JP2000215458A - 光ディスク及び光ディスク再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ピットエッジ多値記録方式を用いた光ディス
クを再生するとき、レベル変動による影響を軽減し、デ
ータ誤りが少なく良好な品質のディジタルデータを再生
する。 【解決手段】 光ディスク１には、ディジタルデータを
担うデータ領域１ａと再生制御に必要な各種情報を担う
基準ピットパターンが形成された基準領域１ｂとが交互
に設けられる。再生レーザ光によるビームスポットＳＰ
は、２つのトラックの中心線をトレースし、データ領域
１ａにおいて４つのピットエッジが同時に読み取られ、
９値のディジタルデータに対応している。基準領域１ｂ
には、同期ピットＰｓ、トラッキングピットＰｔ、クロ
ックピットＰｃ、レベル基準ピットＰｌｖ、チルト基準
ピットＰｔｌが形成され、このうちレベル基準ピットＰ
ｌｖは、所定のパターンに従って変化し、ｍ点やｎ点を
読み取ることによりビタビ復号における予測値を与え、
これにより復号レベルを適正に制御する。そのため、レ
ベル変動や波形歪みの影響が軽減され、良好な品質でデ
ィジタルデータを再生することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ディジタルデータ
が記録された光ディスクに関し、特にピットエッジ多値
記録方式を用いて高密度にディジタルデータが記録され
た光ディスク、及び、該光ディスクからディジタルデー
タを復号して再生する光ディスク再生装置の技術分野に
属する。

【０００２】

【従来の技術】近年、光ディスクにディジタルデータを
高密度に記録再生する方式として、光ディスク上のピッ
トエッジの位置を多段階に変調してディジタルデータを
多値記録するピットエッジ多値記録方式が注目されてい
る。また、パーシャルレスポンスとビタビ復号を組み合
わせたＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihoo
d）方式による再生信号処理技術を上記ピットエッジ多
値記録方式と組み合わせた方式が提案されている（例え
ば、電子情報通信学会磁気記録研究会技術研究報告ＭＲ
９８−３０「ピットエッジ多値記録と２次元ＰＲＭＬ再
生を用いた高密度光ディスクシステムのシミュレーショ
ン」（１９９８年１０月）に開示されている）。

【０００３】このような方式を採用した光ディスクのピ
ット配置の一例を図１５に示す。図１５において、光デ
ィスク１０１には、ディジタルデータを担うピットが形
成されたデータ領域１０１ａと、再生制御に必要な各種
情報を担う基準ピットパターンが形成された基準領域１
０１ｂとの２つの領域が交互に設けられている。

【０００４】データ領域１０１ａには、光ディスク１０
１のトラック上に一定間隔でデータピットＰｄが配置さ
れている。各々のデータピットＰｄには、そのピットエ
ッジの位置を多段階にシフトすることにより、３値のデ
ィジタルデータが記録される。具体的には、図１６に示
すように、（０，１，２）なる３値のディジタルデータ
を記録する場合、「０」ならピット長が短くなる方向に
ピットエッジの位置を一定距離だけシフトし、「１」な
らピットエッジの位置をそのままにし、「２」ならピッ
ト長が長くなる方向にピットエッジの位置を一定距離だ
けシフトする。このようにして、各々のデータピットＰ
ｄには、３値のディジタルデータをピットエッジの位置
情報として記録することができる。なお、図１５では、
３通りのピットエッジの位置を重ねて図示したが、実際
にはピットエッジの位置は３通りのうち何れか１つとな
る。

【０００５】基準領域１０１ｂには、複数トラックにわ
たる基準ピットパターンとして、図１５に示すように、
同期ピットＰｓ、トラッキングピットＰｔ、クロックピ
ットＰｃが形成されている。同期ピットＰｓは、再生時
の同期制御の基準となるピットであり、他のピットより
もピット長が長くなっている。トラッキングピットＰｔ
は、光ディスク１０１に対するトラッキング制御の基準
となるピットであり、３トラック周期でピット位置が所
定距離だけずれて配置されている。クロックピットＰｃ
は、再生時のクロック信号生成の際の基準となるピット
であり、各トラックの同一位置に並んで配置されてい
る。

【０００６】図１５に示す光ディスク１０１を再生する
に際しては、再生レーザ光を照射して形成されるビーム
スポットＳＰが、図１５の破線で示した２トラックの中
心線上をトレースする。従って、例えば図１５のｚ点に
ビームスポットＳＰが達するタイミングで、両隣のトラ
ックにおける前後のピットエッジに対応する合計４個の
ピットエッジを同時に読み取ることができる。

【０００７】図１７は、上述の方式を適用した光ディス
ク再生装置の概略構成を示す図である。図１７におい
て、光ピックアップ１０２から光ディスク１０１に再生
レーザ光が照射され、ビームスポットＳＰからの反射光
が光ピックアップ１０２にて受光され、アナログ再生信
号が出力される。このアナログ再生信号はアンプ１０３
により増幅された後、Ａ／Ｄ変換器１０４によりディジ
タル化されてサンプル値系列として出力される。このサ
ンプル値系列は、ディジタルフィルタ１０５によって所
定の周波数特性が乗じられ波形整形を施された後、ビタ
ビ復号回路１０６により基準レベルと比較され、２乗誤
差を最小とする再生データ系列が復号される。ビタビ復
号回路１０６からは、復号された再生データ系列が後段
の回路に出力される。

【０００８】また、クロック位相検出回路１０９は、デ
ィジタルフィルタ１０５から出力されたサンプル値系列
から上記クロックピットＰｃに対応するサンプル値を抽
出し、これにより再生信号と再生クロックとの位相誤差
を算出して、位相誤差信号として出力する。クロック発
生回路１０８は、再生クロックの周波数を位相誤差信号
に対応して変化させ、Ａ／Ｄ変換器１０４に出力する。
これにより、再生クロックを再生信号に位相同期させる
ことができる。

【０００９】また、トラッキングエラー検出回路１１０
は、ディジタルフィルタ１０５から出力されたサンプル
値系列から上記トラッキングピットＰｔに対応するサン
プル値を抽出し、これにより光ディスク１０１の再生に
伴うトラッキング誤差を算出し、トラッキングエラー信
号として出力する。トラッキングサーボ回路１０７は、
光ピックアップ１０２のディスク半径方向の位置をトラ
ッキングエラー信号に対応して制御する。

【００１０】また、同期検出回路１１１は、ディジタル
フィルタ１０５から出力されたサンプル値系列から上記
同期ピットＰｓに対応するサンプル値を検出し、再生系
の同期をとるための同期検出信号を出力する。タイミン
グ発生回路１１２は、同期検出信号に基づいて発生した
各種のタイミング信号を光ディスク再生装置の各部に供
給する。

