JPH06242469A - Semiconductor device for light valve and its manufacture - Google Patents

Semiconductor device for light valve and its manufacture

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JPH06242469A
JPH06242469A JP2948993A JP2948993A JPH06242469A JP H06242469 A JPH06242469 A JP H06242469A JP 2948993 A JP2948993 A JP 2948993A JP 2948993 A JP2948993 A JP 2948993A JP H06242469 A JPH06242469 A JP H06242469A
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JP
Japan
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light valve
crystal silicon
single crystal
semiconductor device
silicon substrate
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JP2948993A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroaki Takasu
博昭 鷹巣
Yoshikazu Kojima
芳和 小島
Kunihiro Takahashi
邦博 高橋
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Seiko Instruments Inc
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Seiko Instruments Inc
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Abstract

PURPOSE:To form the small-sized light valve device in which a driving circuit capable of high-speed operation is incorporated by removing a single-crystal silicon substrate below a pixel area and making optical transmission possible. CONSTITUTION:On the single-crystal silicon substrate 101, the driving circuit 103 and pixel area 104 are formed and in the pixel area 104, an etching strip layer 102 is formed of a silicon oxide film. Further, the single-crystal silicon substrate 101 below the pixel area 104 is removed, an orienting film 201 is formed below the etching stripe layer 102, and a liquid crystal layer 203 is sandwiched with a counter substrate 205 which has a counter electrode 204 and an orienting film 201 by using a seal 202. The driving circuit 103 is therefore formed on the single crystal silicon substrate 101, so the circuit can operate at a high speed. The driving circuit 103 and pixel area 104 are wired during an IC process, so they can be connected at a several p m pitch and the connection can be made much finer than a conventional connection, thereby improving the reliability because of no connection part.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は光弁装置、特にアクティ
ブマトリクス型及び単純マトリクス型の光弁用半導体装
置及びその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light valve device, and more particularly to an active matrix type and simple matrix type light valve semiconductor device and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、光弁装置としては、ポリシリコン
またはアモルファスシリコンをスイッチトランジスタと
したものが知られていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a light valve device, a switch transistor made of polysilicon or amorphous silicon has been known.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
光弁装置では駆動回路が内蔵されておらず、別に製造し
た駆動用ICと外部で接続する必要があった。このた
め、システムとしては実装コストが上乗せされ、また接
続部は、100μm以上のピッチでパッド部を形成しな
ければならないため、装置の小型化ができないという問
題点があった。
However, the above-mentioned light valve device does not have a built-in drive circuit, and it is necessary to externally connect it to a separately manufactured drive IC. For this reason, there is a problem in that the mounting cost is increased as a system and the connecting portions have to be formed with the pad portions at a pitch of 100 μm or more, so that the device cannot be downsized.

【0004】また、一部ポリシリコンを材料に駆動回路
内蔵型の光弁装置も知られているが駆動回路もポリシリ
コンで形成されているため、高速、高駆動力の回路が形
成できないという問題点があった。本発明は、上記課題
を解消して高速動作可能な駆動回路を内蔵した小型の光
弁装置を形成できる光弁用半導体装置及びその製造方法
を提供することを目的とする。
There is also known a light valve device in which a driving circuit is built in with a part of polysilicon as a material, but since the driving circuit is also formed of polysilicon, a high speed and high driving force circuit cannot be formed. There was a point. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a semiconductor device for a light valve, which can solve the above problems and can form a small light valve device having a built-in drive circuit capable of high-speed operation, and a manufacturing method thereof.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置が上
記目的を達成するために採用した主な手段は、単結晶シ
リコン基板上に形成された画素領域と駆動回路を同一チ
ップ内に内蔵した光弁用半導体装置において、画素領域
下の単結晶シリコン基板のみを駆動回路及び画素領域を
ICプロセスを用いて形成した後に除去し、光透過を可
能としたことを特徴とする。
The main means adopted by the semiconductor device of the present invention in order to achieve the above object is that a pixel region formed on a single crystal silicon substrate and a driving circuit are built in the same chip. The light valve semiconductor device is characterized in that only the single crystal silicon substrate under the pixel region is formed after the drive circuit and the pixel region are formed by the IC process, and then removed to allow light transmission.

