JP2546631Y2 - Transfer apparatus for semiconductor substrate and automatic processing apparatus having the same - Google Patents

Transfer apparatus for semiconductor substrate and automatic processing apparatus having the same

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JP2546631Y2
JP2546631Y2 JP10816991U JP10816991U JP2546631Y2 JP 2546631 Y2 JP2546631 Y2 JP 2546631Y2 JP 10816991 U JP10816991 U JP 10816991U JP 10816991 U JP10816991 U JP 10816991U JP 2546631 Y2 JP2546631 Y2 JP 2546631Y2
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澄樹 波多
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Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本考案は、シリコンウェハーやガ
ラス基板等の半導体基板を複数枚まとめて所望の経路に
沿って自動的に搬送する半導体基板用搬送装置と、該半
導体基板用搬送装置を具備してこれにより半導体基板を
各処理槽内の処理液中に順次浸漬して洗浄処理などを施
す自動処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor substrate transfer apparatus for automatically transferring a plurality of semiconductor substrates such as silicon wafers and glass substrates along a desired path, and a semiconductor substrate transfer apparatus. The present invention relates to an automatic processing apparatus for sequentially immersing a semiconductor substrate in a processing liquid in each processing tank and performing a cleaning process or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の半導体基板用搬送装置及
び自動処理装置として、図26に示すものがあった。図
26に示すように、この装置においては、シリコンウェ
ハー若しくはガラス基板等の半導体基板101は、処理
用の専用のキャリア102に複数枚収容された状態のま
ま取り扱われる。なお、キャリア102内において、各
半導体基板101はその主面同士が重なり合うように、
且つ、各々が直立した状態にて配列されている。また、
キャリア102は取っ手102aを有している。
2. Description of the Related Art Conventionally, there has been a semiconductor substrate transfer apparatus and an automatic processing apparatus of this type shown in FIG. As shown in FIG. 26, in this apparatus, a semiconductor substrate 101 such as a silicon wafer or a glass substrate is handled in a state where a plurality of semiconductor substrates 101 are accommodated in a dedicated carrier 102 for processing. Note that in the carrier 102, each semiconductor substrate 101 has its main surface overlapped with each other.
Moreover, each is arranged in an upright state. Also,
The carrier 102 has a handle 102a.

【0003】一方、装置については、架台103を有し
ており、該架台103の前端部上及び後端部上には、夫
々、受入れ台枠105及び取出し台枠106が設けられ
ている。そして、これら受入れ台枠105及び取出し台
枠106の間には、3つの処理槽108ないし110が
順に配設されている。処理槽108には前洗浄用液体が
貯留され、これに続く各処理槽109及び110には各
々、エッチング用液体及び後洗浄用液体が貯留されてい
る。
On the other hand, the apparatus has a gantry 103, and a receiving frame 105 and an unloading frame 106 are provided on the front end and the rear end of the gantry 103, respectively. And between the receiving frame 105 and the unloading frame 106, three processing tanks 108 to 110 are arranged in order. A pre-cleaning liquid is stored in the processing tank 108, and an etching liquid and a post-cleaning liquid are stored in the subsequent processing tanks 109 and 110, respectively.

【0004】架台103の一側部には、上記各処理槽が
並ぶ方向に沿って延在するように開口部111が形成さ
れており、該開口部111内に可動ポール112が配置
されている。可動ポール112の上端部には、前述した
キャリア102を保持するための保持手段114が設け
られている。可動ポール112は、この保持手段11
4、従ってキャリア102を後述する所定の経路に沿っ
て搬送する搬送手段(可動ポール112以外は図示しな
い)の一部を構成する。
An opening 111 is formed at one side of the gantry 103 so as to extend along the direction in which the processing tanks are arranged. A movable pole 112 is arranged in the opening 111. . At the upper end of the movable pole 112, a holding means 114 for holding the carrier 102 described above is provided. The movable pole 112 is provided with the holding means 11.
4, thus constituting a part of a transporting means (not shown except for the movable pole 112) for transporting the carrier 102 along a predetermined route described later.

【0005】保持手段114は、上記可動ポール112
の上端部に固定された直方体状の基体部115と、該基
体部115の側部に一端にて取り付けられて該基体部1
15の側方へ向けて伸びるアーム部材116と、各々こ
のアーム部材116の他端部に垂下状態にて固着されて
キャリア102の取っ手102aを吊支する一対のハン
ガー部材117とを有している。
The holding means 114 is provided with the movable pole 112
A rectangular parallelepiped base portion 115 fixed to the upper end of the base portion, and a base portion 1 attached to one side of the base portion 115 at one end.
The arm member 116 has a pair of hanger members 117 which are fixed to the other end of the arm member 116 in a hanging state and which suspend the handle 102a of the carrier 102. .

【0006】次いで、上記した従来装置の動作を説明す
る。まず、複数枚の半導体基板101を収容したキャリ
ア102は受入れ台枠105上に置かれており、且つ、
ハンガー部材117により吊支されている。この状態か
ら、可動ポール112が経路Z1 →X1 →Z2 に沿って
移動せられて各半導体基板101がキャリア102と共
に処理槽108内の前洗浄用液体に浸漬され、前洗浄が
行なわれる。続いて可動ポール112が経路Z1 →X2
→Z2 に沿って移動せられ、各半導体基板101は処理
槽108から引き出されて隣りの処理槽109に貯留さ
れたエッチング用液体に浸漬される。そしてエッチング
がなされる。次に、可動ポール112が経路Z1 →X3
→Z2 に沿って移動せられて各半導体基板101が処理
槽109から処理槽110内に移されて該処理槽110
内の後洗浄用液体に浸漬され、後洗浄が施される。この
後洗浄が終了すると、可動ポール112が経路Z1 →X
4 →Z2 に沿って移動し、キャリア102は処理槽11
0から取り出されて取出し台枠106上に載置される。
ここで各半導体基板101はキャリア102から回収さ
れ、次工程へと送られる。
Next, the operation of the above-described conventional device will be described. First, a carrier 102 containing a plurality of semiconductor substrates 101 is placed on a receiving frame 105, and
It is suspended by a hanger member 117. From this state, the movable pole 112 is moved along the path Z 1 → X 1 → Z 2 , and each semiconductor substrate 101 is immersed in the pre-cleaning liquid in the processing tank 108 together with the carrier 102 to perform pre-cleaning. . Subsequently, the movable pole 112 moves along the path Z 1 → X 2
→ The semiconductor substrate 101 is moved along Z 2 , and each semiconductor substrate 101 is drawn out of the processing tank 108 and immersed in the etching liquid stored in the adjacent processing tank 109. Then, etching is performed. Next, the movable pole 112 moves along the route Z 1 → X 3
→ The semiconductor substrates 101 are moved along the Z 2 to move the semiconductor substrates 101 from the processing bath 109 into the processing bath 110,
It is immersed in the post-cleaning liquid inside to perform post-cleaning. After this, when the washing is completed, the movable pole 112 moves along the path Z 1 → X.
4 → moves along Z 2 , and the carrier 102
0 and is placed on the unloading frame 106.
Here, each semiconductor substrate 101 is collected from the carrier 102 and sent to the next step.

【0007】一方、空になったキャリア102は、経路
1 →X5 →Z2 に沿った可動ポール112の移動によ
り、受入れ台枠105上に戻される。そして、前工程か
ら供給される新たな半導体基板がこのキャリア102内
に収められる。この後、上記の一連の動作が繰り返され
る。
On the other hand, the empty carrier 102 is returned to the receiving frame 105 by moving the movable pole 112 along the path Z 1 → X 5 → Z 2 . Then, a new semiconductor substrate supplied from the previous process is stored in the carrier 102. Thereafter, the above-described series of operations is repeated.

【0008】上記した従来装置においては、半導体基板
101をキャリア102に収容させた状態にて取り扱う
ため下記のような問題がある。 (1)キャリア102に付着していた塵埃により処理液
が混濁し、これによって半導体基板が汚染される。 (2)キャリア102の表面に比較的多量の処理液が付
着するため、処理槽内に貯留した処理液の消費量が多い
と共に、隣接する処理槽内の別種の処理液に混入してし
まう。 (3)キャリア102の占有スペースが大きいため、各
処理槽の容積をはじめとして、装置全体の小型化を図る
ことが困難。
In the above-described conventional device, the semiconductor substrate 101 is handled in a state of being accommodated in the carrier 102, and thus has the following problems. (1) The processing liquid becomes turbid due to dust adhering to the carrier 102, thereby contaminating the semiconductor substrate. (2) Since a relatively large amount of the processing liquid adheres to the surface of the carrier 102, the processing liquid stored in the processing tank consumes a large amount and mixes with another type of processing liquid in an adjacent processing tank. (3) Since the space occupied by the carrier 102 is large, it is difficult to reduce the size of the entire apparatus including the volume of each processing tank.

【0009】そこで、かかる問題を解決するために、図
27及び図28に示す装置が提案された。なお、この装
置に関しては、例えば特開昭57−52138号公報に
おいて開示されている。また、この装置は、図示した装
置要部以外は図26に示した装置と同様に構成されてい
る故、装置全体としての構成及び動作の説明は省略す
る。また、以下の説明において、図26に示した装置の
構成部材と同一の部材については同じ参照符合を付して
いる。
In order to solve such a problem, an apparatus shown in FIGS. 27 and 28 has been proposed. This apparatus is disclosed, for example, in Japanese Patent Laid-Open No. 57-52138. Since this device is configured similarly to the device shown in FIG. 26 except for the main parts of the device shown in the figure, the description of the configuration and operation of the entire device will be omitted. In the following description, the same members as those of the apparatus shown in FIG. 26 are denoted by the same reference numerals.

【0010】図27に示すように、当該装置において
は、複数枚の半導体基板101を保持する保持手段12
1が次のように構成されている。なお、各半導体基板1
01はこの保持手段121によって、その各々の主面同
士が重なり合うように且つ各々が直立した状態にて配列
して保持される。
As shown in FIG. 27, in the apparatus, a holding means 12 for holding a plurality of semiconductor substrates 101 is provided.
1 is configured as follows. Each semiconductor substrate 1
Numerals 01 are arranged and held by the holding means 121 in such a manner that their respective main surfaces are overlapped and each is upright.

【0011】即ち、保持手段121は、アーム部材11
6の端部に取り付けられて4本の垂下部122aを有す
るハンガー部材122と、これら垂下部122aの2本
ずつによって、且つピン123を介して相対的に揺動自
在に支持された一対の基板挾持部材125と、該両基板
挾持部材125を駆動する駆動手段とを有している。該
駆動手段は、ハンガー部材122上に設けられた空気圧
シリンダ126と、2本のリンク127a及び3本のピ
ン127bから成ってこの空気圧シリンダ126の出力
軸126aの出力を両基板挾持部材125に伝達するリ
ンク機構127とから成る。
That is, the holding means 121 is provided with the arm member 11.
A hanger member 122 having four hanging parts 122a attached to the end of the base member 6; and a pair of substrates supported by two of these hanging parts 122a and relatively swingably via pins 123. It has a holding member 125 and driving means for driving the two substrate holding members 125. The driving means comprises a pneumatic cylinder 126 provided on the hanger member 122, two links 127a and three pins 127b, and transmits the output of the output shaft 126a of the pneumatic cylinder 126 to the two board holding members 125. And a link mechanism 127 that performs the operation.

【0012】上記の両基板挾持部材125には、各々が
半導体基板101が係合し得る多数の、この場合、5条
の保持溝125aが並設されている。
A large number of, in this case, five retaining grooves 125a, in each of which the semiconductor substrate 101 can be engaged, are provided in the two substrate holding members 125 in parallel.

