JPH0641133U - Substrate automatic processing equipment - Google Patents

Substrate automatic processing equipment

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JPH0641133U
JPH0641133U JP8196392U JP8196392U JPH0641133U JP H0641133 U JPH0641133 U JP H0641133U JP 8196392 U JP8196392 U JP 8196392U JP 8196392 U JP8196392 U JP 8196392U JP H0641133 U JPH0641133 U JP H0641133U
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板を処理槽内の処理液に浸潰して洗浄処理
を施す基板自動処理装置であって、基板に対する処理液
の付着を完全に防止した自動処理装置を提供すること。 【構成】 基板22を保持して処理槽を巡るべく搬送す
るための保持機構24をして、1組ずつにて基板22を
挟持し得る複数組の基板挟持部材72〜75、102〜
105を具備させ、基板22を処理液外に搬出する際に
は該各組の基板挟持部材が基板に対して非接触となるよ
うに交互に開閉動作を行わせ、上記の効果を得ている。
(57) [Summary] [Object] To provide an automatic processing apparatus for immersing a substrate in a processing solution in a processing tank and performing a cleaning process, wherein the processing solution is completely prevented from adhering to the substrate. thing. [Structure] A plurality of sets of substrate holding members 72-75, 102- capable of holding a substrate 22 and holding the substrate 22 to convey the substrate 22 around a processing tank by holding the substrate 22 by one set.
105 is provided, and when the substrate 22 is carried out of the processing liquid, the opening and closing operations are alternately performed so that the substrate holding members of each set do not come into contact with the substrate, and the above effects are obtained. .

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、シリコンウェハーやガラス基板等を複数枚まとめて処理槽内の処理 液中に浸漬して洗浄処理を施す基板自動処理装置に関する。 The present invention relates to an automatic substrate processing apparatus for collectively cleaning a plurality of silicon wafers, glass substrates, etc. by immersing them in a processing solution in a processing tank.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

従来、この種の基板自動処理装置として下記の構成のものがある。なお、この 従来の装置に関しては、例えば特開昭57−52138号公報において開示され ている。 Conventionally, this type of substrate automatic processing apparatus has the following configuration. This conventional device is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 57-52138.

【0003】 当該、基板自動処理装置においては、夫々異なる処理液が貯留された例えば3 つの処理槽を備えており、複数枚の基板をこれらを保持した保持機構と共に、搬 送手段によって該各処理槽内を順に巡る所定の経路に沿って搬送することが行わ れる。なお、各基板は、上記保持機構によって、その各々の主面同士が平行とな るように且つ各々が直立した状態にて一定間隔で整列して保持されるThe substrate automatic processing apparatus is provided with, for example, three processing tanks in which different processing liquids are stored, and a plurality of substrates are held together with a holding mechanism for holding them, and each processing is carried out by a carrying means. It is carried along a predetermined route that sequentially goes through the tank. The substrates are held by the holding mechanism so that the principal surfaces thereof are parallel to each other and are aligned upright at regular intervals.

【0004】 ところで、上述のような基板自動処理装置において、基板を処理槽外に搬出す る際に極くゆっくりと処理液から引き上げることが行われている。このようにす ると、処理液がその表面張力によって基板の引き上げに伴って基板から剥離する 状態となり、引き上げと同時に基板の乾燥が完了する。By the way, in the above-described substrate automatic processing apparatus, when the substrate is carried out of the processing bath, it is very slowly pulled out from the processing liquid. By doing so, the treatment liquid is in a state of being peeled off from the substrate as the substrate is pulled up due to the surface tension, and at the same time as the pulling up, the drying of the substrate is completed.

【0005】[0005]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

上記した従来の装置においては基板を処理液に浸漬する際に上記保持機構も処 理液に浸る故、該保持機構と基板との相互接触部に処理液が付着したまま基板の 引き上げが行われることとなり、このように基板に付着した処理液が染みとして 残留するという欠点がある。 In the conventional apparatus described above, when the substrate is immersed in the processing liquid, the holding mechanism is also immersed in the processing liquid. Therefore, the substrate is pulled up while the processing liquid is attached to the mutual contact portion between the holding mechanism and the substrate. As a result, the treatment liquid attached to the substrate remains as a stain.

【0006】 そこで、本考案は、上記従来技術の欠点に鑑みてなされたものであって、基板 に対する処理液の付着を完全に防止した基板自動処理装置を提供することを目的 とする。Therefore, the present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks of the prior art, and an object of the present invention is to provide an automatic substrate processing apparatus which completely prevents the processing liquid from adhering to the substrate.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

本考案は、主面同士が平行となるように且つ各々が直立した状態で保持機構に より一定間隔で整列して保持された複数枚の基板を所定経路に沿って搬送する搬 送手段を有し、前記基板を前記所定経路内で処理槽内に貯留された処理液により 浸漬洗浄を行う基板自動処理装置であって、前記保持機構は、前記搬送手段によ り搬送される基体部と、前記基体部に可動に取り付けられて1組ずつにて前記基 板を前記主面に平行な方向において挟持し得る複数組の基板挟持部材と、前記基 板挟持部材各々を前記組別に駆動し得る駆動手段とを有するように構成したもの である。 The present invention has a transporting means for transporting a plurality of substrates held along a predetermined path by a holding mechanism in a state where the main surfaces are parallel to each other and each of them is upright. An automatic substrate processing apparatus for immersing and cleaning the substrate with a processing liquid stored in a processing bath in the predetermined path, wherein the holding mechanism includes a base portion transferred by the transfer means, A plurality of sets of substrate holding members that are movably attached to the base portion and can hold the base plate in pairs in a direction parallel to the main surface, and each of the base plate holding members can be driven separately for each set. And a driving means.

【0008】[0008]

【実施例】【Example】

次に、本考案に係る基板自動処理装置の実施例について説明する。 Next, an embodiment of the automatic substrate processing apparatus according to the present invention will be described.

【0009】 図1及び図2に示すように、当該基板自動処理装置は、形鋼等より成るフレー ム1と、該フレーム1上に覆設されたパネル(参照符号は付さない)とにより、 全体として直方体状に形成された筐体3を備えている。As shown in FIGS. 1 and 2, the automatic substrate processing apparatus includes a frame 1 made of shaped steel or the like and a panel (not provided with a reference numeral) provided over the frame 1. The housing 3 is formed in a rectangular parallelepiped shape as a whole.

【0010】 図1に示すように、筐体3内には、基板供給手段8と、4つの処理槽9乃至1 2が順に配設されている。As shown in FIG. 1, a substrate supply means 8 and four processing tanks 9 to 12 are sequentially arranged in the housing 3.

