段階を同様の効果でもって調
整するか、叉はこれら両段階に調整を分散させることも
可能である。準備シーケンスは測定シーケンスとは同一
である必要はない。準備シーケンスと測定シーケンスと
の間の差は、これらの差が渦電流やＲＦパルスの歪のよ
うな妨害に結果として寄与しない限り許容することがで
きる。
【０００７】本発明による方法は、測定シーケンスの初
期段階において補償勾配磁場を前記準備シーケンスにお
ける磁気共鳴信号の時間位置に基づいて調整された大き
さで印加するか、叉は前記収集段階を準備シーケンスに
おける磁気共鳴信号の時間位置に基づいて読出勾配の大
きさを適応化させることにより調整するか、の少なくと
も何れか一方を実施することを特徴としている。
期段階において補償勾配磁場を前記準備シーケンスにお
ける磁気共鳴信号の時間位置に基づいて調整された大き
さで印加するか、叉は前記収集段階を準備シーケンスに
おける磁気共鳴信号の時間位置に基づいて読出勾配の大
きさを適応化させることにより調整するか、の少なくと
も何れか一方を実施することを特徴としている。
【０００８】上記読出勾配はスピン・エコー信号の周波
数符号化をもたらし、補償読出勾配は最初の再フォーカ
スＲＦパルスに先行して非位相化を導入する。例えば渦
電流等の主妨害効果は、歳差運動するスピンの位相の変
化であり、これは選択された部分の全体において同じで
ある。調整された補償読出勾配磁場、叉は調整された読
出勾配、は歳差運動するスピンに対して付加的な位相差
をもたらし、この位相差は妨害により生じた位相差と大
きさが殆ど同じで反対である。妨害の結果は、再フォー
カスＲＦパルス後の再整列が、妨害が無い場合と比較し
て、異なる時間で且つ異なる向きで発生するということ
である。準備シーケンスにおけるスピン・エコー信号の
時間位置は調整の大きさ決定するための好適な基本情報
となる。既に存在する勾配コイルを使用するので、当該
ＭＲＩ装置は補助コイルを必要としない。勾配磁場の大
きさとは、勾配磁場の持続時間にわたる合計強度を云
い、矩形の勾配パルスの場合は強度と時間長との積であ
る。補償勾配の大きさを調整することは、物体の選択さ
れた位置における核双極子モーメントに対する妨害の実
際の影響が用いられるという利点を有している。
数符号化をもたらし、補償読出勾配は最初の再フォーカ
スＲＦパルスに先行して非位相化を導入する。例えば渦
電流等の主妨害効果は、歳差運動するスピンの位相の変
化であり、これは選択された部分の全体において同じで
ある。調整された補償読出勾配磁場、叉は調整された読
出勾配、は歳差運動するスピンに対して付加的な位相差
をもたらし、この位相差は妨害により生じた位相差と大
きさが殆ど同じで反対である。妨害の結果は、再フォー
カスＲＦパルス後の再整列が、妨害が無い場合と比較し
て、異なる時間で且つ異なる向きで発生するということ
である。準備シーケンスにおけるスピン・エコー信号の
時間位置は調整の大きさ決定するための好適な基本情報
となる。既に存在する勾配コイルを使用するので、当該
ＭＲＩ装置は補助コイルを必要としない。勾配磁場の大
きさとは、勾配磁場の持続時間にわたる合計強度を云
い、矩形の勾配パルスの場合は強度と時間長との積であ
る。補償勾配の大きさを調整することは、物体の選択さ
れた位置における核双極子モーメントに対する妨害の実
際の影響が用いられるという利点を有している。
【０００９】本発明による方法の一実施例は、前記準備
シーケンスが少なくとも第１及び第２の磁気共鳴信号を
発生するために印加され、測定シーケンスにおける補償
勾配磁場と読出勾配の大きさと、準備シーケンスにおけ
る対応する補償勾配磁場と対応する読出勾配の大きさと
の間の累積された差が、前記第１及び第２の磁気共鳴信
号の間の期間の公称期間からのずれに比例することを特
徴としている。もし妨害が補償勾配磁場と読出磁場との
相対的な大きさに影響する場合は、これに起因するスピ
ン・エコー信号の発生時点の差を同一のシーケンスにお
ける異なるスピン・エコー信号間の時間長を決定するこ
とにより測定することが可能である。歳差運動するスピ
ンへ影響する位相差は磁場の大きさに比例するから、検
出された時間差に比例して調整された補償勾配によって
適切な補償を行うことが可能である。
シーケンスが少なくとも第１及び第２の磁気共鳴信号を
発生するために印加され、測定シーケンスにおける補償
勾配磁場と読出勾配の大きさと、準備シーケンスにおけ
る対応する補償勾配磁場と対応する読出勾配の大きさと
の間の累積された差が、前記第１及び第２の磁気共鳴信
号の間の期間の公称期間からのずれに比例することを特
徴としている。もし妨害が補償勾配磁場と読出磁場との
相対的な大きさに影響する場合は、これに起因するスピ
ン・エコー信号の発生時点の差を同一のシーケンスにお
ける異なるスピン・エコー信号間の時間長を決定するこ
とにより測定することが可能である。歳差運動するスピ
ンへ影響する位相差は磁場の大きさに比例するから、検
出された時間差に比例して調整された補償勾配によって
適切な補償を行うことが可能である。
【００１０】上記実施例は、更に、前記第１及び第２の
磁気共鳴信号の間の期間が所定の関数に基づく適合操作
か、叉は相関アルゴリズムを用いて決定されることを特
徴とするようにしてもよい。通常、スピン・エコー信号
は短い時間を隔てた多数のサンプルとして測定される。
このようなサンプリング間隔よりも大幅によい精度での
２つのスピン・エコー信号の相対位置の満足のゆく決定
は、これらのサンプルの多数を用いた適合操作か、叉は
測定されたスピン・エコー信号の両者の全サンプルか叉
はそれらの大部分を用いて相関解析を行うことによって
達成することができる。ノイズ等によってスピン・エコ
ー信号の中心部のサンプルが充分な変化を示さないよう
な場合は、信号の位置を良好に合わせるには上記相関法
が好ましい。
磁気共鳴信号の間の期間が所定の関数に基づく適合操作
か、叉は相関アルゴリズムを用いて決定されることを特
徴とするようにしてもよい。通常、スピン・エコー信号
は短い時間を隔てた多数のサンプルとして測定される。
このようなサンプリング間隔よりも大幅によい精度での
２つのスピン・エコー信号の相対位置の満足のゆく決定
は、これらのサンプルの多数を用いた適合操作か、叉は
測定されたスピン・エコー信号の両者の全サンプルか叉
はそれらの大部分を用いて相関解析を行うことによって
達成することができる。ノイズ等によってスピン・エコ
ー信号の中心部のサンプルが充分な変化を示さないよう
な場合は、信号の位置を良好に合わせるには上記相関法
が好ましい。
【００１１】本発明による方法の他の実施例は、測定シ
ーケンスにおける初期段階の収集段階に対する調整の量
が、準備シーケンスにおける磁気共鳴信号の位相に依存
することを特徴としている。この方法によれば、物体の
一部における歳差運動するスピンの位相に総合的に影響
する妨害の補償を可能にする。このような妨害には、例
えば、ＲＦパルス発生系列における位相歪、叉は物体か
らスライスを選択するために印加される勾配磁場のズ
レ、即ち例えば渦電流によるズレ等である。位置及び位
相の両者の例を同時に適用することも可能であり、これ
によればＮＭＲ信号の位置及びＮＭＲ信号の位相の両方
に基づいて調整された測定シーケンスが得られる。
ーケンスにおける初期段階の収集段階に対する調整の量
が、準備シーケンスにおける磁気共鳴信号の位相に依存
することを特徴としている。この方法によれば、物体の
一部における歳差運動するスピンの位相に総合的に影響
する妨害の補償を可能にする。このような妨害には、例
えば、ＲＦパルス発生系列における位相歪、叉は物体か
らスライスを選択するために印加される勾配磁場のズ
レ、即ち例えば渦電流によるズレ等である。位置及び位
相の両者の例を同時に適用することも可能であり、これ
によればＮＭＲ信号の位置及びＮＭＲ信号の位相の両方
に基づいて調整された測定シーケンスが得られる。
【００１２】上記実施例は、更に、前記準備シーケンス
が少なくとも第１及び第２の磁気共鳴信号を発生するた
めに印加され、前記調整の量がこれら第１及び第２の磁
気共鳴信号の間の位相差に比例することを特徴とするよ
うにしてもよい。この方法によれば、必要とされる補正
が妨害の大きさに対して線形な場合には正確な補償を行
うことができる。
が少なくとも第１及び第２の磁気共鳴信号を発生するた
めに印加され、前記調整の量がこれら第１及び第２の磁
気共鳴信号の間の位相差に比例することを特徴とするよ
うにしてもよい。この方法によれば、必要とされる補正
が妨害の大きさに対して線形な場合には正確な補償を行
うことができる。
【００１３】本発明による方法の他の実施例において
は、前述したスイッチされる勾配磁場がＲＦパルスと同
時に印加されるスライス選択勾配を有している。スライ
スの厚み方向の磁場の強度の変化に対してスピンを再配
列するために、励起ＲＦパルスより後であって最初の再
フォーカスＲＦパルスより前の期間において再位相化パ
ルスを印加する。この実施例は、測定シーケンスの初期
段階が再位相化スライス選択の大きさを適応化させるこ
とにより調整されることを特徴としている。この実施例
においては、付加的な補償勾配磁場は必要ない。
は、前述したスイッチされる勾配磁場がＲＦパルスと同
時に印加されるスライス選択勾配を有している。スライ
スの厚み方向の磁場の強度の変化に対してスピンを再配
列するために、励起ＲＦパルスより後であって最初の再
フォーカスＲＦパルスより前の期間において再位相化パ
ルスを印加する。この実施例は、測定シーケンスの初期
段階が再位相化スライス選択の大きさを適応化させるこ
とにより調整されることを特徴としている。この実施例
においては、付加的な補償勾配磁場は必要ない。