【0006】製造方法としては、ICプロセスにより単
結晶シリコン基板上に駆動回路と画素領域を形成した
後、透明な支持基板と接着する工程と、画素領域下の単
結晶シリコン基板をあらかじめ形成されたエッチングス
トップ層を残してエッチング除去する工程とを有するこ
とを特徴とする。
As a manufacturing method, a step of forming a drive circuit and a pixel region on a single crystal silicon substrate by an IC process, and then adhering the drive circuit and the pixel region to a transparent support substrate, and forming a single crystal silicon substrate under the pixel region in advance. And a step of etching away the etching stop layer.

【0007】[0007]

【作用】本発明の半導体装置は、従来のポリシリコンま
たはアモルファスシリコンをスイッチトランジスタとし
た光弁装置に比べて高速動作可能な駆動回路を内蔵した
小型の光弁装置を形成できる光弁用半導体装置を得るこ
とができる。
The semiconductor device of the present invention is a semiconductor device for a light valve capable of forming a small-sized light valve device having a built-in drive circuit capable of high-speed operation as compared with a conventional light valve device using polysilicon or amorphous silicon as a switch transistor. Can be obtained.

【0008】[0008]

【実施例】以下、図面を参照して本発明の好適な実施例
を説明する。図1は本発明の光弁用半導体装置による光
弁装置の一実施例を示す模式的断面図である。単結晶シ
リコン基板101上に駆動回路103と画素領域104
とが形成され、画素領域104にはシリコン酸化膜より
なるエッチングストップ層102が形成されている。ま
た単結晶シリコン基板101は保護絶縁膜108及び透
明な接着剤層105を介して支持基板106に固着され
ている。支持基板106は透明性絶縁物、例えばガラス
石英サファイア等よりなる、さらに画素領域104下の
単結晶シリコン基板101は除去され、配向膜201が
エッチングストップ層102下に形成されている。そし
て対向電極204及び配向膜201を有する対向基板2
05との間に液晶層203をシール202により挟持す
る構造をとる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic sectional view showing an embodiment of a light valve device according to the semiconductor device for a light valve of the present invention. A driving circuit 103 and a pixel region 104 are formed on a single crystal silicon substrate 101.
And the etching stop layer 102 made of a silicon oxide film is formed in the pixel region 104. Further, the single crystal silicon substrate 101 is fixed to the supporting substrate 106 via the protective insulating film 108 and the transparent adhesive layer 105. The support substrate 106 is made of a transparent insulating material such as glass quartz sapphire, the single crystal silicon substrate 101 under the pixel region 104 is removed, and the alignment film 201 is formed under the etching stop layer 102. The counter substrate 2 having the counter electrode 204 and the alignment film 201
The liquid crystal layer 203 is sandwiched between the liquid crystal display panel 05 and the liquid crystal display panel 05 by a seal 202.

【0009】なお本実施例では、アクティブマトリクス
型を例にしており、各画素ごとにアモルファスシリコ
ン、ポリシリコンあるいは単結晶シリコンよりなるスイ
ッチトランジスタ501を有し、スイッチトランジスタ
501のドレイン領域に連続して同一材料の画素電極5
02が形成されている。そして、配線302は駆動回路
103と接続されており、供給された信号に従いスイッ
チトランジスタ501のON・OFFを行う。図示しな
いが、単純マトリクス型の場合にはスイッチ素子を持た
ない構造となる。
In this embodiment, the active matrix type is taken as an example, and each pixel has a switch transistor 501 made of amorphous silicon, polysilicon or single crystal silicon, and is connected to the drain region of the switch transistor 501 continuously. Pixel electrode 5 made of the same material
02 is formed. The wiring 302 is connected to the driving circuit 103 and turns on / off the switch transistor 501 in accordance with the supplied signal. Although not shown, the simple matrix type has a structure having no switch element.

【0010】図1の実施例によれば、駆動回路103は
単結晶シリコン基板101上に形成されているため高速
動作が可能である。また駆動回路103と画素領域10
4とはICプロセス中に互いに配線されているので、数
μmピッチでの接続が可能であり、従来は光弁装置と別
に製造した駆動用ICとを外部で接続するために100
μm以上のピッチが必要であることに比べると、著しい
微細化が可能であり、接続部が無いので信頼性も向上す
る。
According to the embodiment shown in FIG. 1, since the drive circuit 103 is formed on the single crystal silicon substrate 101, high speed operation is possible. Further, the drive circuit 103 and the pixel region 10
Since 4 and 4 are wired together during the IC process, they can be connected at a pitch of several μm. Conventionally, 100 is used for externally connecting the light valve device and a separately manufactured drive IC.
Compared to the need for a pitch of μm or more, it is possible to make the structure extremely fine, and the reliability is improved because there is no connecting portion.