【0011】 処理槽9内には、アンモニア水、過酸化水素水及び純水を混合して成り且つ所 定の温度に加熱した処理液9aが貯留されている。又、処理槽10及び12内に は、処理液として、加熱した純水であるHot純水(Hot deionize d water)10a及び12aが夫々貯留されており、処理槽11内には硫 酸及び過酸化水素水を混合して成り加熱された処理液11aが貯留されている。 又、処理槽9及び10の底部には、振動子15及び16が取り付けられている。 各振動子15、16は、筐体3内の所定位置に配設された超音波発振器(図示せ ず)により駆動され、両処理槽9及び10を励振する。In the treatment tank 9, a treatment liquid 9a, which is made by mixing ammonia water, hydrogen peroxide water and pure water and is heated to a predetermined temperature, is stored. In addition, hot deionized water (hot deionized water) 10a and 12a, which are heated pure water, are stored in the processing tanks 10 and 12, respectively. A heated treatment liquid 11a, which is formed by mixing hydrogen oxide water, is stored. Further, vibrators 15 and 16 are attached to the bottoms of the processing tanks 9 and 10. Each of the vibrators 15 and 16 is driven by an ultrasonic oscillator (not shown) arranged at a predetermined position in the housing 3 to excite both processing tanks 9 and 10.

【0012】 図1に示すように、処理槽10の下方には、該処理槽10内の処理液10aを 急速に排出するための排液手段18が設けられている。なお、他の処理槽9、1 1及び12からの排液は、該各処理槽に接続された排液チューブ(図示せず)を 通じて行われる。又、各処理槽9乃至13に供給されるべき各処理液を備蓄する 備蓄タンク20が処理槽11の下方に配設されており、該備蓄タンク20から図 示せぬ供給チューブを経て各処理槽に対して各種の処理液が供給される。As shown in FIG. 1, a drainage unit 18 for rapidly draining the processing liquid 10 a in the processing tank 10 is provided below the processing tank 10. The drainage from the other treatment tanks 9, 11 and 12 is performed through a drainage tube (not shown) connected to each treatment tank. Further, a stock tank 20 for stocking each processing liquid to be supplied to each of the processing tanks 9 to 13 is arranged below the processing tank 11, and each processing tank is provided from the stock tank 20 via a supply tube (not shown). Various processing liquids are supplied to.

【0013】 さて、当該基板自動処理装置は、シリコンウェハー若しくはガラス基板等の基 板22の洗浄から乾燥までを自動的に行うものであり、後述する一連の工程にて 一度に例えば50枚の基板22の洗浄及び乾燥を完了することができる。なお、 基板22は円形であり、その直径が約200m/mである。これら50枚の基板 22は、図1及び図2に示す保持機構24によって保持され、図2に示す搬送手 段25によって該保持機構24が所定経路に沿って搬送されることにより上記の 各処理槽を巡る。なお、保持機構24は、各基板22を該各基板の主面同士が平 行となるように、且つ各々が直立した状態にて一定間隔で整列して保持する。The substrate automatic processing apparatus automatically cleans and dries a substrate 22 such as a silicon wafer or a glass substrate. For example, 50 substrates are processed at a time in a series of steps described below. The washing and drying of 22 can be completed. The substrate 22 is circular and has a diameter of about 200 m / m. These 50 substrates 22 are held by the holding mechanism 24 shown in FIGS. 1 and 2, and the holding mechanism 24 is carried along a predetermined path by the carrying means 25 shown in FIG. Go around the tank. The holding mechanism 24 holds the substrates 22 so that the main surfaces of the substrates 22 are parallel to each other and is aligned at regular intervals in an upright state.

【0014】 図2に示すように、上記搬送手段25は、上述した各処理槽9乃至12の並ぶ 方向に沿って、すなわち水平方向において延在するレール27と、該レール27 に対してブラケット28を介して摺動自在に取り付けられた可動ベース29とを 有している。As shown in FIG. 2, the transfer means 25 includes a rail 27 extending along a direction in which the processing tanks 9 to 12 are arranged, that is, a horizontal direction, and a bracket 28 with respect to the rail 27. And a movable base 29 that is slidably attached via the.

【0015】 可動ベース29は、その上端部近傍にてレール27により吊支される状態にて 取り付けられており、該可動ベース29の下端部にはブラケット32を介して一 対のローラ33が設けられている。そして、これらローラ33は、筐体3の下部 に上記のレール27と平行に配設されたガイドプレート34を左右から挟んでい る。かかる構成によって、可動ベース29が円滑に移動することができる。The movable base 29 is mounted in a state of being suspended and supported by a rail 27 near the upper end thereof, and a pair of rollers 33 is provided on the lower end of the movable base 29 via a bracket 32. Has been. The rollers 33 sandwich a guide plate 34, which is disposed in the lower portion of the housing 3 in parallel with the rail 27, from the left and right. With this configuration, the movable base 29 can move smoothly.

【0016】 図示してはいないが、上記したレール27と平行に長尺のラックが固設されて いる。これに対して、可動ベース29上には、該ラックに噛合する歯車を含む減 速機構37と、該減速機構37にトルクを付与するモータ38とが取り付けられ ている。即ち、モータ38を正及び逆転させることによって可動ベース29がレ ール27に沿って往復動する。Although not shown, a long rack is fixed in parallel with the rail 27. On the other hand, on the movable base 29, a deceleration mechanism 37 including a gear that meshes with the rack and a motor 38 that applies a torque to the reduction mechanism 37 are attached. That is, the movable base 29 reciprocates along the rail 27 by rotating the motor 38 forward and backward.

【0017】 図2に示すように可動ベース29には、可動ポール45が上下方向において往 復動自在に取り付けられている。この可動ポール45と平行に長尺のウォーム4 6が配置されており、且つ、可動ベース29に対して回転自在に取り付けられて いる。そして、ウォーム46に螺合するナット(図示せず)が設けられており、 該ナットが可動ポール45に対して固着されている。As shown in FIG. 2, a movable pole 45 is attached to the movable base 29 so as to be movable back and forth in the vertical direction. A long worm 46 is arranged in parallel with the movable pole 45, and is rotatably attached to the movable base 29. A nut (not shown) that is screwed into the worm 46 is provided, and the nut is fixed to the movable pole 45.

【0018】 また、可動ベース29上にはギアドモータ(図示せず)が設けられており、該 ギアドモータが正及び逆回転することによりウォーム46が正及び逆回転して、 可動ポール45が昇降動作を行うように構成されている。A geared motor (not shown) is provided on the movable base 29. When the geared motor rotates forward and backward, the worm 46 rotates forward and backward, and the movable pole 45 moves up and down. Is configured to do.

