JP2001357531A - 光ディスク装置 - Google Patents

光ディスク装置

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JP2001357531A
JP2001357531A JP2000177669A JP2000177669A JP2001357531A JP 2001357531 A JP2001357531 A JP 2001357531A JP 2000177669 A JP2000177669 A JP 2000177669A JP 2000177669 A JP2000177669 A JP 2000177669A JP 2001357531 A JP2001357531 A JP 2001357531A
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jitter
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optical disk
light spot
adjusting
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JP2000177669A
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Akihiro Hatsusegawa
明広 初瀬川
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスクの情報を安定かつ忠実に再生する
光ディスク装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 光スポット位置制御ループ13で光スポ
ットを目標位置に追従させることにより情報検出ブロッ
ク27から出力される2値化再生信号とPLL18の同
期信号を用いてジッタ検出手段24でジッタ、アシンメ
トリ検出手段25でアシンメトリを検出して、評価式最
小調整手段31によってジッタとアシンメトリの評価式
が最小となるように調整を行う。この調整は光ディスク
1の2点以上で行い、調整結果から光スポットの移動位
置に応じた補間値を生成し、光スポットの移動に応じて
制御位置設定手段11、ブースト設定手段20、スライ
スレベル設定手段21に設定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、再生信号のジッタ
を最小に調整して光ディスクの情報を安定かつ忠実に再
生する光ディスク装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光ディスク装置における再生信号のジッ
タを最小にする調整は、高密度記録ディスクであるDV
Dのシステムで使用されており、再生信号の品質を改善
する技術としてきわめて有用である。
【0003】図11は従来の光ディスク装置を示す。こ
の装置は大きく3つのブロックで構成されている。13
は光スポット位置制御ループ、27は情報検出ブロッ
ク、28はジッタ最小調整ブロックである。これらのブ
ロックについて順に説明する。
【0004】光スポット位置制御ループ13は、対物レ
ンズ3と駆動装置4と光検出器5とで構成された光ヘッ
ド6と、誤差信号検出手段7、光スポット位置制御手段
9、光ヘッド移動装置10で構成されている。
【0005】スピンドルモータ2に装着され回転してい
る光ディスク1に対して光ヘッド6の半導体レーザ(図
示せず)から出射された光は、光学系を通過して対物レ
ンズ3で集光され、光スポットとして光ディスク1の目
標位置に照射される。光ディスク1で反射した戻り光
は、対物レンズ3と光学系を通過して光検出器5に投影
される。光検出器5はこの戻り光を電気信号に変換す
る。
【0006】誤差信号検出手段7は、その電気信号から
目標位置に対する光スポット位置の誤差信号を生成す
る。この誤差信号に対して光スポット位置制御手段9は
位相補償などを行い、誤差信号が0となるように駆動信
号を生成する。
【0007】駆動装置4は、この駆動信号にもとづいて
対物レンズ3を駆動する。また光スポット位置制御手段
9は、対物レンズ3の動作範囲を確保するように光ヘッ
ド6を移動させる駆動信号を光ヘッド移動装置10に出
力する。
【0008】光スポット位置制御ループ13は、このよ
うにして光スポットを目標位置に追従させる。この光ス
ポットを光ディスク1の目標位置に移動させるには、C
PU23が光スポット位置制御手段9に移動命令を送
る。光スポット位置制御手段9は、光スポットが目標位
置に達するまで光ヘッド6を移動させる駆動信号を光ヘ
ッド移動装置10に出力する。11は制御位置設定手段
