JPH063542A - 集積型光カップラ及びその使用方法 - Google Patents

集積型光カップラ及びその使用方法

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JPH063542A
JPH063542A JP4185804A JP18580492A JPH063542A JP H063542 A JPH063542 A JP H063542A JP 4185804 A JP4185804 A JP 4185804A JP 18580492 A JP18580492 A JP 18580492A JP H063542 A JPH063542 A JP H063542A
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optical
coupler
optical coupler
integrated optical
integrated
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JP4185804A
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Mitsutoshi Hasegawa
光利 長谷川
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 集積化が容易で、プロセスが容易であり、信
頼性、再現性、歩留りに優れた集積型光カップラであ
る。 【構成】 半導体基板1上にチャンネル導波路が形成さ
れ、その交差部に光波11,12,13の分岐・結合を
行う光カップラ部が形成されている。カップラ部はスリ
ット溝7a,7bで構成され、このスリット溝7a,7
bは段差構造の段差部位に沿って形成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光通信の分野に必要と
される光電子集積回路などに用いられる光半導体素子、
特に集積型カップラおよびその使用法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、光カップラとして、図14に示す
様なY分岐型光カップラ200を含む複合共振器レーザ
の一種である干渉型レーザが知られている(I.H.
A.Fattah et al.“Semicondu
ctor interferometric lase
r”Appl.Phys.Lett.41,2,pp.
112−114(July 1982)参照)。
【0003】また、図15(a)、(b)に示す様な深
さ方向に関して波面分割を行うX分岐型光カップラ21
0a、210bを含む干渉型レーザも知られている
(J.Salzman et al.“Crossco
upled cavity semiconducto
r laser”Appl.Phys.Lett.
,10,pp.767−769(March 198
8)参照)。ここでR1〜R4は共振面、L1〜L4は
共振器長を夫々示す。
【0004】
【発明が解決しようとしている課題】しかし、上記従来
例では次の様な欠点があった。先ず、図14に示すY分
岐型光カップラを含む例の場合、Y分岐200の分岐角
が大きくとれず、素子長が1mm以上となる為に他の光
デバイスに比べサイズが大きくなり過ぎ集積化が困難で
あると言う問題がある。
【0005】また、図15に示すX分岐型光カップラを
含む例の場合、X分岐部210a、210bに要求され
る位置精度、深さ精度などのプロセス精度が高く、歩留
り、再現性に乏しい等の問題点があった。すなわち、光
導波路を伝搬してくる光波の界分布に対してX分岐部が
どの様に形成されるかで分岐、合流の態様が決まってく
るので、そのプロセス精度に厳しさが要求されるのであ
る。
【0006】また、従来のスリット溝などからなる光カ
ップラでは、スリット溝作成にあたり再付着物が着く等
の理由で側壁の角度が充分大きく取れず光波の反射が所
望の角度で行われないことになって分岐・結合の効率が
悪くなる、スリット溝の切込が浅いとは言えないのでス
ループットが余り良くない等の欠点があった。
【0007】従って、本発明の目的は、上記の課題に鑑
み、プロセスが容易で信頼性及び再現性に優れ半導体光
集積回路などに適する光カップラを含む光集積型カップ
ラ及びその使用法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の光集積型カップラである光半導体素子においては、
半導体基板上に構成された少なくとも1つのチャンネル
