JPH0637044A - プラズマ処理装置 - Google Patents

プラズマ処理装置

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Publication number
JPH0637044A
JPH0637044A JP18553892A JP18553892A JPH0637044A JP H0637044 A JPH0637044 A JP H0637044A JP 18553892 A JP18553892 A JP 18553892A JP 18553892 A JP18553892 A JP 18553892A JP H0637044 A JPH0637044 A JP H0637044A
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JP
Japan
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vacuum container
heat source
processing apparatus
plasma processing
plates
Prior art date
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Application number
JP18553892A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Takayama
雅弘 高山
Yasuo Sato
康男 佐藤
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PLASMA SYST KK
PLASMA SYSTEM
Original Assignee
PLASMA SYST KK
PLASMA SYSTEM
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Publication date
Application filed by PLASMA SYST KK, PLASMA SYSTEM filed Critical PLASMA SYST KK
Priority to JP18553892A priority Critical patent/JPH0637044A/ja
Publication of JPH0637044A publication Critical patent/JPH0637044A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 アッシング処理やエッチング処理等を行うに
際して被処理物の大量同時処理を可能にし、かつ複数の
被処理物の温度を均一にすることのできるプラズマ処理
装置を提供する。 【構成】 真空容器Aと、この真空容器A内に上下方向
に間隔をおいて多段に配置されたワーク保持プレート4
…と、これらのワーク保持プレート4…に近接して立設
された棒状の熱源2,2と、該熱源2,2の発熱温度を
制御する制御部17とを具備してなり、前記熱源2,2
は上下方向に間隔をおいて分断された複数の熱源部2a
…から構成され、前記制御部17は各熱源部2a…を各
別に制御するよう構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば、エレクトロ
ニクス産業の半導体製造工程において、ウエハー等の被
処理物上のレジスト膜をプラズマ雰囲気で、酸化させて
取り除く作業やシリコン基板のエッチング等に用いるプ
ラズマ処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体の製造工程において、ウ
エハー上のレジスト膜をアッシング処理により取り除く
ためには、真空容器のなかでプラズマ放電を行わせて当
該処理を行う。このような処理を行うプラズマ処理装置
としては、真空容器の内部にウエハーを載置し、該真空
容器の外側に加熱用ヒーターが配設された装置が知られ
ている。このような装置では、前記ステージ上に載置し
たウエハーを真空容器の外部から加熱してアッシング処
理を行う。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、真空容
器内にワークを載置するワーク保持プレートを複数設け
た場合、真空容器内部は、その上部が下部より高温とな
りやすく、ワークを同じ温度にするのが困難であるとい
う問題がある。
【0004】この発明は前記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、アッシング処理やエッチ
ング処理等を行うに際して被処理物の大量同時処理を可
能にし、かつ複数の被処理物の温度を均一にすることの
できるプラズマ処理装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明における請求項1
記載のプラズマ処理装置では、真空容器と、この真空容
器内に上下方向に間隔をおいて多段に配置されたワーク
保持プレートと、これらのワーク保持プレートに近接し
て立設された棒状の熱源と、該熱源の発熱温度を制御す
る制御部とを具備してなり、前記熱源は上下方向に間隔
をおいて分断された複数の熱源部から構成され、前記制
御部は各熱源部を各別に制御するよう構成されているこ
とを前記課題の解決手段とした。また、請求項2記載の
プラズマ処理装置では、真空容器と、この真空容器内に
