JPH0648166B2 - 検知装置 - Google Patents
検知装置Info
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- JPH0648166B2 JPH0648166B2 JP61227099A JP22709986A JPH0648166B2 JP H0648166 B2 JPH0648166 B2 JP H0648166B2 JP 61227099 A JP61227099 A JP 61227099A JP 22709986 A JP22709986 A JP 22709986A JP H0648166 B2 JPH0648166 B2 JP H0648166B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B3/00—Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
- G01B3/002—Details
- G01B3/008—Arrangements for controlling the measuring force
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/002—Constructional details of contacts for gauges actuating one or more contacts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/004—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
- G01B7/008—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
- G01B7/012—Contact-making feeler heads therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、例えば加工精度のオンライン計測用のタッ
チセンサとして、製品の寸法精度の測定、加工基準位置
の確認等に用いられ、その検出を被測定物への電荷の移
動により行なうことによって、小型化と精度の向上とを
図った検知装置に関する。
チセンサとして、製品の寸法精度の測定、加工基準位置
の確認等に用いられ、その検出を被測定物への電荷の移
動により行なうことによって、小型化と精度の向上とを
図った検知装置に関する。
測定台の支持アームに取り付けられ、測定台に載置され
た被測定物に徐々に接近させて、その被測定物と接触子
とが接触すると、検出回路により、コンピュータ等への
検出パルスを出力するタッチ式の検知装置として、例え
ば第3図に示すフランス特許公報第 2,303,267号に記載
されたものが従来から知られている。
た被測定物に徐々に接近させて、その被測定物と接触子
とが接触すると、検出回路により、コンピュータ等への
検出パルスを出力するタッチ式の検知装置として、例え
ば第3図に示すフランス特許公報第 2,303,267号に記載
されたものが従来から知られている。
この検知装置では、接触子3がチューブ40先端に固定
され、そのチューブ40は、軸受け装置41によって検
知装置本体に取り付けられている。
され、そのチューブ40は、軸受け装置41によって検
知装置本体に取り付けられている。
軸受け装置41は、一端がチューブ40に固定され、他
端が検知装置に固定された蛇腹状のバネ材からなり、そ
の軸受け装置41は、チューブ40を検知装置本体に前
後、左右及び上下方向に伸縮自在に支持する。
端が検知装置に固定された蛇腹状のバネ材からなり、そ
の軸受け装置41は、チューブ40を検知装置本体に前
後、左右及び上下方向に伸縮自在に支持する。
また、チューブ40の接触子3と対向する端部42は、
マイクロスイッチ43の作動用のプランジャーに当接し
ており、接触子3と被測定物とが接触して、チューブ4
0が少しでも変位すると、マイクロスイッチ43が作動
して検出パルスを発生するようになっている。
マイクロスイッチ43の作動用のプランジャーに当接し
ており、接触子3と被測定物とが接触して、チューブ4
0が少しでも変位すると、マイクロスイッチ43が作動
して検出パルスを発生するようになっている。
さらに、この検知装置は検出パルス発生時にチューブ4
0が変位し過ぎると、軸受け装置41がチューブ40を
検知装置の内側に当接させて弾性的に支持することによ
り、破損を防止する。
0が変位し過ぎると、軸受け装置41がチューブ40を
検知装置の内側に当接させて弾性的に支持することによ
り、破損を防止する。
ところで、上記の検知装置は、測定用の接触子3の取り
付けられたチューブ40を、回動可能として3軸X、
Y、Z方向の測定を行なうため、従来必要であった球状
の旋回軸による軸受けを、単一の弾性部材により軸受け
装置41で構成したシンプルな設計である点で興味深い
ものである。
付けられたチューブ40を、回動可能として3軸X、
Y、Z方向の測定を行なうため、従来必要であった球状
の旋回軸による軸受けを、単一の弾性部材により軸受け
装置41で構成したシンプルな設計である点で興味深い
ものである。
しかし、この装置の精度と信頼性とを確保するために
は、軸受け装置41のバネの固さが、軸受け装置41の
弾性復帰の固さ以下で、かつ、マイクロスイッチ43の
復帰圧以上でなければならない。
は、軸受け装置41のバネの固さが、軸受け装置41の
弾性復帰の固さ以下で、かつ、マイクロスイッチ43の
復帰圧以上でなければならない。
また、マイクロスイッチ43の作動プランジャーとその
プランジャーを動かすチューブ40のストロークと、チ
ューブ40端部42の当接部と前記プランジャーとのギ
ャップとは、クリティカルな作動をするマイクロスイッ
チ43を、チューブ40の変位に対しては確実に作動さ
せ、かつ、振動その他の外乱に対しては、作動させない
