JPH0636695A - 高周波イオン源装置 - Google Patents
高周波イオン源装置Info
- Publication number
- JPH0636695A JPH0636695A JP4208471A JP20847192A JPH0636695A JP H0636695 A JPH0636695 A JP H0636695A JP 4208471 A JP4208471 A JP 4208471A JP 20847192 A JP20847192 A JP 20847192A JP H0636695 A JPH0636695 A JP H0636695A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 高周波イオン源において高密度でしかも均一
性の良いプラズマを発生させ、それによって高電流密度
でしかも均一性の良いイオンビームを引き出すことがで
きるようにした高周波イオン源装置を提供する。 【構成】 この高周波イオン源2cは、容量結合型のも
のであり、そのプラズマ室4のそれぞれ電極を兼ねる側
壁4aとフランジ4b間に高周波電力を供給して高周波
放電を起こさせてプラズマ10を発生させるものであ
る。そしてこのような高周波イオン源2cに、高周波電
源30aから整合回路32aを介して、13.56MH
zの2以上の整数倍の周波数の高周波電力を供給するよ
うにした。
性の良いプラズマを発生させ、それによって高電流密度
でしかも均一性の良いイオンビームを引き出すことがで
きるようにした高周波イオン源装置を提供する。 【構成】 この高周波イオン源2cは、容量結合型のも
のであり、そのプラズマ室4のそれぞれ電極を兼ねる側
壁4aとフランジ4b間に高周波電力を供給して高周波
放電を起こさせてプラズマ10を発生させるものであ
る。そしてこのような高周波イオン源2cに、高周波電
源30aから整合回路32aを介して、13.56MH
zの2以上の整数倍の周波数の高周波電力を供給するよ
うにした。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えばイオン注入装
置等に用いられるものであって、高周波放電によってプ
ラズマを発生させてイオンビームを引き出す高周波イオ
ン源とそれ用の高周波電源を含む高周波イオン源装置に
関する。
置等に用いられるものであって、高周波放電によってプ
ラズマを発生させてイオンビームを引き出す高周波イオ
ン源とそれ用の高周波電源を含む高周波イオン源装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】この種の高周波イオン源装置の従来例を
図3および図4にそれぞれ示す。
図3および図4にそれぞれ示す。
【0003】図3は、いわゆる容量結合型の高周波イオ
ン源2aを用いた例である。この高周波イオン源2a
は、高周波放電によってプラズマ10を発生かつ保持す
るためのプラズマ室4と、このプラズマ室4内のプラズ
マ10から電界の作用でイオンビーム20を引き出す引
出し電極系12とを備えている。
ン源2aを用いた例である。この高周波イオン源2a
は、高周波放電によってプラズマ10を発生かつ保持す
るためのプラズマ室4と、このプラズマ室4内のプラズ
マ10から電界の作用でイオンビーム20を引き出す引
出し電極系12とを備えている。
【0004】プラズマ室4は、側壁4a、フランジ4b
等によって囲まれており、この例ではこの側壁4aおよ
びフランジ4bがそれぞれ電極(放電電極)を兼ねてお
り、両者間に整合回路32を介して高周波電源30が接
続されている。この高周波電源30から出力する高周波
電力の周波数は通常は13.56MHzである。
等によって囲まれており、この例ではこの側壁4aおよ
びフランジ4bがそれぞれ電極(放電電極)を兼ねてお
り、両者間に整合回路32を介して高周波電源30が接
続されている。この高周波電源30から出力する高周波
電力の周波数は通常は13.56MHzである。
【0005】引出し電極系12は、何枚かの多孔電極で
構成されているが、例えば、イオンビーム20のエネル
ギーが50KeV程度以下の場合は図示のように3枚の
電極で構成され、50KeV程度以上の場合は4枚構成
にする場合もある。
構成されているが、例えば、イオンビーム20のエネル
ギーが50KeV程度以下の場合は図示のように3枚の
電極で構成され、50KeV程度以上の場合は4枚構成
にする場合もある。
【0006】動作例を説明すると、プラズマ室4を引出
し電極系12を介して真空排気しながら、プラズマ室4
にイオン化させるためのガス8を導入し、フランジ4b