【0019】 前述したレール27と、可動ベース29と、ローラ33と、ガイドプレート3 4と、ラック(図示せず)と、減速機構37と、モータ38と、可動ポール45 と、ウォーム46と、ギアドモータ(図示せず)と、これらの周辺の関連部材と によって、前述した保持機構24を、その保持した基板22と共に各処理槽9乃 至12内の処理液による浸漬位置を経て該各処理槽外に至る所定経路(後述)に 沿って搬送する搬送手段25が構成されている。The rail 27, the movable base 29, the roller 33, the guide plate 34, the rack (not shown), the reduction mechanism 37, the motor 38, the movable pole 45, the worm 46, and By the geared motor (not shown) and related members around them, the holding mechanism 24 described above is passed through the dipping position of the holding tank 24 and the processing liquid in the processing tanks 9 to 12 and the processing tanks. Conveying means 25 for conveying along a predetermined path (described later) to the outside is configured.

【0020】 次いで、基板22を保持して該搬送手段25により搬送される保持機構24に ついて詳述する。Next, the holding mechanism 24 that holds the substrate 22 and is carried by the carrying means 25 will be described in detail.

【0021】 図2乃至図5から明らかなように、この保持機構24は、夫々直方体状に形成 されて上記可動ポール45の上端部に上下に重ねられた状態にて固設された2つ の基体部57及び58を有している。As is clear from FIGS. 2 to 5, the holding mechanism 24 is formed into a rectangular parallelepiped shape and is fixed to the upper end portion of the movable pole 45 in a vertically stacked state. It has bases 57 and 58.

【0022】 上方に配置された基体部57には、2本の直線状かつ円柱状のアーム部材59 及び60がその一端部にて片持梁状に取り付けられ、該基体部57の側方に互い に平行に伸長している。図6及び図7に示すように、基体部57は、底板57a と、側板57bとから成る。そして、該図から明らかなように、基体部57内に は2つずつの軸受62a及び62bが設けられており、両アーム部材59及び6 0はこれらの軸受によってその軸中心を中心として回転自在に支持されている。Two linear and columnar arm members 59 and 60 are attached to the upper base portion 57 at one end thereof in a cantilevered manner, and the arm members 59 and 60 are attached to the side portion of the base portion 57. They extend parallel to each other. As shown in FIGS. 6 and 7, the base 57 includes a bottom plate 57a and side plates 57b. Further, as is apparent from the figure, two bearings 62a and 62b are provided in the base portion 57, and both arm members 59 and 60 are rotatable about their shaft centers by these bearings. Supported by.

【0023】 図4及び図5に示すように、上記した両アーム部材59及び60の各々の自由 端部には、ハンガー部材63及び64が夫々取付ブロック65を介して垂下状態 にて取り付けられている。一方のハンガー部材63は、板状の中間部材63aと 、該中間部材63aの下端部に固着された水平プレート63bと、該水平プレー ト63bの下面に取り付けられた例えば3本の鉛直プレート63cとから成る。 また、他方のハンガー部材64についても、これらと同様の、中間部材64a、 水平プレート64b及び鉛直プレート64cとから形成されている。なお、図3 にも示すように、取付ブロック65は、互いに各アーム部材59及び60を挟む ように形成された2つの分割体65b及び65cと、該両分割体を締結するボル ト及びナットなどの締結部材(図示せず)などとから成る。As shown in FIGS. 4 and 5, hanger members 63 and 64 are attached to the free ends of the arm members 59 and 60, respectively, via attachment blocks 65 in a suspended state. There is. One hanger member 63 includes a plate-shaped intermediate member 63a, a horizontal plate 63b fixed to the lower end of the intermediate member 63a, and, for example, three vertical plates 63c attached to the lower surface of the horizontal plate 63b. Consists of. The other hanger member 64 is also formed of an intermediate member 64a, a horizontal plate 64b, and a vertical plate 64c, which are similar to these. As shown in FIG. 3, the mounting block 65 includes two divided bodies 65b and 65c formed so as to sandwich the arm members 59 and 60, bolts and nuts for fastening the divided bodies. Fastening member (not shown) and the like.

【0024】 また、両アーム部材59及び60の他端部、すなわち先端部には、該両先端部 に枢着されて該先端部同士を互いに連結させる連結手段70が設けられている。 この連結手段70を設けたことにより、2本のアーム部材59及び60の各先端 同士の離間若しくは近接し過ぎが防止される。At the other end of each of the arm members 59 and 60, that is, at the tip end, there is provided a connecting means 70 that is pivotally attached to the tip end and connects the tip end portions to each other. By providing the connecting means 70, it is possible to prevent the tips of the two arm members 59 and 60 from being separated or too close to each other.

【0025】 図4及び図5に示すように、上述した両ハンガー部材63及び64の構成部材 である鉛直プレート63c、64cの下端部及びその近傍には、一方の鉛直プレ ート63cにつき2本、他方の鉛直プレート64cについて2本の、合計4本の 略円柱状の基板挟持部材72〜75が小ブラケット72a〜75aを介して取り 付けられている。これらの基板挟持部材72〜75は、2本ずつ(72と74並 びに73と75)を1組としてその1組ずつにて基板22を該基板22の主面に 平行な方向において挟持する。As shown in FIGS. 4 and 5, two vertical plates 63c are provided at the lower ends of the vertical plates 63c and 64c, which are the constituent members of the above-mentioned hanger members 63 and 64, and in the vicinity thereof. A total of four substantially columnar substrate holding members 72 to 75 are attached to the other vertical plate 64c via the small brackets 72a to 75a. These substrate holding members 72 to 75 hold two substrates each (72 and 74 and 73 and 75) as a set to sandwich the substrate 22 in a direction parallel to the main surface of the substrate 22.

【0026】 上述したアーム部材59、60、ハンガー部材63、64、取付ブロック65 及びこれらに関連する周辺の関連部材は、上記各基板挟持部材72乃至75を基 体部57に対して可動に支持する手段を構成し、これらを支持手段と総称する。The arm members 59 and 60, the hanger members 63 and 64, the mounting block 65, and related members related thereto as described above movably support the substrate holding members 72 to 75 with respect to the base portion 57. Means for constructing, and collectively referred to as supporting means.

【0027】 ここで、各基板挟持部材72〜75自体の構成を詳述する。なお、これら基板 挟持部材72〜75は夫々同形状である故、代表として基板挟持部材72につい て詳述する。Here, the structure of each substrate holding member 72 to 75 itself will be described in detail. Since the substrate holding members 72 to 75 have the same shape, the substrate holding member 72 will be described in detail as a representative.