ように設定しなければならないため、その組み立てに高
い精度が要求される。
プランジャーを動かすチューブ40のストロークと、チ
ューブ40端部42の当接部と前記プランジャーとのギ
ャップとは、クリティカルな作動をするマイクロスイッ
チ43を、チューブ40の変位に対しては確実に作動さ
せ、かつ、振動その他の外乱に対しては、作動させない
ように設定しなければならないため、その組み立てに高
い精度が要求される。
このため、このような装置の信頼性は、非常に微細な調
整とデリケートな構造に左右され、その構造の複雑さ故
に、当技術分野で求められている小型化にはほとんど役
立たない。
整とデリケートな構造に左右され、その構造の複雑さ故
に、当技術分野で求められている小型化にはほとんど役
立たない。
さらに、その精度自体が高いといっても、その測定の精
度は、検知装置本体に、チューブ40を支持している軸
受け装置41が、使用中に塑性変形(たとえばどんなに
小さくても)を起こすことにより、検出パルスの検出位
置が狂ってしまい、例えばこのパルスをトリガパルスと
して測定値の演算の開始や終了を行なうコンピュータで
は、演算誤差を生じてしまう。
度は、検知装置本体に、チューブ40を支持している軸
受け装置41が、使用中に塑性変形(たとえばどんなに
小さくても)を起こすことにより、検出パルスの検出位
置が狂ってしまい、例えばこのパルスをトリガパルスと
して測定値の演算の開始や終了を行なうコンピュータで
は、演算誤差を生じてしまう。
また、この場合の塑性変形の大きさは、必ずしも再現性
がなく、従ってこれを確実に定量化することができない
ため、補正データによってコンピュータに正確な値を算
出させることはできない等の問題がある。
がなく、従ってこれを確実に定量化することができない
ため、補正データによってコンピュータに正確な値を算
出させることはできない等の問題がある。
一方、アメリカ特許 3,945,124号に開示された、第4図
に示すもう一つの公知の検知装置では、ロッド44に設
けられた接触子3が、第5図に示すように3つの基軸座
標軸に対してそれぞれ弾性変形をする3つの平行四辺形
体45、46、47を組み合わせた軸受け装置41を介
して検知装置本体に取り付けられており、それら平行四
辺形体45、46、47が、被測定物に接触子3が接触
した際に、変形することにより、検出パルスを出力する
ようになっている。
に示すもう一つの公知の検知装置では、ロッド44に設
けられた接触子3が、第5図に示すように3つの基軸座
標軸に対してそれぞれ弾性変形をする3つの平行四辺形
体45、46、47を組み合わせた軸受け装置41を介
して検知装置本体に取り付けられており、それら平行四
辺形体45、46、47が、被測定物に接触子3が接触
した際に、変形することにより、検出パルスを出力する
ようになっている。
この装置は、その構造の複雑さから小型化に対しては、
先のものと同様の欠点がある。さらに、この場合にも測
定精度は、軸受け装置41の平行四辺形体の45、4
6、47の塑性変形により、誤差を生じる問題がある。
先のものと同様の欠点がある。さらに、この場合にも測
定精度は、軸受け装置41の平行四辺形体の45、4
6、47の塑性変形により、誤差を生じる問題がある。
これらの問題の一つの解決策として、例えばスイス特許
第599,534 号で示された検知装置がある。この検知装置
では、接触子と導電性の被測定物とが給電回路に接続さ
れていて、接触子が被測定物に接触したその瞬間に、給
電回路が閉じて検出パルスを発生するようになってい
る。
第599,534 号で示された検知装置がある。この検知装置
では、接触子と導電性の被測定物とが給電回路に接続さ
れていて、接触子が被測定物に接触したその瞬間に、給
電回路が閉じて検出パルスを発生するようになってい
る。
このため、この装置は、前述の2つの装置と異って、検
出パルスの発生の際に、軸受け装置が変位する必要がな
く、高い精度を得ることができ、さらに、構造も簡単な
ため、小型化にも有利である。
出パルスの発生の際に、軸受け装置が変位する必要がな
く、高い精度を得ることができ、さらに、構造も簡単な
ため、小型化にも有利である。
ところで、上記の接触子が導電性の被測定物に接触する
と、給電回路が閉じて、検出パルスを出力するもので
は、給電回路が閉じたことによって測定信号を発生させ
るため、導電性の被測定物をケーブルによって給電回路
に接続しなければならないが、このケーブルによる接続
は、信頼性が低く、また、測定する被測定物が変わる度
ごとに、ケーブルの付け換えを行なわなければならない
ため、煩わしいという問題がある。
と、給電回路が閉じて、検出パルスを出力するもので
は、給電回路が閉じたことによって測定信号を発生させ
るため、導電性の被測定物をケーブルによって給電回路
に接続しなければならないが、このケーブルによる接続
は、信頼性が低く、また、測定する被測定物が変わる度
ごとに、ケーブルの付け換えを行なわなければならない
ため、煩わしいという問題がある。
この問題の一つの解決策として特開昭58−15150
4号公報に記載された位置検出装置がある。
4号公報に記載された位置検出装置がある。
この位置検出装置では、導電性の接触針と導伝性の測定
台とが検出回路に接続されており、測定台に載置された
導電性の被測定物に接触針が接触すると、検出回路→接
触針→被測定物→測定台→検出回路の閉回路が形成さ
れ、この閉回路を流れる電流を検出することにより被測
定物を検出している。
台とが検出回路に接続されており、測定台に載置された
導電性の被測定物に接触針が接触すると、検出回路→接
触針→被測定物→測定台→検出回路の閉回路が形成さ
れ、この閉回路を流れる電流を検出することにより被測
定物を検出している。
しかしながら、上記の閉回路を形成するものでは、測定
台の載置面は被測定物が置かれるため、汚れやすく、ま
た、測定台の載置面と接触する被測定物の接触面の凹凸
や酸化膜の形成などのため、測定台と被測定物との接触
抵抗が大きくなったり、絶縁状態となって閉回路が形成