上下方向に間隔をおいて多段に配置されたワーク保持プ
レートと、これらのワーク保持プレートにそれぞれ設け
られた熱源と、これら熱源の発熱温度を各別に制御する
制御部とを具備することを前記課題の解決手段とした。
【0006】
【作用】請求項1に係る発明では、複数の熱源部が上下
方向に並設され、それぞれの発熱温度を制御する制御部
が具備されているので、真空容器内の上部から下部にわ
たって同じ温度とすることができる。請求項2に係る発
明では、多段に配置されたワーク保持プレートにそれぞ
れ熱源が設けられ、これらの熱源を各別に制御する制御
部が具備されているので、それぞれのワーク保持プレー
トを各別に加熱することができ、ワーク温度をそれぞれ
適した温度とすることができる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の請求項1記載のプラズマ処理
装置を実施例によって詳しく説明する。図1ないし図3
は本発明のプラズマ処理装置の一実施例を示す図であ
り、これらの図において符号1はプラズマ処理装置であ
る。このプラズマ処理装置1は、ウエハーW…上のレジ
スト膜を取り除くためのもので、図1に示すように、熱
源2,2と、これらの熱源2,2を覆うヒーター柱3,
3と、これらヒーター柱3,3間のワーク保持プレート
(以下、プレートと略称する)4…と、プレート4…を
固定するための押さえ板5…(図2参照)と、排気管6
と、ガス導入管7と、内部電極8とが真空容器A内に備
えられ、真空容器Aの外側に外部電極9が取り付けられ
たものである。
【0008】真空容器Aは、石英からなる円筒形の本体
11と、この本体11の上下の開口部を塞ぐセラミック
ス製の上蓋12および底蓋13とから構成されたもので
ある。底蓋13には孔13a,13aが穿設されてい
る。これらの孔13a,13aにはそれぞれ、内部に熱
源2,2を設けたヒーター柱3,3が嵌合されている。
【0009】熱源2,2は、上下方向に分断されてお
り、上下に並設された棒状のヒーター2a(熱源部)か
らなるものである。ヒーター2a…にはそれぞれリード
線2b…が接続されており、リード線2b…は真空容器
Aの下方に延在している。真空容器Aのこれらのヒータ
ー2a…の周囲は、ヒーター柱3,3に覆われている。
【0010】ヒーター柱3,3は、図2に示すようにヒ
ーター2a…およびリード線2b…が挿入された内側柱
31,31と、これらの内側柱31,31が挿入された
外側柱32,32とからなるものである。外側柱32
は、その下端部が前記底蓋13の孔13aに嵌合したも
のである。外側柱32と底蓋13との接合は、真空容器
A内の気密が保たれるようになっており、例えば図3に
示すようにOリング3bが用いられる。Oリング3bを
用いた場合の接合は、外側柱32の下端のつば部3c上
にOリング3bが配置され、前記つば部3cと底蓋13
とがボルト3d,3dによって固定されたものである。
この外側柱32は、内側柱31内のヒーター2a,2a
からの熱を伝えるもので、熱伝導率の高い例えばアルミ
ニウムからなるものである。外側柱32に挿入された内
側柱31は、図1に示すように上部内側柱31aと下部
内側柱31bとが上下方向に隣接して配設されたもので
ある。上部内側柱31aは、上下方向の中空部にヒータ
ー2aが収められたもので、下端部にリード線2bを通
すための切り欠きが形成されている。下部内側柱31b
は、上部内側柱31aと同様に上下方向の中空部にヒー
ター2aが収められたもので、前記切り欠きから延びる
リード線2bが通された中空部が形成されているもので
ある。
【0011】前記外側柱32,32には、図3に示すよ
うに高さ方向に一定の間隔をおいて複数の溝14…が設
けられるとともに、ボルト用の穴15…が形成されてい
る。ボルト用の穴15…は、外側柱32,32の互いに
対向している面に対して側方の面の上下二箇所に形成さ
れている。前記溝14…は、プレート4…の端部を係止
するもので、外側柱32,32の互いに対向した面の同
じ高さに形成されたものである。
【0012】プレート4…は、図2および図3に示すよ
うに、ウエハーW…を載置するためのもので、前記外側
柱32,32に水平に取付けるものである。プレート4
は、円盤状で、相対する端部に係止部4a,4aが突出
した状態に形成されており、熱伝導率の高い例えばアル
ミニウムからなるものである。プレート4は、前記溝1
4の上下方向の幅とほぼ同じ厚みのもので、その中央円
形部分が処理対象のウエハーW…よりやや大きく形成さ
れたものである。また、係止部4a,4aの側方端面間
の距離が、前記対向する溝14,14の奥面間の距離に
比べてやや短く形成されている。かくして、該プレート
4は、熱膨張した場合、水平方向の相対移動が許される
ように設定されている。このようなプレート4…は、前
記外側柱32,32の溝14…に係止されており、抑さ
え板5…により前記係止部4a…が溝14…に固定され
ている。
【0013】抑さえ板5…は、図2に示すように前記溝
14…の端部を塞ぐためのもので、前記外側柱32,3
2に沿って上下方向に取付けられるものである。これら
の抑さえ板5…には、前記外側柱32,32のボルト用
の穴15…と対応する位置にボルト用の孔5a…が形成
されており、ボルト16…によって押さえ板5…が外側
柱32,32に固定される構造である。
【0014】また、真空容器A内には、図1に示すよう
に真空容器Aの外部から上蓋2を貫通して排気管6とガ
ス導入管7とが取り付けられている。排気管6とガス導
