JPH06302118A

JPH06302118A - デジタルデータ復号方法

Info

Publication number: JPH06302118A
Application number: JP8591093A
Authority: JP
Inventors: Sadanari Okamura; 完成岡村
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1993-04-13
Filing date: 1993-04-13
Publication date: 1994-10-28

Abstract

(57)【要約】【目的】デジタルデータを迅速かつ正確に復号するこ
とができるようにする。【構成】光ディスクの情報ピットのエッジを基準位置
からステップ状に８個の位置のいずれかの位置にシフト
させてデジタルデータを記録する。教育ピットに、この
情報ピットのエッジの取り得る位置に対応するデータを
記録しておく。教育ピットの１対のエッジの再生信号に
より規定されるＲＡＭの記憶点（基準点）に、その教育
ピットの教育データを二次元的に記憶させる。ＲＡＭの
他の記憶点には、最も近い基準点と同一のデータを記憶
させる。最も近い基準点を検索するとき、現在サーチ中
の点Ａ（ｐ，ｑ）より１つ前の点Ａ（ｐ−１，ｑ）の対
応する基準点Ｓ（Ｍ，Ｎ）と、それに隣接する８個の基
準点Ｓ（（Ｍ−１）ｍｏｄ８，（Ｎ−１）ｍｏｄ
８）乃至Ｓ（（Ｍ＋１）ｍｏｄ８，（Ｎ＋１）ｍｏ
ｄ８）との距離を演算し、そのうち最も小さい距離の
基準点を選択する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば光ディスクある
いは光磁気ディスクに記録されたデジタルデータを復号
する場合に用いて好適なデジタルデータ復号方法に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】本出願人は、特願平５−２０８７６号と
して、図１３に示すようなフォーマットでデジタルデー
タを記録することを先に提案した。即ち、光ディスクの
トラックは、複数のサーボ領域とデータ領域とに区分さ
れ、サーボ領域には、教育ピットＰ１，Ｐ２と、基準ピ
ットＰ３乃至Ｐ５の５つのサーボ用のピットが形成され
ている。また、データ領域には、４４個の情報ピットが
形成されている。

【０００３】各ピットには、そのピット列の前後方向
（図中、左右方向）のエッジ位置を、基準位置（図中、
０で示される位置）から幅Δ（＝０．０５μｍ）で、ス
テップ状に８個のシフト位置のいずれかの位置にシフト
することにより、デジタルデータを記録するようになさ
れている。即ち、ピットの左右のエッジの位置を、０乃
至７の８個のシフト位置のいずれかの位置にシフトする
ことにより、それぞれの位置において、３ビットのデー
タを記録することができるようになされている。

【０００４】ピットの長さは、左右のエッジ位置が基準
位置であるとき０．５μｍとなり、左右のエッジ位置が
それぞれ７のシフト位置にあるとき１．２μｍとなる。
また、ピットのピット列方向（トラック方向）のピッチ
は１．６７μｍとされている。

【０００５】教育ピットＰ２の左右の１対のエッジに
は、教育データ（Ｍ，Ｎ）が記録されている。この教育
データ（Ｍ，Ｎ）は、（０，０），（０，１），（０，
２），・・・（７，６），（７，７）と６４（＝８×
８）種類の組み合わせが用意され、各サーボ領域には、
このうちの１つのデータが記録される。従って、６４個
のサーボ領域の教育データを集めることにより、情報ピ
ットが取り得るエッジの位置のすべての組み合わせが判
ることになる。

【０００６】一方、基準ピットＰ３とＰ４の対向するエ
ッジ、並びに基準ピットＰ４とＰ５の対向するエッジに
は、基準位置データ（０，０）と（７，７）がそれぞれ
記録されている。

【０００７】図１４は、このようにして記録されたデジ
タルデータを再生する原理を表している。光ディスクに
記録されたピットのエッジの位置は、そのピットの基準
位置（０）から、記録すべきデジタル情報に応じてステ
ップ状にシフトしているが、そのシフト期間Ｔｓ（＝Δ
×７）は、光ディスクから情報を再生する光学検出系の
伝達特性に応じて決まるＲＦ信号（再生信号）の過渡期
間（０レベルまたは飽和レベルとなる定常状態以外の期
間）である立上り期間ｔｒまたは立下り期間ｔｆよりも
小なる期間に相当する範囲内に設定されている。

【０００８】このように、記録されたピットの中心の基
準位置（例えば、シフト位置３の位置）に、理想的に同
期したサンプリングクロックＳＰを生成し、これを基準
としてＲＦ信号をＡ／Ｄ変換することにより、ピットの
エッジ位置のシフト量０乃至７に対応する再生レベルＬ
０乃至Ｌ７を得ることができる。このようにＲＦ信号の
過渡期間において、１回のサンプリングで、その再生レ
ベルＬ０乃至Ｌ７を検出することができる条件は、次の
ようになる。シフト期間Ｔｓ≦過渡期間（立上り期間ｔｒまたは立下
り期間ｔｆ）但し、例えばＲＦ信号のゼロクロスを検出して、エッジ
のシフト位置を検出する場合は、このような条件は不要
となる。

【０００９】先の出願においてはまた、情報ピットのエ
ッジの位置を、二次元空間上におけるパターン認識によ
り検出することを提案した。即ち、所定の情報ピットの
１対のエッジ（例えば、前端のエッジと後端のエッジ）
のサンプルクロックの立上りエッジのタイミングにおけ
るレベルを、それぞれＶａ（ｎ），Ｖｂ（ｎ）とすると
き、レベルをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器の１サンプル
当りのビット数を８ビットとすると、Ｖａ（ｎ），Ｖｂ
（ｎ）は、０から２５５までのいずれかの値となる。

【００１０】０乃至２５５の値を有するＶａ（ｎ）とＶ
ｂ（ｎ）をそれぞれアドレスとする、マトリックス状に
記憶点が配置されたメモリ空間を用意し、上述した
（０，０）乃至（７，７）の６４種類のエッジの組み合
わせを有する教育ピットを再生して得られる信号のレベ
ルをＡ／Ｄ変換して得たデータをマトリックス上にマッ
ピングすると、図１５に黒丸印で示す点が得られる。図
において、横軸はＶａ（ｎ）のレベル（０乃至２５５）
に対応しており、縦軸はＶｂ（ｎ）のレベル（０乃至２
５５）に対応している。但し、図１５は、各ピットのエ
ッジの符号間干渉が存在しない理想的な状態を表してい
る。

【００１１】この教育ピットの１対の再生レベルに対応
するアドレスで規定される記憶点（図中、黒丸印で示す
点）を基準点Ｓとして、この基準点に、その教育ピット
のエッジ位置に関するデータ（０，０）乃至（７，７）
を記憶させる。

