JPH0629830A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JPH0629830A
JPH0629830A JP5061579A JP6157993A JPH0629830A JP H0629830 A JPH0629830 A JP H0629830A JP 5061579 A JP5061579 A JP 5061579A JP 6157993 A JP6157993 A JP 6157993A JP H0629830 A JPH0629830 A JP H0629830A
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npn
circuit
input
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JP5061579A
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English (en)
Inventor
Ikuro Masuda
郁朗 増田
Kazuo Kato
和男 加藤
Takao Sasayama
隆生 笹山
Yoji Nishio
洋二 西尾
Shigeo Kuboki
茂雄 久保木
Masahiro Iwamura
将弘 岩村
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】CMOS駆動段とバイポーラ出力段の2段の最
小構成で、ラッチ回路を実現することにある。 【構成】Bi−CMOSインバータ回路の入力端子と論
理信号を出力する少なくとも1つのCMOS論理回路と
が接続される入力部に、Bi−CMOSインバータ回路
の出力端子からの信号を帰還させることを特徴とする。 【効果】バッファ回路を用いずに高速,低消費電力及び
高集積のLSIを実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路装置に係
り、特に、CMOSトランジスタ及びバイポーラトラン
ジスタからなる高速で低消費電力の半導体集積回路装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のCMOSトランジスタのみを使用
した論理回路を図1に示す。ここでは2入力NANDに
ついて示す。
【0003】この2入力NAND回路は2つの並列接続
されたPMOSトランジスタ200,201と2つの直
列接続されたNMOSトランジスタ202,203とか
ら構成される。入力204と205が共に“1”レベル
であるとNMOSトランジスタ202,203がオン状
態になり、PMOSトランジスタ200,201はオフ
状態になる。したがって出力206は“0”レベルとな
る。入力204あるいは205のどちらか一方が“0”
レベルであるとPMOSトランジスタ201あるいは、
200のどちらか一方がオン状態になり、NMOSトラ
ンジスタ202あるいは203のどちらか一方がオフ状
態になる。したがって出力206は“1”レベルとな
る。この動作で判るように入力レベルが“1”か“0”
レベルに決まると電源207から設置までに導電パスを
作ることはない。故にCMOS回路は低消費電力という
特徴を有している。しかしMOSトランジスタの伝達コ
ンダクタンスがバイポーラトランジスタに比して小さい
ため、負荷容量が大きいとその充放電に時間がかかり、
スピードが遅くなる欠点があった。
【0004】図2は従来のバイポーラトランジスタのみ
による2入力NAND回路を示す。この2入力NAND
回路はマルチエミッタのNPNトランジスタ(以後NP
Nと略す)300,NPN301,302,303、ダイオード30
4、それに抵抗305,306,307,308から構
成される。入力309,310が共に“1”レベルの
時、NPN300のベース,エミッタ接合は逆バイアスされる
ので、抵抗305に流れるベース電流はNPN301のベース
電流となる。したがってNPN301はオンとなり、抵抗30
7の非設置側端子電位が上昇しNPN303はオンとなるので
出力311は“0”レベルとなる。なお、この時、抵抗
306の電源312と反対側の端子電位が低下するので
NPN302はオフとなる。一方、入力309,310のうち
どちらかが“0”レベルの時はNPN300のベース,エミッ
タ接合に順バイアスされ、抵抗305を流れるベース電
流は大部分入力309または310に流れ込むのでNPN3
00は飽和状態となる。したがってNPN301のベースへは入
力309または310の“0”レベルがほぼそのまま伝達
され、NPN301はオフとなるので、NPN303がオフとなる。
一方抵抗306の電源312と反対側の端子の電位が上
昇するのでNPN302がオンになり、NPN302のエミッタ電流
が負荷を充電し、出力311は“1”レベルとなる。
【0005】この様なバイポーラトランジスタ回路で
は、大きな電流を低インビーダンス回路に流し込んだ
り、流し出したりするので消費電力が大きい欠点があ
る。集積度に関してもバイポーラトランジスタ回路はC
MOS回路に比べてかなり劣る。一方スピードは高い伝
達コンダクタンス特性のため速いという特徴を有してい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】以上述べてきたCMO
S回路、バイポーラ回路の欠点を補うために、図3に示
すようなインバータ回路が知られている。このインバー
タはPMOS50,NMOS51,NPN53,PNPトラ
ンジスタ(以下PNPと略す)54から成る。入力55が
“0”レベルの時、PMOS50はオンとなりNMOS51はオフと
なる。したがってNPN53とPNP54のベース電位
が上昇し、NPN53はオンとなりPNP54はオフとな
り、出力56は“1”レベルとなる。入力56が“1”
レベルの時、PMOS50 はオフとなりNMOS51はオンとな
る。したがってNPN53とPNP54のベース電位が低下
し、NPN53はオフとなりPNP54はオンとなり、
出力56は“0”レベルとなる。
【0007】しかし、バイポーラトランジスタの1つに
PNP54を用いているため、出力信号56の立下りが
遅くなるという欠点があった。これは、PNPはNPN
よりも、電流増幅率等の性能が落ちるためである。
【0008】また、IEEE Trans Electron,Devices Vol.
ED−16,No.11,Nov1969,p945〜95
1のFig.8には、図10図に示す様なインバータ回路が
記載されている。
【0009】このインバータ回路は、PMOSトランジ
スタ401,NMOSトランジスタ402,第1のNP
Nトランジスタ501,第2のNPNトランジスタ50
2から構成される。
【0010】このインバータ回路では第1及び第2のNP
N501,502 がオフになるとき、ベースに蓄積した寄生電
荷を強制的に抜取る手段がないため該NPN501,502 がオ
フに切換わる時間が長くなる。そのため第1,第2のNP
N501,502がともにオンとなる状態が長く続き、消費
電力が増加するだけでなくスイッチング時間も遅くな
る。
【0011】さらに、上記文献のFig.10には、図11
に示す様なインバータ回路が記載されている。図11の
インバータ回路に、NMOSトランジスタ403及びPM
OSトランジスタ404を設けた構成となっている。NMOS
403 は第1のNPN501がオンからオフになるとき、ベース
に蓄積した寄生電荷を強制的に抜取る手段であり、PMOS
404 は第2のNPN502がオンからオフになるとき、
ベースに蓄積した寄生電荷を強制的に抜き取る手段であ
り、これらによって図10のインバータ回路には、若
干、高速性が得られるが、NMOS403とPMOS404のゲートが
共に入力INに接続されるので入力容量が大きくなり、
回路の高速性が得られないという問題がある。また、P
MOSトランジスタ404は、入力レベルが“0”でオ
ン状態になるが、このときPMOS404 のゲート・ソース間
の電位は、第2のNPN502の1VBE(例えば、Siの場合
は約0.7V )のみであるので、PMOS404 のドレイン電
流IDは殆んど流れず、第2のNPN502のベースに蓄積し
た寄生電荷は、放電されず、回路の高速性が得られない
という問題点も有する。
【0012】また、米国特許第4,301,383 号には、第1
2図に示す様なバッファ回路が記載されている。PMOS60
1,603,605,NMOS602,604,NPN701,702で構成される
回路であるが、PMOS601,NMOS602で構成される第1のイ
ンバータ回路の後段に、PMOS603,NMOS604で構成される
第2のインバータ回路があり、NPN702は2段のインバー
タ回路を介して駆動されることになり、遅延が生じて、
回路全体としての高速性が得られないという問題点を有
する。
【0013】本発明の目的は、以上述べてきたCMOS
回路,バイポーラトランジスタ回路の欠点を補い、電界
効果トランジスタ及びバイポーラトランジスタからなる
高速で低消費電力の半導体集積回路装置を提供するにあ
る。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は、CMOS回路
の低消費電力特性及びバイポーラ回路の高スピード特性
に着目し、両ゲートを組合せた複合回路により高速で低
消費電力の回路を得ようとするものである。
【0015】上記目的を達成するために、本発明の特徴
は、コレクタとベースとエミッタとを有し、コレクタが
第1の電源端子に接続され、エミッタが出力端子に接続
されている第1のバイポーラトランジスタと、コレクタ
とベースとエミッタとを有し、コレクタが上記出力端子
に接続され、エミッタが第2の電源端子に接続されてい
る第2のバイポーラトランジスタと、少なくとも一つの
入力端子に印加される入力信号に応答して、上記第1の
電源端子から上記第1のバイポーラトランジスタのベー
スへの電流路を形成する少なくとも1つの他方導電型電
界効果トランジスタと、上記入力端子に印加される上記
入力信号に応答して、上記出力端子から上記第2のバイ
ポーラトランジスタのベースへの電流路を形成する少な
くとも一方導電型電界効果トランジスタと、上記第1の
バイポーラトランジスタのベースに接続され、上記第1
のバイポーラトランジスタのベースから蓄積電荷を引き
抜く第1の電荷引き抜き素子と、上記第2のバイポーラ
トランジスタのベースに接続され、上記第2のバイポー
ラトランジスタのベースから蓄積電荷を引き抜く第2の
電荷引抜素子と、上記入力端子と論理信号を出力する少
なくとも1つのCMOS論理回路とからなる信号入力部に、
上記出力端子からの信号を帰還させることを特徴とす
る。
【0016】
【作用】TTLゲートで行われているような2個のNP
Nトランジスタを電源端子と接地端子間に直列接続した
いわゆるトーテムポール型出力段とCMOS回路からな
る論理回路,バイポーラトランジスタを駆動する回路か
ら成り、該駆動回路の相補出力を該出力段のバイポーラ
トランジスタのベースに供給することにより、高入力イ
ンビーダンス,低出力インビーダンス回路を実現する。
この場合、MOSトランジスタとNPNトランジスタは
ダーリントン接続され、大きな伝達コンダクタンスを得
ることができる。
【0017】
【実施例】以下、本発明を詳細に説明する。
【0018】図4は、トーテムポール出力形インバータ
回路を示す。
【0019】図4に於いて、14は、コレクタが電源端
子1に、エミッタが出力端子17に接続される第1のN
PNバイポーラトランジスタ(以下単に第1のNPNと
称す)、15は、コレクタが出力端子17に、エミッタ
が設置電位GNDである固定電位端子に接続される第2
のNPNのバイポーラトランジスタ(以下単に第2のN
PNと称す)、10は、ゲートが入力端子16に、ソー
ス及びドレインがそれぞれ第1のNPNのコレクタとベ
ースとに接続されるP型絶縁ゲート電界効果トランジス
タ(以下単にPMOSと称す)、11はゲートが入力端
子16に、ドレイン及びソースが第2のNPNのコレク
タとベースとに接続されるN型絶縁ゲート電界効果トラ
ンジスタ(以下単にNMOSと称す)、12及び13は、第
1,第2のNPNのベースとエミッタとの間に設けられ
る抵抗である。
【0020】表1は本回路の論理動作を示すものであ
る。
【0021】
【表1】
【0022】入力16が“0”レベルの時、PMOS10がオ
ンとなりNMOS11がオフとなる。したがって第1のNPN
14のベース電位が上昇し、第1のNPN14はオンと
なる。このとき、NMOS11がオフとなるので第2のNPN
のベース15への電流の供給が止るとともに、第2のN
PN15のベース及びNMOS11に蓄積された蓄積電
荷が抵抗13を介して設置電位GNDへ抜取られるの
で、第2のNPN15は急速にオフになる。
【0023】したがって、第1のNPN14のエミッタ
電流は図示しない容量性負荷を充電し、出力17は急速
に“1”レベルとなる。
【0024】入力16が“1”レベルの時、PMOS10がオ
フとなりNMOS11がオンとなる。このとき、PMOS10がオフ
となるので第1のNPN14のベースへの電流の供給が
止まるとともに、第1のNPN14のベースB及びPM
OS10に蓄積された蓄積電荷が抵抗12,NMOS11,NP
N15 ,抵抗13を介して設置電位GNDへ抜取られるの
で、第1のNPN14は急速にオフになる。また、NMOS
11がオンとなり、ドレインとソースとの間が短縮される
ので、第2のNPN15のベースには出力17からの電
流と、前述した様な第1のNPN14のベース及びPMOS
10に蓄積された蓄積電荷の電流とが共に供給され、第2
のNPN15は急速にオンとなる。したがって、出力1
7は急速に“0”レベルとなる。
【0025】ここで、抵抗12の働きについて更に述べ
る。前述した様に抵抗12は、PMOS10及び第1のNPN
14がオンからオフに切換るとき、PMOS10及び第1のN
PN14のベースに蓄積された蓄積電荷を抜取り、第1
のNPN14を急速にオフさせる働きと、この抜取った
電荷をオンとなったNMOS11を介して第2のNPNのベース
に供給して、第2のNPNを急速にオンさせる働きとを
もつ。
【0026】さらに、抵抗12がPMOS10のドレインとNM
OS11のドレインとの間に設けられているので、電源端子
1と設置電位GNDとの間に導電パスが生じることな
く、低消費電力が達成できる。つまり、仮に抵抗12が
PMOS10のドレインとGNDとを接続する様に設けられた
場合、入力16が“0”レベルのとき、電源端子1とG
NDとの間に導電パスが生じ、常に電流が流れ、消費電
力が大きくなるが本実施例では導電パスが生じない。
【0027】また、本回路に於いては、抵抗12が出力
端子17にも接続されていることによって、入力16が
“0”レベルのとき、PMOS10と抵抗12とを介し
て、出力17の電位を電源端子1の電位まで上昇させる
ことができ、出力のフル振幅化が図れノイズマージンを
十分確保できる。
【0028】次に抵抗13の働きについて更に述べる。
前述した様に、抵抗13はNMOS11及び第2のNPN15
がオンからオフに切換るとき、NMOS11及び第2のNPN
15のベースに蓄積された蓄積電荷を抜取り、第2のN
PN15を急速にオフさせる働きを持つ。更に本回路に
於いては、入力16が“1”レベルのとき抵抗13とNM
OS11とを介して、出力17を“0”レベルまで下降させ
ることができ、出力のフル振幅化が図れ、ノイズマージ
ンを十分確保できる。
【0029】また、本回路に於いては、バイポーラトラ
ンジスタはNPNトランジスタのみを使用するので、ス
イッチング特性を一致させやすい。
【0030】また、本回路によれば、電流増幅率が低い
PNPトランジスタを使用していないので、出力信号の
立下りが遅くなることはなくなり、高速動作可能であ
る。
【0031】図5は、2入力NAND回路である。
【0032】図5に於いて、26は、コレクタが電源端
子1に、エミッタが出力端子29に接続される第1のN
PN,27は、コレクタが出力端子29に、エミッタが
接続電位GNDである固定電位端子に接続される第2の
NPN,28は2個の入力端子、20及び21は、各ゲ
ートがそれぞれ異なる入力端子28に、各ソース及び各
ドレインが、第1のNPN26のコレクタとベースとの
間に並列にそれぞれ接続されるPMOS、22及び23
は、各ゲートがそれぞれ異なる入力端子28に、各ドレ
イン及び各ソースが第2のNPN27のコレクタとベー
スとの間に直列にそれぞれ接続されるNMOS、24は
PMOS20,21のドレイン、第1のNPN26のベースとNMOS2
2のドレイン、出力端子とを接続する抵抗、25は第2
のNPN27のベースとエミッタとを接続する抵抗である。
表2は本回路の論理動作を示すものである。
【0033】
【表2】
【0034】まず入力28のどちらかが“0”レベルの
時、PMOS20,21のどちらかがオンとなり、NMOS22,23の
どちらかがオフとなる。したがって第1のNPN26の
ベース電位が上昇し、第1のNPN26はオンとなる。
このとき、NMOS22,23のうちどちらかがオフとなるので
第2のNPN27のベースへの電流の供給が止るととも
に、第2のNPN27のベース及びNMOS22,23に蓄積さ
れた蓄積電荷が抜取られるので、第2のNPN27は急
速にオフになる。
【0035】したがって、第1のNPN26のエミッタ
電流は図示しない容量性負荷を充電し出力29は、急速
に“1”レベルとなる。
【0036】入力28の両方が“0”レベルの時、PMOS
20,21の両方がオンとなり、NMOS22,23の両方がオフと
なる。したがって動作は上記と同じで出力29は“1”
となる。
【0037】一方入力28の両方が“1”レベルの時、
PMOS20,21の両方がオフとなり、NMOS22,23の両方がオ
ンとなる。このとき、PMOS20,21が共にオフとなるので
第1のPNP26のベースへ電流の供給が止まるととも
に、第1のNPN26のベース及びPMOS20,21に蓄積さ
れた蓄積電荷が抜取られるので、第1のNPN26は急
速にオフになる。また、NMOS22,23がオンとなり、ドレ
インとソースとの間が短絡されるので、第2のNPN2
7のベースには出力29からの電流と、前述した様な第
1のNPN26のベース及びPMOS20,21に蓄積
された蓄積電荷の電流とが共に供給され第2のNPN2
7は急速にオンとなる。したがって、出力29は急速に
“0”レベルとなる。
【0038】尚、本回路では2入力NAND回路を例に
とって説明したが、3入力NAND、4入力NAND等
の一般のk入力NAND回路(k≧2)も構成できる。
【0039】また、2入力NOR回路,3入力NOR,
4入力NOR等の一般のk入力NOR回路(k≧2)も
構成できる。
【0040】(実施例1)図6は本発明の第1の実施例
を示す図である。出力部に図4で示したインバータ回路
を使用したラッチを示す。
【0041】図7に於いて、42はラッチパルス401
の反転を作るCMOSインバータ、40はデータ入力4
00を伝達するトランスファゲート、43は記憶部を構
成するCMOSインバータ、41はトランスファゲート
であり、図4と同一符号は同一物及び相当物を示す。
【0042】データ入力400をラッチする際にはラッ
チパルス401を“1”にする。するとトランスファゲ
ート40は、オンとなりトランスファゲート41はオフ
となりデータが書込まれる。その後ラッチパルス401
を“0”にするとトランスファゲート40はオフとな
り、トランスファゲート41はオンとなる。したがっ
て、インバータ43,トーテムポール出力形インバータ
及びトランスファゲート41でデータを保持する。
【0043】本実施例によればCMOS駆動段とバイポ
ーラ出力段2段の最小構成のラッチ回路が実現でき、バ
ッファ回路を用いずに高速,低消費電力及び高集積のL
SI化が可能となる。
【0044】本実施例のBiCMOS複合回路として
は、図4の回路を使用したが後に述べる図7,図8,図
9の様なBiCMOS複合回路を用いることもできる。
以下、これらの回路について説明する。
【0045】図7はインバータ回路である。
【0046】本回路は図4に示す回路に於ける抵抗12
を第2のN型絶縁ゲート電界効果トランジスタ(以下単
に第2のNMOSと称す、尚以後NMOS11を第1のNMO
Sと称す)90に置き換えた回路である。第2のNMOS90
のゲートは入力端子16に、ドレイン及びソースはそれ
ぞれPMOS10のドレイン、第2のNPN15のベースとに
接続される。図4と同一符号は同一物及び相当物を示
す。図4とほぼ同じ動作である。
【0047】図4と異なる点は第1のNPN14がオフ
になる時、即ち、入力16が“1”レベルの時、第2の
NMOS90がオンになり、第1のNPN14及びPMOS
10の蓄積電荷を引き抜く点である。図4では抵抗12が
この働きをしているが、本回路では第2のNMOS90のソー
スを第2のNPN15のベースに接続することにより、
さらにベース電流を増加させて第2のNPN15がオフ
からオンになるのを速めている。
【0048】更に、図4の回路に於いては、PMOS10がオ
フからオンに切換るとき、抵抗12にも電流が流れ、分
流して、第1のNPN14のベース電位の上昇が遅れ、
第1のNPN14がオフからオンへの切換えが、若干遅
れるが、本回路に於いては、PMOS10がオフからオ
ンに切換るとき、第2のNMOS90はオンからオフに
なり、第2のNMOSのドレインとソースとの間には電
流が流れず分流しないので、第1のNPN14のベース
電位が図4より速く上昇し、第1のNPN14がオフか
らオンになるのをより速くすることができる。
【0049】本回路をラッチに用いれば、抵抗12を第
2のNMOS90で置換したことによって集積度の向上と高速
化が図れ、さらに、第2のNMOS90のソースを第2のNPN1
5 のベースに接続することにより、より高速化が達成で
きる。
【0050】図8はインバータ回路である。
【0051】本回路は図7に示す回路に於ける抵抗13
を第2のP型電界効果トランジスタであるP型チャンネ
ル接合電界効果トランジスタ(以下PJEFTと略す)1
00に置換した例である。PJFET100のゲートは入力端子
16にソース及びドレインはそれぞれ第2のNPNのベ
ースとエミッタとに接続される。
【0052】図8に於いて、図4及び図7と同一符号は
同一物及び相当物を示す。
【0053】図7の回路と異なる点は第2のNPN15
がオンからオフになるとき、第2のNPN15がオンか
らオフになる時、即ち入力16が“1”から“0”レベ
ルになる時、第2のNPN15の蓄積電荷を引き抜く時
にはPJFET100のオン抵抗が小さくなり、第2の
NPN15を速くオフにする。また、入力16が“0”
から“1”レベルになる時にはPJFET100がオン
からオフになり、第2のNPN15へのベース供給電流
が分流されないので第2のNPN15が速くオンからオ
フになる。
【0054】回路をラッチに用いれば、更に高速化の効
果がある。
【0055】図9はインバータ回路である。
【0056】本回路は図7に示す回路に於ける抵抗13
を第3のN型絶縁ゲート電界効果トランジスタ(以下単
に第3のNMOSと称す)110に置換した例であり、
図4及び図7と同一符号は同一物及び相当物を示す。第
3のNMOS110 のゲートは第1のNPN14のベースに、
ドレイン及びソースはそれぞれ第2のNPN15のベー
スとエミッタとに接続される。
【0057】図7の回路と異なる点は第2のNPN15
がオンからオフになる時、即ち入力16が“1”から
“0”レベルの時、第2のNPN15及び第1のNMOS11
の蓄積電荷を第3のNMOS110 を介して抜き取る点であ
る。入力16が“0”レベルの時には第1のNPN14
の高いベース電位が第3のNMOS110 のゲートに加わりこ
のベース信号に応答して第3のNMOS110がオンとなり、N
MOS110のドレイン・ソース間の電流が流れ、第2のNP
N15のベース・エミッタ間を短絡し、蓄積電荷をより
高速に抜き取る。
【0058】本回路をラッチに用いれば、抵抗を使用し
ないので、さらに、高集積化ができる効果がある。
【0059】また、図11の従来例と異なり、NMOS110
のゲートが入力に接続されていないので、入力容量が小
さくなり、回路の高速化が図れる。
【0060】図7,図8,図9では図4の変形例として
インバータ回路について説明したが、図5等の多入力N
AND多入力NOR回路や図6のラッチ回路等への適用
も可能である。
【0061】
【発明の効果】以上述べた様に本発明によれば、バイポ
ーラトランジスタの高駆動能力と電界効果トランジスタ
の低消費電力特性を兼ね備えた回路を最小段数で構成
し、高速,低消費電力の半導体集積回路装置を得ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のCMOS回路図。
【図2】従来のTTL回路図。
【図3】従来例であるインバータ回路。
【図4】インバータ回路図。
【図5】2入力NAND回路。
【図6】本発明の第1の実施例であるラッチ回路。
【図7】インバータ回路。
【図8】インバータ回路。
【図9】インバータ回路。
【図10】従来例のインバータ回路
【図11】従来例のインバータ回路
【図12】従来例のインバータ回路。
【符号の説明】
10…PMOSトランジスタ、11,90,110…N
MOSトランジスタ、12,13…抵抗、14,15…
NPNトランジスタ、100…PチャンネルJFET。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西尾 洋二 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 久保木 茂雄 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 岩村 将弘 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社日立製作所日立研究所内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】コレクタとベースとエミッタとを有し、コ
    レクタが第1の電源端子に接続され、エミッタが出力端
    子に接続されている第1のバイポーラトランジスタと、 コレクタとベースとエミッタとを有し、コレクタが上記
    出力端子に接続され、エミッタが第2の電源端子に接続
    されている第2のバイポーラトランジスタと、 少なくとも一つの入力端子に印加される入力信号に応答
    して、上記第1の電源端子から上記第1のバイポーラト
    ランジスタのベースへの電流路を形成する少なくとも一
    つの他方導電型電界効果トランジスタと、 上記入力端子に印加される上記入力信号に応答して、上
    記出力端子から上記第2のバイポーラトランジスタのベ
    ースへの電流路を形成する少なくとも一つの一方導電型
    電界効果トランジスタと、 上記第1のバイポーラトランジスタのベースに接続さ
    れ、上記第1のバイポーラトランジスタのベースから蓄
    積電荷を引き抜く第1の電荷引抜素子と、 上記第2のバイポーラトランジスタのベースに接続さ
    れ、上記第2のバイポーラトランクジスタのベースから
    蓄積電荷を引き抜く第2の電荷引抜素子と、 上記入力端子と論理信号を出力する少なくとも1つのC
    MOS論理回路とからなる信号入力部に、上記出力端子
    からの信号を帰還させることを特徴とする半導体集積回
    路装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN106735646A (zh) * 2016-12-26 2017-05-31 江苏塞维斯数控科技有限公司 一种基于断丝保护电路的断丝检测装置

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