で、光スポットが追従する制御の目標位置を設定するこ
とができる。
【0009】次に情報検出ブロック27について説明す
る。このブロックは、再生信号生成手段14と、AGC
15と、イコライザ16と、2値化手段17と、PLL
18、および復調手段12とで構成されている。
【0010】光スポット位置制御ループ13で光スポッ
トを目標位置に制御すると、再生信号生成手段14は、
光ディスク1に記録されている情報(マーク)の再生信
号を生成する。この再生信号に対してAGC15は、戻
り光量の変動に応じた振幅補正を行ない、イコライザ1
6は周波数帯域を確保し、符号間干渉などにより低下し
た高帯域の振幅を増幅する。
【0011】2値化手段17は、このように補正された
再生信号に対して2値化を行ない、2値化再生信号を生
成する。PLL18は2値化再生信号の基本周期に同期
した信号を生成する。復調手段12はこの同期信号を用
いて2値化再生信号を“0”と“1”の系列として識別
し、さらに復調して再生データを生成する。
【0012】20はブースト設定手段で、その設定値は
高帯域再生信号の振幅増幅率を設定することができる。
21はスライスレベル設定手段で、その設定値は2値化
再生信号のデューティを変更することができる。
【0013】ここで、まずジッタについて説明する。ジ
ッタは再生信号の基本単位(DVDなら3Tから14
T)の間隔のゆらぎである。このゆらぎの発生が増大す
ると、識別が悪化して光ディスク1の情報が読めなくな
る。このようなジッタは、情報記録形態のマークの歪
(長さずれ)やピットの形状差などの光ディスク1の要
因と、対物レンズの厚み誤差や光軸ずれなどによって発
生する光スポットの収差、隣接トラックからの反射回折
光によるクロストークなどの光ディスク装置の要因によ
り発生する。光ディスク1と光ディスク装置には個体差
があるため、ジッタにも個体差が発生する。これらのジ
ッタに対して、最小となるように調整するブロックがジ
ッタ最小調整ブロック28である。
【0014】ジッタ最小調整ブロック28は、ジッタ検
出手段24と、測定クロック生成手段22と、ジッタ最
小調整手段19とで構成されている。測定クロック生成
手段22は、同期信号からさらに高い周波数のクロック
を生成する。ジッタ検出手段24はこのクロックを用い
て2値化再生信号と同期信号のずれの測定を行い、ジッ
タとして出力する。このジッタを改善できるパラメータ
(以下、調整パラメータと称す)は、制御位置設定手段
11およびブースト設定手段20およびスライスレベル
設定手段21に設定する制御位置、ブースト、スライス
レベルである。
【0015】ジッタ最小調整手段19は、切替手段8で
調整パラメータを選択し、ジッタ検出手段24で検出し
たジッタが最小となるように調整(以下、ジッタ最小調
整と称す)を行う。さらに、調整した結果を調整パラメ
ータごとに制御位置設定手段11、ブースト設定手段2
0、スライスレベル設定手段21に格納する。
【0016】ジッタ最小調整の調整方法について、図面
を参照しながらさらに詳しく説明する。図12(a)は
調整パラメータに対するジッタ特性を示す。上記のよう
に光スポット位置制御ループ13で光スポットを制御
し、情報検出ブロック27で再生データを生成している
状態において、調整パラメータを変化させると図12
(a)の実線で示すジッタ特性が得られる。(A)は調
整していない調整パラメータの初期値によって発生する
ジッタの値である。(B)はこの特性の最小値、すなわ
ちジッタの最小値である。(C)はジッタの値が(B)
となる調整パラメータである。ジッタ最小調整は(A)
が(B)になるように調整を行う。
【0017】図12(a)に破線で示されるように光デ
ィスク1および光ディスク装置の個体差によって発生す
るジッタ特性に対しても、ジッタが最小(D)になるよ
うに調整を行う。
【0018】図12(b)はジッタ最小調整の調整方法
を示す図である。この図面を参照しながら説明する。調
整パラメータの初期値d0によって発生するジッタの測
定結果をj0とする。このd0に対して所定のステップ
幅sで減算した調整パラメータd1を設定する。このと
きジッタの測定結果はj1である。本調整では、まず調
整パラメータの探索方向を決定する。
【0019】具体的には、j0とj1を比較する。図1
2(b)ではj0>j1であるから、ジッタが減少する
探索方向としてステップ幅sの減算を選択する。以降、
ジッタが減少し続ける間、d2,d3のようにステップ
幅sで減算した調整パラメータを設定する。そしてジッ
タが増加(j3<j4)したら、ジッタが増加する前の
調整パラメータd3を再設定して調整を終了する。この
ようにしてジッタを最小に調整する。
【0020】なお、このジッタ最小調整では、ステップ
幅sを小さくして調整することが好ましい。しかしなが