【００１１】以上のように構成された光ディスク再生装
置では、上述のように各々（０，１，２）なる３値のデ
ィジタルデ−タを担うピットエッジが４個同時に読み取
られるので、その再生信号は、４個のピットエッジごと
の３値をそれぞれ加算した０〜８の９値レベルが得られ
ることになる。この９値レベルの再生信号に対してＰＲ
ＭＬ方式を適用し、光ディスク１０１に記録されるディ
ジタルデータを復号することができる。そのため、２値
レベルのディジタルデータを記録再生する場合に比べ、
光ディスク１０１の記録密度の向上という点では有利で
ある。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の方式においては、上述のように再生信号が９値レベ
ルに細分化されるので、各レベルの差が小さくなり、正
確にレベル判定を行うことが困難になってデータ誤りが
増加する傾向がある。特に、再生信号の波形が種々の要
因によって歪んでいるときは、このデータ誤りが顕著に
増加する。例えば、光ディスク再生装置や光ディスク自
体の特性変動、サーボエラー、光ディスク面のチルトな
どに起因する波形歪み、あるいは、隣接する２トラック
のピットを同時に読み取ることに伴う光ディスク接線方
向のピット位置のずれやトラックピッチむら等に起因す
る波形歪みが要因となって、データ誤りが増加する。更
に、記録時の記録パワーずれによりピット長が全体に伸
びたり、全体に縮んだりするアシンメトリと呼ばれる現
象に伴う波形歪みが要因となって、データ誤りが増加す
る。このように、上記従来の方式では、再生信号のレベ
ルが細分化された結果、各種の劣化要因によりデータ誤
りが増加しやすく、結果的に光ディスクの再生品質の劣
化を招くという点が問題であった。

【００１３】そこで、本発明はこのような問題に鑑みな
されたものであり、ピットエッジ多値記録方式によりデ
ィジタルデータが記録された光ディスクを再生するに際
し、データ誤りを増加させることなく正確なディジタル
データを再生することができる光ディスク及び光ディス
ク再生装置を提供することを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１に記載の光ディスクは、ピットエッジの位
置を多段階に変化させるピットエッジ多値記録方式によ
りピットが形成された光ディスクであって、ピットエッ
ジ多値記録方式によりディジタルデータを記録したデー
タピットが形成されたデータ領域と、複数の基準ピット
が複数トラックにわたる所定のパターンを形成する基準
領域とが、光ディスクの周方向に交互に設けられると共
に、前記基準ピットには、前記ディジタルデータの復号
における基準レベルを与えるレベル基準ピットが含まれ
ることを特徴とする。

【００１５】この発明によれば、光ディスクにはピット
エッジ多値記録方式が用いられ、データ領域と基準領域
が交互に設けられている。データ領域には、多値のディ
ジタルデータがピットエッジの位置情報として記録さ
れ、基準領域には、データ領域に記録されるディジタル
データを再生する際の動作制御などに用いる複数の基準
ピットが形成されている。そして、基準ピットのうちの
レベル基準ピットが、ディジタルデータを復号するとき
の基準レベルを担う。よって、ディジタルデータを高密
度に光ディスクに記録可能としつつ、多値化に伴ってレ
ベル変動や波形歪みの影響を受けやすくなるのに対応し
て、レベル基準ピットを用いて正確かつ頻繁に基準レベ
ルを制御することで、再生品質を良好に保つことができ
る。

【００１６】請求項２に記載の光ディスク再生装置は、
ピットエッジの位置を多段階に変化させるピットエッジ
多値記録方式によりディジタルデータを記録したデータ
ピットが形成されたデータ領域と、複数の基準ピットが
複数トラックにわたる所定のパターンを形成する基準領
域とが、光ディスクの周方向に交互に設けられると共
に、前記基準ピットには、前記ディジタルデータの復号
における基準レベルを与えるレベル基準ピットが含まれ
る光ディスクからディジタルデータを再生する光ディス
ク再生装置であって、前記データ領域から同時に複数の
トラック上のピットエッジを読み取って再生信号を生成
する読取手段と、前記再生信号から多値のディジタルデ
ータを復号する復号手段とを備え、前記復号手段は、前
記レベル基準ピットが与える基準レベルに基づいて前記
ディジタルデータを復号することを特徴とする。

【００１７】この発明によれば、請求項１に記載の光デ
ィスクを再生するために、読取手段により、データ領域
から同時に複数のトラック上のピットエッジが読み取ら
れ、再生信号が生成される。また、復号手段により、再
生信号から多値のディジタルデータが復号される。この
とき、基準領域からレベル基準ピットが与える基準レベ
ルが検出され、これに基づきディジタルデータの復号が
行われる。よって、高密度にディジタルデータが記録さ
れた光ディスクを再生しながら、復号手段において正確
かつ頻繁に基準レベルを制御することで、多値化に伴う
レベル変動や波形歪みの影響を軽減し、高品質なディジ
タルデータの再生が可能となる。

【００１８】請求項３に記載の光ディスク再生装置は、
請求項２に記載の光ディスク再生装置において、前記復
号手段は、ビタビ復号方式によりディジタルデータを復
号し、前記レベル基準ピットが与える基準レベルをビタ
ビ復号における予測値として用いることを特徴とする。

【００１９】この発明によれば、復号手段はレベル基準
ピットから検出した基準レベルを予測値としてビタビ復
号方式を行う。よって、多値のディジタルデータに好適
なビタビ復号方式を利用しつつ、時々刻々再生信号のレ
ベルが変動するとき、常に予測値を適正に変化させるの
で、復号性能をさらに向上させてディジタルデータを再
生することができる。

【００２０】請求項４に記載の光ディスク再生装置は、
請求項２又は請求項３に記載の光ディスク再生装置にお
いて、前記読取手段は、隣接する２つの記録トラックの
中心線上を再生レーザ光により走査し、ビームスポット
が形成されるディスク半径ラインに位置する４つのピッ
トエッジを同時に読み取って再生信号を生成することを
特徴とする。

【００２１】この発明によれば、読取手段は、再生レー
ザ光により２つの記録トラックの中心線上を走査してビ
ームスポットを形成し、同時に４つのピットエッジを読
み取る。生成された再生信号からは、４つのピットエッ
ジのそれぞれの位置情報に基づく多値のディジタルデー
タが復号される。よって、読取手段におけるレベル変動
や波形歪みの各種要因が多くなるのに対応して、復号レ
ベルの安定化を図り、高品質かつ高密度なディジタルデ
ータの再生が可能となる。

【００２２】請求項５に記載の光ディスク再生装置は、
請求項４に記載の光ディスク再生装置において、前記復
号手段は、前記レベル基準ピットが与える９値の基準レ
ベルを検出し、前記基準レベルに基づいて、それぞれ３
段階に位置が変化する４つのピットエッジに記録された
データを加算した９値のディジタルデータを復号するこ
とを特徴とする。

