JPH06325222A - Ｉｃカードリーダライタ - Google Patents
ＩｃカードリーダライタInfo
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- JPH06325222A JPH06325222A JP5115462A JP11546293A JPH06325222A JP H06325222 A JPH06325222 A JP H06325222A JP 5115462 A JP5115462 A JP 5115462A JP 11546293 A JP11546293 A JP 11546293A JP H06325222 A JPH06325222 A JP H06325222A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】接点を介しデータが読み書きされるＩＣカード
の接点接触不良による障害を未然に防ぐ。 【構成】ＩＣカード１０１はＩＣカードリーダライタ１
１１内でその電源ライン１０２，交信ライン１０３，グ
ランドライン１０４に夫々接点を介し接続される。そし
てＩＣカードリーダライタの電源電圧ＶＣＣが電源ライ
ン，グランドラインを介してＩＣカードに供給される。
ＩＣカードリーダライタは交信ラインを介してＩＣカー
ドから送出される信号電圧をコンパレータ１０７を介し
参照電位Ｖｒｅｆ（この例ではＶＣＣを分圧抵抗ＲＶ，
ＲＧで分圧した電圧）と比較し、Ｖｒｅｆ以上のレベル
の信号をＨレベルとしＶｒｅｆ以下のレベルの信号をＬ
レベルとしてＣＰＵ１１０にて読込み、交信不良であれ
ばそのＩＣカードを不具合として排出する。従って接点
接触不良等でＩＣカードに不良データを書込み障害を起
こすことを未然に防ぐ。
の接点接触不良による障害を未然に防ぐ。 【構成】ＩＣカード１０１はＩＣカードリーダライタ１
１１内でその電源ライン１０２，交信ライン１０３，グ
ランドライン１０４に夫々接点を介し接続される。そし
てＩＣカードリーダライタの電源電圧ＶＣＣが電源ライ
ン，グランドラインを介してＩＣカードに供給される。
ＩＣカードリーダライタは交信ラインを介してＩＣカー
ドから送出される信号電圧をコンパレータ１０７を介し
参照電位Ｖｒｅｆ（この例ではＶＣＣを分圧抵抗ＲＶ，
ＲＧで分圧した電圧）と比較し、Ｖｒｅｆ以上のレベル
の信号をＨレベルとしＶｒｅｆ以下のレベルの信号をＬ
レベルとしてＣＰＵ１１０にて読込み、交信不良であれ
ばそのＩＣカードを不具合として排出する。従って接点
接触不良等でＩＣカードに不良データを書込み障害を起
こすことを未然に防ぐ。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、電気的な接点を有す
るＩＣカードを読み書きするＩＣカードリーダライタ、
特に接点の接触不良による誤書込等の障害を避ける機能
を備えたＩＣカードリーダライタに関する。なお以下各
図において同一の符号は同一もしくは相当部分を示す。
るＩＣカードを読み書きするＩＣカードリーダライタ、
特に接点の接触不良による誤書込等の障害を避ける機能
を備えたＩＣカードリーダライタに関する。なお以下各
図において同一の符号は同一もしくは相当部分を示す。
【０００２】
【従来の技術】従来のＩＣカードリーダライタは、ＩＣ
カードを読み書きする際、ＩＣカードが正常に作動する
か否かを知るためにＩＣカードに対し電源を供給したの
ち、まずＩＣカードに対しリセット信号を印加し、これ
によりＩＣカードからリセットされたことを示すリセッ
ト応答信号（アンサートゥーリセットともいう）が受信
できない場合、そのＩＣカードの排出等を行っていた。
カードを読み書きする際、ＩＣカードが正常に作動する
か否かを知るためにＩＣカードに対し電源を供給したの
ち、まずＩＣカードに対しリセット信号を印加し、これ
によりＩＣカードからリセットされたことを示すリセッ
ト応答信号（アンサートゥーリセットともいう）が受信
できない場合、そのＩＣカードの排出等を行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
なＩＣカードの正常性の判別方法には次のような問題が
ある。 （１）ＩＣカードリーダライタがＩＣカードに対し電源
を供給するが、実際にＩＣカード自体が何ボルトで動作
しているかは、判断していないため、ＩＣカードリーダ
ライタの接点間で電気的な接触抵抗が存在している場
合、ＩＣカード側で電源電圧降下、グランド電位上昇等
の現象が発生してＩＣカード内のＣＰＵ或いはメモリが
誤動作しても気が付かないという現象が起こる。
なＩＣカードの正常性の判別方法には次のような問題が
ある。 （１）ＩＣカードリーダライタがＩＣカードに対し電源
を供給するが、実際にＩＣカード自体が何ボルトで動作
しているかは、判断していないため、ＩＣカードリーダ
ライタの接点間で電気的な接触抵抗が存在している場
合、ＩＣカード側で電源電圧降下、グランド電位上昇等
の現象が発生してＩＣカード内のＣＰＵ或いはメモリが
誤動作しても気が付かないという現象が起こる。
【０００４】（２）ＩＣカードリーダライタはＩＣカー
