JPH0636190B2 - ビス穴位置認識方法 - Google Patents
ビス穴位置認識方法Info
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- JPH0636190B2 JPH0636190B2 JP61000886A JP88686A JPH0636190B2 JP H0636190 B2 JPH0636190 B2 JP H0636190B2 JP 61000886 A JP61000886 A JP 61000886A JP 88686 A JP88686 A JP 88686A JP H0636190 B2 JPH0636190 B2 JP H0636190B2
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- JP
- Japan
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- screw hole
- curvature
- curve
- calculated
- line
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、画像データからビス穴位置を計算する、ビス
穴位置認識方法に関するものである。
穴位置認識方法に関するものである。
従来の技術 近年、ビス穴位置認識方法は、画像データを固定しきい
値で二値化したものをｘ，ｙ方向に投影したデータを用
いてビス穴位置を計算する方法が用いられている。
値で二値化したものをｘ，ｙ方向に投影したデータを用
いてビス穴位置を計算する方法が用いられている。
以下、図面を参照しながら、上述した従来のビス穴位置
認識方法について説明する。
認識方法について説明する。
第１図はビス穴の説明図である。第２図は第１図のビス
穴をカメラから入力して二値化したものである。第３図
は第２図の二値化データから、ｘ，ｙ方向の投影データ
に変換したものである。第４図はビス穴の背景の明るさ
が均一でない場合のビス穴の画像データである。第５図
は第４図の画像データを二値化したものである。第６図
は第５図の二値化データから、ｘ，ｙ方向の投影データ
に変換したものである。
穴をカメラから入力して二値化したものである。第３図
は第２図の二値化データから、ｘ，ｙ方向の投影データ
に変換したものである。第４図はビス穴の背景の明るさ
が均一でない場合のビス穴の画像データである。第５図
は第４図の画像データを二値化したものである。第６図
は第５図の二値化データから、ｘ，ｙ方向の投影データ
に変換したものである。
次に、上記従来のビス穴位置認識方法について図面を参
照して具体的に説明する。
照して具体的に説明する。
まずカメラなどの画像入力装置で第１図の画像データを
入力して記憶回路に格納する。記憶回路に格納されたデ
ータは多階調の画像データであり、これを適当な二値化
レベルで二値化して第２図の画像を得る。二値化データ
について、画像上で同じｘ座標を持つデータの和をそれ
ぞれｘ座標について計算したものがｘ座標の投影データ
であり、ｙについて同様の計算を行なったものがｙ座標
の投影データである。第３図は、第２図の二値化データ
について、ｘ座標，ｙ座標の投影データを作ったもので
ある。画像の中にビス穴が存在する場合、投影データの
グラフには、幅，高さが共にビス穴の径に等しい図形が
表われるはずである。そこで、投影データにおいて、
幅，高さが共にビス穴の径に等しいような図形を探し、
その中心座標を計算することによってビス穴のｘ座標，
ｙ座標が得られる。
入力して記憶回路に格納する。記憶回路に格納されたデ
ータは多階調の画像データであり、これを適当な二値化
レベルで二値化して第２図の画像を得る。二値化データ
について、画像上で同じｘ座標を持つデータの和をそれ
ぞれｘ座標について計算したものがｘ座標の投影データ
であり、ｙについて同様の計算を行なったものがｙ座標
の投影データである。第３図は、第２図の二値化データ
について、ｘ座標，ｙ座標の投影データを作ったもので
ある。画像の中にビス穴が存在する場合、投影データの
グラフには、幅，高さが共にビス穴の径に等しい図形が
表われるはずである。そこで、投影データにおいて、
幅，高さが共にビス穴の径に等しいような図形を探し、
その中心座標を計算することによってビス穴のｘ座標，
ｙ座標が得られる。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、前に述べたように
ビス穴の丸いパターンと、同じような大きさの他の図形
とを区別できず、また、第４図のようにビス穴の背景の
明るさが均一でない場合や、穴と背景の明るさの差があ
まり無いときなどは、第５図のように、二値化してもビ
ス穴の丸いパターンが現われないため、第６図に見られ
