JPH07183267A - Automatic treating equipment - Google Patents

Automatic treating equipment

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JPH07183267A
JPH07183267A JP34781693A JP34781693A JPH07183267A JP H07183267 A JPH07183267 A JP H07183267A JP 34781693 A JP34781693 A JP 34781693A JP 34781693 A JP34781693 A JP 34781693A JP H07183267 A JPH07183267 A JP H07183267A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
holding means
holding
processing
treatment liquid
Prior art date
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Pending
Application number
JP34781693A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshinori Ishikawa
義則 石川
Toshiaki Yamamoto
俊明 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kaijo Corp
Original Assignee
Kaijo Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Kaijo Corp filed Critical Kaijo Corp
Priority to JP34781693A priority Critical patent/JPH07183267A/en
Publication of JPH07183267A publication Critical patent/JPH07183267A/en
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Abstract

PURPOSE:To automatically process under a condition of full dryness and at a low cost while holding a clean environment by a method wherein a carry speed when pulling out holding means from treatment liquid is set so that the treatment liquid is separated from the holding means by its surface tension to be left within a treatment bath. CONSTITUTION:Even when only holding means 24 is pulled out from treatment liquid under a condition that it does not hold a substrate 22, the pullout can be performed at an extreme low speed in the same manner as when the substrate 22 is pilled out when it is dry. This pullout speed is set to be 1 to 20mm/ sec, favorably 1 to 2mm/sec, in the same manner as when the substrate 22 is held. Thus, the holding means 24 is pulled out at a low speed, whereby the treatment liquid is separated from the holding means 24 by its surface tension to be left within a treatment bath, and at the same when it is pulled out, the holding means 24 is completed drying. Thus, it is possible to dry the holding means sufficiently and also at a low cost.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、シリコンウェハーやガ
ラス基板等の基板を複数枚まとめて処理槽内の処理液中
に浸漬して洗浄処理等を施す自動処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic processing apparatus for collectively cleaning a plurality of substrates such as silicon wafers and glass substrates by immersing them in a processing solution in a processing tank.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の自動処理装置として、図
12及び図13に示すものがある。
2. Description of the Related Art Conventionally, as this type of automatic processing apparatus, there is one shown in FIGS.

【0003】図12に示すように、この自動処理装置に
おいては、その架台101上の前端部及び後端部に夫
々、受入れ台102及び取出し台103が設けられてい
る。そして、これら受入れ台102及び取出し台103
の間には例えば5つの処理槽105〜109が順に配設
されており、これら処理槽内には洗浄用液、エッチング
用液及び純水等、所要の処理液が夫々貯留されている。
なお、後洗浄用処理液としての純水は処理槽109内に
貯留されている。
As shown in FIG. 12, in this automatic processing apparatus, a receiving table 102 and a taking-out table 103 are provided at the front end and the rear end of the frame 101, respectively. Then, the receiving table 102 and the taking-out table 103
For example, five processing tanks 105 to 109 are sequentially arranged, and required processing liquids such as a cleaning liquid, an etching liquid and pure water are stored in these processing tanks, respectively.
Pure water as the post-cleaning treatment liquid is stored in the treatment tank 109.

【0004】架台101の片側には可動ポール112が
配置されており、図13にも示すように、該可動ポール
112の上端部には複数枚の基板114を保持し得る保
持手段115が設けられている。可動ポール112は、
この保持手段115をその保持した基板114と共に、
上記各処理槽内を順に巡る所定の経路に沿って搬送する
搬送手段(可動ポール112の他は図示しない)の一部
を構成する。また、該保持手段115は、複数枚の基板
114をその主面同士が平行となるように且つ各々が直
立した状態にて整列して保持する。
A movable pole 112 is arranged on one side of the gantry 101, and as shown in FIG. 13, a holding means 115 capable of holding a plurality of substrates 114 is provided at the upper end of the movable pole 112. ing. The movable pole 112 is
This holding means 115, together with the substrate 114 holding it,
It constitutes a part of a transfer unit (other than the movable pole 112, not shown) that transfers along a predetermined path that sequentially goes through each of the processing tanks. Further, the holding means 115 holds a plurality of substrates 114 aligned so that their principal surfaces are parallel to each other and each is upright.

【0005】上記保持手段115は、上記可動ポール1
12の上端に固定された基体部117と、該基体部11
7に一端部にて取り付けられて互いに平行に伸長する2
本の円柱状の長手支持部材118及び119とを有して
いる。両長手支持部材118、119は、基体部117
内に設けられた軸受機構によってその軸中心を中心とし
て回転自在に支持されており、図示しない駆動手段によ
って回転駆動される。
The holding means 115 is the movable pole 1
A base 117 fixed to the upper end of the base 12, and the base 11
2 attached at one end to 7 and extend parallel to each other
It has a columnar longitudinal support member 118 and 119. Both longitudinal support members 118, 119 are
A bearing mechanism provided inside is rotatably supported about the center of the shaft, and is rotationally driven by a driving means (not shown).

【0006】両長手支持部材118及び119の各他端
部には、ハンガー部材121及び122が夫々取付ブロ
ック123、124と共に取り付けられている。そし
て、これらのハンガー部材121、122の下端部に
は、その各々について2本ずつ、合計4本の略円柱状の
挾持部材126が互いに平行に取り付けられている。こ
れらの挾持部材126は、基板114を該基板の主面に
平行な方向において挾持するもので、各々基板114の
外周部が係合する保持溝(図示せず)がその長手方向に
おいて等ピッチにて並設されている。
Hanger members 121 and 122 are attached to the other ends of the longitudinal support members 118 and 119 together with attachment blocks 123 and 124, respectively. Further, at the lower end portions of the hanger members 121 and 122, two holding members 126 each having a substantially columnar shape are attached in parallel to each other. These holding members 126 hold the substrate 114 in a direction parallel to the main surface of the substrate, and holding grooves (not shown) with which the outer peripheral portion of the substrate 114 engages at equal pitches in the longitudinal direction. Are installed side by side.

【0007】次いで、上記した自動処理装置の動作につ
いて簡単に説明する。
Next, the operation of the above automatic processing apparatus will be briefly described.

【0008】まず、可動ポール112が受入れ台102
の近傍に移動し、且つ、下降動作をなし、該受入れ台1
02上に整列状態にて供給されている基板114が保持
手段115によって保持される。なお、この保持に際し
ては、基体部117内に設けられた駆動手段によって、
図13において矢印Rにて示すように長手支持部材11
8、119が回転駆動され、これによって、同図におい
て二点鎖線及び実線で示すように各挾持部材126が相
対的に作動し、基板114を保持する。
First, the movable pole 112 receives the receiving table 102.
Of the receiving table 1
The substrate 114 supplied in an aligned state on the 02 is held by the holding means 115. In addition, at the time of this holding, by the driving means provided in the base 117,
As shown by an arrow R in FIG. 13, the longitudinal support member 11
8 and 119 are rotationally driven, whereby the holding members 126 relatively move to hold the substrate 114, as shown by the two-dot chain line and the solid line in the figure.