ド内のメモリが正常にリードライトアクセスできるもの
であるか否かを事前にテストして判断していないため、
（１）の動作電圧に起因するばかりでなく、メモリの読
み込み動作は正常であるが、書き込み動作に異常がある
という時、実際の処理中で始めてこの異常が顕在化し、
書き込んではならない不定データを書き込んでしまうと
いった現象が起こる。
ド内のメモリが正常にリードライトアクセスできるもの
であるか否かを事前にテストして判断していないため、
（１）の動作電圧に起因するばかりでなく、メモリの読
み込み動作は正常であるが、書き込み動作に異常がある
という時、実際の処理中で始めてこの異常が顕在化し、
書き込んではならない不定データを書き込んでしまうと
いった現象が起こる。
【０００５】（３）ＩＣカードに対しリセット信号を印
加後、リセット応答信号が受信できない場合、ＩＣカー
ドリーダライタはその時点であきらめて、そのＩＣカー
ドの排出等を行っていたため、本当は正常なＩＣカード
であるが、接点上の少しばかりの汚れ等、物理的な接点
接触の不具合でＩＣカードとの初期の交信が失敗した場
合でも不良のＩＣカードとみなしてしまう。
加後、リセット応答信号が受信できない場合、ＩＣカー
ドリーダライタはその時点であきらめて、そのＩＣカー
ドの排出等を行っていたため、本当は正常なＩＣカード
であるが、接点上の少しばかりの汚れ等、物理的な接点
接触の不具合でＩＣカードとの初期の交信が失敗した場
合でも不良のＩＣカードとみなしてしまう。
【０００６】そこで請求項１に関わる発明は前記（１）
の問題を解消するために予めＩＣカードの動作電圧を検
知できるような、また請求項２に関わる発明は前記
（２）の問題を解消するために予めＩＣメモリのテスト
用メモリ領域にテスト用データが正常に書込めるか否か
を調べることで実際の処理中に上記異常が顕在化する以
前に異常を判断できるような、また請求項３に関わる発
明は前記（３）の問題を解消するために初期の１回目の
交信に失敗しても、接点の接触状況を物理的に変化さ
せ、リトライとして再度リセット信号印加の処理を試
み、交信を成立させるチャンスを増やすような、ＩＣカ
ードリーダライタを夫々提供することを課題とする。
の問題を解消するために予めＩＣカードの動作電圧を検
知できるような、また請求項２に関わる発明は前記
（２）の問題を解消するために予めＩＣメモリのテスト
用メモリ領域にテスト用データが正常に書込めるか否か
を調べることで実際の処理中に上記異常が顕在化する以
前に異常を判断できるような、また請求項３に関わる発
明は前記（３）の問題を解消するために初期の１回目の
交信に失敗しても、接点の接触状況を物理的に変化さ
せ、リトライとして再度リセット信号印加の処理を試
み、交信を成立させるチャンスを増やすような、ＩＣカ
ードリーダライタを夫々提供することを課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項１のＩＣカードリーダライタは、ＩＣカー
ド（１０１など）の接点とＩＣカードリーダライタ（１
１１など）の接点とを電気的に接触させてＩＣカードと
交信しＩＣカード内のデータを読み書きするＩＣカード
リーダライタにおいて、前記交信時、通常処理に先立っ
てＩＣカードからの（交信ライン１０３上などの）交信
信号のＨレベルの電圧値が所定値（参照電圧Ｖｒｅｆな
ど）以上又は（及び）前記交信信号のＬレベルの電圧値
が少なくとも前記の所定値以下であるか否かを（コンパ
レータ１０７などを介して）検出し、否であるときは、
少なくとも以後の交信を中止する手段（ＣＰＵ１１０な
ど）を備えたものとする。
めに、請求項１のＩＣカードリーダライタは、ＩＣカー
ド（１０１など）の接点とＩＣカードリーダライタ（１
１１など）の接点とを電気的に接触させてＩＣカードと
交信しＩＣカード内のデータを読み書きするＩＣカード
リーダライタにおいて、前記交信時、通常処理に先立っ
てＩＣカードからの（交信ライン１０３上などの）交信
信号のＨレベルの電圧値が所定値（参照電圧Ｖｒｅｆな
ど）以上又は（及び）前記交信信号のＬレベルの電圧値
が少なくとも前記の所定値以下であるか否かを（コンパ
レータ１０７などを介して）検出し、否であるときは、
少なくとも以後の交信を中止する手段（ＣＰＵ１１０な
ど）を備えたものとする。
【０００８】また請求項２のＩＣカードリーダライタ
は、ＩＣカードの接点とＩＣカードリーダライタの接点
とを電気的に接触させてＩＣカードと交信しＩＣカード
内のデータを読み書きするＩＣカードリーダライタにお
いて、初期処理時、前記交信によりＩＣカードのメモリ
（２０１など）内のディレクトリ領域に少なくともテス
トデータを書込むためのメモリ領域（２０３など、以下
テスト用メモリ領域という）についてのディレクトリデ
ータを設定する手段と、通常処理時、前記交信により予
め前記ディレクトリ領域を参照してテスト用メモリ領域
を調べ、このテスト用メモリ領域にテストデータを書込
んだのちこの書込んだデータを読出し、少なくとも読出
されたデータが書込んだデータに一致しないときは以後
の処理を中止する手段とを備えたものとする。
は、ＩＣカードの接点とＩＣカードリーダライタの接点
