JPH0632856B2 - 消耗電極式ア−ク溶接機 - Google Patents
消耗電極式ア−ク溶接機Info
- Publication number
- JPH0632856B2 JPH0632856B2 JP60075653A JP7565385A JPH0632856B2 JP H0632856 B2 JPH0632856 B2 JP H0632856B2 JP 60075653 A JP60075653 A JP 60075653A JP 7565385 A JP7565385 A JP 7565385A JP H0632856 B2 JPH0632856 B2 JP H0632856B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- welding
- arc
- value
- circuit
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Arc Welding Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はＣＯ２ガスやアルゴンガス等で構成されるシー
ルドガスによって溶接部を遮断し、消耗電極ワイヤを溶
接部に連続的に送給して溶融溶接を行う消耗電極式アー
ク溶接機に関するものである。
ルドガスによって溶接部を遮断し、消耗電極ワイヤを溶
接部に連続的に送給して溶融溶接を行う消耗電極式アー
ク溶接機に関するものである。
従来の技術 通常、アークを発生させて溶融溶接を行う、いわゆるア
ーク溶接機に於ては、アーク長は溶接結果にきわめて大
きく影響し、シールドガス成分、あるいは溶接電源出力
特性、あるいは出力電流値、さらには溶接姿勢などの諸
条件によって適正アーク長、いいかえれば適正アーク電
圧値が存在する。例えば、アルゴンなどの不活性ガスを
主成分とするシールドガスを用い、パルス電流を流して
消耗電極ワイヤ（以下単にワイヤと称する）溶融金属を
積極的にスプレー状態として母材金属に移行させるパル
スアーク溶接機を例にアーク長の溶接結果に及ぼす影響
について述べる。
ーク溶接機に於ては、アーク長は溶接結果にきわめて大
きく影響し、シールドガス成分、あるいは溶接電源出力
特性、あるいは出力電流値、さらには溶接姿勢などの諸
条件によって適正アーク長、いいかえれば適正アーク電
圧値が存在する。例えば、アルゴンなどの不活性ガスを
主成分とするシールドガスを用い、パルス電流を流して
消耗電極ワイヤ（以下単にワイヤと称する）溶融金属を
積極的にスプレー状態として母材金属に移行させるパル
スアーク溶接機を例にアーク長の溶接結果に及ぼす影響
について述べる。
発明が解決しようとする問題点 アーク長さを短くすると、電極ワイヤと母材金属との間
には短絡が発生して、スパッタが多発してしまい、良好
な溶接結果が得られなくなる。
には短絡が発生して、スパッタが多発してしまい、良好
な溶接結果が得られなくなる。
一方、アーク電圧を高めとし、アーク長さを長くする
と、電極ワイヤと母材金属との間には短絡は生じにくく
なるものの、アークが不安定に傾き易く、この為、所期
の個所にアークが発生せず良好な溶接はできなくなる。
と、電極ワイヤと母材金属との間には短絡は生じにくく
なるものの、アークが不安定に傾き易く、この為、所期
の個所にアークが発生せず良好な溶接はできなくなる。
第３図に短絡回数と溶接アーク電圧との関係を示す。第
３図に示す結果は、ワイヤ送給量が6.3ｍ／min（ワイヤ
径1.2mmφ）の場合の結果であり、アーク電圧の減少と
ともに短絡回数は大巾に増大し、一方アーク電圧が２４
Ｖ以上であるときは、短絡は発生しない。