【0011】なお、エッチングストップ層102は、シ
リコン酸化膜に代えて、シリコン窒化膜あるいは、これ
らの複合膜としてもよい。図2(a)〜(c)は、本発
明の光弁用半導体装置の製造方法の工程順断面図であ
る。簡単のため、駆動回路103及び画素領域104内
の構造は、詳細図1を参照するとして省略する。
The etching stop layer 102 may be a silicon nitride film or a composite film thereof instead of the silicon oxide film. 2A to 2C are cross-sectional views in order of the steps of the method for manufacturing a semiconductor device for a light valve according to the present invention. For simplification, the structures inside the driving circuit 103 and the pixel region 104 will be omitted with reference to the detailed FIG.

【0012】図2(a)に示したように、通常のICプ
ロセスを用いて単結晶シリコン基板101上に駆動回路
103と画素領域104とを形成する。画素領域104
にはシリコン酸化膜あるいはシリコン窒化膜あるいはそ
の複合膜よりなるエッチングストップ層102が形成さ
れている。またICプロセス中、適当な工程で単結晶シ
リコン基板101の裏面にシリコン窒化膜107を形成
し、両面アライナー等を用いてパターニングし、画素領
域104に相当する部分のシリコン窒化膜107をエッ
チング除去しておく。図示しないが、画素領域104に
はアクティブマトリクス型の場合、各画素ごとにスイッ
チトランジスタを有し、単純マトリクス型の場合にはス
イッチ素子を持たない構造となる。
As shown in FIG. 2A, the drive circuit 103 and the pixel region 104 are formed on the single crystal silicon substrate 101 by using a normal IC process. Pixel area 104
An etching stop layer 102 made of a silicon oxide film, a silicon nitride film or a composite film thereof is formed on the surface. Further, during the IC process, a silicon nitride film 107 is formed on the back surface of the single crystal silicon substrate 101 at an appropriate step and patterned by using a double-sided aligner or the like, and the silicon nitride film 107 in a portion corresponding to the pixel region 104 is removed by etching. Keep it. Although not shown, the active matrix type pixel region 104 has a switch transistor for each pixel, and the simple matrix type has no switch element.

【0013】また、単結晶シリコン基板101にSOI
(Silicon On Insulator)基板を
用いると、画素のスイッチトランジスタが単結晶シリコ
ンにより形成されたアクティブマトリクス型の光弁用半
導体装置を得ることができる。このとき、駆動回路は、
画素領域のスイッチトランジスタと同一のSOI単結晶
シリコン薄膜上に形成しても良いし、又は、駆動回路部
のみSOI単結晶シリコン薄膜及びSiO2 等よりなる
埋込み絶縁膜を除去し、SOI基板の支持側の厚い単結
晶シリコン基板上に形成してもよい。SOI基板として
は、2枚の単結晶シリコン基板を絶縁層を介して、貼り
合わせ、熱処理により強固に接着した後、一方の単結晶
シリコン基板を所要の膜厚まで薄膜化して得られる、い
わゆる貼り合わせウェハが通常の単結晶と等しい高品質
(結晶欠陥が少ない)を有しているので望ましい。
Further, the single crystal silicon substrate 101 has an SOI
When a (Silicon On Insulator) substrate is used, an active matrix type light valve semiconductor device in which a switch transistor of a pixel is formed of single crystal silicon can be obtained. At this time, the drive circuit
It may be formed on the same SOI single crystal silicon thin film as the switch transistor in the pixel region, or the SOI single crystal silicon thin film and the embedded insulating film made of SiO 2 or the like may be removed only in the drive circuit portion to support the SOI substrate. It may be formed on the thick single crystal silicon substrate on the side. An SOI substrate is obtained by bonding two single crystal silicon substrates with an insulating layer in between and firmly bonding them by heat treatment, and then thinning one of the single crystal silicon substrates to a desired film thickness, a so-called bonded substrate. It is desirable because the laminated wafer has the same high quality (low crystal defects) as a normal single crystal.