とを電気的に接触させてＩＣカードと交信しＩＣカード
内のデータを読み書きするＩＣカードリーダライタにお
いて、初期処理時、前記交信によりＩＣカードのメモリ
（２０１など）内のディレクトリ領域に少なくともテス
トデータを書込むためのメモリ領域（２０３など、以下
テスト用メモリ領域という）についてのディレクトリデ
ータを設定する手段と、通常処理時、前記交信により予
め前記ディレクトリ領域を参照してテスト用メモリ領域
を調べ、このテスト用メモリ領域にテストデータを書込
んだのちこの書込んだデータを読出し、少なくとも読出
されたデータが書込んだデータに一致しないときは以後
の処理を中止する手段とを備えたものとする。
【０００９】また請求項３のＩＣカードリーダライタ
は、ＩＣカードをＩＣカードリーダライタ内に引き込
み、かつＩＣカードリーダライタから排出するカード搬
送手段（搬送モータ５０７など）を備え、引込んだＩＣ
カードの接点とＩＣカードリーダライタの接点とを電気
的に接触させてＩＣカードと交信しＩＣカード内のデー
タを読み書きするＩＣカードリーダライタにおいて、前
記交信の際、予めＩＣカードに（リセットライン５０３
などを介し）リセット信号を印加したのち、ＩＣカード
からリセットされたことを示すリセット応答信号を受信
できないときは、前記カード搬送手段を介しＩＣカード
をその排出方向と引込方向とに所定回数往復搬送して再
びリセット信号を印加し、少なくとも前記リセット応答
信号を受信しない限り前記往復搬送とリセット信号の再
印加とを所定回数繰返す手段（ＣＰＵ１１０など）を備
えたものとする。
は、ＩＣカードをＩＣカードリーダライタ内に引き込
み、かつＩＣカードリーダライタから排出するカード搬
送手段（搬送モータ５０７など）を備え、引込んだＩＣ
カードの接点とＩＣカードリーダライタの接点とを電気
的に接触させてＩＣカードと交信しＩＣカード内のデー
タを読み書きするＩＣカードリーダライタにおいて、前
記交信の際、予めＩＣカードに（リセットライン５０３
などを介し）リセット信号を印加したのち、ＩＣカード
からリセットされたことを示すリセット応答信号を受信
できないときは、前記カード搬送手段を介しＩＣカード
をその排出方向と引込方向とに所定回数往復搬送して再
びリセット信号を印加し、少なくとも前記リセット応答
信号を受信しない限り前記往復搬送とリセット信号の再
印加とを所定回数繰返す手段（ＣＰＵ１１０など）を備
えたものとする。
【００１０】
（１）請求項１に関わる発明について：ＩＣカードリー
ダライタからＩＣカードの電源接点とグランド接点間に
電圧ＶＣＣを印加した状態で、ＩＣカードから返ってく
る交信波形をアナログのコンパレータに入力し、Ｌｏｗ
レベルがＶＣＣのあるパーセント以下、そしてＨｉレベ
ルがＶＣＣのあるパーセント以上か否かの比較判定を行
い、この条件を満たしていなければ、ＩＣカードの誤動
作を招かないようＩＣカードとの交信を中止する。これ
によりＩＣカード自体の動作電圧に起因する誤動作を防
止する。
ダライタからＩＣカードの電源接点とグランド接点間に
電圧ＶＣＣを印加した状態で、ＩＣカードから返ってく
る交信波形をアナログのコンパレータに入力し、Ｌｏｗ
レベルがＶＣＣのあるパーセント以下、そしてＨｉレベ
ルがＶＣＣのあるパーセント以上か否かの比較判定を行
い、この条件を満たしていなければ、ＩＣカードの誤動
作を招かないようＩＣカードとの交信を中止する。これ
によりＩＣカード自体の動作電圧に起因する誤動作を防
止する。
【００１１】（２）請求項２に関わる発明について：Ｉ
Ｃカード内のデータメモリ領域に、メモリテストを行う
為の予備領域を設け、実際の本番処理に入る以前に、あ
るテストデータをメモリテスト領域に書き込んだのちこ
のテストデータを読み込み、読み込んだデータが書き込
んだデータに一致するか否かのチェックを行い、ＩＣカ
ード内のメモリが正常にリードライトアクセスできるも
のであるか否かを判断する。この条件を満たしていなけ
れば、ＩＣカードとの交信を中止する。これにより本番
処理で重要なメモリエリアに不定データを書き込むこと
を未然に防ぐ。
Ｃカード内のデータメモリ領域に、メモリテストを行う
為の予備領域を設け、実際の本番処理に入る以前に、あ
るテストデータをメモリテスト領域に書き込んだのちこ
のテストデータを読み込み、読み込んだデータが書き込
んだデータに一致するか否かのチェックを行い、ＩＣカ
ード内のメモリが正常にリードライトアクセスできるも
のであるか否かを判断する。この条件を満たしていなけ
れば、ＩＣカードとの交信を中止する。これにより本番
処理で重要なメモリエリアに不定データを書き込むこと
を未然に防ぐ。
【００１２】（３）請求項３に関わる発明について：Ｉ
ＣカードリーダライタからＩＣカードに対しリセット信
号を印加後、ＩＣカードからのリセット応答信号がＩＣ
カードリーダライタ側で受信不可の場合、物理的な接点
接触の不具合を疑い、搬送モータを介しＩＣカードをわ
ずかのストロークで往復させて接点の物理的な接触状況
を変化させ再度リセット印加のリトライを行う。これに
より接点接触の状況が好転するチャンスを作り、再度の