【００２３】この発明によれば、ピットエッジはそれぞ
れ３段階に位置が変化し、読取手段により４つのピット
エッジが同時に読み取られるので、これらの加算に対応
して９値のディジタルデータが復号手段により復号され
る。一方、復号手段は、レベル基準ピットから９値の基
準レベルを検出し、これらに基づいてディジタルデータ
を復号する。よって、２値に比べて高密度化には好適で
あるが、レベル変動や波形歪みの影響を大きく受けるこ
とへの対策として、復号手段において高精度にレベル制
御を行い、高品質かつ高密度なディジタルデータの再生
が可能となる。

【００２４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を図面に基づいて説明する。

【００２５】図１に本実施形態に係る光ディスクのピッ
ト配置を示す。図１に示す光ディスク１には、ディジタ
ルデータを担うピットが形成されたデータ領域１ａと、
再生制御に必要な各種情報を担う基準ピットパターンが
形成された基準領域１ｂとの２つの領域が交互に設けら
れている。

【００２６】データ領域1ａには、光ディスク１のトラ
ック上に一定間隔でデータピットＰｄが配置されてい
る。各々のデータピットＰｄは、従来方式と同様にピッ
トエッジ多値記録方式に基づいてピットエッジの位置を
多段階にシフトすることにより、図１６に示すように、
（０，１，２）なる３値のディジタルデータが記録され
ている。よって、各々のデータピットＰｄには、３値の
ディジタルデータをピットエッジの位置情報として記録
することができる。

【００２７】基準領域１ｂには、複数トラックにわたる
基準ピットパターンとして、図１に示すように、同期ピ
ットＰｓ、トラッキングピットＰｔ、クロックピットＰ
ｃ、レベル基準ピットＰｌｖ、チルト基準ピットＰｔｌ
が形成されている。このうち、同期ピットＰｓ、トラッ
キングピットＰｔ、クロックピットＰｃの役割は、上述
の従来方式と同様である。本実施形態の場合は、基準領
域１ｂにレベル基準ピットＰｌｖ及びチルト基準ピット
Ｐｔｌを設けた点が従来方式の場合と異なる。

【００２８】このうち、レベル基準ピットＰｌｖは、復
号レベルを制御するための基準値に対応して、所定のパ
ターンに従って変化する。すなわち、アナログ再生信号
のレベル変動や信号波形の歪みの影響で復号レベルが安
定しないと、再生品質が劣化するので、レベル基準ピッ
トＰｌｖに基づいて復号レベルを安定に制御するために
設けられたピットである。個々のレベル基準ピットＰｌ
ｖは、データピットＰｄと同様に３値に変化し得るが、
データピットＰｄのような任意のパターンを有するので
はなく、パターンの変化の仕方は周期性がある。

【００２９】また、チルト基準ピットＰｔｌは、光ディ
スク１のチルトを制御する基準値に対応するもので、２
トラックに１個ずつ設けられる。すなわち、ディスク面
と再生レーザ光の垂直からの傾きによるチルトエラーが
生じると、再生信号の波形が歪むので、チルト基準ピッ
トＰｔｌに基づいてチルトエラーを検出するために設け
られたピットである。

【００３０】なお、データ領域１ａと基準領域１ｂの繰
り返し回数は、１トラック内で適宜に設定することがで
きる。例えば、１トラック内で１００〜１００００回程
度、交互に繰り返すようにすることができる。

【００３１】図１に示す光ディスク１を再生するに際し
ては、図１５の場合と同様、再生レーザ光を照射して形
成されるビームスポットＳＰが、図１に破線で示した２
トラックの中心線上をトレースする。図１においては、
ビームスポットＳＰによるトレースに伴う基準領域１ｂ
における読み取りのポイントを、ａ〜ｎの各点で示して
いる。

【００３２】図２は、本実施形態に係る光ディスク再生
装置の概略構成を示す図である。図２に示す光ディスク
再生装置は、光ディスク１に記録されるディジタルデー
タを再生するために、光ピックアップ１１と、アンプ１
２と、Ａ／Ｄ変換器１３と、ディジタルフィルタ１４
と、ビタビ復号回路１５と、トラッキングサーボ回路１
６と、クロック発生回路１７と、クロック位相検出回路
１８と、レベル検出回路１９と、トラッキングエラー検
出回路２０と、同期検出回路２１と、タイミング発生回
路２２と、液晶チルトサーボ回路２３と、チルト検出回
路２４とを含んで構成される。

【００３３】以上の構成において、光ピックアップ１１
から光ディスク１に再生レーザ光が照射され、ビームス
ポットＳＰからの反射光が光ピックアップ１１にて受光
され、アナログ再生信号が出力される。このアナログ再
生信号はアンプ１２により増幅された後、Ａ／Ｄ変換器
１３によりディジタル化されてサンプル値系列として出
力される。このサンプル値系列は、ディジタルフィルタ
１４によって所定の周波数特性が乗じられ波形整形を施
された後、ビタビ復号回路１５により基準レベルと比較
され、２乗誤差を最小とする再生データ系列が復号され
る。ビタビ復号回路１５からは、復号された再生データ
系列が後段の回路に出力される。

【００３４】また、クロック位相検出回路１８は、ディ
ジタルフィルタ１４から出力されたサンプル値系列から
上記クロックピットＰｃに対応するサンプル値を抽出
し、これにより再生信号と再生クロックとの位相誤差を
算出して、位相誤差信号として出力する。クロック発生
回路１７は、再生クロックの周波数を位相誤差信号に対
応して変化させ、Ａ／Ｄ変換器１３に出力する。これに
より、再生クロックを再生信号に位相同期させることが
できる。

【００３５】また、トラッキングエラー検出回路２０
は、ディジタルフィルタ１４から出力されたサンプル値
系列から上記トラッキングピットＰｔに対応するサンプ
ル値を抽出し、これにより光ディスク１の再生に伴うト
ラッキング誤差を算出し、トラッキングエラー信号とし
て出力する。トラッキングサーボ回路１６は、光ピック
アップ１１のディスク半径方向の位置をトラッキングエ
ラー信号に対応して制御する。

【００３６】また、同期検出回路２１は、ディジタルフ
ィルタ１４から出力されたサンプル値系列から上記同期
ピットＰｓに対応するサンプル値を抽出し、再生系の同
期をとるための同期検出信号を出力する。タイミング発
生回路２２は、同期検出信号に基づいて発生した各種の
タイミング信号を光ディスク再生装置の各部に供給す
る。

【００３７】更に本実施形態では、レベル検出回路１９
がディジタルフィルタ１４からのサンプル値系列を入力
し、上記レベル基準ピットＰｌｖに対応するサンプル値
を抽出し、これによりビタビ復号回路１５に供給すべき
複数の基準レベルを求めて、いったん図示しないメモリ
に記憶保持しておく。なお、複数の基準レベルに対する
ビタビ復号回路１５における処理については後述する。

