JPH0626858A

JPH0626858A - 測距装置

Info

Publication number: JPH0626858A
Application number: JP18353192A
Authority: JP
Inventors: Osamu Nonaka; 修野中
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 1992-07-10
Filing date: 1992-07-10
Publication date: 1994-02-04
Anticipated expiration: 2017-07-15
Also published as: JP3302050B2

Abstract

(57)【要約】【目的】本発明は、補正用回路や記憶素子等を設けなく
とも、容易に且つ高精度の測距を行う測距装置を提供す
ることを目的とする。【構成】本発明は、被写体２４に測距用光を投光し、そ
の反射光をＰＳＤ２６で受光し、該ＰＳＤ２６から検出
される一対の信号電流をアンプ２７，２８で増幅し、切
換えスイッチ２９，３０を介して演算回路３１に入力す
る。前記切換えスイッチ２９，３０には、基準信号源３
２が接続され、切換えにより実測の出力若しくは、基準
信号源３２の出力信号を選択的に入力でき、ＣＰＵ３３
で疑似的に測距値を算出し記憶させておき、実測値を補
正し、製造時や温度等により生じる回路構成素子のばら
つきを打ち消し測距する測距装置である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はコンパクトカメラの測距
装置に係り、特に受光素子にＰＳＤを利用した赤外線投
射三角測距装置の改善に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般にコンパクトカメラには、赤外線投
光方式の三角測距装置が採用されている。この三角測距
装置の構成例を図７に示す。

【０００３】前記三角測距装置において、赤外線発光ダ
イオード１の発する測距用光が投光レンズ２を介して、
被写体３に投光すると、前記測距用赤外線光は、前記投
光レンズから基線長Ｓだけ離れた箇所に配置された受光
レンズ４から受光素子（ＰＳＤ）５に入射する。この入
射位置ｘを受光レンズの光軸基準にとると、被写体距離
Ｌとの間に、次式の関係が成り立つ。

【０００４】

【数１】

【０００５】ここで、ｆ：受光レンズの焦点距離とす
る。従って、入射位置ｘを検出すれば、被写体距離Ｌが
求められる。また、受光素子に専用の光位置検出素子
（ＰＳＤ）を用いれば、ＰＳＤの２つの信号電流ｉ₁と
ｉ₂が得られ、これらの信号電流は次式の関係を満た
す。

【０００６】

【数２】従って図示するようにＰＳＤ端部から受光レンズ光軸ま
でを距離ａとすると、

【０００７】

【数３】

【０００８】として、前記入射位置ｘが求められる。Ｐ
ＳＤ長さｔと距離ａは、その測距装置により固定された
値なので、信号電流ｉ₁とｉ₂をｉ₁／（ｉ₁＋ｉ₂）
の形で演算すればよい。前記演算は、オートフォーカス
（ＡＦ）回路６とＣＰＵ７により行われる。このＡＦ回
路６は、バイポーラ集積回路素子で構成され、前記信号
電流ｉ₁とｉ₂は増幅され、図８に示す演算回路で式
（４）に示したｉ₁／（ｉ₁＋ｉ₂）の演算を行う。

【０００９】この図８に示す演算回路について説明す
る。ＰＳＤの出力信号ｉ₁，ｉ₂が増幅されて圧縮ダイ
オード８，９に流入すると、基準電圧Ｖ_refで各ダイオ
ードは、次式のような電位を生じる。

【００１０】

【数４】

【００１１】ここで、Ｖ_T：サーマルボルテージ、
ｉ_s：ダイオードの逆方向飽和電流とする。これらの電
圧信号は、バッファ１０，１１を介して、定電流源１２
とトランジスタ１３，１４からなる回路に入力される
が、これらのトランジスタ１３，１４のコレクタ電流Ｉ
_A，Ｉ_Bは、前記圧縮ダイオードの出力電圧に次式のよ
うに依存する。