【００１２】そして、６５５３６（＝２５６×２５６）
個の記憶点のうち、教育ピットに対応するデータが記憶
された６４個の基準点Ｓ（０，０）乃至Ｓ（７，７）を
除く記憶点には、最も近い基準点を対応させ、その対応
する基準点と同一のデータを記憶させる。このようにす
ると、図１５に示すように、６４個の基準点Ｓ（０，
０）乃至Ｓ（７，７）をそれぞれ１個ずつ含み、それと
同一のデータが記憶された６４個の領域が形成される。

【００１３】このように、メモリをマッピングした後、
情報ピットの１対のエッジのレベルをＡ／Ｄ変換して得
られるデータにより規定されるアドレスの記憶点のデー
タを読み出すと、これがその情報ピットの１対のエッジ
のデータとなる。

【００１４】図１５は、符号間干渉が存在しない理想的
な状態を示したのであるが、実際には符号間干渉が発生
するため、教育ピットによる基準点の配置形状は、図１
６に示すように、矩形から菱形状に歪むことになる。そ
の歪の程度は、符号間干渉の程度に対応する。従って、
各基準点に対応する記憶点の領域も、同図に示すよう
に、特殊な形状となる。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、先の出願に
おいては、２５６×２５６個の記憶点のデータのマッピ
ングに際し、各記憶点から６４個の各基準点までの距離
を演算し、その距離が最も短い基準点を対応する基準点
として選択するようにしていた。その結果、演算に時間
がかかり、迅速かつ正確なデジタルデータの復号が困難
になる課題があった。

【００１６】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
ものであり、より迅速かつ正確にデジタルデータを復号
することができるようにするものである。

【００１７】

【課題を解決するための手段】本発明のデジタルデータ
復号方法は、エッジの位置を記録すべきデジタルデータ
に対応して基準位置（０，０）からステップ状に変化さ
せた情報ピットと、情報ピットのエッジの取り得る位置
を示すエッジを有する教育ピットＰ１，Ｐ２とが形成さ
れた記録媒体としての光ディスク１から、教育ピットを
再生して得られる再生信号のレベルをＡ／Ｄ変換し、Ａ
／Ｄ変換して得られるデータＶａ（ｎ），Ｖｂ（ｎ）の
うち、ピットの列方向に隣接する教育ピットＰ１，Ｐ２
の１対のエッジに対応するデータにより規定されるメモ
リとしてのＲＡＭ２３の記憶点を基準点とし、基準点
に、その教育ピットの１対のエッジの位置に関するデー
タ（Ｍ，Ｎ）を記憶させ、基準点以外のＲＡＭ２３の記
憶点に、最も近い基準点に記憶されているデータ（Ｍ，
Ｎ）と同一のデータを記憶させるとともに、情報ピット
を再生して得られる再生信号のレベルをＡ／Ｄ変換し、
情報ピットの再生信号のレベルをＡ／Ｄ変換して得られ
る信号から規定されるＲＡＭ２３の記憶点を求め、そこ
に記憶されているデータ（Ｍ，Ｎ）を、その情報ピット
のエッジに対応するデータとして復号するデジタルデー
タ復号方法において、ＲＡＭ２３の基準点以外の記憶点
にデータ（Ｍ，Ｎ）を記憶させるに際し、ＲＡＭ２３の
記憶点を順次スキャンし、現在スキャンされている記憶
点Ａｂと、それより例えば１つ前にスキャンされ、既に
所定のデータ（Ｍ，Ｎ）が記憶されている記憶点Ａａと
同一のデータ（Ｍ，Ｎ）が記憶されている基準点Ｓａと
の距離（Ａｂ−Ｓａ）、および、スキャンされている記
憶点Ａｂと、基準点Ｓａに隣接する基準点Ｓｂとの距離
（Ａｂ−Ｓｂ）、をそれぞれ演算し、基準点Ｓａ，Ｓｂ
のうち、記憶点Ａｂとの距離が最も短い基準点を、記憶
点Ａｂに対応する基準点とし、その基準点に記憶されて
いるデータと同一のデータ（Ｍ，Ｎ）を、記憶点Ａｂに
記憶させることを特徴とする。

【００１８】記憶点のスキャンは、複数の所定の数置き
に行なうようにすることができる。また、ＲＡＭ２３の
記憶点をマトリックス状に配置し、基準点Ｓａ，Ｓｂの
位置を剰余系を用いて特定するようにすることができ
る。

【００１９】さらに、記憶点のスキャンは、データが既
に記憶されている基準点の次の記憶点から開始させるこ
とができる。また、記憶点のスキャンが、その前に、デ
ータがまだ記憶されていない記憶点から開始されるとき
は、その記憶点と、他のすべての基準点との距離を演算
し、そのうちの距離が最も短い基準点を、その記憶点と
対応する基準点とすることができる。

【００２０】

【作用】上記構成のデジタルデータ復号方法において
は、現在スキャンされている記憶点Ａｂと、それより１
つ前にスキャンされ、既に所定のデータ（Ｍ，Ｎ）が記
憶されている記憶点Ａａに対応する基準点Ｓａとの距離
（Ａｂ−Ｓａ）、および記憶点Ａｂと、基準点Ｓａに隣
接する基準点Ｓｂとの距離（Ａｂ−Ｓｂ）が演算され、
そのうちの最も距離の短い基準点が記憶点Ａｂに対応す
る基準点とされる。従って、距離を演算する対象とされ
る基準点の数を減らすことができ、迅速な処理が可能と
なる。

【００２１】

【実施例】図１は、本発明のデジタルデータ復号方法を
応用した光ディスク装置の一実施例の構成を示すブロッ
ク図である。光ディスク１は、スピンドルモータ２によ
り回転されるようになされている。この光ディスク１に
は、図１３に示したフォーマットに基づいて情報が記録
されている。即ち、情報ピットの前端と後端エッジの少
なくとも一方の位置を所定の基準位置からステップ状に
シフトすることにより、デジタル情報が記録されてい
る。そして、この光ディスク１には、一定の周期でサー
ボ領域とデータ領域が形成されている。サーボ領域に
は、教育ピットＰ１，Ｐ２と、基準ピットＰ３乃至Ｐ５
が形成されており、データ領域には、データピット（情
報ピット）が形成されている。

【００２２】ピックアップ３は、光ディスク１に対して
レーザビームを照射し、その反射光から光ディスク１に
記録されている信号を再生する。ピックアップ３が出力
する再生ＲＦ信号は、ヘッドアンプ４により増幅され、
フォーカストラッキングサーボ回路５、ＡＰＣ回路６お
よびＰＬＬ回路７に供給されるようになされている。フ
ォーカストラッキングサーボ回路５は、入力された信号
からフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信
号を生成し、これらのエラー信号に対応して、フォーカ
ス制御およびトラッキング制御を実行する。また、ＡＰ
Ｃ回路６は、光ディスク１に対して照射されるレーザ光
のパワーが一定になるようにサーボをかける。

