JPH0645236A - 荷電粒子ビーム描画方法 - Google Patents

荷電粒子ビーム描画方法

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JPH0645236A
JPH0645236A JP19525492A JP19525492A JPH0645236A JP H0645236 A JPH0645236 A JP H0645236A JP 19525492 A JP19525492 A JP 19525492A JP 19525492 A JP19525492 A JP 19525492A JP H0645236 A JPH0645236 A JP H0645236A
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JP
Japan
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pattern
resizing
data unit
minimum data
original
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Application number
JP19525492A
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English (en)
Inventor
Hirobumi Oki
博文 大木
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Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 最小データ単位の1/2のリサイズや、最小
データ単位の奇数倍のデータを偶数倍のデータとした
り、逆に、偶数倍のデータを奇数倍のデータにリサイズ
することができる荷電粒子ビーム描画方法を実現する。 【構成】 図4(a)の元パターンP0 に対しL/2の
リサイズを実行する場合、上下,左右の一方の辺のみ最
小データ単位Lによって拡大処理が行われる。図4
(b)は拡大されたパターンを示しており、実線が拡大
リサイズされたパターンP1 、点線が元パターンP0
ある。この実線の拡大されたパターンP1 の中心はC1
であり、点線の元パターンP0 の中心はC0 であるが、
拡大パターンの中心位置C1 をC0 に移動させれば、一
点鎖線で示すパターンP2 となり、点線の元パターンに
対しL/2リサイズされたパターンが得られることにな
る。なお、中心位置の移動は、X方向Y方向共にL/2
の距離の移動となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子ビームやイオンビ
ームを用いて微細なパターンの描画を行うようにした荷
電粒子ビーム描画方法に関し、特に、描画パターンデー
タのリサイズ処理を行うようにした荷電粒子ビーム描画
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】電子ビームやイオンビームを用いたパタ
ーン描画においては、予め用意されたパターンデータそ
のままのサイズでの描画のみならず、パターンサイズを
大きくしたり小さくしたりして描画を実行することが行
われている。このパターンサイズを変更する処理をリサ
イズ処理と称している。リサイズ処理を図1を用いて説
明する。図1(a)は元パターンであり、元パターンは
縦横の長さが最小データ単位Lの整数倍となっている。
この元パターンに対し、拡大のリサイズを行う場合に
は、元パターンの各4つの辺に対して最小データ単位L
が追加され、図1(b)の実線のようなパターンデータ
が作成される。なお、図中点線は元パターンを示す。ま
た、図1(a)の元パターンに対し、縮小のリサイズの
場合には、元パターンの各4つの辺に対して最小データ
単位Lが減らされ、図1(c)の実線のようなパターン
が作成される。図1の説明は、リサイズの単位が最小デ
ータ単位Lであったが、Lの整数倍によってリサイズを
行うこともできる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記したリサイズは、
最小データ単位であるLで行ったが、リサイズパターン
の上下,左右の各辺ごとに行われるため、指定したリサ
イズの値(L)の2倍のパターンサイズの拡大,縮小が
実行されることになる。リサイズの指定量は最小データ
単位の整数倍で行うことから、元パターンが最小データ
単位の奇数倍のデータはリサイズ後も奇数倍にしか変更
できず、また、偶数倍のデータは偶数倍にしか変更でき
ない。さらに、上下あるいは左右のトータルで最小デー
タ単位Lのリサイズ(L/2リサイズ処理)を行うこと
ができない。
【0004】本発明は、このような点に鑑みてなされた
もので、その目的は、最小データ単位の1/2のリサイ
ズや、最小データ単位の奇数倍のデータを偶数倍のデー
タとしたり、逆に、偶数倍のデータを奇数倍のデータに
リサイズすることができる荷電粒子ビーム描画方法を実
現するにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明に基づく荷電粒子
ビーム描画方法は、描画パターンデータに対してリサイ
ズ処理を行い、リサイズされたパターンデータに基づい