【００１２】

【数５】となるが、一方、コレクタ電流Ｉ_A，Ｉ_Bは、

【００１３】

【数６】従って、コレクタ電流Ｉ_Aを検出すれば、

【００１４】

【数７】の関係式が成立して、式（４）において、被写体距離Ｌ
を求めるのに必要であったｉ₁／（ｉ₁＋ｉ₂）を求め
ることができ、被写体に合焦している。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、前述した図８
に示した演算回路は、入力する２つ信号の比較により結
果が求められているため、この２系統を構成する各素子
の特性等が一致していないと正しい演算結果が得られな
い。例えば、ダイオード８及び、ダイオード９の特性が
等しいこと、バッファ１０とバッファ１１のオフセット
が一致すること、トランジスタ１３とトランジスタ１４
の特性を一致させて、同じ特性の２系統の回路構成にし
なくてはならない。

【００１６】また、前記トランジスタのアーリー効果の
影響や各素子間の温度差、電流源２０の温度特性まで考
慮すると、極限られた条件下でしか正しい演算が行われ
ていないことになる。

【００１７】この様な不具合を解決するために、構成素
子の特性を補正するための数値を記憶するＥＥＰＲＯＭ
や可変抵抗素子等を設ける必要があり、また温度特性を
補正するための温度センサやその付帯回路、ＣＰＵのプ
ログラム等を必要とした。そこで本発明は、補正用回路
や記憶素子等を設けなくとも、容易に且つ高精度の測距
を行う測距装置を提供することを目的とする。

【００１８】

【課題を解決するための手段】本発明は前記目的を達成
するために、被写体に向けて光束を投光する投光手段
と、この投光手段と基線長だけ離れて配置され、前記投
光手段による前記被写体からの反射光を受光し、その受
光位置に応じた一対の信号電流を出力する受光手段と、
前記一対の信号電流を各々増幅する一対の増幅手段と、
この一対の増幅手段から出力された出力信号をアナログ
演算し前記被写体距離に依存した信号を出力するアナロ
グ演算手段とを具備したカメラの測距装置において、基
準信号を発生する基準信号発生手段と、前記アナログ演
算手段の入力端もしくは前記一対の増幅手段の入力端に
前記基準信号の入力するための切換手段と、この切換手
段によって前記基準信号が入力された際の前記アナログ
演算手段の出力と、前記切換手段によって前記基準信号
が入力されず、前記一対の信号電流を基に演算された前
記アナログ演算手段の出力とを用いて前記被写体距離を
決定する距離決定手段とで構成されるカメラの測距装置
を提供する。

【００１９】

【作用】以上のような構成の測距装置は、投光手段によ
り被写体に測距用光を投光し、その反射光を受光手段に
入射し測距する測距装置において、受光手段から検出さ
れる一対の信号電流ｉ₁，ｉ₂がアンプでそれぞれ増幅
され、切換えスイッチを介して演算回路に入力される。
前記切換えスイッチには、基準信号源が設けられ、切換
えにより実測の出力若しくは、前記基準信号源の出力信
号が選択的に入力されて、疑似的に測距値を算出し記憶
させておくことにより、実測値に対して補正して回路構
成素子によるばらつきを打ち消した測距が実施される。

【００２０】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図１（ａ）は、本発明の測距装置の概念的
な構成を示し説明する。

【００２１】この測距装置の投受光系においては、ドラ
イバ２１によって駆動される赤外線発光ダイオード（Ｉ
ＲＥＤ）２２の発する測距用光は投光レンズ２３を介し
て、被写体２４に投光される。その被写体２４からの反
射光は、前記測距用赤外線光は、前記投光レンズ２３か
ら基線長Ｓだけ離れた箇所に配置された受光レンズ２５
から受光素子（ＰＳＤ）２６に入射する。

【００２２】前記ＰＳＤ２６から検出される２つの信号
電流をそれぞれ増幅するアンプ２７，２８が設けられ
る。前記アンプ２７，２８の各出力端は、切換えスイッ
チ２９，３０の一方の各端子に接続され、切換え端子を
介して、演算回路３１に接続される。

