JPH063938U - ウェーハ保持具 - Google Patents

ウェーハ保持具

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JPH063938U
JPH063938U JP4759492U JP4759492U JPH063938U JP H063938 U JPH063938 U JP H063938U JP 4759492 U JP4759492 U JP 4759492U JP 4759492 U JP4759492 U JP 4759492U JP H063938 U JPH063938 U JP H063938U
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JP
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wafer
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wafer holder
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利一 狩野
誠治 渡辺
秀樹 小池
健一 紙谷
増雄 鈴木
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Hitachi Kokusai Electric Inc
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Abstract

(57)【要約】 【目的】半導体製造装置に於けるウェーハ保持具に於い
てウェーハの汚染を防止するウェーハ保持具を提供す
る。 【構成】ウェーハ保持部を略T字状に形成し、ウェーハ
10を中心部と周辺部とで支持すると共に該ウェーハを
周辺部で吸着可能とし、ウェーハを周辺部で吸着するこ
とでウェーハの汚染を防止する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は半導体製造装置に於いて、ウェーハを移送する場合にウェーハを保持 する保持具に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体製造装置内部、或は半導体製造装置のユニット間でのウェーハの移載は ウェーハ移載機によって行われる。該ウェーハ移載機は1枚のウェーハに対応す る1つのウェーハ保持具を具備し、該ウェーハ保持具によりウェーハの把持、離 脱が可能になっている。前記ウェーハ移載機はウェーハの移載元でウェーハ保持 具によりウェーハを把持し、該ウェーハ保持具でウェーハを把持した状態でウェ ーハを移動し、移載先でウェーハの離脱を行うものである。
【0003】 従来のウェーハ保持具を、図3〜図5で説明する。
【0004】 ウェーハ保持具1は上プレート2とスペーサ3と下プレート4を気密に重合さ せたものであり、図示される様に前記スペーサ3は中央部が刳り貫かれており、 前記ウェーハ保持具1の中央部に空隙5が形成されている。
【0005】 前記上プレート2の先端側には所要数の吸着孔6が穿設されており、該吸着孔 6は前記空隙5に連通する。又、基端側には吸引孔7が穿設され、該吸引孔7も 前記吸着孔6と同様前記空隙5に連通している。
【0006】 下プレート4の基端側には前記吸引孔7の位置対応して吸引孔8が穿設され、 該吸引孔8は前記空隙5に連通している。
【0007】 該ウェーハ保持具1はホルダ9を介して図示しない移載機本体に支持されてお り、該ホルダ9は図示しない真空源に接続され、該ホルダ9、前記吸引孔7,8 を介して前記空隙5は真空引きされる様になっている。
【0008】 ウェーハ10はウェーハ保持具1の先端側に載置され、載置された状態で前記 吸引孔7,8により真空引きされ、吸着孔6によりウェーハ10は吸着され、該 ウェーハ10はウェーハ保持具1に保持される。
【0009】
【考案が解決しようとする課題】
上記した従来のウェーハ保持具ではウェーハを中央部で吸着する構造である為 、ウェーハ中央の吸着部が汚染されることがあり、又ウェーハが汚染された場合 更に汚染部分からパーティクルが前記ウェーハ保持具上に落下し2次的な汚染を 引き起こすことがあった。
【0010】 本考案は斯かる実情に鑑み、ウェーハの汚染を防止するウェーハ保持具を提供 しようとするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本考案は、ウェーハ保持部を略T字状に形成し、ウェーハを中心部と周辺部と で支持すると共に該ウェーハを周辺部で吸着可能としたことを特徴とするもので ある。
【0012】
【作用】
ウェーハを中心部と周辺部とで支持すると共にウェーハの周辺部を吸着して安 定に保持し、又ウェーハの周辺部で吸着するのでウェーハの汚染が防止される。
【0013】
【実施例】