らステップ幅sを極端に小さくすると、ジッタが最小に
なるまでの調整パラメータの設定とジッタ測定の回数が
増え、調整時間が増大してしまう。
【0021】図12(c)は光ディスク装置の調整フロ
ーチャートを示す。この図面を参照しながら調整パラメ
ータの調整手順を説明する。ジッタを最小にする調整ス
テップは、スライスレベル調整41、ブースト調整4
2、制御位置調整43の順に行われる。
【0022】スライスレベル調整41は、スライスレベ
ルに対してジッタ最小調整を行う。同様にブースト調整
42は、ブースト対して、制御位置調整43は制御位置
に対して調整を行う。
【0023】このように、それぞれの調整パラメータに
対してジッタを最小に調整することにより、光ディスク
1の情報を安定かつ忠実に読み出すことができる。
【0024】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような光ディスク装置では、光学系の調整誤差を有する
光ヘッドや反射率の低い光ディスクに対してジッタ特性
が急峻にならない。ジッタ特性が水平に近いと、ジッタ
最小調整の測定誤差により、調整が途中で終了してしま
う。
【0025】従来では、図13に示すようにデータが再
生できる限界(ジッタ許容値)以下となる調整パラメー
タの範囲(ジッタ許容範囲)aが十分広く、またジッタ
許容値からのジッタマージンcにも余裕があったため、
光ディスクの情報を読み出すことができた。しかし、高
速再生または高密度化により再生信号が高帯域になると
範囲bに示すようにジッタの許容範囲は狭くなり、ジッ
タマージンdも減少する。そのため調整がジッタの水平
部で終了すると、光ディスクの情報が安定的に読み出せ
なくなる。
【0026】また、書き込み可能な光ディスク装置での
連続的な記録では、光ディスクに熱が蓄積して記録マー
クに歪が発生する。さらに、記録がされていたマーク上
に直接記録するオーバーライトや記録時の隣接トラック
への影響(クロス消去)によってもマークに歪が発生す
る。これらの歪には、図14(a)に示す理想的に記録
されたマークに対して、図14(b)に示すようにマー
クの長さずれgやマーク形状の不均一jなどがある。
【0027】このような歪を有する光ディスクを再生す
るときには、正しく記録されたマークにおけるジッタと
は異なるジッタが発生する。このジッタに対してジッタ
最小調整を行うと、異なる光ディスク装置の記録や部分
的なオーバーライトより形成された多様なマークの歪が
混在する光ディスクでは、情報が読み出せない部分が発
生する。マークの歪が極端な場合、そのジッタに対して
調整を行うと、正しく記録されている部分さえ読み出せ
なくなる。
【0028】また、光ディスク1の反りなどによる光デ
ィスクの傾き(チルト)は、最外周が最大となり、DV
DのCAV(Constant Angular Velocity)再生方式
における最外周近傍の再生信号の周波数は、内周に比べ
て約2.5倍高い。従って、ジッタ許容範囲は、図15
(a)に示すように最外周が最も狭くなる。しかし、従
来では最内周と最外周のジッタ許容範囲を満たす部分k
があり、最内周におけるジッタ最小調整の結果mで最外
周のジッタ許容範囲を満たしていたnため、光ディスク
全面の情報を読み出すことが可能であった。ところが、
高倍速化や高密度化により再生信号がさらに高帯域化し
たことにより、図15(b)に示すように、最内周と最
外周のジッタ許容範囲を満たす調整パラメータが存在し
なくなり、内周近傍のジッタ最小調整の結果では光ディ
スクの最外周が読めなくなるという課題が発生した。
【0029】本発明は、かかる事情を鑑みてなされたも
のであり、光ディスクの情報を安定かつ忠実に再生する
光ディスク装置を提供することを目的とする。
【0030】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1記載の
光ディスク装置は、情報担体に光ビームを照射して収束
させた光スポットの位置を制御し、光ビームの反射光か
らデータを再生する光ディスク装置であって、前記デー
タを再生する際に発生するジッタを検出するジッタ検出
手段と、前記ジッタ検出手段によって検出されたジッタ
が小さくなるように調整するジッタ調整手段と、前記調
整中に前記ジッタの変化が所定の範囲以下であれば前記
ジッタを検出するクロックの周波数を高くする測定クロ
ック生成手段とを備え、高い周波数のクロックで検出し
たジッタが小さくなるように調整することを特徴とす
る。
【0031】この構成によると、ジッタ特性において最
小値近傍の水平識別を行ない、ジッタ特性が水平のとき
にはジッタを検出するクロックを高い周波数に切替える
ので、高い分解能でジッタを測定することができる。こ
