JPH0627847B2 - 放射線検出器 - Google Patents
放射線検出器Info
- Publication number
- JPH0627847B2 JPH0627847B2 JP1325293A JP32529389A JPH0627847B2 JP H0627847 B2 JPH0627847 B2 JP H0627847B2 JP 1325293 A JP1325293 A JP 1325293A JP 32529389 A JP32529389 A JP 32529389A JP H0627847 B2 JPH0627847 B2 JP H0627847B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scintillator
- scintillators
- light
- bonding
- radiation detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2002—Optical details, e.g. reflecting or diffusing layers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/202—Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
Description
【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、ポジトロンCT装置などの放射線検出器に関
するものである。
するものである。
[従来の技術] ポジトロンCT装置は、ポジトロンを放出する核種で標
識された薬剤を患者に投与し、体外計測により放射性核
種の体内分布を横断層イメージとして描出するものであ
る。
識された薬剤を患者に投与し、体外計測により放射性核
種の体内分布を横断層イメージとして描出するものであ
る。
患者に投与する薬剤はできるだけ少なくすることが望ま
しく、そのためには微量のγ線を効率よく検出しなけれ
ばならない。また、NaI(TI)、Bi4Ge3O
12(BGO)、CsFなどの無機結晶をシンチレータと
して用いたγ線検出器は複数個のシンチレータより構成
されたシンチレータアレイと、複数個の光電子増倍管
(以下PMTという)とにより構成されている。γ線の
入射により発生した光は、複数個のPMTに分配するこ
とにより、γ線の入射した1つのシンチレータを検出し
ているが、このシンチレータでの光の減衰を可及的に少
なくし、しかも分配を適正にすることが必要である。
しく、そのためには微量のγ線を効率よく検出しなけれ
ばならない。また、NaI(TI)、Bi4Ge3O
12(BGO)、CsFなどの無機結晶をシンチレータと
して用いたγ線検出器は複数個のシンチレータより構成
されたシンチレータアレイと、複数個の光電子増倍管
(以下PMTという)とにより構成されている。γ線の
入射により発生した光は、複数個のPMTに分配するこ
とにより、γ線の入射した1つのシンチレータを検出し
ているが、このシンチレータでの光の減衰を可及的に少
なくし、しかも分配を適正にすることが必要である。
このような目的でシンチレータアレイとPMTとを組合
せた放射線検出器として、従来は第4図、第5図、第6
図等に示すものがある。
せた放射線検出器として、従来は第4図、第5図、第6
図等に示すものがある。
このうち、第4図に示すものは、4個のシンチレータ(1
1)(12)(13)(14)からなるシンチレータアレイ(1)と2個
のPMT(21)(22)からなり、前記シンチレータのうち、
内側のシンチレータ(12)(13)間の接合面(32)は反射層と
透過層が所定の面積比で構成され、また、両側のシンチ
レータ(11)(12)間と(13)(14)間のそれぞれの接合面(31)
(32)は反射層だけで構成されたものである。
1)(12)(13)(14)からなるシンチレータアレイ(1)と2個
のPMT(21)(22)からなり、前記シンチレータのうち、
内側のシンチレータ(12)(13)間の接合面(32)は反射層と
透過層が所定の面積比で構成され、また、両側のシンチ
レータ(11)(12)間と(13)(14)間のそれぞれの接合面(31)
(32)は反射層だけで構成されたものである。
第5図に示すものは、シンチレータアレイ(1)に深さの
異なる複数本のスリット(4)を入れ、このスリット(4)に
反射剤を充填または塗布して4つのPMT(21)(22)に適
当な比で光を分配するようにしたものである。
異なる複数本のスリット(4)を入れ、このスリット(4)に
反射剤を充填または塗布して4つのPMT(21)(22)に適
当な比で光を分配するようにしたものである。
第6図に示すものは、接合面(31)…に反射剤を充填また
は塗布して複数個のシンチレータ(111)…と複数個のP
MT(21)(22)の間に平板状のライトガイド(5)を介在し
たものである。このライトガイド(5)は、平板以外に、
異なる割合で光を分配するような複雑な形状に分割した
ものもある。
は塗布して複数個のシンチレータ(111)…と複数個のP
MT(21)(22)の間に平板状のライトガイド(5)を介在し
たものである。このライトガイド(5)は、平板以外に、
異なる割合で光を分配するような複雑な形状に分割した
ものもある。
なお、第5図および第6図でのPMTは、1個が2連か
らなるものが使用され、したがって、この第5図および
第6図の例でのPMTは、それぞれ4つずつとなる。
らなるものが使用され、したがって、この第5図および
第6図の例でのPMTは、それぞれ4つずつとなる。
[発明が解決しようとする課題] 以上の従来の装置は、いずれも接合面に反射剤が充填ま
たは塗布されているが、この反射剤は光の吸収がかなり
大きく、特にシンチレータが細く、かつ小さく分割され
るに従い、この傾向が顕著になっていた。
たは塗布されているが、この反射剤は光の吸収がかなり
大きく、特にシンチレータが細く、かつ小さく分割され
るに従い、この傾向が顕著になっていた。
また、第6図の例ではシンチレータとPMTの間にライ
トガイドを介在しているため、さらにこの部分での光の
吸収が大きくなっていた。