入管7とは、真空容器A内を負圧とするもので、気密状
態が保たれるように上蓋2に固定されている。さらに、
真空容器A内には、真空容器本体11と同心円状に内部
電極8が配設されており、この内部電極8に対応する外
部電極9が真空容器A外面に沿って配設されている。内
部電極8と外部電極9とは、これらの電極間に放電を行
うもので、この放電によりプラズマを発生させるもので
ある。
【0015】また、真空容器Aの外部には制御装置17
が備えられ、この制御装置17にはリード線2b…の一
端が接続されている。この制御装置17は、真空容器A
内に複数配設されたセンサ(図示略)からの信号が送ら
れ、この信号によりヒーター2a…温度を変えるもので
ある。かくして、この制御装置17の働きにより、真空
容器A内に上下方向の温度差が生じないようになってい
る。
【0016】次に、このような構成からなるプラズマ処
理装置1の使用方法について説明する。まず、下段から
順次、各プレート4…上にウエハーW…を載置する。そ
して、真空容器Aを気密状態とし、排気管6とガス導入
管7を作動させ、真空容器A内を負圧にする。そして、
制御装置17を作動させリード線2b…を介してヒータ
ー2a…に通電し加熱する。そして十分な圧力状態とな
った後に、内部電極8と外部電極9とに電圧をかけ放電
を行わせて真空容器A内部にプラズマを発生させる。
【0017】かくして、上述のようなプラズマ処理装置
1によれば、真空容器内の上部から下部にわたって同じ
温度とすることができ、ウエハーW…を同一温度のもと
で同時に処理することができる。また、外側柱32,3
2およびプレート4…が熱伝導率の高いものであるの
で、ヒーター2a…の熱が効率よくウエハーW…に伝わ
る。また、アッシング処理開始前には外側柱32の溝1
4の奥面とプレート4の係止部4aの端面とが間隔をお
いて配設されるので、アッシング処理中にプレート4が
熱膨張すると前記間隔が狭くなり、プレート4が柱3の
溝14の奥面を押圧せず、柱3およびプレート4にひず
みが生じない。また、ヒーター2aが柱3内に設置され
ているので、従来のヒーターが真空容器外に設置された
装置に比べて、小型である。また、プレート4…を固定
するのに押さえ板5…を介して全プレート4…を一括し
て固定しているので、熱サイクルによるボルト16…の
ゆるみおよびプレート4…の歪みが生じず、また、プレ
ート4…をそれぞれ固定するのに比べ手間がかからず短
時間に固定作業を行うことができる。
【0018】図4および図5は、本発明の請求項2記載
のプラズマ処理装置の一実施例を示す図であり、符号4
1はプラズマ処理装置である。このプラズマ処理装置4
1は、上述のプラズマ処理装置1と同様にウエハーW…
上のレジスト膜を取り除くためのもので、図4に示すよ
うに、柱42と、柱42に取り付けられた支え部43…
と、これら支え部43…上に取り付けられたプレート4
4…と、排気管46と、ガス導入管47と、内部電極4
8とが真空容器B内に備えられ、真空容器Bの外側に外
部電極49が取り付けられたものである。
【0019】真空容器Bは、石英からなる円筒形の本体
51と、この本体51の上下の開口部を塞ぐセラミック
ス製の上蓋52および底蓋53とから構成されたもので
ある。底蓋53には孔53aが穿設されており、この孔
53aには、柱42が嵌合されている。
【0020】柱42は、上述の実施例と同様に、真空容
器B内の気密が保たれるように底蓋53に取り付けられ
ている。この柱42の内部には、図5に示すように上下
方向に沿って中空部42aが形成されるとともに、この
中空部42aに連通する複数の水平方向の孔42bが上
下方向に一定の間隔をおいて設けられている。前記中空
部42aは柱42の下端に開口しており、各孔42bは
柱42の一側方にそれぞれ開口している。そして、各孔
42bの開口位置に支え部43…が水平方向に取り付け
られている。
【0021】各支え部43…は、図4に示すように上下
方向に間隔をおいて柱42に取り付けられることにな
り、図5に示すようにプレート44を支持するものであ
る。そして、その内部に柱42の孔42bと連通する中
空部43aが形成され、真空容器B内の気密が保たれる
ように柱42に取り付けられている。中空部43aは、
柱42側端部から水平方向に伸び上方へと屈曲し、支え
部43の上面に開口している。
【0022】プレート44…は、ウエハーW…を載置す
るためのもので、図4に示すように真空容器本体51の
中心位置に配置されて、各支え部43に一枚ずつ取り付
けられるものである。プレート44は、円盤状のもの
で、熱伝導率の高い例えばアルミニウムからなるもので
ある。このプレート44は、水平方向に中空部44aが
形成されており、この中空部44aにはヒーター45と
熱電対54とが配設されている。この中空部44aは、
柱42側の端部が下方に延在し、前記支え部43の中空
部43aと連通しており、図5に示すように真空容器B
内の気密が保たれるようにOリング43bによってシー
ルされている。ヒーター45と熱電対54のリード線4
5a,54aは、プレート44の中空部44aから支え
部43の中空部43aに通され、そして柱42の孔42
bおよび中空部42aを通されて真空容器Bの外部へと
引き出され、制御装置55に接続されている。この制御
装置55は、熱電対54からの信号によりヒーター45
の温度を変えるものである。
【0023】また、真空容器B内には、図4に示すよう
に真空容器Bの外部から上蓋52を貫通して排気管46