れにより、急峻なジッタ特性を得ることができ、ジッタ
を最小に調整できる。
【0032】本発明の請求項2記載の光ディスク装置
は、情報担体に光ビームを照射して収束させた光スポッ
トの位置を制御し、光ビームの反射光からデータを再生
する光ディスク装置であって、前記データを再生する際
に発生するジッタを検出するジッタ検出手段と、前記デ
ータを再生する際に発生するアシンメトリを検出するア
シンメトリ検出手段と、調整の基準となる尺度を前記ジ
ッタと前記アシンメトリの評価式として生成する評価式
生成手段と、前記評価式を小さくするように調整する評
価式調整手段とを有することを特徴とする。
【0033】この構成によると、マークの歪をアシンメ
トリとして検出して、ジッタとアシンメトリから成る評
価式を調整に用いることができるので、マークの歪の影
響を含むジッタ特性ではなく、その影響を軽減したジッ
タ特性に対して調整を行うことができる。さらに、評価
式の係数を変えることによってアシンメトリを最小にす
る調整が可能である。
【0034】本発明の請求項3記載の光ディスク装置
は、請求項2において、上記評価式の調整中に前記ジッ
タの変化が所定の範囲以下であれば前記ジッタを検出す
るクロックの周波数を高くする測定クロック生成手段を
備え、前記評価式生成手段は高い周波数のクロックで検
出したジッタと上記アシンメトリで生成された評価式を
小さくするように調整することを特徴とする。
【0035】この構成によると、ジッタ特性が水平でか
つ多様なマークの歪を有する高密度化光ディスクの高倍
速再生に対しても、ジッタあるいは評価式を最小にする
調整が可能である。
【0036】本発明の請求項4記載の光ディスク装置
は、請求項1〜請求項3において、情報担体に光ビーム
を照射して収束させた光スポットの位置を制御し、光ビ
ームの反射光からデータを再生する光ディスク装置であ
って、情報担体の2点以上で前記ジッタが小さくなるよ
うに調整する調整手段と、前記調整手段による調整パラ
メータの結果を保存する調整結果保存手段と、前記調整
パラメータの結果の差異が所定の値より大きい調整パラ
メータを選択する設定値選択手段と、光スポットが移動
するときに選択した前記調整パラメータの前記調整結果
を設定する調整結果設定手段とを有することを特徴とす
る。
【0037】この構成によると、光ディスクの最内周近
傍と最外周近傍2点以上で調整を行い、調整結果の差異
が大きいパラメータを選択し、光スポットが移動する位
置に応じてその調整結果を設定する。これにより、簡易
的なシステムで光ディスク全面のジッタ許容範囲を確保
することができる。
【0038】本発明の請求項5記載の光ディスク装置
は、請求項1〜請求項3において、情報担体に光ビーム
を照射して収束させた光スポットの位置を制御し、光ビ
ームの反射光からデータを再生する光ディスク装置であ
って、情報担体の2点以上で前記ジッタが小さくなるよ
うに調整する調整手段と、前記調整手段による調整パラ
メータの結果を保存する調整結果保存手段と、光スポッ
トが移動するときに前記調整結果に基づいて光スポット
の移動位置の補間値を生成する補間値生成手段と、光ス
ポットが移動するときに前記補間値を設定する調整結果
設定手段とを有することを特徴とする。
【0039】この構成によると、光ディスクの最内周近
傍と最外周近傍2点以上で調整を行い、調整結果から光
スポットが移動する位置に応じて補間値を演算して、設
定を行う。この発明では、光スポットの移動ごとに補間
値の演算を行なう必要があるが、光ディスク全面や部分
的なそりに対してジッタ許容範囲を十分に確保できる。
【0040】
【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施の形態を図
1〜図10に基づいて説明する。なお、図11に示した
従来例と同一の構成要素には同一の符号を付けて説明す
る。
【0041】(実施の形態1)図1は本発明の(実施の
形態1)の光ディスク装置を示す。(実施の形態1)が
従来例と異なる部分は、ジッタ最小ブロック33であ
る。このジッタ最小ブロック33は、ジッタ検出手段2
4と測定クロック生成手段36と水平特性検出手段30
およびジッタ最小調整手段19とで構成されている。
【0042】ジッタ検出手段24およびジッタ最小調整
手段19は、図11に示した構成要素と同一である。水
平特性検出手段30は、所定のステップ幅以上離れた調
整パラメータを設定したとき、それぞれのジッタの差が
所定の範囲以下であれば水平と判断し、ジッタを測定す
るクロックの切替え信号を出力する。
【0043】測定クロック生成手段36は、ジッタ特性
が水平と判断された場合に同期信号より高い周波数のク
ロックを生成する。図2はこのように測定クロックを切
替えてジッタを検出したときのジッタ特性を示す。
