JPH0650725A - 検体の３次元情報計測方法および装置 - Google Patents
検体の３次元情報計測方法および装置Info
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- JPH0650725A JPH0650725A JP20530792A JP20530792A JPH0650725A JP H0650725 A JPH0650725 A JP H0650725A JP 20530792 A JP20530792 A JP 20530792A JP 20530792 A JP20530792 A JP 20530792A JP H0650725 A JPH0650725 A JP H0650725A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 レーザ光により光散乱媒質を含有する検体の
３次元情報を高精度に計測する。 【構成】 レーザ光源１から発射されたレーザ光をレン
ズ３により円錐状のビームに形成して検体２を照射す
る。この円錐状のビームのレーザ光が検体２をつるまき
螺旋状に走査するように検体２を変位させ、検体２から
出射したレーザ光のうち透過光がスクリーン７のピンホ
ールＰを通過するように出射レーザ光をレンズ６により
集光させる。ピンホールＰを通過したレーザ光の２次元
強度分布を２次元並列動作型イメージセンサ８により検
出し、計測処理手段９によりＣＴ手法を用いて検体の３
次元情報を得る。
３次元情報を高精度に計測する。 【構成】 レーザ光源１から発射されたレーザ光をレン
ズ３により円錐状のビームに形成して検体２を照射す
る。この円錐状のビームのレーザ光が検体２をつるまき
螺旋状に走査するように検体２を変位させ、検体２から
出射したレーザ光のうち透過光がスクリーン７のピンホ
ールＰを通過するように出射レーザ光をレンズ６により
集光させる。ピンホールＰを通過したレーザ光の２次元
強度分布を２次元並列動作型イメージセンサ８により検
出し、計測処理手段９によりＣＴ手法を用いて検体の３
次元情報を得る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は検体の３次元情報計測方
法および装置に関し、さらに詳しくはレーザ光を走査す
ることにより非破壊で検体の断層像や立体像等の形態的
３次元情報を計測する検体の３次元情報計測方法および
装置に関する。
法および装置に関し、さらに詳しくはレーザ光を走査す
ることにより非破壊で検体の断層像や立体像等の形態的
３次元情報を計測する検体の３次元情報計測方法および
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より検体の形態的３次元情報、即ち
検体の外面の形態のみならず検体の内部の形態を示す３
次元情報を非破壊で計測することが望まれており、特に
生物学や医学の分野においては上記検体は生体であるた
め、非破壊でその検体の形態的３次元情報（以下、単に
３次元情報という。）を計測する要望が強い。
検体の外面の形態のみならず検体の内部の形態を示す３
次元情報を非破壊で計測することが望まれており、特に
生物学や医学の分野においては上記検体は生体であるた
め、非破壊でその検体の形態的３次元情報（以下、単に
３次元情報という。）を計測する要望が強い。
【０００３】こうした要望に応えるものとしてＸ線ＣＴ
やＭＲＩは検体の断層像を得ることを実現している。し
かし該断層像は厳密には２次元情報であり、検体の３次
元情報を計測するための研究が進められている。
やＭＲＩは検体の断層像を得ることを実現している。し
かし該断層像は厳密には２次元情報であり、検体の３次
元情報を計測するための研究が進められている。
【０００４】その１つである多段層Ｘ線ＣＴ手法は、１
つのＸ線を検体に照射し、このＸ線を検体の仮想軸（以
下体軸という）を中心とした、該体軸に垂直な面内の円
周上を360 ゜回転させて該検体を透過した透過Ｘ線より
断層像データを算出し、前記Ｘ線を体軸方向に移動させ