るように投影データにビス穴に相当するような図形が現
われず、ビス穴の位置がわからないという問題点があ
る。
ビス穴の丸いパターンと、同じような大きさの他の図形
とを区別できず、また、第４図のようにビス穴の背景の
明るさが均一でない場合や、穴と背景の明るさの差があ
まり無いときなどは、第５図のように、二値化してもビ
ス穴の丸いパターンが現われないため、第６図に見られ
るように投影データにビス穴に相当するような図形が現
われず、ビス穴の位置がわからないという問題点があ
る。
本発明は上記問題点に鑑み、ビス穴の丸いパターンと、
同じような大きさの他の図形との区別を可能にし、ま
た、ビス穴の背景の明るさが均一でない場合や、ビス穴
と背景の明るさの差があまり無いときでも、円周の一部
を用いてビス穴中心を推定できるようなビス穴位置認識
方法を提供するものである。
同じような大きさの他の図形との区別を可能にし、ま
た、ビス穴の背景の明るさが均一でない場合や、ビス穴
と背景の明るさの差があまり無いときでも、円周の一部
を用いてビス穴中心を推定できるようなビス穴位置認識
方法を提供するものである。
問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために本発明のビス穴認識方法
は、ビス穴を有した対象物のビス穴の中心位置を認識す
るビス穴位置認識方法において、画像入力装置を用い入
力した、前記対象物の２次元濃淡画像データを得る第１
の工程と、前記第１の工程にて得られた２次元濃淡画像
データに基づいて明るさの変化する部分を強調して細線
化を行う第２工程と、前記第２の工程にて得られた細線
が、分岐点より分岐して構成される細線の各分岐部分に
沿って連続的に、順次所定の同一長さに区切って得られ
る各細線の各弧に対応する各弦が順次相互になす角度
と、前記ビス穴を形成する円の円周に沿って連続的に、
順次所定の同一長さに区切って得られる各円弧に対応す
る各弦が順次相互になす角度との差の絶対値の和が最小
となる細線の分岐部分のみを残して前記細線の不要な分
岐部分を切断し線画データを作成する第３の工程と、前
記第３の工程にて作成された線画データに基づく曲線を
所定数の画素間隔で分割し、分割された各曲線毎に曲率
平均を算出する第４の工程と、前記第４の工程で算出し
た曲率平均のうち前記ビス穴の有する曲率に最も近い曲
率平均を持つ曲線を、前記ビス穴の円弧と決定する第５
の工程と、前記第５の工程にて決定された曲線におい
て、隣接する画素を一組とし、各組毎に前記第４の工程
にて算出した平均曲率を用いて前記ビス穴の中心位置を
算出する第６の工程と、前記第６の工程にて複数個算出
したビス穴の中心位置を平均して求めた位置を、ビス穴
の中心位置と認識する第７の工程を備えたことを特徴と
するものである。
は、ビス穴を有した対象物のビス穴の中心位置を認識す
るビス穴位置認識方法において、画像入力装置を用い入
力した、前記対象物の２次元濃淡画像データを得る第１
の工程と、前記第１の工程にて得られた２次元濃淡画像
データに基づいて明るさの変化する部分を強調して細線
化を行う第２工程と、前記第２の工程にて得られた細線
が、分岐点より分岐して構成される細線の各分岐部分に
沿って連続的に、順次所定の同一長さに区切って得られ
る各細線の各弧に対応する各弦が順次相互になす角度
と、前記ビス穴を形成する円の円周に沿って連続的に、
順次所定の同一長さに区切って得られる各円弧に対応す
る各弦が順次相互になす角度との差の絶対値の和が最小
となる細線の分岐部分のみを残して前記細線の不要な分
岐部分を切断し線画データを作成する第３の工程と、前
記第３の工程にて作成された線画データに基づく曲線を
所定数の画素間隔で分割し、分割された各曲線毎に曲率
平均を算出する第４の工程と、前記第４の工程で算出し
た曲率平均のうち前記ビス穴の有する曲率に最も近い曲
率平均を持つ曲線を、前記ビス穴の円弧と決定する第５
の工程と、前記第５の工程にて決定された曲線におい
て、隣接する画素を一組とし、各組毎に前記第４の工程
にて算出した平均曲率を用いて前記ビス穴の中心位置を
算出する第６の工程と、前記第６の工程にて複数個算出
したビス穴の中心位置を平均して求めた位置を、ビス穴
の中心位置と認識する第７の工程を備えたことを特徴と
するものである。
作用 本発明は上記の構成により、曲率を計算することによっ
てビス穴の丸いパターンと、同じような大きさの他の図
形とを区別できるようにし、また、画像オペレータを用
いることにより、第４図のようにビス穴の背景の明るさ
が均一でない場合や、穴と背景の明るさの差があまり無
いときでも、ビス穴の輪郭を検出できるようにした。
てビス穴の丸いパターンと、同じような大きさの他の図
形とを区別できるようにし、また、画像オペレータを用
いることにより、第４図のようにビス穴の背景の明るさ