(A)は従来の測定クロックによるジッタ特性である。
(B)は測定クロックを高い周波数に切替えたときのジ
ッタ特性である。測定の分解能を向上させると(B)の
ようにジッタ特性が急峻になり、最小となるポイントが
明確になる。この特性(B)に対してジッタ最小調整を
行うことにより、ジッタを最小にすることができる。
【0044】ここで測定クロックをあらかじめ高くして
おくと、ジッタ検出手段24の測定レンジが飽和してし
まい、測定ジッタを比較することができなくなる。した
がってジッタ最小調整の探索が行えなくなる。
【0045】(実施の形態2)図3は本発明の(実施の
形態2)の光ディスク装置を示す。この(実施の形態
2)が(実施の形態1)と異なる部分は、ジッタを最小
に調整するのではなく、ジッタとアシンメトリで生成す
る評価式を最小にする評価式最小調整ブロック34であ
る。このブロックは、アシンメトリ検出手段25、測定
クロック生成手段26、ジッタ検出手段24、測定クロ
ック生成手段22、評価式生成手段29、評価式最小調
整手段31とで構成されている。ジッタ検出手段24お
よび測定クロック生成手段22は、図11に示した構成
要素と同一である。
【0046】測定クロック生成手段26は、アシンメト
リの測定に用いるクロックを生成する。アシンメトリ検
出手段25は、測定クロック生成手段26で生成された
クロックを用いてアシンメトリを測定する。評価式生成
手段29は、ジッタ検出手段24のジッタとアシンメト
リ検出手段25のアシンメトリから、係数αを用いて、 α・ジッタ+(1−α)・アシンメトリ ・・・・ 評価式(1) を生成する。評価式最小調整手段31は、この評価式が
最小となるように調整する。
【0047】ここでアシンメトリの検出について説明す
る。図4(a)はマーク歪のないアシンメトリの検出タ
イミングチャート、図4(b)はマーク歪のアシンメト
リの検出タイミングチャートを示す。
【0048】図4(a)のマークとスペースで形成され
たトラックに光スポットが追従すると生成される再生信
号に対して所定のスライスレベルで2値化を行い2値化
再生信号を生成する。図中において、歪のないマークに
よる再生は実線、マークの歪による影響部分は破線で示
してある。アシンメトリの検出では、まず2値化再生信
号のエッジを再生信号測定タイミングとする。さらにエ
ッジとエッジの区間を測定すると同時に、2値化再生信
号のエッジを基準として再生信号の基本単位(DVDの
3Tから14T)の1Tタイミングを生成する。アシン
メトリは、再生信号測定タイミング(エッジ区間の測定
が終了した時点)で、最も近い1Tタイミングとの差と
して検出する。このアシンメトリに関する測定とタイミ
ングの生成にはアシンメトリ測定クロックを用いる。図
4(a)の実線の場合、再生信号測定タイミングと1T
タイミングが一致しているためアシンメトリは検出され
ない。一方破線の場合、再生信号測定タイミングで最も
近い1Tタイミングと差が発生する。これをアシンメト
リとして検出する。さらに、この再生信号測定タイミン
グで1Tタイミングが生成されるため、次の再生信号測
定タイミングでも1Tタイミングとの差が発生する。こ
れもアシンメトリとして検出する。
【0049】次にこのアシンメトリを用いた評価式
(1)を最小にする方法について説明する。図5は評価
式の特性を示す。図5の破線oはジッタ、破線pはアシ
ンメトリである。同図に示されるように、2値化再生信
号と同期信号とのずれとして検出するジッタ特性と、上
記のように検出するアシンメトリ特性は異なり、それぞ
れが最小となる調整パラメータも異なる。ここで評価式
(1)の係数αを0.5とすると実線の特性が得られ
る。また係数αを1にするとジッタ特性に一致し、係数
αを0にするとアシンメトリ特性に一致する。つまり係
数αを0から1の間で変化させることにより、調整目標
ポイントをジッタ最小からアシンメトリ最小の間に設定
することが可能である。評価式最小調整手段31は図1
1のジッタ最小調整19で用いているアルゴリズムと同
様に、この評価式特性が最小となるように調整を行う。
【0050】(実施の形態3)図6は本発明の(実施の
形態3)の光ディスク装置を示す。(実施の形態3)の
光ディスク装置と(実施の形態2)との差異は、評価式
最小調整ブロック32で、評価式を生成するジッタとア
シンメトリにおいて(実施の形態1)で測定したジッタ
を用いることである。
【0051】評価式最小調整ブロック32は、図3に示
した(実施の形態2)の評価式最小調整ブロック34の
ジッタ検出において、(実施の形態1)で説明した水平
特性検出手段30による測定クロック生成手段36を用
いたものである。その動作の特徴は、評価式生成手段2
9が(実施の形態2)で説明したアシンメトリと(実施