【0028】 図8及び図9に示すように、基板挟持部材72は、前述もしたように、全体と して略円柱状に形成されている。そして、基板挟持部材72には、各々基板22 の外周部分が係合し得る保持溝72bが例えば50条、等しいピッチにて並設さ れている。なお、これら各保持溝72bの断面形状はV字状となっている。そし て、基板挟持部材72は、該各保持溝72bが並ぶ方向に対して垂直な断面形状 が円形となっている。また、図9から明らかなように、各保持溝72bは、基板 挟持部材72の一部分を切り欠いた形態にて形成されており、該各保持溝72b の底面はこれに係合する基板22の半径(約100m/m)と等しい曲率半径を 有している。As shown in FIGS. 8 and 9, the substrate holding member 72 is formed in a substantially columnar shape as a whole, as described above. The board holding member 72 is provided with holding grooves 72b which can be engaged with the outer peripheral portion of the board 22 and are arranged in parallel at, for example, 50 rows. The holding groove 72b has a V-shaped cross section. The substrate holding member 72 has a circular cross section perpendicular to the direction in which the holding grooves 72b are arranged. Further, as is apparent from FIG. 9, each holding groove 72b is formed by cutting out a part of the substrate holding member 72, and the bottom surface of each holding groove 72b of the substrate 22 engaged with this. It has a radius of curvature equal to the radius (about 100 m / m).

【0029】 図6及び図7に示すように、保持機構24の構成部材である基体部57内に、 ソレノイド78が設けられている。このソレノイド78の出力軸78aは、前述 した2本のアーム部材59及び60に対して、リンク機構80を介して連結され ている。このリンク機構80は、夫々アーム部材59及び60に対して一端部に て嵌着した2本のリンク部材80a及び80bと、該両リンク部材の他端部同士 を互いに枢着せしめると共に上記出力軸78aの上端に固設された小ブラケット 78bに対して枢着したピン80cとから成る。なお、両リンク部材80a及び 80bは各々、両アーム部材59、60に対して止めピン80dにより回り止め されている。また、両アーム部材59及び60を枢支する各軸受62a及び62 bと上記の両リンク部材80a、80bとの間には、環状のスペーサ62cが介 装されている。As shown in FIGS. 6 and 7, a solenoid 78 is provided in the base portion 57 that is a component of the holding mechanism 24. The output shaft 78a of the solenoid 78 is connected to the above-mentioned two arm members 59 and 60 via a link mechanism 80. The link mechanism 80 has two link members 80a and 80b fitted at one end to the arm members 59 and 60, respectively, and the other ends of both link members are pivotally connected to each other, and the output shaft is It consists of a pin 80c pivotally attached to a small bracket 78b fixed to the upper end of 78a. The link members 80a and 80b are respectively locked to the arm members 59 and 60 by a lock pin 80d. An annular spacer 62c is provided between the bearings 62a and 62b pivotally supporting the arm members 59 and 60 and the link members 80a and 80b.

【0030】 すなわち、ソレノイド78が作動及び停止することによって、両アーム部材5 9及び60がリンク機構80を介して回転せしめられて各基板挟持部材72〜7 5による各基板22の挟持及びその解除動作がなされるように構成されているの である。That is, when the solenoid 78 is operated and stopped, both arm members 59 and 60 are rotated through the link mechanism 80, and the board holding members 72 to 75 hold and release the board 22. It is configured to operate.

【0031】 上記したソレノイド78と、リンク機構80とによって、上記各基板挟持部材 72〜75に駆動力を付与する駆動力付与手段が構成されている。The solenoid 78 and the link mechanism 80 constitute a driving force applying means for applying a driving force to the board holding members 72 to 75.

【0032】 一方、図2、図4及び図5に示すように、上記アーム部材59、60を保持し た基体部57の下方に位置する他の基体部58にも、他の2本の直線状かつ円柱 状のアーム部材89及び90がその一端部にて片持梁状に取り付けられ、上記の アーム部材59、60と平行に該基体部58の側方に伸長している。該両アーム 部材59、60は、基体部58内に設けられた軸受(図示せず)によってその軸 中心を中心として回転自在に支持されている。On the other hand, as shown in FIGS. 2, 4 and 5, the other two straight lines are also attached to the other base portion 58 below the base portion 57 holding the arm members 59 and 60. -Shaped and columnar arm members 89 and 90 are attached in a cantilever shape at one end thereof, and extend laterally of the base portion 58 in parallel with the arm members 59 and 60. Both arm members 59 and 60 are supported by bearings (not shown) provided in the base portion 58 so as to be rotatable about their axial centers.

【0033】 図4及び図5に示すように、上記した両アーム部材89及び90の各々の自由 端部には、ハンガー部材93及び94が夫々取り付けブロック95を介して垂下 状態にて取り付けられている。ハンガー部材93は、矩形板状の中間部材93a と、コの字状に形成されて該中間部材93aの下端部に固着された枠部材93b とから成り、他方のハンガー部材94は、矩形板状の中間部材94aと、コの字 状の枠部材94bとから成る。なお、取付ブロック95は、互いに各アーム部材 89及び90を挟むように形成された2つの分割体95b及び95cと、該両分 割体を締結するボルト及びナットなどの締結部材(図示せず)などとから成る。As shown in FIGS. 4 and 5, hanger members 93 and 94 are attached to the free ends of the arm members 89 and 90, respectively, via attachment blocks 95 in a suspended state. There is. The hanger member 93 is composed of a rectangular plate-shaped intermediate member 93a and a frame member 93b formed in a U shape and fixed to the lower end of the intermediate member 93a, and the other hanger member 94 is a rectangular plate-shaped member. And an U-shaped frame member 94b. The mounting block 95 includes two split bodies 95b and 95c formed to sandwich the arm members 89 and 90 from each other, and fastening members (not shown) such as bolts and nuts that fasten the split bodies. And so on.

【0034】 なお、両アーム部材89及び90の他端部、すなわち先端部には、該両先端部 に枢着されて該先端部同士を互いに連結させる連結手段100が設けられている 。この連結手段100を設けたことにより、2本のアーム部材89及び90の各 先端同士の離間若しくは近接し過ぎが防止される。The other end of each of the arm members 89 and 90, that is, the tip portion, is provided with a connecting means 100 that is pivotally attached to the both tip portions and connects the tip portions to each other. By providing the connecting means 100, the tips of the two arm members 89 and 90 are prevented from being separated from each other or too close to each other.