３図に示す結果は、ワイヤ送給量が6.3ｍ／min（ワイヤ
径1.2mmφ）の場合の結果であり、アーク電圧の減少と
ともに短絡回数は大巾に増大し、一方アーク電圧が２４
Ｖ以上であるときは、短絡は発生しない。
第４図にアーク電圧と、スパッタ発生量との関係を示し
ており、溶接条件は第３図の場合と同じである。
ており、溶接条件は第３図の場合と同じである。
アーク電圧の減少とともに、即ち短絡回数の増大ととも
にスパッタは増大している。アーク電圧が２４Ｖ以上で
ある時は、短絡は発生せず、この時はほとんどスパッタ
は発生しない。本発明者の詳細な実験結果によると、溶
接アーク電圧が２４Ｖ以上である時は、溶接速度が速く
なると、アンダーカット等の溶接欠陥が発生し好ましく
ない。
にスパッタは増大している。アーク電圧が２４Ｖ以上で
ある時は、短絡は発生せず、この時はほとんどスパッタ
は発生しない。本発明者の詳細な実験結果によると、溶
接アーク電圧が２４Ｖ以上である時は、溶接速度が速く
なると、アンダーカット等の溶接欠陥が発生し好ましく
ない。
一方、溶接アーク電圧が低い時には、高速溶接を行って
も、アンダーカットは発生しなくなるが、スパッタが増
大して好ましくない。従って第３図に於てアーク電圧が
（２３±0.5）Ｖの範囲であるときは、短絡回数は２０
回／秒以下でスパッタも少く、最も良好な溶接を行える
ことが判明した。
も、アンダーカットは発生しなくなるが、スパッタが増
大して好ましくない。従って第３図に於てアーク電圧が
（２３±0.5）Ｖの範囲であるときは、短絡回数は２０
回／秒以下でスパッタも少く、最も良好な溶接を行える
ことが判明した。
この時のアーク長は４mm程度である。以上のようにパル
スアーク溶接機に於ては、その特長を発揮するための条
件範囲がきわめて狭く、例に示したように、アーク電圧
ではわずか１Ｖ程度の裕度を有するのみである。
スアーク溶接機に於ては、その特長を発揮するための条
件範囲がきわめて狭く、例に示したように、アーク電圧
ではわずか１Ｖ程度の裕度を有するのみである。
さらにこの適正電圧値は、溶接姿勢，継手形状，ガスの
種類など、他の溶接施工条件によっても大きく異ってく
る。例えば継手形状に関し、スミ肉溶接の場合の最適電
圧値は、下向き突合せの最適電圧値と比較して0.5Ｖ程
度低めとなる。以上示したようにパルスアーク溶接機に
於ける問題点は単に適正電圧条件が狭いというばかりで
なく、適正溶接条件が溶接施工条件によって変化し、こ
のため、きわめて扱いにくく、こうしたことが、現場で
の溶接作業上、大きな問題となっている。
種類など、他の溶接施工条件によっても大きく異ってく
る。例えば継手形状に関し、スミ肉溶接の場合の最適電
圧値は、下向き突合せの最適電圧値と比較して0.5Ｖ程
度低めとなる。以上示したようにパルスアーク溶接機に
於ける問題点は単に適正電圧条件が狭いというばかりで
なく、適正溶接条件が溶接施工条件によって変化し、こ
のため、きわめて扱いにくく、こうしたことが、現場で
の溶接作業上、大きな問題となっている。
以上はパルスアーク溶接機に於るアーク長の溶接結果に
及ぼす影響について述べたが、他のアーク溶接機に於て
も溶接結果はアーク長によって影響され、ＣＯ２溶接機
に於てもアーク長によって溶込み深さが異ってくるとい
った問題点を含んでいる。
及ぼす影響について述べたが、他のアーク溶接機に於て
も溶接結果はアーク長によって影響され、ＣＯ２溶接機
に於てもアーク長によって溶込み深さが異ってくるとい
った問題点を含んでいる。
本発明はこのような問題点に対してアーク長を常に適正
長さに制御する消耗電極式アーク溶接機に関する。