リトライ処理を可能にする。
ＣカードリーダライタからＩＣカードに対しリセット信
号を印加後、ＩＣカードからのリセット応答信号がＩＣ
カードリーダライタ側で受信不可の場合、物理的な接点
接触の不具合を疑い、搬送モータを介しＩＣカードをわ
ずかのストロークで往復させて接点の物理的な接触状況
を変化させ再度リセット印加のリトライを行う。これに
より接点接触の状況が好転するチャンスを作り、再度の
リトライ処理を可能にする。
【００１３】
【実施例】図１は請求項１に関わる発明の一実施例とし
て要部の構成を示す回路図である。同図において１０１
はＩＣカード、１１１はＩＣカードリーダライタ、ＶＣ
ＣはＩＣカードリーダライタ１１１の電源、１０２はＩ
Ｃカードリーダライタ１１１の電源用接点を介しＩＣカ
ード１０１の電源用接点に電源ＶＣＣを供給するための
電源ライン、１０３はＩＣカードリーダライタ１１１の
交信用接点を介しＩＣカード１０１の交信用接点に接続
される交信ライン、１０４はＩＣカードリーダライタ１
１１のグランド用接点を介しＩＣカード１０１のグラン
ド用接点に接続されるグランドラインである。またＲ
Ｖ，ＲＧはＩＣカードリーダライタ１１１内の電源ライ
ン１０２とグランドライン１０４間の分圧抵抗、１０７
はこの分圧抵抗ＲＶ，ＲＧの分圧点１１２の電位として
の参照電位Ｖｒｅｆと、交信ライン１０３の電位とを比
較するコンパレータ、１１０はこのコンパレータ１０７
の比較結果を入力すると共にＩＣカードリーダライタ１
１１を制御するＣＰＵである。
て要部の構成を示す回路図である。同図において１０１
はＩＣカード、１１１はＩＣカードリーダライタ、ＶＣ
ＣはＩＣカードリーダライタ１１１の電源、１０２はＩ
Ｃカードリーダライタ１１１の電源用接点を介しＩＣカ
ード１０１の電源用接点に電源ＶＣＣを供給するための
電源ライン、１０３はＩＣカードリーダライタ１１１の
交信用接点を介しＩＣカード１０１の交信用接点に接続
される交信ライン、１０４はＩＣカードリーダライタ１
１１のグランド用接点を介しＩＣカード１０１のグラン
ド用接点に接続されるグランドラインである。またＲ
Ｖ，ＲＧはＩＣカードリーダライタ１１１内の電源ライ
ン１０２とグランドライン１０４間の分圧抵抗、１０７
はこの分圧抵抗ＲＶ，ＲＧの分圧点１１２の電位として
の参照電位Ｖｒｅｆと、交信ライン１０３の電位とを比
較するコンパレータ、１１０はこのコンパレータ１０７
の比較結果を入力すると共にＩＣカードリーダライタ１
１１を制御するＣＰＵである。
【００１４】次にこの図１の動作を説明する。ＩＣカー
ドリーダライタ１１１に取り込まれたＩＣカード１０１
はＩＣカードリーダライタ側電源ＶＣＣから電源ライン
１０２を介してＩＣカード側電源接点へ電源供給され
る。また交信ライン１０３上にＩＣカード１０１側から
送信される信号電圧はコンパレータ１０７のプラス端子
に入力される。この電圧をＶｓｉｇとする。一方、抵抗
ＲＶと抵抗ＲＧとで分圧された分圧点１１２の参照電位
Ｖｒｅｆがコンパレータ１０７のマイナス端子に入力さ
れる。なおこの参照電圧Ｖｒｅｆは Ｖｒｅｆ＝｛ＲＧ／（ＲＶ＋ＲＧ）｝ＶＣＣ で表される。従ってコンパレータ１０７はＶｓｉｇ＞Ｖ
ｒｅｆを満たした信号電圧ＶｓｉｇのみをＣＰＵ１１０
に出力する。このようにして、ＩＣカード１０１からの
交信電圧のＨレベルがＩＣカードリーダライタ１１１で
定めた参照電位Ｖｒｅｆ以上であり、かつ交信電圧のＬ
レベルが参照電位Ｖｒｅｆ以下でなければ、ＩＣカード
リーダライタ１１１には正しい交信信号が入力せず、Ｉ
Ｃカードリーダライタは交信が成立しないと判断し、交
信を中止できる。すなわち、ＩＣカードの内部での動作
電圧が低いとＩＣカードリーダライタはＩＣカードとの
接点接触状況が良くないと判断でき、ＩＣカード自体が
動作電圧低下のために誤動作することを防止できる。
ドリーダライタ１１１に取り込まれたＩＣカード１０１
はＩＣカードリーダライタ側電源ＶＣＣから電源ライン
１０２を介してＩＣカード側電源接点へ電源供給され
る。また交信ライン１０３上にＩＣカード１０１側から
送信される信号電圧はコンパレータ１０７のプラス端子
に入力される。この電圧をＶｓｉｇとする。一方、抵抗
ＲＶと抵抗ＲＧとで分圧された分圧点１１２の参照電位
Ｖｒｅｆがコンパレータ１０７のマイナス端子に入力さ
れる。なおこの参照電圧Ｖｒｅｆは Ｖｒｅｆ＝｛ＲＧ／（ＲＶ＋ＲＧ）｝ＶＣＣ で表される。従ってコンパレータ１０７はＶｓｉｇ＞Ｖ
ｒｅｆを満たした信号電圧ＶｓｉｇのみをＣＰＵ１１０
に出力する。このようにして、ＩＣカード１０１からの
交信電圧のＨレベルがＩＣカードリーダライタ１１１で
定めた参照電位Ｖｒｅｆ以上であり、かつ交信電圧のＬ
レベルが参照電位Ｖｒｅｆ以下でなければ、ＩＣカード
リーダライタ１１１には正しい交信信号が入力せず、Ｉ
Ｃカードリーダライタは交信が成立しないと判断し、交
信を中止できる。すなわち、ＩＣカードの内部での動作
電圧が低いとＩＣカードリーダライタはＩＣカードとの
接点接触状況が良くないと判断でき、ＩＣカード自体が
動作電圧低下のために誤動作することを防止できる。
【００１５】図２は請求項２に関わる発明の一実施例と