【0013】一方、架台103上であって処理槽108
の前隣には受入れ台枠130が設けられており、該受入
れ台枠130上には、複数枚の半導体基板101を収容
した基板容器131が載置されている。基板容器131
には、夫々が半導体基板101を収容し得る5条の収容
溝131aが並設されている。なお、この基板容器13
1は、各半導体基板101を収容した状態にて、図示せ
ぬ容器搬送装置によって受入れ台枠130上に持ち来さ
れたものである。
On the other hand, the processing tank 108
A receiving frame 130 is provided adjacent to the front of the board. A substrate container 131 containing a plurality of semiconductor substrates 101 is placed on the receiving frame 130. Substrate container 131
Are provided with five storage grooves 131a, each of which can store the semiconductor substrate 101. The substrate container 13
Reference numeral 1 denotes a case where each semiconductor substrate 101 is carried on a receiving frame 130 by a container transport device (not shown) in a state of being accommodated.

【0014】受入れ台枠130の下方には、基板容器1
31内の各半導体基板101を前述した保持手段121
による保持可能位置に供給する基板供給手段が設けられ
ている。該基板供給手段は、半導体基板101に係合し
てこれを支持し得る5条の支持溝133aが並設された
基板担持部材133と、架台103に取り付けられてそ
の出力軸134aに該基板担持部材133が固着された
空気圧シリンダ134とから成る。この空気圧シリンダ
134は、該基板担持部材133を昇降せしめるための
もので、出力軸134aの突出動作によって基板担持部
材133が上昇し、該基板担持部材133が担持した各
半導体基板101が上方に押し出されて上記保持手段1
21による保持可能位置に達する。なお、受入れ台枠1
30及び基板容器131には、基板担持部材133が通
過するための開口部130a及び131aが形成されて
いる。
The substrate container 1 is located below the receiving frame 130.
The holding means 121 described above holds each semiconductor substrate 101 in
Substrate supply means for supplying the substrate to a position that can be held. The substrate supply means includes a substrate support member 133 in which five support grooves 133a capable of engaging with and supporting the semiconductor substrate 101 are arranged in parallel, and a substrate support member mounted on the pedestal 103 and having its output shaft 134a mounted on the output shaft 134a. And a pneumatic cylinder 134 to which a member 133 is fixed. The pneumatic cylinder 134 is for raising and lowering the substrate supporting member 133. The substrate supporting member 133 is raised by the projecting operation of the output shaft 134a, and each semiconductor substrate 101 carried by the substrate supporting member 133 is pushed upward. Holding means 1
21 is reached. In addition, receiving underframe 1
The openings 30 a and 131 a through which the substrate holding member 133 passes are formed in the substrate 30 and the substrate container 131.

【0015】次いで、上記した装置の動作を図29及び
図30をも参照しつつ説明する。まず、図27に示すよ
うに、5枚の半導体基板101を収容した基板容器13
1が受入れ台枠130上に載置される。すると、図29
に示すように、空気圧シリンダ134が作動してその出
力軸134aが突出し、各半導体基板101は基板担持
部材133により担持されて基板容器131の上方に押
し出され、保持手段121による保持可能位置に位置決
めされる。これに続き、上方の空気圧シリンダ126が
作動してその出力軸126aが突出する。よって、図2
9に示すようにリンク機構127が作動し、一対の基板
挾持部材125によって各半導体基板101が挾持され
る。この後、図26に示した従来装置と同様にして可動
ポール112が所定の経路に沿って移動し、これに伴っ
て各半導体基板101の前洗浄、エッチング及び後洗浄
が行われる。なお、この後洗浄までを完了した各半導体
基板101は、各処理槽108ないし110(図26を
参照)の後方に配設された取出し台枠(図示せず)の直
上の位置に搬送される。該取出し台枠上には各半導体基
板を収容し得る回収用の基板容器(図示せず)が置かれ
ており、各半導体基板101は上記の直上位置から下降
せられてこの基板容器内に収納される。なお、その後、
これら半導体基板101は該基板容器に収納された状態
のまま後段の工程に向けて搬送される。なお、この基板
回収用の基板容器は、図27及び図29に示した基板供
給用の基板容器131と同形状であり、1枚ずつの半導
体基板101が嵌入し得る5条の収容溝が並設されてい
る。
Next, the operation of the above-described device will be described with reference to FIGS. First, as shown in FIG. 27, a substrate container 13 containing five semiconductor substrates 101 is provided.
1 is placed on the receiving frame 130. Then, FIG. 29
As shown in FIG. 7, the pneumatic cylinder 134 operates to project its output shaft 134a, and each semiconductor substrate 101 is carried by the substrate carrying member 133 and pushed out above the substrate container 131, and is positioned at a position where it can be held by the holding means 121. Is done. Following this, the upper pneumatic cylinder 126 operates and its output shaft 126a projects. Therefore, FIG.
As shown in FIG. 9, the link mechanism 127 operates, and the semiconductor substrates 101 are clamped by the pair of substrate clamping members 125. Thereafter, the movable pole 112 moves along a predetermined path in the same manner as in the conventional apparatus shown in FIG. 26, and accordingly, pre-cleaning, etching, and post-cleaning of each semiconductor substrate 101 are performed. The semiconductor substrates 101 that have been completed up to the subsequent cleaning are conveyed to a position immediately above an unloading frame (not shown) disposed behind each of the processing tanks 108 to 110 (see FIG. 26). . A collection substrate container (not shown) capable of accommodating each semiconductor substrate is placed on the unloading frame, and each semiconductor substrate 101 is lowered from the position immediately above and stored in this substrate container. Is done. After that,
These semiconductor substrates 101 are conveyed toward a subsequent process while being stored in the substrate container. The substrate container for collecting the substrate has the same shape as the substrate container 131 for supplying the substrate shown in FIGS. 27 and 29, and has five rows of receiving grooves into which the semiconductor substrates 101 can be fitted one by one. Has been established.

【0016】上述したように、図27乃至図29に示し
た第2の従来例たる装置においては、図26に示した第
1の従来例としての装置にて必要とするキャリア102
が不要となっている。よって、この第1の従来装置が抱
える前述した問題は解消される。
As described above, in the second prior art device shown in FIGS. 27 to 29, the carrier 102 required in the first prior art device shown in FIG. 26 is used.
Is no longer required. Therefore, the above-mentioned problem of the first conventional device is solved.

【0017】[0017]

【考案が解決しようとする課題】しかしながら、この第
2の従来装置においては、可動ポール112上の基体部
115に片持梁状に取り付けられたアーム部材116が
比較的長尺であり、しかも、この長いアーム部材116
の先端部にハンガー部材117と共に駆動源たる空気圧
シリンダ126が取り付けられている。よって、保持す
る半導体基板101の重量も加わることから荷重が大と
なり、アーム部材116に大きな傾きが発生し、上記基
板挾持部材125から上述の基板回収用の基板容器(図
示せず)に受け渡す際に、該基板容器に形成された基板
収容のための収容溝の縁部に半導体基板の外周縁が当接
する場合があり、搬送不能状態を引き起こすという欠点
がある。また、このように、アーム部材116が大きく
傾くと、前述した洗浄工程に続いて何等かの加工を該半
導体基板101に施すことを考える場合、その加工用の
装置による加工位置に半導体基板101を正確に搬送し
て位置決めすることが困難であるという欠点もある。
However, in the second conventional device, the arm member 116 attached to the base portion 115 on the movable pole 112 in a cantilever manner is relatively long. This long arm member 116
A pneumatic cylinder 126 serving as a driving source is mounted together with the hanger member 117 at the tip of the cylinder. Accordingly, the weight of the semiconductor substrate 101 to be held is added, so that the load becomes large, and the arm member 116 is largely inclined, and is transferred from the substrate holding member 125 to the substrate container (not shown) for collecting the substrate. In this case, the outer peripheral edge of the semiconductor substrate may come into contact with the edge of the accommodating groove formed in the substrate container for accommodating the substrate. In addition, when the arm member 116 is greatly inclined in this way, when performing some processing on the semiconductor substrate 101 following the above-described cleaning step, the semiconductor substrate 101 is moved to a processing position by the processing apparatus. There is also a disadvantage that it is difficult to accurately convey and position.

【0018】そこで、本考案は、上記従来技術の欠点に
鑑みてなされたものであって、半導体基板を支障なく円
滑に搬送することが出来ると共に、所望の位置に高精度
に搬送して位置決めすることが出来、しかも、搬送でき
る半導体基板の数量の増大を達成した半導体基板用搬送
装置と、該搬送装置に液体による処理機能を付加した自
動処理装置を提供することを目的とする。
In view of the above, the present invention has been made in view of the above-mentioned disadvantages of the related art, and enables the semiconductor substrate to be smoothly and smoothly transported without any trouble, and to be transported and positioned at a desired position with high precision. It is an object of the present invention to provide a semiconductor substrate transfer apparatus which can increase the number of semiconductor substrates which can be transferred and which can be transferred, and an automatic processing apparatus in which a liquid processing function is added to the transfer apparatus.

【0019】[0019]

【課題を解決するための手段】本考案は、複数枚の半導
体基板をその主面同士が重なり合うように且つ各々が直
立した状態にて配列して保持し得る保持手段と、前記保
持手段を所定経路に沿って搬送する搬送手段とを有し、
前記保持手段は、前記搬送手段により搬送せしめられる
基体部と、各々前記半導体基板が係合し得る複数の保持
溝が並設されて前記基体部上に相対的に可動に設けられ
て互いに協働して前記半導体基板を挾持する少なくとも
一対の基板挾持部材と、前記基板挾持部材各々を駆動す
る駆動手段とから成る半導体基板用搬送装置において、
前記保持手段は、前記基体部に一端にて軸中心を中心と
して回転自在に取り付けられて前記基体部の側方へ向け
て伸長し、かつ他端部に前記基板挾持部材が取り付けら
れた複数のアーム部材を有し、前記駆動手段は、前記基
体部に対して取り付けられて前記アーム部材各々にトル
クを付与するトルク付与手段を有し、前記アーム部材の
1本毎に前記基板挾持部材が複数取り付けられるように
したものである。また、本考案は、処理用液体を貯留し
得る処理槽と、複数枚の半導体基板をその主面同士が重
なり合うように且つ各々が直立した状態にて配列して保
持し得る保持手段と、前記保持手段をその保持した半導
体基板と共に前記処理槽内の前記処理液による浸漬位置
を経て前記処理槽外に至る所定経路に沿って搬送する搬
送手段とを有し、前記保持手段は、前記搬送手段により
搬送せしめられる基体部と、各々前記半導体基板が係合
し得る複数の保持溝が並設されて前記基体部上に相対的
に可動に設けられて互いに協働して前記半導体基板を挾
持する少なくとも一対の基板挾持部材と、前記基板挾持
部材各々を駆動する駆動手段とから成る自動処理装置に
おいて、前記保持手段は、前記基体部に一端にて軸中心
を中心として回転自在に取り付けられて前記基体部の側
方へ向けて伸長し、かつ他端部に前記基板挾持部材が取
り付けられた複数のアーム部材を有し、前記駆動手段
は、前記アーム部材各々にトルクを付与するトルク付与
手段を有し、前記アーム部材の1本毎に前記基板挾持部
材が複数取り付けられるようにしたものである。
SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, there is provided a holding means capable of holding a plurality of semiconductor substrates arranged in an upright state such that their main surfaces are overlapped with each other, and the holding means is provided with a plurality of semiconductor substrates. Transport means for transporting along the route,
The holding means is provided with a base portion conveyed by the conveyance means and a plurality of holding grooves with which the semiconductor substrate can be engaged, and is provided relatively movably on the base portion to cooperate with each other. A semiconductor substrate transfer device comprising: at least a pair of substrate holding members for holding the semiconductor substrate; and driving means for driving each of the substrate holding members.
The holding means is attached to the base portion at one end so as to be rotatable around an axial center, extends toward the side of the base portion, and has the other end to which the substrate holding member is attached. An arm member, wherein the driving means is provided with a torque applying means attached to the base portion to apply a torque to each of the arm members, and a plurality of the substrate holding members are provided for each of the arm members. It is intended to be attached. Further, the present invention provides a processing tank capable of storing a processing liquid, and a holding means capable of holding a plurality of semiconductor substrates arranged and held in an upright state such that their main surfaces overlap with each other, and Transport means for transporting the holding means together with the held semiconductor substrate along a predetermined path extending from the processing solution in the processing tank through the immersion position to the outside of the processing tank, and the holding means includes And a plurality of holding grooves, each of which can be engaged with the semiconductor substrate, are provided side by side, and are relatively movably provided on the base portion to cooperate with each other to clamp the semiconductor substrate. In an automatic processing apparatus comprising at least a pair of substrate holding members and driving means for driving each of the substrate holding members, the holding means is attached to the base portion at one end so as to be rotatable about an axis. A plurality of arm members extending laterally of the base portion and having the substrate holding member attached to the other end, wherein the driving means applies a torque to each of the arm members. Means, and a plurality of said substrate holding members are attached to each of said arm members.