長さに制御する消耗電極式アーク溶接機に関する。
問題点を解決するための手段 本発明の消耗電極式アーク溶接機は、電極ワイヤと母材
金属との間の短絡回数を一定時間毎にマイコンを用いて
カウントし、前記カウントされた短絡数ｎと、あらかじ
めＲＯＭなどの記憶装置に記憶されている短絡定数ｎａ
との差ｎｄ＝（ｎａ−ｎ）を計算し、ｎｄ≧０のときは
１より大きい定数Ｂをｎｄに乗じた値を初期値ｎ０から
減算してｎ１＝（ｎ０−Ｂnd）を求め、ｎｄ＜０のとき
はｎｄを初期値ｎ０から減算してｎ２＝（ｎ０−ｎｄ）
を求め、前記ｎ１およびｎ２の値をアナログ量に変換し
てフィードバック信号として溶接出力を制御するように
構成したことを特徴とするものである。
金属との間の短絡回数を一定時間毎にマイコンを用いて
カウントし、前記カウントされた短絡数ｎと、あらかじ
めＲＯＭなどの記憶装置に記憶されている短絡定数ｎａ
との差ｎｄ＝（ｎａ−ｎ）を計算し、ｎｄ≧０のときは
１より大きい定数Ｂをｎｄに乗じた値を初期値ｎ０から
減算してｎ１＝（ｎ０−Ｂnd）を求め、ｎｄ＜０のとき
はｎｄを初期値ｎ０から減算してｎ２＝（ｎ０−ｎｄ）
を求め、前記ｎ１およびｎ２の値をアナログ量に変換し
てフィードバック信号として溶接出力を制御するように
構成したことを特徴とするものである。
作用 上記構成により、短絡回数が設定値よりも多いときは溶
接電圧を上昇させて短絡発生の増大を防ぎ、また溶接ア
ーク電圧が上昇して発生短絡数が設定値よりも少くなる
と溶接電圧を下降させて適正アーク長が得られるように
制御できる。従って、アーク長は常に適正な長さに制御
されるため、アークはきわめて安定となり、スパッタの
少ない良好な溶接結果を得ることとなる。
接電圧を上昇させて短絡発生の増大を防ぎ、また溶接ア
ーク電圧が上昇して発生短絡数が設定値よりも少くなる
と溶接電圧を下降させて適正アーク長が得られるように
制御できる。従って、アーク長は常に適正な長さに制御
されるため、アークはきわめて安定となり、スパッタの
少ない良好な溶接結果を得ることとなる。
実施例 以下、本発明の一実施例について添付図面を参照して説
明する。
明する。
第１図に於て、１は短絡検出回路であり、抵抗Ｒ１，Ｒ
２及びツェナーダイオードＺＤ１により構成されてい
る。Ｖａは溶接アーク電圧であり、第２図(a)に示す。
この電圧Ｖａは、ツェナーダイオードＺＤ１で第２図
(b)に示すようにイのレベルにカットされた波形とな
る。アーク電圧ｖａの信号は通常、溶接トーチと溶接母
材間の電圧信号であり、溶接アークが発生していない状
態では、無負荷電圧が誘起され、この無負荷電圧値は溶
接アーク電圧にくらべて異常に高い。ツェナーダイオー
ドＺＤ１はこの高い電圧が制御回路を破壊するのを防ぐ
ように働く。２は短絡検出レベル調整回路であり、抵抗
Ｒ３，Ｒ４，Ｒ５、可変抵抗機ＶＲ１，オペアンプ±Ｃ
１で構成されている。可変抵抗器ＶＲ１の値を調整する
ことにより、短絡検出レベルの調整が可能で、これは、
即ち第２図(b)のロで示した検出レベルを調整している
ことと等価であり、この(b)で示した電圧波形を第１図
の波形整形回路３に入力すると、得られる出力波形は第
２図(c)に示す一定のパルス巾及び電圧を有するパルス
波形が得られる。
２及びツェナーダイオードＺＤ１により構成されてい
る。Ｖａは溶接アーク電圧であり、第２図(a)に示す。
この電圧Ｖａは、ツェナーダイオードＺＤ１で第２図
(b)に示すようにイのレベルにカットされた波形とな
る。アーク電圧ｖａの信号は通常、溶接トーチと溶接母
材間の電圧信号であり、溶接アークが発生していない状
態では、無負荷電圧が誘起され、この無負荷電圧値は溶
接アーク電圧にくらべて異常に高い。ツェナーダイオー