してのＩＣカードのメモリマップを示し、図３，図４は
同じくＩＣカードリーダライタの要部動作を示すフロー
チャートである。この発明ではＩＣカードを使用できる
ようにするため、先ずＩＣカード１０１のメモリ内をＩ
Ｃカードリーダライタ１１１側の制御で図２に示すよう
にマッピングする。即ちＩＣカード内のメモリ２０１に
本番使用のメモリ領域２０２とメモリテスト用のメモリ
領域２０３を割り当てる。
してのＩＣカードのメモリマップを示し、図３，図４は
同じくＩＣカードリーダライタの要部動作を示すフロー
チャートである。この発明ではＩＣカードを使用できる
ようにするため、先ずＩＣカード１０１のメモリ内をＩ
Ｃカードリーダライタ１１１側の制御で図２に示すよう
にマッピングする。即ちＩＣカード内のメモリ２０１に
本番使用のメモリ領域２０２とメモリテスト用のメモリ
領域２０３を割り当てる。
【００１６】図３はこのメモリエリアの割り当ての初期
処理を示し、符号３０２，３０３はそのステップを示
す。即ちＩＣカードのメモリフォーマット決定処理とし
て、ＩＣカードリーダライタはテスト用メモリ領域のデ
ィレクトリ（アドレス台帳）を作成し（３０２）、次に
本番処理用メモリ領域のディレクトリを作成する（３０
３）。そしてＩＣカードのメモリ２０１内のディレクト
リ登録領域にこの作成したディレクトリのデータを設定
する。
処理を示し、符号３０２，３０３はそのステップを示
す。即ちＩＣカードのメモリフォーマット決定処理とし
て、ＩＣカードリーダライタはテスト用メモリ領域のデ
ィレクトリ（アドレス台帳）を作成し（３０２）、次に
本番処理用メモリ領域のディレクトリを作成する（３０
３）。そしてＩＣカードのメモリ２０１内のディレクト
リ登録領域にこの作成したディレクトリのデータを設定
する。
【００１７】図４はＩＣカードリーダライタの通常処理
を示し、符号４０２〜４０６はそのステップを示す。即
ち先ずＩＣカードリーダライタはＩＣメモリ内のディレ
クトリ登録領域をしらべテスト用メモリ領域のディレク
トリに割りつけられたメモリ領域を選択し、テストデー
タを書き込む（４０２）、次に書き込んだデータを読み
込み（４０３）、この読み込みデータが書き込んだテス
トデータに一致しているか否かの判定を行う（４０
４）、ここで一致していなければ（分岐Ｎ）、このカー
ドは正常にメモリアクセスできないカードと判断して以
降の処理を中止し、本番処理で致命的なメモリエリアに
不定データを書き込まないように、このＩＣカードを排
出する等の処理を行う（４０５）。他方、書き込みデー
タと読み込みデータが一致していれば（４０４，分岐
Ｙ）そのまま本番処理を行う（４０６）。
を示し、符号４０２〜４０６はそのステップを示す。即
ち先ずＩＣカードリーダライタはＩＣメモリ内のディレ
クトリ登録領域をしらべテスト用メモリ領域のディレク
トリに割りつけられたメモリ領域を選択し、テストデー
タを書き込む（４０２）、次に書き込んだデータを読み
込み（４０３）、この読み込みデータが書き込んだテス
トデータに一致しているか否かの判定を行う（４０
４）、ここで一致していなければ（分岐Ｎ）、このカー
ドは正常にメモリアクセスできないカードと判断して以
降の処理を中止し、本番処理で致命的なメモリエリアに
不定データを書き込まないように、このＩＣカードを排
出する等の処理を行う（４０５）。他方、書き込みデー
タと読み込みデータが一致していれば（４０４，分岐
Ｙ）そのまま本番処理を行う（４０６）。
【００１８】図５は請求項３に関わる発明の一実施例と
しての要部のの構成を示すブロック図、図６は図５にお
けるＩＣカードリーダライタの動作を示すフローチャー
トで、符号６０２〜６０８はそのステップを示す。図５
において、５０７はＩＣカード１０１を搬送するモー
タ、５０８はこのモータ５０７を駆動するモータドライ
バ、５０６はＣＰＵ１１０によってモータドライバ５０
８に与えられる正転／反転のモータ駆動信号である。ま
た５０３はＩＣカード１０１のリセット接点にリセット
信号を与えるためのリセットラインである。
しての要部のの構成を示すブロック図、図６は図５にお
けるＩＣカードリーダライタの動作を示すフローチャー
トで、符号６０２〜６０８はそのステップを示す。図５
において、５０７はＩＣカード１０１を搬送するモー
タ、５０８はこのモータ５０７を駆動するモータドライ
バ、５０６はＣＰＵ１１０によってモータドライバ５０
８に与えられる正転／反転のモータ駆動信号である。ま
た５０３はＩＣカード１０１のリセット接点にリセット
信号を与えるためのリセットラインである。
【００１９】次に図５を参照しつつ図６を説明する。Ｉ
Ｃカードリーダライタ１１１はＩＣカード１０１を、Ｉ
Ｃカードリーダライタ１１１のＣＰＵ１１０によって制
御されるモータダライバ５０８に接続された搬送モータ
５０７によってＩＣカードリーダライタ１１１の内部に
取り込み、ＩＣカード１０１とＩＣカードリーダライタ
１１１との間のリセットライン５０３の接点及び交信ラ
イン１０３の接点が夫々電気的に接触すべき位置でモー
タを止め、ＩＣカードの取り込み終了となる（６０
２）。次にＩＣカードリーダライタ１１１はＩＣカード