【0035】 図4及び図5に示すように、上記した両ハンガー部材93及び94の構成部材 である枠部材93b、94bの下端部及びその近傍には、一方の枠部材93bに ついて2本、他方の枠部材94bにつき2本の、合計4本の略円柱状の基板挟持 部材102〜105が取り付けられている。これらの基板挟持部材102〜10 5についても、2本ずつ(102と104並びに103と105)を1組として その1組ずつにて基板22を該基板22の主面に平行な方向において挟持する。 なお、これらの基板挟持部材102〜105に関しては、前述した他の4本の基 板挟持部材72〜75と同様の形状及び寸法を有している故、その詳しい説明は 省略する。As shown in FIGS. 4 and 5, at the lower end portions of the frame members 93b and 94b, which are the constituent members of the hanger members 93 and 94 described above, and in the vicinity thereof, two frame members 93b are provided. Substantially columnar substrate holding members 102 to 105, which are four in total, are attached to each of the other frame members 94b. Also with respect to these substrate clamping members 102 to 105, two substrates (102 and 104 and 103 and 105) are paired and the substrate 22 is sandwiched by each pair in a direction parallel to the main surface of the substrate 22. . The substrate holding members 102 to 105 have the same shape and dimensions as the other four substrate holding members 72 to 75 described above, and therefore detailed description thereof will be omitted.

【0036】 上記したアーム部材89及び90と、ハンガー部材93、94と、取付ブロッ ク95と、これらに関連する周辺の関連部材とにより、上記各基板挟持部材10 2〜105を基体部58に対して可動に支持する支持手段が構成されている。ま た、基体部58内にはこれら基板挟持部材102〜105に対して駆動力を付与 する駆動力付与手段(図示せず)が設けられている。該駆動力付与手段は、前述 した他の基板挟持部材72〜75の駆動用として基体部57内に設けられた駆動 力付与手段(ソレノイド78及びリンク機構80)と同様に構成されている。こ れら両駆動力付与手段と、該各駆動力付与手段の作動制御を司る制御回路(図示 せず)とによって、各基板挟持部材72〜75並びに102〜105をして各基 板22の挟持及び解除を行わしめるべく駆動する駆動手段が構成されている。明 らかなように、この駆動手段は、該各基板挟持部材などを吊支したアーム部材5 9、60、89及び90にトルクを付与してこれらを回転させることを行う。By the arm members 89 and 90, the hanger members 93 and 94, the mounting block 95, and the peripheral related members related to these, the above-mentioned board holding members 102 to 105 are attached to the base portion 58. Supporting means for movably supporting it is configured. In addition, a drive force applying means (not shown) for applying a drive force to the substrate holding members 102 to 105 is provided in the base portion 58. The driving force applying means is configured in the same manner as the driving force applying means (solenoid 78 and link mechanism 80) provided in the base portion 57 for driving the other substrate holding members 72 to 75 described above. By using both of these driving force applying means and a control circuit (not shown) that controls the operation of each driving force applying means, the respective substrate holding members 72 to 75 and 102 to 105 are formed. A driving unit is configured to be driven so as to perform the clamping and releasing. As is apparent, this driving means applies torque to the arm members 59, 60, 89, and 90 which suspend and support the substrate holding members, etc., to rotate them.

【0037】 前述したように、当該基板自動処理装置においては、2本ずつ(72と74、 73と75、102と104、103と105)を1組としてこの1組ずつにて 各基板22を挟持することが出来る複数組、この場合4組の基板挟持部材を装備 しているが、上記駆動手段は、これらを組別に駆動し得る。また、これらの基板 挟持部材は上記の組毎に上下方向において所定間隙を隔てて並べて配置されてお り、後述するように、上記駆動手段は各基板22を各処理槽9〜12外に搬出す る際に該組各々の基板挟持部材を上方のものから下方に向って順に作動させる。 各基板挟持部材をこのような形態にて作動させることにより、各半導体基板22 を処理槽外に搬出するときに各基板挟持部材72〜75、102〜105とこれ らにより保持された各基板22との間に処理液が付着することが防止される。As described above, in the substrate automatic processing apparatus, two substrates (72 and 74, 73 and 75, 102 and 104, 103 and 105) are set as one set, and each substrate 22 is set by one set. Although a plurality of sets of substrate sandwiching members capable of sandwiching, in this case, four sets of substrate sandwiching members are provided, the drive means can drive these separately. Further, these substrate holding members are arranged side by side with a predetermined gap in the vertical direction for each of the above groups, and as will be described later, the driving means carries out each substrate 22 to the outside of each processing tank 9-12. In doing so, the substrate holding members of each of the groups are operated in order from the upper one to the lower one. By operating each substrate holding member in such a form, when each semiconductor substrate 22 is carried out of the processing bath, each substrate holding member 72 to 75, 102 to 105 and each substrate 22 held by them. It is possible to prevent the processing liquid from being attached to

【0038】 続いて、上記した構成の基板自動処理装置の動作について簡単に説明する。な お、以下の動作は、マイクロコンピュータ等より成る制御回路(図示せず)によ り制御されて行われる。Next, the operation of the substrate automatic processing apparatus having the above configuration will be briefly described. The following operation is performed under the control of a control circuit (not shown) including a microcomputer and the like.

【0039】 まず、図示しないロボットあるいは人手によって、図1に示す基板供給手段8 上に、基板22を50枚収容した箱すなわちキャリア(図示せず)が載置される 。なお、このキャリア内の各基板22は、その主面同士が平行となるように、か つ各々が直立した状態にて一定間隔で整列されている。First, a box or carrier (not shown) accommodating 50 substrates 22 is placed on the substrate supply means 8 shown in FIG. 1 by a robot or a human hand not shown. The substrates 22 in the carrier are arranged at regular intervals in such a manner that the principal surfaces thereof are parallel to each other and the substrates 22 are upright.

【0040】 基板供給手段8上にキャリアが載せられると、該基板供給手段8が作動する。 これによって、キャリア内に収容されている50枚の基板22は、持ち上げられ るようにして該キャリアの上方に押し出され、保持機構24による保持可能位置 に持ち来される。このとき、保持機構24はキャリアの直上にて待機している。When the carrier is placed on the substrate supply means 8, the substrate supply means 8 operates. As a result, the 50 substrates 22 accommodated in the carrier are lifted and pushed out above the carrier, and brought to a position where the holding mechanism 24 can hold them. At this time, the holding mechanism 24 stands by immediately above the carrier.

【0041】 この状態で、基板挟持部材72〜75並びに102〜105が作動せられ、各 基板22が挟持される。In this state, the board holding members 72 to 75 and 102 to 105 are operated to hold each board 22.