【００２３】また、前記切換えスイッチ２９，３０の他
方の各端子には、後述する基準信号源３２が接続され、
前記切換え端子により前記アンプ２９，３０の出力若し
くは、基準信号源３２の出力信号を選択的に演算回路３
１に入力することができる。これらの切換えスイッチ２
９，３０の切換え動作は、ＣＰＵ３３によって制御され
る。図１（ｂ）のフローチャートを参照して、測距を行
い、前記ＣＰＵ３３による正確な合焦距離の算出につい
て説明する。まず、予め基準信号を入力することによ
り、演算回路３１の精度や温度変化を算出し、それらの
数値ｘを保持しておく（ステップＳ１）。

【００２４】次にＩＲＥＤ２２から被写体２４に投光
し、その反射光をＰＳＤ２６により受光して、実際の測
距演算を行う（ステップＳ２）。次に予め算出した演算
回路３１により求められた補正値を実測値に加味して、
前述した式（１）、式（４）による合焦の演算を行い、
被写体２４までの距離を算出する（ステップＳ３）。次
に図２には、図１に示した第１実施例としての測距装置
のＡＦ回路の具体的な構成例を示す。

【００２５】このＡＦ回路は、遠近のいずれの位置に被
写体が存在するかの判別を確実に行う回路の例である。
ここで、前記ＡＦ回路の構成部材で図８に示した構成部
材と同等の部材には、同じ参照番号を付して、その説明
は省略する。

【００２６】図１に示したＰＳＤ２６から検出された信
号電流ｉ₁，ｉ₂が圧縮ダイオード８，９に流入する
と、カソード側に設けられた基準電圧Ｖ_refに基づき、
各ダイオードで式（５）に示した電圧信号が生じ、バッ
ファ４０，４１に入力される。このバッファ４０，４１
は、切換え回路４２の走査によって出力をオープン状態
（オフ状態）にすることができ、性能的には図８に示し
たバッファ１０，１１と同等であり、入力インピーダン
スが高く、出力インピーダンスが低い公知の回路構成を
想定している。前記バッファ４０，４１の各出力端は、
定電流源１２がエミッタに接続されたトランジスタ１
３，１４のベースにそれぞれ接続される。

【００２７】また、基準電流源４３と圧縮ダイオード４
４のアノードが接続され、カソード側には、基準電圧Ｖ
_refが設けられている。前記圧縮ダイオード４４のアノ
ードは、ＮＰＮトランジスタ４５のベースに接続されて
いる。このトランジスタ４５と、ＰＮＰトランジスタ４
６，４７とによりエミッタフォロワが構成される。これ
らの基準電流源４３と圧縮ダイオード４４、ＮＰＮトラ
ンジスタ４５、ＰＮＰトランジスタ４６，４７とによ
り、図１に示した基準信号源３２が構成されている。

【００２８】前記ＮＰＮトランジスタ４５と電流源４８
及びＰＮＰトランジスタ４６と電流源４９からなる２段
のエミッタフォロワ式の第１のバッファは、前記バッフ
ァ４０，４１と機能的に同様なものとする。また、電流
源５０、前記ＰＮＰトランジスタ４７は、前記第１のバ
ッファの出力段となる第２のバッファである。

【００２９】この構成において、前記ＮＰＮトランジス
タ４５のベース・エミッタ電圧Ｖ_BEと、ＰＮＰトランジ
スタ４６，４７のベース・エミッタ電圧Ｖ_BEがほぼ等し
いと仮定すると、ダイオード４４の圧縮電圧とほぼ等し
い電圧出力が、前記トランジスタ１３，１４の各ベース
に入力される。

【００３０】また、ＰＮＰトランジスタ５１のオン動作
によって、前記トランジスタ４６，４７のベース・エミ
ッタ電圧Ｖ_BEが“０”に近くなるため、電圧出力は、オ
ープン状態になる。