が均一でない場合や、穴と背景の明るさの差があまり無
いときでも、ビス穴の輪郭を検出できるようにした。
実施例 以下、本発明の一実施例について、図面を参照しながら
説明する。
説明する。
第７図は拡張ラプラシアンオペレータである。第８図は
ラプラシアン画像を二値化したものである。第９図は第
８図の画像からノイズを除去した、細線化のためのマス
ク領域である。第１０は尾根点抽出の説明図である。第
１１図はベクトルの８近傍である。第１２図は細線化の
ための条件得点対応表である。第１３図は線画データで
ある。第１４図は方向ベクトルとビットの対応図であ
る。第１５図は線画データをそのまま分岐ベクトル表現
したものである。第１６図は線画データについてループ
が発生しないような制約条件を設けて分岐ベクトル表現
にしたものである。第１７図は分岐点の説明図である。
第１８図は分岐切断の説明図である。第１９図は円周の
半径と角度変化量との関係図である。第２０図は線画の
曲率計算の説明図である。第２１図は円弧中心算出の説
明図である。第２２図は線画データから抽出された円弧
と、円弧中心の推定位置を示した図である。
ラプラシアン画像を二値化したものである。第９図は第
８図の画像からノイズを除去した、細線化のためのマス
ク領域である。第１０は尾根点抽出の説明図である。第
１１図はベクトルの８近傍である。第１２図は細線化の
ための条件得点対応表である。第１３図は線画データで
ある。第１４図は方向ベクトルとビットの対応図であ
る。第１５図は線画データをそのまま分岐ベクトル表現
したものである。第１６図は線画データについてループ
が発生しないような制約条件を設けて分岐ベクトル表現
にしたものである。第１７図は分岐点の説明図である。
第１８図は分岐切断の説明図である。第１９図は円周の
半径と角度変化量との関係図である。第２０図は線画の
曲率計算の説明図である。第２１図は円弧中心算出の説
明図である。第２２図は線画データから抽出された円弧
と、円弧中心の推定位置を示した図である。
次に、本実施例のビス穴位置認識方法について、具体的
に説明する。
に説明する。
まず、画像入力装置を用いて入力した二次元濃淡画像デ
ータから明るさの変化する部分を抽出して線画データを
生成する細線化工程について動作を説明する。
ータから明るさの変化する部分を抽出して線画データを
生成する細線化工程について動作を説明する。
(a)フィルタリング 画像データの細線科の前提として、第７図のオペレータ
を用いて、明るさの変化する部分を強調するようなフィ
ルタリング処理を行なう。このオペレータは、平滑化オ
ペレータを正規化したものと、原画との差に等しい。平
滑化オペレータは低周波成分を抽出するので、平滑化オ
ペレータと原画との差をとるこのオペレータは、高周波
成分抽出オペレータである。このオペレータは、３×３
のラプラシアンオペレータを１１×１１のサイズにひき
のばしたものであり、ラプラシアンオペレータと同じよ
うに、輪郭強調フィルタとしての性格を持っているの
で、拡張ラプラシアンオペレータと呼び、このオペレー
タを用いて変換された画像をラプラシアン画像と呼ぶこ
とにする。
を用いて、明るさの変化する部分を強調するようなフィ
ルタリング処理を行なう。このオペレータは、平滑化オ
ペレータを正規化したものと、原画との差に等しい。平
滑化オペレータは低周波成分を抽出するので、平滑化オ
ペレータと原画との差をとるこのオペレータは、高周波
成分抽出オペレータである。このオペレータは、３×３
のラプラシアンオペレータを１１×１１のサイズにひき
のばしたものであり、ラプラシアンオペレータと同じよ
うに、輪郭強調フィルタとしての性格を持っているの
で、拡張ラプラシアンオペレータと呼び、このオペレー
タを用いて変換された画像をラプラシアン画像と呼ぶこ
とにする。
(b)細線化 ラプラシアン画像から線要素を抽出する方法は、第１０
図のように明るさを高さとみなしたときの、画像の尾根
を求めてゆくことによって実現される。
図のように明るさを高さとみなしたときの、画像の尾根
を求めてゆくことによって実現される。
本方法では、ラプラシアン画像を固定しきい値で二値化
した画像からノズズ成分を除去して得られる二値化画像
をマスクとし、そのマスク内について尾根点と判断され
る点のみを線画点とした。第８図は上記ラプラシアン画
像を固定しきい値で二値化したものであるが、オペレー
タの特性から非常に多くのノイズ成分を含んだものにな
ってしまう。そこで、二値画像から面積が一定値より小
さい連結領域を除去したものをマスク領域として、尾根
点の抽出を行なう。第９図がマスク領域となる。尾根点
の抽出は次に示す２つのステップで実現される。
した画像からノズズ成分を除去して得られる二値化画像
をマスクとし、そのマスク内について尾根点と判断され
る点のみを線画点とした。第８図は上記ラプラシアン画
