JPH06309684A - 光ピックアップ - Google Patents

光ピックアップ

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Publication number
JPH06309684A
JPH06309684A JP5101549A JP10154993A JPH06309684A JP H06309684 A JPH06309684 A JP H06309684A JP 5101549 A JP5101549 A JP 5101549A JP 10154993 A JP10154993 A JP 10154993A JP H06309684 A JPH06309684 A JP H06309684A
Authority
JP
Japan
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light
optical
optical system
objective lens
reflected light
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP5101549A
Other languages
English (en)
Inventor
Takahiro Miyake
隆浩 三宅
Tetsuo Kamiyama
徹男 上山
Toshiyuki Tanaka
利之 田中
Yukio Kurata
幸夫 倉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP5101549A priority Critical patent/JPH06309684A/ja
Publication of JPH06309684A publication Critical patent/JPH06309684A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 結像光学系とエラー検出光学系の光軸のずれ
に起因して発生するラジアルエラー信号RESの直流オ
フセット成分を補正することができ、良好なサーボ制御
が可能になると共に、高速アクセスが可能になる光ピッ
クアップを実現する。 【構成】 対物レンズ7を保持するレンズホルダー9の
アパーチャー10の外周部に、半導体レーザ1からの入
射ビームを全反射する全反射板11を設け、全反射板1
1からの反射光を受けるホログラム素子2の光ディスク
8のトラック方向に相当する分割線Q−Q’で2分割さ
れた領域によって、多分割受光素子13の相異なる2つ
のセグメント上に回折光を集光する。そして、各セグメ
ントの差分信号を検出することにより、ラジアルエラー
信号RESの直流オフセット成分に比例する出力を検出
し、直流オフセット成分を補正する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク等の情報記
録媒体に対してレーザ光を照射し、これにより情報記録
媒体の記録面に情報を光学的に記録し、或いは情報記録
媒体からの戻り光を検出し、これにより情報記録媒体の
記録面に書き込まれた情報を再生する光ピックアップに
関する。
【0002】
【従来の技術】図8は光ピックアップの一従来例を示
す。この光ピックアップは、可動光学系Yと固定光学系
Xとに2分割されている。すなわち、分割型の光ピック
アップである。
【0003】可動光学系Yは、情報記録媒体である光デ
ィスク8の下方に対設されたレンズホルダー9により支
持された対物レンズ7と、フォーカシングおよびトラッ
キング駆動のために対物レンズ7をレンズホルダー9と
共に、フォーカス方向である上下方向およびトラッキン
グ方向である図上左右方向に移動させる磁気回路を備え
たアクチュエータ(図示せず)と、対物レンズ7の下方
に配設された反射ミラー(立上げ45度ミラー)6と、
これらの可動部光学部品を一体的に移動させるリニアモ
ータ(図示せず)とによって構成されている。
【0004】一方、固定光学系Xは、ホログラムレーザ
ユニット14、コリメートレンズ3、整形プリズム4、
偏光ビームスプリッタ5およびMO信号検出光学系15
等によって構成されている。ホログラムレーザユニット
14は、図9に示すように、光源となる半導体レーザ
1、ホログラム素子2’および多分割受光素子(光検出
器)13を円筒状のホルダー16に一体化して構成され
ている。
【0005】なお、MO信号検出光学系15は、光ディ