たのち再度上述と同様に断層像データを算出して、前記
２つの断層画像データから体軸方向の画像データを補間
計算して算出し前記検体の３次元情報を計測するもので
ある。
つのＸ線を検体に照射し、このＸ線を検体の仮想軸（以
下体軸という）を中心とした、該体軸に垂直な面内の円
周上を360 ゜回転させて該検体を透過した透過Ｘ線より
断層像データを算出し、前記Ｘ線を体軸方向に移動させ
たのち再度上述と同様に断層像データを算出して、前記
２つの断層画像データから体軸方向の画像データを補間
計算して算出し前記検体の３次元情報を計測するもので
ある。
【０００５】この多断層Ｘ線ＣＴ手法は、上記体軸方向
に連続した画像データを与える、前記Ｘ線を前記検体の
体軸を回転の中心軸とするつるまき螺旋状に移動させる
ヘリカルスキャンＸ線ＣＴ手法へ発展している。
に連続した画像データを与える、前記Ｘ線を前記検体の
体軸を回転の中心軸とするつるまき螺旋状に移動させる
ヘリカルスキャンＸ線ＣＴ手法へ発展している。
【０００６】しかしながら、上記Ｘ線ＣＴ手法やＭＲＩ
はいずれも３次元情報を直接計測するには至ってない。
即ち上記Ｘ線ＣＴ手法は、点状の照射線が検体を照射す
るため、検出される上記画像は点を変位させた線分状の
情報にすぎない。そこで上記照射線を面状に照射し、面
状の画像データを得る、円錐ビームによるヘリカルスキ
ャンＸ線ＣＴ手法が提案されている（「円すいビーム投
影を用いた３次元ヘリカルスキャンＣＴ」電子情報通信
学会論文誌Ｄ−II vol.Ｊ74−Ｄ−II No.8 1991年 8
月）が、上記円錐ビームによるヘリカルスキャンＸ線Ｃ
Ｔ手法により得られるＸ線の面状即ち２次元画像を検出
する手段が実現されていないため提案の域を出ていな
い。
はいずれも３次元情報を直接計測するには至ってない。
即ち上記Ｘ線ＣＴ手法は、点状の照射線が検体を照射す
るため、検出される上記画像は点を変位させた線分状の
情報にすぎない。そこで上記照射線を面状に照射し、面
状の画像データを得る、円錐ビームによるヘリカルスキ
ャンＸ線ＣＴ手法が提案されている（「円すいビーム投
影を用いた３次元ヘリカルスキャンＣＴ」電子情報通信
学会論文誌Ｄ−II vol.Ｊ74−Ｄ−II No.8 1991年 8
月）が、上記円錐ビームによるヘリカルスキャンＸ線Ｃ
Ｔ手法により得られるＸ線の面状即ち２次元画像を検出
する手段が実現されていないため提案の域を出ていな
い。
【０００７】一方、分光分析法は物質の同定に有用な方
法であるため、これにより光を用いて検体の内部形態を
画像化する試みがある。さらに光分野においては２次元
画像として検出する手段が既に確立されていて、例えば
ＣＣＤカメラは光を２次元的に検出することができる。
法であるため、これにより光を用いて検体の内部形態を
画像化する試みがある。さらに光分野においては２次元
画像として検出する手段が既に確立されていて、例えば
ＣＣＤカメラは光を２次元的に検出することができる。
【０００８】そこで光を用いた３次元情報を計測する方
法として光ＣＴ顕微鏡を用いた検体の３次元情報計測方
法が知られている。
法として光ＣＴ顕微鏡を用いた検体の３次元情報計測方
法が知られている。
【０００９】この光ＣＴ顕微鏡は、レーザ光を検体に対
して斜め方向から面照射し、このレーザ光の光源を検体
を頂点とする円錐の底面の周縁に沿って移動させること
により、上記レーザ光の異なった角度から上記検体を透
過したレーザ光による透過光像をＣＣＤカメラに記録
し、この透過光像からＣＴ手法により画像再構成処理
し、上記検体の３次元情報を計測するものである（「光
ＣＴ顕微鏡と３次元観察」光技術コンタクトVol.28 No.
11 (1990) ）。
して斜め方向から面照射し、このレーザ光の光源を検体
を頂点とする円錐の底面の周縁に沿って移動させること
により、上記レーザ光の異なった角度から上記検体を透
過したレーザ光による透過光像をＣＣＤカメラに記録
し、この透過光像からＣＴ手法により画像再構成処理
し、上記検体の３次元情報を計測するものである（「光
ＣＴ顕微鏡と３次元観察」光技術コンタクトVol.28 No.