ドＺＤ１はこの高い電圧が制御回路を破壊するのを防ぐ
ように働く。２は短絡検出レベル調整回路であり、抵抗
Ｒ３，Ｒ４，Ｒ５、可変抵抗機ＶＲ１，オペアンプ±Ｃ
１で構成されている。可変抵抗器ＶＲ１の値を調整する
ことにより、短絡検出レベルの調整が可能で、これは、
即ち第２図(b)のロで示した検出レベルを調整している
ことと等価であり、この(b)で示した電圧波形を第１図
の波形整形回路３に入力すると、得られる出力波形は第
２図(c)に示す一定のパルス巾及び電圧を有するパルス
波形が得られる。
即ち、アーク電圧Ｖａの短絡が生じている個所は、矩形
波状のパルス波形となる。このパルスはインターフェー
ス４を通してマイコン５によって読み取られる。６はサ
ンプリング時間Ｔｓを設定する為の設定回路であり、可
変抵抗器ＶＲ２で構成されている。可変抵抗器ＶＲ２の
値は抵抗Ｒ６を通して後、Ａ／Ｄ変換器７でデジタル変
換された後、インターフェース４を通してマイコン５に
よって読み取られる。８はＲＯＭやＲＡＭなどによって
構成されている記憶装置であり、バッファー及びラッチ
回路９を通してマイコン５と接続されている。１３は短
絡定数を設定する定数設定器で、設定された値ｎａはＡ
／Ｄ変換器１１でデジタル化されインターフェイス４を
通して記憶装置８に記憶される。
波状のパルス波形となる。このパルスはインターフェー
ス４を通してマイコン５によって読み取られる。６はサ
ンプリング時間Ｔｓを設定する為の設定回路であり、可
変抵抗器ＶＲ２で構成されている。可変抵抗器ＶＲ２の
値は抵抗Ｒ６を通して後、Ａ／Ｄ変換器７でデジタル変
換された後、インターフェース４を通してマイコン５に
よって読み取られる。８はＲＯＭやＲＡＭなどによって
構成されている記憶装置であり、バッファー及びラッチ
回路９を通してマイコン５と接続されている。１３は短
絡定数を設定する定数設定器で、設定された値ｎａはＡ
／Ｄ変換器１１でデジタル化されインターフェイス４を
通して記憶装置８に記憶される。
次にマイコン５の内部で処理される内容について説明す
る。記憶装置８に記憶されているプログラムに従ってマ
イコン５は動作を開始する。まず最初に設定回路６によ
って定められたサンプリング時間Ｔｓ内に発生する短絡
パルスの回数ｎを読みとる。
る。記憶装置８に記憶されているプログラムに従ってマ
イコン５は動作を開始する。まず最初に設定回路６によ
って定められたサンプリング時間Ｔｓ内に発生する短絡
パルスの回数ｎを読みとる。
記憶装置８に記憶されている短絡定数ｎａとの差ｎｄ＝
（ｎａ−ｎ）を計算する。ｎｄ≧０のときは１より大き
い定数Ｂをｎｄに乗じた値を初期値ｎ０から減算してｎ
１＝（ｎ０−Ｂnd）を求め、ｎｄ＜０のときはｎｄを初
期値ｎ０から減算してｎ２＝（ｎ０−ｎｄ）を求める。
なお、前記定数Ｂは記憶装置８に記憶されている。マイ
コン５によって計算されたｎ１及びｎ２のディジタル量
はＤ／Ａ変換器１０によてアナログ変換される。１１は
ゲイン調整回路であってＤ／Ａ変換器１０のアナログ出
力の出力調整を行ない、その出力は偏差出力回路１２に
接続されている。短絡設定器１３のアナログ出力信号は
主としてオペアンプＩＣ３より構成される偏差出力回路
１２のＡ端子に入力され、他方のＢ端子にはゲイン調整
回路１１の出力信号が入力される。偏差出力回路１２の
出力は溶接機の出力制御用素子（図示せず）の制御回路
に入力されて溶接出力を調整するように構成されてい
る。
（ｎａ−ｎ）を計算する。ｎｄ≧０のときは１より大き
い定数Ｂをｎｄに乗じた値を初期値ｎ０から減算してｎ
１＝（ｎ０−Ｂnd）を求め、ｎｄ＜０のときはｎｄを初
期値ｎ０から減算してｎ２＝（ｎ０−ｎｄ）を求める。