導波路構造に光波の分岐・結合を行なう為のカップラ部
が構成され、カップラ部は少なくとも水平方向の導波光
界分布の波面分割を行なう様に(垂直方向ないし深さ方
向の導波光界分布の波面分割を併せて行なってもよい)
導波路構造の一部の段差構造の段差部位にスリット溝で
ある反射率の異なる部位を形成して成っている。
【0009】より具体的には、チャンネル光導波路構造
は、層方向に活性層を含んだり、チャンネル光導波路構
造はリッジ構造であったり、チャンネル光導波路構造は
複数形成されて交差部を有し、交差部中に光カップラが
構成されて光波の分岐・結合を行なったり、チャンネル
光導波路構造の交差部はX字型、T字型、Y字型であっ
たり、光カップラによるチャンネル光導波路構造間の結
合によって複合の共振器が形成されていたり、光カップ
ラは複数方向に光波を分岐・結合するように上記反射率
の異なる部位を複数含んだり、スリット溝は、この溝を
形成する両端の高さが光導波路側と非光導波路側で異な
っており、該光導波路側のスリット溝の端面は、光導波
路の側壁に沿って形成されていたりする。このスリット
溝は、集束イオンビームエッチング(FIBE)によっ
て形成されていたりする。
【0010】また、前記チャンネル導波路構造が、前記
カップラ部を成す交差部位を含んで複数形成され、その
うち1組は光増幅領域となり、他の1組は送信部と受信
部の少なくとも一方に接続される様に構成され、分岐、
合流、増幅機能を示す光ノードを構成していたりする。
【0011】本発明の集積型光カップラを用いる光送受
信機では、端末装置からの信号をもとに発光デバイスを
駆動し、光信号を出力させる機能と光検出部からの電気
信号を再生中継して、端末装置へ送る機能を持つ制御部
と、電気信号にしたがって光信号を発生する発光デバイ
スから出力された光信号を増幅する半導体光増幅器と、
光信号を電気信号に変換する光検出部と、光検出部へ入
力される光信号を増幅する半導体光増幅器と、前記集積
型光カップラから構成されることを特徴とする。
【0012】更に、本発明の集積型光カップラを用いる
光バス型LANでは、前記の種々の態様の集積型光カッ
プラ、前記光送受信機をそれぞれ少なくとも1つ含むこ
とを特徴とする。
【0013】本発明の集積型光カップラを作成するにあ
たっては、チャンネル導波路構造の段差部位に沿って集
束イオンビームエッチング(FIBE)法などによりス
リット溝を比較的浅く形成すればよいので、溝側壁への
再付着物などが少なくなり85度以上の充分な角度(導
波路方向に正しく反射するのに要求される)の側壁を持
つ溝が高いスループットで形成できる。また、段差部位
も、パターニングなどを含む比較的簡単な工程で形成出
来る。
【0014】
【実施例】図1及び図2は本発明の第1実施例であるT
分岐カップラを含む光半導体素子を示し、図1(a)は
模式的上面図、図1(b)は図1(a)のA−A´断面
図、図2(a)は図1(a)のB−B´断面図、図2
(b)はT分岐カップラを加工する前の図1(a)のB
−B´断面図である。
【0015】先ず、第1実施例のプロセス手順について
説明する。基板1上に、分子線成長法(MBE)によ
り、第1クラッド層2、活性層3、第2クラッド層4、
キャップ層5からなるエピタキシャル膜を順に成長させ
る。基板1との界面には必要に応じてGaAsであるバ
ッファ層を形成してもよい。第1、第2クラッド層2、
4の膜厚は1μmとし、活性層3の膜厚は約0.1μm
とした。次に、その上部にフォトリソグラフィ法により
幅3μmの所望のパターン(図示例ではT字型パター
ン)を形成し、反応性イオンビームエッチング(RIB
E)によりリッジ部(図1(b)参照)を形成し、横方
向の閉じ込めを行なうストライプ構造とした。
【0016】更に、リッジ部の交差部のV字形側壁6
a、6b(段差部位)に沿って(図2(b)参照)、集
束イオンビームエッチング(FIBE)法により、活性
層3の下部に至る端面加工をしてスリット溝7a、7b
を図2(a)の如く形成する。このスリット溝7a、7
bは、FIBEによる端面傾斜角度θが85度以上で
(図2(a)参照)、リッジ導波路の分岐・合流部の中
心から光波の導波方向にφ=45°の角度をもって(図
1(a)参照)形成され、45°ミラーすなわち全反射
ミラーを構成している。続いて、この素子の端面8、
9、10をへき開により光が入射、出射できる様にし
た。
【0017】この全反射ミラーによって、活性層3に図
1(a)のB→B´方向に入射した光波11は、分岐・
合流部7a、7bで光波12(反射)と光波13(透