できずに被測定物の検出ができなくなったり、検出ミス
を生じるため、信頼性の低い問題が考えられる。
台の載置面は被測定物が置かれるため、汚れやすく、ま
た、測定台の載置面と接触する被測定物の接触面の凹凸
や酸化膜の形成などのため、測定台と被測定物との接触
抵抗が大きくなったり、絶縁状態となって閉回路が形成
できずに被測定物の検出ができなくなったり、検出ミス
を生じるため、信頼性の低い問題が考えられる。
そこで、この発明の課題は、簡単な構造で、精度も高
く、小型に適し、かつ、煩雑なケーブルの付け換え作業
を必要とせず、しかも、測定台の汚れや接触抵抗に関係
なく、検出の行える信頼性の高い検知装置を提供するこ
とである。
く、小型に適し、かつ、煩雑なケーブルの付け換え作業
を必要とせず、しかも、測定台の汚れや接触抵抗に関係
なく、検出の行える信頼性の高い検知装置を提供するこ
とである。
上記の課題を解決するため、この発明では、導電性被測
定物を絶縁状態で載置する測定台と、その測定台に設け
た支持アームあるいは、走行ガントリに移動自在に取り
付けられる導電性ケーシングと、そのケーシングの端面
より突出され、かつ、先端に導電性の接触子を有する接
触針と、前記接触針を前記ケーシングに絶縁状態で、か
つ、前後・左右及び上下方向に弾性変形可能に支持する
連結装置と、前記接触子とケーシングとを充電する充電
用電源を有し、かつ、前記測定台に載置された導電性被
測定物に接触針の接触子が接触し、前記被測定物が帯電
する際に流れる電荷の移動を検出し、検出パルスを出力
する検出回路と、前記連結装置が弾性変形を生じたこと
をパルス出力により報知する報知手段とを備えた構成と
したのである。
定物を絶縁状態で載置する測定台と、その測定台に設け
た支持アームあるいは、走行ガントリに移動自在に取り
付けられる導電性ケーシングと、そのケーシングの端面
より突出され、かつ、先端に導電性の接触子を有する接
触針と、前記接触針を前記ケーシングに絶縁状態で、か
つ、前後・左右及び上下方向に弾性変形可能に支持する
連結装置と、前記接触子とケーシングとを充電する充電
用電源を有し、かつ、前記測定台に載置された導電性被
測定物に接触針の接触子が接触し、前記被測定物が帯電
する際に流れる電荷の移動を検出し、検出パルスを出力
する検出回路と、前記連結装置が弾性変形を生じたこと
をパルス出力により報知する報知手段とを備えた構成と
したのである。
また、上記検出回路がオフセット調整回路の設けられた
FET誤差増幅器とオペアンプ増幅器を用いたコンパレ
ータからなる構成とすることもできる。このとき、上記
検出パルスが出力されると、上記接触子と被測定物とに
蓄えられた電荷を放電する放電調整回路を上記検出回路
に備えた構成としてもよい。
FET誤差増幅器とオペアンプ増幅器を用いたコンパレ
ータからなる構成とすることもできる。このとき、上記
検出パルスが出力されると、上記接触子と被測定物とに
蓄えられた電荷を放電する放電調整回路を上記検出回路
に備えた構成としてもよい。
さらに、上記報知手段を、上記ケーシング内に上記接触
針と対向し、前記接触針と電気的に接続され、かつ、導
電性の弾性材により形成された突起を設け、その突起が
上記連結装置の弾性変形により、ケーシングに当接し
て、短絡によるパルス出力を出力するように構成しても
よく、その際、上記ケーシング内の上記突起の対向面
に、テーパー孔を設け、そのテーパー孔の内壁に、上記
連結装置の弾性変形により、上記突起が当接するように
してもよい。
針と対向し、前記接触針と電気的に接続され、かつ、導
電性の弾性材により形成された突起を設け、その突起が
上記連結装置の弾性変形により、ケーシングに当接し
て、短絡によるパルス出力を出力するように構成しても
よく、その際、上記ケーシング内の上記突起の対向面
に、テーパー孔を設け、そのテーパー孔の内壁に、上記
連結装置の弾性変形により、上記突起が当接するように
してもよい。
このように構成される検知装置では、ケーシングとのそ
ケーシングに連結装置によって絶縁状態に支持される接
触針の接触子とは、検出回路の充電用電源に接続される
ことにより、両部材間に形成される静電容量に見合った
電荷が与えられ、充電される。
ケーシングに連結装置によって絶縁状態に支持される接
触針の接触子とは、検出回路の充電用電源に接続される
ことにより、両部材間に形成される静電容量に見合った
電荷が与えられ、充電される。
このように充電されることにより、帯電した接触子が、
測定台に絶縁状態で載置された導電性の被測定物に接近
すると、被測定物の接触子との対向面に接触子と逆極性
の電荷が集まる。
測定台に絶縁状態で載置された導電性の被測定物に接近
すると、被測定物の接触子との対向面に接触子と逆極性
の電荷が集まる。
このため、接触子がさらに、被測定物に接近し、接触す
ると、両者の間で電荷の移動が起こり、被測定物が帯電
する。
ると、両者の間で電荷の移動が起こり、被測定物が帯電
する。
この電荷の移動は、検出回路により、検出され、パルス
信号として出力される。
信号として出力される。
また、この接触子と被測定物とが接触した際に、例え
ば、接触子が汚れや絶縁材と接触して検出パルスが出力
されず、接触後に加わる押圧により、連結装置が弾性変
形を起こすと、その弾性変形によりパルス信号が発生さ
れるため、そのパルス信号で前記接触子の被測定物への
接近を停止することにすれば、連結装置の塑性変形を防
止できる。
ば、接触子が汚れや絶縁材と接触して検出パルスが出力
されず、接触後に加わる押圧により、連結装置が弾性変
形を起こすと、その弾性変形によりパルス信号が発生さ
れるため、そのパルス信号で前記接触子の被測定物への
接近を停止することにすれば、連結装置の塑性変形を防
止できる。
さらに、検出回路をオフセット調整回路の設けられたF
ET差動増幅器とオペアンプを用いたコンパレータとし
たものでは、上記接触子とケーシングにより出力される
検出出力は、容量性で出力インピーダンスの低い低レベ
ルの検出出力であるため、オフセット調整回路により、
ドリフトを小さく調整した入力インピーダンスの大きな