【００３８】一方、チルト検出回路２４は、ディジタル
フィルタ１４からのサンプル値系列を入力し、上記チル
ト基準ピットＰｔｌに対応するサンプル値を抽出し、こ
れによりラジアルチルト（光ディスク１の半径方向に生
じるチルト）及びタンジェンシャルチルト（光ディスク
１のトラック接線方向に生じるチルト）を求めて、対応
するチルト検出信号を出力する。

【００３９】そして、ディジタルフィルタ１４は、タン
ジェンシャルチルトに対応するチルト検出信号に基づい
てタップ係数を変更し、周波数特性をタンジェンシャル
チルトに適合させて変化させる。また、液晶チルトサー
ボ回路２３は、ラジアルチルトに対応するチルト検出信
号に基づいて、光ピックアップ１１の光路中に挿入され
た液晶パネルに印加する制御電圧を調整し、いわゆる液
晶チルトサーボを行う。すなわち、パターン分割された
液晶パネルの各分割領域の屈折率を制御電圧に応じて可
変することにより、ラジアルチルトによる波面収差を打
ち消すように、液晶パネルを通過するレーザ光を補正す
る。なお、液晶チルトサーボについては、例えば映像情
報メディア学会技術報告Vol.21,No.50,pp1-6,VIR’97-5
1「光ディスク用ヘッドへの液晶の応用」（１９９７年
９月）に開示されている。

【００４０】図３は、本実施形態に係る光ディスク再生
装置におけるアナログ再生信号の波形パターンと、対応
するサンプル値系列のパターンを示す図である。図３に
示すアナログ再生信号及びサンプル値系列は、図１にお
けるビームスポットＳＰが、隣合う２トラックの中心線
上を図１の上から下へトレースを行うと共に、トレース
する中心線は光ディスク１が１回転するごとに図１の左
から右へ移動するときのパターンである。図３のアナロ
グ再生信号の波形パターンでは、ピットの有無により信
号レベルが変動し、ピットにおいては信号レベルが高く
なるものとする。

【００４１】図３に示すように、サンプル値系列のパタ
ーンにおいて、黒点で示されるａ〜ｎを付したサンプル
値は、図１におけるａ〜ｎの各点での信号レベルをサン
プリングした場合に対応している。最初は、図１の破線
で示す中心線の左隣の中心線がビームスポットＳＰによ
りトレースされるので、ｈ点とｉ点のサンプル値が得ら
れる。続いて、図１の破線で示す中心線がビームスポッ
トＳＰによりトレースされ、ａ〜ｇ、ｊ、ｋ、ｍ、ｎの
各点のサンプル値が得られる。なお、以下の説明では、
ａ〜ｎの各点に対応するサンプル値に対しても便宜上ａ
〜ｎとして表している。

【００４２】同期ピットＰｓはピット長が長くなってい
るため、対応するアナログ再生信号の信号レベルは所定
期間だけ高く保たれ、サンプル値も大きくなる。図３の
場合は、ａ点とｂ点を含む３つのサンプル値が連続して
大きな値を示すので、これを同期検出回路２１にて判定
すれば、同期ピットＰｓを検出することができ、これ以
降のサンプル値系列に対する同期の基準となる。

【００４３】トラッキングピットＰｔには、ｃ、ｄ、ｅ
の３点のサンプル値が対応する。トラッキングピットＰ
ｔは３トラックごとに周期的な配置となっている。図３
の場合は、ピット位置が近いｄ点とｅ点の信号レベルは
高く、ピット位置が１トラック分離れているｃ点の信号
は相対的に低くなっている。そこで、トラッキングエラ
ー検出回路２０において、ｃ、ｄ、ｅの３つのサンプル
値を比較することにより、図１の配置に従ってビームス
ポットＳＰのトレースが行われたと判断できる。そし
て、トラッキングエラー信号Ｖｔが、

【００４４】

【数１】Ｖｔ＝ｄ−ｅ を算出して求められる。

【００４５】すなわち、図１の破線で示されるトレース
位置が最適であれば、ｄ＝ｅとなるため算出結果はＶｔ
＝０となるが、実際にはトラッキングのずれに応じてト
ラッキングエラー信号Ｖｔが変動するので、これを利用
してトラッキングサーボを行うものである。

【００４６】クロックピットＰｃには、ｆ点とｇ点のサ
ンプル値が対応する。図１に示すように、クロックピッ
トＰｃの両端にｆ点とｇ点が位置する関係にあり、２点
とも信号レベルが同程度に大きくなっている。そこで、
クロック位相検出回路１８において、ｆ点とｇ点のサン
プル値に基づいて、再生クロックに対する位相誤差信号
Ｖｃが、

【００４７】

【数２】Ｖｃ＝ｆ−ｇ を算出して求められ、これにより正確な再生クロックの
生成を可能としている。

【００４８】レベル基準ピットＰｌｖには、ｍ点とｎ点
のサンプル値が対応する。図１に示すように、ｎ点はレ
ベル基準ピットＰｌｖのピット中央に位置し、ｍ点は２
つのレベル基準ピットＰｌｖの間のランド中央に位置す
る。図１の場合には、ｍ点の周囲にある４個のピットエ
ッジは、左上と右上が「０」、左下が「１」、右下が
「２」に相当し、これらを加算すると０＋０＋１＋２＝
３の信号レベルが得られる。また、ｎ点の周囲にある４
個のピットエッジは、左上と左下が「１」右上と右下が
「２」、に相当し、これらを加算すると１＋２＋１＋２
＝６に対応する信号レベルが得られる。レベル検出回路
１９では、図１の配置に対応して、ランド中央における
上記レベル３のランド基準レベルＶｌ３と、ピット中央
におけるレベル６のピット基準レベルＶｐ６を得て、こ
れをビタビ復号回路１５における予測値として用いる。

【００４９】具体的には、ｍ点でのランド基準レベルＶ
ｌ３は、

【００５０】

【数３】Ｖｌ３＝ｍ で与えられ、ｎ点でのピット基準レベルＶｐ６は、

【００５１】

【数４】Ｖｐ６＝ｎ で与えられる。

【００５２】そして、９値レベル分の各レベル０〜８に
対応する各ランド基準レベル及び各ピット基準レベルの
計１８個のサンプル点を、所定のパターンに従って周期
的にレベル基準ピットＰｌｖの近辺に設定することで、
ビタビ復号回路１５における後述の処理に必要な予測値
が全て得られることになる。

【００５３】チルト基準ピットＰｔｌには、ｈ〜ｋ点の
サンプル値が対応する。図１に示すように、ビームスポ
ットＳＰがトレースする中心線にあるｊ点とｋ点のサン
プル値に加え、既に１つ前にトレースされた中心線ｈ点
とｉ点のサンプル値を用いて処理を行う。