過)にほぼ同一の比率で分岐される。このとき、光波1
2は分岐・合流部の下半分のスリット溝7aで全反射さ
れ、光波13はこの分岐・合流部の上半分をそのまま透
過していくことで生じる。不図示だが、逆方向であるB
´→B方向に入射した光波は、スリット溝7bにより、
同様にして分岐される。
【0018】本実施例における分岐・合流部すなわち光
カップラは、水平方向(チャンネル導波路構造が形成さ
れた基板1の伸展方向)の波面分割型の分岐カップラを
形成するものである為、スリット溝7a、7bの端面の
加工深さは活性層3(チャンネル導波路構造の中心とな
る導波路層)を越えてエッチングするものであればよく
精度の厳しい深さ制御が不必要となる。そして、45°
ミラーの位置制御をすることによって、光波の透過・反
射の比率を所望の値に設定することができる。
【0019】本実施例では、チャンネル導波路構造とし
てリッジ導波路について述べたが、屈折率型の導波路等
他のものも同様に利用できる。
【0020】図3は、Y分岐カップラの第2実施例を示
し、スリット溝25が図示の如きパターンのリッジ導波
路20の側壁に沿って(段差部位)形成されて、図3の
矢印で示す如く光波が分岐・合流される。図4は、図3
のA−A´断面図であり、図2中の番号と同じものは同
機能部を示す。
【0021】図5は第3実施例を示す。第3実施例は本
発明を送信部と受信部を併設した光ノードに応用した例
である。
【0022】図6と図7は図5のA−A´断面図、B−
B´断面図を夫々示す。本実施例は上記第1実施例の加
工端面を集積カップラに用いた例である。
【0023】図5において、29はFIBEで形成され
た全反射ミラー(45°ミラー)であるスリット溝(集
積カップラ部32を構成する)であり、30a、30b
は電流注入によってゲインを有する光アンプを具備する
増幅領域、31は逆バイアス印加により動作する光検出
器を具備する光検出領域である。38a、38bは端面
に形成された反射防止(AR)コートであり、Al23
+ZrO2をエレクトロンビーム(EB)蒸着によって
堆積している。39は導波路である。
【0024】導波路39は上面にT字型に形成されたも
ので、その中心から上下方向の導波路部分は増幅領域3
0a、30bとされ、左方向は光検出領域31とされて
いる。スリット溝29は、その長手方向が、上述したT
字型の導波路39の各長手方向に対して45°傾斜し、
右上および右下端より中央部まで伸びたものとなってい
て、導波路39の略中央部分に設けられている。これに
より、導波路39の中央部分は破線にて示した集積カッ
プラ部32とされる。
【0025】次に、第3実施例のプロセス手順を説明す
る。先ず、図6と図7から分かる様に、n型GaAs基
板41上に、MBE法により、順次、バッファ層として
のn型GaAs42を1μm厚で、クラッド層としての
n型Al0.4Ga0.6As43を1.5μm厚で形成し
た。次に、ノンドープGaAs(100Å厚)、Al
0.2Ga0.8As(30Å厚)を4回繰り返し積層し最後
にGaAsを100 厚で積層し、多重量子井戸構造の
活性層44を形成し、その上にクラッド層としてのp型
Al0.4Ga0.6As45を1.5μm厚で、キャップ層
としてのGaAs46を0.5μm厚で形成した。
【0026】続いて、この半導体レーザウェハ上に、フ
ォトリソグラフィー工程により、幅3μmの所望のT字
型のマスクパターン(導波路39のパターン)を形成
し、このマスクを通して塩素ガス雰囲気のRIBE法に
より活性層44の手前0.2μmまでエッチングし、リ
ッジ部を形成して横方向の閉じ込めを行なうストライプ
構造とした。
【0027】続いて、このリッジが形成されたレーザウ
ェハ上に、SiNから成る絶縁膜47(厚さ1200
Å)をプラズマCVD法によって形成し、SiN絶縁膜
47上にレジストを約1.0μmスピンコートした。そ
の後、4PaのO2雰囲気でのRIE(反応性イオンエ
ッチング)法によって、リッジの頂き部に成膜されたレ
ジストのみを除去し、リッジの頂き部のSiN絶縁膜4
7を露出させ、更に4PaのCF4ガス雰囲気でのRI
E法を実施してリッジの頂き部の露出したSiN絶縁膜
を選択的にエッチングした。その後、残存しているレジ
ストを4PaのO2雰囲気でのRIE法により除去し
た。
【0028】次いで、リッジの頂き部に形成された表面
酸化膜を塩酸によってウェットエッチングし電流注入窓
とし、続いて、上部電極としてCr−Auオーミック用
電極48を真空蒸着法で形成し、GaAs基板41をラ
ッピングで100μmの厚さまで削った後にn型用オー