【0009】この後、可動ポール112が上昇すること
により基板114は受入れ台102より持ち上げられ、
更に可動ポール112が図12における左方向へ移動す
ることによって第1の処理槽105上へと持ち来され
る。そして、可動ポール112が下降動作を行い、基板
114は処理液に浸漬され、続いて保持手段115が保
持解除動作を行うことにより各基板は該処理槽105の
底部に設けられた基板受台(図示せず)上に載置され
る。この状態で該基板の洗浄処理がなされる。
Thereafter, the movable pole 112 rises to lift the substrate 114 from the receiving table 102,
Further, the movable pole 112 moves to the left in FIG. 12 and is brought onto the first processing tank 105. Then, the movable pole 112 moves down, the substrate 114 is immersed in the processing liquid, and the holding means 115 then performs a holding release operation, whereby each substrate is placed on the substrate pedestal ( (Not shown). In this state, the cleaning process of the substrate is performed.

【0010】以下、上記と同様の動作によって基板11
4は他の処理槽106〜109を巡った後、取出し台1
03上に移送され、回収される。
Thereafter, the substrate 11 is operated by the same operation as described above.
4 is the take-out stand 1 after going around the other processing tanks 106 to 109.
03, and is collected.

【0011】ところで、上記した自動処理装置において
は、各基板114を処理液に浸漬する際に保持手段11
5についても処理液に浸り、保持手段115の表面に比
較的多量の処理液が付着する。従って、そのまま作業を
続行すると、この付着した処理液が別種の処理液に混入
してしまうこととなる。そこで、この保持手段115を
一旦乾燥させることが行われる。具体的には、図13に
示すように、処理槽外に搬出された保持手段115に対
応するようにノズル130を設け、該ノズル130を通
じて圧搾空気若しくは窒素ガス等の気体を保持手段11
5に噴射することが行われている。すなわち、保持手段
115に付着している処理液をこの気体によって吹き飛
ばすことにより乾燥させるものである。
By the way, in the above-mentioned automatic processing apparatus, the holding means 11 is used when each substrate 114 is immersed in the processing liquid.
Also with respect to No. 5, the treatment liquid is immersed in the treatment liquid, and a relatively large amount of the treatment liquid adheres to the surface of the holding means 115. Therefore, if the work is continued as it is, the adhering treatment liquid will be mixed with another treatment liquid. Therefore, the holding means 115 is once dried. Specifically, as shown in FIG. 13, a nozzle 130 is provided so as to correspond to the holding means 115 carried out of the processing tank, and the holding means 11 holds compressed air or a gas such as nitrogen gas through the nozzle 130.
Injecting into 5 is taking place. That is, the treatment liquid adhering to the holding means 115 is blown off by this gas to be dried.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】上記した従来の装置に
おいては気体の噴射により保持手段115の乾燥がなさ
れているが、充分な乾燥状態が得られていないのが現状
である。
In the above-mentioned conventional apparatus, the holding means 115 is dried by jetting gas, but the present situation is that a sufficient dry state is not obtained.

【0013】また、気体を噴射するための設備を必要と
すると共に、使用する気体自体も比較的高価なため、コ
ストの増大を招来するという欠点がある。
Further, there is a drawback that a facility for injecting a gas is required and the gas itself used is relatively expensive, resulting in an increase in cost.

【0014】更に、いわゆるクリーンルームなど、雰囲
気を清浄に保つべき条件下において上記の乾燥が行われ
る場合、噴出せられる気体の拡散によって雰囲気が乱さ
れ、清浄度が低下する恐れがあるという欠点もある。
Further, when the above-mentioned drying is carried out under the condition that the atmosphere should be kept clean, such as a so-called clean room, there is also a drawback that the atmosphere is disturbed by the diffusion of the jetted gas and the cleanliness may be lowered. .

【0015】本発明は上記従来技術の欠点に鑑みてなさ
れたものであって、乾燥を充分に、且つ、低コストに
て、しかも清浄な環境を保ちつつ行うことができる自動
処理装置を提供することを目的としている。
The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks of the prior art, and provides an automatic processing apparatus capable of performing drying sufficiently, at low cost, and while maintaining a clean environment. Is intended.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】本発明は、複数枚の基板
を保持手段により保持して所定経路に沿って搬送する搬
送手段を有し、前記基板を前記所定経路内で処理槽内に
貯留された処理液により浸漬処理を行う自動処理装置に
おいて、前記保持手段を処理液から引き出す際の搬送速
度が、該処理液がその表面張力によって前記保持手段か
ら剥離して処理槽内に留まるように設定したものであ
る。
The present invention has a transfer means for holding a plurality of substrates by a holding means and transferring them along a predetermined path, and storing the substrates in a processing tank within the predetermined path. In the automatic processing apparatus for performing the dipping treatment with the treated liquid, the conveying speed at the time of pulling out the holding means from the treating liquid is such that the treating liquid is separated from the holding means by the surface tension and remains in the treating tank. It has been set.

【0017】[0017]

【実施例】次に、本発明の実施例としての自動処理装置
について添付図面を参照しつつ説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an automatic processing apparatus as an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

【0018】図1及び図2に示すように、当該自動処理
装置は、形鋼等より成るフレーム1と、該フレーム1上
に覆設されたパネル(参照符号は付さない)とにより、
全体として直方体状に形成された筐体3を備えている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the automatic processing apparatus comprises a frame 1 made of shaped steel or the like, and a panel (not provided with a reference numeral) provided over the frame 1.
The housing 3 has a rectangular parallelepiped shape as a whole.

【0019】図1に示すように、筐体3内には、基板供
給手段8と、4つの処理槽9乃至12が順に配設されて
いる。
As shown in FIG. 1, a substrate supply means 8 and four processing tanks 9 to 12 are sequentially arranged in the housing 3.

【0020】処理槽9内には、アンモニア水、過酸化水
素水及び純水を混合して成り且つ所定の温度に加熱した
処理液9aが貯留されている。又、処理槽10及び12
内には、処理液として、加熱した純水であるHot純水
(Hot deionized water)10a及
び12aが夫々貯留されており、処理槽11内には硫酸
及び過酸化水素水を混合して成り加熱された処理液11
aが貯留されている。又、処理槽9及び10の底部に
は、振動子15及び16が取り付けられている。各振動
子15、16は、筐体3内の所定位置に配設された超音
波発振器(図示せず)により駆動され、両処理槽9及び
10を励振する。
A treatment liquid 9a, which is a mixture of ammonia water, hydrogen peroxide water and pure water and is heated to a predetermined temperature, is stored in the treatment tank 9. Also, the processing tanks 10 and 12
Hot deionized water (hot deionized water) 10a and 12a which are heated pure water are stored therein, respectively, and the treatment tank 11 is heated by mixing sulfuric acid and hydrogen peroxide water. Treated liquid 11
a is stored. Further, vibrators 15 and 16 are attached to the bottoms of the processing tanks 9 and 10. Each of the vibrators 15 and 16 is driven by an ultrasonic oscillator (not shown) arranged at a predetermined position in the housing 3 to excite both processing tanks 9 and 10.