11 (1990) ）。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記計測
装置は、レーザ光が検体を照射する方向が限定されるた
めに上記透過光像の透過方向に沿った断面像のデータが
不十分なものとなり、上記断面像の精度を高めることが
できない。
装置は、レーザ光が検体を照射する方向が限定されるた
めに上記透過光像の透過方向に沿った断面像のデータが
不十分なものとなり、上記断面像の精度を高めることが
できない。
【００１１】また上記画像の再構成処理過程において、
検体を略透明体に限定する近似法（Born近似法）を用い
ているために、上記検体が生体に代表される、散乱光が
透過光と混在して出射される光散乱媒質を含有する検体
であるときは、上記計測方法を適用することができない
という難点がある。
検体を略透明体に限定する近似法（Born近似法）を用い
ているために、上記検体が生体に代表される、散乱光が
透過光と混在して出射される光散乱媒質を含有する検体
であるときは、上記計測方法を適用することができない
という難点がある。
【００１２】本発明の目的は上記事情に鑑み、高精度か
つ光散乱媒質を含有する検体に対しても適用可能なレー
ザ光を用いた検体の形態的３次元情報計測方法および装
置を提供することにある。
つ光散乱媒質を含有する検体に対しても適用可能なレー
ザ光を用いた検体の形態的３次元情報計測方法および装
置を提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】本発明にかかる請求項１
記載の検体の３次元情報計測方法は、検体に円錐状のビ
ームに形成されてなるレーザ光を照射し、該レーザ光が
前記検体をつるまき螺旋状に走査するように該レーザ光
と前記検体とを相対的に変位させ、前記検体を走査して
該検体を透過したレーザ光から前記検体に入射した円錐
状に伝搬する方向と同一の方向へ透過したレーザ光を結
像レンズとピンホールを用いて選別し、該選別して得ら
れた透過したレーザ光の２次元強度分布を検出し、該検
出された２次元強度分布からＣＴ手法により前記検体の
形態的３次元情報を計測することを特徴とする。
記載の検体の３次元情報計測方法は、検体に円錐状のビ
ームに形成されてなるレーザ光を照射し、該レーザ光が
前記検体をつるまき螺旋状に走査するように該レーザ光
と前記検体とを相対的に変位させ、前記検体を走査して
該検体を透過したレーザ光から前記検体に入射した円錐
状に伝搬する方向と同一の方向へ透過したレーザ光を結
像レンズとピンホールを用いて選別し、該選別して得ら
れた透過したレーザ光の２次元強度分布を検出し、該検
出された２次元強度分布からＣＴ手法により前記検体の
形態的３次元情報を計測することを特徴とする。
【００１４】また、請求項２記載の検体の３次元情報計
測装置は請求項１記載の検体の３次元情報計測方法を実
施するための装置であり、レーザ光源と、該レーザ光源
から発射されたレーザ光を円錐状のビームに形成させる
光学的手段と、該円錐状のビームに形成されたレーザ光
を検体に面照射させるとともに該レーザ光が前記検体を
つるまき螺旋状に走査するように前記レーザ光と前記検
体とを相対的に変位させる走査手段と、前記検体を透過
したレーザ光を集光し、該集光した前記レーザ光が結像
した微小輝点の通過を許容させる光学的方向選別手段
と、該方向選別手段により選別されたレーザ光の２次元
強度分布を検出する２次元強度検出手段と、該検出手段
により検出されたレーザ光の強度分布に基づいてＣＴ手
法により前記検体の形態的３次元情報を計測処理する計
測処理手段とを備えてなることを特徴とする。
測装置は請求項１記載の検体の３次元情報計測方法を実
施するための装置であり、レーザ光源と、該レーザ光源
から発射されたレーザ光を円錐状のビームに形成させる
光学的手段と、該円錐状のビームに形成されたレーザ光
を検体に面照射させるとともに該レーザ光が前記検体を
つるまき螺旋状に走査するように前記レーザ光と前記検
体とを相対的に変位させる走査手段と、前記検体を透過
したレーザ光を集光し、該集光した前記レーザ光が結像
した微小輝点の通過を許容させる光学的方向選別手段
と、該方向選別手段により選別されたレーザ光の２次元
強度分布を検出する２次元強度検出手段と、該検出手段
により検出されたレーザ光の強度分布に基づいてＣＴ手
法により前記検体の形態的３次元情報を計測処理する計
測処理手段とを備えてなることを特徴とする。
【００１５】上記つるまき螺旋とは、検体の任意の仮想
軸（以下、体軸という）を中心とした回転変位と，前記
体軸方向への直線変位とのベクトル和により得られた変
位の軌跡を意味する。
軸（以下、体軸という）を中心とした回転変位と，前記
体軸方向への直線変位とのベクトル和により得られた変