像を固定しきい値で二値化したものであるが、オペレー
タの特性から非常に多くのノイズ成分を含んだものにな
ってしまう。そこで、二値画像から面積が一定値より小
さい連結領域を除去したものをマスク領域として、尾根
点の抽出を行なう。第９図がマスク領域となる。尾根点
の抽出は次に示す２つのステップで実現される。
（ステップ１） ラプラシアン画像から尾根点の抽出を行なうに際し、各
点の得点を計算する。ここで水平・垂直・および２対角
方向について、中央点の明るさがほかの２点より大きく
なる場合、その線を中央極大と呼ぶ。この中央極大とな
る線は、水平・垂直方向と対角方向とではその距離が異
なるため重みづけが必要となる。そのため第１２図に示
す得点を条件を満たす各方向に対して加算し、中央点の
得点とする。各得点の値は水平または垂直方向と対角方
向で約1.4：１になるように選んである。
点の得点を計算する。ここで水平・垂直・および２対角
方向について、中央点の明るさがほかの２点より大きく
なる場合、その線を中央極大と呼ぶ。この中央極大とな
る線は、水平・垂直方向と対角方向とではその距離が異
なるため重みづけが必要となる。そのため第１２図に示
す得点を条件を満たす各方向に対して加算し、中央点の
得点とする。各得点の値は水平または垂直方向と対角方
向で約1.4：１になるように選んである。
（ステップ２） ステップ１で得られた得点が３を越す画素を線画点と
し、３未満の画素を非線画点とする。得点が３に等しい
場合には、次の２つの条件を満たす画素のみを線画点と
し、それ以外の画素は非線画点とする。
し、３未満の画素を非線画点とする。得点が３に等しい
場合には、次の２つの条件を満たす画素のみを線画点と
し、それ以外の画素は非線画点とする。
(2)Ｔ(X0)＝１or Ｔ(X2)＝１ or Ｔ(X4)＝１ or Ｔ(X6)＝１ 但し、Ｔ(Xi)＝１：Ｐ(Xi)＞３ ＝０：その他 ｐ(Xi)は第１１図に示す８近傍の各点に対応する得点。
(c)ベクトル化 以上のようにして得られた線画データ（第１３図）はノ
イズを多く含んでいる。そこで、分岐ベクトルという概
念を用いて、不要なノイズの除去をおこなった。
イズを多く含んでいる。そこで、分岐ベクトルという概
念を用いて、不要なノイズの除去をおこなった。
以下、分岐ベクトルについて、説明する。
分岐ベクトルは第１４図に示すように画像上の各点がそ
れぞれ８ビットの値をもち、その各ビットはそれぞれそ
の画素に連結する画素の方向成分を表わす。但し、第１
４図に示したすべての方向に対応するビットをセットす
ると、ループが多く発生するので、線画データを分岐ベ
クトル表現に交換する際に次に示すような制約条件を設
けた。
れぞれ８ビットの値をもち、その各ビットはそれぞれそ
の画素に連結する画素の方向成分を表わす。但し、第１
４図に示したすべての方向に対応するビットをセットす
ると、ループが多く発生するので、線画データを分岐ベ
クトル表現に交換する際に次に示すような制約条件を設
けた。
垂直（０４，４０），水平（０１，１０）方向に連結成
分が存在する場合、その両隣の斜め方向の線画点は連結
成分としない。
分が存在する場合、その両隣の斜め方向の線画点は連結
成分としない。
この制約条件がない場合、線画データは第１５図のよう
に変換され、制約条件を付加すると、第１６図のように
変換される。上記の方法で線画データを分岐ベクトルに
変換すると、孤立点は近傍を持たないため値が０とな
る。すなわち、分岐ベクトルへの変換によって孤立点が
除去できる。
に変換され、制約条件を付加すると、第１６図のように
変換される。上記の方法で線画データを分岐ベクトルに
変換すると、孤立点は近傍を持たないため値が０とな
る。すなわち、分岐ベクトルへの変換によって孤立点が
除去できる。
以下、線画データ上の曲線の曲率半径を計算してもとの
画像の中に与えられた径のビス穴が存在するかどうかを
判定するビス穴存在判定工程について説明をおこなう。
画像の中に与えられた径のビス穴が存在するかどうかを
判定するビス穴存在判定工程について説明をおこなう。
(a)分岐切断 分岐ベクトル画像ではすべての点は、第１７図に示すよ
うに、１−４分岐点になっている。しかし円弧性の判定
をするためには、線が端点と中間点のみからなるもので
なければならない。このため、「分岐の切断」過程で
は、３分岐点、４分岐点をすべて１分岐点、２分岐点に
変換しておく。その方法としては、 ３分岐点を１分岐点と２分岐点 ４分岐点を２分岐点と２つの１分岐点 に変換することすなわち切断をおこなうことで実現して
いる。この切断をおこなう際には、「対象となるビス穴
と曲率半径が近い線のみを残し、他は切断する。」とい
う基準に従った。
うに、１−４分岐点になっている。しかし円弧性の判定
をするためには、線が端点と中間点のみからなるもので
なければならない。このため、「分岐の切断」過程で