１０１に対しリセットライン５０３を介しリセット信号
を印加する（６０３）。その後、ＩＣカード１０１から
ＩＣカードリーダライタにリセット応答信号が返答され
るか否かを判定する（６０４）。一定時間経過してもリ
セット応答信号が返答されない場合は（６０４，分岐
Ｎ）、ＩＣカードリーダライタ１１１とＩＣカード１０
１との接点接触が物理的にうまくいっていないことを疑
い、搬送モータ５０７のわずかな正逆転を繰返してＩＣ
カード１０１を僅かに前後に移動させ（６０５，分岐Ｎ
→６０６）、接点の接触状況を物理的に変化させてＩＣ
カードへのリセット信号の印加とリセット応答信号の受
信とを再度試みる（６０３→６０４→６０５）。（但し
ＩＣカード１０１の１交信のなかで、既にこのリトライ
処理を試み済みの場合は見切る。）ここでステップ６０
４の判定にて、ＩＣカードからリセット応答信号の返答
がある場合（分岐Ｙ）、通常の処理として交信を続行さ
せる（６０８）。
Ｃカードリーダライタ１１１はＩＣカード１０１を、Ｉ
Ｃカードリーダライタ１１１のＣＰＵ１１０によって制
御されるモータダライバ５０８に接続された搬送モータ
５０７によってＩＣカードリーダライタ１１１の内部に
取り込み、ＩＣカード１０１とＩＣカードリーダライタ
１１１との間のリセットライン５０３の接点及び交信ラ
イン１０３の接点が夫々電気的に接触すべき位置でモー
タを止め、ＩＣカードの取り込み終了となる（６０
２）。次にＩＣカードリーダライタ１１１はＩＣカード
１０１に対しリセットライン５０３を介しリセット信号
を印加する（６０３）。その後、ＩＣカード１０１から
ＩＣカードリーダライタにリセット応答信号が返答され
るか否かを判定する（６０４）。一定時間経過してもリ
セット応答信号が返答されない場合は（６０４，分岐
Ｎ）、ＩＣカードリーダライタ１１１とＩＣカード１０
１との接点接触が物理的にうまくいっていないことを疑
い、搬送モータ５０７のわずかな正逆転を繰返してＩＣ
カード１０１を僅かに前後に移動させ（６０５，分岐Ｎ
→６０６）、接点の接触状況を物理的に変化させてＩＣ
カードへのリセット信号の印加とリセット応答信号の受
信とを再度試みる（６０３→６０４→６０５）。（但し
ＩＣカード１０１の１交信のなかで、既にこのリトライ
処理を試み済みの場合は見切る。）ここでステップ６０
４の判定にて、ＩＣカードからリセット応答信号の返答
がある場合（分岐Ｙ）、通常の処理として交信を続行さ
せる（６０８）。
【００２０】また２回目のリトライにおいてもリセット
応答信号がない場合には（６０４，分岐Ｎ→６０５，分
岐Ｙ）、そのＩＣカード１０１を搬送モータ５０７を介
し排出する（５０７）。
応答信号がない場合には（６０４，分岐Ｎ→６０５，分
岐Ｙ）、そのＩＣカード１０１を搬送モータ５０７を介
し排出する（５０７）。
【００２１】
（１）請求項１に関わる発明によれば、ＩＣカードリー
ダライタがＩＣカード側から送信される交信信号の信号
電圧をコンパレータに入力してその交信電圧のＨレベル
がＩＣカードリーダライタで定めた電位以上なければ、
ＩＣカードリーダライタは交信が成立しないと判断し交
信を中止するようにした。すなわち、ＩＣカードの内部
での動作電圧が低いことからＩＣカードリーダライタは
ＩＣカードとの接点接触状況が良くないと判断できるの
で、ＩＣカード自体が動作電圧低下により誤動作するこ
とを防止できる。
ダライタがＩＣカード側から送信される交信信号の信号
電圧をコンパレータに入力してその交信電圧のＨレベル
がＩＣカードリーダライタで定めた電位以上なければ、
ＩＣカードリーダライタは交信が成立しないと判断し交
信を中止するようにした。すなわち、ＩＣカードの内部
での動作電圧が低いことからＩＣカードリーダライタは
ＩＣカードとの接点接触状況が良くないと判断できるの
で、ＩＣカード自体が動作電圧低下により誤動作するこ
とを防止できる。
【００２２】（２）請求項２に関わる発明によれば、Ｉ
Ｃカードのメモリフォーマット作成処理として、ＩＣカ
ードリーダライタはテスト用メモリ領域のディレクトリ
を作成し、次に本番処理用メモリ領域のディレクトリを
作成し、通常処理時はこのテスト用メモリ領域のディレ
クトリのメモリを本番処理に先立ってアクセスし、テス
トデータの書込と読込の照合を行い、この照合が一致し
なければそのカードを排出するようしたので、本番処理
で致命的なメモリエリアに不定データを書き込むことを
未然に防ぐことができる。
Ｃカードのメモリフォーマット作成処理として、ＩＣカ
ードリーダライタはテスト用メモリ領域のディレクトリ
を作成し、次に本番処理用メモリ領域のディレクトリを
作成し、通常処理時はこのテスト用メモリ領域のディレ
クトリのメモリを本番処理に先立ってアクセスし、テス
トデータの書込と読込の照合を行い、この照合が一致し
なければそのカードを排出するようしたので、本番処理
で致命的なメモリエリアに不定データを書き込むことを
未然に防ぐことができる。
【００２３】（３）また請求項３に関わる発明によれ
ば、ＩＣカードリーダライタがＩＣカードを取り込んで
先ずＩＣカードをリセットし、このときＩＣカードから
リセット応答信号を受信すれば通常処理の交信を開始