の形態1)で説明したジッタからなる評価式(1)を生
成し、評価式最小調整手段31がこの評価式(1)が最
小となるように調整を行う。
【0052】(実施の形態4)図7は本発明の(実施の
形態4)の光ディスク装置を示す。この(実施の形態
4)の光ディスク装置が(実施の形態3)と異なる部分
は、調整結果保存手段35と調整結果設定手段37と設
定値選択手段38である。
【0053】調整結果保存手段35は、評価式最小調整
ブロック32で調整した結果を保存する。設定値選択手
段38は、調整結果の差異が大きい調整パラメータを選
択する。調整結果設定手段37は、光スポットが移動す
るときに設定値選択手段38が選択した調整値を設定す
る。
【0054】このような構成要素の動作をさらに詳しく
説明する。図8(b)は光ディスク1に情報が記録され
ている範囲と調整位置の概略を示す。1はスピンドルモ
ータ2に装着された光ディスクである。R1は情報が記
録されている最内周の位置、R2は情報が記録されてい
る最外周の位置である。R3はR1とR2の中間位置で
ある。RinはR1からR3の間の位置であり、内周の
調整位置である。RoutはR3からR2の間の位置で
あり、外周の調整位置である。
【0055】このRinとRoutの調整手順につい
て、本発明の(実施の形態4)における調整手順を図8
(a)に示す。同図において図12(c)に示したフロ
ーチャートと同一の処理には同一の符号をつけることで
説明を省略する。
【0056】40は内周の調整位置であるRinに光ス
ポットを移動させる処理である。まずこの位置で、(実
施の形態1)から(実施の形態3)のいずれかの調整方
法を用いて、スライスレベル調整41、ブースト調整4
2、制御位置調整43を順に行う。続いて外周の調整位
置であるRoutに光スポットを移動させる。44はそ
の処理である。そして(実施の形態1)から(実施の形
態3)のいずれかの調整方法を用いて、スライスレベル
調整41、ブースト調整42、制御位置調整43を順に
行う。
【0057】このように調整した結果は、図8(c)に
示す調整結果の保存テーブルとして格納する。調整位置
Rinでの制御位置調整、スライスレベル調整、ブース
ト調整の結果は、Data(D1)、Data(S1)、
Data(B1)である。同様に調整位置Routの結
果はData(D2)、Data(S2)、Data
(B2)である。この保存は調整結果保存手段35が行
う。
【0058】図8(a)のフローチャートに示す調整が
終了すると、調整値選択手段38はR1からR3の領域
(以下内周の領域と称す)とR3からR2の領域(以下
外周の領域と称す)で調整結果を切替える調整パラメー
タの選択を行う。基本的には、調整パラメータにおいて
RinとRoutの調整結果の差異(調整結果の差)が
少ない場合、Rinの調整結果を設定したまま内周の領
域から外周の領域へ光スポットが移動しても、ジッタは
大きく変化しない。つまりジッタが最小となるRinと
Routの調整結果が近い場合、光スポットが異なる領
域に移動しても調整結果の設定を変える必要はない。一
方、光ディスク装置によっては調整パラメータのジッタ
感度が異なるため、RinとRoutの調整結果の差が
少なくてもジッタが大きく変化する場合がある。
【0059】以上から、調整パラメータのジッタ感度を
考慮して閾値を決定しておき、この閾値が調整結果の差
より大きい調整パラメータを選択する。調整結果設定手
段37は、この閾値を制御位置調整、スライスレベル調
整、ブースト調整の閾値をそれぞれ、Data(D
3)、Data(S3)、Data(B3)として図8
(d)に示す閾値テーブルのように格納しておき、上記
のように調整パラメータの選択を行う。
【0060】調整結果設定手段37は光スポットが内周
の領域から外周の領域へ、または外周の領域から内周の
領域へ移動するとき、調整値選択手段38が選択した調
整パラメータを設定する。
【0061】なお、上記説明の調整順序は本実施例の説
明に示したものであり、これに限定されない。 (実施の形態5)図9は本発明の(実施の形態5)の光
ディスク装置を示す。
【0062】(実施の形態5)の光ディスク装置が(実
施の形態4)の光ディスク装置と異なる部分は、調整結
果設定手段37と補正値生成手段39で、補正値生成手
段39が調整結果を用いて補間値を生成し、調整結果設
定手段37が補間値を設定する。
【0063】(実施の形態5)で用いる補間値は図10
に示す補間特性の値である。この補間特性は図8(c)
の調整結果をプロットして直線で結んだものであり、四
角は制御位置、丸はブースト、三角はデータスライスで
ある。補正値生成手段39は、光スポットの移動位置で
設定する補間特性上の値を生成する。具体的には、光ス