【0042】 これに続き、図2に示すモータ38及びギアドモータ(図示せず)が適宜回転 せられて可動ベース29の水平移動と可動ポール45の昇降動作とが行われ、各 基板22はこれを保持した保持機構24と共に、図1に示す経路Z3 →X6 →Z 4 に沿って搬送され、処理槽9内の基板受け台85(他の処理槽10〜12内に も設けられている)上に載置され、該処理槽9内に貯留された処理液9aに浸漬 される。そして、保持機構24による各基板22の保持状態が解除され、処理液 9aによる各基板22に対する処理、すなわち洗浄が施される。なお、この洗浄 時に、該処理槽9の下部に取り付けられた振動子15が作動せられて該処理槽9 と共に内部の処理液9aが励振され、洗浄が効果的に行われる。Subsequently, the motor 38 and the geared motor (not shown) shown in FIG. 2 are appropriately rotated to horizontally move the movable base 29 and move the movable pole 45 up and down. With the holding mechanism 24 held, the path Z shown in FIG.3→ X6→ Z Four Along the substrate pedestal 85 (which is also provided in the other processing baths 10 to 12) in the processing bath 9 and is stored in the processing bath 9a. It is immersed. Then, the holding state of each substrate 22 by the holding mechanism 24 is released, and the processing of each substrate 22 by the processing liquid 9a, that is, the cleaning is performed. During this cleaning, the vibrator 15 attached to the lower portion of the processing tank 9 is activated to excite the processing liquid 9a inside the processing tank 9 and the cleaning is effectively performed.

【0043】 なお、各処理槽9〜12内に設けられた基板受け台85は、上記保持機構24 により保持された各基板22の整列方向において延在しており、該各基板22を 受けてこれらを整列状態を維持して支持する。The substrate pedestal 85 provided in each of the processing tanks 9 to 12 extends in the alignment direction of the substrates 22 held by the holding mechanism 24 and receives the substrates 22. These are supported while maintaining an aligned state.

【0044】 上記の処理槽9における洗浄作業が終了すると、保持機構24は再び各基板2 2を保持する。続いて、各基板22は、上述と同様にして図1に示す経路Z3 → X7 →Z4 に沿って搬送され、処理槽10内の基板受け台85上に載置されて処 理液10aによる洗浄が施される。この洗浄中、該処理槽10に取り付けられた 振動子16が作動する。When the cleaning operation in the processing bath 9 is completed, the holding mechanism 24 holds each substrate 22 again. Then, each substrate 22 is transported along the path Z 3 → X 7 → Z 4 shown in FIG. 1 in the same manner as described above, and is placed on the substrate pedestal 85 in the processing tank 10 to process the treatment liquid. Cleaning with 10a is performed. During this cleaning, the vibrator 16 attached to the processing tank 10 operates.

【0045】 その後、各基板22は、図1に示す経路Z3 →X8 →Z4 と、これに続く経路 Z3 →X9 →Z4 を順次辿って搬送され、各処理槽11及び12の処理液11a 及び12aにより洗浄される。斯くして各基板の洗浄を完了する。この後、保持 機構24は、これら基板を残して図1に示す経路Z3 →X10→Z4 を経て再び基 板供給手段8の直上の待機位置に戻される。After that, each substrate 22 is conveyed by sequentially following the path Z 3 → X 8 → Z 4 shown in FIG. 1 and the path Z 3 → X 9 → Z 4 following the path Z 3 , → X 8 → Z 4, and the processing tanks 11 and 12 are processed. It is washed with the processing liquids 11a and 12a. Thus, the cleaning of each substrate is completed. After that, the holding mechanism 24 is returned to the standby position immediately above the substrate supply means 8 again through the path Z 3 → X 10 → Z 4 shown in FIG.

【0046】 以下、上記した一連の動作が繰り返され、基板供給手段8により順次供給され る多数の基板について洗浄が行われる。After that, the series of operations described above is repeated, and a large number of substrates sequentially supplied by the substrate supply means 8 are cleaned.

【0047】 ここで、上記した各処理槽9〜12内において処理された基板22を保持機構 24が保持して該処理槽外に搬出する際の動作について詳述する。但し、ここで 説明する搬出時の動作は各処理槽9〜12において同様に行われる故、処理槽1 1における動作を例にとって説明する。Here, the operation when the substrate 22 processed in each of the processing tanks 9 to 12 is held by the holding mechanism 24 and carried out of the processing tank will be described in detail. However, since the operation at the time of carrying out described here is similarly performed in each of the processing tanks 9 to 12, the operation in the processing tank 11 will be described as an example.

【0048】 各基板22の搬出に際し、保持機構24はその具備した4組すなわち8本の基 板挟持部材72〜75、102〜105の全てによって該基板22を保持する。 そして、可動ポール45の上昇によって極くゆっくりとした所定の速度にて上方 に引き上げられる。このようにゆっくりと基板22を引き上げることによって、 処理液がその表面張力により基板22の引き上げに伴って基板22から剥離する 状態となり、引き上げと同時に基板22の乾燥が完了する。When carrying out each substrate 22, the holding mechanism 24 holds the substrate 22 by all of the four sets, that is, the eight substrate holding members 72 to 75 and 102 to 105, which the holding mechanism 24 has. Then, as the movable pole 45 rises, it is pulled upward at an extremely slow predetermined speed. By slowly pulling up the substrate 22 in this way, the treatment liquid is brought into a state of being peeled off from the substrate 22 as the substrate 22 is pulled up due to its surface tension, and at the same time as the pulling up, the drying of the substrate 22 is completed.

【0049】 この上昇動作に伴い、図5から明らかなように、まず、上下に4組並んだ各基 板挟持部材のうち最上方に位置する1組の基板挟持部材103及び105が当該 処理槽11内の処理液11aの液面位置111(一点鎖線で示す:この液面位置 は保持機構24との相対位置を示すものであって実際は変化することがなく、便 宜上、保持機構24を固定例として液面位置が下がるように示すことによって該 保持機構24の上昇動作を表している。以下、参照符号112乃至114にて示 す液面位置についても同様であり、これらはすべて同じ液面位置を表わす)の近 傍に達すると、これらの基板挟持部材103、105が挟持状態を解除され、基 板22から離間する。但し、図5においては、図の複雑化を避けるため、一方の 基板挟持部材103についてのみ、基板22から離間した状態を示すに留める。 また、このとき、上から3組目の基板挟持部材102及び104についても、上 記1組目の基板挟持部材103、105とハンガー部材93、94を介して一体 的に結合している故、基板22から離間する。With this ascending operation, as is apparent from FIG. 5, first, one set of the substrate holding members 103 and 105 located at the uppermost position among the four substrate holding members arranged in the upper and lower sides is processed by the processing tank. The liquid level position 111 of the treatment liquid 11a in 11 (indicated by a one-dot chain line: this liquid level position indicates a relative position with respect to the holding mechanism 24 and does not actually change. As a fixed example, the liquid level position is shown to be lowered to indicate the raising operation of the holding mechanism 24. The same applies to liquid level positions denoted by reference numerals 112 to 114, and these are all the same liquid level. (Representing the surface position), the substrate holding members 103 and 105 are released from the holding state and separated from the base plate 22. However, in FIG. 5, in order to avoid complication of the drawing, only one substrate holding member 103 is shown as being separated from the substrate 22. In addition, at this time, the third pair of substrate holding members 102 and 104 from the top are also integrally connected to the first pair of substrate holding members 103 and 105 via the hanger members 93 and 94. Separated from the substrate 22.