し、受信しなければＩＣカードの搬送モータを僅か正逆
転することを繰返してＩＣカードとＩＣカードリーダラ
イタ間の接点接触部を振動させたのち再度リセットを行
い、そのリセット応答信号が無ければ始めてそのカード
を不具合カードとして排出するようにしたので、仮に健
全なＩＣカードがたまたま接点接触不良を起こしたとし
ても再リセットによりリセット応答信号が返せれば交信
開始でき、接点接触不良によるトラブルを未然に防ぐこ
とができる。
ば、ＩＣカードリーダライタがＩＣカードを取り込んで
先ずＩＣカードをリセットし、このときＩＣカードから
リセット応答信号を受信すれば通常処理の交信を開始
し、受信しなければＩＣカードの搬送モータを僅か正逆
転することを繰返してＩＣカードとＩＣカードリーダラ
イタ間の接点接触部を振動させたのち再度リセットを行
い、そのリセット応答信号が無ければ始めてそのカード
を不具合カードとして排出するようにしたので、仮に健
全なＩＣカードがたまたま接点接触不良を起こしたとし
ても再リセットによりリセット応答信号が返せれば交信
開始でき、接点接触不良によるトラブルを未然に防ぐこ
とができる。
【図１】請求項１に関わる発明の一実施例としての要部
構成を示すブロク回路図
構成を示すブロク回路図
【図２】請求項２に関わる発明の一実施例としてのＩＣ
カードのメモリマップを示す図
カードのメモリマップを示す図
【図３】図２に対応するＩＣカードリーダライタの初期
処理を示すフローチャート
処理を示すフローチャート
【図４】同じくＩＣカードリーダライタの通常処理の要
部を示すフローチャート
部を示すフローチャート
【図５】請求項３に関わる発明の一実施例としての要部
構成を示すブロック図
構成を示すブロック図
【図６】図５に対応するＩＣカードリーダライタの動作
を示すフローチャート
を示すフローチャート
１０１ ＩＣカード １０２ 電源ライン １０３ 交信ライン １０４ グランドライン ＲＶ 分圧抵抗 ＲＧ 分圧抵抗 Ｖｒｅｆ 参照電位 １０７ コンパレータ １１０ ＣＰＵ １１１ ＩＣカードリーダライタ １１２ 分圧点 ２０１ メモリマップ ２０２ 本番使用メモリ領域 ２０３ テスト用メモリ領域 ５０３ リセットライン ５０６ モータ駆動信号 ５０７ 搬送モータ
Claims (3)
- 【請求項１】ＩＣカードの接点とＩＣカードリーダライ
タの接点とを電気的に接触させてＩＣカードと交信しＩ
Ｃカード内のデータを読み書きするＩＣカードリーダラ
イタにおいて、 前記交信時、通常処理に先立ってＩＣカードからの交信
信号のＨレベルの電圧値が所定値以上又は（及び）前記
交信信号のＬレベルの電圧値が少なくとも前記の所定値
以下であるか否かを検出し、否であるときは、少なくと
も以後の交信を中止する手段を備えたことを特徴とする
ＩＣカードリーダライタ。 - 【請求項２】ＩＣカードの接点とＩＣカードリーダライ
タの接点とを電気的に接触させてＩＣカードと交信しＩ
Ｃカード内のデータを読み書きするＩＣカードリーダラ
イタにおいて、 初期処理時、前記交信によりＩＣカードのメモリ内のデ
ィレクトリ領域に少なくともテストデータを書込むため
のメモリ領域（以下テスト用メモリ領域という）につい
てのディレクトリデータを設定する手段と、 通常処理時、前記交信により予め前記ディレクトリ領域
を参照してテスト用メモリ領域を調べ、このテスト用メ
モリ領域にテストデータを書込んだのちこの書込んだデ
ータを読出し、少なくとも読出されたデータが書込んだ
データに一致しないときは以後の処理を中止する手段と
を備えたことを特徴とするＩＣカードリーダライタ。 - 【請求項３】ＩＣカードをＩＣカードリーダライタ内に
引き込み、かつＩＣカードリーダライタから排出するカ
ード搬送手段を備え、引込んだＩＣカードの接点とＩＣ
カードリーダライタの接点とを電気的に接触させてＩＣ
カードと交信しＩＣカード内のデータを読み書きするＩ
Ｃカードリーダライタにおいて、 前記交信の際、予めＩＣカードにリセット信号を印加し
たのち、ＩＣカードからリセットされたことを示すリセ
ット応答信号を受信できないときは、前記カード搬送手
段を介しＩＣカードをその排出方向と引込方向とに所定
回数往復搬送して再びリセット信号を印加し、少なくと
も前記リセット応答信号を受信しない限り前記往復搬送
とリセット信号の再印加とを所定回数繰返す手段を備え
たことを特徴とするＩＣカードリーダライタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5115462A JPH06325222A (ja) | 1993-05-18 | 1993-05-18 | Ｉｃカードリーダライタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5115462A JPH06325222A (ja) | 1993-05-18 | 1993-05-18 | Ｉｃカードリーダライタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06325222A true JPH06325222A (ja) | 1994-11-25 |