ポットが移動するときに、光スポットの移動位置の補間
値を演算する。調整値設定手段37はその補間値を設定
する。
【0064】なお、本実施例の説明では、光スポットの
位置に関して調整位置を2点として説明したが、3点以
上でもなんら問題はない。調整位置を多くすることによ
り近似精度は向上する。しかし光スポットの移動および
調整の回数が増え、これらの調整に要する時間が増大し
てしまう。また線形補間方式も簡易的に補間値を求める
ことができるが、実際の光ディスク装置の特性に応じ
て、例えば2次関数や指数関数近似を用いてもなんら問
題はない。
【0065】なお、本発明は、上述した実施例に限定さ
れるものではなく、種々の態様が可能である。
【0066】
【発明の効果】以上のように本発明の請求項1の構成に
よれば、光学系の調整誤差や反射率の低い光ディスクな
どに起因する水平な(急峻でない)ジッタ特性に対し
て、高い分解能の測定クロックに切替えることにより急
峻なジッタ特性を得ることができるので、測定誤差など
により途中で終了することなくジッタを最小に調整する
ことができる。これにより、高速化、高密度化によって
狭くなったジッタ許容範囲を確保することができ、光デ
ィスクの情報が安定的に読み出せるようになり、光ディ
スクまたは光ディスク装置の個体差を吸収する調整を行
うことができるので、光ディスクの情報を安定かつ忠実
に再生できる。
【0067】本発明の請求項2の構成によれば、マーク
の歪をアシンメトリとして検出することができ、ジッタ
とアシンメトリの評価式を用いた調整を行うことができ
るので、マークの歪の影響を低減したジッタ、またはア
シンメトリを最小にすることができる。これにより、メ
ーカごとに異なる書き込み方式を用いている光ディスク
装置で記録された光ディスクや、部分的に何度もオーバ
ーライトしたことにより形成された多様なマークの歪が
混在する光ディスクの情報が読み出せるようになり、光
ディスクまたは光ディスク装置の個体差を吸収する調整
を行うことができるので、光ディスクの情報を安定かつ
忠実に再生できる。
【0068】本発明の請求項3の構成によれば、光学系
の調整誤差や反射率の低い光ディスクなどに起因する水
平な(急峻でない)ジッタ特性でかつ多様なマークの歪
を有した高密度化光ディスクの高倍速再生においても、
ジッタあるいは評価式の最小調整を行うことができ、光
ディスクの情報を読み出すことができるようになり、光
ディスクまたは光ディスク装置の個体差を吸収する調整
を行うことができるので、光ディスクの情報を安定かつ
忠実に再生できる。
【0069】本発明の請求項4の構成によれば、光ディ
スクの傾きと高速化、高密度化が要因で外周が読めない
光ディスクに対して、最外周近傍を含めた2点以上の調
整と光スポットの位置に応じた調整結果の設定により、
光ディスク全面の情報が読み出せるようになる。
【0070】本発明の請求項5の構成によれば、調整結
果にもとづいて補間値を設定するため、常に十分なジッ
タ許容範囲を確保することができる。これにより光ディ
スクの傾きと高速化、高密度化が要因で最外周が読めな
い光ディスク、さらに部分的に傾き(反り)や異なるマ
ーク歪を有する光ディスクに対しても安定かつ忠実に再
生することができる光ディスク装置を提供することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の(実施の形態1)における光ディスク
装置の構成図
【図2】同実施の形態における測定クロックを切替えて
測定したジッタ特性図
【図3】本発明の(実施の形態2)における光ディスク
装置の構成図
【図4】同実施の形態におけるマーク歪のないアシンメ
トリの検出タイミングチャート図とマーク歪のアシンメ
トリの検出タイミングチャート図
【図5】同実施の形態の評価式の特性図
【図6】本発明の(実施の形態3)における光ディスク
装置の構成図
【図7】本発明の(実施の形態4)における光ディスク
装置の構成図
【図8】同実施の形態の調整手順のフローチャート図と
光ディスクの情報記録範囲と調整位置の概略図と調整結
果の保存テーブルおよび閾値テーブル説明図
【図9】本発明の(実施の形態5)における光ディスク
装置の構成図
【図10】同実施の形態における補間特性の概念図
【図11】従来の光ディスク装置の構成図
【図12】同従来例の調整パラメータに対するジッタ特
性図とジッタ最小調整の調整方法の説明図および光ディ
スク装置の調整フローチャート図
【図13】同従来例のジッタ許容範囲の概略図
【図14】理想的に記録されたマークの概略図とマーク
歪の概略図
【図15】従来のジッタ許容範囲の概略図と高倍速化、
高密度化によって再生信号が高帯域化したときのジッタ
許容範囲の概略図
【符号の説明】
