JPH06300805A - 等電位線の電気試験方法 - Google Patents
等電位線の電気試験方法Info
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- JPH06300805A JPH06300805A JP6039768A JP3976894A JPH06300805A JP H06300805 A JPH06300805 A JP H06300805A JP 6039768 A JP6039768 A JP 6039768A JP 3976894 A JP3976894 A JP 3976894A JP H06300805 A JPH06300805 A JP H06300805A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 あらゆる型の電気、電子又はデータ処理装置
の電気導通及び電気絶縁試験に適しており、あらゆる型
のテスタに適しており、簡単に実施することができ、し
かも経済的な、等電位線の電気導通及び絶縁試験方法を
提供する。 【構成】 少なくとも２つの試験点を各々含む等電位線
の電気試験方法であって、少なくとも１本の分割線によ
り試験点を分離し、分割線の一方の側の試験点を第１組
に分類し、分割線の他方の側の試験点を第２組に分類
し、分割線上の試験点は両方の組に属するものとし、第
１段階では第１組の試験点間で電気試験を行い、第２段
階では第２組の試験点間で電気試験を行い、第１組の試
験点を第１組に維持しながら第２組の試験点と統合し、
第１組の試験点と第２組の試験点との間の電気試験の連
続性を確保する。
の電気導通及び電気絶縁試験に適しており、あらゆる型
のテスタに適しており、簡単に実施することができ、し
かも経済的な、等電位線の電気導通及び絶縁試験方法を
提供する。 【構成】 少なくとも２つの試験点を各々含む等電位線
の電気試験方法であって、少なくとも１本の分割線によ
り試験点を分離し、分割線の一方の側の試験点を第１組
に分類し、分割線の他方の側の試験点を第２組に分類
し、分割線上の試験点は両方の組に属するものとし、第
１段階では第１組の試験点間で電気試験を行い、第２段
階では第２組の試験点間で電気試験を行い、第１組の試
験点を第１組に維持しながら第２組の試験点と統合し、
第１組の試験点と第２組の試験点との間の電気試験の連
続性を確保する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、等電位線の電気試験方
法に係る。本発明は、例えば配線ラック、カードトレ
ー、電気パッケージ又は印刷回路の電気導通又は電気絶
縁試験に特に適用することができる。より一般には、等
電位線の電気導通又は電気絶縁を検査することが必要な
全装置の試験に適用することができる。
法に係る。本発明は、例えば配線ラック、カードトレ
ー、電気パッケージ又は印刷回路の電気導通又は電気絶
縁試験に特に適用することができる。より一般には、等
電位線の電気導通又は電気絶縁を検査することが必要な
全装置の試験に適用することができる。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】例えば
コンピュータのような電気、電子又はデータ処理装置は
印刷回路のみならず、入出力数がますます増加しつつあ
る複雑な素子を含み、これらの素子数は増加し続けてい
る。この結果、これらの入出力を接続する等電位線の数
も増加している。素子又はカードは他の素子又はカード
に連結されるので、これらの等電位線は例えばトレーの
底部又はケースの底部を介してカードを相互に接続する
コネクタを通る。従って、これらのトレー又はケースの
底部は多数の接続等電位線を有する。装置の効率的な作
動に必要な条件は使用される等電位線の電気導通とこれ
らの等電位線間の絶縁である。