【００５４】ここで、図４は再生レーザ光の光強度分布
（ビームプロファイル）を示す図である。図４（ａ）に
示すように、チルトが発生しない理想的な条件の下で
は、ほぼガウス分布に従った光強度分布となる。一方、
チルトが発生すると、図７（ｂ）に示すように、光強度
分布が波打ってサイドローブが現れる。このサイドロー
ブは、チルトによる傾きの方向とは逆方向で、チルト角
に応じた大きさで発生する。また、サイドローブの発生
する位置は、再生レーザ光の波長と光ピックアップ１１
の対物レンズのＮＡによって一意に決まる。そこで、光
ディスク１の鏡面部にチルト基準ピットＰｔｌを孤立し
た状態で設け、チルト基準ピットＰｔｌの周囲でサイド
ローブが現れる位置に対応するアナログ再生信号に基づ
いて、発生したチルトの方向及びチルト角を検出するこ
とができる。

【００５５】具体的には、タンジェンシャルチルト信号
Ｖｔａｎは、

【００５６】

【数５】Ｖｔａｎ＝（ｈ＋ｊ）−（ｉ＋ｋ） を算出して求めることができる。また、ラジアルチルト
信号Ｖｒａｄは、

【００５７】

【数６】Ｖｒａｄ＝（ｈ＋ｉ）−（ｊ＋ｋ） を算出して求めることができる。

【００５８】次に、レベル基準ピットＰｌｖに基づく複
数の基準レベルを用いたビタビ復号回路１５における処
理について図５を用いて説明する。図５は、ビタビ復号
回路１５の内部構成を示すブロック図である。

【００５９】図５において、入力されたサンプル値系列
をブランチメトリック演算部１５ａにおいて９分岐し
て、それぞれ９つの予測値ｙ０〜ｙ８との差をとって２
乗し、ブランチメトリックλ０〜λ８を得る。すなわ
ち、このブランチメトリックλ０〜λ８は、再生サンプ
ル値と予測値との２乗誤差に相当する。次いで、パスメ
トリック演算部１５ｂにおいて、ブランチメトリックλ
０〜λ８を累積加算してパスメトリックを得る。パスメ
トリックとしては複数の値が得られるが、このうち最小
となるものを選択して、選択信号ｓ０〜ｓ４をパスメモ
リ１５ｃに出力する。パスメモリ１５ｃは、選択信号ｓ
０〜ｓ４に応じて保持するデータ系列を更新し、最終的
に復号データとして出力する。その結果、入力されたサ
ンプル値系列に対し、２乗誤差が最も小さくなるデータ
系列を復号データとすることができる。

【００６０】そして、図５において、処理対象が光ディ
スク１のランド中央のサンプル値である場合は、予測値
ｙ０〜ｙ８として、上述のランド基準レベルＶｌ０〜Ｖ
ｌ８を選択して使用する。一方、処理対象が光ディスク
１のピット中央のサンプル値である場合は、予測値ｙ０
〜ｙ８として、上述のピット基準レベルＶｐ０〜Ｖｐ８
を選択して使用する。通常は交互にピット中央とランド
中央の各基準レベルを用いるので、同期ピットＰｓを時
間基準として１クロックごとにランド基準レベルＶｌ０
〜Ｖｌ８とピット基準レベルＶｐ０〜Ｖｐ８を切り換え
て選択すればよい。

【００６１】以上説明した図３に示すアナログ再生信号
及びサンプル値系列のパターンは、それぞれのピットが
正確な位置に記録され、再生レーザ光のビームスポット
ＳＰによるトレースが正しく行われている場合のもので
ある。これに対し以下の説明では、各種の劣化要因によ
りアナログ再生信号に波形歪みとレベル変動が生じた場
合について、図６〜１２を参照して説明する。なお、図
６〜１２においては、劣化要因により影響を受ける処理
に対応するサンプル値を黒点で示し、簡単のため、それ
以外の他のサンプル値は正常であると仮定して図示し
た。

【００６２】図６は、光ディスク再生装置において、ト
ラッキングエラーを生じる場合のサンプル値系列におけ
るパターンの変化を示す図である。光ディスク１の再生
に際し、トラッキングが正常な場合を図６（ａ）に、ト
ラッキングが左寄りになる場合を図６（ｂ）に、トラッ
キングが右寄りになる場合を図６（ｃ）にそれぞれ示
す。なお、上記左右方向は、図１における方向であるも
のとする。

【００６３】このとき、トラッキングエラー信号Ｖｔ
は、上述の数１により求められるが、図６（ａ）では、
ｄとｅが等しくＶｔ＝０となり、図６（ｂ）では、ｄ＞
ｅとなってＶｔが正となり、図６（ｃ）では、ｄ＜ｅと
なってＶｔが負となるので、数１の算出結果と整合する
ことがわかる。

【００６４】図７は、光ディスク再生装置において、再
生クロックの位相誤差を生じる場合のサンプル値系列に
おけるパターンの変化を示す図である。光ディスク１の
再生に際し、再生クロックが正常な場合を図７（ａ）
に、再生クロックが所定量だけ進む場合を図７（ｂ）
に、再生クロックが所定量だけ遅れる場合を図７（ｃ）
にそれぞれ示す。

【００６５】このとき、再生クロックに対する位相誤差
信号Ｖｃは、上述の数２により求められるが、図７
（ａ）では、ｆとｇが等しくＶｃ＝０となり、図７
（ｂ）では、ｆ＜ｇとなってＶｃが負となり、図７
（ｃ）では、ｆ＞ｇとなってＶｃが正となるので、数２
の算出結果と整合することがわかる。

【００６６】図８は、光ディスク再生装置において、光
ディスク１のタンジェンシャルチルトが発生する場合の
サンプル値系列におけるパターンの変化を示す図であ
る。光ディスク１の再生に際し、タンジェンシャルチル
トが発生しない場合を図８（ａ）に、タンジェンシャル
チルトにより再生レーザの照射方向が上向きに傾く場合
を図８（ｂ）に、タンジェンシャルチルトにより再生レ
ーザの照射方向が下向きに傾く場合を図８（ｃ）にそれ
ぞれ示す。なお、上記上下方向は、図１における方向で
あるものとする。

【００６７】このとき、タンジェンシャルチルト信号Ｖ
ｔａｎは、上述の数５により求められるが、図８（ａ）
では、ｈ、ｉ、ｊ、ｋが等しくＶｔａｎ＝０となり、図
８（ｂ）では、ｈ、ｊに比べｉ、ｋが大きくＶｔａｎが
負になり、図７（ｃ）では、ｈ、ｊに比べｉ、ｋが小さ
くＶｔａｎが正になるので、数５の算出結果と整合する
ことがわかる。