【００２３】ＰＬＬ回路７は、入力信号からクロック成
分を抽出するものである。通常のＣＤシステムは、いわ
ゆるセルフクロックシステムとされているため、そこで
使用されるＰＬＬ回路は、全てのデータを使ってクロッ
ク再生を行うが、本実施例の場合は、サーボ領域の一部
分のデータのみを使ってクロック再生を行う。即ち、サ
ーボ領域のピットは記録データで変調されていないの
で、記録データの影響を一切受けずに、安定なクロック
再生を行うことが可能となる。

【００２４】図２は、このような機能を実現するＰＬＬ
回路７の構成例を示すブロック図である。この図におい
て、まずサーボエリアパターン判定回路１７１は、ヘッ
ドアンプ４が出力するＲＦ信号からサーボ領域と思われ
るパターンを検出すると、サーボ領域検出パルスを発生
する。ここで、サーボ領域と同じパターンは、データ領
域中にも現れる可能性があり、この検出パルスは必ずし
も正しいとは限らないが、とりあえずこれが正しいもの
と仮定して、ロック検出回路１７２はこの信号を検出し
たとき、カウンタ１７３にリセットパルスを供給し、カ
ウンタ１７３をリセットさせる。

【００２５】もしも検出したのが正しいサーボ領域であ
れば、その後も必ず同じタイミングでサーボエリアパタ
ーン判定回路１７１より検出パルスが出力されるはずで
ある。ロック検出回路１７２は、このことを検出して、
ＰＬＬ回路７がロック状態にあるかどうかを判定する。

【００２６】もしも検出したのが正しいサーボ領域でな
かった場合には、一定の周期で検出パルスが出力されな
いので、ロック状態になるまで上述の動作を繰り返す。

【００２７】サーボ領域が正しく検出された後は、カウ
ンタ１７３が正しいタイミングでリセットされているの
で、このカウンタ１７３のカウント値をデコーダ１８１
においてデコードすることで、サーボ領域が次に現れる
タイミングをおおよそ予想することができる。この原理
を使って、カウンタ１７３のカウント値からサーボ領域
内に存在する特定のピットが出現するタイミング信号を
デコーダ１８１で生成し、これをゲート信号としてアン
ドゲート１７６へ供給する。

【００２８】サーボ領域の両側に記録されているデータ
領域からの影響を抑制するために、可能な限りサーボ領
域の中央部にあるピットのエッジ（例えば、図１３の基
準ピットＰ３の基準ピットＰ４と対向するエッジ）が選
ばれるように、ゲート信号のタイミングが調整される。

【００２９】ＲＦ信号を微分回路１７４で微分して、ゼ
ロクロス検出回路１７５でゼロクロス点を検出した信号
のうち、このアンドゲート１７６を通過したものが位相
比較パルスとなり、サンプルホールド回路１７７へ供給
される。

【００３０】サンプルホールド回路１７７は、カウンタ
１７３の出力に基づいてデコーダ１８１により制御され
る鋸波発生回路１７８で発生された鋸波を、特定のピッ
トのエッジが出現したタイミングで瞬間的にサンプルホ
ールドすることにより、カウンタ１７３がカウントアッ
プしているクロック（ＶＣＯ（電圧制御発振器）１８０
の出力）と、光ディスク１上のサーボ領域に存在する特
定のピットのエッジとの時間差（位相誤差）を検出す
る。この位相誤差信号は、フィルタ１７９を通過した
後、ＶＣＯ１８０に、そのドライブ電圧としてフィード
バックされ、光ディスク１上のサーボ領域に存在する特
定ピットのエッジと、ＶＣＯ１８０が生成するクロック
が常に正しい位相関係を保つように、ＰＬＬが形成され
る。

【００３１】上述したカウンタ１７３の出力（カウント
値）をデコーダ１８１でデコードすることにより、所定
の位相関係のサンプルクロックＳＰ、クロックＡ、クロ
ックＢ、クロックＲＡ、クロックＲＢ、クロックＴＡ、
クロックＴＢ、クロックＫＡ、クロックＫＢが生成され
る。これらのクロックは、図３に示すように、各回路に
供給される。

【００３２】図１におけるスピンドルサーボ回路８は、
図２におけるＶＣＯ１８０のドライブ電圧が常に一定値
になるようにスピンドルモータ２を制御し、光ディスク
１を一定の角速度で回転させる。

【００３３】一方、ヘッドアンプ４が出力するＲＦ信号
は、Ａ／Ｄ変換回路９に入力され、サンプルクロックＳ
Ｐ（図２のデコーダ１８１が出力する）の立上りのタイ
ミングで、８ビットの２５６段階のレベルを示すデジタ
ルデータ（再生レベル）にＡ／Ｄ変換される。この８ビ
ットのデータがバイアス除去回路１０に供給され、この
バイアス除去回路１０によりバイアス成分が除去された
後（その動作の詳細は、図３を参照して後述する）、二
次元デコーダ１１とコントローラ１５に供給される。コ
ントローラ１５は、各種演算を行うＣＰＵ１５Ａと、こ
のＣＰＵ１５Ａで実行するプログラムが格納されたプロ
グラムＲＯＭ１５Ｂを有しており、後述するマッピング
処理等を実行する。

【００３４】二次元デコーダ１１は、バイアス除去回路
１０より供給された８ビットのデータＶａ（ｎ），Ｖｂ
（ｎ）を組み合わせてデコードし、エッジ位置（Ｍ，
Ｎ）に対応する合計６ビットのデータを出力する。その
出力は、６→８ビット変換回路１２に供給される。６→
８ビット変換回路１２は、入力された６ビットのデータ
を４組分だけ蓄積した後、処理し易い８ビットの３組の
データに変換し、誤り訂正回路１３に出力する。誤り訂
正回路１３は、入力されたデータの誤りを訂正した後、
Ｄ／Ａ変換回路１４に出力する。Ｄ／Ａ変換回路１４
は、入力されたデータをアナログ信号に変換して、それ
が例えばオーディオデータであれば、それを図示せぬア
ナログオーディオアンプ等に出力する。

【００３５】次に、バイアス除去回路１０と二次元デコ
ーダ１１の構成とその動作について、図３と図４を参照
して説明する。尚、図４の実施例においては、図１３に
示した場合と異なり、教育ピットＰ１とＰ２のそれぞれ
対向する１対のエッジに教育データが配置されているが
（図４（Ａ））、図１３における場合と同様に、教育ピ
ットＰ２の前後のエッジに教育データ（Ｍ，Ｎ）を記録
するようにすることもできる。