コンピュータのような電気、電子又はデータ処理装置は
印刷回路のみならず、入出力数がますます増加しつつあ
る複雑な素子を含み、これらの素子数は増加し続けてい
る。この結果、これらの入出力を接続する等電位線の数
も増加している。素子又はカードは他の素子又はカード
に連結されるので、これらの等電位線は例えばトレーの
底部又はケースの底部を介してカードを相互に接続する
コネクタを通る。従って、これらのトレー又はケースの
底部は多数の接続等電位線を有する。装置の効率的な作
動に必要な条件は使用される等電位線の電気導通とこれ
らの等電位線間の絶縁である。
【０００３】この導通及び絶縁を試験するために数種の
機器が存在している。これらの機器は、一般にコネクタ
のレベルに配置された試験点に接続される。これらのリ
ンクは試験点間に配置された等電位線のセクションの連
続試験に使用される。
機器が存在している。これらの機器は、一般にコネクタ
のレベルに配置された試験点に接続される。これらのリ
ンクは試験点間に配置された等電位線のセクションの連
続試験に使用される。
【０００４】現在、上記装置の上記電気導通及び絶縁試
験で既存のテスタの最大容量に達するためには多数の試
験点（例えば８０００以上の試験点）が必要である。こ
れらのテスタの容量を増加することは可能であるが、余
分な費用がかかり、複雑になり、必要なスペースが増加
する。
験で既存のテスタの最大容量に達するためには多数の試
験点（例えば８０００以上の試験点）が必要である。こ
れらのテスタの容量を増加することは可能であるが、余
分な費用がかかり、複雑になり、必要なスペースが増加
する。
【０００５】本発明の１つの目的は、テスタを複雑にす
ることなく特に既存のテスタを使用して多数の試験点、
例えば上記数値を上回る試験点を考慮できるようにする
ことにより、上記問題を解決することである。
ることなく特に既存のテスタを使用して多数の試験点、
例えば上記数値を上回る試験点を考慮できるようにする
ことにより、上記問題を解決することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】このために、本発明は少
なくとも２つの試験点を各々含む等電位線の電気試験方
法に係り、該方法は、少なくとも１本の分割線により試
験点を分離し、分割線の一方の側の試験点を第１組に分
類し、分割線の他方の側の試験点を第２組に分類し、分
割線上の試験点は両方の組に属するものとし、第１の段
階では第１組の試験点間で電気試験を行い、第２段階で
は第２組の試験点間で電気試験を行い、第１組の試験点
を第１組に維持しながら第２組の試験点と統合し、第１
組の試験点と第２組の試験点との間の電気試験の連続性
を確保する。
なくとも２つの試験点を各々含む等電位線の電気試験方
法に係り、該方法は、少なくとも１本の分割線により試
験点を分離し、分割線の一方の側の試験点を第１組に分
類し、分割線の他方の側の試験点を第２組に分類し、分
割線上の試験点は両方の組に属するものとし、第１の段
階では第１組の試験点間で電気試験を行い、第２段階で
は第２組の試験点間で電気試験を行い、第１組の試験点
を第１組に維持しながら第２組の試験点と統合し、第１
組の試験点と第２組の試験点との間の電気試験の連続性
を確保する。
【０００７】本発明の主な利点は、あらゆる型の電気、
電子又はデータ処理装置の電気導通及び電気絶縁試験に
適しており、あらゆる型のテスタに適しており、簡単に
実施することができ、しかも経済的であるという点にあ
る。
電子又はデータ処理装置の電気導通及び電気絶縁試験に
適しており、あらゆる型のテスタに適しており、簡単に
実施することができ、しかも経済的であるという点にあ
る。
【０００８】
【実施例】本発明の他の特徴及び利点は添付図面に関す
る以下の説明に明示される。
る以下の説明に明示される。