は、３分岐点、４分岐点をすべて１分岐点、２分岐点に
変換しておく。その方法としては、 ３分岐点を１分岐点と２分岐点 ４分岐点を２分岐点と２つの１分岐点 に変換することすなわち切断をおこなうことで実現して
いる。この切断をおこなう際には、「対象となるビス穴
と曲率半径が近い線のみを残し、他は切断する。」とい
う基準に従った。
分岐の切断過程について、第１８図を用いて説明をす
る。第１８図(a)は分岐点の例であるが、点Ｐからはそ
れぞれP A0 A1，P B0 B1，PC0 C1の３方向の分岐をも
つ。点Ａ０，Ｂ０，Ｃ０はそれぞれ点Ｐから長さＬの腕
を伸ばした点、点Ａ１，Ｂ１，Ｃ１はそれぞれ点Ａ０，
Ｂ０，Ｃ０から長さＬの腕を伸ばした点である。これら
の点に対し図に示すように仰角θikをとる。これらの仰
角を用いて、点Ｐから分岐可能なすべての２方向の線の
組み合わせに対し、Ｌの長さづつ線をたどったときの曲
線の角度変化量 ｄθ１＝θi1−θi0 ｄθ２＝θk0−π−θi0 ｄθ３＝θk0−θk1 を計算する。さて、与えられたビス穴の半径をｒとした
とき、第１９図にみられるように、円周をＬだけたどっ
たときの角度変化量はＬ／ｒとなる。従ってｄθ１，ｄ
θ２，ｄθ３とＬ／ｒとの差の和 ｜ｄθ１−Ｌ／ｒ｜＋｜ｄθ２−Ｌ／ｒ｜＋｜ｄθ３−
Ｌ／ｒ｜ が最小になる点のみを残してあとは切断する。
る。第１８図(a)は分岐点の例であるが、点Ｐからはそ
れぞれP A0 A1，P B0 B1，PC0 C1の３方向の分岐をも
つ。点Ａ０，Ｂ０，Ｃ０はそれぞれ点Ｐから長さＬの腕
を伸ばした点、点Ａ１，Ｂ１，Ｃ１はそれぞれ点Ａ０，
Ｂ０，Ｃ０から長さＬの腕を伸ばした点である。これら
の点に対し図に示すように仰角θikをとる。これらの仰
角を用いて、点Ｐから分岐可能なすべての２方向の線の
組み合わせに対し、Ｌの長さづつ線をたどったときの曲
線の角度変化量 ｄθ１＝θi1−θi0 ｄθ２＝θk0−π−θi0 ｄθ３＝θk0−θk1 を計算する。さて、与えられたビス穴の半径をｒとした
とき、第１９図にみられるように、円周をＬだけたどっ
たときの角度変化量はＬ／ｒとなる。従ってｄθ１，ｄ
θ２，ｄθ３とＬ／ｒとの差の和 ｜ｄθ１−Ｌ／ｒ｜＋｜ｄθ２−Ｌ／ｒ｜＋｜ｄθ３−
Ｌ／ｒ｜ が最小になる点のみを残してあとは切断する。
(b)円弧抽出 分岐切断された線画データは、分岐のない曲線の集合と
なっているので、ビス穴の穴径と同じ曲率半径を持つ線
を探せばよい。しかし、濃淡画像データを変換して線面
データにする場合、もとお画像ではきれいな円弧であっ
ても、画面の明るさのムラなどにより線画データに変換
したときにでは完全な円弧にならないことが普通であ
る。そこで、完全な円弧でなくても曲率を計算できるよ
うにするため、曲線を分割し、曲線の部分ごとに曲率を
計算して、それらの平均（以下、平均曲率とよぶことに
する）を近似的に曲線の曲率とする。計算方法をもう少
し詳しくのべる。
なっているので、ビス穴の穴径と同じ曲率半径を持つ線
を探せばよい。しかし、濃淡画像データを変換して線面
データにする場合、もとお画像ではきれいな円弧であっ
ても、画面の明るさのムラなどにより線画データに変換
したときにでは完全な円弧にならないことが普通であ
る。そこで、完全な円弧でなくても曲率を計算できるよ
うにするため、曲線を分割し、曲線の部分ごとに曲率を
計算して、それらの平均（以下、平均曲率とよぶことに
する）を近似的に曲線の曲率とする。計算方法をもう少
し詳しくのべる。
曲線を次のように曲線上の点の集合で表わすことにす
る。
る。
｛px(i)、py(i)｝，１≦ｉ≦Ｌ 但し、Ｌは曲線の長さ、点の添字は曲線上におけるもの
と同じ順番 平均曲率を計算するためのパラメータｐ，ｑを与えてや
り、（ｐ，ｑはそれぞれ、曲線を分割したときの線分の
長さと、角度変化を測る点の間の距離に相当する。認識
がしやすいように、経験的に定めてやればよいが、目安
としては、ｐ，ｑ共に画面上のムラに影響されない程度
に大きく、部分曲率を計算するためのサンプル点の数が
あまり少なくならないように定める。曲線のｉ番目の点
と、（ｉ＋ｐ）番目の点を結んだ線の角度をarg(i)とす
る（第２０図を参照）。
と同じ順番 平均曲率を計算するためのパラメータｐ，ｑを与えてや
り、（ｐ，ｑはそれぞれ、曲線を分割したときの線分の
長さと、角度変化を測る点の間の距離に相当する。認識
がしやすいように、経験的に定めてやればよいが、目安
としては、ｐ，ｑ共に画面上のムラに影響されない程度
に大きく、部分曲率を計算するためのサンプル点の数が
あまり少なくならないように定める。曲線のｉ番目の点
と、（ｉ＋ｐ）番目の点を結んだ線の角度をarg(i)とす
る（第２０図を参照）。