と側壁4a間に高周波電源30から整合回路32を介し
て高周波電力を供給すると、フランジ4bと側壁4a間
で高周波放電が起こりそれによってガス8が分解されて
プラズマ10が発生する。プラズマ室4で発生したプラ
ズマ10中のイオンは、高電圧を印加した引出し電極系
12によってイオンビーム20として引き出される。
し電極系12を介して真空排気しながら、プラズマ室4
にイオン化させるためのガス8を導入し、フランジ4b
と側壁4a間に高周波電源30から整合回路32を介し
て高周波電力を供給すると、フランジ4bと側壁4a間
で高周波放電が起こりそれによってガス8が分解されて
プラズマ10が発生する。プラズマ室4で発生したプラ
ズマ10中のイオンは、高電圧を印加した引出し電極系
12によってイオンビーム20として引き出される。
【0007】図4は、いわゆる誘導結合型の高周波イオ
ン源2bを用いた例である。図3の例との相違点を説明
すると、この例ではプラズマ室4の外側に高周波コイル
24を巻き、これに高周波電源30から整合回路32を
介して高周波電力を供給し、それによってプラズマ室4
内で高周波放電を起こさせてプラズマ10を発生させる
ようにしている。
ン源2bを用いた例である。図3の例との相違点を説明
すると、この例ではプラズマ室4の外側に高周波コイル
24を巻き、これに高周波電源30から整合回路32を
介して高周波電力を供給し、それによってプラズマ室4
内で高周波放電を起こさせてプラズマ10を発生させる
ようにしている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記のような高周波イ
オン源2a、2bで、その引出し電極系12に高電圧を
印加するためには、プラズマ室4内へガス導入時の引出
し電極系12でのガス圧は、約1×10-3Torr以下
でなければならず、そうしないと引出し電極系12の電
極間で放電が発生してイオンビーム20の引出しが困難
になる。
オン源2a、2bで、その引出し電極系12に高電圧を
印加するためには、プラズマ室4内へガス導入時の引出
し電極系12でのガス圧は、約1×10-3Torr以下
でなければならず、そうしないと引出し電極系12の電
極間で放電が発生してイオンビーム20の引出しが困難
になる。
【0009】一方、プラズマ室4は前述したように引出
し電極系12を介して真空排気されるので、引出し電極
系12でのガス圧を約1×10-3Torr以下に維持し
ようとすると、引出し電極系12でのコンダクタンスの
関係上、プラズマ室4内のガス圧は通常は10-4Tor
r台になり、これよりもプラズマ室4内のガス圧を上げ
ることは、引出し電極系12での放電をもたらすことか
ら困難である。
し電極系12を介して真空排気されるので、引出し電極
系12でのガス圧を約1×10-3Torr以下に維持し
ようとすると、引出し電極系12でのコンダクタンスの
関係上、プラズマ室4内のガス圧は通常は10-4Tor
r台になり、これよりもプラズマ室4内のガス圧を上げ
ることは、引出し電極系12での放電をもたらすことか
ら困難である。
【0010】ところが、高周波放電によるプラズマ発生
の場合、10-4Torr台で得られるプラズマ密度は低
い。そのため、上記のようなイオン源2a、2bにおい
ても、そのままでは、プラズマ10の密度が低く、従っ
てイオンビーム20の電流密度も低い。
の場合、10-4Torr台で得られるプラズマ密度は低
い。そのため、上記のようなイオン源2a、2bにおい
ても、そのままでは、プラズマ10の密度が低く、従っ
てイオンビーム20の電流密度も低い。
【0011】これの対策として、図3の容量結合型の高
周波イオン源2aの場合、プラズマ室4の周りに空心コ
イル22を付加することによって、これによる磁界との
相互作用でプラズマ10の密度を増加させることができ
るが、磁界強度分布がプラズマ室4の半径方向でどうし
ても不均一になるため、均一性の良いプラズマ10ひい
てはイオンビーム20を得ることができない。
周波イオン源2aの場合、プラズマ室4の周りに空心コ
イル22を付加することによって、これによる磁界との
相互作用でプラズマ10の密度を増加させることができ
るが、磁界強度分布がプラズマ室4の半径方向でどうし
ても不均一になるため、均一性の良いプラズマ10ひい
てはイオンビーム20を得ることができない。
【0012】また、図4の誘導結合型の高周波イオン源
2bの場合、高周波コイル24に供給する高周波電力の
周波数を変化させてプラズマ密度を増加させる試みが成
されている。この場合、高周波コイル24の表層での損
失の点で、13.56MHzよりも低周波側で効率が良
く、高密度プラズマが得られることが報告されている。