【0050】 上記の状態を維持しつつ上昇動作が行われ、上記1組目の基板挟持部材103 、105が各基板22から離れたまま液面位置111より上方に達し、しかも上 から2組目の基板挟持部材73及び75が参照符号112で示す液面位置の近傍 に位置すると、該1組目の基板挟持部材103、105が3組目の基板挟持部材 102、104と共に再び挟持状態となされ、この2組目の基板挟持部材73、 75が挟持状態を解除されて基板22から離間する。このとき、上から4組目す なわち最下段の組の基板挟持部材72、74に関しても、2組目の基板挟持部材 73、75とハンガー部材63、64を介して一体的に結合していることから、 同時に基板22から離間する。The ascending operation is performed while maintaining the above state, the first set of substrate holding members 103, 105 reach above the liquid level position 111 while being separated from each substrate 22, and the second set from the top. When the substrate clamping members 73 and 75 of No. 1 are located in the vicinity of the liquid surface position indicated by reference numeral 112, the substrate clamping members 103 and 105 of the first set are again clamped together with the substrate clamping members 102 and 104 of the third set. The second set of substrate holding members 73 and 75 are released from the holding state and separated from the substrate 22. At this time, the fourth set from the top, that is, the substrate holding members 72, 74 in the lowermost set, are also integrally connected via the second set of substrate holding members 73, 75 and the hanger members 63, 64. Therefore, it is separated from the substrate 22 at the same time.

【0051】 上記の状態のまま上昇動作が設けられ、上記2組目の基板挟持部材73、75 が各基板22から離間した状態にて液面位置112の上方に至り、しかも上から 3組目の基板挟持部材102、104が参照符号113にて示す液面位置の近傍 に達すると、該2組目の基板挟持部材73、75が4組目の基板挟持部材72、 74と共に挟持状態となされ、3組目の基板挟持部材102、104は1組目の 基板挟持部材103、105と共に挟持状態を解除されて基板22より離間する 。In the state where the ascending operation is provided in the above state, the substrate clamping members 73, 75 of the second set reach above the liquid surface position 112 in a state of being separated from each substrate 22, and the third set from the top. When the substrate clamping members 102, 104 of No. 2 reach the vicinity of the liquid surface position indicated by reference numeral 113, the second pair of substrate clamping members 73, 75 are clamped together with the fourth group of substrate clamping members 72, 74. The third set of substrate holding members 102, 104 is released from the substrate 22 by releasing the holding state together with the first set of substrate holding members 103, 105.

【0052】 そして、上昇動作が続けられて3組目の基板挟持部材102、104が各基板 22から離れたまま液面位置113の上方に達し、4組目の基板挟持部材72、 74が参照符号114で示す液面位置の近傍に達すると、3組目の基板挟持部材 102、104が1組目の基板挟持部材103、105と共に挟持状態とされ、 4組目の基板挟持部材72、74が2組目の基板挟持部材73、75と共に挟持 状態を解除されて基板22から離間する。Then, the ascending operation is continued and the third set of substrate holding members 102, 104 reaches above the liquid surface position 113 while being separated from each substrate 22, and the fourth set of substrate holding members 72, 74 is referred to. When reaching the vicinity of the liquid surface position indicated by reference numeral 114, the third set of substrate holding members 102, 104 is brought into a holding state together with the first set of substrate holding members 103, 105, and the fourth set of substrate holding members 72, 74. Is released from the substrate 22 by releasing the sandwiched state together with the second set of substrate sandwiching members 73 and 75.

【0053】 この後、更に上昇動作が続けられ、この4組目の基板挟持部材72、74が基 板22から離れた状態を保って液面位置114の上方へ達すると、該4組目の基 板挟持部材72、74及び2組目の基板挟持部材73、75の挟持動作が行われ 、各基板22は1〜4組の全ての基板挟持部材によって保持される。以下、この 基板22は処理槽11外へと搬送される。After that, the ascending operation is further continued, and when the fourth pair of substrate holding members 72 and 74 reach above the liquid surface position 114 while keeping the state of being separated from the base plate 22, the fourth pair of substrates are held. The board holding members 72, 74 and the second set of board holding members 73, 75 are held, and each board 22 is held by all of the first to fourth sets of board holding members. Thereafter, the substrate 22 is transported to the outside of the processing bath 11.

【0054】 上記のように、基板22を処理槽外へ搬出する際に各組の基板挟持部材の挟持 動作及びその解除動作を適宜行わせることによって、各基板挟持部材72〜75 、102〜105は処理液から出るときには基板22に対して常に離間しており 、該各基板挟持部材と基板22との間、特に該各基板挟持部材に形成された保持 溝内に処理液が付着することがほとんどない。As described above, when the substrates 22 are carried out of the processing bath, the substrate holding members 72 to 75 and 102 to 105 are held by appropriately performing the holding operation and the releasing operation of each set of the substrate holding members. Is always separated from the substrate 22 when it comes out of the processing liquid, and the processing liquid may adhere between the substrate holding member and the substrate 22, particularly in the holding groove formed in each substrate holding member. rare.

【0055】 上記のようにして各処理槽9乃至12を経て洗浄を完了した基板22は、図示 しない他の基板搬送手段によって搬送されて回収され、次の工程に向けて送られ る。The substrate 22 that has been cleaned through the processing tanks 9 to 12 as described above is transported and collected by another substrate transport means (not shown), and is transported to the next step.