Family
ID=14663145
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5115462A Pending JPH06325222A (ja) | 1993-05-18 | 1993-05-18 | Ｉｃカードリーダライタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06325222A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997048072A1 (fr) * | 1996-06-10 | 1997-12-18 | Kabushiki Kaisha Nippon Conlux | Dispositif de lecture/ecriture de carte de ci et son procede de controle |
| JP2002150236A (ja) * | 2000-11-14 | 2002-05-24 | Dainippon Printing Co Ltd | 無線通信機能付きカード収納具と無線端末による取引決済方法 |
| EP1227329A1 (fr) * | 2001-01-30 | 2002-07-31 | STMicroelectronics S.A. | Circuit de détection de mauvaise connexion d'alimentation |
| JP2008027464A (ja) * | 2007-09-25 | 2008-02-07 | Denso Corp | 車両用通信装置 |
| JP2009047847A (ja) * | 2007-08-17 | 2009-03-05 | Konica Minolta Business Technologies Inc | 画像形成装置、画像形成装置の制御方法、および画像形成装置の制御プログラム |
-
1993
- 1993-05-18 JP JP5115462A patent/JPH06325222A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997048072A1 (fr) * | 1996-06-10 | 1997-12-18 | Kabushiki Kaisha Nippon Conlux | Dispositif de lecture/ecriture de carte de ci et son procede de controle |
| US5979759A (en) * | 1996-06-10 | 1999-11-09 | Kabushiki Kaisha Nippon Conlux | IC card reader/writer and its control method |
| CN1100306C (zh) * | 1996-06-10 | 2003-01-29 | 日本功勒克斯股份有限公司 | 集成电路卡读写器及其控制方法 |
| JP2002150236A (ja) * | 2000-11-14 | 2002-05-24 | Dainippon Printing Co Ltd | 無線通信機能付きカード収納具と無線端末による取引決済方法 |
| JP4697911B2 (ja) * | 2000-11-14 | 2011-06-08 | 大日本印刷株式会社 | 無線通信機能付きカード収納具 |
| EP1227329A1 (fr) * | 2001-01-30 | 2002-07-31 | STMicroelectronics S.A. | Circuit de détection de mauvaise connexion d'alimentation |
| FR2820212A1 (fr) * | 2001-01-30 | 2002-08-02 | St Microelectronics Sa | Circuit de detection de mauvaise connexion d'alimentation |
| US6774663B2 (en) | 2001-01-30 | 2004-08-10 | Stmicroelectronics Sa | Circuit for the detection of a defective power supply connection |
| JP2009047847A (ja) * | 2007-08-17 | 2009-03-05 | Konica Minolta Business Technologies Inc | 画像形成装置、画像形成装置の制御方法、および画像形成装置の制御プログラム |
| JP2008027464A (ja) * | 2007-09-25 | 2008-02-07 | Denso Corp | 車両用通信装置 |
| JP4548467B2 (ja) * | 2007-09-25 | 2010-09-22 | 株式会社デンソー | 車両用通信装置 |
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