JPH0652588B2 - 光デイスク欠陥位置記録装置 - Google Patents
光デイスク欠陥位置記録装置Info
- Publication number
- JPH0652588B2 JPH0652588B2 JP30078886A JP30078886A JPH0652588B2 JP H0652588 B2 JPH0652588 B2 JP H0652588B2 JP 30078886 A JP30078886 A JP 30078886A JP 30078886 A JP30078886 A JP 30078886A JP H0652588 B2 JPH0652588 B2 JP H0652588B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- defect
- recording
- optical disk
- optical
- defect position
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、光ディスクの欠陥位置を光ディスク上に記録
する装置に関するものである。
する装置に関するものである。
（従来の技術） 光ディスクの重要な性能の一つである欠陥発生率は、可
能な限り低いことが望まれる。従って、欠陥発生率を低
下するために欠陥発生原因を知る必要が有り、欠陥部分
を顕微鏡（光学顕微鏡や電子顕微鏡等）を用いて観察す
る事が重要な手段の一つになる。
能な限り低いことが望まれる。従って、欠陥発生率を低
下するために欠陥発生原因を知る必要が有り、欠陥部分
を顕微鏡（光学顕微鏡や電子顕微鏡等）を用いて観察す
る事が重要な手段の一つになる。
光ディスクの欠陥部分の判定には、再生光学系を用いて
再生信号処理し、エラー発生の有無により行う。従来
は、このときの欠陥発生位置を次のように観測してい
る。トラックアドレス情報やセクターアドレス情報がす
でに光ディスク上に記録されている場合には、各々のア
ドレス情報を欠陥観測時に読み取る。また、光ディスク
上にアドレス情報がない場合には、再生光学系の再生半
径位置読み取り機構及び光ディスク回転軸上に回転角読
み取り機構を取り付け、欠陥観測時に再生半径及びディ
スク回転角を読み取る。以上のように欠陥発生位置を読
み取ったディスクの欠陥部分を顕微鏡を用いて観測する
場合には、欠陥観測時に読み取った前述のディスク半径
位置及び回転角位置付近を観測して欠陥部分を捜す。
再生信号処理し、エラー発生の有無により行う。従来
は、このときの欠陥発生位置を次のように観測してい
る。トラックアドレス情報やセクターアドレス情報がす
でに光ディスク上に記録されている場合には、各々のア
ドレス情報を欠陥観測時に読み取る。また、光ディスク
上にアドレス情報がない場合には、再生光学系の再生半
径位置読み取り機構及び光ディスク回転軸上に回転角読
み取り機構を取り付け、欠陥観測時に再生半径及びディ
スク回転角を読み取る。以上のように欠陥発生位置を読
み取ったディスクの欠陥部分を顕微鏡を用いて観測する
場合には、欠陥観測時に読み取った前述のディスク半径
位置及び回転角位置付近を観測して欠陥部分を捜す。
また本発明者らがすでに提案している欠陥位置の検索し
やすい方式として、光ディスクの再生光学系で検出され
る欠陥位置の近傍に、長さが 100μｍから５cm程度の大
きさの形状変化領域や光学定数変化領域もしくは磁化方
向の異なる領域を光ディスク上に記録し（以下これらの
領域をマーキング領域と称する）、このマーキング領域
を顕微鏡で検索し欠陥位置を検索する方式がある。
やすい方式として、光ディスクの再生光学系で検出され
る欠陥位置の近傍に、長さが 100μｍから５cm程度の大
きさの形状変化領域や光学定数変化領域もしくは磁化方
向の異なる領域を光ディスク上に記録し（以下これらの
領域をマーキング領域と称する）、このマーキング領域
を顕微鏡で検索し欠陥位置を検索する方式がある。
（発明が解決しようとする問題点） 上記のように、欠陥観測時に読み取ったディスク半径位
置及び回転角位置付近を観測して欠陥部分を捜す方式で
は、位置精度が記録密度ほどに上げにくいため欠陥観測
位置近傍に何種類かの欠陥があるときには区別が出来な
くなる。また、欠陥位置近傍のマーキング領域を検索す
る方式では、欠陥の検索効率は良いが同一光ディスク内
に多種類の欠陥検出を行い、それぞれに欠陥検索用マー
キング領域を記録すると、マーキング領域を検索するだ
けでは、どの種類の欠陥であるか判別が出来ないという