【００３６】この図４（Ａ）に示す教育ピットＰ１，Ｐ
２と、基準ピットＰ３乃至Ｐ５に対応して、図４（Ｂ）
に示すＲＦ信号が得られる。このＲＦ信号を、サンプル
クロックＳＰ（図４（Ｃ））の立上りエッジのタイミン
グでＡ／Ｄ変換回路９においてＡ／Ｄ変換し、このデー
タをクロックＡ（図４（Ｄ））の立上りエッジのタイミ
ングでラッチ回路３１においてラッチするとともに、ク
ロックＢ（図４（Ｅ））のタイミングでラッチ回路３２
においてラッチする。さらに、クロックＲＡ（図４
（Ｆ））の立上りエッジのタイミングでラッチ回路４１
においてラッチし、またクロックＲＢ（図４（Ｇ））の
立上りエッジのタイミングでラッチ回路４３においてラ
ッチする。

【００３７】そして、減算回路４２において、ラッチ回
路３１の出力からラッチ回路４１の出力を減算するとと
もに、減算回路４４において、ラッチ回路３２の出力か
らラッチ回路４３の出力を減算する。このようにして、
ＤＣ成分に影響されないデータを得ることができる（図
５において、基準点Ｓ（０，０）を、破線で示す直線が
交差する格子点（記憶点）の位置に配置することができ
る）。

【００３８】即ち、図４に示すクロックＡ，Ｂ，ＲＡ，
ＲＢ，ＴＡ，ＴＢ，ＫＡ，ＫＢは、ＰＬＬ回路７のデコ
ーダ１８１（図２）で生成されたクロックであるが、図
４を参照して明らかなように、クロックＡとクロックＢ
は、それぞれ各ピットの後端エッジと前端エッジをサン
プリングするタイミングの直後に発生される。また、ク
ロックＲＡとＲＢは、それぞれサーボ領域の基準ピット
Ｐ３とＰ４の基準位置データ（０，０）をラッチするタ
イミングで発生される。

【００３９】従って、ラッチ回路４１とラッチ回路４３
には、前回のサーボ領域における基準ピットＰ３の後方
エッジと、基準ピットＰ４の前方エッジの基準位置デー
タ（０，０）がラッチされている。これに対して、ラッ
チ回路３１と３２により、教育ピットＰ１の後端エッジ
とＰ２の前端エッジの教育データがラッチされる。

【００４０】その結果、減算回路４２は、教育ピットＰ
１のシフト位置Ｍ（Ｍは０乃至７のいずれかの値）の再
生レベルと、基準ピットＰ３の後端の基準位置０におけ
る再生レベルとの差を出力することになる。また、減算
回路４４は、教育ピットＰ２のシフト位置Ｎ（Ｎは０乃
至７のいずれかの値）の再生レベルと、基準ピットＰ４
の前端の基準位置０の再生レベルとの差を出力すること
になる。このように、基準位置０におけるレベルを減算
することにより、再生信号のＤＣ成分（バイアス成分）
が除去されることになる。

【００４１】本実施例においては、バイアス除去回路１
０の後段にゲイン調整回路６０が接続されており、その
ラッチ回路６１において、減算回路４２の出力がクロッ
クＫＡ（図４（Ｈ））のタイミングでラッチされる。即
ち、ラッチ回路６１には、基準ピットＰ４の後端エッジ
に記録されている基準位置７のデータがラッチされる。

【００４２】このラッチ回路６１の出力から、減算回路
６２において予め設定された目標振幅が減算される。そ
して、その差がゲイン可変アンプ６３に供給される。ゲ
イン可変アンプ６３は、減算回路６２より供給される信
号に対応して、減算回路４２より供給される信号のゲイ
ンを調整する。即ち、これにより、ゲイン可変アンプ６
３より出力される信号の、図５において、基準点（７，
７）で示される横軸方向の位置が目標振幅になるように
調整される。

【００４３】同様にして、ラッチ回路６４において、ク
ロックＫＢ（図４（Ｉ））のタイミングで減算回路４４
の出力がラッチされる。即ち、このラッチ回路６４に
は、基準ピットＰ５の前端エッジに記録されている基準
位置７に対応するデータがラッチされる。このラッチ回
路６４によりラッチされたデータは、減算回路６５にお
いて目標振幅が減算された後、ゲイン可変アンプ６６に
供給される。ゲイン可変アンプ６６は、減算回路６５よ
り供給される信号に対応して、減算回路４４より供給さ
れる信号のゲインを調整する。これにより、ゲイン可変
アンプ６６より出力される信号の、図５において、基準
点（７，７）で示す縦軸方向の位置が、予め設定した目
標振幅位置になるように調整される。

【００４４】このように、ゲイン調整回路６０により利
得を調整することにより、図５に示す基準点（７，７）
の位置を所定の位置に常に配置することができる。これ
により、光ディスク１に局部的に特性のバラツキがあっ
たような場合においても、データを正確に読み取る（復
号する）ことが可能となる。

【００４５】図６は、ゲイン可変アンプ６３（または６
６）の出力を表している。同図（Ａ）は、減算回路６２
の出力をゲイン可変アンプ６３に供給しない場合のもの
であり、同図（Ｂ）は、供給した場合のものである。減
算回路６２の出力によりゲインを調整した方が、レベル
変動が抑制されていることが判る。

【００４６】このようにＤＣ成分が除去され、ゲインが
調整されたデータは、ラッチ回路３３と３４にそれぞれ
供給される。ラッチ回路３３と３４は、クロックＴＡ
（図４（Ｊ））とＴＢ（図４（Ｋ））が入力されたタイ
ミングにおいて、このデータをラッチし、コントローラ
１５に出力する。即ち、ラッチ回路３３と３４は、ＤＣ
成分が除去され、かつ、利得が調整された教育データを
ラッチし、コントローラ１５に出力することになる。

【００４７】コントローラ１５は、ラッチ回路３３と３
４より入力される教育データを読み取り、その位置デー
タ（Ｍ，Ｎ）を所定のシーケンスに従って復号する。即
ち、教育ピットの教育データ（Ｍ，Ｎ）は、所定のシー
ケンスに従って順次記録されており、そのシーケンスか
ら教育データ（Ｍ，Ｎ）を復号する。そして、この復号
した教育データ（Ｍ，Ｎ）を、ＲＡＭ２３の所定の記憶
点に次のように記憶させる。

【００４８】即ち、ＲＡＭ２３においては、図５に示す
ように、２５６×２５６個の記憶点が、マトリックス状
に配置されている。そして、ゲイン可変アンプ６３より
出力される８ビット（２５６段階）のデータを下位アド
レス（図５における横軸方向のアドレス）とし、ゲイン
可変アンプ６６より出力される８ビット（２５６段階）
のデータを上位アドレス（図５における縦軸方向のアド
レス）として、これらのアドレスにより規定される記憶
点に基準位置データ（Ｍ，Ｎ）を記憶させる。即ち、上
述したように、教育データは６４種類存在するため、２
５６×２５６個の記憶点のうち、所定の６４個の記憶点
が基準点として選択され、そこに６４種類の教育データ
に対応するデータ（Ｍ，Ｎ）がマッピングされる。図５
においては、黒丸印で、この基準点を表している。