【0021】図1に示すように、処理槽10の下方に
は、該処理槽10内の処理液10aを急速に排出するた
めの排液手段18が設けられている。なお、他の処理槽
9、11及び12からの排液は、該各処理槽に接続され
た排液チューブ(図示せず)を通じて行われる。又、各
処理槽9乃至12に供給されるべき各処理液を備蓄する
備蓄タンク20が処理槽11の下方に配設されており、
該備蓄タンク20から図示せぬ供給チューブを経て各処
理槽に対して各種の処理液が供給される。
As shown in FIG. 1, a drainage means 18 for rapidly draining the treatment liquid 10a in the treatment tank 10 is provided below the treatment tank 10. The drainage from the other treatment tanks 9, 11 and 12 is performed through a drainage tube (not shown) connected to each treatment tank. Further, a stock tank 20 for stocking the respective processing liquids to be supplied to the respective processing tanks 9 to 12 is arranged below the processing tank 11.
Various processing liquids are supplied from the stock tank 20 to each processing tank through a supply tube (not shown).

【0022】さて、当該自動処理装置は、シリコンウェ
ハー若しくはガラス基板等の基板22の洗浄から乾燥ま
でを自動的に行うものであり、後述する一連の工程にて
一度に例えば50枚の基板22の洗浄及び乾燥を完了す
ることができる。なお、当該実施例における基板22は
例えば略円形のシリコンウェハーであり、その直径が約
200m/mである。これら50枚の基板22は、図1
及び図2に示す保持手段24によって保持され、図2に
示す搬送手段25によって該保持手段24が所定経路に
沿って搬送されることにより上記の各処理槽を巡る。な
お、保持手段24は、各基板22を該各基板の主面同士
が平行となるように、且つ各々が直立した状態にて一定
間隔で整列して保持する。
Now, the automatic processing apparatus automatically cleans and dries substrates 22 such as silicon wafers or glass substrates. For example, 50 substrates 22 are processed at a time in a series of steps described later. Washing and drying can be completed. The substrate 22 in this embodiment is, for example, a substantially circular silicon wafer, and its diameter is about 200 m / m. These 50 substrates 22 are shown in FIG.
2 is held by the holding means 24 shown in FIG. 2, and the holding means 24 is carried along a predetermined path by the carrying means 25 shown in FIG. The holding means 24 holds the substrates 22 at regular intervals such that the principal surfaces of the substrates are parallel to each other and the substrates are upright.

【0023】図2に示すように、上記搬送手段25は、
上述した各処理槽9乃至12の並ぶ方向に沿って、すな
わち水平方向において延在するレール27と、該レール
27に対してブラケット28a及びスライダ28bを介
して摺動自在に取り付けられた可動ベース29とを有し
ている。なお、図3に示すように、上記レール27は、
筐体3(図1及び図2参照)に対して固定された支持プ
レート30上に取り付けられている。
As shown in FIG. 2, the carrying means 25 is
A rail 27 extending along the direction in which the processing tanks 9 to 12 are arranged, that is, in the horizontal direction, and a movable base 29 slidably attached to the rail 27 via a bracket 28a and a slider 28b. And have. As shown in FIG. 3, the rail 27 is
It is mounted on a support plate 30 fixed to the housing 3 (see FIGS. 1 and 2).

【0024】可動ベース29は、その上端部近傍にてレ
ール27により吊支される状態にて取り付けられてお
り、図2及び図3に示すように、該可動ベース29の下
端部にはブラケット32を介して一対のローラ33が設
けられている。そして、これらローラ33は、筐体3の
下部に上記のレール27と平行に配設されたガイドプレ
ート34を左右から挾んでいる。かかる構成によって、
可動ベース29が円滑に移動することができる。
The movable base 29 is mounted in a state of being suspended and supported by the rail 27 near the upper end portion thereof, and as shown in FIGS. 2 and 3, a bracket 32 is attached to the lower end portion of the movable base 29. A pair of rollers 33 are provided via the. Then, these rollers 33 sandwich a guide plate 34, which is arranged in parallel with the rail 27, in the lower part of the housing 3 from the left and right. With this configuration,
The movable base 29 can move smoothly.

【0025】図3から明らかなように、上記したレール
27を担持した支持プレート30の下面には、該レール
27と平行に長尺のラック36が固設されている。これ
に対して、可動ベース29上には、該ラック36に噛合
する最終段歯車37aを含む減速機構37(図2参照)
と、該減速機構37にトルクを付与するモータ38とが
取り付けられている。即ち、モータ38を正及び逆転さ
せることによって可動ベース29がレール27に沿って
往復動する。
As is apparent from FIG. 3, a long rack 36 is fixedly provided in parallel with the rail 27 on the lower surface of the support plate 30 carrying the rail 27. On the other hand, on the movable base 29, a reduction mechanism 37 including a final stage gear 37a that meshes with the rack 36 (see FIG. 2).
And a motor 38 that applies torque to the speed reduction mechanism 37. That is, the movable base 29 reciprocates along the rail 27 by rotating the motor 38 forward and backward.

【0026】図3に示すように可動ベース29の側部に
は、レール40が上下方向において伸長すべく取り付け
られている。そして、このレール40上に、スライダ4
1が摺動自在に設けられ、該スライダ41に昇降プレー
ト42が固着されている。この昇降プレート42には、
固定ブロック43を介して可動ポール45が上下方向に
おいて延在すべく取り付けられている。この可動ポール
45と平行に長尺の送りねじ46が配置されており、且
つ、上下一対の軸受47a及び47bを介して可動ベー
ス29に対して回転自在に取り付けられている。送りね
じ46に螺合するナット49が設けられており、該ナッ
ト49が上記昇降プレート42に対して固着されてい
る。
As shown in FIG. 3, rails 40 are attached to the side portions of the movable base 29 so as to extend in the vertical direction. Then, on this rail 40, the slider 4
1 is slidably provided, and an elevating plate 42 is fixed to the slider 41. In this lifting plate 42,
A movable pole 45 is attached via a fixed block 43 so as to extend in the vertical direction. A long feed screw 46 is arranged in parallel with the movable pole 45, and is rotatably attached to the movable base 29 via a pair of upper and lower bearings 47a and 47b. A nut 49 that is screwed onto the feed screw 46 is provided, and the nut 49 is fixed to the elevating plate 42.

【0027】送りねじ46の下端部は軸受47bよりも
下方に突出しており、この突出部分にプーリ50が嵌着
されている。そして、可動ベース29上であってこの軸
受47bの側方にパルスモータ52が設けられており、
該パルスモータ52の出力軸にもプーリ53が嵌着さ
れ、両プーリ50及び53にはベルト54が掛け回され
ている。即ち、パルスモータ52が正及び逆回転するこ
とにより送りねじ46が正及び逆回転して、可動ポール
45がこれを担持した昇降プレート42と共に昇降動作
を行うように構成されている。
The lower end of the feed screw 46 projects downward from the bearing 47b, and the pulley 50 is fitted to this projecting portion. A pulse motor 52 is provided on the movable base 29 and on the side of the bearing 47b,
A pulley 53 is also fitted to the output shaft of the pulse motor 52, and a belt 54 is wound around both pulleys 50 and 53. That is, when the pulse motor 52 rotates forward and backward, the feed screw 46 rotates forward and backward, and the movable pole 45 moves up and down together with the lifting plate 42 carrying the movable pole 45.