1 光ディスク 2 スピンドルモータ 3 対物レンズ 4 駆動装置 5 光検出器 6 光ヘッド 7 誤差信号検出手段 8 切替手段 9 光スポット位置制御手段 10 光ヘッド移動装置 11 制御位置設定手段 12 復調手段 13 光スポット位置制御ループ 14 再生信号生成手段 15 AGC 16 イコライザ 17 2値化手段 18 PLL 19 ジッタ最小調整手段 20 ブースト設定手段 21 スライスレベル設定手段 22 測定クロック生成手段 23 CPU 24 ジッタ検出手段 25 アシンメトリ検出手段 26 測定クロック生成手段 27 情報検出ブロック 28 ジッタ最小調整ブロック 29 評価式生成手段 30 水平特性検出手段 31 評価式最小調整手段 32 評価式最小調整ブロック 33 ジッタ最小調整ブロック 34 評価式最小調整ブロック 35 調整結果保存手段 36 測定クロック生成手段 37 調整結果設定手段 38 設定値選択手段 39 補間値生成手段 40 内周の調整位置へ移動 41 スライスレベル調整 42 ブースト調整 43 制御位置調整 44 外周の調整位置へ移動

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】情報担体に光ビームを照射して収束させた
    光スポットの位置を制御し、光ビームの反射光からデー
    タを再生する光ディスク装置であって、 前記データを再生する際に発生するジッタを検出するジ
    ッタ検出手段と、 前記ジッタ検出手段によって検出されたジッタが小さく
    なるように調整するジッタ調整手段と、 前記調整中に前記ジッタの変化が所定の範囲以下であれ
    ば前記ジッタを検出するクロックの周波数を高くする測
    定クロック生成手段とを備え、高い周波数のクロックで
    検出したジッタが小さくなるように調整する光ディスク
    装置。
  2. 【請求項2】情報担体に光ビームを照射して収束させた
    光スポットの位置を制御し、光ビームの反射光からデー
    タを再生する光ディスク装置であって、 前記データを再生する際に発生するジッタを検出するジ
    ッタ検出手段と、 前記データを再生する際に発生するアシンメトリを検出
    するアシンメトリ検出手段と、 調整の基準となる尺度を前記ジッタと前記アシンメトリ
    の評価式として生成する評価式生成手段と、 前記評価式を小さくするように調整する評価式調整手段
    とを有する光ディスク装置。
  3. 【請求項3】上記評価式の調整中に前記ジッタの変化が
    所定の範囲以下であれば前記ジッタを検出するクロック
    の周波数を高くする測定クロック生成手段を備え、 前記評価式生成手段は高い周波数のクロックで検出した
    ジッタと上記アシンメトリで生成された評価式を小さく
    するように調整する請求項2記載の光ディスク装置。
  4. 【請求項4】情報担体に光ビームを照射して収束させた
    光スポットの位置を制御し、光ビームの反射光からデー
    タを再生する光ディスク装置であって、 情報担体の2点以上で前記ジッタが小さくなるように調
    整する調整手段と、 前記調整手段による調整パラメータの結果を保存する調
    整結果保存手段と、 前記調整パラメータの結果の差異が所定の値より大きい
    調整パラメータを選択する設定値選択手段と、 光スポットが移動するときに選択した前記調整パラメー
    タの前記調整結果を設定する調整結果設定手段とを有す
    る請求項1〜請求項3の何れかに記載の光ディスク装
    置。
  5. 【請求項5】情報担体に光ビームを照射して収束させた
    光スポットの位置を制御し、光ビームの反射光からデー
    タを再生する光ディスク装置であって、 情報担体の2点以上で前記ジッタが小さくなるように調
    整する調整手段と、 前記調整手段による調整パラメータの結果を保存する調
    整結果保存手段と、 光スポットが移動するときに前記調整結果に基づいて光
    スポットの移動位置の補間値を生成する補間値生成手段
    と、 光スポットが移動するときに前記補間値を設定する調整
    結果設定手段とを有する請求項1〜請求項3の何れかに
    記載の光ディスク装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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US7512051B2 (en) 2003-09-26 2009-03-31 Sony Corporation Information processing apparatus

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