【００４９】尚、上述したように、減算回路４２，４４
によりＤＣ成分を除去するようにしているため、基準点
Ｓ（０，０）を通る線がＸ軸またはＹ軸となる。

【００５０】以上のＲＡＭ２３に対する基準点の書き込
み動作は、光ディスク１より教育ピットが再生される
と、その都度行われる。即ち、基準点は、光ディスク１
より再生されるデータに対応して、順次更新されてい
く。

【００５１】一方、コントローラ１５は、基準点以外の
各記憶点が対応する基準点（最も近い基準点）を選択
し、その選択した基準点と同一のデータを、その記憶点
に記憶させる処理を実行する。図７は、この処理の実施
例を表している。

【００５２】最初にステップＳ１において、変数ｉとｋ
が０に初期設定される。次にステップＳ２において、Ｒ
ＡＭ２３の２５６×２５６個の記憶点のうち、スキャン
対象とされる記憶点のＸ軸方向の座標ｐと、Ｙ軸方向の
座標ｑが、次式に従って演算される。次式において、／
は整数除算を意味する。即ち、演算値の商の整数部がｑ
とされる。ｐ＝ｉｍｏｄ２５６ｑ＝（ｉ−ｐ）／２５６

【００５３】即ち、変数ｉは、後述するステップＳ１１
において、１ずつインクリメントされ、６５５３６（＝
２５６×２５６）まで増加するのであるが、この変数ｉ
は、２５６×２５６個の記憶点の、いわば連続したアド
レスとなる。記憶点のＸ軸方向の座標ｐは、この変数ｉ
を２５６で割算したとき得られる余りとされる。即ち、
Ｘ軸方向の座標ｐは、２５６の剰余系とされている。そ
の結果、座標ｐは０から２５５までのいずれかの値を取
ることになる。

【００５４】また、Ｙ軸方向の座標ｑも、０から２５５
までのいずれかの値を取ることになる。

【００５５】いまの場合、変数ｉが０であるため、ｐ＝
０となり、ｑ＝０となる。

【００５６】次にステップＳ３に進み、変数ｋが０であ
るか否かが判定される。この変数ｋは、記憶点をスキャ
ンする初めての処理であるか否かを表すものであり、初
めてのとき、ステップＳ１において０に設定されてい
る。このため、いまの場合、ステップＳ３からステップ
Ｓ４に進み、記憶点のＸ座標ｐが０であるか否かが判定
される。いまの場合、変数ｐが０であるため、ステップ
Ｓ４からステップＳ５に進み、Ｙ座標ｑが０であるか否
かが判定される。いまの場合、変数ｑも０であるため、
ステップＳ５からステップＳ６に進む。

【００５７】ステップＳ６においては、スキャン対象と
されている記憶点Ａ（ｐ，ｑ）（いまの場合、Ａ（０，
０））と、図５において最も下の行の８個の基準点Ｓ
（０，０），Ｓ（１，０），Ｓ（２，０），・・・，Ｓ
（７，０）との距離が演算されるとともに、点Ａ（０，
０）と、図５において最も左側の８個の基準点Ｓ（０，
０）乃至Ｓ（０，７）との距離が演算される。即ち、合
計１５個（＝８×２−１）（Ｓ（０，０）は共通）の距
離が演算される。

【００５８】次にステップＳ１０に進み、ステップＳ６
で演算した１５個の距離のうち、最も短い距離に対応す
る基準点を求め、それをＳ_min（Ｍ，Ｎ）とする。そし
て、記憶点Ａ（０，０）を基準点Ｓ_min（Ｍ，Ｎ）に対
応するものとして、記憶点Ａ（０，０）に基準点Ｓ_min
（Ｍ，Ｎ）と同一の位置データ（Ｍ，Ｎ）を記憶させ
る。また、ＣＰＵ１５Ａ上の一時的な記憶領域にも
（Ｍ，Ｎ）を記憶させる。このように、データ（Ｍ，
Ｎ）が記憶されている記憶点により形成されるＲＡＭ２
３上の領域を、Ｄ（Ｍ，Ｎ）と表す。

【００５９】そしてステップＳ１１に進み、変数ｉを１
だけインクリメントするとともに、変数ｋを１にセット
する。そしてステップＳ１２において、変数ｉが最大値
である６５５３６（＝２５６×２５６）に達したか否か
が判定される。いまの場合、変数ｉは、ステップＳ１１
において０から１にインクリメントされたため、ステッ
プＳ１２からステップＳ２に戻る。

【００６０】そしてステップＳ２においては、記憶点の
Ｘ座標ｐが１となり、Ｙ座標が０となる。ステップＳ３
において、変数ｋが０であるか否かが判定されるが、い
まの場合、ステップＳ１１においてｋ＝１にセットされ
ている（第１回目のスキャンではない）ため、ステップ
Ｓ３からステップＳ８に進む。ステップＳ８において
は、現在スキャンされている記憶点Ａ（ｐ，ｑ）（いま
の場合、Ａ（１，０））の１つ前の記憶点Ａ（ｐ−１，
ｑ）（いまの場合、Ａ（０，０））の領域Ｄ（ｍ，ｎ）
がＣＰＵ１５Ａの一時的な記憶領域から読み込まれる。

【００６１】そしてステップＳ９に進み、現在スキャン
中の記憶点Ａ（ｐ，ｑ）（いまの場合、Ａ（１，０））
と基準点Ｓ（ｒｍｏｄ８，ｓｍｏｄ８）の間
の距離が演算される。ここにおいて、ｒは、ｍ−１、ｍ
またはｍ＋１とされ、ｓは、ｎ−１、ｎまたはｎ＋１と
される。換言すれば、現在スキャン中の記憶点より１つ
前の記憶点が対応する基準点と、その基準点の上下、左
右、または左斜め上方または下方、あるいは右斜め上方
または下方の８個の基準点との距離が演算される。即
ち、現在サーチ中の記憶点より１つ前の記憶点が対応す
る基準点と、これに隣接する８個の基準点の合計９個の
基準点と、現在サーチ中の記憶点との距離が演算され
る。

【００６２】そしてステップＳ１０に進み、ステップＳ
９で演算した９つの距離のうち、最も短い距離の基準点
を基準点Ｓ_min（Ｍ，Ｎ）とし、この基準点に記憶され
ている位置データ（Ｍ，Ｎ）を、現在サーチ中の記憶点
Ａ（ｐ，ｑ）（いまの場合、Ａ（１，０））の対応する
基準点とし、ＲＡＭ２３のこの記憶点Ａ（ｐ，ｑ）、お
よびＣＰＵ１５Ａの一時的記憶領域に、その基準点と同
一のデータ（Ｍ，Ｎ）を記憶させる。