【０００９】図１は１組の等電位線Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，
Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６，Ｌ７の１例を示す。これらの線は例
えば相対位置に依存する関係に従って番号をつけたコネ
クタＪ１，Ｊ２，Ｊ３，Ｊ４，Ｊ５を通る。線の各々は
試験点を含む。これらの試験点は、例えば線が通るコネ
クタの端子に対応し、これらの位置で特に容易に試験を
行うことができる。この場合、各試験点は例えばコネク
タの順位とコネクタにおける対応する端子の順位により
示される。図１では、ｉ番目のコネクタをＪｉ、このコ
ネクタの内側のｊ番目の端子上の試験点を例えばＪｉ／
ｊと呼称する。従って、図１の構成例では第１の等電位
線は第２のコネクタＪ２の第１の端子Ｊ２／１を通るこ
とにより第１のコネクタＪ１の第１の端子Ｊ１／１を第
３のコネクタＪ３の第３の端子Ｊ３／１に接続する。第
２の線Ｌ２は、第２のコネクタＪ２の第２の端子Ｊ２／
２を通った後、第３のコネクタＪ３の第２の端子Ｊ３／
２を通ることにより、第１のコネクタＪ１の第２の端子
Ｊ１／２を第４のコネクタＪ４の第２の端子Ｊ４／２に
接続する。第３の線Ｌ３は第３のコネクタＪ３の第３の
端子Ｊ３／３を通ることにより、第２のコネクタＪ２の
第３の端子Ｊ２／３を第４のコネクタＪ４の第３の端子
Ｊ４／３に接続する。第４の線Ｌ４は第４のコネクタＪ
４の第４の端子Ｊ４／４を通ることにより第３のコネク
タＪ３の第４の端子Ｊ３／４を第５のコネクタＪ５の第
４の端子Ｊ５／４に接続する。第５の線Ｌ５は第１のコ
ネクタＪ１の第５の端子Ｊ１／５を第２のコネクタＪ２
の第５の端子Ｊ２／５に接続する。第６の線Ｌ６は第１
のコネクタＪ１の第６の端子Ｊ１／６を第５のコネクタ
Ｊ５の第６の端子Ｊ５／６に接続する。第７の線Ｌ７は
第４のコネクタＪ４の第５の端子Ｊ４／５を第５のコネ
クタＪ５の第５の端子Ｊ５／５に接続する。
Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６，Ｌ７の１例を示す。これらの線は例
えば相対位置に依存する関係に従って番号をつけたコネ
クタＪ１，Ｊ２，Ｊ３，Ｊ４，Ｊ５を通る。線の各々は
試験点を含む。これらの試験点は、例えば線が通るコネ
クタの端子に対応し、これらの位置で特に容易に試験を
行うことができる。この場合、各試験点は例えばコネク
タの順位とコネクタにおける対応する端子の順位により
示される。図１では、ｉ番目のコネクタをＪｉ、このコ
ネクタの内側のｊ番目の端子上の試験点を例えばＪｉ／
ｊと呼称する。従って、図１の構成例では第１の等電位
線は第２のコネクタＪ２の第１の端子Ｊ２／１を通るこ
とにより第１のコネクタＪ１の第１の端子Ｊ１／１を第
３のコネクタＪ３の第３の端子Ｊ３／１に接続する。第
２の線Ｌ２は、第２のコネクタＪ２の第２の端子Ｊ２／
２を通った後、第３のコネクタＪ３の第２の端子Ｊ３／
２を通ることにより、第１のコネクタＪ１の第２の端子
Ｊ１／２を第４のコネクタＪ４の第２の端子Ｊ４／２に
接続する。第３の線Ｌ３は第３のコネクタＪ３の第３の
端子Ｊ３／３を通ることにより、第２のコネクタＪ２の
第３の端子Ｊ２／３を第４のコネクタＪ４の第３の端子
Ｊ４／３に接続する。第４の線Ｌ４は第４のコネクタＪ
４の第４の端子Ｊ４／４を通ることにより第３のコネク
タＪ３の第４の端子Ｊ３／４を第５のコネクタＪ５の第
４の端子Ｊ５／４に接続する。第５の線Ｌ５は第１のコ
ネクタＪ１の第５の端子Ｊ１／５を第２のコネクタＪ２
の第５の端子Ｊ２／５に接続する。第６の線Ｌ６は第１
のコネクタＪ１の第６の端子Ｊ１／６を第５のコネクタ
Ｊ５の第６の端子Ｊ５／６に接続する。第７の線Ｌ７は
第４のコネクタＪ４の第５の端子Ｊ４／５を第５のコネ
クタＪ５の第５の端子Ｊ５／５に接続する。