【００１４】本発明による方法の他の実施例は、測定シ
ーケンスにおいて、前記初期段階が励起ＲＦパルスの位
相を適応化するか叉は再フォーカスＲＦパルスの位相を
適応化することによって調整されることを特徴としてい
る。この方法は再位相化スライス選択勾配の調整の他の
例となる。特に選択されたスライスが中心からずれてい
る場合は、スライス選択勾配における妨害を補正するよ
りも、当該スライス用の励起ＲＦパルス叉は再フォーカ
スパルスを調整する方が簡単である。この方法によれ
ば、例えばＲＦパルス発生系列の不完全さによるＲＦパ
ルスの位相歪の場合の補正も可能になる。
ーケンスにおいて、前記初期段階が励起ＲＦパルスの位
相を適応化するか叉は再フォーカスＲＦパルスの位相を
適応化することによって調整されることを特徴としてい
る。この方法は再位相化スライス選択勾配の調整の他の
例となる。特に選択されたスライスが中心からずれてい
る場合は、スライス選択勾配における妨害を補正するよ
りも、当該スライス用の励起ＲＦパルス叉は再フォーカ
スパルスを調整する方が簡単である。この方法によれ
ば、例えばＲＦパルス発生系列の不完全さによるＲＦパ
ルスの位相歪の場合の補正も可能になる。
【００１５】本発明による方法の他の実施例は、前記物
体の少なくとも２つの異なるスライスが選択され、測定
シーケンスの初期段階及び収集段階がこれらの選択され
たスライスの各々について調整されることを特徴として
いる。この実施例においては、数個のスライスが画像化
され、補償が各スライスについて個々に最適化される。
この方法は、妨害が物体の異なる位置では異なる影響を
もつことを考慮している。
体の少なくとも２つの異なるスライスが選択され、測定
シーケンスの初期段階及び収集段階がこれらの選択され
たスライスの各々について調整されることを特徴として
いる。この実施例においては、数個のスライスが画像化
され、補償が各スライスについて個々に最適化される。
この方法は、妨害が物体の異なる位置では異なる影響を
もつことを考慮している。
【００１６】本発明による方法は上述したような方法を
実施する装置にも関する。本発明によるこの装置は、略
一様な静止主磁場中に置かれた物体の画像化を行う磁気
共鳴画像化装置であって、前記主磁場を形成する手段
と、この主磁場に重畳された勾配磁場を発生する手段
と、前記主磁場中に置かれた物体に向けてＲＦパルスを
照射する手段と、前記勾配磁場と前記ＲＦパルスとの発
生を制御するための制御手段と、ＲＦパルスとスイッチ
される勾配磁場とのシーケンスにより発生される磁気共
鳴信号を受信及びサンプルする手段とを有し、前記制御
手段が、前記物体の少なくとも一部における核双極子モ
ーメントを励起するための励起ＲＦパルスを印加し、こ
の励起された一部において位置依存性の磁気共鳴信号を
発生させるために前記励起ＲＦパルスに続く複数の再フ
ォーカスＲＦパルスとスイッチされる勾配磁場を印加す
る、ように構成されている磁気共鳴画像化装置である。
そして、この装置は前記制御手段が、励起ＲＦパルス
と、再フォーカスＲＦパルスと、スイッチされる勾配磁
場とを有する準備シーケンスを印加すると共に、この準
備シーケンスにおいて発生される磁気共鳴信号を測定
し、測定シーケンスにおいては、最初の再フォーカスＲ
Ｆパルスまでの初期段階と、この初期段階に続く収集段
階とを、前記準備シーケンスにおいて測定された磁気共
鳴信号から決定されるパラメータに基づいて相互に調整
する、ように構成されていることを特徴としている。
実施する装置にも関する。本発明によるこの装置は、略
一様な静止主磁場中に置かれた物体の画像化を行う磁気
共鳴画像化装置であって、前記主磁場を形成する手段
と、この主磁場に重畳された勾配磁場を発生する手段
と、前記主磁場中に置かれた物体に向けてＲＦパルスを
照射する手段と、前記勾配磁場と前記ＲＦパルスとの発
生を制御するための制御手段と、ＲＦパルスとスイッチ
される勾配磁場とのシーケンスにより発生される磁気共
鳴信号を受信及びサンプルする手段とを有し、前記制御
手段が、前記物体の少なくとも一部における核双極子モ
ーメントを励起するための励起ＲＦパルスを印加し、こ
の励起された一部において位置依存性の磁気共鳴信号を
発生させるために前記励起ＲＦパルスに続く複数の再フ
ォーカスＲＦパルスとスイッチされる勾配磁場を印加す
る、ように構成されている磁気共鳴画像化装置である。
そして、この装置は前記制御手段が、励起ＲＦパルス
と、再フォーカスＲＦパルスと、スイッチされる勾配磁
場とを有する準備シーケンスを印加すると共に、この準
備シーケンスにおいて発生される磁気共鳴信号を測定
し、測定シーケンスにおいては、最初の再フォーカスＲ
Ｆパルスまでの初期段階と、この初期段階に続く収集段
階とを、前記準備シーケンスにおいて測定された磁気共
鳴信号から決定されるパラメータに基づいて相互に調整
する、ように構成されていることを特徴としている。
【００１７】
【実施例】図１には、本発明による磁気共鳴画像化装置
１が概念的に示されている。この装置は一様な静止主磁
場を発生するための一連の主磁気コイル２と、付加的な
磁場を制御可能な強度で且つ選択された方向に勾配を持
つ形で重畳するための数組の勾配コイル３、４及び５と
を有している。従来のように、上記主磁場の方向はｚ方
向として示し、この方向に垂直な２つの方向をｘ及びｙ
方向として示す。前記勾配コイルは電源１１を介して励
磁される。当該装置は、更に、無線周波（ＲＦ）パルス
を物体、即ち人体７に放射するための放射手段６を有
し、該放射手段は上記ＲＦパルスを発生及び変調するた
めの変調手段８に結合されている。また、当該装置には
前記ＮＭＲ信号を受信するための手段が設けられるが、
この手段は上記放射手段６と同一でも叉は別のものであ
ってもよい。図に示すように、放射手段と受信手段とが
同一の場合は送信／受信スイッチ９が、受信された信号
を放射すべきパルスから分離するために配置される。受
信されたＮＭＲ信号は受信及び復調手段１０に入力され
る。前記放射手段６、変調手段８並びに勾配コイル３、
４及び５用の電源１１は、制御システム１２により所定
のシーケンスのＲＦパルス及び勾配パルスを発生するよ
うに制御される。前記復調手段１０は例えば電子計算機
等のデータ処理装置１４に結合され、受信された信号を
例えば表示ユニット１５上で視認できるような画像に変
換する。
１が概念的に示されている。この装置は一様な静止主磁
場を発生するための一連の主磁気コイル２と、付加的な
磁場を制御可能な強度で且つ選択された方向に勾配を持
つ形で重畳するための数組の勾配コイル３、４及び５と
を有している。従来のように、上記主磁場の方向はｚ方
向として示し、この方向に垂直な２つの方向をｘ及びｙ
方向として示す。前記勾配コイルは電源１１を介して励
磁される。当該装置は、更に、無線周波（ＲＦ）パルス
を物体、即ち人体７に放射するための放射手段６を有
し、該放射手段は上記ＲＦパルスを発生及び変調するた
めの変調手段８に結合されている。また、当該装置には
前記ＮＭＲ信号を受信するための手段が設けられるが、
この手段は上記放射手段６と同一でも叉は別のものであ
ってもよい。図に示すように、放射手段と受信手段とが
同一の場合は送信／受信スイッチ９が、受信された信号
を放射すべきパルスから分離するために配置される。受
信されたＮＭＲ信号は受信及び復調手段１０に入力され
る。前記放射手段６、変調手段８並びに勾配コイル３、
４及び５用の電源１１は、制御システム１２により所定
のシーケンスのＲＦパルス及び勾配パルスを発生するよ
うに制御される。前記復調手段１０は例えば電子計算機
等のデータ処理装置１４に結合され、受信された信号を
例えば表示ユニット１５上で視認できるような画像に変
換する。
【００１８】当該磁気共鳴画像化装置１が前記主磁場中
に物体、即ち人体７、を置いた状態で動作状態にされた
場合、上記物体中の僅かの余剰の核双極子モーメント
（核スピン）が磁場の方向に整列される。平衡状態で
は、このことは物体７の物質中の正味の磁化Ｍ0を磁場
に平行に向けさせることになる。装置１においては、上
記の巨視的な磁化Ｍ0が、核のラーモア周波数に等しい
周波数のＲＦパルスを上記物体に向けて照射することに
より操作され、これにより前記核双極子モーメントを励
起状態にし且つ磁化Ｍ0を再指向させる。適切なＲＦパ
ルスを印加することにより上記の巨視的な磁化の回転が
得られるが、その回転角はフリップ角と呼ばれる。勾配
磁場を印加することによる磁場中への変化の意図的な導
入は、磁化の振る舞いに局部的に影響を与える。ＲＦパ
ルスの印加後、上記磁化の変化は磁場中で熱平衡状態に
戻ろうとし、その過程で放射を行う。うまく選択された
ＲＦパルス及び勾配磁場パルスはこの放射をＮＭＲ信号
として放射させ、これら信号が例えば水素核のような特
定の核の密度及びそれが発生した物質についての情報を
もたらす。上記の放射信号の解析及びこの解析結果の画
像としての提示により、前記物体、即ち人体７、の内部
構造についての情報に接することができる。磁気共鳴画
像化（ＭＲＩ）及びＭＲＩ装置についてのこれ以上の詳
細な説明は、ＩＲＬプレスにより1987年に発行され、M.
A.Foster及びJ.M.S.Hutchinsonにより編集された「実用
ＮＭＲ画像化」なるタイトルの本等の本主題に関する文
献を参照されたい。
に物体、即ち人体７、を置いた状態で動作状態にされた
場合、上記物体中の僅かの余剰の核双極子モーメント
（核スピン）が磁場の方向に整列される。平衡状態で
は、このことは物体７の物質中の正味の磁化Ｍ0を磁場
に平行に向けさせることになる。装置１においては、上
記の巨視的な磁化Ｍ0が、核のラーモア周波数に等しい
周波数のＲＦパルスを上記物体に向けて照射することに