スク8がMOディスク(光磁気ディスク)の場合に用い
られ、光ディスク8が他の種類の光ディスクの場合、例
えば、コンパクトディスク、追記型ディスク、相変化型
ディスク等の場合には、MO信号検出光学系15の代わ
りに対応した信号検出光学系が用いられる。
【0006】次に、上記構成の光ピックアップの動作に
ついて説明する。半導体レーザ1から出射された光ビー
ムは、まず出射側に配置されたホログラム素子2’を透
過(0次回折)し、続いてコリメートレンズ3により平
行光とされ、その後整形プリズム4、偏光ビームスプリ
ッタ5を経て、固定光学系Xのケーシング30に開設さ
れた出射窓を介して可動光学系Yの反射ミラー6に導か
れる。
【0007】続いて、反射ミラー6によって光路を90
度変換されて、その上方の対物レンズ7に導かれ、該対
物レンズ7によって集光されて光ディスク8のディスク
面にスポット光として照射される。
【0008】一方、光ディスク8のディスク面から反射
された反射光は戻り光となって、上記とは逆の経路を辿
ってホログラムレーザユニット14のホログラム素子
2’に入射する。そして、ホログラム素子2’によって
1次回折されて多分割受光素子13上に集光される。
【0009】このとき、ホログラムレーザユニット14
のホログラム素子2’と多分割受光素子13の関係を上
面から見た図10および図11において、ホログラム素
子2’は、例えば、分割線L1、L2によってA、B、
Cの3領域に分割されている。また、図11に示すよう
に、多分割受光素子13は、例えばセグメントH、I、
J、Kに4分割されている。
【0010】そして、ホログラム素子2’に入射した戻
り光のうちA領域に入射した光は回折されて多分割受光
素子13上のセグメントI、J間の分割線上の一点P’
に集光される。一方、B領域に入射した光はセグメント
H上に集光される。また、C領域に入射した光はセグメ
ントK上に集光される。
【0011】このような検出系において、フォーカスエ
ラー信号FESは次のようにして検出される。すなわ
ち、光ディスク8上のスポット光がジャストフォーカス
(合焦点)状態の場合は、図6(b)に示すように、セ
グメント上の光ビームが一点Pになるのに対し、光ディ
スク8上のスポット光がデフォーカス(非合焦点)状態
の場合は、対物レンズ7が合焦点状態よりも光ディスク
8に接近してる場合を示す同図(a)或いは対物レンズ
7が合焦点状態よりも光ディスク8から遠去かっている
場合を示す同図(c)からわかるように、セグメント上
の光ビームはセグメントI或いはJ側に広がるので、セ
グメントH、I、J、Kからの出力信号をそれぞれS
H、SI、SJ、SKとすると、フォーカスエラー信号
FESはSI−SJの差動信号をとることで検出され
る。
【0012】また、ラジアルエラー信号RESは、図1
0に示すホログラム素子2’上の戻り光BE’の光強度
分布を検出するプッシュプル法により差分信号SH−S
Kで検出される。なお、プッシュプル法の検出原理につ
いては後述する。
【0013】そして、このようにして得られたフォーカ
スエラー信号FESとラジアルエラー信号RES信号に
基づいたサーボ信号によりアクチュエータが駆動され、
対物レンズ7の位置が制御される。
【0014】次に、図12および図13に基づきプッシ
ュプル法の検出原理について説明する。図12におい
て、光ディスク8からの反射光は対物レンズ7から前記
光学系を介してホログラム素子2’上に強度分布をもっ
て導かれるが、光ディスク8の表面にはグルーブ(又は
ピット)80が形成されているので、この強度分布には
グルーブ(又はピット)80で直接反射される0次回折
光20と、ランド部81まで入射して波面が曲がった1
次回折光21との重複領域24(図示の斜線部)が存在
する。
【0015】そして、重複領域24の強度分布はグルー
ブ(又はピット)80の存在による光の干渉効果で大き
く変化するため、各領域からの回折光の集光位置に光検
出器である多分割受光素子13を配置しておけば、その
検出信号によりラジアルエラー信号RESを検出できる
ことになる。すなわち、ホログラム素子2’上の強度分
布は、図13(a)に示すようにグルーブ(又はピッ
ト)80の中心位置にスポット光がある場合(又はラン
ド部81の中心にスポット光がある場合)には、光強度
分布曲線22が同図に示すように対称となるため、ラジ
アルエラー信号RES=0となる。
【0016】これに対して、図13(b)に示すよう
に、スポット光がグルーブ(又はピット)80からずれ