【００１０】等電位線に属するコネクタの端子は例えば
試験点に対応する。分割線Ｌｃは例えば第３のコネクタ
Ｊ３の端子を通る。分割線Ｌｃの第１の側１に位置する
試験点（例えば第１のコネクタＪ１の点）は第１組Ｅ１
に分類される。分割線Ｌｃの他方の側２に位置する試験
点は第２組Ｅ２に分類され、分割線上の試験点Ｊ３／
１，Ｊ３／２，Ｊ３／３はどちらの組Ｅ１，Ｅ２にも属
する。第１の側１で絶縁され且つ分割線を横切る等電位
線Ｌ６に接続された試験点Ｊ１／６は第２組Ｅ２のみに
分類される。
試験点に対応する。分割線Ｌｃは例えば第３のコネクタ
Ｊ３の端子を通る。分割線Ｌｃの第１の側１に位置する
試験点（例えば第１のコネクタＪ１の点）は第１組Ｅ１
に分類される。分割線Ｌｃの他方の側２に位置する試験
点は第２組Ｅ２に分類され、分割線上の試験点Ｊ３／
１，Ｊ３／２，Ｊ３／３はどちらの組Ｅ１，Ｅ２にも属
する。第１の側１で絶縁され且つ分割線を横切る等電位
線Ｌ６に接続された試験点Ｊ１／６は第２組Ｅ２のみに
分類される。
【００１１】分割線は図２の分割線Ｌ’ｃにより示すよ
うに試験点を通らずに単に等電位線と交差することによ
り試験点を分離してもよく、図２の分割線は試験点とぶ
つかることなく第１の等電位線Ｌ１、第２の等電位線Ｌ
２、第３の等電位線Ｌ３及び第６の等電位線Ｌ６と交差
している。
うに試験点を通らずに単に等電位線と交差することによ
り試験点を分離してもよく、図２の分割線は試験点とぶ
つかることなく第１の等電位線Ｌ１、第２の等電位線Ｌ
２、第３の等電位線Ｌ３及び第６の等電位線Ｌ６と交差
している。
【００１２】図３は単一の試験点（第３のコネクタＪ３
の第１の端子Ｊ３／１）を通り且つ第２の等電位線Ｌ
２、第３の等電位線Ｌ３、第４の等電位線Ｌ４及び第６
の等電位線Ｌ６と交差する別の分割線Ｌ’ｃを示す。
の第１の端子Ｊ３／１）を通り且つ第２の等電位線Ｌ
２、第３の等電位線Ｌ３、第４の等電位線Ｌ４及び第６
の等電位線Ｌ６と交差する別の分割線Ｌ’ｃを示す。
【００１３】実施する電気試験が等電位線の電気導通試
験であるか等電位線間の絶縁試験であるかに従い、第１
組Ｅ１の種々の試験点を第１組Ｅ１に維持しながら第２
組Ｅ２に加えるが、第１組は実施する試験の型に関係な
く例えば不変である。
験であるか等電位線間の絶縁試験であるかに従い、第１
組Ｅ１の種々の試験点を第１組Ｅ１に維持しながら第２
組Ｅ２に加えるが、第１組は実施する試験の型に関係な
く例えば不変である。
【００１４】第１段階では、例えば第１組Ｅ１の試験点
間で電気試験を実施する。この試験は第１組Ｅ１の試験
点を含む等電位線の各々の連続試験点間の電気導通試験
であり得、該試験は第１組の試験点に限定される。
間で電気試験を実施する。この試験は第１組Ｅ１の試験
点を含む等電位線の各々の連続試験点間の電気導通試験
であり得、該試験は第１組の試験点に限定される。
【００１５】この試験は異なる等電位線に属する試験点
の絶縁試験でもよい。
の絶縁試験でもよい。
【００１６】第１段階は第２組Ｅ２にも全く同様に実施
することができる。電気試験はあらゆる型のテスタによ
り実施することができる。
することができる。電気試験はあらゆる型のテスタによ
り実施することができる。
【００１７】図１に示す分割線Ｌｃは例えば、第１組Ｅ
１が使用されるテスタの最大容量に近い数の試験点を有
するように配置され、試験点の数はこの最大値以下であ
る。
１が使用されるテスタの最大容量に近い数の試験点を有
するように配置され、試験点の数はこの最大値以下であ
る。
【００１８】第２段階では、例えば他方の組Ｅ２の試験
点で電気試験を行う。特に第１組Ｅ１の試験点と第２組
Ｅ２の試験点との間の電気試験の連続性を確保するため
に、第１組Ｅ１の試験点は第２組Ｅ２にも含まれる。
点で電気試験を行う。特に第１組Ｅ１の試験点と第２組
Ｅ２の試験点との間の電気試験の連続性を確保するため
に、第１組Ｅ１の試験点は第２組Ｅ２にも含まれる。
【００１９】従って、例えば分割線Ｌｃよりも下位のコ
ネクタと分割線よりも上位のコネクタとの間のリンク
（例えば第１のコネクタＪ１と第５のコネクタＪ５との
間の第６の等電位線Ｌ６）の電気導通試験の場合には、
例えば第２組Ｅ２の試験点に接続された等電位点に属す
る下位のコネクタ（例えば第１のコネクタＪ１）の全端
子が第２組に加えられる。図１の例では、第１の端子Ｊ
１／１は第２組Ｅ２に属する第３のコネクタの第１の端
子Ｊ３／１に接続された第１の等電位線Ｌ１に属してお
り、第２組の端子Ｊ１／２は第２組Ｅ２に属する第３の
コネクタＪ３及び第４のコネクタＪ４の第２の端子Ｊ３
／２，Ｊ４／２に接続された第２の等電位線Ｌ２に属し
ており、最後に第６の端子Ｊ１／６は第２組に属する第
５のコネクタの第６の端子Ｊ５／６に接続された第６の
等電位線Ｌ６に属しているので、第１のコネクタＪ１の
第１の端子Ｊ１／１、第２の端子Ｊ１／２及び第６の端
子Ｊ１／６は第２組Ｅ２に加えられる。図１の例に従っ
て電気導通試験を行う場合、第１組Ｅ１の内容は少なく
とも端子即ち試験点Ｊ１／１，Ｊ１／２，Ｊ１／５，Ｊ
１／６，Ｊ２／１，Ｊ２／２，Ｊ２／３，Ｊ２／５，Ｊ
３／１，Ｊ３／２，Ｊ３／３により構成され、第２組Ｅ
２の内容は少なくとも端子即ち試験点Ｊ３／１，Ｊ３／
２，Ｊ３／３，Ｊ３／４，Ｊ４／２，Ｊ４／３，Ｊ４／
４，Ｊ４／５，Ｊ５／４，Ｊ５／５，Ｊ５／６，Ｊ１／
１，Ｊ１／２，Ｊ１／６により構成される。
ネクタと分割線よりも上位のコネクタとの間のリンク
（例えば第１のコネクタＪ１と第５のコネクタＪ５との
間の第６の等電位線Ｌ６）の電気導通試験の場合には、
例えば第２組Ｅ２の試験点に接続された等電位点に属す
る下位のコネクタ（例えば第１のコネクタＪ１）の全端
子が第２組に加えられる。図１の例では、第１の端子Ｊ
１／１は第２組Ｅ２に属する第３のコネクタの第１の端
子Ｊ３／１に接続された第１の等電位線Ｌ１に属してお
り、第２組の端子Ｊ１／２は第２組Ｅ２に属する第３の
コネクタＪ３及び第４のコネクタＪ４の第２の端子Ｊ３
／２，Ｊ４／２に接続された第２の等電位線Ｌ２に属し
ており、最後に第６の端子Ｊ１／６は第２組に属する第
５のコネクタの第６の端子Ｊ５／６に接続された第６の
等電位線Ｌ６に属しているので、第１のコネクタＪ１の
第１の端子Ｊ１／１、第２の端子Ｊ１／２及び第６の端
子Ｊ１／６は第２組Ｅ２に加えられる。図１の例に従っ
て電気導通試験を行う場合、第１組Ｅ１の内容は少なく
とも端子即ち試験点Ｊ１／１，Ｊ１／２，Ｊ１／５，Ｊ
１／６，Ｊ２／１，Ｊ２／２，Ｊ２／３，Ｊ２／５，Ｊ
３／１，Ｊ３／２，Ｊ３／３により構成され、第２組Ｅ
２の内容は少なくとも端子即ち試験点Ｊ３／１，Ｊ３／
２，Ｊ３／３，Ｊ３／４，Ｊ４／２，Ｊ４／３，Ｊ４／
４，Ｊ４／５，Ｊ５／４，Ｊ５／５，Ｊ５／６，Ｊ１／
１，Ｊ１／２，Ｊ１／６により構成される。
【００２０】各組の電気導通試験は例えば同一の等電位
線の試験点間で順次実施される。
線の試験点間で順次実施される。
【００２１】一般に（従って、試験点がコネクタに属さ
ない場合を含む）、分割線の第１の側１の点即ち第１組
Ｅ１に属する点が第２の側の試験点に直接接続されてい
る場合、即ち第２組Ｅ２に属する場合には、これらの第
１の側の点も第２組Ｅ２に統合され、直接接続は、２つ
の接続点間に等電位線の試験点が存在しないことを意味
する。
ない場合を含む）、分割線の第１の側１の点即ち第１組
Ｅ１に属する点が第２の側の試験点に直接接続されてい
る場合、即ち第２組Ｅ２に属する場合には、これらの第
１の側の点も第２組Ｅ２に統合され、直接接続は、２つ
の接続点間に等電位線の試験点が存在しないことを意味
する。
【００２２】試験点がコネクタに属する場合には、特に
試験を極めて容易にするために例えばコネクタ間で電気
試験を行うことができ、即ち、所与のコネクタの点を他