より操作され、これにより前記核双極子モーメントを励
起状態にし且つ磁化Ｍ0を再指向させる。適切なＲＦパ
ルスを印加することにより上記の巨視的な磁化の回転が
得られるが、その回転角はフリップ角と呼ばれる。勾配
磁場を印加することによる磁場中への変化の意図的な導
入は、磁化の振る舞いに局部的に影響を与える。ＲＦパ
ルスの印加後、上記磁化の変化は磁場中で熱平衡状態に
戻ろうとし、その過程で放射を行う。うまく選択された
ＲＦパルス及び勾配磁場パルスはこの放射をＮＭＲ信号
として放射させ、これら信号が例えば水素核のような特
定の核の密度及びそれが発生した物質についての情報を
もたらす。上記の放射信号の解析及びこの解析結果の画
像としての提示により、前記物体、即ち人体７、の内部
構造についての情報に接することができる。磁気共鳴画
像化（ＭＲＩ）及びＭＲＩ装置についてのこれ以上の詳
細な説明は、ＩＲＬプレスにより1987年に発行され、M.
A.Foster及びJ.M.S.Hutchinsonにより編集された「実用
ＮＭＲ画像化」なるタイトルの本等の本主題に関する文
献を参照されたい。
【００１９】図２は、単一の励起パルスに続いて多数の
スピン・エコーＮＭＲ信号を得るためのＲＦパルスと磁
場勾配とのシーケンスを示している。一番上の線ＲＦに
は、当該シーケンスの開始がフリップ角αの励起ＲＦパ
ルス２１で示され、該パルスには期間τ1後にフリップ
角βを持つ最初の再フォーカスＲＦパルス２２が続いて
いる。通常、上記α及びβの値は各々９０度及び180度
である。上記励起ＲＦパルス２１に続いて、一番下の線
ＮＭＲに示した自由誘導減衰（ＦＩＤ）的な磁気共鳴信
号６１が発生され、該信号は個々の歳差運動核磁気双極
子モーメントが磁場の局部的な変化により位相コヒーレ
ンスを失うと急激に消滅する。上記の再フォーカスＲＦ
パルス２２は、これらの個々の磁気双極子モーメントの
方向を局部的な磁場に影響を与えることなく反転する。
結果として、非位相化(dephasing)が再位相化(rephasin
g)に反転され、その結果等しい期間τ1後にＮＭＲスピ
ン・エコー信号６２が発生する。このスピン・エコー信
号６２の後、双極子モーメントは再び非位相化する。通
常180度であるフリップ角βi（ｉ＝３、…、６）の再フ
ォーカスＲＦパルス２３、２４、２５及び２６の繰り返
しが、非位相化のその後の反転を行なわせ、ＮＭＲスピ
ン・エコー信号６３、６４、６５及び６６を繰り返し発
生させる。通常、あるスピン・エコー信号と次の再フォ
ーカスＲＦパルスとの間の間隔τ2、τ3、τ4及びτ5は
長さが等しくなるように選択される。
スピン・エコーＮＭＲ信号を得るためのＲＦパルスと磁
場勾配とのシーケンスを示している。一番上の線ＲＦに
は、当該シーケンスの開始がフリップ角αの励起ＲＦパ
ルス２１で示され、該パルスには期間τ1後にフリップ
角βを持つ最初の再フォーカスＲＦパルス２２が続いて
いる。通常、上記α及びβの値は各々９０度及び180度
である。上記励起ＲＦパルス２１に続いて、一番下の線
ＮＭＲに示した自由誘導減衰（ＦＩＤ）的な磁気共鳴信
号６１が発生され、該信号は個々の歳差運動核磁気双極
子モーメントが磁場の局部的な変化により位相コヒーレ
ンスを失うと急激に消滅する。上記の再フォーカスＲＦ
パルス２２は、これらの個々の磁気双極子モーメントの
方向を局部的な磁場に影響を与えることなく反転する。
結果として、非位相化(dephasing)が再位相化(rephasin
g)に反転され、その結果等しい期間τ1後にＮＭＲスピ
ン・エコー信号６２が発生する。このスピン・エコー信
号６２の後、双極子モーメントは再び非位相化する。通
常180度であるフリップ角βi（ｉ＝３、…、６）の再フ
ォーカスＲＦパルス２３、２４、２５及び２６の繰り返
しが、非位相化のその後の反転を行なわせ、ＮＭＲスピ
ン・エコー信号６３、６４、６５及び６６を繰り返し発
生させる。通常、あるスピン・エコー信号と次の再フォ
ーカスＲＦパルスとの間の間隔τ2、τ3、τ4及びτ5は
長さが等しくなるように選択される。
【００２０】前記ＲＦパルスの影響は、例えばこれらＲ
Ｆパルスと同時にスライス選択勾配を印加することによ
り、物体７の一部に対して選択的とされるが、このよう
な選択勾配が図では上から２番目の線Ｇsに示されてい
る。符号３１で示すように、このようなスライス選択勾
配は先ず励起ＲＦパルス２１の間に印加される。この最
初の勾配３１による非位相化は反対の勾配３１’により
補償される。また、再フォーカスＲＦパルス２２〜２６
の印加の間にはスライス選択勾配３２〜３６がオン状態
とされる。また、選択されたスライス内での位置決定の
ために当該選択スライス内に勾配方向を持つ位相符号化
勾配パルス４２、４３、４４、４５及び４６（上から３
番目の線Ｇp上に示す）が、ＲＦパルスとＮＭＲスピン
・エコー信号６２、６３、６４、６５及び６６との間で
印加される。更に、前記選択スライス内にあるが上記位
相符号化磁場の勾配方向とは垂直な勾配方向を持つ周波
数符号化叉は読出勾配５２、５３、５４、５５及び５６
（上から４番目の線Ｇr上に示す）が、スピン・エコー
信号の発生の間にオン状態にされる。上記位相符号化勾
配の非位相化効果はスピン・エコー信号の発生の後に他
の勾配パルス４２’、４３’、４４’、４５’を、それ
らに先行する勾配パルス４２、４３、４４、４５と同一
の大きさであるが反対の勾配方向で、印加することによ
り除去される。また、読出勾配パルス５２、５３、５
４、５５及び５６の非位相化効果は再フォーカスＲＦパ
ルスにより補償される。励起ＲＦパルス２１と最初の再
フォーカスＲＦパルス２２との間で印加される補償読出
勾配５１は、読出方向におけるスピンの最初の非位相化
をもたらす。この補償読出勾配５１は、読出勾配５２、
５３、５４、５５及び５６の半分の大きさを有してい
る。
Ｆパルスと同時にスライス選択勾配を印加することによ
り、物体７の一部に対して選択的とされるが、このよう
な選択勾配が図では上から２番目の線Ｇsに示されてい
る。符号３１で示すように、このようなスライス選択勾
配は先ず励起ＲＦパルス２１の間に印加される。この最
初の勾配３１による非位相化は反対の勾配３１’により
補償される。また、再フォーカスＲＦパルス２２〜２６
の印加の間にはスライス選択勾配３２〜３６がオン状態
とされる。また、選択されたスライス内での位置決定の
ために当該選択スライス内に勾配方向を持つ位相符号化
勾配パルス４２、４３、４４、４５及び４６（上から３
番目の線Ｇp上に示す）が、ＲＦパルスとＮＭＲスピン
・エコー信号６２、６３、６４、６５及び６６との間で
印加される。更に、前記選択スライス内にあるが上記位
相符号化磁場の勾配方向とは垂直な勾配方向を持つ周波
数符号化叉は読出勾配５２、５３、５４、５５及び５６
（上から４番目の線Ｇr上に示す）が、スピン・エコー
信号の発生の間にオン状態にされる。上記位相符号化勾
配の非位相化効果はスピン・エコー信号の発生の後に他
の勾配パルス４２’、４３’、４４’、４５’を、それ
らに先行する勾配パルス４２、４３、４４、４５と同一
の大きさであるが反対の勾配方向で、印加することによ
り除去される。また、読出勾配パルス５２、５３、５
４、５５及び５６の非位相化効果は再フォーカスＲＦパ
ルスにより補償される。励起ＲＦパルス２１と最初の再
フォーカスＲＦパルス２２との間で印加される補償読出
勾配５１は、読出方向におけるスピンの最初の非位相化
をもたらす。この補償読出勾配５１は、読出勾配５２、
５３、５４、５５及び５６の半分の大きさを有してい
る。
【００２１】スピン・エコー信号の発生の間に、該信号
は図２にサンプリング列７２、７３、７４、７５及び７
６で示すように幾度も（通常２５６回）サンプルされ
る。直交位相検出(quadrature detection)により、各サ
ンプルは同相の及び９０度位相のずれた信号を発生す
る、言い換えると、各サンプルは複素ＮＭＲ信号値の実
部及び虚部成分をもたらす。
は図２にサンプリング列７２、７３、７４、７５及び７
６で示すように幾度も（通常２５６回）サンプルされ
る。直交位相検出(quadrature detection)により、各サ
ンプルは同相の及び９０度位相のずれた信号を発生す
る、言い換えると、各サンプルは複素ＮＭＲ信号値の実
部及び虚部成分をもたらす。
【００２２】上述したように、如何なる妨害もない場合
は、最初のスピン・エコー信号の最大値の時間的位置は
最初の再フォーカスＲＦパルス２２から期間τ1後とな
り、この期間は励起ＲＦパルス２１と最初の再フォーカ
スＲＦパルスとの間の期間と等しい。しかしながら、例
えば渦電流等による付加的な及び妨害するような勾配磁
場が存在すると、公称の勾配の大きさの間にずれが生じ
る。例えば、励起ＲＦパルス２１と最初の再フォーカス
ＲＦパルス２２との間の読出方向Ｇrにおける勾配の合
計した大きさは、再フォーカスＲＦパルス２２とその後
の期間τ1の終わりとの間の読出勾配５２の大きさとは
等しくない。この結果、最初のスピン・エコー信号６２
は位置がずれる。
は、最初のスピン・エコー信号の最大値の時間的位置は
最初の再フォーカスＲＦパルス２２から期間τ1後とな
り、この期間は励起ＲＦパルス２１と最初の再フォーカ
スＲＦパルスとの間の期間と等しい。しかしながら、例
えば渦電流等による付加的な及び妨害するような勾配磁
場が存在すると、公称の勾配の大きさの間にずれが生じ
る。例えば、励起ＲＦパルス２１と最初の再フォーカス
ＲＦパルス２２との間の読出方向Ｇrにおける勾配の合
計した大きさは、再フォーカスＲＦパルス２２とその後
の期間τ1の終わりとの間の読出勾配５２の大きさとは
等しくない。この結果、最初のスピン・エコー信号６２