次にｉ番目の点と、（ｉ＋ｑ）番目の点の間の角度の差 arg（ｉ＋ｑ）−arg(i) から、この位置における曲率curv(i)は curv(i)＝｛arg（ｉ＋ｑ）−arg(i)｝／d(i,q) 但し、d(i,q)はP(i)とｐ（ｉ＋ｇ）間の距離として求め
られる。
られる。
平均曲率は、curv(i)を、曲線上の点（但し線の端の方
は除く）にわたって平均をとったものである。また、平
均を計算するときに、分散もあわせて算出しておく（曲
率分散とよぶことにする。）。曲率分散が小さいほど、
線の曲がり具合が一定なので、完全な円弧に近い。平均
曲率が、与えられたビス穴径に近く、また曲率分散が小
さいものを選ぶようにすれば、ビス穴を見つけることが
できる。
は除く）にわたって平均をとったものである。また、平
均を計算するときに、分散もあわせて算出しておく（曲
率分散とよぶことにする。）。曲率分散が小さいほど、
線の曲がり具合が一定なので、完全な円弧に近い。平均
曲率が、与えられたビス穴径に近く、また曲率分散が小
さいものを選ぶようにすれば、ビス穴を見つけることが
できる。
以下、線画データからビス穴中心位置を計算するビス穴
位置計算部についての説明をする。
位置計算部についての説明をする。
(a)円弧中心推定 すでに述べたように、抽出された円弧は、完全な円弧に
なっているとは限らないので、以下に述べるような方法
で円弧の中心を推定する。
なっているとは限らないので、以下に述べるような方法
で円弧の中心を推定する。
円弧を分割し、分割された円弧の部分ごとに、線の方向
と、すでに算出されている平均曲率を用いて、部分円弧
中心を求め、その平均を円弧中心とする。具体的な算出
式は以下の通り。
と、すでに算出されている平均曲率を用いて、部分円弧
中心を求め、その平均を円弧中心とする。具体的な算出
式は以下の通り。
曲線のｉ番目の点と（ｉ＋１）番目の点を結ぶ線分と、
平均曲率mcから、円弧の推定中心(estx(i),esty(i))は
第２１図からわかるように estx(i)＝px(i)+cos(arg(i)+π/2)/mc ＝px(i)-sin(arg(i))/mc esty(i)＝py(i)+sin(arg(i)+π/2)/mc ＝py(i)+cos(arg(i))/mc のように算出される。
平均曲率mcから、円弧の推定中心(estx(i),esty(i))は
第２１図からわかるように estx(i)＝px(i)+cos(arg(i)+π/2)/mc ＝px(i)-sin(arg(i))/mc esty(i)＝py(i)+sin(arg(i)+π/2)/mc ＝py(i)+cos(arg(i))/mc のように算出される。
estx(i),esty(i)の曲線上の点にわたっての平均を円弧
の推定中心とする。上記の方法により、線画から抽出さ
れた円弧が歪んでいる場合でも、曲率計算と中心位置計
算の二箇所で平均化を行なっているために、現実に近い
中心位置が得られる。
の推定中心とする。上記の方法により、線画から抽出さ
れた円弧が歪んでいる場合でも、曲率計算と中心位置計
算の二箇所で平均化を行なっているために、現実に近い
中心位置が得られる。
第２２図に、上記の方法で抽出された円弧とそれぞれの
円弧についての推定中心位置（プラスマーク）を示し
た。
円弧についての推定中心位置（プラスマーク）を示し
た。
発明の効果 以上のように、本発明は、ビス穴を有した対象物のビス
穴の中心位置を認識するビス穴位置認識方法において、
画像入力装置を用い入力した、前記対象物の２次元濃淡
画像データを得る第１の工程と、前記第１の工程にて得
られた２次元濃淡画像データに基づいて明るさの変化す
る部分を強調して細線化を行う第２の工程と、前記第２
の工程にて得られた細線が、分岐点より分岐して構成さ
れる細線の各分岐部分に沿って連続的に、順次所定の同
一長さに区切って得られる各細線の各弧に対応する各弦
が順次相互になす角度と、前記ビス穴を形成する円の円
周に沿って連続的に、順次所定の同一長さに区切って得
られる各円弧に対応する各弦が順次相互になる角度との
差の絶対値の和が最小となる細線の分岐部分のみを残し
て前記細線の不要な分岐部分を切断し線画データを作成
する第３の工程と、前記第３の工程にて作成された線画
データに基づく曲線を所定数の画素間隔で分割し、分割
された各曲線毎に曲率平均を算出する第４の工程と、前
記第４の工程で算出した曲率平均のうち前記ビス穴の有
する曲率に最も近い曲率平均を持つ曲線を、前記ビス穴
の円弧と決定する第５の工程と、前記第５の工程にて決
定された曲線において、隣接する画素を一組とし、各組
毎に前記第４の工程にて算出した平均曲率を用いて前記
ビス穴の中心位置を算出する第６の工程と、前記第６の
工程にて複数個算出したビス穴の中心位置を平均して求
めた位置を、ビス穴の中心位置と認識する第７の工程を
備えたことを特徴とするものであり、従来の画像データ
の二値化したものをｘ，ｙ方向に投影したデータから重