位の軌跡を意味する。
【００１６】従って、上記レーザ光が検体をつるまき螺
旋状に走査するとは、例えばレーザ光源が上記つるまき
螺旋に沿って変位するとともに、該レーザ光源からのレ
ーザ光が前記検体に電磁波を照射させることを意味す
る。
旋状に走査するとは、例えばレーザ光源が上記つるまき
螺旋に沿って変位するとともに、該レーザ光源からのレ
ーザ光が前記検体に電磁波を照射させることを意味す
る。
【００１７】また、本発明に用いられるレーザ光源は、
単一の波長のレーザ光のみを発射し得るレーザ光源を意
味するものではなく、所定時間単一の波長のレーザ光を
発射し得るレーザ光源であれば、複数の波長のレーザ光
を発射し得るレーザ光源をも意味する。
単一の波長のレーザ光のみを発射し得るレーザ光源を意
味するものではなく、所定時間単一の波長のレーザ光を
発射し得るレーザ光源であれば、複数の波長のレーザ光
を発射し得るレーザ光源をも意味する。
【００１８】
【作用】本発明にかかる検体の３次元情報計測方法は、
円錐状のビームに形成されたレーザ光を検体に照射し、
該レーザ光は該検体を透過するとともに一部が該検体の
外表面や内部の物質により散乱されまたは吸収されて該
検体から出射し、この出射したレーザ光のうち前記検体
を透過して直進する透過レーザ光を光学的方向選別手段
のレンズにより微小点に集光させ、さらにピンホールに
より該集光した前記透過レーザ光のみを２次元強度検出
手段へ通過させて、上記散乱されたレーザ光を除去す
る。
円錐状のビームに形成されたレーザ光を検体に照射し、
該レーザ光は該検体を透過するとともに一部が該検体の
外表面や内部の物質により散乱されまたは吸収されて該
検体から出射し、この出射したレーザ光のうち前記検体
を透過して直進する透過レーザ光を光学的方向選別手段
のレンズにより微小点に集光させ、さらにピンホールに
より該集光した前記透過レーザ光のみを２次元強度検出
手段へ通過させて、上記散乱されたレーザ光を除去す
る。
【００１９】即ち、上記散乱されたレーザ光は上記検体
から出射する方向が上記検体に入射した円錐状に伝搬す
る方向と異なるため、上記光学的方向選別手段のレンズ
により上記微小点に結像されず従って上記ピンホールを
通過できないため２次元強度検出手段へ到達しない。
から出射する方向が上記検体に入射した円錐状に伝搬す
る方向と異なるため、上記光学的方向選別手段のレンズ
により上記微小点に結像されず従って上記ピンホールを
通過できないため２次元強度検出手段へ到達しない。
【００２０】一方、上記透過レーザ光は上記検体から出
射する方向が上記検体に入射した円錐状に伝搬する方向
と一致するため、上記レンズにより微小点に結像されピ
ンホールを通過し、２次元強度検出手段へ到達する。
射する方向が上記検体に入射した円錐状に伝搬する方向
と一致するため、上記レンズにより微小点に結像されピ
ンホールを通過し、２次元強度検出手段へ到達する。
【００２１】上記の如く２次元強度検出手段へ到達した
透過レーザ光は、上記２次元強度検出手段上へ前記検体
の透過光投影像を示す２次元強度分布の像を投影し、該
２次元強度分布の像は前記２次元強度検出手段により光
電変換されて計測処理手段へ入力される。
透過レーザ光は、上記２次元強度検出手段上へ前記検体
の透過光投影像を示す２次元強度分布の像を投影し、該
２次元強度分布の像は前記２次元強度検出手段により光
電変換されて計測処理手段へ入力される。
【００２２】さらに、前記円錐状のビームに拡散された
レーザ光を前記検体に対してつるまき螺旋状に走査し、
各走査位置に対応した上記透過レーザ光の２次元強度分
布像を連続的に検出し、この検出された複数の透過レー
ザ光の２次元強度分布像を前記計測処理手段によるＣＴ
手法即ち円錐ビーム投影ヘリカルスキャン用の再構成ア
ルゴリズムを用いて該検体の断層像や立体像等の３次元
情報を計測することができる。
レーザ光を前記検体に対してつるまき螺旋状に走査し、
各走査位置に対応した上記透過レーザ光の２次元強度分
布像を連続的に検出し、この検出された複数の透過レー
ザ光の２次元強度分布像を前記計測処理手段によるＣＴ
手法即ち円錐ビーム投影ヘリカルスキャン用の再構成ア
ルゴリズムを用いて該検体の断層像や立体像等の３次元
情報を計測することができる。
【００２３】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。
【００２４】図１は本発明にかかる検体の３次元情報計
測装置の実施例を示すブロック図である。図示の検体の
３次元情報計測装置は、レーザ光ａ1 を出射するレーザ
光源１を備え、このレーザ光ａ1 の光路中にレーザａ1
を円錐状のビームに形成させるレンズ３が配されてい
る。さらに、この円錐状のビームに形成されたレーザ光
ａ2 が検体２を面照射するとともに検体２をつるまき螺