以下、図面に基づき本考案の一実施例を説明する。
【0014】 本実施例に係るウェーハ保持具11は略十字状をしており、この十字の腕部1 1bに吸着孔12が穿設されている。
【0015】 該ウェーハ保持具11を詳述する。
【0016】 略十字状をした基板14の基部14aから基板14の腕部14bに沿って略T 字状の溝15を刻設し、該溝15の基端位置に吸引孔16を穿設する。ここで、 前記腕部14bは載置されるウェーハ10の周辺に沿う様に屈曲した形状となっ ている。
【0017】 前記基部14aと腕部14bとの形状に合致した上プレート17を前記基板1 4に気密に重合させる。基部14aと上プレート17との重合により、前記溝1 5は真空引きに於ける流路となる。該上プレート17には前記吸着孔12が所要 数(本実施例では片側2箇所)穿設されており、該吸着孔12は前記溝15に連 通する。又、上プレート17の前記吸引孔16と対応した位置に吸引孔18を穿 設する。
【0018】 前記基板14の先端部に中心部上プレート19を重合する。該中心部上プレー ト19の板厚は前記上プレート17と同一とし、該上プレート17と前記中心部 上プレート19とで同一平面が形成される様にする。
【0019】 ウェーハ保持具11の基部はホルダ(図示せず)に保持され前記溝15は前記 吸引孔16,18、ホルダを介して図示しない真空源に接続されている。
【0020】 斯かるウェーハ保持具11のウェーハ保持部は略T字状となり、ウェーハ10 の中心が前記中心部上プレート19の中心となる様に、又前記腕部11bがウェ ーハ10の周辺部となる様に、ウェーハ10をウェーハ保持具11に載置する。 更に、ウェーハ10をウェーハ保持具11に載置した状態では、ウェーハ10の 周辺部よって前記吸着孔12が閉塞される様になっている。
【0021】 而して、前記真空源により前記溝15の内部を真空引きすると前記吸着孔12 によって前記ウェーハ10の周辺部が吸着されて保持される。又、ウェーハ10 は中心部と周辺部で支持されているので、保持状態が安定であり、更にウェーハ 10がウェーハ保持具11に接しているのは、中心の極限られた部分と周辺部に 限定される。従って、ウェーハの汚染の可能性は著しく低減される。
【0022】 尚、上記実施例では腕部11bを屈曲させた形状としたが、直線状の形状であ っても、円弧状の形状であってもよい。更に、中心部上プレート19はウェーハ 10の中心、又は中心近傍を点以上の面積で支持すればよいので中心部上プレー ト19の形状は自在に変更することができ、又中心部上プレート19の形状を点 状としウェーハとの接触面積を著しく少なくすることができる。
【0023】
【考案の効果】
以上述べた如く本考案によれば、ウェーハを周辺で吸着して保持するので、ウ ェーハの汚染を低減し得、又ウェーハからのパーティクルの落下によるウェーハ 保持具の汚染を防止し得、ウェーハの2次汚染を防止することができると共にウ ェーハを中心部と周辺部とで保持するので安定であるという優れた効果を発揮す る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例を示す平面図である。
【図2】図1のA−A矢視図である。
【図3】従来例の分解斜視図である。
【図4】同前従来例の平面図である。
【図5】図4のB−B矢視図である。
【符号の説明】
10 ウェーハ 11 ウェーハ保持具 12 吸着孔 15 溝 17 上プレート 19 中心部上プレート
フロントページの続き (72)考案者 紙谷 健一 東京都港区虎ノ門二丁目3番13号 国際電 気株式会社内 (72)考案者 鈴木 増雄 東京都港区虎ノ門二丁目3番13号 国際電 気株式会社内

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウェーハ保持部を略T字状に形成し、ウ
    ェーハを中心部と周辺部とで支持すると共に該ウェーハ
    を周辺部で吸着可能としたことを特徴とするウェーハ保
    持具。
JP1992047594U 1992-06-15 1992-06-15 ウェーハ保持具 Expired - Fee Related JP2566065Y2 (ja)

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JPS5236181U (ja) * 1975-09-03 1977-03-14

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JPS6270141A (ja) * 1985-09-24 1987-03-31 Toshiba Corp 移載装置
JPH04242954A (ja) * 1991-01-08 1992-08-31 Fujitsu Ltd ウェーハチャック

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