た位置にある場合には、同図に示すように、光強度分布
曲線23が非対称となるので、ラジアルエラー信号RE
S≠0となる。
【0017】以上の理由により、グルーブ(又はピッ
ト)80の配設方向である光ディスク8のトラック方向
に、光ピックアップ(又は光ディスク8)が移動する
と、図14に示すように、その移動に連れてラジアルエ
ラー信号RESは0〔V〕を中心に正弦波状に変化し、
ラジアルエラー信号RESが0になる位置が交互にオン
トラックとオフトラックを示すことになる。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記の検出
原理は、図8における結像光学系(光源である半導体レ
ーザ1から光ディスク8に向かう光学系)と、エラー検
出光学系(光ディスク8から多分割受光素子13に向か
う光学系)の光軸とが完全に一致していることを前提に
成立し、両光軸に不一致があるとラジアルエラー信号R
ESに直流オフセット成分が発生する。
【0019】例えば、図15に示すように、対物レンズ
7が中立状態(光学系で正規位置にある状態)から光デ
ィスク8のトラック方向に相当する図上左方向又は右方
向に変位した場合を想定すると、この変位により結像光
学系とエラー検出光学系の光軸とが不一致になるので、
ホログラム素子2’上での光強度分布がずれることにな
り、ラジアルエラー信号RESに直流オフセット成分が
現れてしまう。この結果、図16に示すように、ラジア
ルエラー信号RESはオフセット電圧dを中心に正弦波
状に変化することになるため、ラジアルエラー信号RE
Sが0を示していても、照射ビームが光ディスク8のト
ラックの中心に位置していないことになる。
【0020】この点に関して、上記従来例では、結像光
学系とエラー検出光学系の光軸のずれ量を検出できる検
出手段を備えていなかったため、光軸のずれに起因して
発生するラジアルエラー信号RESの直流オフセット成
分を補正することができなかった。このため、良好なサ
ーボ制御を行うことが困難であった。
【0021】更に、光ピックアップの高速アクセス時に
は、可動光学系Yが高速で移動されるため、対物レンズ
7に”ふらつき”が発生するが、上記した理由により、
その”ふらつき量”を検出できないため、対物レンズ7
の位置を迅速、かつ精度よく特定するのが困難である。
このため、アクセスに時間がかかってしまうという問題
点もあった。
【0022】本発明はこのような従来技術の問題点を解
決するものであり、結像光学系とエラー検出光学系の光
軸のずれに起因して発生するラジアルエラー信号RES
の直流オフセット成分を補正することができ、良好なサ
ーボ制御が可能になると共に、高速アクセスが可能にな
る光ピックアップを提供することを目的とする。
【0023】
【課題を解決するための手段】本発明の光ピックアップ
は、光源からの光ビームをスポット光として情報記録媒
体の記録面に集光させる対物レンズおよび該対物レンズ
を保持するレンズホルダーを有する光学系と、該情報記
録媒体の記録面からの反射光を光検出部に導く光学系と
を備えた光ピックアップにおいて、該対物レンズが挿入
される該レンズホルダーのアパーチャーの外周部に設け
られ、該光源から垂直に入射される光ビームを全反射す
る反射板と、該記録面からの反射光および該反射板によ
って全反射された全反射光を受け、該反射光を該光検出
部に導く一方、該全反射光を2分割受光素子に導く光学
素子とを具備しており、そのことにより上記目的が達成
される。
【0024】また、本発明の光ピックアップは、光源か
らの光ビームをスポット光として情報記録媒体の記録面
に集光させる対物レンズおよび該対物レンズを保持する
レンズホルダーを有する光学系と、該情報記録媒体の記
録面からの反射光を光検出部に導く光学系とを備えた光
ピックアップにおいて、該対物レンズの有効入射ビーム
径外に設けられ、該光源から垂直に入射される光ビーム
を全反射する反射部と、該記録面からの反射光および該
反射部によって全反射された全反射光を受け、該反射光
を該光検出部に導く一方、該全反射光を2分割受光素子
に導く光学素子とを具備しており、そのことにより上記
目的が達成される。
【0025】好ましくは、上記の光学素子として、前記
全反射光の入射面が前記情報記録媒体のトラック方向に
相当する方向の分割線で2分割されているホログラム素
子を用いる。
【0026】また、好ましくは、前記2分割受光素子と
前記光検出部が一体化された多分割受光素子を用いる。
【0027】