心を計算する方法に比べ、ビス穴の判別を確実にし、ま
た照明などが悪いためにビス穴の背景の明るさが均一で
ない場合や、穴と背景の明るさの差があまり無いときな
どでも、円周の一部を用いてビス穴位置を推定でき、そ
の実用的効果は大きいものがある。
穴の中心位置を認識するビス穴位置認識方法において、
画像入力装置を用い入力した、前記対象物の２次元濃淡
画像データを得る第１の工程と、前記第１の工程にて得
られた２次元濃淡画像データに基づいて明るさの変化す
る部分を強調して細線化を行う第２の工程と、前記第２
の工程にて得られた細線が、分岐点より分岐して構成さ
れる細線の各分岐部分に沿って連続的に、順次所定の同
一長さに区切って得られる各細線の各弧に対応する各弦
が順次相互になす角度と、前記ビス穴を形成する円の円
周に沿って連続的に、順次所定の同一長さに区切って得
られる各円弧に対応する各弦が順次相互になる角度との
差の絶対値の和が最小となる細線の分岐部分のみを残し
て前記細線の不要な分岐部分を切断し線画データを作成
する第３の工程と、前記第３の工程にて作成された線画
データに基づく曲線を所定数の画素間隔で分割し、分割
された各曲線毎に曲率平均を算出する第４の工程と、前
記第４の工程で算出した曲率平均のうち前記ビス穴の有
する曲率に最も近い曲率平均を持つ曲線を、前記ビス穴
の円弧と決定する第５の工程と、前記第５の工程にて決
定された曲線において、隣接する画素を一組とし、各組
毎に前記第４の工程にて算出した平均曲率を用いて前記
ビス穴の中心位置を算出する第６の工程と、前記第６の
工程にて複数個算出したビス穴の中心位置を平均して求
めた位置を、ビス穴の中心位置と認識する第７の工程を
備えたことを特徴とするものであり、従来の画像データ
の二値化したものをｘ，ｙ方向に投影したデータから重
心を計算する方法に比べ、ビス穴の判別を確実にし、ま
た照明などが悪いためにビス穴の背景の明るさが均一で
ない場合や、穴と背景の明るさの差があまり無いときな
どでも、円周の一部を用いてビス穴位置を推定でき、そ
の実用的効果は大きいものがある。
第１図はビス穴の画像データ、第２図は第１図の画像デ
ータを二値化した図、第３図は第２図の二値化データか
ら、ｘ，ｙ方向の投影データに変換した図、第４図はビ
ス穴の背景の明るさが均一でない場合のビス穴の画像デ
ータを示す図、第５図は第４図の画像データを二値化し
た図、第６図は第５図の二値化データから、ｘ，ｙ方向
の投影データに変換した図、第７図は拡張ラプラシアン
オペレータを示す図、第８図はラプラシアン画像を二値
化した図、第９図は第８図の画像からノイズを除去した
細線化のためのマスク領域を示した図、第１０図は尾根
点抽出の説明図、第１１図はベクトルの８近傍を示す
図、第１２図は細線化のための条件得点対応を示す図、
第１３図は線画データを示す図、第１４図は方向ベクト
ルとビットの対応図、第１５図は線画データをそのまま
分岐ベクトル表現にした図、第１６図は線画データにつ
いてループが発生しないような制約条件を設けて分岐ベ
クトル表現にした図、第１７図は分岐点の説明図、第１
８図は分岐切断の説明図、第１９図は円周の半径と角度
変化量との関係図、第２０図は線画の曲率計算の説明
図、第２１図は円弧中心算出の説明図、第２２図は線画
データから抽出された円弧と、円弧中心の推定位置を示
した図である。
ータを二値化した図、第３図は第２図の二値化データか
ら、ｘ，ｙ方向の投影データに変換した図、第４図はビ
ス穴の背景の明るさが均一でない場合のビス穴の画像デ
ータを示す図、第５図は第４図の画像データを二値化し
た図、第６図は第５図の二値化データから、ｘ，ｙ方向
の投影データに変換した図、第７図は拡張ラプラシアン
オペレータを示す図、第８図はラプラシアン画像を二値
化した図、第９図は第８図の画像からノイズを除去した
細線化のためのマスク領域を示した図、第１０図は尾根
点抽出の説明図、第１１図はベクトルの８近傍を示す
図、第１２図は細線化のための条件得点対応を示す図、
第１３図は線画データを示す図、第１４図は方向ベクト
ルとビットの対応図、第１５図は線画データをそのまま
分岐ベクトル表現にした図、第１６図は線画データにつ
いてループが発生しないような制約条件を設けて分岐ベ
クトル表現にした図、第１７図は分岐点の説明図、第１
８図は分岐切断の説明図、第１９図は円周の半径と角度
変化量との関係図、第２０図は線画の曲率計算の説明
図、第２１図は円弧中心算出の説明図、第２２図は線画
データから抽出された円弧と、円弧中心の推定位置を示
した図である。
Claims (1)
- 【請求項１】ビス穴を有した対象物のビス穴の中心位置
を認識するビス穴位置認識方法において、 画像入力装置を用い入力した、前記対象物の２次元濃淡
画像データを得る第１の工程と、 前記第１の工程にて得られた２次元濃淡画像データに基