なお、前記定数Ｂは記憶装置８に記憶されている。マイ
コン５によって計算されたｎ１及びｎ２のディジタル量
はＤ／Ａ変換器１０によてアナログ変換される。１１は
ゲイン調整回路であってＤ／Ａ変換器１０のアナログ出
力の出力調整を行ない、その出力は偏差出力回路１２に
接続されている。短絡設定器１３のアナログ出力信号は
主としてオペアンプＩＣ３より構成される偏差出力回路
１２のＡ端子に入力され、他方のＢ端子にはゲイン調整
回路１１の出力信号が入力される。偏差出力回路１２の
出力は溶接機の出力制御用素子（図示せず）の制御回路
に入力されて溶接出力を調整するように構成されてい
る。
以上から明らかなように、アーク電圧ｖａが高く、この
ため、サンプリング時間Ｔｓ内に発生するパルス数ｎが
設定短絡定数ｎａよりも小さい時その差分パルス数ｎd1
＝Ｂ（ｎａ−ｎ）だけ偏差出力回路１２の出力は減少
し、溶接機出力電圧を減少させて短絡パルス数が大きく
なる。一方、アーク電圧ｖａが低く、このため、パルス
数ｎが設定短絡定数ｎａよりも大きいと、その差分パル
ス数ｎd2＝（ｎ−ｎａ）だけ偏差出力回路１２の出力は
増大して、溶接機出力を増大させて短絡パルス数ｎが少
くなるように制御される。
ため、サンプリング時間Ｔｓ内に発生するパルス数ｎが
設定短絡定数ｎａよりも小さい時その差分パルス数ｎd1
＝Ｂ（ｎａ−ｎ）だけ偏差出力回路１２の出力は減少
し、溶接機出力電圧を減少させて短絡パルス数が大きく
なる。一方、アーク電圧ｖａが低く、このため、パルス
数ｎが設定短絡定数ｎａよりも大きいと、その差分パル
ス数ｎd2＝（ｎ−ｎａ）だけ偏差出力回路１２の出力は
増大して、溶接機出力を増大させて短絡パルス数ｎが少
くなるように制御される。
ここで差分回数あたりのアーク電圧下降値は、アーク電
圧上昇値よりも大きな値となるように処理するので、突
出し長の変化に対する応答性が向上する。即ち、定数Ｂ
＞１としているので、短絡パルス１ケ当りのアナログ変
換量は、出力の増大及び減少のときで異り、同じ数の差
分回数ｎｄであっても、アーク電圧下降値の方がアーク
電圧上昇値よりも大きな値をとるからである。このよう
な構成の理由について以下に説明する。
圧上昇値よりも大きな値となるように処理するので、突
出し長の変化に対する応答性が向上する。即ち、定数Ｂ
＞１としているので、短絡パルス１ケ当りのアナログ変
換量は、出力の増大及び減少のときで異り、同じ数の差
分回数ｎｄであっても、アーク電圧下降値の方がアーク
電圧上昇値よりも大きな値をとるからである。このよう
な構成の理由について以下に説明する。
仮にｂ＝１とすると、短絡回数ｎ＜ｎａのとき、その差
分回数ｎd1＝ｎａ−ｎとなり、この値の最大値はｎ＝０
のとき、即ち、ｎd1＝ｎａのときであって、いいかえれ
ば差分回数ｎｄの値はｎａ以上に大きな値はとれない。
分回数ｎd1＝ｎａ−ｎとなり、この値の最大値はｎ＝０
のとき、即ち、ｎd1＝ｎａのときであって、いいかえれ
ば差分回数ｎｄの値はｎａ以上に大きな値はとれない。
一方、ｎ＞ｎａのとき、その差分回数ｎd2＝ｎ−ｎａと
なり、アーク電圧が低く、ｎが大きい時はｎｄの値はｎ
ａよりもかなり大きくなり、即ち、ｎ＜ｎａのとき、そ
の差分回数は最大値ｎａで決められてしまうのに対し、
ｎａ＜ｎのときは最大限界値は存在しない。このため実
際のアーク電圧上昇及び下降に対してはその応答速度に
アンバランスが発生することがある。
なり、アーク電圧が低く、ｎが大きい時はｎｄの値はｎ
ａよりもかなり大きくなり、即ち、ｎ＜ｎａのとき、そ
の差分回数は最大値ｎａで決められてしまうのに対し、
ｎａ＜ｎのときは最大限界値は存在しない。このため実