のコネクタの点と共に順次試験し、他のコネクタは別々
に抽出する。
試験を極めて容易にするために例えばコネクタ間で電気
試験を行うことができ、即ち、所与のコネクタの点を他
のコネクタの点と共に順次試験し、他のコネクタは別々
に抽出する。
【００２３】この場合、上述のように、分割線の第１の
側１のコネクタの端子が等電位線により第２の側のコネ
クタに直接接続される場合には、等電位線により第２の
側のコネクタに直接又は間接的に接続された第１の側の
コネクタの全端子を第１の側１の試験点からなる第１組
Ｅ１に維持しながら第２組Ｅ２の点に統合する。分割線
Ｌｃに属する試験点はどちらの側にも属する。分割線上
の端子を有するコネクタも両方の側に属する。
側１のコネクタの端子が等電位線により第２の側のコネ
クタに直接接続される場合には、等電位線により第２の
側のコネクタに直接又は間接的に接続された第１の側の
コネクタの全端子を第１の側１の試験点からなる第１組
Ｅ１に維持しながら第２組Ｅ２の点に統合する。分割線
Ｌｃに属する試験点はどちらの側にも属する。分割線上
の端子を有するコネクタも両方の側に属する。
【００２４】試験点又は等電位線間の絶縁試験の場合に
は、例えば別の方法で第１組Ｅ１の点を第２組Ｅ２に加
える。この場合、等電位線の試験点が第２の側２即ち第
２組Ｅ２に属さないときには、試験点の１つ（例えば図
１の場合は第５の線Ｌ５）をこの第２組に加え、等電位
線に接続されない点として試験し、従って第２組Ｅ２の
他の点に対する絶縁について試験する。図１の例では、
この付加試験点は例えば第５の等電位線Ｌ５に属する第
１のコネクタの第５の端子Ｊ１／５である。この端子Ｊ
１／５を等電位線に接続されない点として試験し、従っ
て、第２組Ｅ２の他の点（特に第７の等電位線Ｌ７の点
Ｊ４／５及びＪ５／５）に対する絶縁について試験し、
こうして第７の等電位線Ｌ７と第５の等電位線Ｌ５との
絶縁を試験することができる。等電位線に接続されない
各組の全試験点は例えば、該点が属する組の他の全試験
点に対する絶縁について試験される。
は、例えば別の方法で第１組Ｅ１の点を第２組Ｅ２に加
える。この場合、等電位線の試験点が第２の側２即ち第
２組Ｅ２に属さないときには、試験点の１つ（例えば図
１の場合は第５の線Ｌ５）をこの第２組に加え、等電位
線に接続されない点として試験し、従って第２組Ｅ２の
他の点に対する絶縁について試験する。図１の例では、
この付加試験点は例えば第５の等電位線Ｌ５に属する第
１のコネクタの第５の端子Ｊ１／５である。この端子Ｊ
１／５を等電位線に接続されない点として試験し、従っ
て、第２組Ｅ２の他の点（特に第７の等電位線Ｌ７の点
Ｊ４／５及びＪ５／５）に対する絶縁について試験し、
こうして第７の等電位線Ｌ７と第５の等電位線Ｌ５との
絶縁を試験することができる。等電位線に接続されない
各組の全試験点は例えば、該点が属する組の他の全試験
点に対する絶縁について試験される。
【００２５】第２組Ｅ２は電気導通試験及び電気絶縁試
験のいずれをも確保するように構成し得る。しかしなが
ら、その場合にはこれらの試験のいずれか一方の専用と
した場合よりも多数の点を有する。従って、特に試験手
段の容量に応じて種々の可能な構成が定義される。
験のいずれをも確保するように構成し得る。しかしなが
ら、その場合にはこれらの試験のいずれか一方の専用と
した場合よりも多数の点を有する。従って、特に試験手
段の容量に応じて種々の可能な構成が定義される。
【００２６】２組Ｅ１及びＥ２の各々が例えば非常に多
数の試験点を有する場合には、これらの試験点に関連す
る側１，２を上記方法に従って各々分割線により更に分
割して新しい２組を形成し、これらの２組を更に分割し
て更に新しい２組を形成し、各組が使用可能な試験手段
に適合可能な数の試験点を有するまで同様に分割する。
数の試験点を有する場合には、これらの試験点に関連す