トガイドを介在しているため、さらにこの部分での光の
吸収が大きくなっていた。
このような光の損失は、放射線検出器のエネルギー分解
能や時間分解能の劣化を招き、しかも個々のシンチレー
タの弁別特性を悪化させていた。
能や時間分解能の劣化を招き、しかも個々のシンチレー
タの弁別特性を悪化させていた。
本発明は簡単な構成で、しかも光の損失の可及的に少な
いものを得ることを目的とする。
いものを得ることを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明は、複数個のシンチレータを互いに接合したシン
チレータアレイで得られた光信号を、このシンチレータ
アレイに接続した光検出器にて電気信号に変換して出力
するようにしたものにおいて、前記シンチレータの互い
の接合面を粗面、一部粗面・残部鏡面、鏡面とし、これ
らの接合面間を空気層を介して光学的に接合したものを
具備してなるものである。
チレータアレイで得られた光信号を、このシンチレータ
アレイに接続した光検出器にて電気信号に変換して出力
するようにしたものにおいて、前記シンチレータの互い
の接合面を粗面、一部粗面・残部鏡面、鏡面とし、これ
らの接合面間を空気層を介して光学的に接合したものを
具備してなるものである。
[作用] 空気層を介して光学的に接合されたシンチレータ間にお
ける光の透過率は、向かい合う2つのシンチレータの面
状態によって異なる。具体的には、光の透過率は2つの
面がともに粗面の場合が最も大きく、ついで一方の面が
粗面で他方の面が鏡面の場合であり、2つの面がともに
鏡面の場合が最も小さい。また、一方の面が鏡面の場合
において、粗面側から鏡面側へ向かう光の透過率がその
逆の場合より小さい。従ってこれらの特性を利用してシ
ンチレータアレイを構成することによって、PMTへの
光の分配を任意に制御してシンチレータの弁別特性が得
られる。またこの構成によるシンチレータアレイでは反
射剤等による光の吸収もほとんどなく、シンチレータ内
で発生した光を効率よくPMTに導くことができるた
め、エネルギー分解能や時間分解能を向上させることが
できる。
ける光の透過率は、向かい合う2つのシンチレータの面
状態によって異なる。具体的には、光の透過率は2つの
面がともに粗面の場合が最も大きく、ついで一方の面が
粗面で他方の面が鏡面の場合であり、2つの面がともに
鏡面の場合が最も小さい。また、一方の面が鏡面の場合
において、粗面側から鏡面側へ向かう光の透過率がその
逆の場合より小さい。従ってこれらの特性を利用してシ
ンチレータアレイを構成することによって、PMTへの
光の分配を任意に制御してシンチレータの弁別特性が得
られる。またこの構成によるシンチレータアレイでは反
射剤等による光の吸収もほとんどなく、シンチレータ内
で発生した光を効率よくPMTに導くことができるた
め、エネルギー分解能や時間分解能を向上させることが
できる。
[実施例] 以下、本発明の実施例を図面に基づき説明する。
シンチレータで発生する光を複数個のPMTに分配する
のは、シンチレータの互いに接する接合面の面状態(粗
面であるか、鏡面であるかなど)と接合状態(空気層で
あるか、接合剤層であるかなど)を種々変えることによ
り個々のシンチレータで発生した光を、一旦シンチレー
タアレイ内に分配し、つぎに、これに光学的に接合され
たPMTに導くことで行う。
のは、シンチレータの互いに接する接合面の面状態(粗
面であるか、鏡面であるかなど)と接合状態(空気層で
あるか、接合剤層であるかなど)を種々変えることによ
り個々のシンチレータで発生した光を、一旦シンチレー
タアレイ内に分配し、つぎに、これに光学的に接合され
たPMTに導くことで行う。
第3図(a)〜(f)のように、2つのシンチレータ(1a)(1b)
間が互いに接合面(3a)(3b)をもって光学的に接合されて
いる場合、これらシンチレータ(1a)(1b)間における光の
透過率は、向かい合う2つのシンチレータ(1a)(1b)の接
合面(3a)(3b)の状態で異なる。具体的には、光の透過率
の大きい順に並べると、(a)のように両面(3a)(3b)が粗
面の場合が最も大きく、つぎに(b)のように一方の面(3
a)が鏡面で他方の面(3b)が粗面の場合、最も小さいのは
(c)のように両面(3a)(3b)が鏡面の場合である。ただ
し、(b)のような場合において、粗面側から鏡面側に向
かう光(m)の透過率の方が逆の場合(n)よりも小さい。
(d)は鏡面状態で向かい合っている面積(S1)と粗面状態
で向い合っている面積(S2)を適当な比に設定して目的の
透過率を得る例を示し、(e)は接合面(3a)(3b)をシンチ
レータ(1)の途中までスリットのように切込み、その深
さの割合で目的の透過率を得る例を示している。
間が互いに接合面(3a)(3b)をもって光学的に接合されて
いる場合、これらシンチレータ(1a)(1b)間における光の
透過率は、向かい合う2つのシンチレータ(1a)(1b)の接
合面(3a)(3b)の状態で異なる。具体的には、光の透過率
の大きい順に並べると、(a)のように両面(3a)(3b)が粗
面の場合が最も大きく、つぎに(b)のように一方の面(3
a)が鏡面で他方の面(3b)が粗面の場合、最も小さいのは
(c)のように両面(3a)(3b)が鏡面の場合である。ただ
し、(b)のような場合において、粗面側から鏡面側に向
かう光(m)の透過率の方が逆の場合(n)よりも小さい。
(d)は鏡面状態で向かい合っている面積(S1)と粗面状態
で向い合っている面積(S2)を適当な比に設定して目的の
透過率を得る例を示し、(e)は接合面(3a)(3b)をシンチ
レータ(1)の途中までスリットのように切込み、その深
さの割合で目的の透過率を得る例を示している。
以上(a)〜(e)は、接合面(3a)(3b)間を空気層としてい
る。しかし、(f)ではシリコンオイル、シリコングリ
ス、水などの光学接合剤(6)を接合面(3a)(3b)間に塗布
または充填した例を示している。屈折率の高い光学接合
剤(6)を介在すると、空気層とした場合に比し透過率は
増加する。
る。しかし、(f)ではシリコンオイル、シリコングリ
ス、水などの光学接合剤(6)を接合面(3a)(3b)間に塗布
または充填した例を示している。屈折率の高い光学接合
剤(6)を介在すると、空気層とした場合に比し透過率は