FET差動増幅器で増幅することによって、誤差の少な
い検出電圧を得ることができる。
ET差動増幅器とオペアンプを用いたコンパレータとし
たものでは、上記接触子とケーシングにより出力される
検出出力は、容量性で出力インピーダンスの低い低レベ
ルの検出出力であるため、オフセット調整回路により、
ドリフトを小さく調整した入力インピーダンスの大きな
FET差動増幅器で増幅することによって、誤差の少な
い検出電圧を得ることができる。
この出力された検出電圧は、コンパレータにより波形成
形が行なわれ、検出パルスに生成される。
形が行なわれ、検出パルスに生成される。
このとき、検出回路に放電調整回路を備えたものでは、
接触子が被測定物と接触し、検出パルスが出力される
と、放電調整回路が、その検出パルスにより、被測定物
と接触子とに蓄えられた電荷を直ちに放電してしまうた
め、接触子が被測定物と接触した際に発生する接触子の
バウンスによって、接触子が何度も被測定物と接触をく
り返しても、検出パルスをくり返し発生することはな
い。
接触子が被測定物と接触し、検出パルスが出力される
と、放電調整回路が、その検出パルスにより、被測定物
と接触子とに蓄えられた電荷を直ちに放電してしまうた
め、接触子が被測定物と接触した際に発生する接触子の
バウンスによって、接触子が何度も被測定物と接触をく
り返しても、検出パルスをくり返し発生することはな
い。
また、この放電が行なわれると、検出パルスは出力され
なくなって、放電調整回路は放電を停止し、今度は、検
出回路の充電用電源が充電を開始するが、その充電の時
定数を前記バウンスが終了するまで、検出パルスが出力
されないような十分な長さに設定しておけば、検出パル
スの誤出力が防止される。
なくなって、放電調整回路は放電を停止し、今度は、検
出回路の充電用電源が充電を開始するが、その充電の時
定数を前記バウンスが終了するまで、検出パルスが出力
されないような十分な長さに設定しておけば、検出パル
スの誤出力が防止される。
また、ケーシング内に、接触針に対向する突起を設けた
ものでは、連結装置の弾性変形により突起がケーシング
に当接して短絡するという簡単な構成で、報知のための
パルスを出力させているため、信頼性が高く、また、小
型化も容易にできる。
ものでは、連結装置の弾性変形により突起がケーシング
に当接して短絡するという簡単な構成で、報知のための
パルスを出力させているため、信頼性が高く、また、小
型化も容易にできる。
その検出の際、ケーシングに放射状のテーパー孔を形成
したものでは、突起がテーパーにより案内されるため、
異常時のケーシングとの接触が確実に行なえる。
したものでは、突起がテーパーにより案内されるため、
異常時のケーシングとの接触が確実に行なえる。
以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図及び第2図に示すように、検知装置は、導電性被
測定物21を絶縁状態で載置する測定台22と、ケーシ
ング1と、そのケーシング1の端面より突出し、かつ、
先端に導電性の接触子3を有する導電性の接触針(以下
センサ)2と、このセンサ2をケーシング1に支持する
連結装置4と、検出回路5とからなっている。
測定物21を絶縁状態で載置する測定台22と、ケーシ
ング1と、そのケーシング1の端面より突出し、かつ、
先端に導電性の接触子3を有する導電性の接触針(以下
センサ)2と、このセンサ2をケーシング1に支持する
連結装置4と、検出回路5とからなっている。
ケーシング1は、測定台22の支持アームまたは走行ガ
ントリ(図示省略)に接続された可動支持部6に固定さ
れるようになっており、これによって少なくとも可動支
持部6を測定方向に移動させると、接触子3は、測定台
22に載置された被測定物21に接触する。
ントリ(図示省略)に接続された可動支持部6に固定さ
れるようになっており、これによって少なくとも可動支
持部6を測定方向に移動させると、接触子3は、測定台
22に載置された被測定物21に接触する。
連結装置4は、ケーシング1の内部に、一般に“Boys s
upport −type”といわれる3つのボールベアリング1
1によってケーシング1のドーナツ状の環状端面26に
支持された第2のディスク10と、その第2のディスク
10上に、前記同様、3つのボールベアリング9によっ
て支持され、前記第2のディスク10の中央部を貫通す
るセンサ2の固定された絶縁スリーブ7の取り付けられ
た第1のディスク8と、前記ケーシング1の端部外周に
螺着されたフード12に保持され、前記ケーシング1の
環状端面26と当接して第2のディスク10を支持する
前記ボールベアリング11に対して押圧力を付勢する第
1圧縮バネ13と、前記第1のディスク8とケーシング
1の頂部との間に、絶縁ワッシャ15を介して設けら
れ、第2のディスク10に前記ボールベアリング9によ
って支持される第1ディスク8に押圧力を付勢する第2
圧縮バネ14とからなっており、前記第1圧縮バネ13
を、第2圧縮バネ14よりも固く設定することにより、
これら2つのバネ13、14に加えられる総圧力が許容
測定圧を越えた場合にのみ、連結装置4の弾性変形が起
るように校正されている。
upport −type”といわれる3つのボールベアリング1
1によってケーシング1のドーナツ状の環状端面26に
支持された第2のディスク10と、その第2のディスク
10上に、前記同様、3つのボールベアリング9によっ
て支持され、前記第2のディスク10の中央部を貫通す
るセンサ2の固定された絶縁スリーブ7の取り付けられ
た第1のディスク8と、前記ケーシング1の端部外周に
螺着されたフード12に保持され、前記ケーシング1の
環状端面26と当接して第2のディスク10を支持する
前記ボールベアリング11に対して押圧力を付勢する第
1圧縮バネ13と、前記第1のディスク8とケーシング
1の頂部との間に、絶縁ワッシャ15を介して設けら
れ、第2のディスク10に前記ボールベアリング9によ
って支持される第1ディスク8に押圧力を付勢する第2