る側１，２を上記方法に従って各々分割線により更に分
割して新しい２組を形成し、これらの２組を更に分割し
て更に新しい２組を形成し、各組が使用可能な試験手段
に適合可能な数の試験点を有するまで同様に分割する。
【図１】１組の等電位線及び試験点の１例を示す。
【図２】１組の等電位線及び試験点の別の例を示す。
【図３】１組の等電位線及び試験点の更に別の例を示
す。
す。
Ｊ１，Ｊ２，Ｊ３，Ｊ４，Ｊ５ コネクタ Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６，Ｌ７ 等電位線
Claims (8)
- 【請求項１】 少なくとも２つの試験点を各々含む等電
位線の電気試験方法であって、少なくとも１本の分割線
により試験点を分離し、分割線の一方の側の試験点を第
１組に分類し、分割線の他方の側の試験点を第２組に分
類し、分割線上の試験点は両方の組に属するものとし、
第１段階では第１組の試験点間で電気試験を行い、第２
段階では第２組の試験点間で電気試験を行い、第１組の
試験点を第１組に維持しながら第２組の試験点と統合
し、第１組の試験点と第２組の試験点との間の電気試験
の連続性を確保する等電位線の電気試験方法。 - 【請求項２】 等電位線により第２の側の試験点に直接
接続された第１の側の試験点を第１組に維持しながら第
２組の試験点と統合する請求項１に記載の方法。 - 【請求項３】 試験点がコネクタ端子であり、第１の側
のコネクタの端子が等電位線により他方の側のコネクタ
の端子に直接接続される場合、等電位線により他方の側
のコネクタに接続されたコネクタの全端子を第１組に維
持しながら第２組に統合し、分割線上の端子を有するコ
ネクタは両方の側に属するものとする請求項１に記載の
方法。 - 【請求項４】 等電位線の点がいずれも第２組に属さ
ず、前記等電位線の点の１つを第１組に維持しながら第
２組に加える請求項１に記載の方法。 - 【請求項５】 電気試験が所与の最大の数の試験点を処
理することが可能な試験手段により実施され、第１組の
試験点の数が所与の最大値以下となるように分割線を配
置する請求項１に記載の方法。 - 【請求項６】 ２つの側の各々に新しい分割線を引いて
試験点を分離し、第１の側の試験点を新しい第１組に分
類し、他方の側の試験点を新しい第２組に分類し、各組
の試験点間で電気試験を行い、分割線上の試験点が２組
に属するものとし、第１組の試験点を第２組に統合し、
２組の試験点間の電気試験の連続性を確保する請求項１
に記載の方法。 - 【請求項７】 電気試験が試験点間の電気導通試験であ
る請求項１に記載の方法。 - 【請求項８】 電気試験が試験点間の電気絶縁試験であ
る請求項１に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
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|---|---|---|---|
| FR9302866A FR2702568B1 (fr) | 1993-03-12 | 1993-03-12 | Procédé de test électrique de lignes équipotentielles. |
| FR9302866 | 1993-03-12 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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|---|---|---|---|
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| JP (1) | JPH06300805A (ja) |
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