【００６８】図９は、光ディスク再生装置において、光
ディスク１のラジアルチルトが発生する場合のサンプル
値系列におけるパターンの変化を示す図である。光ディ
スク１の再生に際し、ラジアルチルトが発生しない場合
を図９（ａ）に、ラジアルチルトにより再生レーザの照
射方向が左向きに傾く場合を図９（ｂ）に、ラジアルチ
ルトにより再生レーザの照射方向が右向きに傾く場合を
図９（ｃ）にそれぞれ示す。なお、上記左右方向は、図
１における方向であるものとする。

【００６９】このとき、ラジアルチルト信号Ｖｒａｄ
は、上述の数６により求められるが、図９（ａ）では、
ｈ、ｉ、ｊ、ｋが等しくＶｒａｄ＝０となり、図９
（ｂ）では、ｈ、ｉに比べｊ、ｋが大きくＶｒａｄが負
になり、図９（ｃ）では、ｈ、ｉに比べｊ、ｋが小さく
Ｖｒａｄが正となるので、数６の算出結果と整合するこ
とがわかる。

【００７０】次に、図１０乃至図１２は、光ディスク再
生装置において、各種要因で光ディスク１のアナログ再
生信号にレベル変動が生じる場合に対応する図であり、
レベル基準ピットＰｌｖに基づくビタビ復号の際の補正
で対処可能な場合を示している。

【００７１】図１０は、光ディスク１のピット位置がト
ラック接線方向にずれを生じる場合のサンプル値系列に
おけるパターンの変化を示す図である。光ディスク１の
ピット位置が正常な場合を図１０（ａ）に、互いにずれ
ている場合を図１０（ｂ）にそれぞれ示す。

【００７２】このとき、ｍ点でのランド基準レベルＶｌ
３は上述の数３により与えられ、ｎ点でのピット基準レ
ベルＶｐ６は上述の数４により与えられる。図１０
（ａ）では、ｍよりｎが十分大きく、適正なレベル比で
あるのに対し、図１０（ｂ）では、ｍが大きくなる方向
に、ｎが小さくなる方向にそれぞれ変化し、差が縮まっ
ている。従って、数３と数４の算出結果にピット位置の
ずれに起因するレベル変動が反映され、これを予測値と
してビタビ復号回路１５における処理を行うことによ
り、ピット位置のずれによる影響を軽減することができ
る。

【００７３】図１１は、光ディスク１のトラックピッチ
が変動した場合のサンプル値系列におけるパターンの変
化を示す図である。光ディスク１のトラックピッチが正
常な場合を図１１（ａ）に、広くなっている場合を図１
１（ｂ）に、狭くなっている場合を図１１（ｃ）にそれ
ぞれ示す。

【００７４】この場合も、ｍ点でのランド基準レベルＶ
ｌ３は上述の数３により与えられ、ｎ点でのピット基準
レベルＶｐ６は上述の数４により与えられる。ｍとｎの
レベルが適正である図１１（ａ）に対して、図１１
（ｂ）では、ｍとｎが共に小さくなる方向に変化する
が、図１１（ｃ）では、ｍとｎが共に大きくなる方向に
変化する。従って、数３と数４の算出結果にトラックピ
ッチの変動に起因するレベル変動が反映され、これを予
測値としてビタビ復号回路１５における処理を行うこと
により、トラックピッチむらの影響を軽減することがで
きる。

【００７５】図１２は、光ディスク１にアシンメトリが
生じてピット長が変動した場合のサンプル値系列におけ
るパターンの変化を示す図である。光ディスク１のピッ
ト長が正常な場合を図１２（ａ）に、短くなっている場
合を図１２（ｂ）に、長くなっている場合を図１２
（ｃ）にそれぞれ示す。

【００７６】この場合も、ｍ点でのランド基準レベルＶ
ｌ３は上述の数３により与えられ、ｎ点でのピット基準
レベルＶｐ６は上述の数４により与えられる。ｍとｎの
レベルが適正である図１２（ａ）に対して、図１２
（ｂ）では、ｍとｎが共に小さくなる方向に変化する
が、図１２（ｃ）では、ｍとｎが共に大きくなる方向に
変化する。従って、数３と数４の算出結果にピット長の
変動に起因するレベル変動が反映され、これを予測値と
してビタビ復号回路１５における処理を行うことによ
り、アシンメトリの影響を軽減することができる。

【００７７】以上のように、レベル基準ピットＰｌｖに
基づいてアナログ再生信号のレベル変動を検知すること
により、各種要因で生じるレベル変動はビタビ復号回路
１５における基準レベルとしてフィードバックされる。
よって、各種要因で生じるレベル変動を補正する方向に
制御が行われ、これらの要因による影響を軽減すること
ができ、より信頼性の高い再生を行うことができる。

【００７８】（変形例）上記実施形態の変形例として、
基準領域１ｂにおける各基準ピットに対し、複数の機能
を兼用させる例を説明する。図１３は、本変形例に係る
光ディスク１のピット配置を示す図である。

【００７９】図１３に示すように、基準領域１ｂにおけ
る基準ピットパターンとして、同期ピットＰｓ、トラッ
キングピットＰｔ、レベル基準ピットＰｌｖが形成され
ている。すなわち、本変形例では、上述のクロックピッ
トＰｃ及びチルト基準ピットＰｔｌが形成されておら
ず、他の基準ピットにより機能を兼用させている点が図
１の場合と異なっている。なお、図１３において、再生
レーザ光を照射して形成されるビームスポットＳＰが破
線で示す２トラックの中心線上をトレースし、基準領域
１ｂのｍ、ｎ、ｐ〜ｗの各点を読み取りのポイントとす
る。

【００８０】同期ピットＰｓは、クロックピットＰｃの
機能を併せ持っている。図１３における同期ピットＰｓ
の両端にｐ点とｑ点を対応させ、そのピット長は図１の
同期ピットＰｓよりも短いが、図１のクロックピットＰ
ｃよりは長くなっている。そして、同期ピットＰｓの両
端に対応するｐ点とｑ点のサンプル値に基づいて、再生
クロックに対する位相誤差信号Ｖｃは、

【００８１】

【数７】Ｖｃ＝ｐ−ｑ を算出して求められる。

【００８２】また、トラッキングピットＰｔは、チルト
基準ピットＰｔｌの機能を併せ持っている。図１３で
は、トラッキングピットＰｔを３トラックごとに周期的
な配置とすることに加え、読み取りポイントの設定を図
１のチルト基準ピットＰｔｌと同様にしている。これに
より、トラッキングピットＰｔに対応するサンプル値か
ら、タンジェンシャルチルトエラー信号Ｖｔａｎは、