【0020】[0020]

【実施例】次に、本考案に係る半導体基板用搬送装置と
該搬送装置を含む自動処理装置の実施例について説明す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, embodiments of a semiconductor substrate transfer apparatus according to the present invention and an automatic processing apparatus including the transfer apparatus will be described.

【0021】図1及び図2に示すように、当該自動処理
装置は、形鋼等より成るフレーム1と、該フレーム1上
に覆設されたパネル(参照符号は付さない)とにより、
全体として直方体状に形成された筐体3を備えている。
なお、これらフレーム1及びパネルの素材としてステン
レス鋼を使用することによって該筐体の防錆がなされ
る。また、図示のように、筐体3の下部には、当該自動
処理装置を運搬する際に利用されるべき多数のキャスタ
4が設けられている。そして、該キャスタ4の近傍等に
は、多数の脚5が設けられており、所定位置に搬送され
た当該自動処理装置は、これら脚5を以て床6上に固定
される。
As shown in FIGS. 1 and 2, the automatic processing apparatus includes a frame 1 made of a shaped steel or the like, and a panel (not denoted by reference numerals) covered on the frame 1.
A housing 3 formed in a rectangular parallelepiped shape as a whole is provided.
The use of stainless steel as a material for the frame 1 and the panel prevents rust of the housing. Further, as shown in the figure, a number of casters 4 to be used when transporting the automatic processing apparatus are provided at a lower portion of the housing 3. A large number of legs 5 are provided in the vicinity of the casters 4 and the like, and the automatic processing device transported to a predetermined position is fixed on the floor 6 with these legs 5.

【0022】図1に示すように、筐体3内には、基板供
給手段8と、4つの処理槽9乃至12、基板乾燥機13
が順に配設されている。
As shown in FIG. 1, a substrate supply means 8, four processing tanks 9 to 12, a substrate drier 13
Are arranged in order.

【0023】処理槽9内には、アンモニア水、過酸化水
素水及び純水を混合して成り且つ所定の温度に加熱した
処理液9aが貯留されている。又、処理槽10及び12
内には、処理液として、加熱した純水であるHot純水
(Hot deionized water)10a及
び12aが夫々貯留されており、処理槽11内には硫酸
及び過酸化水素水を混合して成り加熱された処理液11
aが貯留されている。又、処理槽9及び10の底部に
は、振動子15及び16が取り付けられている。各振動
子15、16は、筐体3内の所定位置に配設された超音
波発振器(図示せず)により駆動され、両処理槽9及び
10を励振する。
In the processing tank 9, a processing liquid 9a formed by mixing aqueous ammonia, hydrogen peroxide and pure water and heated to a predetermined temperature is stored. In addition, processing tanks 10 and 12
Hot deionized water (hot deionized water) 10a and 12a, which are heated pure waters, are stored therein as processing liquids, respectively. The processing tank 11 is formed by mixing sulfuric acid and hydrogen peroxide water. Treatment liquid 11
a is stored. Further, vibrators 15 and 16 are attached to the bottoms of the processing tanks 9 and 10, respectively. Each of the vibrators 15 and 16 is driven by an ultrasonic oscillator (not shown) disposed at a predetermined position in the housing 3 to excite both the processing tanks 9 and 10.

【0024】図1に示すように、処理槽10の下方に
は、該処理槽10内の処理液10aを急速に排出するた
めの排液手段18が設けられている。この排液手段18
の構成については、実開平3−38628号公報におい
て開示されているものと同様である故、ここでは詳述し
ない。なお、他の処理槽9、11及び12からの排液
は、該各処理槽に接続された排液チューブ(図示せず)
を通じて行われる。又、各処理槽9乃至13に供給され
るべき各処理液を備蓄する備蓄タンク20が処理槽11
の下方に配設されており、該備蓄タンク20から図示せ
ぬ供給チューブを経て各処理槽に対して各種の処理液が
供給される。
As shown in FIG. 1, a drainage means 18 is provided below the processing tank 10 for rapidly discharging the processing liquid 10a in the processing tank 10. This drainage means 18
Is similar to that disclosed in Japanese Utility Model Laid-Open No. 3-38628, and will not be described in detail here. The drainage from the other processing tanks 9, 11, and 12 is supplied to a drainage tube (not shown) connected to each processing tank.
Done through. A storage tank 20 for storing each processing solution to be supplied to each of the processing tanks 9 to 13 is provided.
, And various processing liquids are supplied from the storage tank 20 to each processing tank via a supply tube (not shown).

【0025】さて、当該自動処理装置は、シリコンウェ
ハー若しくはガラス基板等の半導体基板22の洗浄から
乾燥までを自動的に行うものであり、後述する一連の工
程にて一度に例えば50枚の半導体基板22の洗浄及び
乾燥を完了することができる。なお、半導体基板22は
円形であり、その直径が約200m/mである。これら
50枚の半導体基板22は、図1及び図2に示す保持手
段24によって保持され、図2に示す搬送手段25によ
って該保持手段24が所定経路に沿って搬送されること
により上記の各処理槽を巡る。なお、保持手段24は、
各半導体基板22を該各半導体基板の主面同士が重なり
合うように、且つ各々が直立した状態にて配列して保持
する。
The automatic processing apparatus automatically performs the steps from cleaning to drying of a semiconductor substrate 22 such as a silicon wafer or a glass substrate. The washing and drying of 22 can be completed. The semiconductor substrate 22 is circular and has a diameter of about 200 m / m. These fifty semiconductor substrates 22 are held by holding means 24 shown in FIGS. 1 and 2, and the holding means 24 is transported along a predetermined path by a transport means 25 shown in FIG. Go around the tank. The holding means 24 is
The semiconductor substrates 22 are arranged and held such that the main surfaces of the semiconductor substrates overlap with each other and each of the semiconductor substrates 22 stands upright.

【0026】図1及び図3並びに図4に示すように、上
記搬送手段25は、上述した各処理槽9乃至12の並ぶ
方向に沿って、すなわち水平方向において延在するレー
ル27と、該レール27に対してブラケット28a及び
スライダ28bを介して摺動自在に取り付けられた可動
ベース29とを有している。なお、図3及び図4に示す
ように、レール27は、筐体3に対して固定された支持
プレート30上に取り付けられている。図4及び図5か
らも明らかなように、可動ベース29は全体として略矩
形板状に形成されている。
As shown in FIGS. 1, 3 and 4, the transfer means 25 includes a rail 27 extending in the direction in which the processing tanks 9 to 12 are arranged, that is, in a horizontal direction. 27 has a movable base 29 slidably mounted on a bracket 28a via a bracket 28a and a slider 28b. As shown in FIGS. 3 and 4, the rail 27 is mounted on a support plate 30 fixed to the housing 3. As is clear from FIGS. 4 and 5, the movable base 29 is formed in a substantially rectangular plate shape as a whole.

【0027】可動ベース29は、その上端部近傍にてレ
ール27により吊支される状態にて取り付けられてお
り、図2ないし図4に示すように、該可動ベース29の
下端部にはブラケット32を介して一対のローラ33が
設けられている。そして、これらローラ33は、筐体3
の下部に上記のレール27と平行に配設されたガイドプ
レート34を左右から挾んでいる。かかる構成によっ
て、可動ベース29が円滑に移動することができる。
The movable base 29 is attached in the vicinity of its upper end so as to be suspended from the rail 27. As shown in FIGS. 2 to 4, a bracket 32 is attached to the lower end of the movable base 29. A pair of rollers 33 is provided via the. The rollers 33 are provided in the housing 3
A guide plate 34 arranged in parallel with the rail 27 is sandwiched from the left and right. With this configuration, the movable base 29 can move smoothly.

【0028】図3及び図4から特に明らかなように、上
記したレール27を担持した支持プレート30の下面に
は、該レール27と平行に長尺のラック36が固設され
ている。これに対して、可動ベース29上には、該ラッ
ク36に噛合する最終段歯車37aを含む減速機構37
と、該減速機構37にトルクを付与するモータ38とが
取り付けられている。即ち、モータ38を正及び逆転さ
せることによって可動ベース29がレール27に沿って
往復動する。
As is apparent from FIGS. 3 and 4, a long rack 36 is fixed to the lower surface of the support plate 30 carrying the rail 27 in parallel with the rail 27. On the other hand, on the movable base 29, a speed reduction mechanism 37 including a final gear 37a meshing with the rack 36 is provided.
And a motor 38 for applying a torque to the speed reduction mechanism 37. That is, the movable base 29 reciprocates along the rail 27 by rotating the motor 38 forward and backward.

【0029】図5に示すように可動ベース29上には、
レール40が上下方向において伸長すべく取り付けられ
ている。そして、このレール40上に、スライダ41
(図4にも図示)が摺動自在に設けられ、該スライダ4
1に昇降プレート42が固着されている。昇降プレート
42には、固定ブロック43を介して可動ポール45が
上下方向において延在すべく取り付けられている。この
可動ポール45と平行に長尺のウォーム46が配置され
ており、且つ、上下一対の軸受47a及び47bを介し
て可動ベース29に対して回転自在に取り付けられてい
る。ウォーム46に螺合するナット49が設けられてお
り、該ナット49が昇降プレート42に対して固着され
ている。
As shown in FIG. 5, on the movable base 29,
A rail 40 is attached to extend in the up-down direction. Then, a slider 41 is provided on the rail 40.
(Also shown in FIG. 4) is slidably provided.
A lifting plate 42 is fixed to 1. A movable pole 45 is attached to the lifting plate 42 via a fixed block 43 so as to extend in the vertical direction. An elongated worm 46 is arranged in parallel with the movable pole 45, and is rotatably attached to the movable base 29 via a pair of upper and lower bearings 47a and 47b. A nut 49 screwed to the worm 46 is provided, and the nut 49 is fixed to the lifting plate 42.

【0030】ウォーム46の下端部は軸受47bよりも
下方に突出しており、この突出部分にプーリ50が嵌着
されている。そして、可動ベース29上であってこの軸
受47bの側方にギアドモータ52が設けられており、
該ギアドモータ52の出力軸にもプーリ53が嵌着さ
れ、両プーリ50及び53にはベルト54が掛け回され
ている。即ち、ギアドモータ52が正及び逆回転するこ
とによりウォーム46が正及び逆回転して、可動ポール
45がこれを担持した昇降プレート42と共に昇降動作
を行うように構成されている。
The lower end of the worm 46 protrudes below the bearing 47b, and a pulley 50 is fitted to this protruding portion. A geared motor 52 is provided on the movable base 29 and beside the bearing 47b.
A pulley 53 is also fitted to the output shaft of the geared motor 52, and a belt 54 is wound around both pulleys 50 and 53. That is, when the geared motor 52 rotates forward and backward, the worm 46 rotates forward and backward, and the movable pole 45 performs a lifting operation together with the lifting plate 42 carrying the worm 46.

【0031】なお、図4に示すように、可動ベース29
には、可動ポール45が上昇位置及び下降位置のいずれ
にあるかを検知するための2つのスイッチ55a及び5
5bが設けられており、これらは昇降プレート42に設
けられた突片56が係合することにより作動する。
Incidentally, as shown in FIG.
Have two switches 55a and 55 for detecting whether the movable pole 45 is in the raised position or the lowered position.
5b are provided, and these are activated by engagement of a projection 56 provided on the lifting plate 42.