【0056】 なお、本実施例においては、1組ずつにて基板22を挟持し得る基板挟持部材 が4組設けられているが、設けるべき組数についてはこれに限ることなく適宜設 定し得ることは言及するまでもない。また、本実施例においては2組ずつの基板 挟持部材が一体的に同時に作動するが、各組の基板挟持部材を夫々独立して作動 するように構成することも可能である。更に、本実施例において取り扱われる基 板22は円形のシリコンウエハーであるが、図10に示すような例えば矩形状の 液晶基板120を扱うことも可能である。但し、この場合、同図に示すように、 基板挟持部材に形成する保持溝の底面を直線状とすることが好ましい。In the present embodiment, four sets of substrate holding members capable of holding the substrate 22 by one set are provided, but the number of sets to be provided is not limited to this and may be set as appropriate. Needless to say. Further, in the present embodiment, two sets of substrate holding members are simultaneously operated integrally, but it is also possible to configure each set of substrate holding members to be operated independently. Further, although the base plate 22 handled in this embodiment is a circular silicon wafer, it is also possible to handle, for example, a rectangular liquid crystal substrate 120 as shown in FIG. However, in this case, as shown in the same drawing, it is preferable that the bottom surface of the holding groove formed in the substrate holding member is linear.

【0057】[0057]

【考案の効果】[Effect of device]

以上説明したように、本考案による基板自動処理装置においては、基板を処理 液外に搬出する際に、各基板挟持部材が基板に対して非接触状態にて処理液外に 搬送されるから、基板に対する処理液の付着が完全に防止されるという効果があ る。 As described above, in the substrate automatic processing apparatus according to the present invention, when the substrate is carried out of the processing liquid, each substrate holding member is carried out of the processing liquid in a non-contact state with the substrate. This has the effect of completely preventing the processing liquid from adhering to the substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、本考案に係る基板自動処理装置の全体
の縦断面図である。
FIG. 1 is a vertical sectional view of an entire substrate automatic processing apparatus according to the present invention.

【図2】図2は、図1に関するA−A断面図である。2 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG.

【図3】図3は、図1に示した基板自動処理装置が具備
する保持機構の平面図である。
FIG. 3 is a plan view of a holding mechanism included in the substrate automatic processing apparatus shown in FIG.

【図4】図4は、図3に関するB−B矢視図である。FIG. 4 is a view taken along the line BB in FIG.

【図5】図5は、図4に関するC−C矢視図である。5 is a view on arrow CC of FIG. 4;

【図6】図6は、図3乃至図5に示した保持機構が具備
する基体部及びその内部の機構の、断面を含む平面図で
ある。
FIG. 6 is a plan view including a cross section of a base portion included in the holding mechanism shown in FIGS. 3 to 5 and a mechanism inside thereof.

【図7】図7は、図6に関するD−D断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view taken along line DD of FIG.

【図8】図8は、図3乃至図5に示した保持機構が具備
する基板挟持部材の平面図である。
8 is a plan view of a substrate holding member included in the holding mechanism shown in FIGS. 3 to 5. FIG.

【図9】図9は、図8に関するE−E断面図である。9 is a sectional view taken along line EE in FIG.

【図10】図10は、取り扱うべき基板とこれを保持す
る基板挟持部材の変形例を示す一部断面を含む正面図で
ある。
FIG. 10 is a front view including a partial cross section showing a modified example of a substrate to be handled and a substrate holding member that holds the substrate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

9、10、11、12 処理槽 9a、10a、11a、12a 処理液 22、120 基板 24 保持機構 25 搬送手段 45 可動ポール 57、58 基体部 59、60、89、90 アーム部材 63、64、93、94 ハンガー部材 65、95 取付ブロック 72、73、74、75、102、103、104、1
05 基板挟持部材
9, 10, 11, 12 Treatment tank 9a, 10a, 11a, 12a Treatment liquid 22, 120 Substrate 24 Holding mechanism 25 Conveying means 45 Movable pole 57, 58 Base portion 59, 60, 89, 90 Arm member 63, 64, 93 , 94 Hanger member 65, 95 Mounting block 72, 73, 74, 75, 102, 103, 104, 1
05 Board clamping member

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 主面同士が平行となるように且つ各々が
直立した状態で保持機構により一定間隔で整列して保持
された複数枚の基板を所定経路に沿って搬送する搬送手
段を有し、前記基板を前記所定経路内で処理槽内に貯留
された処理液により浸漬洗浄を行う基板自動処理装置で
あって、前記保持機構は、前記搬送手段により搬送され
る基体部と、前記基体部に可動に取り付けられて1組ず
つにて前記基板を前記主面に平行な方向において挟持し
得る複数組の基板挟持部材と、前記基板挟持部材各々を
前記組別に駆動し得る駆動手段とを有することを特徴と
する基板自動処理装置。
1. A transporting means for transporting a plurality of substrates held along a predetermined path by a holding mechanism so that the main surfaces are parallel to each other and each of them is upright. A substrate automatic processing apparatus for dipping and cleaning the substrate with a processing liquid stored in a processing tank in the predetermined path, wherein the holding mechanism includes a base portion conveyed by the conveying means, and the base portion. A plurality of sets of substrate holding members that are movably attached to each other and can hold the substrates in a set in a direction parallel to the main surface, and a driving unit that can drive each of the substrate holding members separately for each set. An automatic substrate processing apparatus characterized by the above.
【請求項2】 前記基板挟持部材各々には、前記基板と
係合する複数の保持溝が並設されていることを特徴とす
る請求項1記載の基板自動処理装置。
2. The substrate automatic processing apparatus according to claim 1, wherein each of the substrate holding members is provided with a plurality of holding grooves arranged to be engaged with the substrate.
【請求項3】 前記基板挟持部材は前記組毎に上下方向
において所定間隙を隔てて並べて配置され、前記駆動手
段は前記基板を前記処理槽外に搬出する際に前記組各々
の基板挟持部材を上方のものから下方に向って順に作動
させることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の基
板自動処理装置。
3. The substrate holding members are arranged side by side with a predetermined gap in the vertical direction for each group, and the driving unit moves the substrate holding members of each group when the substrate is carried out of the processing bath. The substrate automatic processing apparatus according to claim 1, wherein the automatic substrate processing apparatus is operated in order from an upper one to a lower one.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5752138A (en) * 1980-09-16 1982-03-27 Mitsubishi Electric Corp Etching device for semiconductor substrate
JPH0246727A (en) * 1988-08-09 1990-02-16 Fujitsu Ltd Method of holding wafer for pulling it up from pure water and drying it

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5752138A (en) * 1980-09-16 1982-03-27 Mitsubishi Electric Corp Etching device for semiconductor substrate
JPH0246727A (en) * 1988-08-09 1990-02-16 Fujitsu Ltd Method of holding wafer for pulling it up from pure water and drying it

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