【００８３】

【数８】Ｖｔａｎ＝（ｒ＋ｔ）−（ｓ＋ｕ） を算出して求められる。同様に、ラジアルチルトエラー
信号Ｖｒａｄは、

【００８４】

【数９】Ｖｒａｄ＝（ｒ＋ｓ）−（ｔ＋ｕ） を算出して求められる。

【００８５】一方、トラッキングエラー信号Ｖｔは、 Ｖｔ＝（ｔ＋ｕ）−（ｖ＋ｗ） を算出して求めればよい。

【００８６】なお、図１３において、レベル基準ピット
Ｐｌｖに対応する各基準レベルの算出方法は、上述の数
３、４と同様に行えばよい。

【００８７】以上のように、本変形例によれば、複数の
機能を基準領域１ｂにおける各基準ピットに兼用させる
ことにより、基準領域１ｂを短く構成することができ、
光ディスク１全体の記録容量を向上させることができ
る。

【００８８】次に、上記実施形態の他の変形例として、
光ディスク再生装置において最尤復号方式の一つである
ＦＤＴＳ（Fixed Delay Tree Search）を採用した場合
を説明する。図１４は、本変形例に係る光ディスク再生
装置の概略構成を示す図である。なお、図１４では、図
２と同一の構成要素には、同一の番号を付して説明を省
略する。

【００８９】図１４において、ＡＧＣ（Automatic Gain
Control）回路３１は、基準レベルのｐ−ｐ（Peak To
Peak）値に応じてアナログ再生信号の振幅を制御する。
すなわち、アナログ再生信号に対し、ｐ−ｐ値が大きい
ときはゲインを低くするように制御し、ｐ−ｐ値が小さ
いときはゲインを高くするように制御する。これによ
り、アナログ再生信号の信号レベルが一定に保たれる非
線形回路３２は、レベル検出回路１９で求められた複数
の基準レベルに基づいて、レベル分布の非線形特性を検
出した上で、これを補正する。すなわち、非線型回路３
２では、複数の基準レベルの分布から非線形特性を判別
し、ディジタルフィルタ１４から出力されたサンプル値
系列に、判別された非線型特性の逆特性を与えて非線形
特性をキャンセルする。具体的には、メモリを用いたル
ックアップテーブルを用いて非線型回路３２を構成でき
る。

【００９０】直流除去回路３３は、レベル検出回路１９
で求められた複数の基準レベルに対し、その中心値を判
別して補正レベルとし、これにより上記サンプル値系列
の中心レベルを制御する。すなわち、直流除去回路３３
では、サンプル値系列の直流オフセットを取り除くため
に、サンプル値系列の中心値が大きいときは補正レベル
を減算し、サンプル値系列の中心値が小さいときは補正
レベルを加算して、サンプル値系列の中心レベルが一定
に保たれるよう制御する。

【００９１】ＦＤＴＳ復号回路３４は、再生信号と複数
の基準レベルとの２乗誤差を計算し、この２乗誤差を２
〜６クロック程度の一定期間にわたって累積加算し、こ
の加算値を最小にするような復号データを選択する。以
上の動作を１クロックごとに反復して行うことにより、
再生データ系列が復号される。

【００９２】また、図１４の構成では、チルト検出回路
２４からは、ラジアルチルトとタンジェンシャルチルト
の両方に対応するチルト検出信号が液晶チルトサーボ回
路２３に対して供給される。すなわち、図１の構成で
は、ラジアルチルトのみを液晶チルトサーボ回路２３に
より補正する構成としたが、本変形例では、ラジアルチ
ルトとタンジェンシャルチルトの両方を液晶チルトサー
ボ回路２３により補正する構成になっている。この場
合、光ピックアップ１１には、２枚の液晶パネルを直交
配置して、一方でラジアルチルトを補正し、他方でタン
ジェンシャルチルトを補正すればよい。この点は前掲の
文献「光ディスク用ヘッドへの液晶の応用」にも開示さ
れている。

【００９３】なお、以上説明した実施形態では、同期ピ
ットＰｓ、トラッキングピットＰｔ、クロックピットＰ
ｃと、レベル基準ピットＰｌｖ及びチルト基準ピットＰ
ｔｌは、何れも基準領域１ｂ内に連続して設けている。
しかし、同期ピットＰｓ、トラッキングピットＰｔ、ク
ロックピットＰｃは主にサーボを目的とするのに対し、
レベル基準ピットＰｌｖとチルト基準ピットＰｔｌは主
に波形整形を目的とするので、これら２つのピット群に
分けて、両者をデータ領域１ａを挟んで離れた配置にし
てもよい。また、サーボ用、波形整形用の各ピット群は
出現頻度が異なるように光ディスク１に形成してもよ
い。例えば、サーボ用のピット群は、１トラック内に１
０００個設ける一方、波形補正用のピット群は、１トラ
ック内に１００個設けるという構成であってもよい。

【００９４】また、上述の実施形態では、ピットエッジ
多値記録方式を用いて、それぞれのピットエッジを３段
階にシフトさせ、３値のディジタルデータを記録する場
合について説明したが、これに限られず、２値あるいは
４値以上のディジタルデータを記録するピットエッジ記
録方式に対しても、本発明の適用が可能である。

【００９５】また、上述の実施形態では、再生レーザ光
を照射して同時に２トラック、２半径ライン上に位置す
る４個のピットエッジを同時に読み取る方式について説
明したが、これに限られず、種々の読み取り方法に対し
て本発明の適用が可能である。例えば、２トラック、１
半径ライン上に位置する２個のピットエッジを同時に読
み取ったり、３トラック、１半径ライン上に位置する３
個のピットエッジを読み取ったり、更には、２トラッ
ク、３半径ライン上に位置する６個のピットエッジを読
み取る方式に採用してもよい。更には、１トラック上の
複数のピットエッジを同時に読み取る方法であっても、
本発明の適用が可能である。

【００９６】また、上述の実施形態では、液晶チルトサ
ーボ回路２３によって光ピックアップ１１の光路中に挿
入された液晶パネルの制御電圧を調整してラジアルチル
トの補正を行う場合について説明したが、一般にラジア
ルチルトは緩やかに変動するので、チルトモータと呼ば
れる光ピックアップ１１を傾けるためのモータを用い
て、機械的にラジアルチルトを補正してもよい。

【００９７】また、上述の実施形態では、凹凸形状のピ
ットを形成してディジタルデータを記録する再生専用型
の光ディスク１を用いる場合について説明したが、これ
以外にも、光磁気ディスク、相変化ディスクのような書
き換え型の光ディスクを用いる場合であっても、本発明
の適用が可能である。例えば、超解像膜を用いて記録レ
ーザ光のピームスポットを微小化して微小ピットを記録
し、再生レーザ光で複数トラック上の微小ピットを同時
に読み取るようにしてもよい。