【0028】前述したレール27と、スライダ28b
と、可動ベース29と、ローラ33と、ガイドプレート
34と、ラック36と、減速機構37と、モータ38
と、レール40と、スライダ41と、昇降プレート42
と、固定ブロック43と、可動ポール45と、送りねじ
46と、ナット49と、プーリ50及び53と、パルス
モータ52と、ベルト54と、これらの周辺の関連部材
とによって、前述した保持手段24を、その保持した基
板22と共に各処理槽9乃至12内の処理液による浸漬
位置を経て該各処理槽外に至る所定経路(後述)に沿っ
て搬送する搬送手段25が構成されている。
The above-mentioned rail 27 and slider 28b
A movable base 29, a roller 33, a guide plate 34, a rack 36, a reduction mechanism 37, and a motor 38.
, Rail 40, slider 41, and elevating plate 42
By the fixed block 43, the movable pole 45, the feed screw 46, the nut 49, the pulleys 50 and 53, the pulse motor 52, the belt 54, and related members around them, the above-mentioned holding means 24 is provided. Conveying means 25 is configured to convey, along with the substrate 22 thus held, along a predetermined path (described later) from the dipping position of the processing liquid in each of the processing baths 9 to 12 to the outside of the processing bath.

【0029】次いで、基板22を保持して該搬送手段2
5により搬送される保持手段24について詳述する。
Next, the substrate 22 is held and the carrier means 2 is held.
The holding means 24 conveyed by 5 will be described in detail.

【0030】図1乃至図6から特に明らかなように、こ
の保持手段24は、上記可動ポール45の上端部に固定
された直方体状の基体部58と、該基体部58に一端部
にて片持梁状に取り付けられて該基体部58の側方に直
線的に且つ互いに平行に伸長する2本の円柱状のアーム
部材59及び60とを有している。両アーム部材59及
び60は、基板部58内に設けられた軸受によって、そ
の軸中心を中心として回転自在に支持されている。
As is particularly apparent from FIGS. 1 to 6, the holding means 24 has a rectangular parallelepiped base portion 58 fixed to the upper end portion of the movable pole 45, and one end portion of the base portion 58. It has two columnar arm members 59 and 60 attached in a cantilever shape and extending linearly and parallel to the side of the base 58. Both arm members 59 and 60 are supported by bearings provided in the substrate portion 58 so as to be rotatable about their axial centers.

【0031】図5及び図6に示すように、上記した両ア
ーム部材59及び60の各々の自由端部には、ハンガー
部材63及び64が夫々取付ブロック65を介して垂下
状態にて取り付けられている。ハンガー部材63は、矩
形板状の中間部材67と、コの字状に形成されて該中間
部材67の下端部に固着された枠部材68とから成り、
他方のハンガー部材64は、矩形板状の中間部材67
と、コの字状の枠部材69とから成る。なお、取付ブロ
ック65は、互いに各アーム部材59及び60を挾むよ
うに形成された2つの分割体65b及び65cと、該両
分割体を締結するボルト及びナットなどの締結部材(図
示せず)などとから成る。
As shown in FIGS. 5 and 6, hanger members 63 and 64 are attached to the free ends of the arm members 59 and 60, respectively, via attachment blocks 65 in a suspended state. There is. The hanger member 63 includes a rectangular plate-shaped intermediate member 67 and a frame member 68 formed in a U shape and fixed to the lower end of the intermediate member 67.
The other hanger member 64 is a rectangular plate-shaped intermediate member 67.
And a U-shaped frame member 69. The mounting block 65 includes two divided bodies 65b and 65c formed so as to sandwich the arm members 59 and 60 from each other, and fastening members (not shown) such as bolts and nuts that fasten the two divided bodies. Consists of.

【0032】なお、両アーム部材59及び60の他端
部、すなわち先端部には、該両先端部に枢着されて該先
端部同士を互いに連結させる連結手段70が設けられて
いる。この連結手段70を設けたことにより、2本のア
ーム部材59及び60の各先端同士の離間若しくは近接
し過ぎが防止される。
At the other end of each of the arm members 59 and 60, that is, at the tip end portion, there is provided a connecting means 70 which is pivotally attached to the both end portions and connects the tip end portions to each other. By providing the connecting means 70, it is possible to prevent the tips of the two arm members 59 and 60 from being separated or too close to each other.

【0033】図5及び図6に示すように、上述した両ハ
ンガー部材63及び64の構成部材である枠部材68、
69の下端部には、該枠部材68、69の各々につき4
本ずつ、合計8本の略円柱状の挾持部材72乃至75
(但し、これら8本の挾持部材の2本ずつについて、同
じ参照符号を付している)がボルト(図示せず)により
取り付けられている。これらの挾持部材72〜75は、
互いに協働して、基板22を該基板の主面に平行な方向
において挾持する。但し、図5から明らかなように、各
挾持部材72〜75は、同じ参照符号にて示される2本
ずつが、相互の中心軸同士が一致するように配置されて
おり、このように同心的に並んだ2本の挾持部材同士
は、枠部材68(69)が具備する板状のブラケット6
8aを介して互いに端部にて結合せられている。
As shown in FIGS. 5 and 6, the frame member 68, which is a constituent member of the above-mentioned hanger members 63 and 64,
At the lower end of 69, 4 for each of the frame members 68, 69
A total of eight gripping members 72 to 75 each having a substantially cylindrical shape
(However, the same reference numerals are attached to each two of these eight holding members) are attached by bolts (not shown). These holding members 72 to 75 are
In cooperation with each other, the substrate 22 is sandwiched in a direction parallel to the main surface of the substrate. However, as is clear from FIG. 5, each of the two holding members 72 to 75 indicated by the same reference numeral is arranged so that their central axes coincide with each other, and thus the concentric members are concentrically arranged. The two holding members arranged side by side are the plate-like brackets 6 provided on the frame member 68 (69).
They are joined together at their ends via 8a.

【0034】なお、図示してはいないが、上述した各挾
持部材72乃至75をして各基板22の挾持及びその解
除を行わしめるべくこれらを駆動する駆動手段が設けら
れている。この駆動手段は、該挾持部材72〜75など
を吊支したアーム部材59及び69にトルクを付与して
これらを回転させることを行う。
Although not shown, a driving means is provided for driving the above-mentioned holding members 72 to 75 so as to hold and release each substrate 22. The driving means applies torque to the arm members 59 and 69 which suspend and hold the holding members 72 to 75 and the like to rotate them.