【００６３】次にステップＳ１１に進み、変数ｉを１だ
けインクリメントし、ステップＳ１２から再びステップ
Ｓ２に戻り、同様の処理を繰り返す。

【００６４】図８は、現在サーチ中の点Ａ（ｐ，ｑ）、
既にサーチが行われ、対応する基準点が判明している点
Ａ（ｐ−１，ｑ）、並びに基準点との関係を示してい
る。即ち、この例においては、点Ａ（ｐ−１，ｑ）に基
準点Ｓ（Ｍ，Ｎ）（この実施例の場合、Ｓ（３，３））
が対応している。従って、点Ａ（ｐ−１，ｑ）とＣＰＵ
１５Ａの一時的記憶領域には、位置データ（Ｍ，Ｎ）
（いまの場合、（３，３））が記憶されている。

【００６５】この基準点Ｓ（Ｍ，Ｎ）の上下に隣接する
基準点は、Ｓ（Ｍ，Ｎ＋１）（Ｓ（３，４））と、Ｓ
（Ｍ，Ｎ−１）（Ｓ（３，２））である。また、左右に
は、基準点Ｓ（Ｍ−１，Ｎ）（Ｓ（２，３））とＳ（Ｍ
＋１，Ｎ）（Ｓ（４，３））が隣接している。また、斜
め左上方と下方には、基準点Ｓ（Ｍ−１，Ｎ＋１）（Ｓ
（２，４））とＳ（Ｍ−１，Ｎ−１）（Ｓ（２，２））
が隣接している。さらに、斜め右上方と下方には、基準
点Ｓ（Ｍ＋１，Ｎ＋１）（Ｓ（４，４））と基準点Ｓ
（Ｍ＋１，Ｎ−１）（Ｓ（４，２））が隣接している。

【００６６】現在サーチ中の点Ａ（ｐ，ｑ）が対応する
基準点としては、この９つの基準点のうち、最も距離が
短いものを選択するのである。このようにすれば、従
来、６４個の基準点との距離を演算していたものが、９
個の基準点との距離を演算するだけで済むことになるた
め、演算の回数を９／６４に減少することができる。

【００６７】図９には、記憶点をスキャンする方向が示
されている。同図に示すように、２５６×２５６個の記
憶点は、（０，０）から右方向に水平にスキャンが開始
され、最下行の右端部（２５５，０）に達したとき、１
行上の行の左端部の記憶点（０，１）に戻る。このよう
なスキャンが順次繰り返されて、次第に上の行に移動
し、最も上の行をスキャンして、その右端の記憶点（２
５５，２５５）に達したとき、最初の記憶点（０，０）
に戻る。このようなスキャン動作が順次繰り返される。

【００６８】このようにマトリックス状に配置されてい
る記憶点を、連続的にスキャンするとき、隣接する基準
点を特定するのに、ステップＳ９において説明したよう
に、８の剰余系を用いることで、スキャンする記憶点が
右端から左端に移動したような場合、あるいは右上の点
から左下の点に移動するような場合にも、特別の演算を
施すことなく、連続的に処理を実行することができる。

【００６９】図７の処理において、ステップＳ４で、ス
キャンする記憶点のＸ座標ｐが０でないと判定されたと
き、即ち、左端の記憶点でないとき、ステップＳ４から
ステップＳ８に進み、それ以降の処理が実行される。ま
た、サーチ中の記憶点のＹ座標ｑが０でないと、ステッ
プＳ５において判定されたとき、即ち、最下行以外の行
の左端の記憶点であるとき、ステップＳ５からステップ
Ｓ７に進み、その記憶点Ａ（ｐ，ｑ）（この場合、Ａ
（０，ｑ））と最も左側の８個の基準点Ｓ（０，０）乃
至Ｓ（０，７）との間の距離が演算される。そしてステ
ップＳ１０において、８個の基準点のうち、最も距離の
短い基準点が、対応する基準点として選択される。

【００７０】また、ステップＳ１２で変数ｉが６５５３
６と等しいと判定されたとき、ステップＳ１３に進み、
ｉ＝０にリセットし、ステップＳ２以降の処理を繰り返
す。即ち、スキャン中の記憶点Ａ（ｐ，ｑ）がＡ（２５
５，２５５）に達したとき、Ａ（０，０）に戻り、同様
の動作が繰り返される。

【００７１】このようにして、スキャン中の記憶点Ａ
（ｐ，ｑ）が、左端の点でなければ（ｐ≠０であれ
ば）、周囲の９個の基準点Ｓとの距離が演算され（ステ
ップＳ９）、左端の点であれば（ｐ＝０かつｑ≠０であ
れば）、最も左側の８個の基準点との距離が演算され
（ステップＳ７）、Ａ（０，０）であれば、最も左側と
最も下の１５個の基準点との距離が演算される（ステッ
プＳ６）。いずれの場合も、６４個の基準点との距離を
演算する場合に較べて、演算回数を少なくすることがで
きる。

【００７２】尚、上述したように、基準点（領域）の隣
接状態は、符号間干渉の状態によって大きく変化する。
符号間干渉が所定値以上より大きい場合（歪が大きい場
合）においては、ステップＳ３，Ｓ４，Ｓ５，Ｓ７の経
路の処理を実行させるようにすることもできる。このよ
うにすれば、歪が大きくても、確実にマッピングが可能
となる。

【００７３】図７においては、記憶点を１個ずつずらし
てスキャンを行うようにしたが、複数個置きにスキップ
してスキャンすることも可能である。図１０および図１
１に示すフローチャートは、この場合の処理を示してい
る。ステップＳ２１乃至Ｓ３０の処理は、図７における
ステップＳ１乃至Ｓ１０における処理と基本的に同様で
ある。

【００７４】但し、ステップＳ２８においては、現在サ
ーチ中の記憶点Ａ（ｐ，ｑ）の１個前の記憶点Ａ（ｐ−
１，ｑ）の属する領域を読み込むのではなく、ｔ個前の
記憶点Ａ（ｐ−ｔ，ｑ）の属する領域が読み込まれるよ
うになされている。そして、このｔ個だけ前の記憶点Ａ
（ｐ−ｔ，ｑ）の領域Ｄ（ｍ，ｎ）を基準として、ステ
ップＳ２９において隣接する基準点が選択される。さら
に、ステップＳ３０において、距離の最も短い基準点の
データが、現在サーチ中の記憶点Ａ（ｐ，ｑ）に対応さ
れ、その位置データ（ｍ，ｎ）がそこに記憶される。