づいて明るさの変化する部分を強調して細線化を行う第
２の工程と、 前記第２の工程にて得られた細線が、分岐点より分岐し
て構成される細線の各分岐部分に沿って連続的に、順次
所定の同一長さに区切って得られる各細線の各弧に対応
する各弦が順次相互になす角度と、前記ビス穴を形成す
る円の円周に沿って連続的に、順次所定の同一長さに区
切って得られる各円弧に対応する各弦が順次相互になす
角度との差の絶対値の和が最小となる細線の分岐部分の
みを残して前記細線の不要な分岐部分を切断し線画デー
タを作成する第３の工程と、 前記第３の工程にて作成された線画データに基づく曲線
を所定数の画素間隔で分割し、分割された各曲線毎に曲
率平均を算出する第４の工程と、 前記第４の工程で算出した曲率平均のうち前記ビス穴の
有する曲率に最も近い曲率平均を持つ曲線を、前記ビス
穴の円弧と決定する第５の工程と、 前記第５の工程にて決定された曲線において、隣接する
画素を一組とし、各組毎に前記第４の工程にて算出した
平均曲率を用いて前記ビス穴の中心位置を算出する第６
の工程と、 前記第６の工程にて複数個算出したビス穴の中心位置を
平均して求めた位置を、ビス穴の中心位置と認識する第
７の工程を備えたことを特徴とするビス穴位置認識方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61000886A JPH0636190B2 (ja) | 1986-01-07 | 1986-01-07 | ビス穴位置認識方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61000886A JPH0636190B2 (ja) | 1986-01-07 | 1986-01-07 | ビス穴位置認識方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62159292A JPS62159292A (ja) | 1987-07-15 |
| JPH0636190B2 true JPH0636190B2 (ja) | 1994-05-11 |
Family
ID=11486155
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61000886A Expired - Lifetime JPH0636190B2 (ja) | 1986-01-07 | 1986-01-07 | ビス穴位置認識方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0636190B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5655030A (en) * | 1993-12-27 | 1997-08-05 | Uht Corporation | Method for detecting the center of target marks by image processing |
| JP4708464B2 (ja) | 2008-09-30 | 2011-06-22 | ファナック株式会社 | ワーク把持装置 |
| JP6132485B2 (ja) * | 2012-07-24 | 2017-05-24 | オリンパス株式会社 | 画像処理装置、画像処理装置の作動方法、及び画像処理プログラム |
| EP3085298A4 (en) | 2013-12-19 | 2017-08-16 | Olympus Corporation | Image-processing apparatus, image-processing method, and image-processing program |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50103941A (ja) * | 1974-01-16 | 1975-08-16 | ||
| JPS56127268A (en) * | 1980-03-10 | 1981-10-05 | Mitsubishi Electric Corp | Picture processor |
-
1986
- 1986-01-07 JP JP61000886A patent/JPH0636190B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 長尾真監訳「ディジタル画像処理」（昭５３−１２−１０）近代科学社Ｐ．３８５−３９０ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62159292A (ja) | 1987-07-15 |
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