ミック用電極49としてAuGe−Au電極を蒸着し
た。そして、p型、n型の電極のオーミックコンタクト
をとる為の熱処理を行ない、リッジ型光半導体素子とし
た。
【0029】更に、加速電圧40keVのGa+イオン
を用いたFIB法によるエッチングにより、カップラ部
32のリッジ部のV字状側壁を狙ってスリット溝29を
図7に示す態様で形成した。スリット溝29は上述した
如く深さは活性層44より1μm深く、且つ溝の傾斜角
度は85°以上になる様にした。
【0030】最後に、共振面をへき開により形成し、E
B(エレクトロンビーム)蒸着によってAl23+Zr
2を蒸着しARコート38a、38bとし、スクライ
ブで分離し、電極48、49はワイヤーボンディングに
より取り出した。
【0031】次に、動作について説明する。入射した光
波33は、増幅領域30aにて増幅された入射波34と
して集積カップラ部32に入射し、図1の実施例で述べ
た如く透過波36と反射波35に分離される。反射波3
5は入射波33の光検出領域31にて光電変換され、光
波33中の信号成分をモニターすることが行なわれる。
一方、透過波36は増幅領域30bにて更に増幅され、
出射光37として出力される。
【0032】カップラ部32の損失及び端面結合損失を
補填する形で増幅領域30a、30bの光増幅率(ゲイ
ン)を設定すれば、見掛け上、損失のない受光用光ノー
ドとして機能し多段化接続が可能となる。
【0033】なお、以上の説明においては、受信のみを
行なうものとして説明したが、送信部、受信部を併設さ
せれば送受信可能な光ノードの実現が可能となり、この
様に構成しても当然よい。
【0034】図8は本発明の第4実施例を示し、図9、
10は図8のカップラ部のA−A´、B−B´断面図で
ある。本実施例は本発明を双方向型の光ノードに応用し
た例である。
【0035】本実施例では、バスライン方向に配置され
て光増幅部80a、80b、80cが形成され、受信
部、送信部への分岐導波路82、83がバスライン方向
の導波路84と交差している。分岐カップラ88は、2
つの交差部に夫々スリット溝81a、81bを形成する
ことによって、光波の分岐・結合を行なっている。分岐
結合の比率は、導波路の光電磁界分布と溝81a、81
bの長さなどを制御(位置制御)することによって、調
整することができる。本実施例のスリット溝81a、8
1bは、前記第3実施例と同様の構成で実現できる。即
ち、第4実施例は第3実施例のT字型の導波路を2つ組
み合わせたものとなっている。
【0036】尚、図8において、85aはバスラインを
成すファイバ91の端面が当接するARコート、85b
はバスラインを成すファイバ92の端面が当接するAR
コート、85cは受信部側のファイバ94が当接するA
Rコート、85dは送信部側のファイバ95が当接する
ARコートであり、図9、10において、図7の符号と
同一の符号で示すものは図7の部位と同じものである。
【0037】第4実施例の動作を説明する。光ファイバ
91、ARコート85aを介して入射した光波は、増幅
部80aで増幅された入射波として集積カップラ部88
に入り、まず反射・透過するスリット溝81aと溝のな
い部分により、光波は上側の受信部への導波路82に入
る光波と右側の増幅部80bに入る光波とに分岐され
る。これに続いて8、増幅部80bで増幅された光波
は、反射・透過するスリット溝81bと溝のない部分に
より、下側の送信部への導波路83に入る光波(これは
不図示のアイソレータにより遮断され、送信部の周波数
安定化がはかられる。)と増幅部80cに入る光波とに
分岐される。
【0038】上記分岐光波のうち、導波路82、ファイ
バ94を経て受信部に入る光波はそこで信号が検出さ
れ、増幅部80cへ入った光波はそこで更に増幅されて
ファイバ92へと出力される。逆からARコート85b
を介して入射した光波についても、上と同じ処理を受け
る。一方、送信部からファイバ95、導波路83を介し
てカップラ部88に入る光波はスリット溝81bによっ
て反射され、一方は、増幅部80bを通って透過・反射
するスリット溝81aにより、導波路82に入る光波と
増幅部80aへと入る光波に分岐される。もう一方は増
幅部80cへと入り、ARコート85bを介して出射さ
れる。
【0039】導波路82とファイバ94を介して受信部
に入る光波はそこで信号成分がモニタされ、増幅部80
a、80cへと入る光波は、夫々、そこで増幅されてフ
ァイバ91、92へと出力される。
【0040】以上の実施例においては、レーザ構造の共
振面をへき開によって形成した例を示したが、RIBE