【００７５】ステップＳ３０の次にステップＳ３１に進
み、ステップＳ２８において求めたｔ個前の位置データ
（ｍ，ｎ）と、ステップＳ３０で求めたｔ個後の（現
在、サーチ中の）記憶点Ａ（ｐ，ｑ）の位置データ
（Ｍ，Ｎ）が等しいか否かが判定される。両者が等しい
場合、ｔ個前の記憶点Ａ（ｐ−ｔ，ｑ）と現在サーチ中
の記憶点Ａ（ｐ，ｑ）の間の記憶点も、同一の基準点が
対応するものと考えられる。そこで、この場合において
は、ステップＳ３２において、変数ｊにｔ−１をセット
し、ステップＳ３３において、記憶点Ａ（ｐ−ｊ，ｑ）
（記憶点Ａ（ｐ−（ｔ−１），ｑ））の位置データを
（ｍ，ｎ）に設定する。即ち、ｔ−１個だけ前の記憶点
にも同一の位置データを記憶させる。

【００７６】次にステップＳ３４に進み、変数ｊを１だ
けデクリメントし、ステップＳ３５において、変数ｊが
０であるか否かを判定し、０でない場合、ステップＳ３
３に戻り、同様の処理を実行する。即ち、記憶点Ａ（ｐ
−ｔ，ｑ）と記憶点Ａ（ｐ，ｑ）の間のｔ個の記憶点を
順次サーチし、それぞれの位置データとして（ｍ，ｎ）
を記憶させる。

【００７７】一方、ステップＳ３１において、位置デー
タ（ｍ，ｎ）と（Ｍ，Ｎ）とが等しくないと判定された
場合、ｔ個前の記憶点Ａ（ｐ−ｔ，ｑ）と現在サーチ中
の記憶点Ａ（ｐ，ｑ）の間に、同一のデータを記憶する
領域の境界が存在することになる。そこで、この場合に
おいては、ステップＳ３１からステップＳ４１に進み、
変数ｊにｔ−１をセットする。そしてステップＳ４２に
おいて、記憶点Ａ（ｐ−ｊ，ｑ）の１個前の記憶点Ａ
（ｐ−ｊ−１，ｑ）（いまの場合、Ａ（ｐ−ｔ，ｑ））
が対応する基準点Ｓ（ｍ，ｎ）が属する領域Ｄ（ｍ，
ｎ）のデータ（ｍ，ｎ）を、ＣＰＵ１５Ａの一時的記憶
領域から読み込む。次にステップＳ４３において、基準
点Ｓ（ｍ，ｎ）と、その周囲の８個の基準点の合計９個
の基準点と、記憶点Ａ（ｐ−ｊ，ｑ）との距離を演算す
る。

【００７８】そしてステップＳ４４に進み、ステップＳ
４３で求めた距離のうち、最も短い距離に対応する基準
点を求め、この基準点をＳmin（Ｍ，Ｎ）とし、記憶点
Ａ（ｐ−ｊ，ｑ）に対応させる。即ち、この記憶点Ａ
（ｐ−ｊ，ｑ）とＣＰＵ１５Ａの一時的記憶領域に、最
小の距離の基準点に記憶されている位置データ（ｍ，
ｎ）と同一のデータを、データ（Ｍ，Ｎ）として記憶さ
せる。

【００７９】ステップＳ４５において、変数ｊを１だけ
デクリメントし、ステップＳ４６において変数ｊが０と
判定されるまで、ステップＳ４２以降の処理が繰り返し
実行される。即ち、これにより、記憶点Ａ（ｐ−ｔ，
ｑ）から記憶点Ａ（ｐ，ｑ）までのｔ個の各記憶点の対
応する基準点が順次求められ、対応する基準点と同一の
位置データが各記憶点に記憶される。

【００８０】以上の処理が完了した後、ステップＳ３５
またはＳ４６において、変数ｊが０であると判定された
とき、ステップＳ３６に進み、変数ｉがｔだけインクリ
メントされる。インクリメントされた変数ｉが、ステッ
プＳ３７において、６５５３６と等しくないと判定され
たとき、ステップＳ２２に戻り、それ以降の処理が繰り
返し実行される。ステップＳ３７において、変数ｉが６
５５３６に達したと判定されたとき、ステップＳ３８に
進み、変数ｉが０にリセットされ（サーチ中の記憶点が
Ａ（２５５，２５５）に達したとき、記憶点Ａ（０，
０）に戻り）、ステップＳ２２に戻り、それ以降の処理
が繰り返し実行される。

【００８１】図１２は、図１１におけるステップＳ３２
乃至Ｓ３５における処理（図１２（Ａ））と、ステップ
Ｓ４１乃至Ｓ４６における処理（図１２（Ｂ））の違い
を模式的に示している。即ち、図１２（Ａ）に示す場合
においては、記憶点Ａ（ｐ，ｑ）と、そのｔ個前の記憶
点Ａ（ｐ−ｔ，ｑ）が両方とも同一の基準点に対応して
いるため、その間の記憶点には、全て同一の位置データ
（ｍ，ｎ）が記憶される。

【００８２】これに対して、図１２（Ｂ）に示す場合に
おいては、現在サーチ中の記憶点Ａ（ｐ，ｑ）と、ｔ個
前の記憶点Ａ（ｐ−ｔ，ｑ）の対応する基準点が異なる
ため、両者の間の記憶点は、個々に所定の基準点との距
離が演算されて、対応する基準点が求められる。

【００８３】尚、図１０と図１１の処理において、スキ
ップする幅ｔは、これをあまり小さくすると、各記憶点
を１個ずつスキャンする場合（図７の場合）と同様に、
処理時間がそれだけ長くなってしまう。しかしながら、
その値をあまり大きくし過ぎると、２つ以上の領域の境
界を越えてしまい、正確に領域を検出することが困難に
なる。そこで、実験等を予め行うことにより、この変数
ｔを所定の値に設定するようにするのが好ましい。

【００８４】以上の実施例においては、記憶点のスキャ
ンを記憶点Ａ（０，０）から開始するようにしたが、ス
キャンの始点は任意の位置とすることができる。例え
ば、教育データが予め記憶されている基準点の次の記憶
点から開始するようにすれば、その前の記憶点（基準
点）は既に対応する基準点が特定されているため、始点
において特別な距離演算を行う必要がなくなり、より迅
速な処理が可能となる。

【００８５】また、記憶点Ａ（０，０）以外の記憶点を
始点とする場合においては、その始点と６４個の各基準
点との距離を演算するようにすれば、その分だけ基準点
の次の記憶点からスキャンを開始する場合、あるいは、
記憶点Ａ（０，０）を始点とする場合（上述したよう
に、この場合は演算する必要がある基準点の数は１５個
となる）に較べて時間はかかるが、任意の記憶点からス
キャンを開始することが可能となる。