て荷電粒子ビームにより被描画材料への描画を行うよう
にした荷電粒子ビーム描画方法において、矩形パターン
データの最小データ単位の1/2単位のリサイズを行う
に際し、上下,左右のそれぞれの一方の辺について最小
データ単位分のリサイズを行い、リサイズされたパター
ンの中心座標を最小データ単位の1/2の距離移動させ
るようにしたことを特徴としている。
【0006】
【作用】本発明に基づく荷電粒子ビーム描画方法は、矩
形パターンデータの最小データ単位の1/2単位のリサ
イズを行うに際し、上下,左右のそれぞれの一方の辺に
ついて最小データ単位分のリサイズを行い、リサイズさ
れたパターンの中心座標を最小データ単位の1/2の距
離移動させる。
【0007】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳
細に説明する。図2は本発明に基づく方法を実施するた
めの電子ビーム描画システムの一例を示している。電子
銃1からの電子ビームは、電子レンズ2によってシリコ
ンウエハなどの被描画材料3上に集束される。材料3上
の電子ビームの照射位置は、偏向器4への偏向信号に応
じて変えられる。5は制御コンピュータであり、磁気テ
ープなどのメモリー6に記憶された元データを読みだ
し、任意のデータ変換を行い、変換後のデータをディス
クメモリー7に格納したり、描画システムの各構成要素
の制御を行う。ディスクメモリー7の描画パターンデー
タは、制御コンピュータ5によって読み出され、パター
ンジェネレータ8に転送される。パターンジェネレータ
8は転送されたパターンデータに基づいて電子ビームの
偏向信号を作成し、この偏向信号をDA変換器9,加算
器10,偏向増幅器11を介して偏向器4に供給する。
また、パターンジェネレータ8は、シフト信号発生回路
12にも信号を供給する。シフト信号発生回路12から
のシフト信号は、加算器10に供給される。このような
構成の動作を図3のフローチャートも参照して次に説明
する。
【0008】メモリー6に記憶されたパターンデータに
対し、必要なデータ変換が制御コンピュータ5によって
実行される。各データに対し、まず最小データ単位Lの
1/2単位でのパターンリサイズを行うか否かの判断が
実行される。NOの場合には従来からのL単位でのリサ
イズが実行される。このL単位のリサイズにおいては、
パターンの上下,左右の各辺に対しLの整数倍の拡大,
縮小が行われる。L/2単位でのリサイズを行うパター
ンデータについては、このリサイズが縮小リサイズか拡
大リサイズかを判別し、拡大リサイズに対しては+符号
をデータに付け、縮小リサイズについては−符号を付与
する。その後、パターンデータについてL/2単位での
リサイズが行われる。図4は拡大リサイズの場合を示し
ており、図4(a)は元パターンP0 である。図4
(a)の元パターンP0 に対しL/2のリサイズを実行
する場合、上下,左右の一方の辺のみ最小データ単位L
によって拡大処理が行われる。図4(b)は拡大された
パターンを示しており、実線が拡大リサイズされたパタ
ーンP1 、点線が元パターンP0 である。この実線の拡
大されたパターンP1 の中心はC1 であり、点線の元パ
ターンの中心はC0 であるが、拡大パターンの中心位置
1 をC0 に移動させれば、一点鎖線で示すパターンP
2 となり、点線の元パターンに対しL/2リサイズされ
たパターンが得られることになる。なお、中心位置の移
動は、X方向Y方向共にL/2の距離の移動となる。ま
た、この中心座標の移動は、後述するステップで実行さ
れる。
【0009】図5は最小データ単位のL/2単位での拡
大リサイズの他の例を示しており、この例では(3/
2)・Lの拡大リサイズが行われる。図5(a)は元パ
ターンP0 であり、この元パターンに対し、4つの辺
a,b,c,dのaとbについては最小データ単位Lに
よる拡大リサイズが施され、cとdについては最小デー
タ単位Lの2倍2Lによる拡大リサイズが施される。こ
のリサイズによるパターンは図5(b)の実線パターン
1 となる。なお、点線は元パターンP0 である。この
実線の拡大されたパターンP1 の中心はC1 であり、点
線の元パターンの中心はC0 であるが、拡大パターンP
1 の中心位置C1 をC0 に移動させれば、一点鎖線で示
すパターンP2 となり、点線の元パターンに対し(3/
2)・Lの拡大リサイズされたパターンが得られること
になる。
【0010】図6はL/2の縮小リサイズの場合を示し
ており、図6(a)は元パターンである。図6(a)の
元パターンP0 に対しL/2の縮小リサイズを実行する
場合、上下,左右の一方の辺のみ最小データ単位Lによ
って縮小処理が行われる。図6(b)は縮小されたパタ
ーンを示しており、実線が縮小リサイズされたパターン
1 、点線が元パターンP0 である。この実線の縮小さ
れたパターンP1 の中心はC1 であり、点線の元パター
ンP0 の中心はC0 であるが、拡大パターンの中心位置
1 をC0 に移動させれば、一点鎖線で示すパターンP
2 となり、点線の元パターンに対しL/2の縮小リサイ
ズされたパターンが得られることになる。
【0011】図7は(3/2)・Lの縮小リサイズの場
合を示しており、図7(a)は元パターンP0 である。
この元パターンに対し、4つの辺a,b,c,dのaと
bについては最小データ単位Lによる縮小リサイズが施