旋状に走査するようにこの検体２を変位させる走査手段
４が配されている。この検体２を照射したレーザ光ａ2
が検体２の外表面や内部物質により散乱されまたは透過
して、検体２から出射されたレーザ光ａ3 のうち前記検
体に入射した円錐状に伝播する方向と同一の方向へ透過
した透過光を微小点に集光させるレンズ６が配され、さ
らに上記微小点に集光された透過光のみの通過を許容す
るピンホールＰを有するスクリーン７が設けられてい
る。
測装置の実施例を示すブロック図である。図示の検体の
３次元情報計測装置は、レーザ光ａ1 を出射するレーザ
光源１を備え、このレーザ光ａ1 の光路中にレーザａ1
を円錐状のビームに形成させるレンズ３が配されてい
る。さらに、この円錐状のビームに形成されたレーザ光
ａ2 が検体２を面照射するとともに検体２をつるまき螺
旋状に走査するようにこの検体２を変位させる走査手段
４が配されている。この検体２を照射したレーザ光ａ2
が検体２の外表面や内部物質により散乱されまたは透過
して、検体２から出射されたレーザ光ａ3 のうち前記検
体に入射した円錐状に伝播する方向と同一の方向へ透過
した透過光を微小点に集光させるレンズ６が配され、さ
らに上記微小点に集光された透過光のみの通過を許容す
るピンホールＰを有するスクリーン７が設けられてい
る。
【００２５】ここで上記レンズ６とピンホールＰを有す
るスクリーン７とは光学的方向選別部５を構成してい
る。
るスクリーン７とは光学的方向選別部５を構成してい
る。
【００２６】さらにまた、上記ピンホールＰを通過した
レーザ光ａ5 が投影する２次元強度分布像を検出し光電
変換する２次元並列動作型イメージセンサ８と、このイ
メージセンサ８により検出されたレーザ光ａ5 の２次元
強度分布像（透過光投影像）からＣＴ手法により該検体
の３次元情報を計測する計測処理手段９と、この３次元
情報から前記検体２の立体像等を出力する再構成手段11
とを具備１している。
レーザ光ａ5 が投影する２次元強度分布像を検出し光電
変換する２次元並列動作型イメージセンサ８と、このイ
メージセンサ８により検出されたレーザ光ａ5 の２次元
強度分布像（透過光投影像）からＣＴ手法により該検体
の３次元情報を計測する計測処理手段９と、この３次元
情報から前記検体２の立体像等を出力する再構成手段11
とを具備１している。
【００２７】次に本実施例の作用について説明する。
【００２８】レーザ光源１から発射されたレーザａ1 は
レンズ３により円錐状のビームに形成されたレーザａ2
となり検体２を面照射する。このとき上記検体２は、上
記レーザａ2 がこの検体２をつるまき螺旋状に走査する
ように相対的に変位するため、検体２は上記レーザ光ａ
2 を全周に亘り照射される。
レンズ３により円錐状のビームに形成されたレーザａ2
となり検体２を面照射する。このとき上記検体２は、上
記レーザａ2 がこの検体２をつるまき螺旋状に走査する
ように相対的に変位するため、検体２は上記レーザ光ａ
2 を全周に亘り照射される。
【００２９】上記検体２を照射したレーザ光ａ2 は、そ
の一部が前記検体２の外表面や内部の光散乱媒質により
散乱されて不定の方向へ出射され、また他の一部は吸収
され、残りは該レーザ光ａ2 が該検体２に入射した方向
を維持し該検体を透過して出射される。
の一部が前記検体２の外表面や内部の光散乱媒質により
散乱されて不定の方向へ出射され、また他の一部は吸収
され、残りは該レーザ光ａ2 が該検体２に入射した方向
を維持し該検体を透過して出射される。
【００３０】このため、前記レーザ光ａ2 が検体２を出
射した出射レーザ光ａ3 は前記散乱と透過光とが混在し
ている。
射した出射レーザ光ａ3 は前記散乱と透過光とが混在し
ている。
【００３１】さらに上記出射レーザ光ａ3 は光学的方向
選別部５のレンズ６によりスクリーン７上の微小ピンホ
ールＰ部に集光される。このとき、進行方向が不定の前
記散乱光は前記ピンホールＰ部の周辺に入射し、一方透
過光は該ピンホールＰ部に集光されるため、前記透過光
のみが前記スクリーン７のピンホールＰを通過し後段の
２次元並列動作型イメージセンサ８に到達し、該イメー
ジセンサ８上に上記検体２の透過光の２次元強度分布像
を投影する。
選別部５のレンズ６によりスクリーン７上の微小ピンホ
ールＰ部に集光される。このとき、進行方向が不定の前
記散乱光は前記ピンホールＰ部の周辺に入射し、一方透
過光は該ピンホールＰ部に集光されるため、前記透過光
のみが前記スクリーン７のピンホールＰを通過し後段の
２次元並列動作型イメージセンサ８に到達し、該イメー
ジセンサ８上に上記検体２の透過光の２次元強度分布像
を投影する。
【００３２】さらに、イメージセン８に検出された２次
元強度分布像は該イメージセンサ８により光電変換さ
れ、計測処理手段９は該光電変換された２次元強度分布