欠点があった。
置及び回転角位置付近を観測して欠陥部分を捜す方式で
は、位置精度が記録密度ほどに上げにくいため欠陥観測
位置近傍に何種類かの欠陥があるときには区別が出来な
くなる。また、欠陥位置近傍のマーキング領域を検索す
る方式では、欠陥の検索効率は良いが同一光ディスク内
に多種類の欠陥検出を行い、それぞれに欠陥検索用マー
キング領域を記録すると、マーキング領域を検索するだ
けでは、どの種類の欠陥であるか判別が出来ないという
欠点があった。
（問題点を解決するための手段） 本発明の要旨とするところは、光ディスクの欠陥部分近
傍に欠陥位置検索を行うための形状変化領域や光学定数
変化領域もしくは磁化方向の異なる領域を記録する機能
を有する光ディスク欠陥位置記録装置において、欠陥の
種類を判別する第１の手段と、第１の手段によって判別
された欠陥の種類の情報によって変調して記録を行う第
２の手段を具備することを特徴とする光ディスク欠陥位
置記録装置である。
傍に欠陥位置検索を行うための形状変化領域や光学定数
変化領域もしくは磁化方向の異なる領域を記録する機能
を有する光ディスク欠陥位置記録装置において、欠陥の
種類を判別する第１の手段と、第１の手段によって判別
された欠陥の種類の情報によって変調して記録を行う第
２の手段を具備することを特徴とする光ディスク欠陥位
置記録装置である。
（作用） 以下図面を参照して、本発明を詳細に説明する。
第１図に、本発明による装置構成を示す。
光ディスクから再生された信号は、欠陥種類判別回路２
で欠陥を検出判別する。欠陥が検出されると、欠陥種類
判別回路２は、一定時間記録を行う欠陥位置記録回路３
と、欠陥の種類により変調記録を行う変調回路４と、欠
陥位置記録回路３で記録を行っている期間に欠陥の検出
を行わないためのゲート回路１を動作させる。以上の動
作により、欠陥情報を有するマーキング領域が記録され
る。この様なマーキングを行うことにより、欠陥観察時
において欠陥種類を判別することが出来る。
で欠陥を検出判別する。欠陥が検出されると、欠陥種類
判別回路２は、一定時間記録を行う欠陥位置記録回路３
と、欠陥の種類により変調記録を行う変調回路４と、欠
陥位置記録回路３で記録を行っている期間に欠陥の検出
を行わないためのゲート回路１を動作させる。以上の動
作により、欠陥情報を有するマーキング領域が記録され
る。この様なマーキングを行うことにより、欠陥観察時
において欠陥種類を判別することが出来る。
以上の機能を除いた装置構成は、一般的な光ディスク記
録再生装置と同様に、光ディスク５はディスクスピンド
ル６にセットされて回転され、光ヘッド７は記録再生用
レーザ集光ビームを光ディスク５上に集光するために、
光ヘッド駆動系８により制御される。
録再生装置と同様に、光ディスク５はディスクスピンド
ル６にセットされて回転され、光ヘッド７は記録再生用
レーザ集光ビームを光ディスク５上に集光するために、
光ヘッド駆動系８により制御される。
第２図は、欠陥部分９とマーキング領域10の配置の模式
図を示す。光ディスク再生光学系で光ディスクの欠陥部
分９を検出して欠陥の種類を判定し、その直後に欠陥の
情報により変調された記録レーザ光で一定期間記録を行
いマーキング領域10を作成する。欠陥部分９の検索をす
るときには、先ずマーキング領域10を検索し、マーキン
グ領域10を記録方向と逆方向にさかのぼることにより、
欠陥部分９を見つけることができ、更にその欠陥が再生
光学系と信号処理系でどの様な種類の欠陥であると判定
されたかを知ることが出来る。
図を示す。光ディスク再生光学系で光ディスクの欠陥部
分９を検出して欠陥の種類を判定し、その直後に欠陥の
情報により変調された記録レーザ光で一定期間記録を行
いマーキング領域10を作成する。欠陥部分９の検索をす
るときには、先ずマーキング領域10を検索し、マーキン
グ領域10を記録方向と逆方向にさかのぼることにより、
欠陥部分９を見つけることができ、更にその欠陥が再生
光学系と信号処理系でどの様な種類の欠陥であると判定
されたかを知ることが出来る。
（実施例） 本発明の欠陥位置検索装置を用いて記録ビットの抜けの
欠陥部分とエキストラ欠陥部分を検索した顕微鏡写真の
模式図をそれぞれ第3図、第4図に示す。第3図の記録ビ
ット抜けの欠陥情報は変調パルス幅を長くしてマーキン
グ領域を記録し、第4図のエキストラ欠陥情報は変調パ
ルス幅を短くしてマーキング領域を記録した。これによ
り、マーキング領域を記録した欠陥の種類判別が出来
る。
欠陥部分とエキストラ欠陥部分を検索した顕微鏡写真の