【作用】上記のように、レンズホルダーのアパーチャー
の外周部に、光源から垂直に入射される光ビームを全反
射する入射面を設けると、光源から対物レンズに入射さ
れる光ビームの一部は、この入射面によって全反射さ
れ、情報記録媒体である光ディスクの記録面からの反射
光と共に、光学素子であるホログラム素子に導かれる。
ホログラム素子上での反射光の光強度分布は、中心部が
光ディスク表面のグルーブ(又はピット)位置に基づく
強度分布を示し、その外周部が入射面からの均一な反射
強度を示すことになる。
【0028】そして、この全反射光を、例えば、トラッ
ク方向に相当する方向の分割線で2分割されているホロ
グラム素子で回折して、例えば多分割受光素子の相異な
る2つのセグメント上に、2分割された領域それぞれか
らの回折光を集光する。従って、相異なるセグメント上
の集光光を光電変換した2つの出力信号が得られる。
【0029】この2つの出力信号の差分(差動信号)
は、対物レンズが中立状態からトラック方向に相当する
方向に変位してホログラム素子の受光面上で光強度分布
がずれることに起因して発生するラジアルエラー信号R
ESの直流オフセット成分に比例している。すなわち、
対物レンズの変位量に比例した出力になっている。それ
故、この差分信号を検出すれば、対物レンズの変位量、
つまり光ピックアップの結像光学系とエラー検出光学系
の光軸のずれ量を検出できるので、ラジアルエラー信号
RESの直流オフセット成分の補正が可能になる。
【0030】
【実施例】以下に本発明の実施例を説明する。
【0031】図1は本発明の光ピックアップの一実施例
を示す。この光ピックアップは、可動光学系Yと固定光
学系Xとに2分割されている。すなわち、分割型の光ピ
ックアップである。
【0032】可動光学系Yは、光ディスク8の下方に対
設されたレンズホルダー9のアパーチャー10に挿入し
て支持された対物レンズ7と、フォーカシングおよびト
ラッキング駆動のために対物レンズ7をレンズホルダー
9と共に、フォーカス方向である上下方向およびトラッ
キング方向である左右方向に移動させる磁気回路を備え
たアクチュエータ(図示せず)と、対物レンズ7の下方
に配設された反射ミラー6と、これらの可動部光学部品
を一体的に移動させるリニアモータ(図示せず)とによ
って構成されている。
【0033】一方、固定光学系Xは、ホログラムレーザ
ユニット14、コリメートレンズ3、整形プリズム4、
偏光ビームスプリッタ5およびMO信号検出光学系15
等によって構成されている。ホログラムレーザユニット
14は、上記従来例同様に、半導体レーザ1、ホログラ
ム素子2および多分割受光素子13を備えている。
【0034】なお、MO信号検出光学系15は、光ディ
スク8がMOディスクの場合に用いられ、光ディスク8
が他の種類の光ディスクの場合、例えば、コンパクトデ
ィスク、追記型ディスク、相変化型ディスク等の場合に
は、MO信号検出光学系15の代わりに対応した信号検
出光学系が用いられる。
【0035】加えて、本発明の光ピックアップでは、図
2にその詳細を示すように、レンズホルダー9の裏面
(下面)側に、リング状の全反射板11が配設されてい
る。より詳しくは、レンズホルダー9のアパーチャー1
0の外周部に相当する部分に、全反射板11が取り付け
られている。全反射板は半導体レーザ1から入射される
光ビームに対してその入射面が垂直になるように取り付
けられている。
【0036】次に、上記構成の光ピックアップの動作に
ついて説明する。半導体レーザ1から出射された光ビー
ムは、まず出射側に配置されたホログラム素子2を透過
(0次回折)し、続いてコリメートレンズ3により平行
光とされ、その後整形プリズム4、偏光ビームスプリッ
タ5を経て、固定光学系Xのケーシング30に開設され
た出射窓を介して可動光学系Yの反射ミラー6に導かれ
る。
【0037】続いて、反射ミラー6によって光路を90
度変換されて、その上方の対物レンズ7に導かれ、該対
物レンズ7によって集光されて光ディスク8のディスク
面にスポット光として照射される。このとき、一部の入
射ビームは、全反射板10によって全反射される。
【0038】一方、光ディスク8のディスク面から反射
された反射光は戻り光となって、上記とは逆の経路を辿
って、全反射板10によって全反射された反射光と共
に、ホログラムレーザユニット14のホログラム素子2
に入射する。そして、ホログラム素子2によって1次回
折されて多分割受光素子13上に集光される。
【0039】図3はホログラム素子2上の戻り光の光強