は位置がずれる。
【００２３】スピン・エコー信号の位置のずれは、該信
号の位置を測定して公称時間τ1と比較することにより
決定することができる。このようにして、補償読出勾配
５１の立ち上がり及び立ち下がり縁及び読出勾配５２の
立ち上がり縁の渦電流の影響が考慮に入れられる。しか
しながら、他の渦電流は読出勾配５２、５３、…の各立
ち下がり縁に関係しているから、これらが次のスピン・
エコー信号に影響する。したがって、最初の２つのスピ
ン・エコー信号６２及び６３の間の期間を測定し、これ
を期間２τ2と比較して、妨害のより完全な判定及びよ
り良い補償が得られるようにする。
号の位置を測定して公称時間τ1と比較することにより
決定することができる。このようにして、補償読出勾配
５１の立ち上がり及び立ち下がり縁及び読出勾配５２の
立ち上がり縁の渦電流の影響が考慮に入れられる。しか
しながら、他の渦電流は読出勾配５２、５３、…の各立
ち下がり縁に関係しているから、これらが次のスピン・
エコー信号に影響する。したがって、最初の２つのスピ
ン・エコー信号６２及び６３の間の期間を測定し、これ
を期間２τ2と比較して、妨害のより完全な判定及びよ
り良い補償が得られるようにする。
【００２４】上記のことが図３のａに示され、該図には
準備シーケンスが示され、２番目のＮＭＲ信号６３の発
生までは図２に示したシーケンスの最初の部分と概ね同
じである。図から分かるように、ＮＭＲ信号162及び163
の各位置は明らかにずれている。時間長は別として、こ
の準備シーケンスと測定シーケンスとの間の差は位相符
号化勾配パルスＧpが無いことである。この差は位相符
号化勾配がＲＦパルスの間では正味の貢献度を有してい
ないから無視できる程度の影響のものに過ぎず、全ての
妨害は反対の符号の勾配パルスにより補償される。スピ
ン・エコー信号の位置を決定するため、当該信号の公称
位置の周辺の多数のサンプル172及び173の振幅、即ち複
素サンプル値の絶対値、に例えば放物線のような曲線を
合わせる。かくして、サンプル番号で表されたスピン・
エコー信号の最大値の位置ｐ1及びｐ2が、２つのサンプ
ルの間の間隔ｄｔの小部分であるような精度で得られ
る。
準備シーケンスが示され、２番目のＮＭＲ信号６３の発
生までは図２に示したシーケンスの最初の部分と概ね同
じである。図から分かるように、ＮＭＲ信号162及び163
の各位置は明らかにずれている。時間長は別として、こ
の準備シーケンスと測定シーケンスとの間の差は位相符
号化勾配パルスＧpが無いことである。この差は位相符
号化勾配がＲＦパルスの間では正味の貢献度を有してい
ないから無視できる程度の影響のものに過ぎず、全ての
妨害は反対の符号の勾配パルスにより補償される。スピ
ン・エコー信号の位置を決定するため、当該信号の公称
位置の周辺の多数のサンプル172及び173の振幅、即ち複
素サンプル値の絶対値、に例えば放物線のような曲線を
合わせる。かくして、サンプル番号で表されたスピン・
エコー信号の最大値の位置ｐ1及びｐ2が、２つのサンプ
ルの間の間隔ｄｔの小部分であるような精度で得られ
る。
【００２５】これらの位置は、（各）測定シーケンスに
おける最初の再フォーカスＲＦパルス222に先行する補
償読出勾配251の大きさを調整するために使用され、そ
の一部が図３のｂに示されている。なお、図示の部分に
続く再フォーカスＲＦパルス、勾配パルス及びスピン・
エコー信号の更なるシーケンスとで全体の測定シーケン
スが完成する。図３のｂに部分的に示したシーケンスは
図２に示したものと補償読出勾配251の大きさを除いて
同一であり、図における同一の各要素の詳細な説明は省
略する。補償読出勾配251の大きさは、その強度をΔＧ
rc＝1/2（ｐ1−ｐ2）・ＳＧr・dt/Ｔrcなる量だけ変化
させることにより調整され、ここでΔＧrは強度の変化
を、Ｔrcは当該補償読出勾配の長さを、ＳＧrは読出勾
配の強度を、（ｐ1−ｐ2）は各信号のサンプル番号で表
されたＮＭＲ信号間の時間差を、叉dtはサンプリング期
間の長さを各々表している。当該パラメータは補償読出
勾配の強度自体ではなくて時間積分された値であるか
ら、所定の量と等価な大きさの変化を、本発明の範囲内
で選択することもできる。例えば、補償読出勾配の長さ
をΔＴrc＝1/2（ｐ1−ｐ2）・dt・ＳＧr/Ｇrcだけ変化
させることもできる。測定シーケンスにおいて補償読出
勾配251の大きさを変更したのち、読出勾配パルスの大
きさの間の不整合さが補正され、ＮＭＲ信号262、263等
が時間的に予定された位置に現れるようになる。
おける最初の再フォーカスＲＦパルス222に先行する補
償読出勾配251の大きさを調整するために使用され、そ
の一部が図３のｂに示されている。なお、図示の部分に
続く再フォーカスＲＦパルス、勾配パルス及びスピン・
エコー信号の更なるシーケンスとで全体の測定シーケン
スが完成する。図３のｂに部分的に示したシーケンスは
図２に示したものと補償読出勾配251の大きさを除いて
同一であり、図における同一の各要素の詳細な説明は省
略する。補償読出勾配251の大きさは、その強度をΔＧ
rc＝1/2（ｐ1−ｐ2）・ＳＧr・dt/Ｔrcなる量だけ変化
させることにより調整され、ここでΔＧrは強度の変化
を、Ｔrcは当該補償読出勾配の長さを、ＳＧrは読出勾
配の強度を、（ｐ1−ｐ2）は各信号のサンプル番号で表
されたＮＭＲ信号間の時間差を、叉dtはサンプリング期
間の長さを各々表している。当該パラメータは補償読出
勾配の強度自体ではなくて時間積分された値であるか
ら、所定の量と等価な大きさの変化を、本発明の範囲内
で選択することもできる。例えば、補償読出勾配の長さ
をΔＴrc＝1/2（ｐ1−ｐ2）・dt・ＳＧr/Ｇrcだけ変化
させることもできる。測定シーケンスにおいて補償読出
勾配251の大きさを変更したのち、読出勾配パルスの大
きさの間の不整合さが補正され、ＮＭＲ信号262、263等
が時間的に予定された位置に現れるようになる。
【００２６】２つのスピン・エコー信号の間の時間長を
決定するための前記曲線合わせの代わりとなるものは、
測定された２つのスピン・エコー信号の２組のサンプル
の間の相関関係をこれら両者間の予想された時間長の関
数として算出する方法である。予想された時間長を変化
させることにより、上記２つのサンプル組が最大の重な
りを呈する場合に当該相関関数は最大となり、これに対
応する時間長が前記２つのパルスの間の間隔となる。こ
の方法は、全てのサンプル叉はその多くの部分が位置決
定に寄与するという利点を有している。これによれば、
各サンプルの中央部だけでは信頼性のある情報を提供す
るには不十分である場合、例えばノイズに影響される場
合等に有利となる。
決定するための前記曲線合わせの代わりとなるものは、
測定された２つのスピン・エコー信号の２組のサンプル
の間の相関関係をこれら両者間の予想された時間長の関
数として算出する方法である。予想された時間長を変化
させることにより、上記２つのサンプル組が最大の重な
りを呈する場合に当該相関関数は最大となり、これに対
応する時間長が前記２つのパルスの間の間隔となる。こ
の方法は、全てのサンプル叉はその多くの部分が位置決
定に寄与するという利点を有している。これによれば、
各サンプルの中央部だけでは信頼性のある情報を提供す
るには不十分である場合、例えばノイズに影響される場
合等に有利となる。
【００２７】前記準備シーケンスにおいては、所望のス
ピン・エコー信号の不所望に刺激されたエコーとの干渉
に起因する悪影響を防止すべく注意が払われねばならな
い。このことは、選択方向において非位相化を行うか、
叉は指示されたタイミングからのずれを意図的に与える
ことによって、励起ＲＦパルスと最初の再フォーカスＲ
Ｆパルスとの間の公称勾配の大きさが再フォーカスＲＦ
パルス間の大きさの半分となる条件からずらすことのよ
り実施することができる。後者の場合、前記の刺激され
たエコーと所望のエコーとは一致しない。
ピン・エコー信号の不所望に刺激されたエコーとの干渉
に起因する悪影響を防止すべく注意が払われねばならな
い。このことは、選択方向において非位相化を行うか、
叉は指示されたタイミングからのずれを意図的に与える
ことによって、励起ＲＦパルスと最初の再フォーカスＲ
Ｆパルスとの間の公称勾配の大きさが再フォーカスＲＦ
パルス間の大きさの半分となる条件からずらすことのよ
り実施することができる。後者の場合、前記の刺激され
たエコーと所望のエコーとは一致しない。
【００２８】渦電流の読出方向における上述した影響と
同様に、渦電流及び他の妨害が信号に対してスライス選
択方向にも影響する。この方向の影響はＮＭＲ信号の位
相に現れる。図３のｂに示すように、上記妨害は測定シ
ーケンスにおいて励起ＲＦパルス221と最初の再フォー
カスＲＦパルス222との間における付加的な勾配パルス
により補償することができる。これらのＲＦパルスの間
には、既に、スライス選択再位相化パルス231'が存在す
るから、上記の付加的なパルスはこの再位相化パルス23
1'をΔＧrephなる量だけ調整することにより印加するこ
とができる。この量ΔＧrephは、前記準備シーケンスに
おけるＮＭＲ信号162及び163の中心における各位相φ1
及びφ2の差（φ2−φ1）に比例する。読出方向の位置
ずれの補正は、読出勾配方向における中心のずれた検出
の場合に必要となるであろう。上記補正ΔＧrephはΔＧ
reph＝1/2（φ1−φ2）／（Ｔreph・２πγｚoff）で与
えられ、ここでΔＧrephは再位相化パルス231'の強度の
変化を、Ｔrephは長さを、（φ1−φ2）は位相差を、γ
は励起された核スピンの磁気回転比を、またｚoffは選
択されたスライスの当該スライスに垂直な方向の中心か