しかしこの場合も、上記容量結合型の高周波イオン源2
aの場合と同様、高周波コイル24による磁界強度分布
の点で、プラズマ10ひいてはイオンビーム20の均一
性に難がある。
2bの場合、高周波コイル24に供給する高周波電力の
周波数を変化させてプラズマ密度を増加させる試みが成
されている。この場合、高周波コイル24の表層での損
失の点で、13.56MHzよりも低周波側で効率が良
く、高密度プラズマが得られることが報告されている。
しかしこの場合も、上記容量結合型の高周波イオン源2
aの場合と同様、高周波コイル24による磁界強度分布
の点で、プラズマ10ひいてはイオンビーム20の均一
性に難がある。
【0013】そこでこの発明は、高周波イオン源におい
て高密度でしかも均一性の良いプラズマを発生させ、そ
れによって高電流密度でしかも均一性の良いイオンビー
ムを引き出すことができるようにした高周波イオン源装
置を提供することを主たる目的とする。
て高密度でしかも均一性の良いプラズマを発生させ、そ
れによって高電流密度でしかも均一性の良いイオンビー
ムを引き出すことができるようにした高周波イオン源装
置を提供することを主たる目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明の高周波イオン源装置は、電極間に高周波
電力を供給して高周波放電を発生させる容量結合型の高
周波イオン源に、高周波電源から、13.56MHzの
2以上の整数倍の周波数の高周波電力を供給するように
したことを特徴とする。
め、この発明の高周波イオン源装置は、電極間に高周波
電力を供給して高周波放電を発生させる容量結合型の高
周波イオン源に、高周波電源から、13.56MHzの
2以上の整数倍の周波数の高周波電力を供給するように
したことを特徴とする。
【0015】
【作用】上記のように高周波イオン源に供給する高周波
電力の周波数を上げることによって、同一の高周波電力
に対して、プラズマ室内でより高密度のプラズマを発生
させることができるのが確かめられた。しかもこの場合
は容量結合型の高周波イオン源を用いており、しかもそ
れに空心コイルを付加する必要がないので、プラズマの
均一性も良好である。その結果、上記高周波イオン源か
ら高電流密度でしかも均一性の良いイオンビームを引き
出すことができる。
電力の周波数を上げることによって、同一の高周波電力
に対して、プラズマ室内でより高密度のプラズマを発生
させることができるのが確かめられた。しかもこの場合
は容量結合型の高周波イオン源を用いており、しかもそ
れに空心コイルを付加する必要がないので、プラズマの
均一性も良好である。その結果、上記高周波イオン源か
ら高電流密度でしかも均一性の良いイオンビームを引き
出すことができる。
【0016】
【実施例】図1は、この発明の一実施例に係るイオン源
装置を示す図である。図3および図4の従来例と同一ま
たは相当する部分には同一符号を付し、以下においては
当該従来例との相違点を主に説明する。
装置を示す図である。図3および図4の従来例と同一ま
たは相当する部分には同一符号を付し、以下においては
当該従来例との相違点を主に説明する。
【0017】この実施例における高周波イオン源2c
は、そのプラズマ室4のそれぞれ電極を兼ねる側壁4a
とフランジ4b間に高周波電力を供給して高周波放電を
発生させる、容量結合型のものであり、基本的な構成お
よび動作は図3に示した高周波イオン源2aとほぼ同じ
である。但し空芯コイル22は付加していない。
は、そのプラズマ室4のそれぞれ電極を兼ねる側壁4a
とフランジ4b間に高周波電力を供給して高周波放電を
発生させる、容量結合型のものであり、基本的な構成お
よび動作は図3に示した高周波イオン源2aとほぼ同じ
である。但し空芯コイル22は付加していない。
【0018】プラズマ室4内には、この例では、導入さ
れたガス8をプラズマ室4内に均等に拡散させるための
ガス拡散板26、および、側壁4aにゴミが付着するの
を防止してメインテナンスを容易にするガラス筒27が
設けられている。
れたガス8をプラズマ室4内に均等に拡散させるための
ガス拡散板26、および、側壁4aにゴミが付着するの
を防止してメインテナンスを容易にするガラス筒27が
設けられている。
【0019】引出し電極系12aは、この例では、4枚
の多孔電極、即ち引出し電極14、加速電極15、抑制
電極16および接地電極17から成る。18、19は絶
縁物である。
の多孔電極、即ち引出し電極14、加速電極15、抑制
電極16および接地電極17から成る。18、19は絶
縁物である。
【0020】また、図3の例のように空芯コイル22を