像のデータと検体２の走査位置とからＣＴ手法により検
体の３次元情報を計測処理し、再構成手段11により該３
次元情報から該検体の立体像あるいは任意断面に沿った
断層像等が出力される。
元強度分布像は該イメージセンサ８により光電変換さ
れ、計測処理手段９は該光電変換された２次元強度分布
像のデータと検体２の走査位置とからＣＴ手法により検
体の３次元情報を計測処理し、再構成手段11により該３
次元情報から該検体の立体像あるいは任意断面に沿った
断層像等が出力される。
【００３３】上述のとおり本実施例の検体の３次元情報
計測装置は、レーザ光を検体につるまき螺旋状に走査す
るため、検体を透過して得られる透過光投影像は該検体
の全周に亘って連続性を有し、透過方向に沿った断面像
の精度が向上する。
計測装置は、レーザ光を検体につるまき螺旋状に走査す
るため、検体を透過して得られる透過光投影像は該検体
の全周に亘って連続性を有し、透過方向に沿った断面像
の精度が向上する。
【００３４】また、検体から出射した出射光を光学的方
向選別手段により、検体を透過した透過光のみを検出す
ることが可能であり、従って上記検体が光散乱媒質を含
有する検体であっても、この散乱光の影響を排除して該
検体の形態的３次元情報を計測することができる。
向選別手段により、検体を透過した透過光のみを検出す
ることが可能であり、従って上記検体が光散乱媒質を含
有する検体であっても、この散乱光の影響を排除して該
検体の形態的３次元情報を計測することができる。
【００３５】図２は本発明による検体の３次元情報計測
装置の他の実施例を示すブロック図である。図示の検体
の３次元情報計測装置は、前記実施例に対して光学的方
向選別部の構成が異なる以外、同様の構成である。
装置の他の実施例を示すブロック図である。図示の検体
の３次元情報計測装置は、前記実施例に対して光学的方
向選別部の構成が異なる以外、同様の構成である。
【００３６】即ち、前記図１に示した実施例の光学的方
向選別部は、検体２から出射されたレーザ光のうち透過
光を微小点に集光させるレンズと、該微小点に集光した
透過光の通過を許容するピンホールを有するスクリーン
とからなるのに対し本実施例の光学的方向選別部15は該
部の拡大図（図３参照）に示すように、検体２から出射
されたレーザ光ａ3 のうち透過光を平行光とするレンズ
16と、該平行光の進行方向に沿った方向の光軸を有し、
該平行光を微小領域ごとに微小点に集光させる複数の微
小レンズ26と、複数の前記微小点に集光した透過光の通
過を許容するピンホールＰ′を有するスクリーン17と、
ピンホールＰ′を通過したレーザ光同士のクロストーク
を防止するためのレンズ26とからなる。
向選別部は、検体２から出射されたレーザ光のうち透過
光を微小点に集光させるレンズと、該微小点に集光した
透過光の通過を許容するピンホールを有するスクリーン
とからなるのに対し本実施例の光学的方向選別部15は該
部の拡大図（図３参照）に示すように、検体２から出射
されたレーザ光ａ3 のうち透過光を平行光とするレンズ
16と、該平行光の進行方向に沿った方向の光軸を有し、
該平行光を微小領域ごとに微小点に集光させる複数の微
小レンズ26と、複数の前記微小点に集光した透過光の通
過を許容するピンホールＰ′を有するスクリーン17と、
ピンホールＰ′を通過したレーザ光同士のクロストーク
を防止するためのレンズ26とからなる。
【００３７】この図２に示した実施例も、上記図１に示
した実施例と同様の作用効果を奏する。
した実施例と同様の作用効果を奏する。
【００３８】上記２つの実施例において必ずしも検体２
を変位させる必要はなく、上述のとおり相対的にレーザ
光が検体２をつるまき螺旋状に走査するように、該レー
ザ光と検体２とのうち少なくとも一方を変位させればよ
いが、レーザ光を変位させる場合は該検体を照射するレ
ーザ光の変位に応じて光学的方向選別部５，15およびイ
メージセンサ８も変位させる必要があることは言うまで
もない。
を変位させる必要はなく、上述のとおり相対的にレーザ
光が検体２をつるまき螺旋状に走査するように、該レー
ザ光と検体２とのうち少なくとも一方を変位させればよ
いが、レーザ光を変位させる場合は該検体を照射するレ
ーザ光の変位に応じて光学的方向選別部５，15およびイ
メージセンサ８も変位させる必要があることは言うまで
もない。
【００３９】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明の検体
の３次元情報計測方法および装置は、円錐状のビームに
形成されたレーザ光を検体に対してつるまき螺旋状に照
射するため、検体の全周方向から連続的に該検体の透過
光投影像を検出でき、この透過光投影像からいかなる方
向に沿った断面においても高精度の形態的３次元情報を