らずれた位置を各々表している。なお、上記と同様な効
果を得るには、再位相化パルス231'の長さを変えること
もできる。
同様に、渦電流及び他の妨害が信号に対してスライス選
択方向にも影響する。この方向の影響はＮＭＲ信号の位
相に現れる。図３のｂに示すように、上記妨害は測定シ
ーケンスにおいて励起ＲＦパルス221と最初の再フォー
カスＲＦパルス222との間における付加的な勾配パルス
により補償することができる。これらのＲＦパルスの間
には、既に、スライス選択再位相化パルス231'が存在す
るから、上記の付加的なパルスはこの再位相化パルス23
1'をΔＧrephなる量だけ調整することにより印加するこ
とができる。この量ΔＧrephは、前記準備シーケンスに
おけるＮＭＲ信号162及び163の中心における各位相φ1
及びφ2の差（φ2−φ1）に比例する。読出方向の位置
ずれの補正は、読出勾配方向における中心のずれた検出
の場合に必要となるであろう。上記補正ΔＧrephはΔＧ
reph＝1/2（φ1−φ2）／（Ｔreph・２πγｚoff）で与
えられ、ここでΔＧrephは再位相化パルス231'の強度の
変化を、Ｔrephは長さを、（φ1−φ2）は位相差を、γ
は励起された核スピンの磁気回転比を、またｚoffは選
択されたスライスの当該スライスに垂直な方向の中心か
らずれた位置を各々表している。なお、上記と同様な効
果を得るには、再位相化パルス231'の長さを変えること
もできる。
【００２９】スライス選択再位相化パルス231'の調整に
代えて、測定シーケンスにおいて励起ＲＦパルス221の
位相を次の数１なる式で示す量だけ調整することによっ
ても同様の補償効果を達成することが可能である。
代えて、測定シーケンスにおいて励起ＲＦパルス221の
位相を次の数１なる式で示す量だけ調整することによっ
ても同様の補償効果を達成することが可能である。
【数１】 このＲＦパルス位相の調整は、物体を複数のスライスの
２次元画像で画像化する場合に好適である。この場合、
上記スライスの厚さ方向の位相変化はあまり重要ではな
い。当該ＲＦ連鎖における位相歪及びスライス選択勾配
のずれという２つの可能性のある妨害の原因は、異なる
中心からずれた位置を持つ測定により解きほぐすことが
できる。
２次元画像で画像化する場合に好適である。この場合、
上記スライスの厚さ方向の位相変化はあまり重要ではな
い。当該ＲＦ連鎖における位相歪及びスライス選択勾配
のずれという２つの可能性のある妨害の原因は、異なる
中心からずれた位置を持つ測定により解きほぐすことが
できる。
【００３０】例えばＲＦパルスの周波数及び／叉は選択
勾配Ｇsの値を交代させるスピン・エコー系列を発生さ
せることにより物体の数個のスライスを同時に測定する
場合には、上述した方法が各スライスの別個の最適補償
を可能にする。この場合、短い準備シーケンスによる調
整値を決定する所定の手順が、選択された各スライスに
対して繰り返される。
勾配Ｇsの値を交代させるスピン・エコー系列を発生さ
せることにより物体の数個のスライスを同時に測定する
場合には、上述した方法が各スライスの別個の最適補償
を可能にする。この場合、短い準備シーケンスによる調
整値を決定する所定の手順が、選択された各スライスに
対して繰り返される。
【００３１】選択されたスライスにおける１以上の２次
元測定の代わりに、物体の一部を３次元で画像化するこ
とも可能である。その場合は、前記スライス選択勾配Ｇ
sが物体の厚い部分を選択するように調整されるか、叉
は該勾配を省略する。上記勾配磁場に加えて、第１の位
相符号化磁場Ｇp及び読出勾配磁場Ｇrの勾配方向に対し
て垂直な勾配方向を持つ第２の位相符号化勾配磁場
Ｇp’が印加される。これが図４に示され、この図にお
いてはスライス選択勾配Ｇsが位相符号化勾配Ｇp’の第
２の系列により補足される。図示したシーケンスは図２
に示したシーケンスと略同様であるから詳細な説明はこ
こでは省略する。第１の位相符号化磁場Ｇpのように、
第２の勾配符号化磁場はＲＦパルスに続く勾配パルス38
2、383、384、385、386とスピン・エコー信号に続く補
償勾配パルス382'、383'、384'、385'との系列として印
加される。第１及び第２の位相符号化勾配パルスの大き
さを変化させる方法は、２つの方向における全ての必要
とされる位相符号化勾配の組み合わせが存在する限り、
自由に選択することができる。
元測定の代わりに、物体の一部を３次元で画像化するこ
とも可能である。その場合は、前記スライス選択勾配Ｇ
sが物体の厚い部分を選択するように調整されるか、叉
は該勾配を省略する。上記勾配磁場に加えて、第１の位
相符号化磁場Ｇp及び読出勾配磁場Ｇrの勾配方向に対し
て垂直な勾配方向を持つ第２の位相符号化勾配磁場
Ｇp’が印加される。これが図４に示され、この図にお
いてはスライス選択勾配Ｇsが位相符号化勾配Ｇp’の第
２の系列により補足される。図示したシーケンスは図２
に示したシーケンスと略同様であるから詳細な説明はこ
こでは省略する。第１の位相符号化磁場Ｇpのように、
第２の勾配符号化磁場はＲＦパルスに続く勾配パルス38
2、383、384、385、386とスピン・エコー信号に続く補
償勾配パルス382'、383'、384'、385'との系列として印
加される。第１及び第２の位相符号化勾配パルスの大き
さを変化させる方法は、２つの方向における全ての必要
とされる位相符号化勾配の組み合わせが存在する限り、
自由に選択することができる。
【００３２】図３のａ及びｂを参照して２次元の場合を
説明したのと同様の方法で、準備シーケンスにおいてス
ピン・エコー信号の位置及び位相の差（図示略）を決定
すべきである。図４に交差ハッチングを付したように、
３次元の場合は補償勾配磁場は補償読出勾配351の強度
の調整と、再位相化スライス選択勾配331'の調整として
印加される。また、励起ＲＦパルス321の位相は、妨害
磁場の影響に無関係に、ＮＭＲ信号の位相が画像化され
るべき領域の中心に同調するように調整することができ
る。
説明したのと同様の方法で、準備シーケンスにおいてス
ピン・エコー信号の位置及び位相の差（図示略）を決定
すべきである。図４に交差ハッチングを付したように、
３次元の場合は補償勾配磁場は補償読出勾配351の強度
の調整と、再位相化スライス選択勾配331'の調整として
印加される。また、励起ＲＦパルス321の位相は、妨害
磁場の影響に無関係に、ＮＭＲ信号の位相が画像化され
るべき領域の中心に同調するように調整することができ
る。
【図１】 図１は、本発明による磁気共鳴画像化方法に
適した磁気共鳴画像化装置を概念的に示すブロック図、
適した磁気共鳴画像化装置を概念的に示すブロック図、
【図２】 図２は、励起ＲＦパルス、複数の再フォーカ
スＲＦパルス、勾配磁場及びスピン・エコーの発生を含
むシーケンスを示すタイムチャート、
スＲＦパルス、勾配磁場及びスピン・エコーの発生を含
むシーケンスを示すタイムチャート、
【図３】 図３は、本発明による方法の第１実施例にお
ける準備シーケンス及び測定シーケンスをａ及びｂに各
々示すタイムチャートで、これら両シーケンスは共に励
起ＲＦパルス、複数の再フォーカスＲＦパルス、勾配磁
場及びスピン・エコー信号を含む、
ける準備シーケンス及び測定シーケンスをａ及びｂに各
々示すタイムチャートで、これら両シーケンスは共に励
起ＲＦパルス、複数の再フォーカスＲＦパルス、勾配磁
場及びスピン・エコー信号を含む、
【図４】 図４は、３次元画像化法の初期段階における
調整された勾配磁場を含む測定シーケンスのタイムチャ
ートである。
調整された勾配磁場を含む測定シーケンスのタイムチャ
ートである。
21、121、221…励起ＲＦパルス、 22〜26、122〜123、222〜223…再フォーカスＲＦパル
ス、 31〜36、131〜133、231〜234…スライス選択勾配、 52〜56、152〜153、252〜253…読出勾配、 62〜66、162〜163、262〜263…スピン・エコー信号。
ス、 31〜36、131〜133、231〜234…スライス選択勾配、 52〜56、152〜153、252〜253…読出勾配、 62〜66、162〜163、262〜263…スピン・エコー信号。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 9118−2Ｊ Ｇ０１Ｎ 24/08 Ｙ (72)発明者 ゲリット ヘンドリック ファン イペー レン オランダ国 5621 ベーアー アインドー フェン フルーネヴァウツウェッハ １
Claims (10)
- 【請求項１】 略一様な静止主磁場内に置かれた物体
(7)を画像化する磁気共鳴画像化方法であって、 前記物体の少なくとも一部における核双極子モーメント
を励起するための無線周波（ＲＦ）パルス(21)を印加
し、 前記励起された一部において位置依存性の磁気共鳴信号
(62〜66)を発生させるために、前記励起ＲＦパルスに続
いて複数の再フォーカスＲＦパルス(22〜26)と、スイッ
チされた勾配磁場(31〜36、42〜46、51〜56)とを印加す
る、過程を有する少なくとも一つの測定シーケンスを含
む方法において、 励起ＲＦパルス(121)と、再フォーカスＲＦパルス(122
〜123)と、スイッチされる勾配磁場(131〜133、151〜15
3)を有する準備シーケンスを印加すると共に、この準備
シーケンスにおいて発生される磁気共鳴信号(162〜163)
を測定し、 測定シーケンスにおいては、最初の再フォーカスＲＦパ
ルス(222)までの初期段階と、この初期段階に続く収集
段階とを、前記準備シーケンスにおいて測定された磁気
共鳴信号(162〜163)から決定されるパラメータに基づい