法、反応性イオンエッチング等のドライエッチング等の
エッチングによって形成されるエッチング端面を用いて
もよい。
【0041】また、以上の実施例においては、活性領域
をMQW(多重量子井戸構造)で形成したが、本発明は
これに限定されるものではなく、DH(ダブルヘテロ)
構造、SQW(単一量子井戸)構造などであってもよ
い。
【0042】また、以上の実施例においては、GaAs
系を用いたリッジウェーブ型構造を例にとって述べた
が、BH(埋め込みヘトロストライプ)構造、CPS構
造(チャネル基板プレーナストライプ)、電流光の狭窄
の為の吸収層を活性層近くに設けた構造等の屈折率導波
型のレーザ構造も有効である。ストライプ電極型やプロ
トンボンバード型などの利得導波型レーザなどに対して
も有効である。この場合、スリット溝を形成する前に、
この溝が形成されるべき部分に段差構造を形成する必要
がある。
【0043】更に加えて、半導体レーザの材料はGaA
s・AlGaAs系の他、InP・InGaAsP系、
AlGaInP系等の材料に対しても同様に当てはまる
のは言うまでもない。
【0044】図11に上記実施例に示した集積型光カッ
プラをバス型光LANに用いた場合を示した。
【0045】図11において、101は本発明の光カッ
プラ(第1、2、3実施例で説明済み)、105は光ト
ランシーバー、106は端末装置、102は半導体光増
幅器、104は光ファイバーである(第3実施例を用い
た場合は半導体光増幅器102は必要に応じて設置すれ
ばよい)。
【0046】光トランシーバー105は、例えば図12
のような構成になっている。図12において、121は
制御回路、120は半導体レーザ、123は光検出器、
111は本発明の光カップラ、122は半導体光増幅器
である(本発明の第3実施例を光カップラを用いた場合
は光カップラと光増幅器と光検出器は集積されているの
で、光増幅器と光検出器は必要に応じて設置すればよ
い)。
【0047】バス型光LANの部分は、例えば、CSM
A/CD方式の通信方式を用いる。もちろん、他のトー
クンパス、TDMAなどの通信方式でもかまわない。
【0048】端末装置106からの通信要求は光トラン
シーバー105へ送られ、光トランシーバー105中の
制御回路121は、光LANの通信方式にしたがって半
導体レーザ120を駆動して光パルス信号(デジタル信
号)を送信する。送信された光信号は、半導体光増幅器
122でAPC(自動パワー制御)増幅され、光カップ
ラ111を介して、光カップラ101へ送られ、バスラ
イン上へ信号を送り出す。バスライン上には適当なとこ
ろに半導体光増幅器102があり、光信号をAPC増幅
する。一方、受信の過程は、バスライン上を伝送される
光信号が光カップラ101から分岐され、光トランシー
バー105へ入力された光信号は、光カップラ111で
分岐されて半導体光増幅器122を通してAPC増幅さ
れ、光検出器123で受信されて電気信号に変換され
る。この電気信号は、制御回路121で整形・再生など
をうけ端末装置106へ送られる。
【0049】図13に、図11の実施例のバスライン上
の光カップラ101のかわりに半導体光増幅機能を有す
る双方向型の光カップラ131(第4実施例で説明済
み)を設置した場合を示した。
【0050】伝送方法は、図11の実施例5と同じであ
るのでここでは省略する。また、本実施例では、バスラ
イン上の光カップラ131の間には、半導体光増幅器1
02を必要に応じて設置してもよい。
【0051】
【発明の効果】上記、説明した様に、本発明の構造によ
れば、集積化が図14の従来例に比べて容易であり、プ
ロセスが図15の従来例と比べて容易で、信頼性、再現
性に優れ、歩留りが向上する。また、光カップラが構成
された光電子集積化デバイスが実現可能になった。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a),(b)は本発明の第1実施例の上面
図、A−A´断面図。
【図2】(a),(b)は本発明の第1実施例のB−B
´断面図、およびカップラ加工前のB−B´断面図。
【図3】本発明の第2実施例の上面図。
【図4】図3のA−A´断面図。
【図5】本発明の第3実施例の平面図。
【図6】第3実施例のA−A´断面図。
【図7】第3実施例のB−B´断面図。
【図8】本発明の第4実施例の平面図。
【図9】第4実施例のA−A´断面図。
【図10】第4実施例のB−B´断面図。
【図11】本発明の集積型光カップラを用いたバス型光
LANのブロック図。
【図12】バス型光LANの光トランシーバーのブロッ
ク図。