圧縮バネ14とからなっており、前記第1圧縮バネ13
を、第2圧縮バネ14よりも固く設定することにより、
これら2つのバネ13、14に加えられる総圧力が許容
測定圧を越えた場合にのみ、連結装置4の弾性変形が起
るように校正されている。
このように、連結装置4は、2組の前記ボールベアリン
グ9、11と2つのバネ13、14とがそれぞれ対向配
置されることにより、前後、左右、上下の3つの基準座
標軸の6方向に弾性変形可能になっている。上記連結装
置4は、ゴム製のキャップ16によって被われ保護され
ている。
グ9、11と2つのバネ13、14とがそれぞれ対向配
置されることにより、前後、左右、上下の3つの基準座
標軸の6方向に弾性変形可能になっている。上記連結装
置4は、ゴム製のキャップ16によって被われ保護され
ている。
また、センサ2に激しい衝撃を受けた場合に収縮して機
械的なヒューズの役目もする前記絶縁スリーブ7の内部
には、圧縮バネ27が設けられ、前記センサ2と第1の
ディスク8とは電気的に接続されている。
械的なヒューズの役目もする前記絶縁スリーブ7の内部
には、圧縮バネ27が設けられ、前記センサ2と第1の
ディスク8とは電気的に接続されている。
さらに、連結装置4が弾性変形を生じた際の報知手段と
して、前記第1のディスク8には、柔軟な導電性のロッ
ドにより形成された突起(フィラー)17が設けられて
おり、この突起17は、連結装置4が弾性変形した際
に、前記絶縁ワッシャ−15の奥側のケーシング1の頂
部に形成されたテーパー孔18に嵌入されるようになっ
ている。
して、前記第1のディスク8には、柔軟な導電性のロッ
ドにより形成された突起(フィラー)17が設けられて
おり、この突起17は、連結装置4が弾性変形した際
に、前記絶縁ワッシャ−15の奥側のケーシング1の頂
部に形成されたテーパー孔18に嵌入されるようになっ
ている。
一方、連結装置4の前記ボールベアリング9、11は、
例えばルビー等の絶縁材で形成されており、その結果、
ケース1と機械的に接続されたセンサ2は、前記突起1
8がテーパー孔18の壁面に接触した状態とならない限
り絶縁されている。
例えばルビー等の絶縁材で形成されており、その結果、
ケース1と機械的に接続されたセンサ2は、前記突起1
8がテーパー孔18の壁面に接触した状態とならない限
り絶縁されている。
この検知装置のセンサ2とケーシング1とは、2本のケ
ーブル19と20とにより、検出回路5に接続されてい
る。
ーブル19と20とにより、検出回路5に接続されてい
る。
検出回路5は、第2図に示すように、前記ケーブル1
9、20を介し、センサ2とケーシング1とに所定の電
圧を印加する充電用電源25と、前記ケーブル19と2
0とに接続され、ポテンショメータによって温度ドリフ
ト等のオフセットやバランス調整を行なうオフセット調
整回路の設けられたFET差動増幅器28と、オペアン
プによるコンパレータ29とを有し、前記充電用電源2
5は、絶縁されたセンサ2とケーシング1とに、両部材
間に形成される静電容量に見合った電荷を与え、両者を
充電する。
9、20を介し、センサ2とケーシング1とに所定の電
圧を印加する充電用電源25と、前記ケーブル19と2
0とに接続され、ポテンショメータによって温度ドリフ
ト等のオフセットやバランス調整を行なうオフセット調
整回路の設けられたFET差動増幅器28と、オペアン
プによるコンパレータ29とを有し、前記充電用電源2
5は、絶縁されたセンサ2とケーシング1とに、両部材
間に形成される静電容量に見合った電荷を与え、両者を
充電する。
このため、充電されることにより、帯電した接触子3
(実施例ではプラス)が、測定台22に絶縁状態で載置
された導電性の被測定物21に接近すると、被測定物2
1の接触子3との対向面に、接触子3と逆極性(実施例
ではマイナス)の電荷が集まる。
(実施例ではプラス)が、測定台22に絶縁状態で載置
された導電性の被測定物21に接近すると、被測定物2
1の接触子3との対向面に、接触子3と逆極性(実施例
ではマイナス)の電荷が集まる。
さらに、接触子3が被測定物21に接近し、接触する
と、両者の間に電荷の移動が起こり、被測定物21が帯
電する。
と、両者の間に電荷の移動が起こり、被測定物21が帯
電する。
このときの電荷の移動は、一瞬にして行なわれるため、
充電用電源25の電荷の充電が追いつかず、電圧が低下
する。
充電用電源25の電荷の充電が追いつかず、電圧が低下
する。
ちょうど、この状態は、それぞれ、V1、V2の電位差
に充電されたC1、C2の静電容量を有する2個のコン
デンサを並列につないだ場合と等価に考えられ、例え
ば、一方のコンデンC2(被測定物21)の電位をOV
とすると、両者を並列に接続、即ち、センサ2が被測定
物21と接触すると両者の合成容量の増加により、接触
後の電位差はC1V1/(C1+C2)〔V〕となって
低下する。
に充電されたC1、C2の静電容量を有する2個のコン
デンサを並列につないだ場合と等価に考えられ、例え
ば、一方のコンデンC2(被測定物21)の電位をOV
とすると、両者を並列に接続、即ち、センサ2が被測定
物21と接触すると両者の合成容量の増加により、接触
後の電位差はC1V1/(C1+C2)〔V〕となって
低下する。
このため、この電圧の変動をケーブル19、18に接続
されたFET差動増幅器28が検出し、その検出信号を
コンパレータ29が波形成形することによって検出パル
スを出力する。
されたFET差動増幅器28が検出し、その検出信号を
コンパレータ29が波形成形することによって検出パル
スを出力する。
このとき、FET差動増幅器28の入力インピーダンス
は非常に高抵抗であるので、出力インピーダンスが容量
性で、非常に小さな前記出力電圧を増幅することができ
る。
は非常に高抵抗であるので、出力インピーダンスが容量
性で、非常に小さな前記出力電圧を増幅することができ
る。
さらに、検出回路5には、接触子3が被測定物1に接触
した際の、接触子3のバウンス等によって、検出パルス
が多数出力されることを防ぐため、FET差動増幅器2