【0035】ここで、各挾持部材72〜75自体の構成
を詳述する。なお、これら挾持部材72〜75は夫々同
形状である故、代表として挾持部材72について詳述す
る。
Here, the construction of each of the holding members 72 to 75 will be described in detail. Since the holding members 72 to 75 have the same shape, the holding member 72 will be described in detail as a representative.

【0036】図7及び図8に示すように、挾持部材72
は、前述もしたように、全体として略円柱状に形成され
ている。そして、挾持部材72には、各々基板22の外
周部分が係合し得る保持溝72aが例えば25条、等し
いピッチにて並設されている。なお、これら各保持溝7
2aの断面形状はV字状となっている。そして、挾持部
材72は、該各保持溝72aが並ぶ方向に対して垂直な
断面形状が円形となっている。また、各保持溝72a
は、挾持部材72の一部分を切り欠いた形態にて形成さ
れており、該各保持溝72aの底面はこれに係合する基
板22の半径(約100m/m)と等しい曲率半径を有
している。
As shown in FIGS. 7 and 8, the holding member 72
Is formed in a substantially columnar shape as a whole, as described above. The holding member 72 is provided with holding grooves 72a which can be engaged with the outer peripheral portion of the substrate 22 and are arranged in parallel at, for example, 25 rows at equal pitches. Each of these holding grooves 7
The cross-sectional shape of 2a is V-shaped. The holding member 72 has a circular cross-sectional shape perpendicular to the direction in which the holding grooves 72a are arranged. Also, each holding groove 72a
Is formed by cutting out a part of the holding member 72, and the bottom surface of each holding groove 72a has a radius of curvature equal to the radius (about 100 m / m) of the substrate 22 that engages with the holding groove 72a. There is.

【0037】ここで、図1及び図2に示した各処理槽9
乃至12の底部に設けられて、上述した保持手段24か
ら各基板22を受け渡されてこれらをその主面同士が平
行となるように且つ各々が直立した状態にて一定間隔で
整列して支持する基板受台85について説明する。
Here, each processing tank 9 shown in FIG. 1 and FIG.
Nos. 12 to 12 are provided at the bottoms of the substrates, and the substrates 22 are transferred from the above-mentioned holding means 24 and are supported at regular intervals such that their principal surfaces are parallel to each other and each is upright. The substrate pedestal 85 to be used will be described.

【0038】図5及び図6に示すように、基板受台85
は、底板86と、該底板86上に互いに平行に固設され
た3枚の側板87と、夫々略円柱状に形成されて該各側
板87により両端部を支持された6本の支持部材88〜
90とから成る(但し、これら6本の支持部材の2本ず
つについて、同じ参照符号を付ている)。これらの支持
部材88〜90は夫々、前述した保持手段24により保
持された各基板22の整列方向において延在しており、
互いに協働して該基板22を支えるものである。図5か
ら明らかなように、各支持部材88〜90は、同じ参照
符号が付された2本ずつが相互の中心軸同士が一致する
ように配置されている。
As shown in FIGS. 5 and 6, the substrate pedestal 85
Is a bottom plate 86, three side plates 87 fixed on the bottom plate 86 in parallel with each other, and six support members 88 each having a substantially columnar shape and having both ends supported by the side plates 87. ~
90 (however, the same reference numeral is given to every two of these six support members). These supporting members 88 to 90 respectively extend in the alignment direction of the substrates 22 held by the holding means 24 described above,
They support the substrate 22 in cooperation with each other. As is apparent from FIG. 5, each of the supporting members 88 to 90 is arranged such that two of the supporting members having the same reference numerals have the same central axes.

【0039】なお、各支持部材88〜90の細部につい
ては、前述した保持手段24が具備する各挾持部材72
〜75と略同様に形成されている故にその詳細な説明を
省略するが、該各支持部材88〜90には夫々、各々基
板22の外周部分が係合し得る25条の受け溝が等しい
ピッチにて並設されている。
Regarding the details of the supporting members 88 to 90, the holding members 72 included in the above-mentioned holding means 24 will be described.
Although the detailed description thereof will be omitted because they are formed in substantially the same manner as the first to 75th, each of the supporting members 88 to 90 has 25 receiving grooves with which the outer peripheral portion of the substrate 22 can be engaged with each other at the same pitch. Are installed side by side.

【0040】続いて、上記した構成の自動処理装置の動
作について説明する。なお、以下の動作は、図示せぬマ
イクロコンピュータより成る制御部により制御されて行
われる。
Next, the operation of the automatic processing apparatus having the above configuration will be described. The following operation is performed under the control of a control unit including a microcomputer (not shown).

【0041】まず、図示しないロボットあるいは人手に
よって、図1に示す基板供給手段8上に、各々が基板2
2を25枚ずつ収容した箱すなわちキャリア(図示せ
ず)が2つ載置される。なお、このキャリア内の各基板
22は、その主面同士が平行となるように、かつ各々が
直立した状態にて一定間隔で整列されている。
First, each of the substrates 2 is placed on the substrate supply means 8 shown in FIG. 1 by a robot (not shown) or manually.
Two boxes, ie, carriers (not shown) accommodating 25 sheets of 2 are respectively placed. The substrates 22 in the carrier are aligned at regular intervals such that their principal surfaces are parallel to each other and each is upright.

【0042】基板供給手段8上にキャリアが載せられる
と、該基板供給手段8が作動する。これによって、2つ
のキャリア内に収容されている合計50枚の各基板22
は、持ち上げられるようにして該キャリアの上方に押し
出され、保持手段24による保持可能位置に持ち来され
る。このとき、保持手段24はキャリアの直上にて待機
している。
When the carrier is placed on the substrate supply means 8, the substrate supply means 8 operates. As a result, a total of 50 substrates 22 accommodated in the two carriers are provided.
Are pushed out of the carrier as they are lifted and brought to a position where they can be held by the holding means 24. At this time, the holding means 24 stands by immediately above the carrier.

【0043】この状態で、保持手段24が作動せられ、
該保持手段24が具備した挾持部材72〜75によって
各基板22が挾持される。
In this state, the holding means 24 is operated,
Each substrate 22 is held by the holding members 72 to 75 included in the holding means 24.

【0044】これに続き、図2及び図3に示すモータ3
8及びパルスモータ(図示せず)が適宜回転せられて可
動ベース29の水平移動と可動ポール45の昇降動作と
が行われ、各基板22はこれを保持した保持手段24と
共に、図1に示す経路Z3 →X6 →Z4 に沿って搬送さ
れ、処理槽9内の基板受台85上に載置され、該処理槽
9内に貯留された処理液9aに浸漬される。そして、保
持手段24による各基板22の保持状態が解除され、処
理液9aによる各基板22に対する処理、この場合、洗
浄が施される。なお、この洗浄時に、該処理槽9の下部
に取り付けられた振動子15が作動せられて該処理槽9
と共に内部の処理液9aが励振され、洗浄が効果的に行
われる。
Following this, the motor 3 shown in FIGS.
8 and a pulse motor (not shown) are appropriately rotated to horizontally move the movable base 29 and move the movable pole 45 up and down, and each substrate 22 is shown in FIG. It is conveyed along the path Z 3 → X 6 → Z 4 , is placed on the substrate pedestal 85 in the processing tank 9, and is immersed in the processing liquid 9 a stored in the processing tank 9. Then, the holding state of each substrate 22 by the holding means 24 is released, and each substrate 22 is treated with the treatment liquid 9a, in this case, washed. In addition, at the time of this cleaning, the vibrator 15 attached to the lower portion of the processing tank 9 is operated and
At the same time, the processing liquid 9a inside is excited, and the cleaning is effectively performed.