【図13】本発明の双方向型の集積型光カップラを用い
たバス型光LANのブロック図。
【図14】従来例を示す図。
【図15】従来例を示す図。
【符号の説明】
1,41 基板 2,4,43,45 クラッド層 3,44 活性層 5,46 キャップ層 6a,6b リッジ部側壁 7a,7b,25,29,81a,81b スリット溝 8,9,10 へき開端面 11,12,13,33,34,35,36,37 光
波 20,39,82,83,84 導波路 30a,30b 増幅領域 31 光検出領域 32,88 カップラ部 38a,38b,85a,85b,85c,85d A
Rコート 47 絶縁膜 48,49 電極 80a,80b,80c 光増幅部 91,92,94,95,104 光ファイバ 101,111 光カップラ 102,122 半導体光増幅器 105 光トランシーバー 106 端末装置 120 半導体レーザ 121 制御回路 123 光検出器 131 双方向型光カップラ

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体基板上に構成されたチャンネル導
    波路構造に光波の分岐・結合を行なう為のカップラ部が
    構成されており、該カップラ部は、スリット溝で形成さ
    れ、該スリット溝は段差構造の段差部位に沿って形成さ
    れていることを特徴とする集積型光カップラ。
  2. 【請求項2】 前記段差構造はチャンネル導波路に形成
    されたリッジ構造の一部分であることを特徴とする請求
    項1記載の集積型光カップラ。
  3. 【請求項3】 前記カップラ部は水平方向の光界分布の
    波面分割を行なう様に構成されている請求項1記載の集
    積型光カップラ。
  4. 【請求項4】 前記チャンネル導波路構造は活性層を含
    む請求項1記載の集積型光カップラ。
  5. 【請求項5】 前記カップラ部は活性層を越えてスリッ
    ト状に加工された加工部分を含む請求項3記載の集積型
    光カップラ。
  6. 【請求項6】 前記カップラ部は、チャンネル導波路構
    造の一部に加工深さが異なる部分が形成されて成る請求
    項1記載の集積型光カップラ。
  7. 【請求項7】 前記チャンネル導波路は交差部位を有
    し、該交差部位はT型、X型或はY型である請求項1記
    載の集積型光カップラ。
  8. 【請求項8】 前記チャンネル導波路構造が、前記カッ
    プラ部を成す交差部位を含んで複数形成され、そのうち
    1組は光増幅領域となり、他の1組は送信部と受信部の
    少なくとも一方に接続される様に構成され、分岐、合
    流、増幅機能を示す光ノードを構成している請求項1記
    載の集積型光カップラ。
  9. 【請求項9】 端末装置からの信号をもとに発光デバイ
    スを駆動し、光信号を出力させる機能と光検出部からの
    電気信号を再生中継して、端末装置へ送る機能を持つ制
    御部と、電気信号にしたがって光信号を発生する発光デ
    バイスから出力された光信号を増幅する半導体光増幅器
    と、光信号を電気信号に変換する光検出部と、光検出部
    へ入力される光信号を増幅する半導体光増幅器と、請求
    項1記載の集積型光カップラから構成されることを特徴
    とする光送受信機。
  10. 【請求項10】 請求項7記載の集積型光カップラ、請
    求項9記載の光送受信機をそれぞれ少なくとも1つ含ん
    だことを特徴とする光バス型LAN。
  11. 【請求項11】 請求項8記載の集積型光カップラ、請
    求項9記載の光送受信機をそれぞれ少なくとも1つ含ん
    だことを特徴とする光バス型LAN。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2003084015A1 (fr) * 2002-03-28 2003-10-09 Fujitsu Limited Dispositif a reseau de lasers et procede de commande de reseau de lasers
EP1475231A1 (en) 2003-05-08 2004-11-10 Fuji Photo Film Co., Ltd. Image evaluation method and quality control method for planographic printing plate

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