模式図をそれぞれ第3図、第4図に示す。第3図の記録ビ
ット抜けの欠陥情報は変調パルス幅を長くしてマーキン
グ領域を記録し、第4図のエキストラ欠陥情報は変調パ
ルス幅を短くしてマーキング領域を記録した。これによ
り、マーキング領域を記録した欠陥の種類判別が出来
る。
（発明の効果） 以上詳細に説明したように、本発明による光ディスク欠
陥位置記録装置を用いることにより、欠陥の種類判別を
行った欠陥観察が可能となる。
陥位置記録装置を用いることにより、欠陥の種類判別を
行った欠陥観察が可能となる。
第1図は光ディスク欠陥位置記録装置の構成を示す線
図、第2図は欠陥部分とマーキング領域の配置を示す線
図、第3図、第4図は記録ビットの抜けの欠陥部分とエキ
ストラ欠陥部分を検索した顕微鏡写真を模式的に示す線
図である。 図中、1はゲート回路、2は欠陥種類判別回路、3は欠陥
位置記録回路、4は変調回路、5は光ディスク、6はディ
スクスピンドル、7は光ヘッド、8は光ヘッド駆動系、9
は欠陥部分、10はマーキング領域である。
図、第2図は欠陥部分とマーキング領域の配置を示す線
図、第3図、第4図は記録ビットの抜けの欠陥部分とエキ
ストラ欠陥部分を検索した顕微鏡写真を模式的に示す線
図である。 図中、1はゲート回路、2は欠陥種類判別回路、3は欠陥
位置記録回路、4は変調回路、5は光ディスク、6はディ
スクスピンドル、7は光ヘッド、8は光ヘッド駆動系、9
は欠陥部分、10はマーキング領域である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−152038（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−152041（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−117245（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−152040（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】光ディスクの欠陥部分近傍に欠陥位置検索
を行うための形状変化領域や光学定数変化領域もしくは
磁化方向の異なる領域を記録する機能を有する光ディス
ク欠陥位置記録装置において、欠陥の種類を判別する第
１の手段と、第１の手段によって判別された欠陥の種類
の情報によって変調して記録を行う第２の手段を具備す
ることを特徴とする光ディスク欠陥位置記録装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30078886A JPH0652588B2 (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 | 光デイスク欠陥位置記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30078886A JPH0652588B2 (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 | 光デイスク欠陥位置記録装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63152039A JPS63152039A (ja) | 1988-06-24 |
| JPH0652588B2 true JPH0652588B2 (ja) | 1994-07-06 |
Family
ID=17889101
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30078886A Expired - Lifetime JPH0652588B2 (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 | 光デイスク欠陥位置記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0652588B2 (ja) |
-
1986
- 1986-12-16 JP JP30078886A patent/JPH0652588B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63152039A (ja) | 1988-06-24 |
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