て相互に調整する、ことを特徴とする磁気共鳴画像化方
法。 - 【請求項２】 請求項１に記載の磁気共鳴画像化方法に
おいて、 前記スイッチされる勾配磁場は磁気共鳴信号(262、26
3、…)の発生中に印加される読出勾配(252、253、…)を
有し、 測定シーケンスの前記初期段階において、補償勾配磁場
(251)を前記準備シーケンスにおける磁気共鳴信号(16
2、163)の時間位置に基づいて調整された大きさで印加
するようにするか、叉は前記収集段階を前記準備シーケ
ンスにおける磁気共鳴信号(162、163)の時間位置に基づ
いて前記読出勾配(252、253、…)の大きさを適応化させ
ることにより調整するか、の少なくとも何れか一方を実
施することを特徴とする磁気共鳴画像化方法。 - 【請求項３】 請求項２に記載の磁気共鳴画像化方法に
おいて、前記準備シーケンスが少なくとも第１及び第２
の磁気共鳴信号(162、163)を発生するために印加され、
測定シーケンスにおける前記補償勾配磁場(251)と読出
勾配(252)の大きさと、前記準備シーケンスにおける対
応する補償勾配磁場(151)と対応する読出勾配(152)の大
きさとの間の累積された差が、前記第１及び第２の磁気
共鳴信号(162、163)の間の期間の公称期間（２τ2）か
らのずれに比例することを特徴とする磁気共鳴画像化方
法。 - 【請求項４】 請求項３に記載の磁気共鳴画像化方法に
おいて、前記第１及び第２の磁気共鳴信号(162、163)の
間の期間が所定の関数に基づく適合操作か、叉は相関ア
ルゴリズムを用いて決定されることを特徴とする磁気共
鳴画像化方法。 - 【請求項５】 請求項１ないし請求項４の何れか一項に
記載の磁気共鳴画像化方法において、測定シーケンスに
おいては前記初期段階の前記収集段階に対する調整の量
が、前記準備シーケンスにおける磁気共鳴信号(162、16
3)の位相（φ1、φ2）に依存することを特徴とする磁気
共鳴画像化方法。 - 【請求項６】 請求項５に記載の磁気共鳴画像化方法に
おいて、前記準備シーケンスは少なくとも第１及び第２
の磁気共鳴信号(162、163)を発生するために印加され、
前記調整の量がこれら第１及び第２の磁気共鳴信号(16
2、163)の間の位相差（φ1−φ2）に比例することを特
徴とする磁気共鳴画像化方法。 - 【請求項７】 請求項５叉は請求項６に記載の磁気共鳴
画像化方法において、前記スイッチされる勾配磁場はＲ
Ｆパルス(21〜26)と同時に印加されるスライス選択勾配
(31〜36)と、前記励起ＲＦパルス(21)と最初の再フォー
カスＲＦパルス(22)との間の期間内で印加される再位相
化スライス選択勾配(31')とを有し、測定シーケンスの
前記初期段階が再位相化スライス選択勾配(231')の大き
さの適応化により調整されることを特徴とする磁気共鳴
画像化方法。 - 【請求項８】 請求項５叉は請求項６に記載の磁気共鳴
画像化方法において、測定シーケンスにおいては前記初
期段階が前記励起ＲＦパルス(221)の位相を適応化する
か叉は前記再フォーカスＲＦパルス(222〜224)の位相を
適応化することにより調整されることを特徴とする磁気
共鳴画像化方法。 - 【請求項９】 請求項１ないし請求項８の何れか一項に
記載の磁気共鳴画像化方法において、ＲＦパルスとスイ
ッチされる勾配磁場とを有する複数のシーケンスが印加
され、前記物体の少なくとも２つの異なるスライスが選
択され、前記測定シーケンスの前記初期段階及び前記収
集段階がこれらの選択されたスライスの各々について調
整されることを特徴とする磁気共鳴画像化方法。 - 【請求項１０】 請求項１ないし請求項９の何れか一項
に記載の磁気共鳴画像化方法により略一様な静止主磁場
中に置かれた物体(7)の画像化を行う磁気共鳴画像化装
置であって、当該装置が前記主磁場を形成する手段(2)
と、この主磁場に重畳された勾配磁場を発生する手段
(3、4、5)と、前記主磁場中に置かれた物体(7)に向けて
ＲＦパルスを照射する手段(6、8)と、前記勾配磁場と前
記ＲＦパルスとの発生を制御するための制御手段(12)
と、前記ＲＦパルスとスイッチされる勾配磁場とのシー
ケンスにより発生される磁気共鳴信号を受信及びサンプ
ルする手段(6、10)とを有し、前記制御手段(12)が、 前記物体の少なくとも一部における核双極子モーメント
を励起するための励起ＲＦパルス(21)を印加し、 前記励起された一部において位置依存性の磁気共鳴信号
(62〜66)を発生させるために前記励起ＲＦパルスに続く
複数の再フォーカスＲＦパルス(22〜26)とスイッチされ
る勾配磁場(31〜36、42〜46、51〜56)を印加する、よう
に構成されている磁気共鳴画像化装置において、 前記制御手段が励起ＲＦパルス(121)と、再フォーカス
ＲＦパルス(122〜123)と、スイッチされる勾配磁場(131
〜133、151〜153)とを有する準備シーケンスを印加する
と共に、この準備シーケンスにおいて発生される磁気共
鳴信号(162〜163)を測定し、 測定シーケンスにおいては、最初の再フォーカスＲＦパ
ルス(222)までの初期段階と、この初期段階に続く収集
段階とを、前記準備シーケンスにおいて測定された磁気
共鳴信号(162〜163)から決定されるパラメータに基づい
て相互に調整する、ように構成されていることを特徴と
する磁気共鳴画像化装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP92201926 | 1992-06-29 | ||
| NL92201926.0 | 1992-06-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0654827A true JPH0654827A (ja) | 1994-03-01 |
| JP3377113B2 JP3377113B2 (ja) | 2003-02-17 |
Family
ID=8210731
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18558993A Expired - Fee Related JP3377113B2 (ja) | 1992-06-29 | 1993-06-28 | 磁気共鳴画像化方法及び装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5450010A (ja) |
| JP (1) | JP3377113B2 (ja) |
| DE (1) | DE69326202T2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5818229A (en) * | 1995-10-31 | 1998-10-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Correction of MR imaging pulse sequence using prescan having application phase adjusted RF refocusing pulses |
| JP2010148686A (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Toshiba Corp | 磁気共鳴イメージング装置 |
Families Citing this family (35)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06217959A (ja) * | 1993-01-26 | 1994-08-09 | Toshiba Corp | 磁気共鳴イメージングにおける位相エンコード量調整法 |
| JP3505294B2 (ja) * | 1995-03-28 | 2004-03-08 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | Ｍｒｉ装置 |
| JP3384944B2 (ja) * | 1996-07-11 | 2003-03-10 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | Ｍｒｉ装置 |
| US5864233A (en) * | 1997-02-22 | 1999-01-26 | General Electric Company | Method to reduce eddy current effects in diffusion-weighted echo planar imaging |
| JP3679892B2 (ja) * | 1997-04-10 | 2005-08-03 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴イメージング装置 |
| JP2002530132A (ja) * | 1998-11-18 | 2002-09-17 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 磁気共鳴装置及び方法 |
| US6380738B1 (en) * | 1999-11-15 | 2002-04-30 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Method and apparatus for reducing image artifacts caused by magnet vibration in an MR imaging system |