【0045】上記の処理槽9における洗浄作業が終了す
ると、保持手段24は再び各基板22を保持する。続い
て、各基板22は、上述と同様にして図1に示す経路Z
3 →X7 →Z4 に沿って搬送され、処理槽10内の基板
受台85上に載置されて処理液10aによる洗浄が施さ
れる。この洗浄中、該処理槽10に取り付けられた振動
子16が作動する。
When the cleaning operation in the processing bath 9 is completed, the holding means 24 holds each substrate 22 again. Then, each substrate 22 is processed by the route Z shown in FIG.
It is conveyed along 3 → X 7 → Z 4 and placed on the substrate pedestal 85 in the processing bath 10 and washed with the processing liquid 10a. During this cleaning, the vibrator 16 attached to the processing tank 10 operates.

【0046】その後、各基板22は、図1に示す経路Z
3 →X8 →Z4 と、これに続く経路Z3 →X9 →Z4
順次辿って搬送され、各処理槽11及び12の処理液1
1a及び12aにより洗浄される。斯くして各基板22
の洗浄が完了し、基板22は回収される。この後、保持
手段24は、図1に示す経路Z3 →X10→Z4 を経て再
び基板供給手段8の直上の待機位置に戻される。
After that, each substrate 22 is connected to the path Z shown in FIG.
3 → X 8 → Z 4 and the following path Z 3 → X 9 → Z 4 are sequentially conveyed, and the processing liquid 1 in each processing tank 11 and 12 is transferred.
Washed with 1a and 12a. Thus, each substrate 22
The cleaning is completed and the substrate 22 is recovered. After that, the holding means 24 is returned to the standby position immediately above the substrate supply means 8 again via the path Z 3 → X 10 → Z 4 shown in FIG.

【0047】以下、上記した一連の動作が繰り返され、
基板供給手段8により順次供給される多数の基板につい
て洗浄が行われる。
Thereafter, the above series of operations are repeated,
A large number of substrates sequentially supplied by the substrate supply means 8 are cleaned.

【0048】ここで、上記保持手段24により保持され
た基板22が各処理槽9〜12に対して搬入、搬出され
る際の動作について、図9乃至図11をも参照しつつ詳
述する。但し、ここで説明する動作は各処理槽9〜12
において同様に行われる故、処理槽12における動作を
例にとって説明する。
Here, the operation when the substrate 22 held by the holding means 24 is carried in and out of the processing baths 9 to 12 will be described in detail with reference to FIGS. 9 to 11. However, the operation described here is performed in each processing tank 9-12.
Therefore, the operation in the processing tank 12 will be described as an example.

【0049】まず、処理槽12に対する基板22の搬入
に際し、基板22は図1及び図9に示す経路Z4 に沿っ
て下降せられる。なお、前述したように、基板22の昇
降動作は、パルスモータ52(図3に図示)の作動によ
る可動ポール45の上下動にによる。図9において、こ
の経路Z4 について2つに分け、一方をα、一方をβに
て示している。このαは、基板22が処理槽12の直上
の最上方位置から基板受台85の近傍に至るまでの経路
を示し、βは、基板22が該近傍から基板受台85上に
載置されるまでの経路を示している。なお、該図から明
らかなように、基板22は、基板受台85上に載置され
た状態において、その上端が処理液12aの液面からe
だけ没するようになされている。
First, when the substrate 22 is carried into the processing tank 12, the substrate 22 is lowered along the path Z 4 shown in FIGS. 1 and 9. As described above, the raising / lowering operation of the substrate 22 is due to the vertical movement of the movable pole 45 by the operation of the pulse motor 52 (shown in FIG. 3). In FIG. 9, this path Z 4 is divided into two, one is indicated by α and the other is indicated by β. This α indicates a path from the uppermost position of the substrate 22 directly above the processing tank 12 to the vicinity of the substrate pedestal 85, and β indicates that the substrate 22 is placed on the substrate pedestal 85 from the vicinity. It shows the route to. As is clear from the figure, the upper end of the substrate 22 placed on the substrate pedestal 85 is e from the liquid surface of the processing liquid 12a.
It is designed so that it will only sink.

【0050】上記の経路αにおける基板22の下降速度
は比較的大きく、例えば250〜400mm/secに
設定される。そして、経路βにおいては減速され、例え
ば2〜20mm/secにて下降せられる。このよう
に、基板22を基板受台85に受け渡す際の速度を低速
とすることにより、基板22は基板受台85上に静かに
載置され、基板22の損傷等が防止される。また、載置
直前まで、すなわち経路αにおいては比較的高速にて下
降せられるので、搬送時間の短縮が達成される。
The descending speed of the substrate 22 along the path α is relatively high, and is set to 250 to 400 mm / sec, for example. Then, it is decelerated along the path β and is lowered at, for example, 2 to 20 mm / sec. In this way, by lowering the speed at which the substrate 22 is transferred to the substrate pedestal 85, the substrate 22 is gently placed on the substrate pedestal 85, and damage to the substrate 22 or the like is prevented. In addition, since it is lowered at a relatively high speed until just before the placement, that is, in the path α, the shortening of the transportation time is achieved.

【0051】続いて、基板22の搬出に関しては下記の
ように行われる。
Subsequently, the substrate 22 is carried out as follows.

【0052】すなわち、搬出に際し、基板22は図1及
び図10に示す経路Z3 に沿って上昇せられる。図10
において、この経路Z3 について2つに分け、一方を
γ、他方をδにて示している。γは、基板受台85上に
載置されていた基板22が保持手段24(図1乃至図6
参照)により保持されて上昇し、その下端が処理液12
aの液面から出るまでの経路を示し、δは、基板22が
この位置から更に上昇せられて処理槽12の直上の最上
方位置に達するまでの経路を示している。
That is, when carrying out, the substrate 22 is raised along the path Z 3 shown in FIGS. Figure 10
In this case, the path Z 3 is divided into two, one of which is indicated by γ and the other by δ. As for γ, the substrate 22 placed on the substrate pedestal 85 is held by the holding means 24 (see FIGS. 1 to 6).
Is held by the processing liquid 12 at the lower end.
The path from the liquid surface of a is shown, and δ is the path from the position where the substrate 22 is further raised to the uppermost position directly above the processing tank 12.

