JPH06265526A - 漏洩磁束探傷装置 - Google Patents
漏洩磁束探傷装置Info
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- JPH06265526A JPH06265526A JP5273093A JP5273093A JPH06265526A JP H06265526 A JPH06265526 A JP H06265526A JP 5273093 A JP5273093 A JP 5273093A JP 5273093 A JP5273093 A JP 5273093A JP H06265526 A JPH06265526 A JP H06265526A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 円筒状磁性材を搬送装置の途中に設置した探
傷装置により、表面きずを検出すると同時に被検査材端
部の未探傷領域を著しく少なくする。 【構成】 環状磁化コイルの両側を検出用ホルダーで挟
持して設けられた漏洩磁束探傷装置であって、検出用ホ
ルダーは検出用ホルダー内周面近傍に円周方向に千鳥状
に配設されたセンサーが内蔵されている漏洩磁束探傷装
置。環状磁化コイルの両端側に検出用ホルダーが嵌入し
て設けられている漏洩磁束探傷装置であって、検出用ホ
ルダーは検出用ホルダーの内周面近傍に円周方向に千鳥
状に配設されたセンサーが内蔵されている漏洩磁束探傷
装置。 【効果】 単一環状磁化コイルにより磁化範囲を狭め、
磁束コイル両端にセンサーを配設することにより、被検
査材端部の未探傷領域を著しく少なくできる。
傷装置により、表面きずを検出すると同時に被検査材端
部の未探傷領域を著しく少なくする。 【構成】 環状磁化コイルの両側を検出用ホルダーで挟
持して設けられた漏洩磁束探傷装置であって、検出用ホ
ルダーは検出用ホルダー内周面近傍に円周方向に千鳥状
に配設されたセンサーが内蔵されている漏洩磁束探傷装
置。環状磁化コイルの両端側に検出用ホルダーが嵌入し
て設けられている漏洩磁束探傷装置であって、検出用ホ
ルダーは検出用ホルダーの内周面近傍に円周方向に千鳥
状に配設されたセンサーが内蔵されている漏洩磁束探傷
装置。 【効果】 単一環状磁化コイルにより磁化範囲を狭め、
磁束コイル両端にセンサーを配設することにより、被検
査材端部の未探傷領域を著しく少なくできる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、鋼管又は棒鋼等の円筒
状又は円柱状の磁性材の表面及び表面近傍に存在する割
れきず、ピット状きず等を検出する漏洩磁束探傷装置を
提案するものである。
状又は円柱状の磁性材の表面及び表面近傍に存在する割
れきず、ピット状きず等を検出する漏洩磁束探傷装置を
提案するものである。
【０００２】
【従来の技術】鋼管の表面きずの探傷方法として、例え
ば日本非破壊検査協会発行（平成２年９月１日）の「渦
流探傷試験III （１９９０）」と題する文献中の１２１
頁において示されているように、超音波（ＵＴ）、渦流
（ＥＴ）、漏洩磁束（ＭＬＦＴ）、磁粉探傷（ＭＴ）法
等の種々の非破壊検査法が実用化されており、予測され
るきずに応じて一種類もしくは複数種類の方法が組合せ
適用されている。
ば日本非破壊検査協会発行（平成２年９月１日）の「渦
流探傷試験III （１９９０）」と題する文献中の１２１
頁において示されているように、超音波（ＵＴ）、渦流
（ＥＴ）、漏洩磁束（ＭＬＦＴ）、磁粉探傷（ＭＴ）法
等の種々の非破壊検査法が実用化されており、予測され
るきずに応じて一種類もしくは複数種類の方法が組合せ
適用されている。
【０００３】従来技術は、日本工業規格の「ＪＩＳ Ｇ
０５６８−１９８２鋼の渦流探傷試験方法」及び「Ｊ
ＩＳ Ｇ ０５８３−１９７８鋼管の渦流探傷検査方
法」にあるように、貫通形コイルを用いて該コイルに
０．５〜５００kHz 程度の周波数の交流電流を流し、自
己誘導又は相互誘導法により励磁して、例えば１．０mm