【００３１】従って、前記トランジスタ５１のオン／オ
フの切換え動作によって、圧縮ダイオード４４の圧縮電
圧は、前記トランジスタ１３，１４に入力されたり、さ
れなかったりする。同様の原理で、バッファ４０，４１
がオープンになったり、バッファ動作したりする。

【００３２】本実施例は、トランジスタ１３，１４及び
電流源１２による回路の誤差をキャンセルすることであ
る。すなわち、電流源１２のばらつきや温度特性から発
生する誤差のため、設計時に想定した目標値（絶対値）
に差を生じ、その時々により回路素子の駆動状態が異な
る。従って、ＰＳＤを１：１に内分する点に信号光が入
射しても、それらの状態によって、電流Ｉ_Aにばらつき
を発生させてしまう。従って本実施例では、切換え回路
４２を付設させ、このスッチングにより、トランジスタ
５１をオフし、バッファ４０，４１の出力をオープン状
態にして、疑似的に測距値を算出し記憶させておくこと
により、実測値に対して補正することができ、つまり、
電流Ｉ_Aのばらつきを予めＣＰＵが記憶していることに
より、そのばらつきを打ち消し、正確な測距が実施され
る。次に、図２（ｂ）のフローチャートを参照して、前
述したＡＦ回路の動作を説明する。

【００３３】まず、バッファ４０，４１をＯＦＦ、トラ
ンジスタ５１をＯＦＦして測距する。この時に得られた
得られた電流Ｉ_A1を基準値Ｉ_Arefとして記憶する（ステ
ップＳ１１）。

【００３４】次に、前記バッファ４０，４１をＯＮ、ト
ランジスタ５１もＯＮして基準信号源をオープンとし
て、測距を行い、電流Ｉ_Aを求める（ステップＳ１
２）。前記基準値Ｉ_Arefと電流Ｉ_Aとを比較する（ステ
ップＳ１３）。この比較で前記電流Ｉ_Aが大きければ
（ＹＥＳ）、式（６）より、ｉ₁に対しｉ₂が大きいこ
とを意味する。つまり、被写体は反射信号光がＰＳＤを
１：１に内分する距離よりも近い距離に存在することが
分かる。

【００３５】従って、近距離にある被写体に合焦させる
（ステップＳ１４）。しかし、この判定で前記基準値Ｉ
_Arefが電流Ｉ_Aより大きければ、ｉ₁に対しｉ₂が小さ
いことを意味する。つまり、被写体は反射信号光がＰＳ
Ｄを１：１に内分する距離よりも遠い距離に存在するこ
とが分かる。

【００３６】従って、遠距離にある被写体に合焦する
（ステップＳ１５）。ただし、遠距離若しくは近距離の
位置に存在する被写体からの反射信号光がＰＳＤを１：
１に内分し、この時、Ｉ_A＝Ｉ_Arefの値が出力されるよ
うに、ＰＳＤは、予め位置調整されているものとしてい
る。

【００３７】この第１実施例では、バッファ４０，４１
の特性のばらつきは無視できる程度のものとしたが、実
際には、ある程度のばらつきを有しており、これを考慮
した第２実施例について、説明する。図３は、第２実施
例の測距装置のＡＦ回路の具体的な構成例を示す。

【００３８】この第２実施例は、第１実施例と同様に、
単純遠近判定２段ＡＦ回路に構成されている例である。
ここで第２実施例の構成部材で第１実施例の構成部材
（図１，図２）と同等の部材には、同じ最小符号を付し
て、その説明は省略する。このＡＦ回路の投受光光学系
は、第１実施例に準じるものであり、プリアンプ５５，
５６は、ＣＰＵ３３の制御により出力をオープン状態可
能である。圧縮ダイオード８，９のアノード側には、プ
リアンプ出力の代りに定電流を流し込むことができる定
電流源５７，５８が設けられている。

【００３９】次段には、オペアンプ５９と抵抗６０〜６
３からなる減算回路が接続されている。前記抵抗６０〜
６３が等しい抵抗値の時、バッファ１０，１１の出力電
圧を各々ｖ₁，ｖ₂とすると、オペアンプ５９の出力ｖ
_outは、ｖ_out＝ｖ₂−ｖ₁ となる。このことから前記オペアンプ５９の出力ｖ_out
は、

【００４０】

【数８】となる。この式は、

【００４１】

【数９】

【００４２】に変形でき、この出力は、式（４）と同様
に式（１）と共に被写体距離に１：１で対応する。この
ラッチ回路６４は、ＣＰＵ３３に前記減算回路の出力を
ラッチする。つまり、ラッチタイミングは、パルス状に
投光するＩＲＥＤ２２のタイミングに同期した形とな
る。前記ＣＰＵ３３は、内蔵するＡ／Ｄ変換器でラッチ
回路６４の出力をＡ／Ｄ変換して取り込む。

【００４３】このような測距回路において、問題となる
のは、式（７）のＶ_Tが温度特性を持つこと、またアン
プ５９に取り付けられた抵抗６０〜６３の抵抗値のばら
つきによって、前記減算回路の出力の絶対値が変動する
ことである。一方、このような回路構成では、プリアン
プのように、単に増幅として機能する分には、増幅率の
絶対値に変動があっても、得られる結果には影響がな
い。

【００４４】前記プリアンプ５５，５６の増幅率が相対
的に同じ方向に変動しても、相対的なばらつきに関して
は、かなりの精度の補正が期待できる。ＩＣ回路におい
ては、バッファ回路以降ほどデリケートではない。

【００４５】図３（ｂ）に、前述した第２実施例の動作
を説明するためのタイミングチャートを示す。この図３
に示すように、まず電流源５７，５８をオンし、プリア
ンプ５５，５６はオフして、オペアンプ５９からの出力
をラッチし、Ａ／Ｄ変換して前記ＣＰＵ３３が読み込
む。

【００４６】前記電流源５７，５８は、同一の電流値を
流すように設定されている。この時、図３（ａ）に示す
ように、被写体から反射した信号光がＰＳＤ２６を１：
１に内分する位置に入射するような距離Ｌφの所に非被
写体が存在する時と等価的に出力がラッチ回路５９から
得られる。このＰＳＤを１：１に内分するポイントを受
光レンズ２５の光軸基準に図示するようにｘφと表すと
基準長ｆと受光レンズ焦点距離ｆと共に、

【００４７】

【数１０】として、距離Ｌφは表される。

【００４８】次に本実施例では、電流源５７，５８をオ
フし、プリアンプ５５，５６をオンして、ＩＲＥＤ２２
を発光させ同期させて、オペアンプ５９の出力をラッチ
する。この時得られたラッチ回路６４からの出力と、先
に求めたラッチ出力との比較からＣＰＵ３３は、被写体
距離が前述した距離Ｌφより遠いか近いかを判別するこ
ことができる。

【００４９】また雰囲気温度の変化により前記出力Ｖ_T
が変動しても、電流源５７，５８の絶対値が変化して
も、この２つの電流源が同様に変動して電流値に差がな
い限り、本実施例では確実にＬφの距離を基準とした遠
近判定が可能である。また、抵抗６０〜６３の抵抗値に
ばらつきがあったとしても、ＰＳＤ２６が正しく、位置
決めされている限り確実に距離Ｌφを基準とした遠近判
定が可能となる。

【００５０】この第２実施例は、第１実施例に比べて、
バッファ１０，１１のばらつきまで補償しているので、
温度変化や回路の出来栄えにかかわらず、さらに正確な
測距が可能である。以上の実施例は、単純な遠近切換え
式の２段ＡＦに対応させた実施例である。

【００５１】次に図４には、第３実施例としての分解能
をより高くしたＡＦ回路の構成を示し、説明する。ここ
で、第３実施例は特徴部分のみを示し、その構成部材で
第１，２実施例と同等の部材には、同じ参照番号を付し
て、その説明は省略する。

【００５２】前記バッファ４０，４１及びバッファ６
５，６６は、第１実施例と同様に、ＣＰＵ３３の制御に
よって、出力がオープン状態（オフ状態）、バッファ機
能出力（オン状態）の２通りに切換えられるタイプのも
のとする。抵抗６７〜７１、ＰＮＰトランジスタ７２〜
７６とにより、カレントミラー回路が構成され、前記ト
ランジスタ７４，７６の各カソードに接続されたスイッ
チ７７，７８をオフしていると、前記トランジスタ７２
〜７６のコレクタ電流はすべて等しく、電流源７９に流
れる電流と等しい電流ｉ_refが流れる。

【００５３】また、前記スイッチ７７，７８をオンする
と、前記ＰＮＰトランジスタ７４，７６のエミッタ電位
は、ベース電位より引き下げられるため、オフされ、圧
縮ダイオード８０，８１には各々電流ｉ_refが流し込ま
れる。一方、両スイッチ８０，８１をオフすると、各圧
縮ダイオード８０，８１には、２倍の電流ｉ_refが流し
込まれる。

【００５４】前記バッファ６５，６６をオン状態にし、
前記バッファ４０，４１をオフ状態にさせる。前記スイ
ッチ７７，７８をオン・オフすることにより、出力電流
Ｉ_Ａには、疑似的に図示しないＰＳＤを１：２に内分す
るポイントに測距用光が入射した場合、またはＰＳＤを
２：１に内分するポイントに測距用光が入射する場合の
信号が表れる。

【００５５】すなわち、本実施例では、図５（ｃ）に示
すように、この２つの疑似距離の出力と実際に、信号光
がＰＳＤを２：１及び１：２に内分するための被写体距
離Ｌ_１とＬ₂を対応させて、投受光系を設計し、尚且
つ、それをＣＰＵが有する記憶部に記憶させておくこと
を前提としている。式（６）と式（４）より、

【００５６】

【数１１】つまり、

【００５７】

【数１２】

【００５８】の関係が成り立つ。この関係は図５（ａ）
に示される。図５（ａ）中、電流ｉ_A2，ｉ_A1は、測距に
先立つ疑似測距の際に、まずＣＰＵ３３に入力される数
値である。また、１／Ｌ₂，１／Ｌ₁は、設定値として
予め入力されている。従って、実際の投受光による測距
でＩ_Aを求めると、

【００５９】

【数１３】の関係になり、合焦距離Ｌの逆数が求められる。

【００６０】図５（ｂ）に示すように、各素子の温度特
性や数値のばらつきによって、図５（ａ）の直線の傾き
が変わってしまったときでも、それに応じて、電流
ｉ_A1，ｉ_A2が変化したことを、ＣＰＵが予め読み込んで
いる補正値により、正しい合焦距離Ｌに補正して求める
ことができる。

【００６１】この実施例では、ＣＰＵが図５（ｂ）に示
す理想直線を前提として、測距結果の電流ｉ_A3より１／
Ｌ_3'を求めるため、電流ｉ_A1，ｉ_A2を予め設定おく必要
がある。図６のフローチャートを参照して、この第３実
施例の測距装置のＡＦ回路の動作を説明する。

【００６２】まず、バッファ６５，６６をオン状態に
し、バッファ４０，４１をオフ状態にさせる（ステップ
Ｓ２１）。スイッチ７８をオンした後（ステップＳ２
２）、疑似測距の演算を行い、電流ｉ_A1を算出する（ス
テップＳ２３）。次にスイッチ７７をオンした後（ステ
ップＳ２４）、疑似測距の演算を行い、電流ｉ_A2を算出
する（ステップＳ２５）。

【００６３】そして、前記バッファ６５，６６をオフ状
態にし、前記バッファ４０，４１をオン状態にした後
（ステップＳ２６）、実際に投受光による測距を行い演
算し、電流ｉ_A3を算出する（ステップＳ２７）。前述し
た式（９）により合焦距離Ｌの逆数を求め（ステップＳ
２８）、前記合焦距離Ｌの逆数に合焦する（ステップＳ
２９）。

【００６４】以上説明したように、本実施例によれば、
ＩＣ素子の精度を補正するためのＥＥＰＲＯＭや可変抵
抗素子等を設ける必要がなく、また温度特性を補正する
ための温度センサやその回路、ＣＰＵのプログラム等も
不要となる。また本発明は、前述した実施例に限定され
るものではなく、他にも発明の要旨を逸脱しない範囲で
種々の変形や応用が可能であることは勿論である。

【００６５】

【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、補
正用回路や補正用記憶素子等を設けなくとも、容易に且
つ高精度の測距を行う測距装置を提供することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１（ａ）は、本発明の測距装置の概念的な構
成を示す図であり、図１（ｂ）は該測距装置の動作を示
すフローチャートである。

【図２】図２（ａ）は、図１に示した測距装置のＡＦ回
路の具体的な構成を示す図であり、図２（ｂ）は、前記
ＡＦ回路の動作を示すフローチャートである。

【図３】図３（ａ）は、第２実施例の測距装置のＡＦ回
路の具体的な構成を示す図であり、図３（ｂ）は、前記
ＡＦ回路の動作を示すタイミングチャートである。

【図４】図４は、第３実施例の測距装置のＡＦ回路の具
体的な構成を示す図である。

【図５】図５（ａ）は、理想的な電流対合焦距離Ｌの逆
数の関係を示す図であり、図５（ｂ）に示す理想直線と
測距結果を示す図であり、図５（ｃ）は、疑似距離の出
力と実際の信号光がＰＳＤを内分する被写体距離Ｌ₁と
Ｌ₂の関係を示す図である。

【図６】図６は、第３実施例の測距装置のＡＦ回路の動
作を示すフローチャートである。

【図７】図７は、従来の赤外線投光方式の三角測距装置
の構成を示す図である。

【図８】図８は、図７に示す三角測距装置の演算回路の
構成を示す図である。

【符号の説明】

２１…ドライバ、２２…赤外線発光ダイオード（ＩＲＥ
Ｄ）、２３…投光レンズ、２４…被写体、２５…受光レ
ンズ、２６…受光素子（ＰＳＤ）、２７，２８…アン
プ、２９，３０…切換えスイッチ、３１…演算回路、３
２…基準信号源、３３…ＣＰＵ、４０，４１…バッフ
ァ、４２…切換え回路、４３…基準電流源、４４…圧縮
ダイオード、４５…ＮＰＮトランジスタ、４６，４７，
５１…ＰＮＰトランジスタ、４８，４９，５０…電流
源。

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【手続補正書】

【提出日】平成４年１０月８日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００４８

【補正方法】変更

【補正内容】

【００４８】次に本実施例では、電流源５７，５８をオ
フし、プリアンプ５５，５６をオンして、ＩＲＥＤ２２
を発光させ同期させて、オペアンプ５９の出力をラッチ
する。この時得られたラッチ回路６４からの出力と、先
に求めたラッチ出力との比較からＣＰＵ３３は、被写体
距離が前述した距離Ｌφより遠いか近いかを判別するこ
とができる。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被写体に向けて光束を投光する投光手段
と、この投光手段と基線長だけ離れて配置され、前記投光手
段による前記被写体からの反射光を受光し、その受光位
置に応じた一対の信号電流を出力する受光手段と、前記一対の信号電流を各々増幅する一対の増幅手段と、この一対の増幅手段から出力された出力信号をアナログ
演算し前記被写体距離に依存した信号を出力するアナロ
グ演算手段とを具備したカメラの測距装置において、基準信号を発生する基準信号発生手段と、前記アナログ演算手段の入力端もしくは前記一対の増幅
手段の入力端に前記基準信号の入力するための切換手段
と、この切換手段によって前記基準信号が入力された際の前
記アナログ演算手段の出力と、前記切換手段によって前
記基準信号が入力されず、前記一対の信号電流を基に演
算された前記アナログ演算手段の出力とを用いて前記被
写体距離を決定する距離決定手段とを具備したことを特
徴とするカメラの測距装置。