【００９８】

【発明の効果】請求項１に記載の発明によれば、ピット
エッジ多値記録方式を用いた光ディスクの基準領域に、
レベル基準ピットを設けて多値のディジタルデータを復
号するときの基準レベルを担わせたので、ディジタルデ
ータの再生に際し、レベル変動や波形歪みがある場合で
も、正確かつ頻繁にレベルが制御されて、良好に再生品
質を保つことができる光ディスクが提供できる。

【００９９】請求項２に記載の発明によれば、ピットエ
ッジ多値記録方式によりディジタルデータが記録された
光ディスクを再生する際、基準領域のレベル基準ピット
が与える基準レベルを検出して復号動作を制御するよう
にしたので、レベル変動や波形歪みの影響を軽減し、デ
ィジタルデータを良好な品質で再生することができる。

【０１００】請求項３に記載の発明によれば、ビタビ復
号方式を採用し、レベル基準ピットが与える基準レベル
を予測値としてビタビ復号を行うようにしたので、レベ
ル変動に追従して予測値を適正に変化させ、良好な復号
性能でディジタルデータを再生することができる。

【０１０１】請求項５に記載の発明によれば、レベル基
準ピットから検出された９値の基準レベルに基づいて、
３段階に位置が変化する４つのピットエッジを同時に読
み取って９値のディジタルデータを復号するようにした
ので、復号レベルが９値に細分化され、レベル変動や波
形歪みの影響が大きくなる場合であっても、高品質かつ
高密度にディジタルデータを再生することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態に係る光ディスクのピット配
置を説明する図である。

【図２】本発明の実施形態に係る光ディスク再生装置の
概略構成を示すブロック図である。

【図３】本発明の実施形態に係る光ディスク再生装置に
おけるアナログ再生信号の波形パターンと対応するサン
プル値系列のパターンを示す図である。

【図４】再生レーザ光のビームプロファイルを示す図で
あり、（ａ）はチルトが発生しない場合、（ｂ）はチル
トが発生した場合の図である。

【図５】本実施形態に係る光ディスク再生装置のビタビ
復号回路の内部構成を示すブロック図である。

【図６】本実施形態に係る光ディスク再生装置におい
て、トラッキングエラーを生じる場合のサンプル値系列
におけるパターンの変化を示す図である。

【図７】本実施形態に係る光ディスク再生装置におい
て、再生クロックの位相誤差を生じる場合のサンプル値
系列におけるパターンの変化を示す図である。

【図８】本実施形態に係る光ディスク再生装置におい
て、光ディスクのタンジェンシャルチルトを生じる場合
のサンプル値系列におけるパターンの変化を示す図であ
る。

【図９】本実施形態に係る光ディスク再生装置におい
て、光ディスクのラジアルチルトを生じる場合のサンプ
ル値系列におけるパターンの変化を示す図である。

【図１０】本実施形態に係る光ディスク再生装置におい
て、光ディスクのピット位置がトラック接線方向にずれ
る場合のサンプル値系列におけるパターンの変化を示す
図である。

【図１１】本実施形態に係る光ディスク再生装置におい
て、光ディスクのトラックピッチが変動した場合のサン
プル値系列におけるパターンの変化を示す図である。

【図１２】本実施形態に係る光ディスク再生装置におい
て、光ディスクのアシンメトリによってピット長が変動
した場合のサンプル値系列におけるパターンの変化を示
す図である。

【図１３】本実施形態の変形例において、光ディスクの
ピット配置を説明する図である。

【図１４】本実施形態の他の変形例において、ＦＤＴＳ
を採用した場合の光ディスク再生装置の概略構成を説明
するブロック図である。

【図１５】従来のピットエッジ多値記録方式を用いた光
ディスクのピット配置を説明する図である。

【図１６】ピットエッジ多値記録方式における３値のピ
ットエッジの位置の変化を説明する図である。

【図１７】従来の光ディスク再生装置の概略構成を示す
ブロック図である。

【符号の説明】

１…光ディスク １ａ…データ領域 １ｂ…基準領域 １１…光ピックアップ １２…アンプ １３…Ａ／Ｄ変換器 １４…ディジタルフィルタ １５…ビタビ復号回路 １６…トラッキングサーボ回路 １７…クロック発生回路 １８…クロック位相検出回路 １９…レベル検出回路 ２０…トラッキングエラー検出回路 ２１…同期検出回路 ２２…タイミング発生回路 ２３…液晶チルトサーボ回路 ２４…チルト検出回路 ３１…ＡＧＣ回路 ３２…非線型回路 ３３…直流除去回路 ３４…ＦＤＴＳ復号回路

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ピットエッジの位置を多段階に変化させ
   るピットエッジ多値記録方式によりピットが形成された
   光ディスクであって、 ピットエッジ多値記録方式によりディジタルデータを記
   録したデータピットが形成されたデータ領域と、複数の
   基準ピットが複数トラックにわたる所定のパターンを形
   成する基準領域とが、光ディスクの周方向に交互に設け
   られると共に、前記基準ピットには、前記ディジタルデ
   ータの復号における基準レベルを与えるレベル基準ピッ
   トが含まれることを特徴とする光ディスク。
2. 【請求項２】 ピットエッジの位置を多段階に変化させ
   るピットエッジ多値記録方式によりディジタルデータを
   記録したデータピットが形成されたデータ領域と、複数
   の基準ピットが複数トラックにわたる所定のパターンを
   形成する基準領域とが、光ディスクの周方向に交互に設
   けられると共に、前記基準ピットには、前記ディジタル
   データの復号における基準レベルを与えるレベル基準ピ
   ットが含まれる光ディスクからディジタルデータを再生
   する光ディスク再生装置であって、 前記データ領域から同時に複数のトラック上のピットエ
   ッジを読み取って再生信号を生成する読取手段と、 前記再生信号から多値のディジタルデータを復号する復
   号手段とを備え、 前記復号手段は、前記レベル基準ピットが与える基準レ
   ベルに基づいて前記ディジタルデータを復号することを
   特徴とする光ディスク再生装置。
3. 【請求項３】 前記復号手段は、ビタビ復号方式により
   ディジタルデータを復号し、前記レベル基準ピットが与
   える基準レベルをビタビ復号における予測値として用い
   ることを特徴とする請求項２に記載の光ディスク再生装
   置。
4. 【請求項４】 前記読取手段は、隣接する２つの記録ト
   ラックの中心線上を再生レーザ光により走査し、ビーム
   スポットが形成されるディスク半径ラインに位置する４
   つのピットエッジを同時に読み取って再生信号を生成す
   ることを特徴とする請求項２又は請求項３に記載の光デ
   ィスク再生装置。
5. 【請求項５】 前記復号手段は、前記レベル基準ピット
   が与える９値の基準レベルを検出し、前記基準レベルに
   基づいて、それぞれ３段階に位置が変化する４つのピッ
   トエッジに記録されたデータを加算した９値のディジタ
   ルデータを復号する請求項４に記載の光ディスク再生装
   置。