φの貫通ドリル穴を基準として検査する方法が採用され
ている。しかし、近年は１．０mmφ貫通ドリル穴を基準
とするような検査では検出できない数百μｍ程度の大き
さの微小表面きずが問題となってきている。
０５６８−１９８２鋼の渦流探傷試験方法」及び「Ｊ
ＩＳ Ｇ ０５８３−１９７８鋼管の渦流探傷検査方
法」にあるように、貫通形コイルを用いて該コイルに
０．５〜５００kHz 程度の周波数の交流電流を流し、自
己誘導又は相互誘導法により励磁して、例えば１．０mm
φの貫通ドリル穴を基準として検査する方法が採用され
ている。しかし、近年は１．０mmφ貫通ドリル穴を基準
とするような検査では検出できない数百μｍ程度の大き
さの微小表面きずが問題となってきている。
【０００４】また、円筒状又は円柱状の磁性材の微小表
面きずの検出に対しては、例えば日本非破壊検査協会発
行の技術雑誌「非破壊検査」第３０巻、第７号、４６８
〜４７７頁の文献において開示されているように、２つ
の磁化コイルを用いて軸方向磁化するコイル法による漏
洩磁束探傷があり、主に管周方向の表面きずに対して検
出が可能である。図４は従来のコイル法による漏洩磁束
探傷装置の側面図を示す。前記探傷法による検出限界
は、例えば日本鉄鋼協会発行（平成２年１１月３０日）
の「鉄鋼製品の漏洩磁束探傷法」と題する文献中の８３
頁において開示されているように０．１５mm（ＳＮ比≧
３）程度である。
面きずの検出に対しては、例えば日本非破壊検査協会発
行の技術雑誌「非破壊検査」第３０巻、第７号、４６８
〜４７７頁の文献において開示されているように、２つ
の磁化コイルを用いて軸方向磁化するコイル法による漏
洩磁束探傷があり、主に管周方向の表面きずに対して検
出が可能である。図４は従来のコイル法による漏洩磁束
探傷装置の側面図を示す。前記探傷法による検出限界
は、例えば日本鉄鋼協会発行（平成２年１１月３０日）
の「鉄鋼製品の漏洩磁束探傷法」と題する文献中の８３
頁において開示されているように０．１５mm（ＳＮ比≧
３）程度である。
【０００５】しかし、この従来技術は管軸方向に対して
３００〜５００mmの距離を隔てて２つの大きな磁化コイ
ルが配置してあるために、被検査材端部においては磁束
が乱れるために安定探傷ができず端部における未探傷領
域が２００〜５００mmと非常に大きいという問題があっ
た。従って、表面きずの検出能力を低下させることな
く、被検査材端部における未探傷領域を少なく（５０mm
以下）した探傷装置が望まれていた。
３００〜５００mmの距離を隔てて２つの大きな磁化コイ
ルが配置してあるために、被検査材端部においては磁束
が乱れるために安定探傷ができず端部における未探傷領
域が２００〜５００mmと非常に大きいという問題があっ
た。従って、表面きずの検出能力を低下させることな
く、被検査材端部における未探傷領域を少なく（５０mm
以下）した探傷装置が望まれていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、円筒状又は
円柱状の磁性材を軸方向に一定速度で搬送し、搬送装置
の途中に設置した探傷装置により被検査材の表面及び表
面近傍に存在する微小きずを確実に検出すると同時に、
被検査材端部における未探傷領域を著しく少なくした探
傷装置を提供するものである。
円柱状の磁性材を軸方向に一定速度で搬送し、搬送装置
の途中に設置した探傷装置により被検査材の表面及び表
面近傍に存在する微小きずを確実に検出すると同時に、
被検査材端部における未探傷領域を著しく少なくした探
傷装置を提供するものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、環状磁化コイ
ルの両側をセンサーホルダーで挟持して構成された漏洩
磁束探傷装置であって、前記センサーホルダーの内周面
近傍には円周方向に千鳥状にセンサーが配設されている
ことを特徴とする漏洩磁束探傷装置である。また、本発
明は環状磁化コイルの両端側にセンサーホルダーを嵌入
して構成された漏洩磁束探傷装置であって、前記センサ
ーホルダーの内周面近傍には円周方向に千鳥状にセンサ
ーが配設されていることを特徴とする漏洩磁束探傷装置
である。
ルの両側をセンサーホルダーで挟持して構成された漏洩
磁束探傷装置であって、前記センサーホルダーの内周面
近傍には円周方向に千鳥状にセンサーが配設されている
ことを特徴とする漏洩磁束探傷装置である。また、本発
明は環状磁化コイルの両端側にセンサーホルダーを嵌入
して構成された漏洩磁束探傷装置であって、前記センサ
ーホルダーの内周面近傍には円周方向に千鳥状にセンサ
ーが配設されていることを特徴とする漏洩磁束探傷装置
である。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の詳細を実施例により説明す
る。図１は本発明の第１実施例を示すもので、円筒状又
は円柱状の磁性材を探傷するための漏洩磁束探傷装置構
成を示すブロック図と側面図である。図２は図１のＹ−
Ｙ′断面図である。被検査材１の軸方向（Ｓ方向）に一
定速度で移動する円筒又は円柱状の被検査材１の表面及
び表面近傍に、被検査材１の軸方向に磁場２を与える環
状磁化コイル３（以下、磁化コイルと記す）は、両側を
センサーホルダー４で挟持され、前記センサーホルダー
４の内周面近傍に複数個のセンサー５が所定の間隔Ｐを
おいて磁化コイル３に沿って配設されている。
る。図１は本発明の第１実施例を示すもので、円筒状又
は円柱状の磁性材を探傷するための漏洩磁束探傷装置構
成を示すブロック図と側面図である。図２は図１のＹ−
Ｙ′断面図である。被検査材１の軸方向（Ｓ方向）に一
定速度で移動する円筒又は円柱状の被検査材１の表面及
び表面近傍に、被検査材１の軸方向に磁場２を与える環
状磁化コイル３（以下、磁化コイルと記す）は、両側を
センサーホルダー４で挟持され、前記センサーホルダー
４の内周面近傍に複数個のセンサー５が所定の間隔Ｐを
おいて磁化コイル３に沿って配設されている。
【０００９】図３は本発明の第２実施例を示す円筒状又
は円柱状の磁性材の漏洩磁束探傷装置構成を示すブロッ
ク図と側面図である。磁化コイル３の両端側に検出用ホ
ルダー４が嵌入して設けられており、前記センサーホル
ダー４の内周面近傍には複数個のセンサー５が所定の間
隔Ｐをおいて磁化コイル３に沿って配設されている。更
に、センサー５間での検出感度低下を防止するために、
前記センサー５と軸方向に一定距離を隔てた別断面位置
に周方向に隣接するセンサー５の端部が所定の重複代で
重複するように千鳥状に配設（図示せず）し、被検査材
１の外表面全域を１回の走査により探傷できる。センサ
ー５は、被検査材１の表面きず７からの漏洩磁束８を検
出するためのものであり、被検査材１と接触しない程度
に距離Ｕを小さくする方が検出感度が高くなる。後段の
センサー５ａでは被検査材１の管端部９ａを探傷し、前
段のセンサー５ｂでは管端部９ｂを探傷し、被検査材１
の端部における未探傷領域を著しく少なくするものであ
る。なお、被検査材１の管端部９ａ、９ｂ以外の部分は
前段のセンサー５ｂ及び後段のセンサー５ａにより探傷
する。
は円柱状の磁性材の漏洩磁束探傷装置構成を示すブロッ
ク図と側面図である。磁化コイル３の両端側に検出用ホ
ルダー４が嵌入して設けられており、前記センサーホル
ダー４の内周面近傍には複数個のセンサー５が所定の間
隔Ｐをおいて磁化コイル３に沿って配設されている。更
に、センサー５間での検出感度低下を防止するために、
前記センサー５と軸方向に一定距離を隔てた別断面位置
に周方向に隣接するセンサー５の端部が所定の重複代で
重複するように千鳥状に配設（図示せず）し、被検査材
１の外表面全域を１回の走査により探傷できる。センサ
ー５は、被検査材１の表面きず７からの漏洩磁束８を検
出するためのものであり、被検査材１と接触しない程度
に距離Ｕを小さくする方が検出感度が高くなる。後段の
センサー５ａでは被検査材１の管端部９ａを探傷し、前
段のセンサー５ｂでは管端部９ｂを探傷し、被検査材１
の端部における未探傷領域を著しく少なくするものであ
る。なお、被検査材１の管端部９ａ、９ｂ以外の部分は
前段のセンサー５ｂ及び後段のセンサー５ａにより探傷
する。
【００１０】表面きず検出端６の磁化コイル３に、直流
又は交流の励磁電源装置１０により発生した励磁電流を
供給することによって、被検査材１の表面及び表面近傍
に高密度の磁場２が形成される。前記磁場２は表面きず
７の部分で漏洩磁束８を生じ、被検査材１が磁化コイル
３の両端のセンサー５の直下に位置したときに漏洩磁束
８は検出され電気信号となる。この表面きず検出信号
は、増幅器１１により増幅され、フィルター１２により
増幅後の信号の中からノイズ信号を除去し、更に前記検
出信号の不要な信号を波形整形器１３により除去後、記
録計１４に記録される。また、このようにして検出され
た一定レベル以上の信号をコンパレータ１５により抽出
し、該一定レベル以上のきず信号を基準値と比較器１６
で比較し、被検査材１の良否を判断する。
又は交流の励磁電源装置１０により発生した励磁電流を
供給することによって、被検査材１の表面及び表面近傍
に高密度の磁場２が形成される。前記磁場２は表面きず
７の部分で漏洩磁束８を生じ、被検査材１が磁化コイル
３の両端のセンサー５の直下に位置したときに漏洩磁束
８は検出され電気信号となる。この表面きず検出信号
は、増幅器１１により増幅され、フィルター１２により
増幅後の信号の中からノイズ信号を除去し、更に前記検
出信号の不要な信号を波形整形器１３により除去後、記
録計１４に記録される。また、このようにして検出され
た一定レベル以上の信号をコンパレータ１５により抽出
し、該一定レベル以上のきず信号を基準値と比較器１６
で比較し、被検査材１の良否を判断する。
【００１１】外径Ｄ：８９．１mm、肉厚ｔ：２．８mm、
長さＬ：１００mmの電縫鋼管をストレッチレジューサ
（絞り圧延機）により熱間圧延し、外径Ｄ：２１．７mm
φ、肉厚ｔ：２．３mmに仕上げた炭素鋼管を長さＬ：８
ｍ単位で切断したものを被検査材として用いた。従来の
コイル法による漏洩磁束探傷装置により０．１mm深さの
ノッチを基準に探傷し、検出された各種表面きず（自然
きず）を含む管材と０．１mm深さのノッチ及び１．０mm
φ貫通ドリル穴を加工した健全な管材を被検査材として
用いた。
長さＬ：１００mmの電縫鋼管をストレッチレジューサ
（絞り圧延機）により熱間圧延し、外径Ｄ：２１．７mm
φ、肉厚ｔ：２．３mmに仕上げた炭素鋼管を長さＬ：８
ｍ単位で切断したものを被検査材として用いた。従来の
コイル法による漏洩磁束探傷装置により０．１mm深さの
ノッチを基準に探傷し、検出された各種表面きず（自然
きず）を含む管材と０．１mm深さのノッチ及び１．０mm
φ貫通ドリル穴を加工した健全な管材を被検査材として
用いた。
【００１２】磁化コイル３と検出用ホルダー４との相互
配置は、図１に示す第１実施例とした。磁化コイル３は
内径Ｘ：４４mm、長さＳ：６０mmで、１．８mmφのエナ
メル線を５００ターン巻いている。該磁化コイル３に励
磁電源装置１０より３Ａの直流電流を発生させる。セン
サー５は幅Ｗ：０．５mm、長さＺ：３．６５mmの感磁性
ダイオードを周方向の間隔Ｐ：１．０mmで、周方向に１
断面当たり１６個配置し、更にセンサー間での検出感度
低下を防止するために軸方向に距離Ｋ：５mm隔てた別断
面位置に、周方向に隣接するセンサーの端部の重複代
Ｍ：１．３mmとなるようにセンサー５を検出用ホルダー
４内に千鳥状に配設した。前段と後段のセンサー４間の
距離Ｒは７０mmで、被検査材１とセンサー５との距離Ｕ
は１．０mmとした。表面きず検出端６の前後にピンチロ
ール（図示せず）を設置し被検査材１の振動を抑え搬送
速度Ｖ：１２０m/分で探傷し、探傷信号を記録計１４に
記録した。自然きずの検出能はＳＮ比（ＳＮ比が３以上
で安定探傷可能）で評価し、更に０．１mm深さのノッチ
を比較器１６の基準とし探傷した。管端部９ａ、９ｂお
ける未探傷領域の確認は、１．０mmφ貫通ドリル穴によ
り行った。なお、探傷後切断試験を行い各自然きずの深
さを測定した。
配置は、図１に示す第１実施例とした。磁化コイル３は
内径Ｘ：４４mm、長さＳ：６０mmで、１．８mmφのエナ
メル線を５００ターン巻いている。該磁化コイル３に励
磁電源装置１０より３Ａの直流電流を発生させる。セン
サー５は幅Ｗ：０．５mm、長さＺ：３．６５mmの感磁性
ダイオードを周方向の間隔Ｐ：１．０mmで、周方向に１
断面当たり１６個配置し、更にセンサー間での検出感度
低下を防止するために軸方向に距離Ｋ：５mm隔てた別断
面位置に、周方向に隣接するセンサーの端部の重複代
Ｍ：１．３mmとなるようにセンサー５を検出用ホルダー
４内に千鳥状に配設した。前段と後段のセンサー４間の
距離Ｒは７０mmで、被検査材１とセンサー５との距離Ｕ
は１．０mmとした。表面きず検出端６の前後にピンチロ
ール（図示せず）を設置し被検査材１の振動を抑え搬送
速度Ｖ：１２０m/分で探傷し、探傷信号を記録計１４に
記録した。自然きずの検出能はＳＮ比（ＳＮ比が３以上
で安定探傷可能）で評価し、更に０．１mm深さのノッチ
を比較器１６の基準とし探傷した。管端部９ａ、９ｂお
ける未探傷領域の確認は、１．０mmφ貫通ドリル穴によ
り行った。なお、探傷後切断試験を行い各自然きずの深
さを測定した。
【００１３】図５は本発明による検出特性を示す図であ
る。その結果、本発明法は０．１５mm深さ以上の各種自
然きずをＳＮ比３以上で検出可能であり、更に自然きず
を含む被検査材１を比較器１６により全て判定し、リジ
ェクトできることが判明し、本発明は従来のコイル法に
よる漏洩磁束探傷装置と同等レベルの検出能力が得られ
ることを確認した。また、管端から種々の距離に１．０
mmφ貫通ドリル穴を加工し、管端部９ａ、９ｂにおける
欠陥検出限界を調査した。その結果、管端より２０mmの
位置の貫通ドリル穴を確実に検出でき、従来のコイル法
に比べて未探傷領域が著しく少なくなることが明らかに
なった。なお、本発明では磁化コイルの両端側にセンサ
ーホルダーを配設し、管端部の未探傷領域を著しく少な
くしたが、センサーホルダーを磁化コイルの片端側のみ
に設置しても、従来の２つの磁化コイルを用いる方法に
比べて未探傷領域ははるかに少なくなる。実施例では、
センサーとして半導体磁気検出子の一つである感磁性ダ
イオードを用いたが、ホール素子、サーチコイル等を用
いてもよい。
る。その結果、本発明法は０．１５mm深さ以上の各種自
然きずをＳＮ比３以上で検出可能であり、更に自然きず
を含む被検査材１を比較器１６により全て判定し、リジ
ェクトできることが判明し、本発明は従来のコイル法に
よる漏洩磁束探傷装置と同等レベルの検出能力が得られ
ることを確認した。また、管端から種々の距離に１．０
mmφ貫通ドリル穴を加工し、管端部９ａ、９ｂにおける
欠陥検出限界を調査した。その結果、管端より２０mmの
位置の貫通ドリル穴を確実に検出でき、従来のコイル法
に比べて未探傷領域が著しく少なくなることが明らかに
なった。なお、本発明では磁化コイルの両端側にセンサ
ーホルダーを配設し、管端部の未探傷領域を著しく少な
くしたが、センサーホルダーを磁化コイルの片端側のみ
に設置しても、従来の２つの磁化コイルを用いる方法に
比べて未探傷領域ははるかに少なくなる。実施例では、
センサーとして半導体磁気検出子の一つである感磁性ダ
イオードを用いたが、ホール素子、サーチコイル等を用
いてもよい。
【００１４】
【発明の効果】本発明によれば、単一環状磁化コイルに
より磁化範囲を著しく狭め、磁化コイルの両端側に複数
のセンサーを磁化コイルに沿って千鳥状に配設すること
により、検出能力を低下することなく被検査材の管端部
における未探傷領域を著しく少なくでき、多大の効果を
発揮する。
より磁化範囲を著しく狭め、磁化コイルの両端側に複数
のセンサーを磁化コイルに沿って千鳥状に配設すること
により、検出能力を低下することなく被検査材の管端部
における未探傷領域を著しく少なくでき、多大の効果を
発揮する。
【図１】本発明の第１実施例を示す円筒状又は円柱状の
磁性材の漏洩磁束探傷装置構成を示すブロック図と側面
図。
磁性材の漏洩磁束探傷装置構成を示すブロック図と側面
図。
【図２】図１のＹ−Ｙ′断面図。
【図３】本発明の第２実施例を示す円筒状又は円柱状の
磁性材の漏洩磁束探傷装置構成を示すブロック図と側面
図。
磁性材の漏洩磁束探傷装置構成を示すブロック図と側面
図。
【図４】従来のコイル法による漏洩磁束探傷装置の側面
図。
図。
【図５】本発明による検出特性を示す図。
１ 被検査材 ２ 磁場 ３ 磁化コイル ４ センサーホルダー ５ センサー ６ 表面きず検出端 ７ 表面きず ８ 漏洩磁束 ９ 管端部 １０ 励磁電源装置 １１ 増幅器 １２ フィルター １３ 波形整形器 １４ 記録計 １５ コンパレータ １６ 比較器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤井 昭明 山口県徳山市大字徳山5635番地の６ 株式 会社システムハイテック内
Claims (2)
- 【請求項１】 環状磁化コイル（３）の両側をセンサー
ホルダー（４）で挟持して構成された漏洩磁束探傷装置
であって、前記センサーホルダー（４）の内周面近傍に
は円周方向に千鳥状にセンサー（５）が配設されている
ことを特徴とする漏洩磁束探傷装置。 - 【請求項２】 環状磁化コイル（３）の両端側にセンサ
ーホルダー（４）を嵌入して構成された漏洩磁束探傷装
置であって、前記センサーホルダー（４）の内周面近傍
には円周方向に千鳥状にセンサー（５）が配設されてい
ることを特徴とする漏洩磁束探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5273093A JPH06265526A (ja) | 1993-03-12 | 1993-03-12 | 漏洩磁束探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5273093A JPH06265526A (ja) | 1993-03-12 | 1993-03-12 | 漏洩磁束探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06265526A true JPH06265526A (ja) | 1994-09-22 |
Family
ID=12923049
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5273093A Withdrawn JPH06265526A (ja) | 1993-03-12 | 1993-03-12 | 漏洩磁束探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06265526A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100352133B1 (ko) * | 1997-12-20 | 2002-11-18 | 주식회사 포스코 | 누설자속법에 의한 박강판 결함의 탐상장치 |
| JP2008256403A (ja) * | 2007-04-02 | 2008-10-23 | Toyo Kohan Co Ltd | 電池外装ケースの傷の検査装置 |
| JP2011002409A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Hara Denshi Sokki Kk | 漏洩磁束探傷装置 |
| CN109682881A (zh) * | 2019-02-28 | 2019-04-26 | 烟台杰瑞石油装备技术有限公司 | 一种一体式连续油管缺陷检测装置 |
| KR20190103776A (ko) * | 2018-02-28 | 2019-09-05 | 이상용 | 와이어 로프 손상 검출장치 |
-
1993
- 1993-03-12 JP JP5273093A patent/JPH06265526A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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