【0053】上記経路γにおいて、基板22は可動ポー
ル45の上昇によって極くゆっくりとした速度、例えば
1〜20mm/sec、好ましくは1〜2mm/sec
にて上方に引き上げられる。このようにゆっくりと基板
22を引き上げることによって、図11に示すように処
理液12aがその表面張力により基板22から剥離して
処理槽12内に残留する状態となり、引き上げと同時に
基板22の乾燥が完了する。
In the path γ, the substrate 22 moves at an extremely slow speed due to the rise of the movable pole 45, for example, 1 to 20 mm / sec, preferably 1 to 2 mm / sec.
It is pulled up at. By slowly pulling up the substrate 22 in this way, as shown in FIG. 11, the processing liquid 12a is separated from the substrate 22 due to its surface tension and remains in the processing tank 12, and the substrate 22 is dried at the same time as being pulled up. Complete.

【0054】上記のようにして基板22の乾燥が完了す
ると、該基板22は後段の経路δに沿って例えば250
〜400mm/secにて上昇せられ、最上方位置に達
する。この後、回収される。
When the drying of the substrate 22 is completed as described above, the substrate 22 is, for example, 250 along the path δ in the subsequent stage.
It is raised at ~ 400 mm / sec and reaches the uppermost position. After this, it is recovered.

【0055】なお、上述した基板22の昇降動作におい
て、基板22が各位置に達したことの確認は、下記の構
成によりなされる。
It should be noted that, in the above-described raising / lowering operation of the substrate 22, it is confirmed that the substrate 22 has reached each position by the following configuration.

【0056】すなわち、基板22の昇降は図3に示すパ
ルスモータ52の作動により行われるのであるが、例え
ば、このパルスモータ52が、その回転量に応じたパル
ス信号を発するエンコーダ(図示せず)を備えている。
制御部は、このエンコーダより発せられるパルス信号を
受けてこれを計数し、そのパルス数に基づいて送りねじ
46(図2、図3参照)による送り量を演算することに
より、保持手段24、従って、基板22の移動位置を知
る。但し、この他、図2及び図3に示す可動ベース29
の側部に複数の光センサ等を上下方向において所定距離
をおいて設けておき、保持手段24の構成部材等がこれ
ら光センサ等により検知されることにより該各センサよ
り発せられる信号によって基板22の位置を知るように
してもよい。
That is, the board 22 is raised and lowered by the operation of the pulse motor 52 shown in FIG. 3. For example, the encoder (not shown) that the pulse motor 52 issues a pulse signal according to the rotation amount thereof. Is equipped with.
The control unit receives the pulse signals emitted from the encoder, counts the pulse signals, and calculates the feed amount by the feed screw 46 (see FIGS. 2 and 3) based on the number of pulses, thereby holding the holding unit 24, and thus the holding unit 24. , Know the moving position of the substrate 22. However, in addition to this, the movable base 29 shown in FIGS.
A plurality of optical sensors and the like are provided on the side of the substrate at a predetermined distance in the vertical direction, and the components of the holding means 24 and the like are detected by these optical sensors and the like, and the signals emitted from the respective sensors cause the substrate 22 to move. The position of may be known.

【0057】なお、上記のように基板22を乾燥させる
ための動作は、前段の処理槽9〜11においては不必要
とあればこれを行わず、最後に配置された処理槽12か
ら基板22を取り出す時にのみ行うようにしてもよい。
The operation for drying the substrate 22 as described above is not performed if it is unnecessary in the processing baths 9 to 11 in the preceding stage, and the substrate 22 is removed from the processing bath 12 arranged at the end. It may be performed only when taking out.

【0058】ところで、上記のように処理液の表面張力
を利用した基板22の乾燥においては、処理液の基板2
2からの円滑な剥離状態を維持することができる最大引
上速度は、種々の条件によって左右される。具体的に
は、基板22自体の処理液の剥離性や、処理液の加熱温
度による表面張力の変化などである。従って、扱われる
基板の材質、処理液の種類及びその加熱温度に応じて最
大引上速度を適宜設定することが行われる。この設定
は、前述した洗浄作業に先立ち、ある1枚の基板(同じ
材質のダミー基板でよい)を供試体として、これを洗浄
すべく装置を作動させ、該基板から処理液が充分に剥離
する速度を確認し、この速度以下とするのである。
By the way, in the drying of the substrate 22 utilizing the surface tension of the treatment liquid as described above, the substrate 2 of the treatment liquid is used.
The maximum pulling speed that can maintain the smooth peeling state from the No. 2 depends on various conditions. Specifically, it is the peelability of the processing liquid of the substrate 22 itself, the change in the surface tension due to the heating temperature of the processing liquid, and the like. Therefore, the maximum pulling rate is appropriately set according to the material of the substrate to be treated, the type of treatment liquid, and the heating temperature thereof. In this setting, a certain substrate (which may be a dummy substrate of the same material) is used as a test piece prior to the above-described cleaning work, and the apparatus is operated to clean the sample, and the treatment liquid is sufficiently peeled from the substrate. Check the speed, and keep it below this speed.

【0059】因に、上記した実施例においては、処理槽
12内に貯留されている処理液12aはHot純水であ
り、60o C以下(60o C以上に加熱すると蒸気が発
生する故)に加熱されており、扱われる基板22はシリ
コンウェハーであるが、この条件の元においては最大約
2mm/secの引上速度とすることが可能である。
Incidentally, in the above-mentioned embodiment, the treatment liquid 12a stored in the treatment tank 12 is Hot pure water, which is 60 ° C. or lower (because steam is generated when heated to 60 ° C. or higher). The substrate 22 which is heated to and is a silicon wafer is a wafer, but under these conditions, a pulling speed of about 2 mm / sec at the maximum is possible.

【0060】上記した自動処理装置においては、各基板
22を処理液に浸漬する際に、必然的に保持手段24も
処理液に浸る。よって、従来のようにこの保持手段24
を処理液から引き出すと該保持手段24の表面に比較的
多量の処理液が付着し、そのまま作業を続行すれば、保
持手段24に付着した処理液が別種の処理液に混入して
しまうことになる。そこで、基板22を保持していない
状態の保持手段24のみを処理液から引き出す際にも、
前述した基板22の引上げ乾燥時と同様に、極く低速に
て引き上げることが行われる。この引上げ速度は、基板
22を保持した状態のときと同じく、1〜20mm/s
ec、好ましくは1〜2mm/secに設定される。こ
のように低速にて保持手段24を引き上げることによっ
て、処理液がその表面張力により保持手段24から剥離
して処理槽内に残留する状態となり、引上げと同時に保
持手段24の乾燥が完了する。
In the above-described automatic processing apparatus, when the substrates 22 are immersed in the processing liquid, the holding means 24 is necessarily immersed in the processing liquid. Therefore, as in the conventional case, this holding means 24
When a treatment liquid is drawn out from the treatment liquid, a relatively large amount of treatment liquid adheres to the surface of the holding means 24, and if the work is continued as it is, the treatment liquid adhered to the holding means 24 may be mixed with another treatment liquid. Become. Therefore, even when only the holding means 24 not holding the substrate 22 is pulled out from the processing liquid,
Similar to the pulling and drying of the substrate 22 described above, the pulling up is performed at an extremely low speed. This pulling speed is 1 to 20 mm / s, as in the case where the substrate 22 is held.
ec, preferably 1 to 2 mm / sec. By pulling up the holding means 24 at such a low speed, the processing liquid is separated from the holding means 24 due to its surface tension and remains in the processing tank, and the drying of the holding means 24 is completed at the same time as the pulling.