8の入力と、コンパレータ29の出力との間に、制御回
路31と放電調整回路30が設けられている。
した際の、接触子3のバウンス等によって、検出パルス
が多数出力されることを防ぐため、FET差動増幅器2
8の入力と、コンパレータ29の出力との間に、制御回
路31と放電調整回路30が設けられている。
この制御回路31と放電調整回路30とは、例えば、F
ET差動増幅器28の入力に設けられ、コンパレータ2
9の検出パルスによって、前記入力を接地するトランジ
スタスイッチ回路32によって構成されている。
ET差動増幅器28の入力に設けられ、コンパレータ2
9の検出パルスによって、前記入力を接地するトランジ
スタスイッチ回路32によって構成されている。
前記スイッチ回路32は、FET差動増幅回路28によ
って電荷の移動が検出され、コンパレータ29から検出
パルスが出力されると作動して、被測定物21と接触子
3に蓄えられた電荷を放電し、そのバウンスが継続して
いる間にコンパレータ29のしきい値電圧まで前記電荷
が充電されることを防ぐため、バウンス中に検出パルス
を出力させない。
って電荷の移動が検出され、コンパレータ29から検出
パルスが出力されると作動して、被測定物21と接触子
3に蓄えられた電荷を放電し、そのバウンスが継続して
いる間にコンパレータ29のしきい値電圧まで前記電荷
が充電されることを防ぐため、バウンス中に検出パルス
を出力させない。
このとき、充電用電源25の時定数は、前記バウンスが
終了するまで、しきい値電圧に達する電荷を充電できな
い値に設定する。
終了するまで、しきい値電圧に達する電荷を充電できな
い値に設定する。
このように、バウンスによる検出エラーを生じないた
め、この検出装置は高い検出精度を有する。
め、この検出装置は高い検出精度を有する。
一方、検出回路5は、レベル出力を一定幅のパルス出力
として出力することのできる例えば、周知のワンショッ
トマルチバイブレータなどのパルス発生回路を、FET
差動増幅28と並列に備えることとすれば、報知手段と
して設けられた突起17とテーパー孔18とが、連結装
置4の弾性変形によりケーシング1のテーパー孔18の
内壁に接触した際、その短絡により、ケーブル19、2
0から出力されるレベル出力から、一定幅のパルス出力
を安全パルスとして、第2出力24より出力することが
できる。
として出力することのできる例えば、周知のワンショッ
トマルチバイブレータなどのパルス発生回路を、FET
差動増幅28と並列に備えることとすれば、報知手段と
して設けられた突起17とテーパー孔18とが、連結装
置4の弾性変形によりケーシング1のテーパー孔18の
内壁に接触した際、その短絡により、ケーブル19、2
0から出力されるレベル出力から、一定幅のパルス出力
を安全パルスとして、第2出力24より出力することが
できる。
この短絡による安全パルスを出力させる方法は、例えば
変位用ピック・アップやスイッチを用いてその本体をケ
ーシング1に固定し、その可動部を連結装置4の適当な
部材に連結して、安全パルスを出力させる方法に比べ、
突起17とテーパー孔18という少ない構成による簡単
な方法で、上記パルスを発生させることができるため、
小型化を図る上でも、また信頼性を高める上でも優れた
ものである。
変位用ピック・アップやスイッチを用いてその本体をケ
ーシング1に固定し、その可動部を連結装置4の適当な
部材に連結して、安全パルスを出力させる方法に比べ、
突起17とテーパー孔18という少ない構成による簡単
な方法で、上記パルスを発生させることができるため、
小型化を図る上でも、また信頼性を高める上でも優れた
ものである。
この実施例は、以上の様に構成され、検出回路5により
電圧が印加され、電荷の充電されるケーシング1とセン
サ2とを支持アームに取り付け、測定台22上に導電性
の被測定物を載置し、その被測定物21にセンサ2を接
近させ、センサ2の接触子3が測定台22上の被測定物
21に接触すると、電荷が被測定物21へ移動すること
により生じる電圧の低下が、検出回路5のFET差動増
幅器28により検出されて増幅され、その検出電圧がコ
ンパレータ29によりパルス信号に変換されて検出パル
スとして出力される。
電圧が印加され、電荷の充電されるケーシング1とセン
サ2とを支持アームに取り付け、測定台22上に導電性
の被測定物を載置し、その被測定物21にセンサ2を接
近させ、センサ2の接触子3が測定台22上の被測定物
21に接触すると、電荷が被測定物21へ移動すること
により生じる電圧の低下が、検出回路5のFET差動増
幅器28により検出されて増幅され、その検出電圧がコ
ンパレータ29によりパルス信号に変換されて検出パル
スとして出力される。
このように、この検知装置では、被測定物21を絶縁状
態に載置する測定台22と、互いに絶縁された導電性の
接触子3及びケーシング1とによる簡単な構成で検出が
行なえるため、従来のように、検出にマイクロスイッチ
等のスイッチ類を用いたもののように、クリチカルなス
イッチ類の作動を間違いなく行なわせるため、複雑なメ
カニズムや調整を必要とせず、また長寿命である。
態に載置する測定台22と、互いに絶縁された導電性の
接触子3及びケーシング1とによる簡単な構成で検出が
行なえるため、従来のように、検出にマイクロスイッチ
等のスイッチ類を用いたもののように、クリチカルなス
イッチ類の作動を間違いなく行なわせるため、複雑なメ
カニズムや調整を必要とせず、また長寿命である。
また、ケーブル19、20を被測定物21や測定台22
に接続しなくてもよいので、測定の度毎に、ケーブル1
9、20の付け換えを必要とせず、ケーブル付け換えに
よる信頼性の低下や測定台22の汚れによる検出ミスも
起こさないため信頼性が高い。
に接続しなくてもよいので、測定の度毎に、ケーブル1
9、20の付け換えを必要とせず、ケーブル付け換えに
よる信頼性の低下や測定台22の汚れによる検出ミスも
起こさないため信頼性が高い。
このとき、検出パルスは、放電調整回路30及び制御回
路31へ入力され、両者によってセンサ2と被測定物2
1に蓄えられた電荷が放電されることにより、接触子3
のバウンスによる検出パルスの誤出力が防がれる。
路31へ入力され、両者によってセンサ2と被測定物2
1に蓄えられた電荷が放電されることにより、接触子3
のバウンスによる検出パルスの誤出力が防がれる。
また、このとき、例えば接触子3が汚れ等のため、被測
定物21への電荷の移動が行なえず、被測定物21への
接近が続いた場合、連結装置4が塑性変形を起こす前
に、連結装置4の弾性変形により突起17がケーシング
1のテーパー孔18の内壁と接触して、短絡による安全
パルスが出力される。
定物21への電荷の移動が行なえず、被測定物21への
接近が続いた場合、連結装置4が塑性変形を起こす前
に、連結装置4の弾性変形により突起17がケーシング
1のテーパー孔18の内壁と接触して、短絡による安全
パルスが出力される。
因に、この安全パルスは、被測定物の汚れや被測定物の
絶縁部分に接触子3が接触したため測定信号が生じない
ことを作業員に知らせる注意信号として利用してもよい
し、或いは、可動支持部の変位をリモートコントロール
する場合、その変位を自動停止させる制御信号として利
用してもよい。また、変位を自動的に停止させるために
安全パルスと検出パルスの両方を用いても良い。実際、
コンピュータ用のデータとしても、ケーシング1の支持
部を自動的に停止させる制御信号としても、両方に検出
パルスを利用すれば、使用される容量性の装置で消費さ
れる相当なエネルギーの節約となる。
絶縁部分に接触子3が接触したため測定信号が生じない
ことを作業員に知らせる注意信号として利用してもよい
し、或いは、可動支持部の変位をリモートコントロール
する場合、その変位を自動停止させる制御信号として利
用してもよい。また、変位を自動的に停止させるために
安全パルスと検出パルスの両方を用いても良い。実際、
コンピュータ用のデータとしても、ケーシング1の支持
部を自動的に停止させる制御信号としても、両方に検出
パルスを利用すれば、使用される容量性の装置で消費さ
れる相当なエネルギーの節約となる。
また、このとき、この制動は瞬間的に行なわれず、完全
に停止するまでに、連結装置4はある程度変形するはず
である。このため、連結装置4の自由な弾性変形の大き
さと突起17の弾性変形の大きさを決定する際には、制
動の遅れによって変位が残存することも考慮に入れなけ
ればならない。
に停止するまでに、連結装置4はある程度変形するはず
である。このため、連結装置4の自由な弾性変形の大き
さと突起17の弾性変形の大きさを決定する際には、制
動の遅れによって変位が残存することも考慮に入れなけ
ればならない。
電気回路5のもう1つの実施例(図示省略)として、検
出パルスと安全パルスとを同時に受け、これら2つの信
号を区別し、かつ、コンピュータと制動装置とに対して
相当するパルスを送るための電子装置を設けてもよい。
出パルスと安全パルスとを同時に受け、これら2つの信
号を区別し、かつ、コンピュータと制動装置とに対して
相当するパルスを送るための電子装置を設けてもよい。
連結装置4のもう1つの実施例(図示省略)としては、
弾性変形が可能なものならば他のどんな三次元連結機構
を用いてもよく、例えば先に引用したフランス特許第
2,303,267号とアメリカ特許第 3,945,124号の装置の連
結装置を用いた場合、これらは検出パルスの発生には関
与せず、安全パルスの発生にのみ関与させるようにすれ
ばよいので、その製造に高い精度を必要としない点で前
記特許以上の利点が得られる。
弾性変形が可能なものならば他のどんな三次元連結機構
を用いてもよく、例えば先に引用したフランス特許第
2,303,267号とアメリカ特許第 3,945,124号の装置の連
結装置を用いた場合、これらは検出パルスの発生には関
与せず、安全パルスの発生にのみ関与させるようにすれ
ばよいので、その製造に高い精度を必要としない点で前
記特許以上の利点が得られる。
なお、ここに挙げた実施例はこれだけに限定されるもの
でないことは明らかであり、またこの発明は工作機械や
1つまたは2つの基準座標軸に沿って測定する機械にも
使用できる。この場合、センサーをケーシングに連結す
る三次元連結機構は、簡単にする意味から、弾性変位に
おける6つの自由度のうち2つの自由度または4つの自
由度を省いたものに変形してもよい。
でないことは明らかであり、またこの発明は工作機械や
1つまたは2つの基準座標軸に沿って測定する機械にも
使用できる。この場合、センサーをケーシングに連結す
る三次元連結機構は、簡単にする意味から、弾性変位に
おける6つの自由度のうち2つの自由度または4つの自
由度を省いたものに変形してもよい。
この発明は、以上のように構成し、接触子から被測定物
へ電荷を移動させることによって、被測定物の検出を行
なうようにしたため、簡単な構造で長寿命、小型化に適
した高い信頼性のある検知装置を提供することができ
る。
へ電荷を移動させることによって、被測定物の検出を行
なうようにしたため、簡単な構造で長寿命、小型化に適
した高い信頼性のある検知装置を提供することができ
る。
また、被測定物にケーブルを接続しなくてもよいため、
操作性にも優れている。
操作性にも優れている。
さらに、測定台にもケーブルを接続しなくても良いの
で、測定台の汚れや測定台と被測定物との接触状態によ
る検出ミスを起こすことがない。
で、測定台の汚れや測定台と被測定物との接触状態によ
る検出ミスを起こすことがない。
また、検出回路をオフセット調整回路の設けられたFE
T差動増幅器とコンパレータからなるものとしたもので
は、ドリフト等による検出誤差を少なくできる。
T差動増幅器とコンパレータからなるものとしたもので
は、ドリフト等による検出誤差を少なくできる。
さらに、放電調整回路を備えたものでは、接触子のバウ
ンスによる誤差出力を防止できる。
ンスによる誤差出力を防止できる。
また、ケーシング内に突起を設けたものでは、その突起
がケーシングと短絡することによって出力される安全パ
ルスを用いるという簡単な構造で、連結装置の塑性変形
を防止できるため信頼性が高く、またコストも安価にで
きる。
がケーシングと短絡することによって出力される安全パ
ルスを用いるという簡単な構造で、連結装置の塑性変形
を防止できるため信頼性が高く、またコストも安価にで
きる。
加えて、ケーシングにテーパー孔を設けたものでは、上
記のテーパー孔に前記突起が嵌入され、内壁と接触する
ことにより安全パルスが出力されるため、安全パルスの
検出精度をさらに高くして信頼性の向上が図れる。
記のテーパー孔に前記突起が嵌入され、内壁と接触する
ことにより安全パルスが出力されるため、安全パルスの
検出精度をさらに高くして信頼性の向上が図れる。
第1図は実施例の縦断面図、第2図は実施例のブロック
図、第3図は従来例の縦断面図、第4図は他の従来例の
縦断面図、第5図は第4図の作用図面である。 1……ケーシング、2……センサ、 3……接触子、4……連結装置、 5……検出回路、17……突起、 18……テーパー孔、21……被測定物、 22……測定台、25……充電用電源、 28……FET型差動増幅器、 29……コンパレータ、30……放電調整回路。
図、第3図は従来例の縦断面図、第4図は他の従来例の
縦断面図、第5図は第4図の作用図面である。 1……ケーシング、2……センサ、 3……接触子、4……連結装置、 5……検出回路、17……突起、 18……テーパー孔、21……被測定物、 22……測定台、25……充電用電源、 28……FET型差動増幅器、 29……コンパレータ、30……放電調整回路。
Claims (5)
- 【請求項1】導電性被測定物21を絶縁状態で載置する
測定台22と、 その測定台22に設けた支持アームあるいは走行ガント
リに移動自在に取り付けられる導電性ケーシング1と、 そのケーシング1の端面より突出され、かつ、先端に導
電性の接触子3を有する接触針2と、 前記接触針2を前記ケーシング1に絶縁状態で、かつ、
前後・左右及び上下方向に弾性変形可能に支持する連結
装置4と、 前記接触子3とケーシング1とを充電する充電用電源2
5を有し、かつ、前記測定台22に載置された導電性被
測定物21に接触針2の接触子3が接触し、前記被測定
物21が帯電する際に流れる電荷の移動を検出し、検出
パルスを出力する検出回路5と、 前記連結装置4が弾性変形を生じたことをパルス出力に
より報知する報知手段とを備えた検知装置。 - 【請求項2】上記検出回路5が、オフセット調整回路の
設けられたFET差動増幅器28と、オペアンプ増幅器
を用いたコンパレータ29からなることを特徴とする特
許請求の範囲第1項に記載の検知装置。 - 【請求項3】上記接触子3と被測定物21とに蓄えられ
た電荷を、上記検出パルスが出力されると放電する放電
調整回路30を、上記検出回路5に備えたことを特徴と
する特許請求の範囲第1項に記載の検知装置。 - 【請求項4】上記報知手段を、上記ケーシング1内に、
上記接触針2と対向し、前記接触針2と電気的に接続さ
れ、かつ、導電性の弾性材により形成された突起17を
設け、その突起17が上記連結装置4の弾性変形によ
り、ケーシング1に当接して、短絡によるパルス出力を
出力するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第
1項に記載の検知装置。 - 【請求項5】上記ケーシング1内の上記突起17の対向
面に、テーパー孔18を設け、そのテーパー孔18の内
壁に、上記突起17が上記連結装置4の弾性変形によ
り、当接することを特徴とする特許請求の範囲第4項記
載の検知装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH4415/85A CH664216A5 (fr) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | Dispositif de palpage pour une machine a mesurer des pieces conductrices montees sur une table de mesure. |
CH4415/85-1 | 1985-10-14 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6293602A JPS6293602A (ja) | 1987-04-30 |
JPH0648166B2 true JPH0648166B2 (ja) | 1994-06-22 |
Family
ID=4275717
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61227099A Expired - Lifetime JPH0648166B2 (ja) | 1985-10-14 | 1986-09-24 | 検知装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4679332A (ja) |
EP (1) | EP0223970B1 (ja) |
JP (1) | JPH0648166B2 (ja) |
CH (1) | CH664216A5 (ja) |
DE (2) | DE3667848D1 (ja) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0765883B2 (ja) * | 1986-06-05 | 1995-07-19 | 宣夫 福久 | 無線送受信器を有する位置検出装置 |
CH672370A5 (ja) * | 1987-09-15 | 1989-11-15 | Tesa Sa | |
IT1213696B (it) * | 1987-10-09 | 1989-12-29 | Marposs Spa | Apparecchio per il controllo di dimensioni lineari di pezzi |
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