【００８６】尚、本発明は光ディスク以外の記録媒体に
デジタルデータを記録再生する場合にも応用が可能であ
る。

【００８７】

【発明の効果】以上の如く請求項１に記載のデジタルデ
ータ復号方法によれば、既に所定のデータが記憶されて
いる記憶点Ａａと同一のデータが記憶されている基準点
Ｓａ、並びにこの基準点Ｓａに隣接する基準点Ｓｂと、
現在スキャンされている記憶点Ａｂとの距離を演算し、
そのうち最も短い距離の基準点を記憶点Ａｂに対応させ
るようにしたので、演算回数を少なくし、迅速な処理が
可能となる。その結果、より迅速な復号が可能となる。

【００８８】請求項２に記載のデジタルデータ復号方法
によれば、所定の数置きに記憶点をスキャンするように
したので、処理速度をより迅速にすることが可能とな
る。

【００８９】請求項３に記載のデジタルデータ復号方法
によれば、基準点の位置を剰余系を用いて特定するよう
にしたので、基準点の位置がマトリックス状に配置され
ている場合においても、その位置を同一の関数で容易に
特定することが可能となる。

【００９０】請求項４に記載のデジタルデータ復号方法
によれば、記憶点のスキャンを、データが既に記憶され
ている基準点の次の記憶点から開始するようにしたの
で、迅速な処理が可能となる。

【００９１】また、請求項５に記載のデジタルデータ復
号方法によれば、スキャンを開始する記憶点の始点に対
応する基準点は、他の全ての基準点との距離を演算して
求めるようにしたので、いずれの点からもスキャンを開
始することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のデジタルデータ復号方法を応用した光
ディスク装置の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。

【図２】図１のＰＬＬ回路７の構成例を示すブロック図
である。

【図３】図１のバイアス除去回路１０と二次元デコーダ
１１の構成例を示すブロック図である。

【図４】図３の実施例の動作を説明するタイミングチャ
ートである。

【図５】図３のＲＡＭ２３のマッピングを説明する図で
ある。

【図６】図３のゲイン調整回路６０の動作を説明する図
である。

【図７】図３のコントローラ１５の動作を説明するフロ
ーチャートである。

【図８】図７のステップＳ９における処理を説明する図
である。

【図９】図７のフローチャートに示す処理により、ＲＡ
Ｍ２３上の記憶点をスキャンする様子を模式的に表す図
である。

【図１０】図３のコントローラ１５の他の動作例を説明
するフローチャートである。

【図１１】図１０に続くフローチャートである。

【図１２】図１１におけるステップＳ３２乃至Ｓ３５に
おける処理と、ステップＳ４１乃至Ｓ４５における処理
を説明する図である。

【図１３】従来の光ディスクにおける記録フォーマット
を説明する図である。

【図１４】図１３に記録されているデータを再生する原
理を説明する図である。

【図１５】図１３に示すフォーマットで記録されている
データを二次元的に復号する原理を説明する図である。

【図１６】符号間干渉の影響を説明する図である。

【符号の説明】

１光ディスク２スピンドルモータ３ピックアップ４ヘッドアンプ５フォーカストラッキングサーボ回路６ＡＰＣ回路７ＰＬＬ回路８スピンドルサーボ回路９Ａ／Ｄ変換回路１０バイアス除去回路１１二次元デコーダ１２６→８ビット変換回路１３誤り訂正回路１４Ｄ／Ａ変換回路１５コントローラ２３ＲＡＭ３１乃至３４ラッチ回路４１，４３ラッチ回路４２，４４減算回路６３，６６ゲイン可変アンプ１７１サーボエリアパターン判定回路１７２ロック検出回路１７３カウンタ１７４微分回路１７５ゼロクロス検出回路１７７サンプルホールド回路１７８鋸波発生回路１７９フィルタ１８０ＶＣＯ１８１デコーダ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】エッジの位置を記録すべきデジタルデー
タに対応して基準位置からステップ状に変化させた情報
ピットと、前記情報ピットのエッジの取り得る位置を示
すエッジを有する教育ピットとが形成された記録媒体か
ら、前記教育ピットを再生して得られる再生信号のレベ
ルをＡ／Ｄ変換し、前記Ａ／Ｄ変換して得られるデータのうち、前記ピット
の列方向に隣接する前記教育ピットの１対のエッジに対
応するデータにより規定されるメモリの記憶点を基準点
とし、前記基準点に、その教育ピットの１対のエッジの
位置に関するデータを記憶させ、前記基準点以外の前記メモリの前記記憶点に、最も近い
前記基準点に記憶されているデータと同一のデータを記
憶させるとともに、前記情報ピットを再生して得られる再生信号のレベルを
Ａ／Ｄ変換し、前記情報ピットの再生信号のレベルをＡ／Ｄ変換して得
られる信号から規定される前記メモリの記憶点を求め、
そこに記憶されているデータを、その情報ピットのエッ
ジに対応するデータとして復号するデジタルデータ復号
方法において、前記メモリの前記基準点以外の前記記憶点にデータを記
憶させるに際し、前記メモリの前記記憶点を順次スキャンし、現在スキャンされている記憶点Ａｂと、それより前にス
キャンされ、既に所定のデータが記憶されている記憶点
Ａａと同一のデータが記憶されている基準点Ｓａとの距
離、および、スキャンされている前記記憶点Ａｂと、前
記基準点Ｓａに隣接する基準点Ｓｂとの距離、をそれぞ
れ演算し、前記基準点Ｓａ，Ｓｂのうち、前記記憶点Ａｂとの距離
が最も短い基準点を、前記記憶点Ａｂに対応する基準点
とし、その基準点に記憶されているデータと同一のデー
タを、前記記憶点Ａｂに記憶させることを特徴とするデ
ジタルデータ復号方法。
【請求項２】前記記憶点のスキャンは、複数の所定の
数置きに行なわれることを特徴とする請求項１に記載の
デジタルデータ復号方法。
【請求項３】前記メモリの記憶点は、マトリックス状
に配置されており、前記基準点Ｓａ，Ｓｂの位置は、剰
余系を用いて特定されることを特徴とする請求項１また
は２に記載のデジタルデータ復号方法。
【請求項４】前記記憶点のスキャンは、データが既に
記憶されている前記基準点の次の記憶点から開始される
ことを特徴とする請求項１，２または３に記載のデジタ
ルデータ復号方法。
【請求項５】前記記憶点のスキャンが、その前に、デ
ータがまだ記憶されていない前記記憶点から開始される
とき、その記憶点と、他のすべての前記基準点との距離
を演算し、そのうちの距離が最も短い前記基準点を、前記記憶点と
対応する基準点とすることを特徴とする請求項１，２ま
たは３に記載のデジタルデータ復号方法。