際のアーク電圧上昇及び下降に対してはその応答速度に
アンバランスが発生することがある。
この時はアークの応答性は悪く、特に初期定数ｎａの値
を小さい値にセットした時にこの傾向は顕著となる。し
かしながら差分回数あたりのアーク電圧下降値をアーク
電圧上昇の場合よりも大きくなるように処理すると応答
速度が向上してアークは安定する。
を小さい値にセットした時にこの傾向は顕著となる。し
かしながら差分回数あたりのアーク電圧下降値をアーク
電圧上昇の場合よりも大きくなるように処理すると応答
速度が向上してアークは安定する。
本発明では差分回数ｎd1に定数Ｂ（Ｂ＞１）を積算する
ことによって、応答速度を向上させ、アークを安定にす
ることができた。
ことによって、応答速度を向上させ、アークを安定にす
ることができた。
発明の効果 本発明はＣＯ２ガスやアルゴンガス等で構成されるシー
ルドガスによって溶接部を遮断し、消耗電極ワイヤを溶
接部に連続的に送給して溶融溶接を行う溶接機に於て短
絡回路が設定値よりも多いときは、ただちに溶接電圧を
上昇させて、短絡発生の増大を防ぎ、また溶接アーク電
圧が上昇して発生短絡数が設定値よりも少くなると、た
だちに溶接電圧を下降させて適正アーク長（短絡数は設
定値ｎａ）が得られるように制御される。
ルドガスによって溶接部を遮断し、消耗電極ワイヤを溶
接部に連続的に送給して溶融溶接を行う溶接機に於て短
絡回路が設定値よりも多いときは、ただちに溶接電圧を
上昇させて、短絡発生の増大を防ぎ、また溶接アーク電
圧が上昇して発生短絡数が設定値よりも少くなると、た
だちに溶接電圧を下降させて適正アーク長（短絡数は設
定値ｎａ）が得られるように制御される。
以上の働きによりアーク長は常に適正な長さに制御され
るためアークは、きわめて安定となり、スパッタの少い
良好な溶接結果をうることができる。また、溶接作業者
の手ブレによって、トーチと溶接部との間の距離が変動
しても、アーク長は一定に制御されるためある程度の熟
練を必要としていた微妙な溶接条件の設定作業から解放
され、溶接能率は著るしく向上し、経済性大なるものが
ある。
るためアークは、きわめて安定となり、スパッタの少い
良好な溶接結果をうることができる。また、溶接作業者
の手ブレによって、トーチと溶接部との間の距離が変動
しても、アーク長は一定に制御されるためある程度の熟
練を必要としていた微妙な溶接条件の設定作業から解放
され、溶接能率は著るしく向上し、経済性大なるものが
ある。
また溶接出力の適正電圧値は、溶接姿勢，継手形状，ガ
スの種類など、施工条件によって異ってくるが、本発明
によれば常に適正な数の短絡の発生するアーク長に制御
されるため、きわめて作業性に優れた能率の良い溶接を
行うことができる。
スの種類など、施工条件によって異ってくるが、本発明
によれば常に適正な数の短絡の発生するアーク長に制御
されるため、きわめて作業性に優れた能率の良い溶接を
行うことができる。
第１図は本発明の一実施例を示す消耗電極式アーク溶接
機の構成を示すブロック図、第２図は第１図の各部の信
号波形図、第３図は溶接アーク電圧と１秒間あたりに発
生する短絡回数との関係を示す特性図、第４図は溶接ア
ーク電圧とスパッタ発生重量との関係を示す特性図であ
る。 １……短絡検出回路、５……マイコン、８……記憶装
置、１０……Ｄ／Ａ変換器、１２……偏差出力回路。
機の構成を示すブロック図、第２図は第１図の各部の信
号波形図、第３図は溶接アーク電圧と１秒間あたりに発
生する短絡回数との関係を示す特性図、第４図は溶接ア
ーク電圧とスパッタ発生重量との関係を示す特性図であ
る。 １……短絡検出回路、５……マイコン、８……記憶装