計測することができる。
の３次元情報計測方法および装置は、円錐状のビームに
形成されたレーザ光を検体に対してつるまき螺旋状に照
射するため、検体の全周方向から連続的に該検体の透過
光投影像を検出でき、この透過光投影像からいかなる方
向に沿った断面においても高精度の形態的３次元情報を
計測することができる。
【００４０】また、光学的方向選別手段により、光散乱
媒質を含有した検体から透過光のみを検出することがで
き、生体を始めとする光散乱媒質を含有する検体の３次
元情報を高精度に計測することができる。
媒質を含有した検体から透過光のみを検出することがで
き、生体を始めとする光散乱媒質を含有する検体の３次
元情報を高精度に計測することができる。
【図１】本発明にかかる検体の３次元情報計測装置の実
施例を示すブロック図
施例を示すブロック図
【図２】本発明にかかる検体の３次元情報計測装置の他
の実施例を示すブロック図
の実施例を示すブロック図
【図３】図２に示す方向選別手段15の拡大図
１ レーザ光源 ２ 検体 ３ レンズ ４ 走査手段 ５，15 光学的方向選別部 ６，16，26 レンズ ７，17 スクリーン ８ ２次元並列動作型イメージセンサ ９ 計測処理手段 10 強度補正板 11 再構成手段 Ｐ，Ｐ′ ピンホール
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成４年８月１８日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００４
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００４】その１つである多断層Ｘ線ＣＴ手法は、１
つのＸ線を検体に照射し、このＸ線を検体の仮想軸（以
下体軸という）を中心とした、該体軸に垂直な面内の円
周上を360 ゜回転させて該検体を透過した透過Ｘ線より
断層画像データを算出し、前記Ｘ線を体軸方向に移動さ
せたのち再度上述と同様に断層画像データを算出して、
前記２つの断層画像データから体軸方向の画像データを
補間計算して算出し前記検体の３次元情報を計測するも
のである。
つのＸ線を検体に照射し、このＸ線を検体の仮想軸（以
下体軸という）を中心とした、該体軸に垂直な面内の円
周上を360 ゜回転させて該検体を透過した透過Ｘ線より
断層画像データを算出し、前記Ｘ線を体軸方向に移動さ
せたのち再度上述と同様に断層画像データを算出して、
前記２つの断層画像データから体軸方向の画像データを
補間計算して算出し前記検体の３次元情報を計測するも
のである。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１６】従って、上記レーザ光が検体をつるまき螺
旋状に走査するとは、例えばレーザ光源が上記つるまき
螺旋に沿って変位するとともに、該レーザ光源からのレ
ーザ光が前記検体に照射されることを意味する。
旋状に走査するとは、例えばレーザ光源が上記つるまき
螺旋に沿って変位するとともに、該レーザ光源からのレ
ーザ光が前記検体に照射されることを意味する。
Claims (2)
- 【請求項１】 検体に円錐状のビームに形成されてなる
レーザ光を照射し、該レーザ光が前記検体をつるまき螺
旋状に走査するように該レーザ光と前記検体とを相対的
に変位させ、前記検体を走査して該検体を透過したレー
ザ光から前記検体に入射した円錐状に伝搬する方向と同
一の方向へ透過したレーザ光を結像レンズとピンホール
を用いて選別し、該選別して得られた透過したレーザ光
の２次元強度分布を検出し、該検出された２次元強度分
布からＣＴ手法により前記検体の形態的３次元情報を計
測することを特徴とする検体の３次元情報計測方法。 - 【請求項２】 レーザ光源と、該レーザ光源から発射さ
れたレーザ光を円錐状のビームに形成させる光学的手段
と、該円錐状のビームに形成されたレーザ光を検体に面
照射させるとともに該レーザ光が前記検体をつるまき螺
旋状に走査するように前記レーザ光と前記検体とを相対
的に変位させる走査手段と、前記検体を透過したレーザ
光を集光し、該集光した前記レーザ光が結像した微小輝
点の通過を許容させる光学的方向選別手段と、該方向選
別手段により選別されたレーザ光の２次元強度分布を検
出する２次元強度検出手段と、該検出手段により検出さ
れたレーザ光の強度分布に基づいてＣＴ手法により前記
検体の形態的３次元情報を計測処理する計測処理手段と
を備えてなることを特徴とする検体の３次元情報計測装
置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4205307A JP2981696B2 (ja) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | 検体の３次元情報計測方法および装置 |