され、cとdについては最小データ単位Lの2倍2Lに
よる縮小リサイズが施される。このリサイズによるパタ
ーンは図7(b)の実線パターンP1 となる。なお、点
線は元パターンP0 である。この実線の縮小されたパタ
ーンP1 の中心はC1 であり、点線の元パターンP0
中心はC0 であるが、縮小パターンP1 の中心位置C1
をC0 に移動させれば、一点鎖線で示すパターンP2
なり、点線の元パターンP0 に対し(3/2)・Lの縮
小リサイズされたパターンが得られることになる。
【0012】通常のL単位でのリサイズ処理かL/2単
位でのリサイズ処理が行われた後、制御コンピュータ5
はリサイズ以外のデータ変換処理を実行する。データ変
換されたデータは、ディスクメモリ7に書き込まれる。
次に実際の描画動作が開始されると、制御コンピュータ
5はディスクメモリー7内のパターンデータを読みだ
し、パターンジェネレータ8に転送する。パターンジェ
ネレータ8ではパターンデータに応じて電子ビームの偏
向信号などを作成するが、さらに、各パターンデータに
ついてL/2単位でのリサイズ処理が行われたかどうか
の判断を行う。そのため、事前にL/2単位のリサイズ
処理を行うパターンデータについては、L/2単位リサ
イズのマークを付与しておくことが必要である。L/2
単位でのリサイズ処理が行われたパターンデータについ
ては、そのリサイズが+(拡大)リサイズか−(縮小)
リサイズかの判別を行う。+リサイズ処理が実行されて
いる場合には、パターンジェネレータ8は電子ビームを
+方向にシフトするシフト信号をシフト信号発生回路1
2から発生させる。また、−リサイズが実行されている
場合には、パターンジェネレータ8は電子ビームを−方
向にシフトするシフト信号をシフト信号発生回路12か
ら発生させる。DA変換器9によってアナログ信号に変
換された偏向信号とシフト信号とは、加算器10によっ
て加算され、その後、偏向器4に供給される。その結
果、電子ビームによってリサイズ処理に基づくパターン
描画が実行される。
【0013】以上本発明の実施例を説明したが、本発明
はこの実施例に限定されない。例えば、電子ビーム描画
装置のみならず、イオンビーム描画装置にも本発明を用
いることができる。また、リサイズの例として、最小デ
ータ単位Lの1/2,3/2リサイズを取り上げたが、
nを整数とした場合、n・L+(1/2)・Lのリサイ
ズ処理を行う場合にも本発明を適用することができる。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に基づく荷
電粒子ビーム描画方法は、矩形パターンデータの最小デ
ータ単位の1/2単位のリサイズを行うに際し、上下,
左右のそれぞれの一方の辺について最小データ単位分の
リサイズを行い、リサイズされたパターンの中心座標を
最小データ単位の1/2の距離移動させる最小データ単
位の1/2のリサイズや、最小データ単位の奇数倍のデ
ータを偶数倍のデータとしたり、逆に、偶数倍のデータ
を奇数倍のデータにリサイズすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来方式のリサイズを説明するための図であ
る。
【図2】本発明を実施するための電子ビーム描画システ
ムを示す図である。
【図3】本発明の一実施例のフローチャートを示す図で
ある。
【図4】最小データ単位の1/2の拡大リサイズ処理を
説明するための図である。
【図5】最小データ単位の3/2の拡大リサイズ処理を
説明するための図である。
【図6】最小データ単位の1/2の縮小リサイズ処理を
説明するための図である。
【図7】最小データ単位の3/2の縮小リサイズ処理を
説明するための図である。
【符号の説明】
1 電子銃 2 電子レンズ 3 材料 4 偏向器 5 制御コンピュータ 6 メモリー 7 ディスクメモリー 8 パターンジェネレータ 9 DA変換器 10 加算器 11 偏向増幅器 12 シフト信号発生回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 描画パターンデータに対してリサイズ処
    理を行い、リサイズされたパターンデータに基づいて荷
    電粒子ビームにより被描画材料への描画を行うようにし
    た荷電粒子ビーム描画方法において、矩形パターンデー
    タの最小データ単位の1/2単位のリサイズを行うに際
    し、上下,左右のそれぞれの一方の辺について最小デー
    タ単位分のリサイズを行い、リサイズされたパターンの
    中心座標を最小データ単位の1/2の距離移動させるよ
    うにした荷電粒子ビーム描画方法。
JP19525492A 1992-07-22 1992-07-22 荷電粒子ビーム描画方法 Withdrawn JPH0645236A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7966006B2 (en) 2003-10-03 2011-06-21 Kyocera Corporation Mobile phone having a non-telephone function and timing reset unit

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Effective date: 19991005