置、１０……Ｄ／Ａ変換器、１２……偏差出力回路。
Claims (1)
- 【請求項１】溶接中に発生する電極ワイヤと母材金属溶
融部との短絡を検出する短絡検出回路を設け、短絡時に
発生する前記短絡検出回路の出力パルスを一定時間毎に
マイコンを用いてカウントし、前記カウントした短絡数
ｎとあらかじめＲＯＭなどの記憶装置に記憶されている
短絡定数ｎａとの差の値ｎｄ＝（ｎａ−ｎ）を計算しｎ
ｄ≧０のときは、１より大きい定数Ｂをｎｄに乗じた値
を出力指令電圧回路で決定される初期値ｎ０から減算し
てｎ１＝（ｎ０−Ｂnd）を求め、ｎｄ＜０のときはｎｄ
を初期値ｎ０から減算して、ｎ２＝（ｎ０−ｎｄ）を求
め、 前記ｎ１およびｎ２の値をアナログ量に変換して、フィ
ードバック信号として溶接出力を制御するマイコンを具
備したことを特徴とする消耗電極式アーク溶接機。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60075653A JPH0632856B2 (ja) | 1985-04-10 | 1985-04-10 | 消耗電極式ア−ク溶接機 |
| US06/757,864 US4647754A (en) | 1984-04-10 | 1985-07-22 | Consumable electrode type pulse arc welding machine |
| AU45249/85A AU555591B2 (en) | 1984-07-31 | 1985-07-23 | Consumable electrode type pulse arc welding machine |
| EP85109525A EP0170248A3 (en) | 1984-07-31 | 1985-07-29 | Consumable electrode type pulse arc welding machine |
| CN 85106067 CN1009175B (zh) | 1985-04-10 | 1985-08-10 | 熔化极型脉冲电弧焊机 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60075653A JPH0632856B2 (ja) | 1985-04-10 | 1985-04-10 | 消耗電極式ア−ク溶接機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61235077A JPS61235077A (ja) | 1986-10-20 |
| JPH0632856B2 true JPH0632856B2 (ja) | 1994-05-02 |
Family
ID=13582415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60075653A Expired - Lifetime JPH0632856B2 (ja) | 1984-04-10 | 1985-04-10 | 消耗電極式ア−ク溶接機 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0632856B2 (ja) |
| CN (1) | CN1009175B (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5071543B2 (ja) | 2010-10-04 | 2012-11-14 | 株式会社安川電機 | アーク溶接装置およびアーク溶接システム |
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