| DE69321316T DE69321316T2 (de) | 1992-07-31 | 1993-07-30 | Verfahren und Gerät zum Erhalten drei-dimensionaler Information von Proben |
| DE69333642T DE69333642T2 (de) | 1992-07-31 | 1993-07-30 | Verfahren und Vorrichtung zur Gewinnung dreidimensionaler Information von Proben |
| EP93112273A EP0585620B1 (en) | 1992-07-31 | 1993-07-30 | Method and apparatus for obtaining three-dimensional information of samples |
| EP97115633A EP0814334B1 (en) | 1992-07-31 | 1993-07-30 | Method and apparatus for obtaining three-dimensional information of samples |
| US08/100,365 US5428447A (en) | 1992-07-31 | 1993-08-02 | Method and apparatus for obtaining three-dimensional information of samples using computer tomography |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4205307A JP2981696B2 (ja) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | 検体の３次元情報計測方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0650725A true JPH0650725A (ja) | 1994-02-25 |
| JP2981696B2 JP2981696B2 (ja) | 1999-11-22 |
Family
ID=16504789
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4205307A Expired - Fee Related JP2981696B2 (ja) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | 検体の３次元情報計測方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2981696B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005537476A (ja) * | 2002-08-30 | 2005-12-08 | メディカル リサーチ カウンシル | 光学投影断層撮影 |
| KR100709036B1 (ko) * | 2005-11-18 | 2007-04-18 | 코닉시스템 주식회사 | 챔버 윈도우 오염 검출장치를 구비하는 레이저 열처리 장치 |
| JP2012518794A (ja) * | 2009-02-23 | 2012-08-16 | ヴィジョンゲイト，インコーポレーテッド | 高速スキャナーを備えた光トモグラフィーシステム |
-
1992
- 1992-07-31 JP JP4205307A patent/JP2981696B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005537476A (ja) * | 2002-08-30 | 2005-12-08 | メディカル リサーチ カウンシル | 光学投影断層撮影 |
| KR100709036B1 (ko) * | 2005-11-18 | 2007-04-18 | 코닉시스템 주식회사 | 챔버 윈도우 오염 검출장치를 구비하는 레이저 열처리 장치 |
| JP2012518794A (ja) * | 2009-02-23 | 2012-08-16 | ヴィジョンゲイト，インコーポレーテッド | 高速スキャナーを備えた光トモグラフィーシステム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2981696B2 (ja) | 1999-11-22 |
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