設ける代わりに、この例のように、プラズマ室4の周囲
に、プラズマ室4の側壁4aに沿っていわゆるカスプ磁
界を発生させる、複数の磁石28を設けるのが好まし
い。このようなカスプ磁界は、プラズマ分布に大きく影
響を与えることなく、しかも電子およびイオンの閉じ込
めによるプラズマの高密度化を若干ではあるが促進する
ことが可能だからである。
設ける代わりに、この例のように、プラズマ室4の周囲
に、プラズマ室4の側壁4aに沿っていわゆるカスプ磁
界を発生させる、複数の磁石28を設けるのが好まし
い。このようなカスプ磁界は、プラズマ分布に大きく影
響を与えることなく、しかも電子およびイオンの閉じ込
めによるプラズマの高密度化を若干ではあるが促進する
ことが可能だからである。
【0021】そして、このような高周波イオン源2cの
フランジ4bと側壁4a間に、この例では高周波電源3
0aから整合回路32aを介して、13.56MHzの
2以上の整数倍の周波数の、即ち27.12MHz、4
0.68MHz、52.24MHz・・・というような
周波数の高周波電力を供給するようにしている。なお電
源34、36および38は、それぞれ、イオンビーム引
出し用の引出し電源、イオンビーム加速用の加速電源お
よび逆流電子抑制用の抑制電源である。
フランジ4bと側壁4a間に、この例では高周波電源3
0aから整合回路32aを介して、13.56MHzの
2以上の整数倍の周波数の、即ち27.12MHz、4
0.68MHz、52.24MHz・・・というような
周波数の高周波電力を供給するようにしている。なお電
源34、36および38は、それぞれ、イオンビーム引
出し用の引出し電源、イオンビーム加速用の加速電源お
よび逆流電子抑制用の抑制電源である。
【0022】上記のように高周波イオン源2cに供給す
る高周波電力の周波数を上げることによって、同一の高
周波電力に対して、プラズマ室4内でより高密度のプラ
ズマ10を発生させることができる。しかもこの場合は
容量結合型の高周波イオン源を用いており、しかもそれ
に空芯コイルを付加する必要がないので、プラズマ10
の均一性も良好である。その結果、上記高周波イオン源
2cから高電流密度でしかも均一性の良いイオンビーム
20を引き出すことができる。
る高周波電力の周波数を上げることによって、同一の高
周波電力に対して、プラズマ室4内でより高密度のプラ
ズマ10を発生させることができる。しかもこの場合は
容量結合型の高周波イオン源を用いており、しかもそれ
に空芯コイルを付加する必要がないので、プラズマ10
の均一性も良好である。その結果、上記高周波イオン源
2cから高電流密度でしかも均一性の良いイオンビーム
20を引き出すことができる。
【0023】例えば、上記のような高周波イオン源2c
にガス8として水素ガスを導入してプラズマ室4内のガ
ス圧を4.9×10-4Torrに保った時の、プラズマ
密度の周波数依存性およびプラズマ中の電子温度の測定
結果の一例を図2に示す。
にガス8として水素ガスを導入してプラズマ室4内のガ
ス圧を4.9×10-4Torrに保った時の、プラズマ
密度の周波数依存性およびプラズマ中の電子温度の測定
結果の一例を図2に示す。
【0024】この例からも分かるように、高周波電力の
周波数の増加に伴い、プラズマ室4内のプラズマ密度の
増加が確認できた。また、プラズマ10中の電子温度に
ついては周波数を増加させても大きな変化はなく、従っ
て他のガス種を使用した場合でも、周波数の変化による
プラズマ性質の変化は小さいものと考えられ、この点に
関しては従来例と同様に扱うことができるものと考えら
れる。
周波数の増加に伴い、プラズマ室4内のプラズマ密度の
増加が確認できた。また、プラズマ10中の電子温度に
ついては周波数を増加させても大きな変化はなく、従っ
て他のガス種を使用した場合でも、周波数の変化による
プラズマ性質の変化は小さいものと考えられ、この点に
関しては従来例と同様に扱うことができるものと考えら
れる。
【0025】なお、周波数の上限については、必ずしも
明確ではないが、電波法で使用可能な周波数が制限され
ていること、および数百MHz台では表皮効果による導
体での損失が大きく使用が困難で、マイクロ波で使用さ
れている導波管を使用する必要があり電力導入の概念が
大きく異なることから、13.56MHzの7〜8倍が
上限と考えられる。
明確ではないが、電波法で使用可能な周波数が制限され
ていること、および数百MHz台では表皮効果による導
体での損失が大きく使用が困難で、マイクロ波で使用さ
れている導波管を使用する必要があり電力導入の概念が
大きく異なることから、13.56MHzの7〜8倍が
上限と考えられる。