| EP1102081B1 (en) * | 1999-11-15 | 2007-08-01 | General Electric Company | Method and apparatus to compensate for image artifacts caused by magnet vibration in an MR imaging system |
| US6448773B1 (en) | 2000-02-24 | 2002-09-10 | Toshiba America Mri, Inc. | Method and system for measuring and compensating for eddy currents induced during NMR imaging operations |
| JP3858191B2 (ja) | 2000-10-31 | 2006-12-13 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | Ｍｒｉ装置 |
| US20020073441A1 (en) | 2000-12-13 | 2002-06-13 | Ross Brian D. | Compositions and methods for detecting proteolytic activity |
| CN100354643C (zh) * | 2002-03-21 | 2007-12-12 | 深圳安科高技术股份有限公司 | 一种梯度预加强电路 |
| EP1471362A1 (en) * | 2003-04-24 | 2004-10-27 | Universiteit Utrecht Holding B.V. | Selective MR imaging of magnetic susceptibility deviations |
| AU2004303448A1 (en) | 2003-12-23 | 2005-07-07 | Mount Sinai Hospital | Methods for detecting markers associated with endometrial disease or phase |
| WO2005115105A2 (en) * | 2004-05-10 | 2005-12-08 | Northwestern University | Self-immolative magnetic resonance imaging contrast agents sensitive to beta-glucuronidase |
| US7112964B2 (en) * | 2004-08-02 | 2006-09-26 | General Electric Company | Eddy current measurement and correction in magnetic resonance imaging systems with a static phantom |
| DE102005025086B4 (de) * | 2005-05-26 | 2014-07-10 | Rolls-Royce Deutschland Ltd & Co Kg | Anordnung zum Feinauswuchten des Rotors eines Gasturbinentriebwerks |
| CN101470179B (zh) * | 2007-12-29 | 2012-06-27 | 西门子（中国）有限公司 | 磁共振成像中失真校准的方法和装置 |
| CA2618163A1 (en) | 2008-02-07 | 2009-08-07 | K. W. Michael Siu | Head and neck cancer biomarkers |
| US9423480B2 (en) * | 2008-10-27 | 2016-08-23 | The University Of Western Ontario | System and method for magnetic resonance imaging |
| JP5611882B2 (ja) * | 2010-05-31 | 2014-10-22 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴イメージング装置 |
| JP5925529B2 (ja) * | 2011-03-31 | 2016-05-25 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴イメージング装置 |
| US9322892B2 (en) | 2011-12-20 | 2016-04-26 | General Electric Company | System for magnetic field distortion compensation and method of making same |
| US9279871B2 (en) | 2011-12-20 | 2016-03-08 | General Electric Company | System and apparatus for compensating for magnetic field distortion in an MRI system |
| JP6139119B2 (ja) * | 2012-01-13 | 2017-05-31 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | 磁気共鳴イメージング装置 |
| US9274188B2 (en) | 2012-11-30 | 2016-03-01 | General Electric Company | System and apparatus for compensating for magnetic field distortion in an MRI system |
| US9389294B2 (en) * | 2013-03-12 | 2016-07-12 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Distortion-free magnetic resonance imaging near metallic implants |
| KR101474757B1 (ko) * | 2013-07-08 | 2014-12-19 | 삼성전자주식회사 | 자장 측정 방법 및 장치 |
| DE102013220288B4 (de) * | 2013-10-08 | 2016-09-01 | Siemens Healthcare Gmbh | Optimieren von Steuerbefehlen zum Aufnehmen von Magnetresonanz-Bilddaten |
| DE102013220301B4 (de) * | 2013-10-08 | 2015-07-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Ermittlung einer Ansteuersequenz für ein Magnetresonanzbildgebungssystem unter Verwendung eines Ausführbarkeitskriteriums |
| US10261146B2 (en) * | 2014-05-21 | 2019-04-16 | Aspect Imaging Ltd. | Unipolar fast spin echo for permanent magnet MRI |
| US11300531B2 (en) | 2014-06-25 | 2022-04-12 | Aspect Ai Ltd. | Accurate water cut measurement |
| DE102014220776B4 (de) * | 2014-10-14 | 2016-06-30 | Siemens Healthcare Gmbh | Verfahren zur Magnetresonanz-Bildgebung |
| US11105875B2 (en) | 2016-09-12 | 2021-08-31 | Aspect Imaging Ltd. | Simultaneously frequency- and phase-shifted NMR signals and improved NMR signal analysis |
| US10345251B2 (en) | 2017-02-23 | 2019-07-09 | Aspect Imaging Ltd. | Portable NMR device for detecting an oil concentration in water |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4649345A (en) * | 1984-08-17 | 1987-03-10 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | NMR imaging method |
| US4694250A (en) * | 1985-02-27 | 1987-09-15 | Yokogawa Electric Corporation | Nuclear magnetic resonance imaging device |
| US4724388A (en) * | 1985-06-07 | 1988-02-09 | Hitachi, Ltd. | Magnetic resonance imaging method |
| US4647858A (en) * | 1985-07-29 | 1987-03-03 | General Electric Company | Methods for overcoming transient magnetic field inhomogeneity in nuclear magnetic resonance imaging |
| US4684891A (en) * | 1985-07-31 | 1987-08-04 | The Regents Of The University Of California | Rapid magnetic resonance imaging using multiple phase encoded spin echoes in each of plural measurement cycles |
| IL79732A (en) * | 1986-08-15 | 1990-03-19 | Elscint Ltd | Magnetic resonance imaging with driven equilibrium |
| DE3730148A1 (de) * | 1987-09-09 | 1989-03-30 | Bruker Medizintech | Verfahren zum erzeugen von spin-echo-impulsfolgen mit einem kernspin-tomographen und zur durchfuehrung des verfahrens ausgebildeter kernspin-tomograph |
| JP2642362B2 (ja) * | 1987-09-30 | 1997-08-20 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴映像装置 |
-
1993
- 1993-06-22 DE DE69326202T patent/DE69326202T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1993-06-28 JP JP18558993A patent/JP3377113B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1993-06-29 US US08/084,833 patent/US5450010A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5818229A (en) * | 1995-10-31 | 1998-10-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Correction of MR imaging pulse sequence using prescan having application phase adjusted RF refocusing pulses |
| JP2010148686A (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Toshiba Corp | 磁気共鳴イメージング装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69326202D1 (de) | 1999-10-07 |
| US5450010A (en) | 1995-09-12 |
| DE69326202T2 (de) | 2000-04-13 |
| JP3377113B2 (ja) | 2003-02-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3377113B2 (ja) | 磁気共鳴画像化方法及び装置 | |
| KR100481740B1 (ko) | 와전류들에의해유도된공간적및시간적으로변화하는자계들을측정하고보상하는방법 | |
| US5001428A (en) | Method for mapping the RF transmit and receive field in an NMR system | |
| US5151656A (en) | Correction of nmr data acquired by an echo-planar technique | |
| US7218110B2 (en) | Method and apparatus for diffusion magnetic resonance imaging with the effects of eddy currents compensated | |
| JP4201993B2 (ja) | Ｎｍｒイメージング操作中に誘導される渦電流の測定および補償のための装置及びシステム | |
| KR101070153B1 (ko) | 핵 자기 공명 이미징 장치 및 핵 자기 공명 이미징 방법 | |
| JP3402916B2 (ja) | 核スピントモグラフ装置のマグネット装置のシム調整方法及び方法を実施する装置 | |
| US6472872B1 (en) | Real-time shimming of polarizing field in magnetic resonance system | |
| EP0634664A1 (en) | Fast spin echo prescan for MRI system | |
| US6507190B1 (en) | Method and apparatus for compensating polarizing fields in magnetic resonance imaging | |
| US4553096A (en) | Nuclear magnetic resonance method and apparatus | |
| US5107215A (en) | Rf power calibration for an nmr scanner | |
| GB2311613A (en) | Correction for field variation in steady-state MRI by repeated acquisition of the zero k-space line | |
| US20040056660A1 (en) | Magnetic resonance imaging device and method | |
| US6127826A (en) | EPI image based long term eddy current pre-emphasis calibration | |
| EP1004892A1 (en) | Compensating an MRI system for residual magnetization | |
| CA2326416C (en) | Recovery of signal void arising from field inhomogeneities in magnetic resonance echo planar imaging | |
| US5157330A (en) | Method and apparatus for compensating magnetic field inhomogeneity artifact in MRI | |
| EP0577188B1 (en) | Method and apparatus for magnetic resonance imaging | |
| US5402787A (en) | Method and apparatus for magnetic resonance imaging | |
| US5905377A (en) | Method and apparatus for correcting gradient system and static magnetic field in magnetic resonance imaging | |
| EP0595391B1 (en) | Eddy current compensation in magnetic resonance imaging | |
| US6175236B1 (en) | Method for acquiring spatially and spectrally selective MR images | |
| EP2699921A1 (en) | Determining positions of a magnetic field probe in a magnetic resonance measurement |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20021112 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081206 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081206 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091206 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101206 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101206 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111206 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |