JPH06270017A - ワイヤ放電加工機のワイヤ電極垂直度検出回路 - Google Patents
ワイヤ放電加工機のワイヤ電極垂直度検出回路Info
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- JPH06270017A JPH06270017A JP6039293A JP6039293A JPH06270017A JP H06270017 A JPH06270017 A JP H06270017A JP 6039293 A JP6039293 A JP 6039293A JP 6039293 A JP6039293 A JP 6039293A JP H06270017 A JPH06270017 A JP H06270017A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 接触検出部を損傷することなく発光ダイオー
ドを確実に発光させることができ、かつ、この発光を確
認することができるワイヤ放電加工機のワイヤ電極垂直
度検出回路の提供。 【構成】 垂直度検出時、ワイヤ電極２は走行状態にあ
り、接触検出リング１２Ｕ、１２Ｄに現れる電圧は大き
く変化する。この電圧の絶対値が電圧Ｖvef以上のとき
比較増幅器２０Ｕ、２０Ｄから信号が出力され、この信
号によりワンショットマルチバイブレータ２１Ｕ、２１
Ｄから所定時間継続して信号が出力され、この信号によ
りフォトカプラ２４Ｕ、２４Ｄが作動して発光ダイオー
ド２４Ｕ、２４Ｄが少なくとも当該所定時間発光する。
接触検出リング１２Ｕ、１２Ｄの電源７は発光ダイオー
ド１４Ｕ、１４Ｄの電源と異なる。
ドを確実に発光させることができ、かつ、この発光を確
認することができるワイヤ放電加工機のワイヤ電極垂直
度検出回路の提供。 【構成】 垂直度検出時、ワイヤ電極２は走行状態にあ
り、接触検出リング１２Ｕ、１２Ｄに現れる電圧は大き
く変化する。この電圧の絶対値が電圧Ｖvef以上のとき
比較増幅器２０Ｕ、２０Ｄから信号が出力され、この信
号によりワンショットマルチバイブレータ２１Ｕ、２１
Ｄから所定時間継続して信号が出力され、この信号によ
りフォトカプラ２４Ｕ、２４Ｄが作動して発光ダイオー
ド２４Ｕ、２４Ｄが少なくとも当該所定時間発光する。
接触検出リング１２Ｕ、１２Ｄの電源７は発光ダイオー
ド１４Ｕ、１４Ｄの電源と異なる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ワイヤ放電加工機に使
用されるワイヤ電極が垂直になっているか否かを検出す
るワイヤ放電加工機のワイヤ電極垂直度検出回路に関す
る。
用されるワイヤ電極が垂直になっているか否かを検出す
るワイヤ放電加工機のワイヤ電極垂直度検出回路に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】ワイヤ放電加工機は、ワークとワイヤ電
極との間に放電を発生させることによりワークを加工す
る装置である。この装置による加工において、ワイヤ電
極はワークに対して所定の間隙を介して対向し、かつ上
下方向に走行せしめられるが、当該ワイヤ電極が上下方
向に対して正確に垂直に張設されていないとワークに対
する正確な加工はできない。このため、加工時、ワーク
を取換える度にワイヤ電極垂直度検出回路を用いてワイ
ヤ電極の垂直度が検査される。このようなワイヤ電極垂
直度検出回路を図により説明する。
極との間に放電を発生させることによりワークを加工す
る装置である。この装置による加工において、ワイヤ電
極はワークに対して所定の間隙を介して対向し、かつ上
下方向に走行せしめられるが、当該ワイヤ電極が上下方
向に対して正確に垂直に張設されていないとワークに対
する正確な加工はできない。このため、加工時、ワーク
を取換える度にワイヤ電極垂直度検出回路を用いてワイ
ヤ電極の垂直度が検査される。このようなワイヤ電極垂
直度検出回路を図により説明する。
【０００３】図５は従来のワイヤ放電加工機のワイヤ電
極垂直度検出回路の構成図である。図で、１は被加工物
であるワークを載置するテーブルであり、Ｘ軸方向およ
びＹ軸方向に駆動可能となっている。２はワイヤ電極、
３はワイヤ電極２が巻回収納され加工中に繰出される繰
出しボビン、４は加工中にワイヤ電極２を繰出しボビン
３から引出して巻取る巻取りボビン、５は案内ローラで
ある。６Ｕは上側ワイヤガイド、６Ｄは下側ワイヤガイ
ドであり、それぞれワイヤ電極２を案内するとともに、
図示しない駆動機構により、Ｕ軸方向（Ｘ軸方向に平
行）およびＶ軸方向（Ｙ軸方向に平行）へ移動可能とな
っている。７はテーブル１とワイヤ電極２との間に接続
される電源であり、テーブル１側が正極性、ワイヤ電極
２側が負極性である。８は電源７の電力をワイヤ電極２
へ給電する給電子である。
極垂直度検出回路の構成図である。図で、１は被加工物
であるワークを載置するテーブルであり、Ｘ軸方向およ
びＹ軸方向に駆動可能となっている。２はワイヤ電極、
３はワイヤ電極２が巻回収納され加工中に繰出される繰
出しボビン、４は加工中にワイヤ電極２を繰出しボビン
３から引出して巻取る巻取りボビン、５は案内ローラで
ある。６Ｕは上側ワイヤガイド、６Ｄは下側ワイヤガイ
ドであり、それぞれワイヤ電極２を案内するとともに、
図示しない駆動機構により、Ｕ軸方向（Ｘ軸方向に平
行）およびＶ軸方向（Ｙ軸方向に平行）へ移動可能とな
っている。７はテーブル１とワイヤ電極２との間に接続
される電源であり、テーブル１側が正極性、ワイヤ電極
２側が負極性である。８は電源７の電力をワイヤ電極２
へ給電する給電子である。
【０００４】１０はテーブル１の所定の箇所に設置され
た導電体の円柱、１１Ｕ、１１Ｄは円柱１０の上下に支
持された絶縁リング、１２Ｕ、１２Ｄは各絶縁リング１
１Ｕ、１１Ｄの外面に固定された接触検出リングであ
る。接触検出リング１２Ｕの外面と接触検出リング１２
Ｄの外面とは同一円筒の一部となるように形成され、円
柱１０の底面に対して垂直である。各接触検出リング１
２Ｕ、１２Ｄの外面の所定部分は図示のとおりワイヤ電
極２と対向している。１３Ｕ、１３Ｄはそれぞれ接触検
出リング１２Ｕ、１２Ｄに接続された限流抵抗器、１４
Ｕ、１４Ｄはそれぞれ限流抵抗器１３Ｕ、１３Ｄと円柱
１０との間に接続された発光ダイオードである。円柱１
０、絶縁リング１１Ｕ、１１Ｄ、接触検出リング１２
Ｕ、１２Ｄ、限流抵抗器１３Ｕ、１３Ｄ、発光ダイオー
ド１４Ｕ、１４Ｄにより垂直出し治具１５が構成され
る。
た導電体の円柱、１１Ｕ、１１Ｄは円柱１０の上下に支
持された絶縁リング、１２Ｕ、１２Ｄは各絶縁リング１
１Ｕ、１１Ｄの外面に固定された接触検出リングであ
る。接触検出リング１２Ｕの外面と接触検出リング１２
Ｄの外面とは同一円筒の一部となるように形成され、円
柱１０の底面に対して垂直である。各接触検出リング１
２Ｕ、１２Ｄの外面の所定部分は図示のとおりワイヤ電
極２と対向している。１３Ｕ、１３Ｄはそれぞれ接触検
出リング１２Ｕ、１２Ｄに接続された限流抵抗器、１４
Ｕ、１４Ｄはそれぞれ限流抵抗器１３Ｕ、１３Ｄと円柱
１０との間に接続された発光ダイオードである。円柱１
０、絶縁リング１１Ｕ、１１Ｄ、接触検出リング１２
Ｕ、１２Ｄ、限流抵抗器１３Ｕ、１３Ｄ、発光ダイオー
ド１４Ｕ、１４Ｄにより垂直出し治具１５が構成され
る。
【０００５】１つのワークの加工が終了し、次のワーク
の加工が開始される前に、上記垂直出し治具１５を用い
てワイヤ電極２の垂直度が検出される。即ち、図示の状
態でテーブル１がワイヤ電極２の方へ移動せしめられた
とき、ワイヤ電極２が垂直に張設されている場合には、
ワイヤ電極２に接触検出リング１２Ｕ、１２Ｄが同時に
接触するので、発光ダイオード１４Ｕ、１４Ｄは同時に
発光する。しかし、ワイヤ電極２が、例えば図で左側に
傾斜していると、接触検出リング１２Ｕが最初にワイヤ
電極２に接触し、発光ダイオード１４Ｕのみが発光す
る。これにより、ワイヤ電極２の非垂直性が検出される
ので、ワイヤガイド６Ｕ、６Ｄのいずれかが移動せしめ
られ、ワイヤ電極２の垂直度が修正される。このように
発光ダイオード１４Ｕ、１４Ｄが同時に発光するまでワ
イヤ電極２の垂直度の修正が行われ、垂直が得られたと
き次のワークの加工が開始される。
の加工が開始される前に、上記垂直出し治具１５を用い
てワイヤ電極２の垂直度が検出される。即ち、図示の状
態でテーブル１がワイヤ電極２の方へ移動せしめられた
とき、ワイヤ電極２が垂直に張設されている場合には、
ワイヤ電極２に接触検出リング１２Ｕ、１２Ｄが同時に
接触するので、発光ダイオード１４Ｕ、１４Ｄは同時に
発光する。しかし、ワイヤ電極２が、例えば図で左側に
傾斜していると、接触検出リング１２Ｕが最初にワイヤ
電極２に接触し、発光ダイオード１４Ｕのみが発光す
る。これにより、ワイヤ電極２の非垂直性が検出される
ので、ワイヤガイド６Ｕ、６Ｄのいずれかが移動せしめ
られ、ワイヤ電極２の垂直度が修正される。このように
発光ダイオード１４Ｕ、１４Ｄが同時に発光するまでワ
イヤ電極２の垂直度の修正が行われ、垂直が得られたと
き次のワークの加工が開始される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記垂直出
し治具１５において、直流電源７の電圧が高いと接触検
出リング１２Ｕ、１２Ｄに損傷が生じる。即ち、垂直出
し作業中にテーブル１が移動せしめられ接触検出リング
１２Ｕ、１２Ｄとワイヤ電極２とが近接したとき、両者
間に発生する微小放電、又は両者間に介在する水滴によ
る電解作用により、或いは両者が接触したときの接触抵
抗により生じる熱溶融により、接触検出リング１２Ｕ、
１２Ｄが損傷を受けるのである。接触検出リング１２
Ｕ、１２Ｄにこのような損傷が生じると、それ以後の垂
直出しの調整精度に悪影響を及ぼすのは明らかである。
上記のような損傷を防止するためには、直流電源７の電
圧を低い電圧に選定すればよいが、当該電圧は発光ダイ
オード１４Ｕ、１４Ｄを発光させるに充分な電圧である
ことが必要である。そして、この電圧は約１．７Ｖ以上
である。一方、実験によると、上記損傷を防止するのに
充分な電圧は約１．５Ｖ程度であり、この結果、いずれ
をも満足する電圧の選定は不可能である。
し治具１５において、直流電源７の電圧が高いと接触検
出リング１２Ｕ、１２Ｄに損傷が生じる。即ち、垂直出
し作業中にテーブル１が移動せしめられ接触検出リング
１２Ｕ、１２Ｄとワイヤ電極２とが近接したとき、両者
間に発生する微小放電、又は両者間に介在する水滴によ
る電解作用により、或いは両者が接触したときの接触抵
抗により生じる熱溶融により、接触検出リング１２Ｕ、
１２Ｄが損傷を受けるのである。接触検出リング１２
Ｕ、１２Ｄにこのような損傷が生じると、それ以後の垂
直出しの調整精度に悪影響を及ぼすのは明らかである。
上記のような損傷を防止するためには、直流電源７の電
圧を低い電圧に選定すればよいが、当該電圧は発光ダイ
オード１４Ｕ、１４Ｄを発光させるに充分な電圧である
ことが必要である。そして、この電圧は約１．７Ｖ以上
である。一方、実験によると、上記損傷を防止するのに
充分な電圧は約１．５Ｖ程度であり、この結果、いずれ
をも満足する電圧の選定は不可能である。
【０００７】さらに、上記ワイヤ電極２の垂直度の検出
は、実加工に近い状態で垂直出し調整を行う必要がある
ため、ワイヤ電極２を走行させながら行われる。このよ
うなワイヤ電極２の走行状態において、ワイヤ電極２と
接触検出リング１２Ｕ、１２Ｄとが微小接触したとき、
両者間には接離が繰返され、その接触時間は数μｓｅ
ｃ、その周期は最小５μｓｅｃ程度である。このような
短時間の接触では発光ダイオード１４Ｕ、１４Ｄは応答
不可能であり、発光しない。したがって、垂直度検出に
おける接触感度を著しく悪化する。
は、実加工に近い状態で垂直出し調整を行う必要がある
ため、ワイヤ電極２を走行させながら行われる。このよ
うなワイヤ電極２の走行状態において、ワイヤ電極２と
接触検出リング１２Ｕ、１２Ｄとが微小接触したとき、
両者間には接離が繰返され、その接触時間は数μｓｅ
ｃ、その周期は最小５μｓｅｃ程度である。このような
短時間の接触では発光ダイオード１４Ｕ、１４Ｄは応答
不可能であり、発光しない。したがって、垂直度検出に
おける接触感度を著しく悪化する。
【０００８】本発明の目的は、上記従来技術における課
題を解決し、接触検出部とワイヤ電極との接触時に接触
検出部の損傷を防止し、しかも発光ダイオードを確実に
発光させることができ、ひいてはワイヤ電極の垂直度を
精度良く検出することができるワイヤ放電加工機のワイ
ヤ電極垂直度検出回路を提供するにある。
題を解決し、接触検出部とワイヤ電極との接触時に接触
検出部の損傷を防止し、しかも発光ダイオードを確実に
発光させることができ、ひいてはワイヤ電極の垂直度を
精度良く検出することができるワイヤ放電加工機のワイ
ヤ電極垂直度検出回路を提供するにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明は、テーブル上に載置された導電性の支持体
と、この支持体の上下に絶縁物を介しワイヤ電極に対向
して支持された接触検出部と、前記テーブルと前記ワイ
ヤ電極との間に接続された電源と、前記各接触検出部と
対応する各発光ダイオードとを備えたワイヤ放電加工機
のワイヤ電極垂直度検出回路において、前記支持体と前
記各接触検出部とを接続する抵抗器と、前記各接触検出
部の電圧と所定電圧とを比較し前記各接触検出部の電圧
が前記所定電圧以下となったとき信号を出力する電圧比
較手段と、この電圧比較手段からの信号が入力されたと
き所定時間継続して信号を出力する信号発生手段と、こ
の信号発生手段の出力信号により前記発光ダイオードの
点灯回路を閉じる開閉手段とを設けたことを特徴とす
る。
め、本発明は、テーブル上に載置された導電性の支持体
と、この支持体の上下に絶縁物を介しワイヤ電極に対向
して支持された接触検出部と、前記テーブルと前記ワイ
ヤ電極との間に接続された電源と、前記各接触検出部と
対応する各発光ダイオードとを備えたワイヤ放電加工機
のワイヤ電極垂直度検出回路において、前記支持体と前
記各接触検出部とを接続する抵抗器と、前記各接触検出
部の電圧と所定電圧とを比較し前記各接触検出部の電圧
が前記所定電圧以下となったとき信号を出力する電圧比
較手段と、この電圧比較手段からの信号が入力されたと
き所定時間継続して信号を出力する信号発生手段と、こ
の信号発生手段の出力信号により前記発光ダイオードの
点灯回路を閉じる開閉手段とを設けたことを特徴とす
る。
【００１０】
【作用】ワイヤ電極の垂直度検出時、ワイヤ電極と接触
検出部とが接触すると、この接触は電圧比較手段により
検出され、この検出の結果、信号発生手段から所定時間
継続して信号が出力される。この信号により、発光ダイ
オードの点灯回路の開閉手段が閉じられ、発光ダイオー
ドが発光する。接触検出部の電圧の処理回路と発光ダイ
オードの点灯回路とは別回路とされているので、接触検
出部やワイヤ電極に対する電源電圧は損傷を生じない低
電圧に、又発光ダイオードの点灯回路の電圧は発光に充
分な高い電圧に選定することができる。さらに、接触検
出部とワイヤ電極とが瞬間的に接触するだけで少なくと
も所定時間継続して発光ダイオードの点灯回路が閉じら
れるので、発光ダイオードを確実に発光させ、当該接触
を確実に把握することできる。
検出部とが接触すると、この接触は電圧比較手段により
検出され、この検出の結果、信号発生手段から所定時間
継続して信号が出力される。この信号により、発光ダイ
オードの点灯回路の開閉手段が閉じられ、発光ダイオー
ドが発光する。接触検出部の電圧の処理回路と発光ダイ
オードの点灯回路とは別回路とされているので、接触検
出部やワイヤ電極に対する電源電圧は損傷を生じない低
電圧に、又発光ダイオードの点灯回路の電圧は発光に充
分な高い電圧に選定することができる。さらに、接触検
出部とワイヤ電極とが瞬間的に接触するだけで少なくと
も所定時間継続して発光ダイオードの点灯回路が閉じら
れるので、発光ダイオードを確実に発光させ、当該接触
を確実に把握することできる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明
する。図１は本発明の実施例に係るワイヤ放電加工機の
ワイヤ電極垂直度検出回路の構成図である。図で、図５
に示す部分と同一部分には同一符号を付して説明を省略
する。電源７の電圧は、接触検出リング１２Ｕ、１２Ｄ
に損傷を生ぜしめない程度の低い値に選定されている。
又、発光ダイオード１４Ｕ、１４Ｄは電源７とは別の電
源（Ｖ、−Ｖ）で駆動される。１６Ｕ、１６Ｄは円柱１
０と接触検出リング１２Ｕ、１２Ｄとを接続する抵抗器
である。２０Ｕは比較増幅器であり、接触検出リング１
２Ｕの電圧を−端子に、又予め定められた設定電圧（−
Ｖvef ）を＋端子に入力し、両者を比較する。接触検出
リング１２Ｕの電圧の絶対値が設定電圧の絶対値Ｖvef
以上のとき、比較増幅器２０Ｕは信号を出力する。２１
Ｕはワンショットマルチバイブレータであり、比較増幅
器２０Ｕからの信号が入力されたとき、予め定められた
所定時間だけ継続して信号を出力する。この所定時間
は、ワンショットマルチバイブレータ２１Ｕの入力パル
ス電圧の周期より充分に長く設定されている。
する。図１は本発明の実施例に係るワイヤ放電加工機の
ワイヤ電極垂直度検出回路の構成図である。図で、図５
に示す部分と同一部分には同一符号を付して説明を省略
する。電源７の電圧は、接触検出リング１２Ｕ、１２Ｄ
に損傷を生ぜしめない程度の低い値に選定されている。
又、発光ダイオード１４Ｕ、１４Ｄは電源７とは別の電
源（Ｖ、−Ｖ）で駆動される。１６Ｕ、１６Ｄは円柱１
０と接触検出リング１２Ｕ、１２Ｄとを接続する抵抗器
である。２０Ｕは比較増幅器であり、接触検出リング１
２Ｕの電圧を−端子に、又予め定められた設定電圧（−
Ｖvef ）を＋端子に入力し、両者を比較する。接触検出
リング１２Ｕの電圧の絶対値が設定電圧の絶対値Ｖvef
以上のとき、比較増幅器２０Ｕは信号を出力する。２１
Ｕはワンショットマルチバイブレータであり、比較増幅
器２０Ｕからの信号が入力されたとき、予め定められた
所定時間だけ継続して信号を出力する。この所定時間
は、ワンショットマルチバイブレータ２１Ｕの入力パル
ス電圧の周期より充分に長く設定されている。
【００１２】２２Ｕは比較増幅器２０Ｕとワンショット
マルチバイブレータ２１Ｕの信号を入力するＯＲ回路、
２３Ｕはオープンコレクタ付きバッファであり、ＯＲ回
路２２Ｕからの信号の入力により回路を閉じるスイッチ
ング機能、および増幅機能を有する。２４Ｕはフォトカ
プラであり、発光側の端子がバッファ２３Ｕに、受光側
の端子が発光ダイオード１４Ｕに抵抗器２５Ｕを介して
接続されている。２６Ｕはフォトカプラ２４Ｕと抵抗器
２５Ｕとの間から引出された端子である。なお、接触検
出リング１２Ｄの電圧の処理回路も上記接触検出リング
１２Ｕの電圧の処理回路と同一に構成されており、対応
する素子には添付符号Ｕに代えて符号Ｄが付されてい
る。
マルチバイブレータ２１Ｕの信号を入力するＯＲ回路、
２３Ｕはオープンコレクタ付きバッファであり、ＯＲ回
路２２Ｕからの信号の入力により回路を閉じるスイッチ
ング機能、および増幅機能を有する。２４Ｕはフォトカ
プラであり、発光側の端子がバッファ２３Ｕに、受光側
の端子が発光ダイオード１４Ｕに抵抗器２５Ｕを介して
接続されている。２６Ｕはフォトカプラ２４Ｕと抵抗器
２５Ｕとの間から引出された端子である。なお、接触検
出リング１２Ｄの電圧の処理回路も上記接触検出リング
１２Ｕの電圧の処理回路と同一に構成されており、対応
する素子には添付符号Ｕに代えて符号Ｄが付されてい
る。
【００１３】ここで、上記抵抗器１６Ｕ、１６Ｄの抵抗
値について説明する。ワイヤ放電加工機による加工中、
放電個所には加工液（水）が放出されているので、垂直
度の検出時に、走行しているワイヤ電極２には水滴が付
着していることが多い。この場合、ワイヤ電極２と接触
検出リング１２Ｕ、１２Ｄとの間には水滴が介在するこ
ととなり、両者が非接触状態にあるにもかかわらず当該
水滴を介して電流が流れ、接触検出リング１２Ｕ、１２
Ｄのいずれか又は両方に接触時と同様の電圧が現れ、正
確な検出ができなくなる。このような事態を防止するた
め、抵抗器１６Ｕ、１６Ｄの抵抗値は適切な値に選定さ
れる。この選定方法が図２および図３に示されている。
値について説明する。ワイヤ放電加工機による加工中、
放電個所には加工液（水）が放出されているので、垂直
度の検出時に、走行しているワイヤ電極２には水滴が付
着していることが多い。この場合、ワイヤ電極２と接触
検出リング１２Ｕ、１２Ｄとの間には水滴が介在するこ
ととなり、両者が非接触状態にあるにもかかわらず当該
水滴を介して電流が流れ、接触検出リング１２Ｕ、１２
Ｄのいずれか又は両方に接触時と同様の電圧が現れ、正
確な検出ができなくなる。このような事態を防止するた
め、抵抗器１６Ｕ、１６Ｄの抵抗値は適切な値に選定さ
れる。この選定方法が図２および図３に示されている。
【００１４】図２は上記抵抗器１６Ｕ、１６Ｄの抵抗値
を決定するための実験装置の概略構成図、図３は図２に
示す回路の等価回路図である。各図で、７は図１に示す
ものと同じ電源、１６は抵抗器１６Ｕ、１６Ｄに相当す
る抵抗器（可変抵抗器）である。３０は加工液（この場
合水であり、導電度約２００μＳ／ｃｍ）が注入された
ビーカー、２００はワイヤ電極２に相当する電極、１２
０は接触検出リング１２Ｕ、１２Ｄに相当する電極、３
１は電極２００、１２０間を短絡又は開放するスイッチ
である。電極２００、１２０は外径２ｍｍの被覆線の先
端の被覆を１０ｍｍ除去したものを用い、かつ、両者の
間隔は２〜５ｍｍとし加工液内に挿入した。Ｔ01は電極
１２０から引出された端子、Ｔ02は接地端子であり、こ
れらで検出端子を構成する。なお、図３の抵抗器３２は
電極２００、１２０間の加工液の抵抗値を表す。
を決定するための実験装置の概略構成図、図３は図２に
示す回路の等価回路図である。各図で、７は図１に示す
ものと同じ電源、１６は抵抗器１６Ｕ、１６Ｄに相当す
る抵抗器（可変抵抗器）である。３０は加工液（この場
合水であり、導電度約２００μＳ／ｃｍ）が注入された
ビーカー、２００はワイヤ電極２に相当する電極、１２
０は接触検出リング１２Ｕ、１２Ｄに相当する電極、３
１は電極２００、１２０間を短絡又は開放するスイッチ
である。電極２００、１２０は外径２ｍｍの被覆線の先
端の被覆を１０ｍｍ除去したものを用い、かつ、両者の
間隔は２〜５ｍｍとし加工液内に挿入した。Ｔ01は電極
１２０から引出された端子、Ｔ02は接地端子であり、こ
れらで検出端子を構成する。なお、図３の抵抗器３２は
電極２００、１２０間の加工液の抵抗値を表す。
【００１５】この実験装置において、最初に、スイッチ
３１をＯＦＦとし、ワイヤ電極２と接触検出リング１２
Ｕ（又は接触検出リング１２Ｄ）とが非接触状態である
が両者間に加工液が介在しているのと同じ状態とし、こ
の状態で検出端子Ｔ01、Ｔ０２間の電圧（比較増幅器２
０Ｕ、２０Ｄの入力電圧に相当する）を前述の設定電圧
Ｖｖｅｆ より小さくなるように抵抗器１６を調整す
る。この場合、加工液により存在する抵抗器３２の抵抗
値に対して抵抗器１６の抵抗値が大き過ぎると電源７の
電圧がそのまま検出端子Ｔ01、Ｔ02間に現れ、非接触に
もかかわらず比較増幅器２０Ｕ、２０Ｄから信号が出力
されることになり不都合であるので、ある程度小さ値に
セットする。次に、スイッチ３１をＯＮとすることによ
り、ワイヤ電極２と接触検出リング１２Ｕ（又は接触検
出リング１２Ｄ）とが接触したときと同じ状態とし、こ
の状態で電源７の電圧が検出端子Ｔ01、Ｔ02に現れるこ
とを確認する。もし現れなければ抵抗器１６の抵抗値が
小さ過ぎることになる。このような実験により得られた
数値例の１つとして、設定電圧Ｖvef を１Ｖとした場
合、抵抗器１６Ｕ、１６Ｄの抵抗値は約２Ｋオームが適
切な値であることが判った。
３１をＯＦＦとし、ワイヤ電極２と接触検出リング１２
Ｕ（又は接触検出リング１２Ｄ）とが非接触状態である
が両者間に加工液が介在しているのと同じ状態とし、こ
の状態で検出端子Ｔ01、Ｔ０２間の電圧（比較増幅器２
０Ｕ、２０Ｄの入力電圧に相当する）を前述の設定電圧
Ｖｖｅｆ より小さくなるように抵抗器１６を調整す
る。この場合、加工液により存在する抵抗器３２の抵抗
値に対して抵抗器１６の抵抗値が大き過ぎると電源７の
電圧がそのまま検出端子Ｔ01、Ｔ02間に現れ、非接触に
もかかわらず比較増幅器２０Ｕ、２０Ｄから信号が出力
されることになり不都合であるので、ある程度小さ値に
セットする。次に、スイッチ３１をＯＮとすることによ
り、ワイヤ電極２と接触検出リング１２Ｕ（又は接触検
出リング１２Ｄ）とが接触したときと同じ状態とし、こ
の状態で電源７の電圧が検出端子Ｔ01、Ｔ02に現れるこ
とを確認する。もし現れなければ抵抗器１６の抵抗値が
小さ過ぎることになる。このような実験により得られた
数値例の１つとして、設定電圧Ｖvef を１Ｖとした場
合、抵抗器１６Ｕ、１６Ｄの抵抗値は約２Ｋオームが適
切な値であることが判った。
【００１６】ここで、本実施例の動作を図４に示す電圧
波形図を参照しながら説明する。なお、以下の説明では
上側の接触検出リング１２Ｕとワイヤ電極２との間の接
触状態について述べるが、下側の接触検出リング１２Ｄ
とワイヤ電極２との間の接触状態についても同じであ
る。図４で、横軸には時間、縦軸には電圧がとってあ
る。Ａは比較増幅器２０Ｕの入力電圧（接触検出リング
１２Ｕの電圧）、Ｂは比較増幅器２０Ｕの出力電圧、Ｃ
はワンショットマルチバイブレータ２１Ｕの出力電圧、
Ｄはバッファ２３Ｕの入力電圧を示す。前述のように、
ワイヤ電極２は走行しており、かつ、ワイヤ電極２の表
面は汚れ等により全体が同一表面状態ではないので、接
触検出リング１２Ｕがワイヤ電極２に接近し微小接触を
生じると、その接触抵抗は常時変化し、このため、比較
増幅器２０Ｕの入力電圧は図４の波形Ａのように変化す
る。比較増幅器２０Ｕでは、波形Ａの入力電圧と設定電
圧（−Ｖvef ）とが比較され、前者が後者以下となった
とき出力を生じる。この出力電圧が図４の波形Ｂで示さ
れている。
波形図を参照しながら説明する。なお、以下の説明では
上側の接触検出リング１２Ｕとワイヤ電極２との間の接
触状態について述べるが、下側の接触検出リング１２Ｄ
とワイヤ電極２との間の接触状態についても同じであ
る。図４で、横軸には時間、縦軸には電圧がとってあ
る。Ａは比較増幅器２０Ｕの入力電圧（接触検出リング
１２Ｕの電圧）、Ｂは比較増幅器２０Ｕの出力電圧、Ｃ
はワンショットマルチバイブレータ２１Ｕの出力電圧、
Ｄはバッファ２３Ｕの入力電圧を示す。前述のように、
ワイヤ電極２は走行しており、かつ、ワイヤ電極２の表
面は汚れ等により全体が同一表面状態ではないので、接
触検出リング１２Ｕがワイヤ電極２に接近し微小接触を
生じると、その接触抵抗は常時変化し、このため、比較
増幅器２０Ｕの入力電圧は図４の波形Ａのように変化す
る。比較増幅器２０Ｕでは、波形Ａの入力電圧と設定電
圧（−Ｖvef ）とが比較され、前者が後者以下となった
とき出力を生じる。この出力電圧が図４の波形Ｂで示さ
れている。
【００１７】ワンショットマルチバイブレータ２１Ｕは
比較増幅器２０Ｕの最初の出力電圧の立ち上がりで信号
を出力し、この信号は一定時間継続して出力される。ワ
ンショットマルチバイブレータ２１Ｕからの出力信号の
波形が図４の波形Ｃで示されている。この場合、上記一
定時間が経過し出力信号がなくなってもその時点で比較
増幅器２０Ｕからの出力信号の立ち上がりがあると、ワ
ンショットマルチバイブレータ２１Ｕからは引続いて信
号が出力されることになる。波形Ｃの最初のパルスＣ1
がその状態でのパルスであり、次のパルスＣ2 が一定時
間経過後比較増幅器２０Ｕからの信号の立ち上がりがな
かった場合のパルスである。
比較増幅器２０Ｕの最初の出力電圧の立ち上がりで信号
を出力し、この信号は一定時間継続して出力される。ワ
ンショットマルチバイブレータ２１Ｕからの出力信号の
波形が図４の波形Ｃで示されている。この場合、上記一
定時間が経過し出力信号がなくなってもその時点で比較
増幅器２０Ｕからの出力信号の立ち上がりがあると、ワ
ンショットマルチバイブレータ２１Ｕからは引続いて信
号が出力されることになる。波形Ｃの最初のパルスＣ1
がその状態でのパルスであり、次のパルスＣ2 が一定時
間経過後比較増幅器２０Ｕからの信号の立ち上がりがな
かった場合のパルスである。
【００１８】ワンショットマルチバイブレータ２１Ｕお
よび比較増幅器２０Ｕの出力信号はＯＲ回路２２Ｕを経
てバッファ２３Ｕに入力される。この入力電圧が図４の
波形Ｄに示されている。ＯＲ回路２２Ｕから信号が出力
されている間、バッファ２３Ｕのスイッチング機能が作
動し、フォトカプラ２４Ｕの発光側に電流が供給され、
フォトカプラ２４ＵがＯＮ状態となる。これにより、発
光ダイオード１４Ｕの点灯回路はＯＮとなり、発光ダイ
オード１４Ｕには抵抗器２５Ｕを経て電源電圧Ｖ（点灯
に充分な電圧）が供給され、発光ダイオード１４Ｕは発
光する。この発光期間はバッファ２３Ｕへ信号が入力さ
れている期間と一致する。したがって、この期間はワン
ショットマルチバイブレータ２１Ｕに設定された所定期
間又はそれ以上の期間となる。そして、当該所定期間は
充分に長く設定されているので、接触検出リング１２Ｕ
とワイヤ電極２との接触は発光ダイオードの発光により
充分に確認することができる。一方、端子２６Ｕには、
発光ダイオード１４Ｕが発光しているとき高レベル電
圧、発光していないとき低レベル電圧が現れるので、こ
の電圧を用いてワイヤガイド６Ｕ、６Ｄの駆動を制御
し、自動的にワイヤ垂直出しを行うことも可能である。
よび比較増幅器２０Ｕの出力信号はＯＲ回路２２Ｕを経
てバッファ２３Ｕに入力される。この入力電圧が図４の
波形Ｄに示されている。ＯＲ回路２２Ｕから信号が出力
されている間、バッファ２３Ｕのスイッチング機能が作
動し、フォトカプラ２４Ｕの発光側に電流が供給され、
フォトカプラ２４ＵがＯＮ状態となる。これにより、発
光ダイオード１４Ｕの点灯回路はＯＮとなり、発光ダイ
オード１４Ｕには抵抗器２５Ｕを経て電源電圧Ｖ（点灯
に充分な電圧）が供給され、発光ダイオード１４Ｕは発
光する。この発光期間はバッファ２３Ｕへ信号が入力さ
れている期間と一致する。したがって、この期間はワン
ショットマルチバイブレータ２１Ｕに設定された所定期
間又はそれ以上の期間となる。そして、当該所定期間は
充分に長く設定されているので、接触検出リング１２Ｕ
とワイヤ電極２との接触は発光ダイオードの発光により
充分に確認することができる。一方、端子２６Ｕには、
発光ダイオード１４Ｕが発光しているとき高レベル電
圧、発光していないとき低レベル電圧が現れるので、こ
の電圧を用いてワイヤガイド６Ｕ、６Ｄの駆動を制御
し、自動的にワイヤ垂直出しを行うことも可能である。
【００１９】このように、本実施例では、接触検出リン
グおよびワイヤ電極側の電源と発光ダイオード側の電源
とを分離するようにしたので、接触検出リングの損傷を
防止することができるとともに、発光ダイオードを確実
に発光させることができる。又、ワンショットマルチバ
イブレータにより発光ダイオードの発光期間を確保する
ようにしたので、接触検出リングとワイヤ電極との接触
を充分に確認することができる。又、点灯回路に引出し
端子を設けたので、ワイヤ垂直出しの自動化も可能であ
る。
グおよびワイヤ電極側の電源と発光ダイオード側の電源
とを分離するようにしたので、接触検出リングの損傷を
防止することができるとともに、発光ダイオードを確実
に発光させることができる。又、ワンショットマルチバ
イブレータにより発光ダイオードの発光期間を確保する
ようにしたので、接触検出リングとワイヤ電極との接触
を充分に確認することができる。又、点灯回路に引出し
端子を設けたので、ワイヤ垂直出しの自動化も可能であ
る。
【００２０】
【発明の効果】以上述べたように本発明では、接触検出
部およびワイヤ電極側の電源と発光ダイオード側の電源
とを分離するようにしたので、接触検出部の損傷を防止
することができるとともに、発光ダイオードを確実に発
光させることができる。又、信号発生手段により発光ダ
イオードの発光期間を充分に長くするようにしたので、
接触検出部とワイヤ電極との接触を確認することができ
る。
部およびワイヤ電極側の電源と発光ダイオード側の電源
とを分離するようにしたので、接触検出部の損傷を防止
することができるとともに、発光ダイオードを確実に発
光させることができる。又、信号発生手段により発光ダ
イオードの発光期間を充分に長くするようにしたので、
接触検出部とワイヤ電極との接触を確認することができ
る。
【図１】本発明の実施例に係るワイヤ放電加工機のワイ
ヤ電極垂直度検出回路の構成図である。
ヤ電極垂直度検出回路の構成図である。
【図２】図１に示す抵抗器の抵抗値を定める実験装置の
構成図である。
構成図である。
【図３】図２に示す装置の等価回路図である。
【図４】図１に示す装置の各部の波形図である。
【図５】従来のワイヤ放電加工機のワイヤ電極垂直度検
出回路の構成図である。
出回路の構成図である。
２ ワイヤ電極 ７ 電源 ８ 給電子 １０ 円柱 １１Ｕ、１１Ｄ 絶縁リング １２Ｕ、１２Ｄ 接触検出リング １４Ｕ、１４Ｄ 発光ダイオード １６Ｕ、１６Ｄ 抵抗器 ２０Ｕ、２０Ｄ 比較増幅器 ２１Ｕ、２１Ｄ ワンショットマルチバイブレータ ２３Ｕ、２３Ｄ バッファ ２４Ｕ、２４Ｄ フォトカプラ
Claims (3)
- 【請求項１】 テーブル上に載置された導電性の支持体
と、この支持体の上下に絶縁物を介しワイヤ電極に対向
して支持された接触検出部と、前記テーブルと前記ワイ
ヤ電極との間に接続された電源と、前記各接触検出部と
対応する各発光ダイオードとを備えたワイヤ放電加工機
のワイヤ電極垂直度検出回路において、前記支持体と前
記各接触検出部とを接続する抵抗器と、前記各接触検出
部の電圧と所定電圧とを比較し前記各接触検出部の電圧
が前記所定電圧以下となったとき信号を出力する電圧比
較手段と、この電圧比較手段からの信号が入力されたと
き所定時間継続して信号を出力する信号発生手段と、こ
の信号発生手段の出力信号により前記発光ダイオードの
点灯回路を閉じる開閉手段とを設けたことを特徴とする
ワイヤ放電加工機のワイヤ電極垂直度検出回路。 - 【請求項２】 請求項１において、前記各抵抗器の抵抗
値は、前記ワイヤ電極と前記接触検出部間の加工液の存
在によって前記電圧比較手段から信号が出力されない値
に選定されていることを特徴とするワイヤ放電加工機の
ワイヤ電極垂直度検出回路。 - 【請求項３】 請求項１において、前記発光ダイオード
の点灯回路には、当該各発光ダイオードの発光の有無を
検出する検出端子が設けられていることを特徴とするワ
イヤ放電加工機のワイヤ電極垂直度検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6039293A JPH06270017A (ja) | 1993-03-19 | 1993-03-19 | ワイヤ放電加工機のワイヤ電極垂直度検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6039293A JPH06270017A (ja) | 1993-03-19 | 1993-03-19 | ワイヤ放電加工機のワイヤ電極垂直度検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06270017A true JPH06270017A (ja) | 1994-09-27 |
Family
ID=13140842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6039293A Withdrawn JPH06270017A (ja) | 1993-03-19 | 1993-03-19 | ワイヤ放電加工機のワイヤ電極垂直度検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06270017A (ja) |
-
1993
- 1993-03-19 JP JP6039293A patent/JPH06270017A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000530 |