増加する。
以上のような特性を利用して構成された本発明の具体的
実施例を図面に基づき説明する。
実施例を図面に基づき説明する。
第1図は2個1対のPMT(21)(22)と、同一形状の6個
のシンチレータ(11)〜(16)とにて構成した放射線検出器
の例を示している。これらのシンチレータ(11)〜(16)は
接合面(31b)(32a)、(32b)(33a)、(33b)(34a)、(34b)(35
a)、(35b)(36a)で互いに光学的に接合しているが、これ
らのうち、両側の接合面(31b)(32a)、(35b)(36a)は鏡面
同士、中央の接合面(32b)(33a)、(33b)(34a)、(34b)(35
a)は粗面同士とし、かつ中心の接合面(33b)(34a)間だけ
光学接合剤(6)を介在し、他は空気層を介在して光学的
に接合したものである。
のシンチレータ(11)〜(16)とにて構成した放射線検出器
の例を示している。これらのシンチレータ(11)〜(16)は
接合面(31b)(32a)、(32b)(33a)、(33b)(34a)、(34b)(35
a)、(35b)(36a)で互いに光学的に接合しているが、これ
らのうち、両側の接合面(31b)(32a)、(35b)(36a)は鏡面
同士、中央の接合面(32b)(33a)、(33b)(34a)、(34b)(35
a)は粗面同士とし、かつ中心の接合面(33b)(34a)間だけ
光学接合剤(6)を介在し、他は空気層を介在して光学的
に接合したものである。
このようにして構成されたシンチレータの弁別特性を測
定した結果、つぎのようなデータが得られた。各々シン
チレータ(11)〜(16)にγ線を入射し、光を発生させ、2
つのPMT(21)(22)で電気信号として出力させる。この
ときの出力をそれぞれP1、P2として、 という値で算出する。すると、シンチレータ(11)(12)(1
3)(14)(15)(16)での発生に対応する上記式の算出値は、
それぞれ89、76、61、37、20、11となっ
た。このことから、PMT(21)(22)で6個のシンチレー
タの中から光を発生したシンチレータをどれも同等に弁
別できることがわかる。
定した結果、つぎのようなデータが得られた。各々シン
チレータ(11)〜(16)にγ線を入射し、光を発生させ、2
つのPMT(21)(22)で電気信号として出力させる。この
ときの出力をそれぞれP1、P2として、 という値で算出する。すると、シンチレータ(11)(12)(1
3)(14)(15)(16)での発生に対応する上記式の算出値は、
それぞれ89、76、61、37、20、11となっ
た。このことから、PMT(21)(22)で6個のシンチレー
タの中から光を発生したシンチレータをどれも同等に弁
別できることがわかる。
第2図は本発明の他の実施例を示すもので、4個のPM
T(21)(22)(23)(24)を用いて2次元的に拡張したもので
ある。すなわち、第1図と同一方向の接合面(31b)(32
a)、(32b)(33a)、(33b)(34a)、(34b)(35a)、(35b)(36a)
を同一構成とし、かつこれらをx軸方向とした場合、こ
れらの接合面と直交するy軸方向にも接合面(71b)(72
a)、(72b)(73a)、(73b)(74a)を形成し、中心の接合面(7
2b)(73a)は両方とも粗面とし、かつ接合剤層(6)を塗布
または充填し、両側の接合面(71b)(72a)、(73b)(74a)は
それぞれ外側を鏡面、内側を粗面とし、かつ空気層とし
たものである。このような構成とすることにより、4つ
のPMT(21)〜(24)により24個のシンチレータの中か
ら光を発生したシンチレータをどれも同等に弁別ができ
る。
T(21)(22)(23)(24)を用いて2次元的に拡張したもので
ある。すなわち、第1図と同一方向の接合面(31b)(32
a)、(32b)(33a)、(33b)(34a)、(34b)(35a)、(35b)(36a)
を同一構成とし、かつこれらをx軸方向とした場合、こ
れらの接合面と直交するy軸方向にも接合面(71b)(72
a)、(72b)(73a)、(73b)(74a)を形成し、中心の接合面(7
2b)(73a)は両方とも粗面とし、かつ接合剤層(6)を塗布
または充填し、両側の接合面(71b)(72a)、(73b)(74a)は
それぞれ外側を鏡面、内側を粗面とし、かつ空気層とし
たものである。このような構成とすることにより、4つ
のPMT(21)〜(24)により24個のシンチレータの中か
ら光を発生したシンチレータをどれも同等に弁別ができ
る。
以上の実施例では、第3図(a)(b)(c)および(f)の組合せ
としたが、さらに、(d)および(e)を加えて組合せたも
の、さらに、粗面の粗さを変化させたもの、屈折率の異
なる光学接合剤を使用したもの、接合面の一部にのみ光
学接合剤を塗布または充填し、他は空気層としたものな
どとの組合せによってシンチレータをさらに細分化する
ことができる。
としたが、さらに、(d)および(e)を加えて組合せたも
の、さらに、粗面の粗さを変化させたもの、屈折率の異
なる光学接合剤を使用したもの、接合面の一部にのみ光
学接合剤を塗布または充填し、他は空気層としたものな
どとの組合せによってシンチレータをさらに細分化する
ことができる。
[発明の効果] 本発明は上述のように構成したので、シンチレータで発
生した光の吸収を効率よく利用でき、放射線検出器のエ
ネルギー分解能、時間分解能、位置弁別特性が良好とな
る。また、反射剤層がないのでシンチレータを緻密に配
列することができ、不感領域をほとんどなくすことがで
きるので検出効率が向上する。さらに、シンチレータア
レイを特別な構造とする必要が無いため、製作が極めて
容易であるなどの効果を有する。
生した光の吸収を効率よく利用でき、放射線検出器のエ
ネルギー分解能、時間分解能、位置弁別特性が良好とな
る。また、反射剤層がないのでシンチレータを緻密に配
列することができ、不感領域をほとんどなくすことがで
きるので検出効率が向上する。さらに、シンチレータア
レイを特別な構造とする必要が無いため、製作が極めて
容易であるなどの効果を有する。
第1図は本発明による放射線検出器の第1実施例を示す
斜視図、第2図は本発明の第2実施例を示す斜視図、第
3図(a)〜(f)は接合面の異なる例の説明図、第4図、第
5図および第6図はそれぞれ従来例の異なる例を示す斜
視図である。 (1)…シンチレータアレイ、(1a)(1b)、(11)〜(14)、(1
11)〜(148)、(11)〜(16)、(1111)〜(1146)…シンチレー
タ、(21)(22)、(21)〜(24)…PMT、(3a)(3b)、(31)〜
(33)、(31b)〜(36a)、(71b)〜(74a)…接合面、(4)…ス
リット、(5)…ライトガイド、(6)…光学接合剤。
斜視図、第2図は本発明の第2実施例を示す斜視図、第
3図(a)〜(f)は接合面の異なる例の説明図、第4図、第
5図および第6図はそれぞれ従来例の異なる例を示す斜
視図である。 (1)…シンチレータアレイ、(1a)(1b)、(11)〜(14)、(1
11)〜(148)、(11)〜(16)、(1111)〜(1146)…シンチレー
タ、(21)(22)、(21)〜(24)…PMT、(3a)(3b)、(31)〜
(33)、(31b)〜(36a)、(71b)〜(74a)…接合面、(4)…ス
リット、(5)…ライトガイド、(6)…光学接合剤。
Claims (2)
- 【請求項1】複数個のシンチレータを互いに接合したシ
ンチレータアレイで得られた光信号を、このシンチレー
タアレイに接続した光検出器にて電気信号に変換して出
力するようにしたものにおいて、前記シンチレータの互
いの接合面を粗面、一部粗面・残部鏡面、鏡面とし、こ
れらの接合面間を空気層を介して光学的に接合したもの
を具備してなることを特徴とする放射線検出器。 - 【請求項2】接合面間が空気と異なる屈折率の光学接合
剤としたもの、粗面の粗さを変化させたもの、同一接合
面に粗面と鏡面を適当な面積比で組合せたもの、同一接
合面に空気と光学接合剤を適当な面積比で組合せたもの
の少なくとも1つを組合せてなる請求項(1)記載の放射
線検出器。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1325293A JPH0627847B2 (ja) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | 放射線検出器 |
US07/624,956 US5091650A (en) | 1989-12-15 | 1990-12-10 | Radiation detector using scintillator array |
DE69019497T DE69019497T2 (de) | 1989-12-15 | 1990-12-12 | Strahlungsdetektor mit Szintillationsmatrix. |
EP90313501A EP0437051B1 (en) | 1989-12-15 | 1990-12-12 | A radiation detector including a scintillator array |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1325293A JPH0627847B2 (ja) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | 放射線検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03185385A JPH03185385A (ja) | 1991-08-13 |
JPH0627847B2 true JPH0627847B2 (ja) | 1994-04-13 |
Family
ID=18175197
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1325293A Expired - Fee Related JPH0627847B2 (ja) | 1989-12-15 | 1989-12-15 | 放射線検出器 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5091650A (ja) |
EP (1) | EP0437051B1 (ja) |
JP (1) | JPH0627847B2 (ja) |
DE (1) | DE69019497T2 (ja) |
Families Citing this family (62)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5187369A (en) * | 1990-10-01 | 1993-02-16 | General Electric Company | High sensitivity, high resolution, solid state x-ray imaging device with barrier layer |
JP2934919B2 (ja) * | 1991-03-19 | 1999-08-16 | 信越化学工業株式会社 | 放射線検出器用シンチレータブロック接合体 |
JP2918003B2 (ja) * | 1991-03-20 | 1999-07-12 | 信越化学工業株式会社 | 放射線検出器用シンチレータブロック |
JP2547908B2 (ja) * | 1991-10-02 | 1996-10-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置 |
US5210420A (en) * | 1991-12-19 | 1993-05-11 | Positron Corporation | Positron emission tomography scanner |
JP2565278B2 (ja) * | 1992-03-31 | 1996-12-18 | 株式会社島津製作所 | 放射線検出器 |
US5319204A (en) * | 1992-05-13 | 1994-06-07 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Positron emission tomography camera with quadrant-sharing photomultipliers and cross-coupled scintillating crystals |
US5453623A (en) * | 1992-05-13 | 1995-09-26 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Positron emission tomography camera with quadrant-sharing photomultipliers and cross-coupled scintillating crystals |
US5300782A (en) * | 1992-06-26 | 1994-04-05 | General Electric Company | Gamma ray detector for pet scanner |
US5325855A (en) * | 1992-08-07 | 1994-07-05 | Memorial Hospital For Cancer And Allied Diseases | Flexible intraoperative radiation imaging camera |
JPH06289142A (ja) * | 1993-04-05 | 1994-10-18 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 放射線検出器およびその製造方法 |
US5418377A (en) * | 1993-07-09 | 1995-05-23 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Pixelized phosphor |
US5349191A (en) * | 1993-11-03 | 1994-09-20 | Triumf | Gamma ray detector for three-dimensional position encoding |
US5616924A (en) * | 1995-10-16 | 1997-04-01 | Picker International, Inc. | Optical enhancements to scintillating systems using dynamically controlled materials |
US6114703A (en) * | 1997-10-21 | 2000-09-05 | The Regents Of The University Of California | High resolution scintillation detector with semiconductor readout |
US6534771B1 (en) * | 1999-06-08 | 2003-03-18 | Saint Gobain Industrial Ceramics, Inc. | Gamma camera plate assembly for PET and SPECT imaging |
US6462341B1 (en) * | 2000-01-21 | 2002-10-08 | Adac Laboratories, Inc. | Pixelated scintillation detector |
US6473486B2 (en) * | 2000-12-05 | 2002-10-29 | Ge Medical Systems Global Technology Co., Llc | System and method of computed tomography imaging using a focused scintillator and method of manufacturing |
US7102135B2 (en) | 2001-06-26 | 2006-09-05 | European Organization For Nuclear Research | PET scanner |
US7157014B1 (en) * | 2001-10-05 | 2007-01-02 | Cit Pet Systems, Inc. | Method for producing a high resolution detector array |
EP1481263A1 (en) * | 2002-02-01 | 2004-12-01 | Board Of Regents The University Of Texas System | Asymmetrically placed cross-coupled scintillation crystals |
US6956214B2 (en) | 2002-02-01 | 2005-10-18 | Board Of Regnets, The University Of Texas System | Production method for making position-sensitive radiation detector arrays |
US7049600B2 (en) * | 2002-09-18 | 2006-05-23 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Scintillation crystal detection arrays for radiation imaging devices |
US7408164B2 (en) * | 2003-05-20 | 2008-08-05 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Detector array utilizing air gaps as a reflector between array elements |
US7019297B2 (en) * | 2003-05-20 | 2006-03-28 | Cti Pet Systems, Inc. | Detector array using internalized light sharing and air coupling |
US7088901B2 (en) * | 2003-08-07 | 2006-08-08 | Kim Chang L | Light guide apparatus and method for a detector array |