【0061】上記したように、本発明に係る自動処理装
置においては、保持手段24の乾燥が、保持手段24を
単に低速にて処理液から取り出すのみで完了するから、
従来設けられている乾燥用気体噴射のための設備が全く
不要であり、何等消費するものもないから低コストであ
る。
As described above, in the automatic processing apparatus according to the present invention, the drying of the holding means 24 is completed by simply removing the holding means 24 from the processing liquid at a low speed.
The equipment for injecting the drying gas, which is conventionally provided, is completely unnecessary, and there is nothing to consume, so the cost is low.

【0062】また、保持手段24の引上速度の設定によ
って該保持手段24を完全に乾燥させることができるも
のである。
The holding means 24 can be completely dried by setting the pulling speed of the holding means 24.

【0063】更に、当該自動処理装置がクリーンルーム
など、雰囲気の清浄度を維持すべき環境下に設置されよ
うとも、保持手段24の乾燥作業によって該雰囲気を乱
す恐れは皆無であるから、雰囲気は清浄に保たれる。
Further, even if the automatic processing apparatus is installed in an environment such as a clean room where the cleanliness of the atmosphere should be maintained, there is no possibility of disturbing the atmosphere by the drying operation of the holding means 24, so the atmosphere is clean. Kept in.

【0064】なお、上記実施例においては保持手段24
が各基板22を直接保持する場合を示しているが、各基
板22をカセット(図示せず)に収容させて該カセット
と共に浸漬洗浄を行う形式の自動処理装置に関しても本
発明を適用させることができる。
The holding means 24 is used in the above embodiment.
Shows a case where each substrate 22 is directly held, but the present invention can be applied to an automatic processing apparatus of a type in which each substrate 22 is housed in a cassette (not shown) and immersion cleaning is performed together with the cassette. it can.

【0065】また、上述した保持手段24のみの引上げ
乾燥を行う際に使用される処理槽については、本実施例
において設けられた各処理槽9乃至12のうち純水を貯
留した処理槽12若しくは10を使用可能である他、該
各処理槽9乃至12とは別に、保持手段24の洗浄乾燥
用の処理槽(図示せず)を専用として設けてもよい。
Further, regarding the processing tank used when the above-mentioned holding means 24 alone is pulled and dried, among the processing tanks 9 to 12 provided in this embodiment, the processing tank 12 storing pure water or 10 can be used, and in addition to the processing tanks 9 to 12, a processing tank (not shown) for cleaning and drying the holding means 24 may be provided exclusively.

【0066】[0066]

【発明の効果】以上説明したように、本発明による自動
処理装置においては、保持手段を極くゆっくりと引き上
げることによって処理液がその表面張力により該保持手
段から剥離して処理槽内に留まるようになし、乾燥させ
ている。かかる構成の故、保持手段を充分に且つ低コス
トにて乾燥させることができると共に、クリーンルーム
などにおいて清浄な環境を乱すことがないという効果が
得られる。
As described above, in the automatic processing apparatus according to the present invention, by pulling the holding means very slowly, the processing liquid is separated from the holding means by the surface tension and remains in the processing tank. I made it dry. Due to such a constitution, it is possible to obtain an effect that the holding means can be dried sufficiently and at low cost, and the clean environment is not disturbed in a clean room or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、本発明の実施例としての自動処理装置
の全体の縦断面図である。
FIG. 1 is a vertical cross-sectional view of the entire automatic processing apparatus as an embodiment of the present invention.

【図2】図2は、図1に関するAーA断面図である。2 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG.

【図3】図3は、図1に示した自動処理装置が具備する
搬送手段の正面図である。
FIG. 3 is a front view of a carrying unit included in the automatic processing apparatus shown in FIG.

【図4】図4は、図1に示した自動処理装置が具備する
保持手段の平面図である。
FIG. 4 is a plan view of a holding means included in the automatic processing device shown in FIG.

【図5】図5は、図4に関するBーB矢視図である。5 is a BB arrow view of FIG. 4;

【図6】図6は、図5に関するCーC矢視図である。FIG. 6 is a view taken along the line CC of FIG.

【図7】図7は、図4乃至図6に示した保持手段が具備
する挾持部材の正面図である。
7 is a front view of a holding member included in the holding means shown in FIGS. 4 to 6. FIG.

【図8】図8は、図7に関するD−D断面図である。8 is a cross-sectional view taken along line DD of FIG. 7.

【図9】図9は、図1に示した自動処理装置の動作説明
図である。
9 is an operation explanatory diagram of the automatic processing apparatus shown in FIG. 1. FIG.

【図10】図10は、図1に示した自動処理装置の動作
説明図である。
10 is an operation explanatory diagram of the automatic processing apparatus shown in FIG. 1. FIG.

【図11】図11は、図1に示した自動処理装置の動作
説明図である。
11 is an operation explanatory diagram of the automatic processing apparatus shown in FIG. 1. FIG.

【図12】図12は、従来の自動処理装置の平面図であ
る。
FIG. 12 is a plan view of a conventional automatic processing device.

【図13】図13は、図12に示した従来の装置が具備
する保持手段の縦断面図である。
13 is a vertical cross-sectional view of a holding means included in the conventional device shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

9、10、11、12 処理槽 9a、10a、11a、12a 処理液 22 基板 24 保持手段 25 搬送手段 58 基体部 59、60 アーム部材 63、64 ハンガー部材 72、73、74、75 挾持部材 85 基板受台 9, 10, 11, 12 Treatment tank 9a, 10a, 11a, 12a Treatment liquid 22 Substrate 24 Holding means 25 Conveying means 58 Base portion 59, 60 Arm member 63, 64 Hanger member 72, 73, 74, 75 Holding member 85 Substrate Cradle

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数枚の基板を保持手段により保持して
所定経路に沿って搬送する搬送手段を有し、前記基板を
前記所定経路内で処理槽内に貯留された処理液により浸
漬処理を行い、前記保持手段を処理液から引き出す際の
搬送速度が、該処理液がその表面張力によって前記保持
手段から剥離して処理槽内に留まるように設定されてい
ることを特徴とする自動処理装置。
1. A carrying means for holding a plurality of substrates by a holding means and carrying the substrates along a predetermined path, wherein the substrate is immersed in a processing liquid stored in a processing bath within the predetermined path. The automatic processing apparatus is characterized in that the carrying speed when the holding means is pulled out from the processing liquid is set so that the processing liquid is separated from the holding means by the surface tension and remains in the processing tank. .
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000098313A (en) * 1998-09-17 2000-04-07 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate treatment and substrate treatment device
CN111558580A (en) * 2020-05-23 2020-08-21 张家港市科达超声有限公司 Automatic change and move and get multi-arm rotation type ultrasonic cleaning machine

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