度分布を示しており、中心部Biが光ディスク8表面の
グルーブ(又はピット)位置に基づく強度分布を示し、
その外周部Boがレンズホルダー9のアパーチャー10
外周部に取り付けられた全反射板11からの均一な反射
強度を示している。
【0040】本実施例のホログラム素子2は、この反射
光の光スポットに対応して、図4に示すように分割され
ている。すなわち、光ディスク8表面のグルーブ(又は
ピット)位置に基づく強度分布を示すビームBiが入射
する領域は、上記従来例と同様に、A、B、Cの3領域
に分割されている。
【0041】A領域に入射した光は、図5に示すよう
に、多分割受光素子13上のセグメントI、J間の分割
線上の一点Pに集光され、B領域に入射した光はセグメ
ントH上に、またC領域に入射した光はセグメントK上
に集光される。
【0042】光ディスク8上のスポット光が、ジャスト
フォーカス状態の場合は、図6(b)に示すように、セ
グメント上のビームは一点Pになり、光ディスク8上の
スポット光がデフォーカス状態の場合は、同図(a)或
いは(c)に示すように、セグメント上のビームはセグ
メントI或いはJ側に広がる。
【0043】従って、各セグメントH、I、J、Kから
の出力信号をそれぞれSH、SI、SJ、SKとする
と、フォーカスエラー信号FES信号は、SI−SJの
差動信号を検知することで検出される。また、ラジアル
エラー信号RESは、図3のホログラム素子2上の戻り
光Biの光強度分布を検出するホログラム素子2面のB
面、C面からの回折光によりプッシュプル法でSH−S
Kとして検出される。
【0044】ここで、図4に示すように、レンズホルダ
ー9に取り付けられた全反射板11からの反射光が入射
するホログラム素子2の領域は、光ディスク8上のトラ
ック方向に相当する分割線Q−Q’によりD領域とE領
域に2分割されている。従って、D領域に入射した反射
光は、多分割受光素子13のセグメントL上に集光され
る。一方、ホログラム素子2のE領域に入射した反射光
は、多分割受光素子13のセグメントM上に集光され
る。
【0045】ここで、セグメントL、Mは、本実施例の
光ピックアップにおいて新に設けられた検出領域であ
る。なお、本実施例では、上記従来例の多分割受光素子
13同様の多分割受光素子13に、セグメントL、Mを
並設した構成をとるが、両者を別個に設けることも可能
である。但し、両者を一体化すると、装置構成の簡潔化
が図れる利点がある。
【0046】今、セグメントL、Mからの出力信号をそ
れぞれSL、SMとすると、この2つの出力信号SL、
SMの差分信号SL−SMは、対物レンズ7が中立状態
から光ディスク8のトラック方向に相当する方向に変位
してホログラム素子2上の受光面上で光強度分布がずれ
ることに起因して発生するラジアルエラー信号RESの
直流オフセット成分に比例している。すなわち、差分信
号SL−SMは、対物レンズ7の変位量に比例した出力
になっている。それ故、この差分信号を検出すれば、対
物レンズ7の変位量、つまり光ピックアップの結像光学
系とエラー検出光学系の光軸のずれ量を検出できる。従
って、これを利用すれば、ラジアルエラー信号RESの
直流オフセット成分の補正が可能になる。
【0047】この結果、本実施例によれば、トラック方
向におけるサーボ制御を精度よく行うことができる。ま
た、このことは、高速アクセスが可能になることを意味
している。すなわち、このような構成によれば、高速ア
クセス時に、対物レンズ7の”ふらつき量”を検出で
き、その補正を行うことが可能であるので、対物レンズ
7の”ふらつき”を防止できると共に、対物レンズ7の
位置を迅速、かつ精度よく所望の位置に制御できるから
である。
【0048】図7は本発明の光ピックアップの他の実施
例を示す。この実施例では、図7に示すように、対物レ
ンズ7の有効ビーム径外のレンズホルダー9のアタリ部
分に相当するリング状部分を加工して、この部分に全反
射板12を形成する構成をとる。すなわち、この実施例
では、リング状部分に全反射板が加工された対物レンズ
7を用いている。
【0049】本実施例による場合も、上記実施例同様
に、ラジアルエラー信号RESの直流オフセット成分を
補正できる。
【0050】
【発明の効果】以上の本発明の光ピックアップによれ
ば、プッシュプル方式でラジアルエラー信号RESを検
出する際に、結像光学系とエラー検出光学系の光軸が一
致しない場合にもその光軸のずれ量が検出できるので、
光軸のずれに起因して発生するラジアルエラー信号RE
Sの直流オフセット成分を補正することができる。従っ
て、トラッキングサーボ制御を高精度に行うことができ
る。
【0051】また、高速アクセス時にも対物レンズの”
ふらつき量”を検出でき、検出量に応じて対物レンズを
制御することが可能になるので、アクセス時間の短縮が
図れることになる。従って、高速アクセスが可能な光ピ
ックアップを実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光ピックアップの実施例を示す模式的
側面図。
【図2】対物レンズおよびこれを支持するレンズホルダ
ーを示す断面図。
【図3】本発明の光ピックアップにおけるホログラム素
子上の戻り光の光強度分布を示す図面。
【図4】ホログラム素子のパターンを説明するための図
面。
【図5】本発明の光ピックアップの多分割受光素子の各
セグメントと集光光との関係を示す図面。
【図6】多分割受光素子上の光ビームの振舞いを説明す
るための図面。
【図7】本発明の光ピックアップの他の実施例を示す図
2同様の断面図。
【図8】光ピックアップの一従来例を示す模式的側面
図。
【図9】ホログラムレーザユニットの構成を示す斜視
図。
【図10】従来の光ピックアップにおけるホログラム素
子上の戻り光の光強度分布を示す図面。
【図11】光検出器である多分割受光素子の各セグメン
トと集光光との関係を示す図面。
【図12】光ディスクからの反射光の光強度分布を説明
するための図面。
【図13】光ディスクからの反射光の光強度分布を示す
図面。
【図14】ラジアルエラー信号RESを示すグラフ。
【図15】対物レンズの動きにより発生するホログラム
素子上での反射光のずれを説明するための図面。
【図16】ラジアルエラー信号RESに直流オフセット
成分が発生している状態を示すグラフ。
【符号の説明】
1 半導体レーザー 2 ホログラム素子 3 コリメートレンズ 4 整形プリズム 5 偏光ビームスプリッタ 6 反射ミラー 7 対物レンズ 8 光ディスク 9 レンズホルダー 10 アパーチャー 11、12 全反射板 13 多分割受光素子 14 ホログラムレーザーユニット 15 MO信号検出光学系 16 ホルダー 20 0次回折光 21 1次回折光 22、23 光強度分布 Q−Q’分割線 X 固定光学系 Y 可動光学系
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 倉田 幸夫 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源からの光ビームをスポット光として
    情報記録媒体の記録面に集光させる対物レンズおよび該
    対物レンズを保持するレンズホルダーを有する光学系
    と、該情報記録媒体の記録面からの反射光を光検出部に
    導く光学系とを備えた光ピックアップにおいて、 該対物レンズが挿入される該レンズホルダーのアパーチ
    ャーの外周部に設けられ、該光源から垂直に入射される
    光ビームを全反射する反射板と、 該記録面からの反射光および該反射板によって全反射さ
    れた全反射光を受け、該反射光を該光検出部に導く一
    方、該全反射光を2分割受光素子に導く光学素子とを具
    備する光ピックアップ。
  2. 【請求項2】 光源からの光ビームをスポット光として
    情報記録媒体の記録面に集光させる対物レンズおよび該
    対物レンズを保持するレンズホルダーを有する光学系
    と、該情報記録媒体の記録面からの反射光を光検出部に
    導く光学系とを備えた光ピックアップにおいて、 該対物レンズの有効入射ビーム径外に設けられ、該光源
    から垂直に入射される光ビームを全反射する反射部と、 該記録面からの反射光および該反射部によって全反射さ
    れた全反射光を受け、該反射光を該光検出部に導く一
    方、該全反射光を2分割受光素子に導く光学素子とを具
    備する光ピックアップ。
  3. 【請求項3】 前記光学素子がホログラム素子であり、
    前記全反射光の入射面が前記情報記録媒体のトラック方
    向に相当する方向の分割線で2分割されている請求項1
    又は請求項2記載の光ピックアップ。
  4. 【請求項4】 前記2分割受光素子と前記光検出部が一
    体化された多分割受光素子である請求項1又は請求項2
    記載の光ピックアップ。
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