US7164136B2 (en) * | 2003-10-07 | 2007-01-16 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Detector array using a continuous light guide |
US7016030B2 (en) * | 2003-10-20 | 2006-03-21 | Euv Llc | Extended surface parallel coating inspection method |
JP4305241B2 (ja) * | 2004-03-26 | 2009-07-29 | 株式会社島津製作所 | 放射線検出器 |
US7166844B1 (en) | 2004-06-01 | 2007-01-23 | Science Applications International Corporation | Target density imaging using discrete photon counting to produce high-resolution radiographic images |
DE112005002398T5 (de) * | 2004-09-30 | 2007-08-16 | Stanford University, Palo Alto | Hochauflösender Halbleiterkristall-Bildgeber |
CN103995276B (zh) | 2009-05-14 | 2017-09-22 | 德威科尔医学产品公司 | 用于探测辐射的探针 |
US8314394B1 (en) | 2009-11-04 | 2012-11-20 | Science Applications International Corporation | System and method for three-dimensional imaging using scattering from annihilation coincidence photons |
FR2954760B1 (fr) * | 2009-12-28 | 2013-12-27 | Saint Gobain Cristaux Et Detecteurs | Scintillateur en halogenure de terre rare cristallin a face sensible polie |
WO2012016198A2 (en) | 2010-07-30 | 2012-02-02 | Pulsetor, Llc | Electron detector including an intimately-coupled scintillator-photomultiplier combination, and electron microscope and x-ray detector employing same |
US8357903B2 (en) * | 2010-10-19 | 2013-01-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Segmented detector array |
CN103492907A (zh) * | 2011-03-03 | 2014-01-01 | 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 | 利用非均匀隔片的成像阵列的系统、方法和装置 |
EP2707752B1 (en) | 2011-05-12 | 2017-06-14 | Koninklijke Philips N.V. | Optimized scintilator crystals for pet |
JP6215202B2 (ja) | 2011-08-05 | 2017-10-18 | パルセータ, エルエルシーPulsetor, Llc | 密接に結合したシンチレータ−光電子増倍管の1又は複数の組合体を含む電子検出器及びそれを使用した電子顕微鏡 |
WO2013033389A1 (en) * | 2011-08-30 | 2013-03-07 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | System, method and apparatus for deep slot, thin kerf pixelation |
US9164181B2 (en) * | 2011-12-30 | 2015-10-20 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Scintillation crystals having features on a side, radiation detection apparatuses including such scintillation crystals, and processes of forming the same |
WO2013115975A1 (en) | 2012-01-31 | 2013-08-08 | Ut-Battelle, Llc | Neutron camera employing row and column summations |
CN104781694B (zh) | 2012-09-27 | 2017-07-28 | 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 | 闪烁器阵列、闪烁器、包括闪烁器阵列或闪烁器的辐射检测装置、以及形成它们的方法 |
US9618631B2 (en) | 2012-10-10 | 2017-04-11 | Zecotek Imaging Systems Singapore Pte Ltd. | Crystal block array and method of manufacture |
WO2014057355A2 (en) * | 2012-10-10 | 2014-04-17 | Zecotek Imaging Systems Singapore Pte Ltd. | Crystal block array and method of manufacture |
CN104781889B (zh) * | 2012-11-16 | 2017-06-27 | 东丽株式会社 | 闪烁体面板 |
CN103064102B (zh) * | 2012-12-30 | 2014-11-05 | 明峰医疗系统股份有限公司 | 一种晶体排列方法及其探测器 |
US9040926B2 (en) * | 2013-03-15 | 2015-05-26 | Cbg Corporation | Rugged scintillation crystal assembly |
WO2014180658A1 (en) | 2013-05-08 | 2014-11-13 | Koninklijke Philips N.V. | Gamma radiation detection device |
WO2014181232A1 (en) * | 2013-05-10 | 2014-11-13 | Koninklijke Philips N.V. | Large-area scintillator element and radiation detectors and radiation absorption event locating systems using same |
WO2015040527A1 (en) * | 2013-09-18 | 2015-03-26 | Koninklijke Philips N.V. | Laser etched scintillation crystals for increased performance |
US9279892B2 (en) * | 2014-02-05 | 2016-03-08 | General Electric Company | Systems and methods for scintillators having polished and roughened surfaces |
WO2015170135A1 (en) * | 2014-05-07 | 2015-11-12 | Zecotek Imaging Systems Singapore Pte Ltd. | Crystal block array and method of manufacture |
US9709684B2 (en) | 2014-12-15 | 2017-07-18 | General Electric Company | Systems and methods for scintillators having micro-crack surfaces |
US9658344B1 (en) | 2015-11-04 | 2017-05-23 | Crystal Photonics, Incorporated | Apparatus including scintillation crystal array with different reflector layers and associated methods |
CN108113696A (zh) * | 2017-12-01 | 2018-06-05 | 深圳先进技术研究院 | 探测器、深度测量探测器单元及其作用深度计算方法 |
US10690785B2 (en) * | 2018-02-14 | 2020-06-23 | General Electric Company | Systems and methods for nuclear medicine imaging using sodium based crystals |
KR20210102987A (ko) | 2019-01-08 | 2021-08-20 | 더 리서치 파운데이션 포 더 스테이트 유니버시티 오브 뉴욕 | 유사 각기둥 광 가이드 |
WO2020156416A1 (en) * | 2019-01-30 | 2020-08-06 | The University Of Hong Kong | Energy-resolved x-ray imagingapparatus and method |
CN110007332B (zh) * | 2019-04-28 | 2023-11-28 | 沈阳智核医疗科技有限公司 | 晶体阵列、探测器、医疗检测设备及晶体阵列的制造方法 |
CN110368014B (zh) * | 2019-07-19 | 2023-10-31 | 沈阳智核医疗科技有限公司 | 用于pet探测器的晶体阵列、探测器环和pet探测器 |
US11275182B2 (en) | 2020-04-22 | 2022-03-15 | GE Precision Healthcare LLC | Systems and methods for scintillators having reflective inserts |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3102955A (en) * | 1960-07-06 | 1963-09-03 | Harshaw Chem Corp | Scintillation detector with compensating reflector for the crystal |
JPS5648560A (en) * | 1979-09-29 | 1981-05-01 | Kagaku Gijutsucho Hoshasen Igaku Sogo Kenkyusho | Position detector for radiant ray |
JPS58216974A (ja) * | 1982-06-11 | 1983-12-16 | Toshiba Corp | 放射線検出器ブロツクの製造方法 |
US4749863A (en) * | 1984-12-04 | 1988-06-07 | Computer Technology And Imaging, Inc. | Two-dimensional photon counting position encoder system and process |
US4743764A (en) * | 1984-12-04 | 1988-05-10 | Computer Technology And Imaging, Inc. | Two dimensional photon counting position encoder system and process |
US4929835A (en) * | 1985-04-12 | 1990-05-29 | Takaji Yamashita | Position-sensitive radiation detector |
JPS62135787A (ja) * | 1985-05-20 | 1987-06-18 | Hitachi Medical Corp | ポジトロンct装置の検出器 |
JPS62129776A (ja) * | 1985-12-02 | 1987-06-12 | Hitachi Medical Corp | ポジトロンct装置用検出器 |
JPH065290B2 (ja) * | 1986-09-18 | 1994-01-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | ポジトロンct装置 |
JPS63148189A (ja) * | 1986-12-11 | 1988-06-21 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線検出器 |
JPH0627844B2 (ja) * | 1987-05-14 | 1994-04-13 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線位置検出器 |
JPH01229995A (ja) * | 1988-03-10 | 1989-09-13 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線位置検出器 |
-
1989
- 1989-12-15 JP JP1325293A patent/JPH0627847B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-12-10 US US07/624,956 patent/US5091650A/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-12-12 EP EP90313501A patent/EP0437051B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-12-12 DE DE69019497T patent/DE69019497T2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0437051B1 (en) | 1995-05-17 |
EP0437051A2 (en) | 1991-07-17 |
US5091650A (en) | 1992-02-25 |
DE69019497D1 (de) | 1995-06-22 |
JPH03185385A (ja) | 1991-08-13 |
DE69019497T2 (de) | 1995-09-21 |
EP0437051A3 (en) | 1991-09-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0627847B2 (ja) | 放射線検出器 | |
US7087905B2 (en) | Radiation three-dimensional position detector | |
JP4534006B2 (ja) | 放射線位置検出方法及び装置 | |
US7138638B2 (en) | Edge effects treatment for crystals | |
US5391878A (en) | Multiplexed fiber readout of scintillator arrays | |
JP5944903B2 (ja) | 相互作用深さシンチレーション検出器 | |
JP4406699B2 (ja) | 光ファイバを利用した放射線及び中性子検出器 | |
EP1915640B1 (en) | Radiation detection apparatus | |
US5319204A (en) | Positron emission tomography camera with quadrant-sharing photomultipliers and cross-coupled scintillating crystals | |
JP5925452B2 (ja) | ポジトロン放射断層撮影(pet)検出器モジュール、ポジトロン放射断層撮影(pet)スキャナシステム、光ファイバプレート及び核医学画像撮影検出器モジュール | |
JP5011590B2 (ja) | 放射線位置検出器 | |
US7164136B2 (en) | Detector array using a continuous light guide | |
US20040232342A1 (en) | Grid array having graduated reflector walls | |
EP1058127B1 (en) | Radiation detector | |
JP2565278B2 (ja) | 放射線検出器 | |
WO2009033038A1 (en) | Reduced edge effect detector | |
JPH0575990B2 (ja) | ||
WO2018223917A1 (zh) | 检测器和具有该检测器的发射成像设备 | |
JP2013246156A (ja) | 3次元放射線位置検出器 | |
JP6448396B2 (ja) | 放射線検出器 | |
JP2009031132A (ja) | 放射線検出器 | |
JP2003240857A (ja) | 放射線検出器 | |
JPH07311270A (ja) | 放射線検出器 | |
JPS60166882A (ja) | 放射線検出器 | |
JPS6347686A (ja) | 放射線3次元位置検出装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |