JPH06246669A - Workpiece transfer feeder for semiconductor device - Google Patents

Workpiece transfer feeder for semiconductor device

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Publication number
JPH06246669A
JPH06246669A JP3302493A JP3302493A JPH06246669A JP H06246669 A JPH06246669 A JP H06246669A JP 3302493 A JP3302493 A JP 3302493A JP 3302493 A JP3302493 A JP 3302493A JP H06246669 A JPH06246669 A JP H06246669A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
guide frame
workpiece
semiconductor device
work
jig
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3302493A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akihide Higuchi
暁英 樋口
Toshio Yamagata
寿夫 山形
Hiromi Kosaka
博美 小坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP3302493A priority Critical patent/JPH06246669A/en
Publication of JPH06246669A publication Critical patent/JPH06246669A/en
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Abstract

PURPOSE:To hold a workpiece without giving unreasonable force by providing a constitution such that a sucker jig for sucking the workpiece is stored in a guide frame provided with a magnet in the inside, so as to transfer feed the workpiece, held by the guide frame, sucked by the sucker jig. CONSTITUTION:When a workpiece 10 for a semiconductor device mounted on a jig is conveyed to a lower part of a guide frame 1 by a conveyer, the guide frame 1 is lowered down by a robot arm, and by magnetic force of a permanent magnet 11 mounted on the guide frame 1, external leads 12 are pulled near and held in the guide frame 1. The workpiece 10 highly accurately positioned because the guide frame 1 is formed highly accurately corresponding to a pellet bonding part. Next, a sucker jig 2 is brought into contact with an upper surface of the workpiece 10, and by exhausting the jig from a vacuum suction hole 14, the workpiece 10 is held to the sucker jig 2. In this condition, the robot arm is driven, and the workpiece 10 is conveyed to a prescribed position in the next process.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体装置の製造装置に
係り、特にセラミックベースに鉄系のリードをガラスに
より接続し前記セラミックベース上に取り付けられたペ
レットと外部リードがワイヤボンディングにより接続さ
れたワークを治具により次工程の封止工程等に移送する
移送装置に適用して有効な技術に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device manufacturing apparatus, and more particularly, an iron lead is connected to a ceramic base by glass, and a pellet mounted on the ceramic base and an external lead are connected by wire bonding. The present invention relates to a technique effectively applied to a transfer device that transfers a work to a next sealing process or the like by a jig.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置の製造工程においては、プラ
スチック樹脂によるモールドによって封止を行うものと
セラミックのパッケージのキャップとベースを接着材を
用いて封止するものとがある。このなかでセラミックの
パッケージを用いて行うものはAu−Snのような接着
剤やガラス等によりキャップとベースのパッケージを接
着し封止される。現在では安価な封止方法としてガラス
が多用されることが多くなっている。ガラス封止のもの
は、各個のリードフレームをセラミックベースにガラス
にて取付け、前記セラミックベースに取り付けられた半
導体チップとリードとのワイヤボンディングを行い、さ
らに前記セラミックベースとキャップをガラスにより気
密封止するものである。
2. Description of the Related Art In the process of manufacturing a semiconductor device, there are a method of sealing by molding with a plastic resin and a method of sealing a cap and a base of a ceramic package with an adhesive. Among them, in the case of using a ceramic package, the cap and the base package are adhered and sealed with an adhesive such as Au-Sn or glass. At present, glass is often used as an inexpensive sealing method. For the glass-sealed type, each lead frame is attached to the ceramic base with glass, wire bonding is performed between the semiconductor chip attached to the ceramic base and the lead, and the ceramic base and cap are hermetically sealed with glass. To do.

【0003】このような工程においての最終の封止は、
リードフレームの取付けおよびペレットボンディング、
ワイヤボンデイングが行なわれたセラミックベースから
なる半導体装置用ワークを封止炉に搬送し、キャップを
取り付けるものであるがこの移送に関しては位置決め等
が重要な課題となり、一般に手作業にて位置決めを行い
搬送装置に載せるのが一般的である。
The final sealing in such a process is
Lead frame mounting and pellet bonding,
A semiconductor device work made of wire-bonded ceramic base is transferred to a sealing furnace and a cap is attached, but positioning is an important issue for this transfer, and in general, positioning is performed manually. It is generally mounted on a device.

【0004】ガラス封止による半導体製造工程を示した
ものとして「超LSIテクノロジー」610頁から61
5頁、昭和60年6月1日、S.M.シー編、武石 喜
幸他2名監訳がある。
"VLSI technology", pages 610 to 61, showing a semiconductor manufacturing process by glass sealing.
Page 5, June 1, 1985, S. M. Translated by Sea, edited by Yoshiyuki Takeishi and 2 others.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかし上記した手段に
おいては、手作業にて半導体装置用のワークの移送を行
うため、リードフレームを直接ピンセットで掴むことが
ある。このような場合、ある一定のリードフレーム部分
に応力が加わり、そのリードフレームが取り付けられた
ガラス部分にクラックを発生したり、ワイヤにピンセッ
トが接触しワイヤタッチ不良が発生するような問題があ
った。また作業者により位置決め精度がバラツクという
問題があった。
However, in the above-mentioned means, since the work for the semiconductor device is manually transferred, the lead frame may be directly grasped by the tweezers. In such a case, there was a problem that stress was applied to a certain lead frame portion, cracks were generated in the glass portion to which the lead frame was attached, and tweezers contacted the wire to cause wire touch failure. . There is also a problem that the positioning accuracy varies depending on the operator.

【0006】本願発明の目的は上記したような問題を解
決し、ガラスクラックおよびワイヤタッチの発生しない
搬送装置を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and to provide a carrier device in which glass cracks and wire touches do not occur.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものを説明すれば下記のとおりであ
る。
The typical ones of the inventions disclosed in the present application will be described below.

【0008】すなわち半導体装置用ワークの移送装置に
おいて、内部に磁石を有するガイド枠と、前記枠内に収
納されたワークを吸着する吸着治具とからなり、前記ガ
イド枠により保持されたワークを前記吸着治具により吸
着し所望の位置に移送する半導体装置用ワーク移送装置
である。
That is, in the semiconductor device work transfer device, the work held by the guide frame is composed of a guide frame having a magnet inside and a suction jig for sucking the work stored in the frame. It is a work transfer device for a semiconductor device that is sucked by a suction jig and is transferred to a desired position.

【0009】[0009]

【作用】上記した手段によれば磁力により枠内に収納さ
れたワークを浮遊させて保持することが可能となり、一
定のリードフレームに圧力が加わることがなくガラスク
ラックの発生がなくなる。さらにガイド枠によって吸着
治具に吸着されるワークの位置決めが可能となり、移送
先のワークの位置決め精度が大幅に向上する。
According to the above-mentioned means, it becomes possible to suspend and hold the work housed in the frame by the magnetic force, and the pressure is not applied to a certain lead frame, and the glass crack is not generated. Further, the guide frame enables positioning of the work to be sucked by the suction jig, and the positioning accuracy of the work to be transferred is significantly improved.

【0010】[0010]

【実施例】図1は本願発明の実施例である半導体装置用
ワークを示した要部斜視図、図2乃至図4は本願発明の
実施例である半導体装置用ワークの移送ための吸着治具
への吸着、排出を説明するための要部断面側面図であ
り、図5はガイド枠に保持されたワークの吸着状態を説
明するための概略図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a perspective view of an essential part showing a semiconductor device work according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 to 4 are suction jigs for transferring a semiconductor device work according to an embodiment of the present invention. FIG. 5 is a cross-sectional side view of a main part for explaining suction and discharge to and from, and FIG. 5 is a schematic diagram for explaining a suction state of a work held by a guide frame.

【0011】以下、本実施例について説明する。The present embodiment will be described below.

【0012】本実施例において対象となる半導体装置用
ワークとは、既に所望の形状、例えばJ−bendタイ
プに成形されたリードフレームの取付けおよびペレット
ボンディング、ワイヤボンデイングが行なわれたセラミ
ックベースからなるものである。
The target semiconductor device work in this embodiment is a ceramic base on which a lead frame already formed in a desired shape, for example, a J-bend type, is attached, pellet-bonded, and wire-bonded. Is.

【0013】図1に示したように、本実施例における要
部はガイド枠1および前記ガイド枠1内に配置された真
空吸着により半導体装置用ワーク10を保持する為の吸
着治具2からなる。ガイド枠1は保持部3とスライド機
構6を介して図示しないロボットアームに取り付けられ
た保持板5に取り付けられている。また前記吸着治具2
はその上面に排気パイプ7が取り付けられている。また
図示しないロボットアームが移動しワーク治具8に形成
された保持穴9に保持された半導体装置用ワーク10を
真空吸着によって保持する構成となっている。
As shown in FIG. 1, the main part of this embodiment comprises a guide frame 1 and a suction jig 2 for holding the semiconductor device work 10 by vacuum suction arranged in the guide frame 1. . The guide frame 1 is attached to a holding plate 5 attached to a robot arm (not shown) via a holding portion 3 and a slide mechanism 6. Also, the suction jig 2
The exhaust pipe 7 is attached to the upper surface thereof. Further, the robot arm (not shown) is moved to hold the semiconductor device work 10 held in the holding hole 9 formed in the work jig 8 by vacuum suction.

【0014】前記真空吸着治具2は真空キャビティを有
し、前記半導体装置用ワーク10の上面においてボンデ
ィングされているワイヤに接触しないようワーク周囲と
接触する構成となっている。
The vacuum suction jig 2 has a vacuum cavity and is in contact with the periphery of the work so as not to come into contact with the wire bonded on the upper surface of the semiconductor device work 10.

【0015】前記したように図示しないが、この保持板
5はロボット等のアームに取り付けられており、可動自
在なっており例えばセラミックベースへセラミックキャ
ップを取り付ける封止炉に移送するようになっている。
As described above, although not shown, the holding plate 5 is attached to an arm of a robot or the like, is movable, and is transferred to, for example, a sealing furnace for attaching a ceramic cap to a ceramic base. .

【0016】次ぎに図2乃至図4を用いて移送装置の動
作について説明する。
Next, the operation of the transfer device will be described with reference to FIGS.

【0017】まず治具8に載せられた半導体装置用ワー
ク10が図示しない搬送装置によってガイド枠1の下部
に搬送される。その後前記ガイド枠1は図示しないロボ
ットアームが作動することによって下降し、前記ガイド
枠1内に取り付けられた永久磁石11の磁力によって外
部リード12が引き寄せられガイド枠1内に保持され
る。この時前記ガイド枠1は半導体装置用ワーク10の
外部リード12を含んでワーク10に対して余裕を持っ
て形成されているため、ガイド枠内にて無理な応力がリ
ード12に加わることがなく保持された状態となる。
First, the semiconductor device work 10 placed on the jig 8 is transported to the lower portion of the guide frame 1 by a transport device (not shown). Thereafter, the guide frame 1 is lowered by the operation of a robot arm (not shown), and the external lead 12 is attracted by the magnetic force of the permanent magnet 11 mounted in the guide frame 1 and held in the guide frame 1. At this time, since the guide frame 1 is formed with a margin with respect to the work 10 including the external leads 12 of the semiconductor device work 10, no undue stress is applied to the leads 12 in the guide frame. It will be held.

【0018】次ぎに吸着治具2を磁力により保持された
ワーク10の上面を押し込むようにして接触させ、その
後内部に形成された真空吸着孔14から排気パイプ7を
通して排気することによって吸着治具2に保持される。
この時前記ガイド枠1は取付けられるペレットボンディ
ング部の位置に精度良く形成されているため半導体装置
用ワーク10が精度良く位置決めがされる。
Next, the suction jig 2 is pressed into contact with the upper surface of the work 10 held by magnetic force, and then the suction jig 2 is exhausted from the vacuum suction hole 14 formed inside through the exhaust pipe 7. Held in.
At this time, since the guide frame 1 is accurately formed at the position of the pellet bonding portion to be attached, the semiconductor device work 10 is accurately positioned.

【0019】次ぎに吸着治具2に半導体装置用ワーク1
0が保持された状態で図示しないロボットアームが移動
し前記半導体装置用ワーク10を次工程である封止工程
の封止炉の所望の位置に搬送する。
Next, the workpiece 1 for semiconductor device is attached to the suction jig 2.
While 0 is held, a robot arm (not shown) moves to transfer the semiconductor device work 10 to a desired position in the sealing furnace in the sealing step which is the next step.

【0020】この後吸着治具2は半導体装置用ワーク1
0を吸着しながら下降し所望の位置に載置した後、真空
排気を停止し前記ワーク10が前記移送装置より離れ
る。
After that, the suction jig 2 is the work 1 for semiconductor device.
After adsorbing 0 and descending and placing it at a desired position, the vacuum evacuation is stopped and the work 10 is separated from the transfer device.

【0021】次に封止炉にてキャップが取り付けられ、
一般的な工程を経て半導体装置を得る。
Next, a cap is attached in a sealing furnace,
A semiconductor device is obtained through general steps.

【0022】以上本願発明を本願の背景となった技術に
ついて説明したが、本願は上記実施例に限定されること
なく、本願発明の技術の範囲を逸脱しない範囲で種々変
更可能であることはいうまでもない。
Although the present invention has been described above with respect to the background technology of the present application, the present application is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the present invention. There is no end.

【0023】すなわち本実施例においてはQFJ−Gの
半導体装置用ワークについて説明したが、他のワークで
も良いし、さらにガイド枠内に設けた磁石については永
久磁石を用いたが、電磁石を用いたものでも良い。
That is, although the QFJ-G work for a semiconductor device has been described in this embodiment, other work may be used, and a permanent magnet is used as the magnet provided in the guide frame, but an electromagnet is used. Anything is fine.

【0024】[0024]

【発明の効果】本願において開示される発明において代
表的なものによって得られるものの効果を記載すれば下
記のとおりである。
The effects of the typical ones of the inventions disclosed in the present application will be described as follows.

【0025】すなわちガイド枠により無理な力が加わら
ない状態で保持されるため外部リードに不要な応力が加
わることがなくなるため、外部リードを接続したガラス
のクラックが発生することがない。またガイド枠にて保
持した半導体装置用ワークの位置決めが可能となるの
で、次工程においての作業効率が向上する。
That is, since the guide frame holds the external lead without applying unreasonable force, unnecessary stress is not applied to the external lead, so that the glass to which the external lead is connected is not cracked. Further, since the semiconductor device work held by the guide frame can be positioned, the work efficiency in the next process is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本願発明の実施例である半導体装置用ワークの
移送を説明するための概略斜視図。
FIG. 1 is a schematic perspective view for explaining transfer of a semiconductor device work that is an embodiment of the present invention.

【図2】本願発明の実施例である半導体装置用ワークの
吸着治具への吸着、排出を説明するための要部断面側面
図。
FIG. 2 is a cross-sectional side view of essential parts for explaining suction and discharge of a work for a semiconductor device to a suction jig, which is an embodiment of the present invention.

【図3】本願発明の実施例である半導体装置用ワークの
吸着治具への吸着、排出を説明するための要部断面側面
図。
FIG. 3 is a cross-sectional side view of essential parts for explaining suction and discharge of a work for a semiconductor device to a suction jig that is an embodiment of the present invention.

【図4】本願発明の実施例である半導体装置用ワークの
吸着治具への吸着、排出を説明するための要部断面側面
図。
FIG. 4 is a cross-sectional side view of essential parts for explaining suction and discharge of a work for a semiconductor device to a suction jig that is an embodiment of the present invention.

【図5】ガイド枠に保持されたワークの吸着状態を説明
するための概略図。
FIG. 5 is a schematic diagram for explaining a suction state of a work held by a guide frame.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1..ガイド枠、2..吸着治具、3..スライド板、
4..支持部、5..保持板、6..保持部、7..排
気パイプ、8..治具、9..保持穴、10..半導体
装置用ワーク、11..磁石、12..外部リード、1
3..ワイヤ、14..真空排気孔
1. . Guide frame, 2. . Adsorption jig, 3. . Slide plate,
4. . Support portion, 5. . Holding plate, 6. . Holding part, 7. . Exhaust pipe, 8. . Jig, 9. . Holding hole, 10. . Work for semiconductor device, 11. . Magnet, 12. . External lead, 1
3. . Wire, 14. . Vacuum exhaust hole

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小坂 博美 埼玉県入間郡毛呂山町大字旭台15番地 日 立東部セミコンダクタ株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Hiromi Kosaka 15 Asahidai, Moroyama-cho, Iruma-gun, Saitama Prefecture Inside Higashi Tobu Semiconductor Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】半導体装置用ワークの移送装置において、
内部に磁石を有するガイド枠と、前記枠内に収納された
ワークを吸着する吸着治具とからなり、前記ガイド枠に
より保持されたワークを吸着治具により吸着し所望の位
置に移送することを特徴とする半導体装置用ワーク移送
装置。
1. A transfer device for a semiconductor device work, comprising:
A guide frame having a magnet inside and a suction jig for sucking the work housed in the frame are provided. The work held by the guide frame is sucked by the suction jig and transferred to a desired position. Characteristic semiconductor device work transfer device.
JP3302493A 1993-02-23 1993-02-23 Workpiece transfer feeder for semiconductor device Pending JPH06246669A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3302493A JPH06246669A (en) 1993-02-23 1993-02-23 Workpiece transfer feeder for semiconductor device

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JP3302493A JPH06246669A (en) 1993-02-23 1993-02-23 Workpiece transfer feeder for semiconductor device

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JPH06246669A true JPH06246669A (en) 1994-09-06

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10369344B2 (en) 2006-06-30 2019-08-06 Biocompatibles Uk Limited Apparatus and method to convey a fluid

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10369344B2 (en) 2006-06-30 2019-08-06 Biocompatibles Uk Limited Apparatus and method to convey a fluid
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