【0032】前述したレール27と、スライダ28b
と、可動ベース29と、ローラ33と、ガイドプレート
34と、ラック36と、減速機構37と、モータ38
と、レール40と、スライダ41と、昇降プレート42
と、可動ポール45と、ウォーム46と、プーリ50及
び53と、ギアドモータ52と、ベルト54と、これら
の周辺の関連部材とによって、図1に示した保持手段2
4を、その保持した半導体基板22と共に各処理槽9乃
至12内の処理液による浸漬位置を経て該各処理槽外に
至る所定経路(後述)に沿って搬送する搬送手段25が
構成されている。
The aforementioned rail 27 and slider 28b
, Movable base 29, rollers 33, guide plate 34, rack 36, reduction mechanism 37, motor 38
, Rail 40, slider 41, lifting plate 42
1, the movable pole 45, the worm 46, the pulleys 50 and 53, the geared motor 52, the belt 54, and related members around them.
The transport means 25 is configured to transport the wafer 4 along with a semiconductor substrate 22 held along a predetermined route (described later) extending outside of each processing tank through an immersion position of the processing liquid in each of the processing tanks 9 to 12. .

【0033】次いで、半導体基板22を保持して該搬送
手段25により搬送される保持手段24について詳述す
る。
Next, the holding means 24 which holds the semiconductor substrate 22 and is transferred by the transfer means 25 will be described in detail.

【0034】図6乃至図10から特に明らかなように、
この保持手段24は、上記可動ポール45の上端部に固
定された直方体状の基体部58と、該基体部58に一端
部にて片持梁状に取り付けられて該基体部58の側方に
直線的に且つ互いに平行に伸長する2本の円柱状のアー
ム部材59及び60とを有している。図9に示すよう
に、基体部58は、底板58aと、側板58bとから成
る。そして、該図から明らかなように、基体部58内に
は2つずつの軸受62a及び62bが設けられており、
両アーム部材59及び60はこれらの軸受によってその
軸中心を中心として回転自在に支持されている。
As is particularly clear from FIGS. 6 to 10,
The holding means 24 has a rectangular parallelepiped base portion 58 fixed to the upper end of the movable pole 45, and is attached to the base portion 58 at one end in a cantilever shape so as to be lateral to the base portion 58. It has two cylindrical arm members 59 and 60 extending linearly and parallel to each other. As shown in FIG. 9, the base portion 58 includes a bottom plate 58a and a side plate 58b. As is apparent from the figure, two bearings 62a and 62b are provided in the base portion 58, respectively.
The two arm members 59 and 60 are supported by these bearings so as to be rotatable about the axis thereof.

【0035】図7及び図8に示すように、上記した両ア
ーム部材59及び60の各々の他端部及びその近傍に
は、一対のハンガー部材63が、取り付けブロック65
を介して垂下状態にて取り付けられている。各ハンガー
部材63は、上端部に雄ねじ部67aが形成された2本
の平行なシャフト67と、コの字状に形成されて該両シ
ャフト67の下端部に固着された枠部材68とから成
り、取付ブロック65にナット65a(参照符号は図8
に示す)にて締結されている。また、取付ブロック65
は、互いに各アーム部材59及び60を挾むように形成
された2つの分割体65b及び65cと、該両分割体を
締結するボルト及びナットなどの締結部材(図示せず)
などとから成る。
As shown in FIGS. 7 and 8, a pair of hanger members 63 are attached to the mounting block 65 at the other end of each of the two arm members 59 and 60 and in the vicinity thereof.
It is attached in a hanging state via. Each hanger member 63 is composed of two parallel shafts 67 each having a male screw portion 67a formed at the upper end thereof, and a frame member 68 formed in a U-shape and fixed to the lower ends of the shafts 67. , A nut 65a is attached to the mounting block 65 (see FIG.
). Also, the mounting block 65
Are two divided bodies 65b and 65c formed so as to sandwich each arm member 59 and 60, and fastening members (not shown) such as bolts and nuts for fastening the two divided bodies.
And so on.

【0036】なお、両アーム部材59及び60の他端
部、すなわち先端部には、該両先端部に枢着されて該先
端部同士を互いに連結させる連結手段70が設けられて
いる。該連結手段70は詳しくは、両アーム部材59及
び60の各々に密接して外嵌したゴムなどから成る弾性
環状部材70aと、該各環状部材70aに嵌着した2つ
の直方体状のブロック70bと、該両ブロック70bの
各々に植設されて夫々右ねじ及び左ねじの一方ずつが形
成された植込ボルト70c及び70dと、該両植込ボル
ト70c、70dに螺合するナット70eとから成る。
この連結手段70を設けたことにより、2本のアーム部
材59及び60の各先端同士の離間若しくは近接し過ぎ
が防止される。
The other end of the arm members 59 and 60, that is, the distal end, is provided with connecting means 70 which is pivotally attached to the two distal ends and connects the distal ends to each other. Specifically, the connecting means 70 includes an elastic annular member 70a made of rubber or the like closely fitted to each of the arm members 59 and 60, and two rectangular parallelepiped blocks 70b fitted to the respective annular members 70a. And studs 70c and 70d implanted in each of the blocks 70b and formed with one of a right-handed screw and a left-handed screw, respectively, and a nut 70e that is screwed to the both studs 70c and 70d. .
By providing the connecting means 70, the distal ends of the two arm members 59 and 60 are prevented from being separated from each other or too close to each other.

【0037】図7及び図8並びに図11に示すように、
上述したハンガー部材63の構成部材である枠部材68
の下端部には、半導体基板22を挾持するための基板挾
持部材72がボルト(図示せず)により取り付けられて
いる。図11乃至図13に示すように、基板挾持部材7
2には、各々半導体基板22の外周部分が係合し得る保
持溝72aが例えば25条、等しいピッチaにて並設さ
れている。なお、これら各保持溝72aの断面形状はV
字状となっている。そして、基板挾持部材72は、該各
保持溝72aが並ぶ方向に対して垂直な断面形状が円形
となっている。また、各保持溝72aは、基板挾持部材
72の全周に亘って形成されている。
As shown in FIGS. 7, 8 and 11,
The frame member 68 which is a constituent member of the hanger member 63 described above.
A substrate holding member 72 for holding the semiconductor substrate 22 is attached to a lower end of the base member by bolts (not shown). As shown in FIG. 11 to FIG.
2, two holding grooves 72a with which the outer peripheral portion of the semiconductor substrate 22 can be engaged are arranged in parallel at an equal pitch a, for example. The cross-sectional shape of each of the holding grooves 72a is V
It is shaped like a letter. The substrate holding member 72 has a circular cross section perpendicular to the direction in which the holding grooves 72a are arranged. Each holding groove 72a is formed over the entire circumference of the substrate holding member 72.

【0038】上記のように、保持溝72aの断面形状が
V字状であることによってその開口角度が大となり該保
持溝に対する半導体基板22の係合が容易となる。ま
た、基板挾持部材72の断面形状を円形とし、しかも、
保持溝72aを該基板挾持部材の全周に亘って形成する
ようになすことによって、該保持溝72aを例えば施盤
等にて容易に形成することが可能であると共に、枠部材
68に対する該基板挾持部材72の取り付け時に該基板
挾持部材72の回転方向における位置決めを行う必要が
なくなるという効果がある。
As described above, since the cross-sectional shape of the holding groove 72a is V-shaped, the opening angle becomes large and the engagement of the semiconductor substrate 22 with the holding groove becomes easy. Further, the cross-sectional shape of the substrate holding member 72 is circular, and
By forming the holding groove 72a over the entire circumference of the substrate holding member, the holding groove 72a can be easily formed by, for example, a lathe, and the substrate holding member 72 is held by the frame member 68. There is an effect that there is no need to position the substrate holding member 72 in the rotation direction when the member 72 is attached.

【0039】ところで、上記までの説明から明らかなよ
うに、両アーム部材59及び60の1本毎に、基板挾持
部材72が2本ずつ取り付けられている。従って、該各
アーム部材間において互いに対応するように設けられた
1組の基板挾持部材72同士によって例えば25枚の半
導体基板22を挾持し得ることから、一度にその2倍、
すなわち50枚の半導体基板22を保持して搬送するこ
とができる。
As is clear from the above description, two board holding members 72 are attached to each of the two arm members 59 and 60. Therefore, for example, 25 semiconductor substrates 22 can be clamped by a pair of substrate clamping members 72 provided so as to correspond to each other between the arm members.
That is, 50 semiconductor substrates 22 can be held and transported.

【0040】また、両アーム部材59及び60の1本毎
に取り付けられた2本の基板挾持部材72は、その保持
溝72aが並ぶ方向における中心軸同士が一致するよう
に配設されている。図7から明らかなように、かかる構
成においては、該基板挾持部材72により保持される5
0枚の半導体基板22はその全数がアーム部材59及び
60の軸中心に沿って一列に並ぶこととなると共に、該
各基板挾持部材72とこれを支持する2つのハンガー部
材63や取付ブロック65も該軸中心に沿って並ぶこと
になる。よって、これらの総重量がアーム部材59及び
60の全長のうちかなり長い範囲に亘って等分布荷重に
近い状態にて加わる状態となり、該両アーム部材の撓み
量を小さく抑える上で好ましい。因みに、アーム部材5
9及び60の各々に対して2本若しくはそれ以上の基板
挾持部材72を取り付ける他の形式として、例えば、ハ
ンガー部材63を長尺なものとして、該各基板挾持部材
72を鉛直方向において段差を以て該ハンガー部材に取
り付けることが考えられる。しかしながら、この形式に
おいては、各半導体基板22及びこれらを保持するため
の上記の各部材が、各アーム部材59及び60の全長の
うちかなり短い範囲内に集中荷重的に加わる状態とな
り、両アーム部材の撓み量は増大する。
The two substrate holding members 72 attached to each of the two arm members 59 and 60 are disposed so that the central axes thereof in the direction in which the holding grooves 72a are arranged coincide with each other. As is clear from FIG. 7, in such a configuration, 5
The total number of the zero semiconductor substrates 22 is arranged in a line along the axial center of the arm members 59 and 60. Each of the substrate holding members 72 and the two hanger members 63 and the mounting blocks 65 supporting the same are also provided. They will be aligned along the axis center. Therefore, the total weight is applied over a considerably long range of the entire lengths of the arm members 59 and 60 in a state close to an evenly distributed load, which is preferable in suppressing the amount of bending of both arm members. By the way, the arm member 5
As another type of attaching two or more board holding members 72 to each of 9 and 60, for example, by making the hanger member 63 long, each of the board holding members 72 is formed with a step in the vertical direction. Attachment to a hanger member is conceivable. However, in this type, each semiconductor substrate 22 and the above-mentioned members for holding them are applied in a concentrated load within a considerably short range of the entire length of each of the arm members 59 and 60. Is increased.

【0041】ところで、図12及び図13に示すよう
に、基板挾持部材72は、その具備した保持溝72aの
溝中心72bが、仮想鉛直面74、すなわち、仮想水平
面75に対して垂直な面に対してθ、この場合、1o
o の角度範囲内において傾斜するようになされてい
る。この傾斜は具体的には、図7に示すように、アーム
部材59及び60を、その中心軸が仮想水平面75に対
してこのθ分だけ傾斜するようになしたことによる。ま
た、このアーム部材59、60の傾斜については、筐体
3から基体部58までの一連の構成部材間の相互組付け
角度を、この傾斜θが生ずるように設定するか、又は床
6自体、あるいは床6に対して筐体3を仮想水平面75
に対して傾斜させることによって生ぜしめてもよい。こ
の他、基板挾持部材72の軸中心は仮想水辺面75と平
行にして、保持溝72aそのものを、その溝中心72b
が仮想鉛直面74に対して傾斜した状態となるように形
成してもよい。
As shown in FIGS. 12 and 13, the substrate holding member 72 has a groove center 72b of a holding groove 72a provided on the substrate holding member 72 in a virtual vertical plane 74, that is, a plane perpendicular to a virtual horizontal plane 75. On the other hand, θ, in this case, 1 o ~
It is made to incline within an angle range of 5 ° . Specifically, as shown in FIG. 7, this inclination is caused by the arm members 59 and 60 whose central axes are inclined by this θ with respect to the virtual horizontal plane 75. Regarding the inclination of the arm members 59 and 60, the mutual assembling angle between a series of components from the housing 3 to the base portion 58 is set so that the inclination θ occurs, or the floor 6 itself, Alternatively, the housing 3 is placed on the virtual horizontal surface 75 with respect to the floor 6.
It may be generated by inclining with respect to. In addition, the center of the axis of the substrate holding member 72 is parallel to the virtual water surface 75, and the holding groove 72a itself is
May be formed so as to be inclined with respect to the virtual vertical plane 74.

【0042】上記のように、基板挾持部材72の保持溝
72aの溝中心72bを仮想鉛直面74に対して傾斜さ
せたことにより、下記の効果が奏される。
As described above, by inclining the groove center 72b of the holding groove 72a of the substrate holding member 72 with respect to the virtual vertical plane 74, the following effects are obtained.

【0043】即ち、該基板挾持部材72により挾持され
た複数の半導体基板22は、重力の作用によって互いに
平行に同一方向に指向した状態にて傾斜して整列するこ
ととなる。それ故、該基板挾持部材72から次工程用の
基板容器、この場合、各処理槽9乃至12内に配置され
た基板受け台(後述)への各半導体基板の受け渡しが支
障なく行われ、全ての工程に亘る半導体基板の搬送が円
滑になる。
That is, the plurality of semiconductor substrates 22 held by the substrate holding member 72 are inclined and aligned in a state where they are directed in the same direction in parallel with each other by the action of gravity. Therefore, transfer of each semiconductor substrate from the substrate holding member 72 to a substrate container for the next process, in this case, a substrate receiving table (described later) disposed in each of the processing tanks 9 to 12 can be performed without any trouble. The transfer of the semiconductor substrate over the step is facilitated.

【0044】一方、図8及び図11に示すように、上述
した基板挾持部材72の上方近傍には、全体として略平
板状の櫛状部材77が配置されており、且つ、基板挾持
部材72と共にハンガー部材63の枠部材68にボルト
(図示せず)によって締結されている。図14及び図1
5から特に明らかなように、この櫛状部材77には、該
基板挾持部材72の保持溝72aに各々対応すべく、2
5条のスリット77aが等しいピッチaを以て並設され
ている。また、この櫛状部材77には、該各スリット7
7a内に各半導体基板22を導くためのテーパ面77b
が形成されている。
On the other hand, as shown in FIGS. 8 and 11, a generally plate-shaped comb-like member 77 is disposed in the vicinity of the above-mentioned substrate holding member 72, and together with the substrate holding member 72. It is fastened to the frame member 68 of the hanger member 63 by bolts (not shown). FIG. 14 and FIG.
As is apparent from FIG. 5, the comb-like member 77 has two holes to correspond to the holding grooves 72a of the substrate holding member 72, respectively.
Five slits 77a are juxtaposed with an equal pitch a. In addition, this comb-shaped member 77 has each slit 7
Tapered surface 77b for guiding each semiconductor substrate 22 into 7a
Are formed.

【0045】この櫛状部材77は、基板挾持部材72の
各保持溝72aに対する半導体基板22の傾きを規正す
る規正手段として作用し、基板挾持部材72と共に枠部
材68に取り付けられている故、該基板挾持部材と連動
して、図11に示すように各半導体基板22に各スリッ
ト77aにて密接係合する。
Since the comb-like member 77 functions as a regulating means for regulating the inclination of the semiconductor substrate 22 with respect to each holding groove 72a of the substrate clamping member 72, and is attached to the frame member 68 together with the substrate clamping member 72, In conjunction with the substrate holding member, as shown in FIG. 11, each semiconductor substrate 22 is tightly engaged with each slit 77a.

【0046】上述のように、基板挾持部材72の各保持
溝72aに対する半導体基板22の傾きを、該基板挾持
部材72の作動と連動して規正する規正手段を設けたこ
とによって、前述した保持溝72aの溝中心72bの傾
斜に基づく効果と同様の効果、すなわち、各半導体基板
22の整列状態が得られる。
As described above, by providing the regulating means for regulating the inclination of the semiconductor substrate 22 with respect to each of the holding grooves 72a of the substrate holding member 72 in conjunction with the operation of the substrate holding member 72, the above-described holding groove is provided. The same effect as the effect based on the inclination of the groove center 72b of the groove 72a, that is, the alignment of the semiconductor substrates 22 can be obtained.

【0047】なお、図8に示すように、該規正手段とし
ての櫛状部材77が、半導体基板22を挾持する1組す
なわち2本の基板挾持部材72のうち一方の近傍にのみ
設けられているが、両方の基板挾持部材72に対して付
加してもよい。又、当該規正手段の構成としては、上記
のような櫛状部材77に限らず、例えば、基板挾持部材
72により挾持された各半導体基板22の側方から該各
半導体基板の主面に対して斜めに圧搾空気を噴射して、
各半導体基板22を互いに平行に同一方向に指向した状
態にて整列せしめる構成のものが考えられる。
As shown in FIG. 8, a comb-shaped member 77 as the regulating means is provided only in the vicinity of one of the pair of substrate clamping members 72, that is, the two substrate clamping members 72. However, it may be added to both substrate holding members 72. The configuration of the regulating means is not limited to the comb-shaped member 77 as described above. For example, from the side of each semiconductor substrate 22 clamped by the substrate clamping member 72, the main surface of each semiconductor substrate is Inject compressed air diagonally,
A configuration is conceivable in which the semiconductor substrates 22 are aligned in a state where they are oriented parallel to each other in the same direction.

【0048】また、図11から特に明らかなように、規
正手段としての櫛状部材77を基板挾持部材72の上方
に配置したことにより、該櫛状部材77のスリット77
aに対する半導体基板22の嵌入量が大となり、半導体
基板22の傾き規正効果が大きくなる。
Further, as is particularly clear from FIG. 11, the comb-shaped member 77 as the regulating means is disposed above the substrate holding member 72, so that the slit 77 of the comb-shaped member 77 is formed.
The amount of insertion of the semiconductor substrate 22 into “a” increases, and the effect of adjusting the inclination of the semiconductor substrate 22 increases.

【0049】次いで、前述した各基板挾持部材72をし
て各半導体基板22の挾持及びその解除を行わしめるべ
くこれを駆動する駆動手段の構成について説明する。
Next, a description will be given of the structure of the driving means for driving the semiconductor substrate 22 by using the above-described substrate holding members 72 to hold and release the semiconductor substrates 22.

【0050】図4及び図10に示すように、保持手段2
4の構成部材である基体部58を支持する可動ポール4
5は中空であり、その内部に長尺の円柱状シャフト79
が挿通されている。このシャフト79の上端部は、前述
した2本のアーム部材59及び60に対して、リンク機
構80を介して連結されている。図9及び図10に示す
ように、このリンク機構80は、夫々アーム部材59及
び60に対して一端部にて嵌着した2本のリンク部材8
0a及び80bと、該両リンク部材の他端部同士を互い
に枢着せしめると共にシャフト79の上端に固設された
小ブラケット79aに対して枢着したピン80cとから
成る。なお、両リンク部材80a及び80bは各々、両
アーム部材59、60に対して止めピン80dにより回
り止めされている。また、両アーム部材59及び60を
枢支する各軸受62a及び62bと上記の両リンク部材
80a、80bとの間には、環状のスペーサ62cが介
装されている。
As shown in FIG. 4 and FIG.
Movable pole 4 supporting a base portion 58 which is a constituent member of
5 is hollow and has a long cylindrical shaft 79 inside.
Is inserted. The upper end of the shaft 79 is connected to the two arm members 59 and 60 described above via a link mechanism 80. As shown in FIGS. 9 and 10, the link mechanism 80 includes two link members 8 fitted at one end to arm members 59 and 60, respectively.
0a and 80b, and a pin 80c for pivotally connecting the other ends of the link members to each other and for pivoting to a small bracket 79a fixed to the upper end of the shaft 79. The link members 80a and 80b are each prevented from rotating with respect to the arm members 59 and 60 by a locking pin 80d. An annular spacer 62c is interposed between the bearings 62a and 62b pivotally supporting the arm members 59 and 60 and the link members 80a and 80b.

【0051】一方、図3ないし図5に示すように、上記
可動ポール45を支える固定ブロック43に、出力軸が
下向きに突出するようにソレノイド82が取り付けられ
ている。なお、図4に示すように、可動ベース29に
は、このソレノイド82に対する電源の供給及びその断
をなすための可撓性のケーブル82aが設けられてい
る。
On the other hand, as shown in FIGS. 3 to 5, a solenoid 82 is attached to the fixed block 43 supporting the movable pole 45 so that the output shaft protrudes downward. As shown in FIG. 4, the movable base 29 is provided with a flexible cable 82a for supplying and disconnecting power to the solenoid 82.

【0052】上記ソレノイド82の近傍にはレバー部材
83が配置されており、且つ、その略中央部分にてピン
83aによりブラケット32に対して回転自在に取り付
けられている。そして、このレバー部材83の一端部は
ピン83bによってソレノイド82の出力軸に枢着さ
れ、他端部はピン83cにより上述のシャフト79の下
端部に枢着されている。すなわち、ソレノイド82が作
動及び停止することによって、シャフト79が上下動
し、以て、両アーム部材59及び60がリンク機構80
を介して回転せしめられて各基板挾持部材72による各
半導体基板22の挾持及びその解除動作がなされるよう
に構成されているのである。
A lever member 83 is disposed near the solenoid 82, and is rotatably attached to the bracket 32 by a pin 83a at a substantially central portion thereof. One end of the lever member 83 is pivotally connected to the output shaft of the solenoid 82 by a pin 83b, and the other end is pivotally connected to the lower end of the shaft 79 by a pin 83c. That is, when the solenoid 82 operates and stops, the shaft 79 moves up and down, so that the two arm members 59 and 60
, And the semiconductor substrate 22 is held by the board holding members 72 and released.

【0053】上記したシャフト79と、ソノレイド82
と、レバー部材83と、これら各部材に関連する周辺の
小部材とによって、両アーム部材59及び60にトルク
を付与するトルク付与手段が構成されている。なお、リ
ンク機構80は、両アーム部材59、60と該トルク付
与手段の間に介装されて該両アーム部材各々を同期して
作動せしめるための同期手段として作用する。前述した
ように、当該自動処理装置においては、2本のアーム部
材59、60の1本毎に複数ずつの基板挾持部材72が
取り付けられている。よって、上記の単一のリンク機構
80、すなわち同期手段によって、多数、この場合4本
の基板挾持部材72を同期して作動せしめることが出来
る。
The shaft 79 described above and the sonolide 82
, The lever member 83 and peripheral small members related to these members constitute torque applying means for applying torque to both arm members 59 and 60. The link mechanism 80 is interposed between the two arm members 59 and 60 and the torque applying means, and functions as a synchronizing means for operating the two arm members synchronously. As described above, in the automatic processing apparatus, a plurality of substrate holding members 72 are attached to each of the two arm members 59 and 60. Therefore, the single link mechanism 80, that is, the synchronizing means, allows a large number, in this case, four, of the board holding members 72 to be operated synchronously.

【0054】上述したトルク付与手段と、同期手段とし
てのリンク機構80とにより、各基板挾持部材72を駆
動して半導体基板22の挾持及びその解除を行わせる駆
動手段が構成されている。又、該駆動手段と、各基板挾
持部材72と、基体部58と、両アーム部材59及び6
0と、ハンガー部材63と、連結手段70とによって、
参照符号24にて示す保持手段が構成されている。前述
もしたように、当該保持手段24は、50枚の半導体基
板22を、これらの主面同士が重なり合うように且つ各
々が直立した状態にて配列して保持する。
Drive means for driving each substrate holding member 72 to hold and release the semiconductor substrate 22 by the above-described torque applying means and the link mechanism 80 as the synchronization means. Further, the driving means, each substrate holding member 72, the base portion 58, and both arm members 59 and 6 are provided.
0, the hanger member 63, and the connecting means 70,
The holding means indicated by reference numeral 24 is configured. As described above, the holding unit 24 holds the 50 semiconductor substrates 22 arranged in an upright state such that their main surfaces overlap with each other.

【0055】ここで、図1及び図2に示した各処理槽9
乃至12の底部に2つずつ並べて設けられて、各々が上
述した保持手段24から25枚ずつの各半導体基板22
を受けてこれらを支持する基板受け台85について説明
する。
Here, each processing tank 9 shown in FIG. 1 and FIG.
, Each of which is provided on the bottom portion of the semiconductor substrate 22 from the holding means 24 described above.
The substrate receiving base 85 that receives and supports them will be described.

【0056】図16乃至図18に示すように、基板受け
台85は、略矩形板状に形成されて互いに平行に直立し
た一対の受け部材85aと、該両受け部材85aをこれ
らの両端部にて結合する2枚の結合プレート85bと、
該受け部材85a及び結合プレート85bを締結するボ
ルト(図示せず)とから成る。
As shown in FIGS. 16 to 18, the substrate receiving base 85 has a pair of receiving members 85a formed in a substantially rectangular plate shape and standing upright in parallel with each other, and both receiving members 85a are attached to both ends thereof. Two coupling plates 85b to be coupled together;
And a bolt (not shown) for fastening the receiving member 85a and the coupling plate 85b.

【0057】図16及び図19に示すように、各受け部
材85aはその上端面が仮想水平面75(図16参照)
に対して例えば45o の角度を以て斜めとなるように形
成されており、図20及び図21にも示すように該上端
面には、各々半導体基板22の外周部分が係合し得る2
5条の受け溝85dが等しいピッチaにて並設されてい
る。また、各半導体基板22を該受け溝85d内に円滑
に案内するためのテーパ面85eが形成されている。
As shown in FIGS. 16 and 19, each receiving member 85a has an upper end surface formed of a virtual horizontal plane 75 (see FIG. 16).
20 and 21 are formed at an angle of, for example, 45 ° . As shown in FIGS.
Five receiving grooves 85d are juxtaposed at the same pitch a. Further, a tapered surface 85e for guiding each semiconductor substrate 22 smoothly into the receiving groove 85d is formed.

【0058】図17に示すように、基板受け台85は、
その具備した受け溝85dの溝中心85fが、仮想鉛直
面74に対してθ(1〜5o )の角度を以て傾斜するよ
うになされている。この傾斜は具体的には、同図に示す
ように、当該基板受け台85の全体を、仮想水平面75
に対してθだけ傾斜させて生ぜしめている。なお、この
他、基板受け台85自体は仮想水平面75と平行に配置
して、受け溝85dそのものを、該受け溝の溝中心85
fが仮想鉛直面74に対して傾斜した状態となるように
形成してもよい。
As shown in FIG. 17, the substrate receiving base 85
The groove center 85f of the provided receiving groove 85d is inclined with respect to the virtual vertical plane 74 at an angle of θ (1 to 5 ° ). This inclination is, as shown in FIG.
It is generated by inclining by θ with respect to. In addition, the substrate receiving base 85 itself is arranged in parallel with the virtual horizontal plane 75, and the receiving groove 85d itself is positioned at the center 85 of the receiving groove.
f may be formed so as to be inclined with respect to the virtual vertical plane 74.

【0059】上記のように、基板受け台85の受け溝8
5dの溝中心85fを仮想鉛直面74に対して傾斜させ
たことにより、下記の効果が得られる。なお、この溝中
心85fの傾斜を、上記基板挾持部材72の保持溝72
aの溝中心72bの傾斜に対応させるようにすれば、よ
り一層の相乗効果が得られる。すなわち、図1などに示
す保持手段24は搬送手段25により搬送されて、その
保持した50枚の半導体基板22を、上記の基板受け台
85に一旦受け渡す。この受け渡された各半導体基板2
2は、上記の溝中心85fの傾斜の構成に基づく重力の
作用によって互いに平行に同一方向に指向した状態にて
傾斜して整列することとなる。従って、処理液による処
理を施された各半導体基板22を再び保持手段24によ
り保持して処理槽外へ搬出させる際に、基板受け台85
上の各半導体基板22が、該保持手段24が具備する基
板挟持部材72の保持溝72a内に円滑に嵌入し、保持
が支障なく行われる。
As described above, the receiving groove 8 of the substrate receiving base 85
By inclining the groove center 85f of 5d with respect to the virtual vertical plane 74, the following effects can be obtained. The inclination of the groove center 85f is adjusted by the holding groove 72 of the substrate holding member 72.
A further synergistic effect can be obtained by making the groove center 72a correspond to the inclination of the groove center 72b. That is, the holding unit 24 shown in FIG. 1 and the like is transported by the transport unit 25, and once delivers the held 50 semiconductor substrates 22 to the substrate receiving table 85. Each transferred semiconductor substrate 2
2 are inclined and aligned in a state where they are directed in the same direction in parallel to each other by the action of gravity based on the configuration of the inclination of the groove center 85f. Therefore, when each semiconductor substrate 22 that has been processed with the processing liquid is again held by the holding means 24 and carried out of the processing tank, the substrate receiving base 85
The upper semiconductor substrates 22 are smoothly fitted into the holding grooves 72a of the substrate holding member 72 provided in the holding means 24, and the holding is performed without any trouble.

【0060】次に、図1に示す基板供給手段8の構成に
ついて詳述する。この基板供給手段8は、半導体基板2
2を50枚ずつ、上記の保持手段24による保持可能位
置に順次供給するものである。
Next, the structure of the substrate supply means 8 shown in FIG. 1 will be described in detail. The substrate supply means 8 includes the semiconductor substrate 2
2 are sequentially supplied to the holding position by the holding means 24 in units of 50 sheets.

【0061】図22に示すように、この基板供給手段8
は、フレーム87を有している。そして、フレーム87
の上端部にガイド部材88が固設され、昇降シャフト8
9が該ガイド部材88によって上下方向において摺動自
在に保持されている。昇降シャフト89の上端部には、
各々が25枚ずつの半導体基板を支持し得る2つの基板
担持部材90が並べて設けられている。但し、これら基
板担持部材90は図22において紙面に対して垂直な方
向にて並設されている故、図には1つのみが現れてい
る。
As shown in FIG. 22, the substrate supply means 8
Has a frame 87. And the frame 87
A guide member 88 is fixedly provided at the upper end of the elevating shaft 8.
9 is slidably held in the vertical direction by the guide member 88. At the upper end of the elevating shaft 89,
Two substrate supporting members 90 each capable of supporting 25 semiconductor substrates are provided side by side. However, since these substrate carrying members 90 are arranged side by side in the direction perpendicular to the paper surface in FIG. 22, only one appears in the figure.

【0062】一方、昇降シャフト89の下端には、中間
プレート91を介して長尺のウォーム92が結合されて
いる。そして、フレーム87上には、このウォーム92
に噛合するウォームホィール(図示せず)を含む減速機
構93と、該減速機構93に対してトルクを付与するモ
ータ94が取り付けられている。
On the other hand, a long worm 92 is connected to the lower end of the elevating shaft 89 via an intermediate plate 91. The worm 92 is placed on the frame 87.
A speed reduction mechanism 93 including a worm wheel (not shown) that meshes with a motor, and a motor 94 that applies torque to the speed reduction mechanism 93 are attached.

【0063】上記したガイド部材88と、昇降シャフト
89と、中間プレート91と、ウォーム92と、減速機
構93と、モータ94とによって、基板担持部材90を
保持手段24による基板保持可能位置に対応する位置
(図22において実線で示す位置)と該位置から下方に
離間した他の位置(図22において二点鎖線にて示す位
置)との間で移動せしめる移動手段が構成されている。
The above-described guide member 88, elevating shaft 89, intermediate plate 91, worm 92, reduction mechanism 93, and motor 94 correspond to the position where substrate holding member 90 can be held by holding means 24. Moving means for moving between a position (a position shown by a solid line in FIG. 22) and another position (a position shown by a two-dot chain line in FIG. 22) separated downward from the position is configured.

【0064】図23乃至図25に示すように、上記した
基板担持部材90は、全体として略直方体状に形成され
ており、その上面には、各々半導体基板22の外周部分
が係合し得る25条の支持溝90aが等しいピッチaに
て並設されている。また、各半導体基板22を該支持溝
90a内に案内するためのテーパ面90bが形成されて
いる。なお、図24から明らかなように、各支持溝90
aは、該各支持溝が並ぶ方向に対して直角な断面形状が
円弧状であるように形成されており、該円弧の半径R1
は半導体基板22の半径と等しく約100m/mとなっ
ている。また、同じく図24から明らかなように、テー
パ面90bについてもその断面形状が円弧状であり、該
円弧の半径は例えば230m/mである。また、図23
及び図24に示すように、基板担持部材90には、該各
支持溝90a及びテーパ面90bを貫くように長手溝9
0cが形成されている。
As shown in FIGS. 23 to 25, the above-described substrate holding member 90 is formed in a substantially rectangular parallelepiped shape as a whole, and has an upper surface on which the outer peripheral portion of the semiconductor substrate 22 can be engaged. The support grooves 90a of the strip are arranged side by side at the same pitch a. Further, a tapered surface 90b for guiding each semiconductor substrate 22 into the support groove 90a is formed. As is apparent from FIG.
a is formed such that the cross-sectional shape perpendicular to the direction in which the support grooves are arranged is an arc shape, and the radius R 1 of the arc is
Is equal to the radius of the semiconductor substrate 22 and is about 100 m / m. 24, the cross-sectional shape of the tapered surface 90b is also an arc shape, and the radius of the arc is, for example, 230 m / m. FIG.
As shown in FIG. 24, the substrate holding member 90 has a longitudinal groove 9 extending through the support groove 90a and the tapered surface 90b.
0c is formed.

【0065】図25に示すように、基板担持部材90
は、これに形成された支持溝90aの溝中心90dが、
仮想鉛直面74に対してθ(1〜5o )の角度を以て傾
斜するようになされている。具体的にはこの傾斜は、同
図に示すように、基板担持部材90自体を、仮想水平面
75に対してθだけ傾斜させることにより生じている、
なお、この他、基板担持部材90自体は仮想水平面75
と平行に設置して、支持溝90aそのものを,該支持溝
の溝中心90dが仮想鉛直面74に対して傾斜した状態
になるように形成してもよい。
As shown in FIG. 25, the substrate holding member 90
The groove center 90d of the support groove 90a formed therein is
The virtual vertical surface 74 is inclined at an angle of θ (1 to 5 ° ). Specifically, this inclination is caused by inclining the substrate holding member 90 itself by θ with respect to the virtual horizontal plane 75, as shown in FIG.
In addition, in addition to this, the substrate holding member 90 itself is
And the support groove 90a itself may be formed such that the groove center 90d of the support groove is inclined with respect to the virtual vertical plane 74.

【0066】上記のように、基板担持部材90の支持溝
90aの溝中心90dを仮想鉛直面74に対して傾斜さ
せたことによって、以下の効果が奏される。
As described above, by inclining the groove center 90d of the support groove 90a of the substrate holding member 90 with respect to the virtual vertical plane 74, the following effects are obtained.

【0067】即ち、上記の基板担持部材90上の各半導
体基板22は、図1等に示す保持手段24により保持さ
れて搬送される。この保持手段24による保持以前、各
半導体基板22は、上記の溝中心90dの傾斜の構成に
基づく重力の作用によって基板担持部材90上にて互い
に平行に同一方向に指向した状態にて傾斜して整列する
こととなる。よって、保持手段24が基板担持部材90
上の各半導体基板22を保持するときに、該保持手段2
4が具備する基板挟持部材72の保持溝72a内に各半
導体基板22が円滑に嵌入し、保持が確実になされる。
That is, each semiconductor substrate 22 on the substrate holding member 90 is transported while being held by the holding means 24 shown in FIG. Prior to the holding by the holding means 24, each semiconductor substrate 22 is tilted in a state where the semiconductor substrates 22 are directed in the same direction in parallel with each other on the substrate holding member 90 by the action of gravity based on the tilt configuration of the groove center 90d. Will be aligned. Therefore, the holding means 24 is moved to the substrate holding member 90.
When each of the upper semiconductor substrates 22 is held, the holding means 2
Each semiconductor substrate 22 is smoothly fitted into the holding groove 72a of the substrate holding member 72 provided in 4, and the holding is reliably performed.

【0068】なお、図1及び図2において、参照符号9
6は当該装置内の空気を清浄化するためのクリーンボッ
クスを示し、また参照符号97は電装ボックスを示して
いる。
In FIGS. 1 and 2, reference numeral 9
Reference numeral 6 denotes a clean box for purifying air in the apparatus, and reference numeral 97 denotes an electrical box.

【0069】続いて、上記した構成の自動処理装置の動
作について簡単に説明する。
Next, the operation of the automatic processing apparatus having the above configuration will be briefly described.

【0070】まず、図22に示すように、図示しないロ
ボットあるいは人手によって、基板供給手段8上に、各
々が半導体基板22を25枚ずつ収容したキャリア99
が2つ載置される。但し、これら2つのキャリア99は
同図において紙面に垂直な方向において並んでいる故、
図には1つのみが現われている。なお、このキャリア9
9内の各半導体基板22は、その主面同士が重なり合う
ように、かつ各々が直立した状態にて配列されている。
First, as shown in FIG. 22, a carrier 99 containing 25 semiconductor substrates 22 each is placed on the substrate supply means 8 by a robot (not shown) or manually.
Are placed. However, since these two carriers 99 are arranged in a direction perpendicular to the paper of FIG.
Only one appears in the figure. Note that this carrier 9
Each of the semiconductor substrates 22 in 9 is arranged so that the main surfaces thereof are overlapped with each other and in an upright state.

【0071】基板供給手段8上にキャリア99が載せら
れると、図22に示すように、該基板供給手段8が具備
するモータ94が正転してウォーム92が上方に移動せ
られ、基板担持部材90が同図において二点鎖線にて示
す位置からキャリア99の底部に形成された開口部(図
示せず)を経て実線で示す位置に上昇する。これによっ
て、図示の如く、2つのキャリア99内に収容されてい
る合計50枚の各半導体基板22は、基板担持部材90
により持ち上げられるようにして該キャリア99の上方
に抜き出され、保持手段24による保持可能位置に持ち
来される。このとき、図示のように、保持手段24はキ
ャリア99の直上にて待機している。
When the carrier 99 is placed on the substrate supply means 8, as shown in FIG. 22, the motor 94 of the substrate supply means 8 rotates forward to move the worm 92 upward, and the substrate holding member is moved. 90 rises from the position indicated by the two-dot chain line in the same figure to the position indicated by the solid line via an opening (not shown) formed at the bottom of the carrier 99. As a result, a total of 50 semiconductor substrates 22 accommodated in the two carriers 99, as shown in FIG.
As a result, the carrier is pulled out above the carrier 99 and brought to a position where it can be held by the holding means 24. At this time, as shown, the holding means 24 is waiting just above the carrier 99.

【0072】この状態で、図3乃至図5に示すソレノイ
ド82が作動せられてその出力軸が突出し、これにより
可動ポール45内のシャフト79が上昇して両アーム部
材59及び60が回転する。よって、図8に示すよう
に、ハンガー部材63が同図において二点鎖線にて示す
状態から実線で示す位置に作動し、基板挟持部材72に
よって各半導体基板22が挟持される。
In this state, the solenoid 82 shown in FIGS. 3 to 5 is actuated to project its output shaft, whereby the shaft 79 in the movable pole 45 is raised, and both arm members 59 and 60 are rotated. Therefore, as shown in FIG. 8, the hanger member 63 operates from the state shown by the two-dot chain line to the position shown by the solid line in FIG. 8, and each semiconductor substrate 22 is clamped by the substrate clamping member 72.

【0073】これに続き、図3及び図4に示すモータ3
8及びギアドモータ52が適宜回転せられて可動ベース
29の水平移動と可動ポール45の昇降動作とが行わ
れ、各半導体基板22はこれを保持した保持手段24と
共に、図1に示す経路Z3 →X6 →Z4 に沿って搬送さ
れ、処理槽9内の基板受け台85上に載置され、該処理
槽9内に貯留された処理液9aに浸漬される。そして、
保持手段24による各半導体基板22の保持状態が解除
され、処理液9aによる各半導体基板22に対する処
理、この場合、洗浄が施される。なお、この洗浄時に、
該処理槽9の下部に取り付けられた振動子15が作動せ
られて該処理槽9と共に内部の処理液9aが励振され、
洗浄が効果的に行われる。上記の処理槽9における洗浄
作業が終了すると、保持手段24は再び各半導体基板2
2を保持する。続いて、各半導体基板22は、上述と同
様にして図1に示す経路Z3 →X7 →Z4 に沿って搬送
され、処理槽10内の基板受け台85上に載置されて処
理液10aによる洗浄が施される。この洗浄中、該処理
槽10に取り付けられた振動子16が作動する。
Subsequently, the motor 3 shown in FIGS.
8 and the geared motor 52 are appropriately rotated to perform the horizontal movement of the movable base 29 and the elevating operation of the movable pole 45, and each semiconductor substrate 22 together with the holding means 24 holding the same moves along the path Z 3 shown in FIG. It is transported along X 6 → Z 4 , is placed on the substrate receiving table 85 in the processing tank 9, and is immersed in the processing liquid 9 a stored in the processing tank 9. And
The holding state of each semiconductor substrate 22 by the holding means 24 is released, and processing of each semiconductor substrate 22 by the processing liquid 9a, in this case, cleaning is performed. During this washing,
The vibrator 15 attached to the lower part of the processing tank 9 is operated to excite the processing liquid 9a inside the processing tank 9 together with the processing tank 9,
Cleaning is effectively performed. When the cleaning operation in the processing tank 9 is completed, the holding means 24 again returns to each semiconductor substrate 2.
Hold 2. Subsequently, each semiconductor substrate 22 is transported along the route Z 3 → X 7 → Z 4 shown in FIG. The cleaning according to 10a is performed. During this cleaning, the vibrator 16 attached to the processing tank 10 operates.

【0074】その後、各半導体基板22は、図1に示す
経路Z3 →X8 →Z4 と、これに続く経路Z3 →X9
4 を順次辿って搬送され、各処理槽11及び12内の
処理液11a及び12aにより洗浄される。斯くして各
半導体基板の洗浄を完了する。この後、保持手段24
は、これら半導体基板を残して図1に示す経路Z3 →X
10→Z4 を経て再び基板供給手段8の直上の待機位置に
戻される。
Thereafter, each semiconductor substrate 22 passes through the route Z 3 → X 8 → Z 4 shown in FIG. 1 and the following route Z 3 → X 9
Is conveyed sequentially following the Z 4, is cleaned by a treatment liquid 11a and 12a of the respective processing tanks 11 and 12. Thus, the cleaning of each semiconductor substrate is completed. Thereafter, the holding means 24
Is the route Z 3 → X shown in FIG.
After 10 → Z 4 , it is returned to the standby position immediately above the substrate supply means 8 again.

【0075】以下、上記した一連の動作が繰り返され、
基板供給手段8により順次供給される多数の半導体基板
について洗浄が行われる。
Hereinafter, the above-described series of operations is repeated, and
A large number of semiconductor substrates sequentially supplied by the substrate supply means 8 are cleaned.

【0076】一方、各処理槽9乃至12を経て洗浄を完
了した半導体基板22は、図示しない他の基板搬送手段
によって図1に示す基板乾燥機13内に入れられる。そ
して、該基板乾燥機13により乾燥作業が行われた後、
回収され、次の工程に向けて送られる。なお、この基板
乾燥機13は、遠心力を以て各半導体基板22の乾燥を
なすものである。
On the other hand, the semiconductor substrate 22 which has been cleaned through the processing tanks 9 to 12 is put into the substrate dryer 13 shown in FIG. 1 by another substrate transport means (not shown). After the drying operation is performed by the substrate dryer 13,
Collected and sent to the next step. The substrate dryer 13 dries each semiconductor substrate 22 by centrifugal force.

【0077】[0077]

【考案の効果】以上説明したように本考案によれば、基
板挾持部材を支持するアーム部材が複数本設けられ、し
かも、該アーム部材を回転自在として、該アーム部材が
取り付けられた基体部上に設けたトルク付与手段によっ
て該アーム部材を回転駆動することにより基板挾持部材
同士を相対的に駆動するようになされている。かかる構
成の故、片持梁状のアーム部材1本当りに加わる荷重は
小さく抑えられてアーム部材の傾きが防止され、該基板
挾持部材から次工程用の基板容器への半導体基板の受け
渡しが支障なく行われ、全ての工程に亘る半導体基板の
搬送が円滑化されるという効果がある。また、上記のよ
うにアーム部材が傾きを生ずることがないことから、半
導体基板に対する何等かの加工を施すための装置が設け
られていて、この装置による加工位置に半導体基板を搬
送して位置決めする場合、これが高精度に行われるとい
う効果もある。更に、本考案においては、複数本設けら
れたアーム部材の一本毎に、基板挾持部材が複数取り付
けられている。従って、各アーム部材間において互いに
対応するように設けられた1組の基板挾持部材同士によ
って例えば25枚の半導体基板を挾持するようになせ
ば、その複数倍、例えば50枚など、多数の半導体基板
を一度に挾持して搬送することができるという効果があ
る。
As described above, according to the present invention, a plurality of arm members for supporting the substrate holding member are provided, and the arm member is rotatable so that the arm member is rotatable on the base portion to which the arm member is attached. The arm holding members are driven to rotate by the torque applying means provided in the above-mentioned manner, whereby the substrate holding members are relatively driven. With this configuration, the load applied to each cantilever arm member is suppressed to a small value, the arm member is prevented from tilting, and the transfer of the semiconductor substrate from the substrate holding member to the substrate container for the next process is hindered. And the transfer of the semiconductor substrate over all the steps is facilitated. Further, since the arm member does not tilt as described above, an apparatus for performing some processing on the semiconductor substrate is provided, and the semiconductor substrate is transported and positioned at a processing position by this apparatus. In this case, there is also an effect that this is performed with high accuracy. Further, in the present invention, a plurality of substrate holding members are attached to each of the plurality of arm members. Therefore, if a pair of substrate holding members provided so as to correspond to each other between the arm members hold the semiconductor substrates, for example, 25 semiconductor substrates, a plurality of semiconductor substrates, for example, 50 semiconductor substrates, such as 50 substrates, may be used. Has the effect of being able to pinch and transport at once.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は、本考案に係る自動処理装置の全体の縦
断面図である。
FIG. 1 is an overall vertical sectional view of an automatic processing apparatus according to the present invention.

【図2】図2は、図1に関するA−A断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along line AA of FIG. 1;

【図3】図3は、図1に示した自動処理装置が具備する
保持手段と搬送手段の、一部断面を含む縦断面図であ
る。
FIG. 3 is a longitudinal sectional view including a partial section of a holding unit and a transporting unit included in the automatic processing apparatus shown in FIG. 1;

【図4】図4は、図3に関するB−B矢視図である。FIG. 4 is a view on arrow BB in FIG. 3;

【図5】図5は、図4に関するC−C矢視図である。FIG. 5 is a view on arrow CC in FIG. 4;

【図6】図6は、図1に示した自動処理装置が具備する
保持手段の平面図である。
FIG. 6 is a plan view of a holding unit included in the automatic processing device shown in FIG. 1;

【図7】図7は、図6に関するD−D矢視図である。FIG. 7 is a view on arrow DD in FIG. 6;

【図8】図8は、図7に関するE−E矢視図である。FIG. 8 is a view as seen from the direction of arrows EE in FIG. 7;

【図9】図9は、図6に示した保持手段が具備する基体
部の平断面図である。
FIG. 9 is a plan sectional view of a base portion provided in the holding means shown in FIG. 6;

【図10】図10は、図9に関するF−F断面図であ
る。
FIG. 10 is a sectional view taken along line FF of FIG. 9;

【図11】図11は、図8における部分Gの拡大図であ
る。
FIG. 11 is an enlarged view of a portion G in FIG. 8;

【図12】図12は、図6に示した保持手段が具備する
基板挾持部材の正面図である。
FIG. 12 is a front view of a substrate holding member provided in the holding unit shown in FIG. 6;

【図13】図13は、図12における部分Hの拡大図で
ある。
FIG. 13 is an enlarged view of a portion H in FIG. 12;

【図14】図14は、図6に示した保持手段が具備する
櫛状部材の正面図である。
FIG. 14 is a front view of a comb-like member provided in the holding unit shown in FIG. 6;

【図15】図15は、図14に関するI−I断面図であ
る。
FIG. 15 is a sectional view taken along the line II of FIG. 14;

【図16】図16は、図1に示した自動処理装置が具備
する基板受け台の正面図である。
FIG. 16 is a front view of a substrate support provided in the automatic processing apparatus shown in FIG. 1;

【図17】図17は、図16に関するJ−J矢視図であ
る。
FIG. 17 is a view as viewed in the direction of arrows JJ in FIG. 16;

【図18】図18は、図16に関するK−K矢視図であ
る。
FIG. 18 is a view on arrow KK of FIG. 16;

【図19】図19は、図16における部分Lの拡大図で
ある。
FIG. 19 is an enlarged view of a portion L in FIG. 16;

【図20】図20は、図19に関するM−M矢視図であ
る。
FIG. 20 is a view taken along the line MM in FIG. 19;

【図21】図21は、図19に関するN−N断面図であ
る。
FIG. 21 is a sectional view taken along the line NN in FIG. 19;

【図22】図22は、図1に示した自動処理装置が具備
する基板供給手段と保持手段の正面図である。
FIG. 22 is a front view of a substrate supply unit and a holding unit included in the automatic processing apparatus shown in FIG. 1;

【図23】図23は、図22に示した基板供給手段が具
備する基板担持部材の正面図である。
FIG. 23 is a front view of a substrate holding member included in the substrate supply unit shown in FIG. 22;

【図24】図24は、図23に関するO−O断面図であ
る。
FIG. 24 is a sectional view taken along the line OO in FIG. 23;

【図25】図25は、図23に関するP−P断面図であ
る。
FIG. 25 is a sectional view taken along the line PP of FIG. 23;

【図26】図26は、第1の従来装置の全体の矢視図で
ある。
FIG. 26 is an overall arrow view of the first conventional apparatus.

【図27】図27は、第2の従来装置の要部の一部断面
を含む正面図である。
FIG. 27 is a front view including a partial cross section of a main part of a second conventional device.

【図28】図28は、図27に示した従来装置が具備す
る保持手段の要部の斜視図である。
FIG. 28 is a perspective view of a main part of a holding means included in the conventional device shown in FIG. 27;

【図29】図29は、図27及び図28に示した従来装
置の動作説明図である。
FIG. 29 is an explanatory diagram of the operation of the conventional device shown in FIGS. 27 and 28;

【図30】図30は、図27及び図28に示した従来装
置が具備する基板挾持部材による半導体基板の挾持状態
を示す側面図である。
FIG. 30 is a side view showing a state in which a semiconductor substrate is clamped by a substrate clamping member provided in the conventional apparatus shown in FIGS. 27 and 28;

【符合の説明】[Description of sign]

3 筐体 8 基板供給手段 9、10、11、12 処理槽 9a、10a、11a、12a 処理液 13 基板乾燥機 15、16 振動子 18 排液手段 20 備蓄タンク 22 半導体基板 24 保持手段 25 搬送手段 27、40 レール 29 可動ベース 30 支持プレート 34 ガイドプレート 36 ラック 38、94 モータ 45 可動ポール 52 ギアドモータ 58 基体部 59、60 アーム部材 63 ハンガー部材 70 連結手段 72 基板挾持部材 74 仮想鉛直面 75 仮想水平面 77 櫛状部材(規正手
段) 80 リンク機構(同期手
段) 82 ソレノイド 85 基板受け台 90 基板担持部材
3 Case 8 Substrate supply means 9, 10, 11, 12 Processing tank 9a, 10a, 11a, 12a Processing liquid 13 Substrate dryer 15, 16 Vibrator 18 Drainage means 20 Storage tank 22 Semiconductor substrate 24 Holding means 25 Transport means 27, 40 rail 29 movable base 30 support plate 34 guide plate 36 rack 38, 94 motor 45 movable pole 52 geared motor 58 base unit 59, 60 arm member 63 hanger member 70 connecting means 72 substrate holding member 74 virtual vertical plane 75 virtual horizontal plane 77 Comb-shaped member (regulation means) 80 Link mechanism (synchronization means) 82 Solenoid 85 Substrate support 90 Substrate carrying member

Claims (7)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】 複数枚の半導体基板をその主面同士が重
なり合うように且つ各々が直立した状態にて配列して保
持し得る保持手段と、前記保持手段を所定経路に沿って
搬送する搬送手段とを有し、前記保持手段は、前記搬送
手段により搬送せしめられる基体部と、各々前記半導体
基板が係合し得る複数の保持溝が並設されて前記基体部
上に相対的に可動に設けられて互いに協働して前記半導
体基板を挟持する少なくとも一対の基板挟持部材と、前
記基板挟持部材各々を駆動する駆動手段とから成る半導
体基板用搬送装置において、前記保持手段は、前記基体
部に一端にて軸中心を中心として回転自在に取り付けら
れて前記基体部の側方へ向けて伸長し、かつ他端部に前
記基板挾持部材が取り付けられた複数のアーム部材を有
し、前記駆動手段は、前記基体部に対して取り付けられ
て前記アーム部材各々にトルクを付与するトルク付与手
段を有し、前記アーム部材の1本毎に前記基板挾持部材
が複数取り付けられていることを特徴とする半導体基板
用搬送装置。
1. A holding means capable of holding a plurality of semiconductor substrates arranged in an upright manner such that their main surfaces are overlapped with each other, and a transfer means for transferring the holding means along a predetermined path. The holding means has a base portion conveyed by the conveying means, and a plurality of holding grooves each capable of engaging with the semiconductor substrate are provided side by side and provided relatively movably on the base portion. A semiconductor substrate transfer device comprising: at least a pair of substrate holding members for holding the semiconductor substrate in cooperation with each other; and driving means for driving each of the substrate holding members. A plurality of arm members attached at one end to be rotatable about an axial center and extending toward the side of the base portion, and having the other end attached to the substrate holding member; Is A semiconductor device having torque applying means attached to the base portion to apply a torque to each of the arm members, wherein a plurality of the substrate holding members are attached to each of the arm members. Transfer equipment for substrates.
【請求項2】 前記アーム部材の1本毎に取り付けられ
た複数の基板挾持部材各々が、前記保持溝が並ぶ方向に
おける中心軸同士が略一致するように配設されているこ
とを特徴とする請求項1記載の半導体基板用搬送装置。
2. The method according to claim 1, wherein the plurality of substrate holding members attached to each of the arm members are disposed such that central axes in a direction in which the holding grooves are arranged are substantially coincident with each other. The transfer device for a semiconductor substrate according to claim 1.
【請求項3】 前記アーム部材と前記トルク付与手段の
間に介装されて前記アーム部材各々を同期して作動せし
めるための同期手段を有することを特徴とする請求項1
又は請求項2記載の半導体基板用搬送装置。
3. A synchronizing means interposed between the arm member and the torque applying means for synchronizing the operation of each of the arm members.
A transfer device for a semiconductor substrate according to claim 2.
【請求項4】 前記アーム部材各々の他端に枢着されて
該各アーム部材を互いに連結させる連結手段を有するこ
とを特徴とする請求項1ないし請求項3のうちいずれか
1記載の半導体基板用搬送装置。
4. The semiconductor substrate according to claim 1, further comprising a connecting means pivotally attached to the other end of each of said arm members to connect said arm members to each other. Transfer device.
【請求項5】 前記保持手段は、前記アーム部材の他端
部に垂下状態にて取り付けられたハンガー部材を有し、
前記ハンガー部材の下端部に前記基板挾持部材が設けら
れていることを特徴とする請求項1ないし請求項4のう
ちいずれか1記載の半導体基板用搬送装置。
5. The holding means has a hanger member attached to the other end of the arm member in a hanging state,
5. The transfer device for a semiconductor substrate according to claim 1, wherein the substrate holding member is provided at a lower end of the hanger member.
【請求項6】 処理用液体を貯留し得る処理槽と、複数
枚の半導体基板をその主面同士が重なり合うように且つ
各々が直立した状態にて配列して保持し得る保持手段
と、前記保持手段をその保持した半導体基板と共に前記
処理槽内の前記処理液による浸漬位置を経て前記処理槽
外に至る所定経路に沿って搬送する搬送手段とを有し、
前記保持手段は、前記搬送手段により搬送せしめられる
基体部と、各々前記半導体基板が係合し得る複数の保持
溝が並設されて前記基体部上に相対的に可動に設けられ
て互いに協働して前記半導体基板を挾持する少なくとも
一対の基板挾持部材と、前記基板挾持部材各々を駆動す
る駆動手段とから成る自動処理装置において、前記保持
手段は、前記基体部に一端にて軸中心を中心として回転
自在に取り付けられて前記基体部の側方へ向けて伸長
し、かつ他端部に前記基板挾持部材が取り付けられた複
数のアーム部材を有し、前記駆動手段は、前記基体部に
対して取り付けられて前記アーム部材各々にトルクを付
与するトルク付与手段を有し、前記アーム部材の1本毎
に前記基板挾持部材が複数取り付けられていることを特
徴とする自動処理装置。
6. A processing tank capable of storing a processing liquid, holding means capable of holding a plurality of semiconductor substrates arranged in an upright state such that their main surfaces overlap with each other, and holding the semiconductor substrates. Transport means for transporting along a predetermined path extending out of the processing tank through a dipping position by the processing liquid in the processing tank together with the semiconductor substrate holding the means,
The holding means is provided with a base portion conveyed by the conveyance means and a plurality of holding grooves with which the semiconductor substrate can be engaged, and is provided relatively movably on the base portion to cooperate with each other. An automatic processing apparatus comprising at least a pair of substrate holding members for holding the semiconductor substrate and driving means for driving each of the substrate holding members, wherein the holding means is provided at one end of the base portion so as to be centered on an axial center. A plurality of arm members which are rotatably mounted and extend toward the side of the base portion, and the other end of which is provided with the substrate holding member. An automatic processing device having torque applying means for applying a torque to each of the arm members attached thereto, and a plurality of the substrate holding members being attached to each of the arm members. .
【請求項7】 前記アーム部材の1本毎に取り付けられ
た複数の基板挾持部材各々が、前記保持溝が並ぶ方向に
おける中心軸同士が略一致するように配設されているこ
とを特徴とする請求項6記載の自動処理装置。
7. A plurality of substrate holding members attached to each of said arm members are disposed such that their central axes in a direction in which said holding grooves are arranged are substantially coincident with each other. The automatic processing device according to claim 6.
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