とガス導入管47とが取り付けられている。排気管46
とガス導入管47とは、真空容器B内を負圧とするもの
で、気密状態が保たれるように上蓋52に固定されてい
る。さらに、真空容器B内には、真空容器本体51と同
心円状に内部電極48が配設されており、この内部電極
48に対応する外部電極49が真空容器B外面に沿って
配設されている。内部電極48と外部電極49とは、こ
れらの電極間に放電を行うもので、この放電によりプラ
ズマを発生させるものである。
【0024】次に、このような構成からなるプラズマ処
理装置41の使用方法について説明する。各プレート4
4上にウエハーWを一枚ずつ載置して、真空容器Bを気
密状態とし、排気管46とガス導入管47を作動させ、
真空容器B内を負圧にする。そして、リード線45a…
を介してヒーター45…に通電し加熱する。そして十分
な圧力状態となった後に、内部電極48と外部電極49
とに電圧をかけ放電を行わせて真空容器B内部にプラズ
マを発生させる。
【0025】このようなプラズマ処理装置41によれ
ば、熱電対54によってプレート44の温度を検知し、
制御部55によってヒーター45の温度を制御するの
で、各プレート44を所定温度とし、ウエハーW…を同
一温度のもとで同時に処理することができる。また、プ
レート44毎に加熱するのでウエハーWの処理枚数が変
わった場合にも合理的に対応でき、またプレート4…が
熱伝導率の高いものであるので、ヒーター2a…の熱が
効率よくウエハーW…に伝わる。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように請求項1記載のプラ
ズマ処理装置は、複数の熱源部が上下方向に並設され、
それぞれの熱源部の発熱温度を制御する制御部が具備さ
れているので、真空容器内の上部から下部にわたって同
じ温度とすることができ、複数の被処理物を同一温度の
もとで同時に処理することができる。また、熱源がワー
ク保持プレートに近接して設けられているので、熱源か
らの熱が各プレート上の被処理物に効率よく伝達され、
加熱効率がよい。
【0027】また、請求項2記載のプラズマ処理装置
は、多段に配置されたワーク保持プレートにそれぞれ熱
源が設けられ、これらの熱源を各別に制御する制御部が
具備されているので、それぞれのワーク保持プレートを
各別に加熱することができ、それぞれのワーク保持プレ
ートに載置されたワークの温度を所定温度とすることが
できる。また、ワークを載置するワーク保持プレートに
熱源が設けられているので、処理枚数が変わった場合に
も、加熱効率がとてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のプラズマ処理装置の一実施例を示す断
面図である。
【図2】図1に示したプラズマ処理装置のプレートの平
面図である。
【図3】図1に示したプラズマ処理装置の要部の一部を
断面視した正面図である。
【図4】本発明のプラズマ処理装置の他の実施例を示す
断面図である。
【図5】図4に示したプラズマ処理装置の要部正面図で
ある。
【符号の説明】
1,41 プラズマ処理装置 2 熱源 2a 熱源部(ヒーター) 4,44 ワーク保持プレート 45 熱源 17,55 制御部 A,B 真空容器

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空容器と、この真空容器内に上下方向
    に間隔をおいて多段に配置されたワーク保持プレート
    と、これらのワーク保持プレートに近接して立設された
    棒状の熱源と、該熱源の発熱温度を制御する制御部とを
    具備してなり、前記熱源は上下方向に間隔をおいて分断
    された複数の熱源部から構成され、前記制御部は各熱源
    部を各別に制御するよう構成されていることを特徴とす
    るプラズマ処理装置。
  2. 【請求項2】 真空容器と、この真空容器内に上下方向
    に間隔をおいて多段に配置されたワーク保持プレート
    と、これらのワーク保持プレートにそれぞれ設けられた
    熱源と、これら熱源の発熱温度を各別に制御する制御部
    とを具備することを特徴とするプラズマ処理装置。
JP18553892A 1992-07-13 1992-07-13 プラズマ処理装置 Pending JPH0637044A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10324981A (ja) * 1997-05-23 1998-12-08 Samuko Internatl Kenkyusho:Kk プラズマドライクリーナー
WO2023053172A1 (ja) * 2021-09-28 2023-04-06 株式会社Kokusai Electric 支持具、基板処理装置、および半導体装置の製造方法

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JPH10324981A (ja) * 1997-05-23 1998-12-08 Samuko Internatl Kenkyusho:Kk プラズマドライクリーナー
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Date Code Title Description
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Effective date: 20010717