【0026】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、上記の
ように高周波イオン源に供給する高周波電力の周波数を
上げることによって、同一の高周波電力に対して、プラ
ズマ室内でより高密度のプラズマを発生させることがで
きる。しかもこの場合は容量結合型の高周波イオン源を
用いており、しかもそれに空芯コイルを付加する必要が
ないので、プラズマの均一性も良好である。その結果、
高周波イオン源から高電流密度でしかも均一性の良いイ
オンビームを引き出すことができる。
ように高周波イオン源に供給する高周波電力の周波数を
上げることによって、同一の高周波電力に対して、プラ
ズマ室内でより高密度のプラズマを発生させることがで
きる。しかもこの場合は容量結合型の高周波イオン源を
用いており、しかもそれに空芯コイルを付加する必要が
ないので、プラズマの均一性も良好である。その結果、
高周波イオン源から高電流密度でしかも均一性の良いイ
オンビームを引き出すことができる。
【図1】この発明の一実施例に係る高周波イオン源装置
を示す図である。
を示す図である。
【図2】水素ガスによるプラズマ密度の周波数依存性お
よびプラズマ中の電子温度の測定結果の一例を示す図で
ある。
よびプラズマ中の電子温度の測定結果の一例を示す図で
ある。
【図3】従来の高周波イオン源装置の一例を示す概略図
である。
である。
【図4】従来の高周波イオン源装置の他の例を示す概略
図である。
図である。
2c 高周波イオン源 4 プラズマ室 4a 側壁 4b フランジ 10 プラズマ 12a 引出し電極系 20 イオンビーム 30a 高周波電源 32a 整合回路
Claims (1)
- 【請求項1】 電極間に高周波電力を供給して高周波放
電を発生させる容量結合型の高周波イオン源に、高周波
電源から、13.56MHzの2以上の整数倍の周波数
の高周波電力を供給するようにしたことを特徴とする高
周波イオン源装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4208471A JPH0636695A (ja) | 1992-07-13 | 1992-07-13 | 高周波イオン源装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4208471A JPH0636695A (ja) | 1992-07-13 | 1992-07-13 | 高周波イオン源装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0636695A true JPH0636695A (ja) | 1994-02-10 |
Family
ID=16556729
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4208471A Pending JPH0636695A (ja) | 1992-07-13 | 1992-07-13 | 高周波イオン源装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0636695A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998022969A1 (en) * | 1996-11-18 | 1998-05-28 | Plasma Tech Co., Ltd. | Gas discharge device |
WO2001006534A1 (fr) * | 1999-07-14 | 2001-01-25 | Ebara Corporation | Source de faisceaux |
-
1992
- 1992-07-13 JP JP4208471A patent/JPH0636695A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998022969A1 (en) * | 1996-11-18 | 1998-05-28 | Plasma Tech Co., Ltd. | Gas discharge device |
WO2001006534A1 (fr) * | 1999-07-14 | 2001-01-25 | Ebara Corporation | Source de faisceaux |
US6949735B1 (en) | 1999-07-14 | 2005-09-27 | Ebara Corporation | Beam source |
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