【0014】次に、図2(b)に示したように、単結晶
シリコン基板101を接着剤層105を介して支持基板
106を接着する。 ここで接着剤層105と支持基板
106は透明材料であるため光透過型の装置、例えば光
弁用基板を作製できる。次に、図2(c)に示すよう
に、シリコン窒化膜107をマスクとして画素領域10
4下の単結晶シリコン基板101をエッチング除去す
る。このエッチングはエッチャントにKOH溶液やヒド
ラジン溶液を用いることにより行われ、シリコン酸化膜
あるいはシリコン窒化膜あるいはその複合膜よりなるエ
ッチングストップ層102が露出した時点で進行が止ま
る。なお、シリコン窒化膜に代えて、図2(b)に示し
た工程の後、単結晶シリコン基板101の裏面にKOH
溶液等のエッチャントマスクとなる樹脂を塗布し、両面
アライナー等を用いて画素領域104に相当する部分の
みをパターニングし、除去しても良く、この場合は図2
(a)におけるICプロセス中に単結晶シリコン基板1
01裏面にシリコン窒化膜を形成する必要はなくなる。
Next, as shown in FIG. 2B, the support substrate 106 is bonded to the single crystal silicon substrate 101 via the adhesive layer 105. Here, since the adhesive layer 105 and the supporting substrate 106 are transparent materials, a light transmission type device, for example, a light valve substrate can be manufactured. Next, as shown in FIG. 2C, the pixel region 10 is formed using the silicon nitride film 107 as a mask.
The single crystal silicon substrate 101 under 4 is removed by etching. This etching is performed by using a KOH solution or a hydrazine solution as an etchant, and stops when the etching stop layer 102 made of a silicon oxide film, a silicon nitride film, or a composite film thereof is exposed. Instead of the silicon nitride film, KOH is formed on the back surface of the single crystal silicon substrate 101 after the step shown in FIG.
A resin such as a solution that serves as an etchant mask may be applied, and only a portion corresponding to the pixel region 104 may be patterned and removed by using a double-sided aligner or the like.
Single crystal silicon substrate 1 during the IC process in (a)
01 It is not necessary to form a silicon nitride film on the back surface.

【0015】以上により本発明の光弁用半導体装置が完
成する。さらに液晶セル組工程を加えると図1に示した
光弁装置を形成することが可能である。また液晶セル組
工程の容易化を目的として、図2(c)の工程の後、バ
ックラップ(研磨)等により残った単結晶シリコン基板
を駆動回路の特性を害さない範囲まで薄膜化してもよ
い。
The light valve semiconductor device of the present invention is thus completed. When the liquid crystal cell assembling step is further added, the light valve device shown in FIG. 1 can be formed. Further, for the purpose of facilitating the liquid crystal cell assembling step, after the step of FIG. 2C, the remaining single crystal silicon substrate may be thinned to the extent that the characteristics of the drive circuit are not impaired by back lap (polishing) or the like. .

【0016】図3は、図1に示した本発明の光弁用半導
体装置の外部との接続端子部付近を拡大した模式的断面
図である。アルミニウム等より成る接続端子301上に
は支持基板106の凹部が整合され、接続端子301上
には空隙401が形成されている。単結晶シリコン基板
101の他の部分においては接着剤層105を介して支
持基板106と接着されている。
FIG. 3 is an enlarged schematic sectional view of the vicinity of a connection terminal portion with the outside of the light valve semiconductor device of the present invention shown in FIG. The concave portion of the support substrate 106 is aligned on the connection terminal 301 made of aluminum or the like, and the void 401 is formed on the connection terminal 301. The other portion of the single crystal silicon substrate 101 is bonded to the supporting substrate 106 via the adhesive layer 105.

【0017】図3の実施例によれば、ウェハ状態からチ
ップに切り出す際に、支持基板106を接続端子301
に及ばないようにハーフカットすることにより接続端子
301上にかかる支持基板106をはじき飛ばすことが
可能である。これにより本発明の光弁用半導体装置と外
部との電気的接続が簡単に行える。また、図2(c)に
示した製造工程において、エッチャントにKOH溶液や
ヒドラジン溶液を用い、画素領域104下の単結晶シリ
コン基板101をエッチング除去する際に、単結晶シリ
コン基板101の表面側の接続端子301は支持基板1
06によって完全に覆うことができるためエッチング工
程による表面側の損傷を完全にに防止することができ
る。
According to the embodiment shown in FIG. 3, when the wafer is cut into chips, the support substrate 106 is connected to the connection terminals 301.
It is possible to repel the support substrate 106 on the connection terminal 301 by half-cutting so as not to reach the above. This makes it easy to electrically connect the semiconductor device for a light valve of the present invention to the outside. Further, in the manufacturing process shown in FIG. 2C, when the KOH solution or the hydrazine solution is used as an etchant and the single crystal silicon substrate 101 under the pixel region 104 is removed by etching, the surface side of the single crystal silicon substrate 101 is removed. The connection terminal 301 is the support substrate 1
Since it can be completely covered with 06, damage on the surface side due to the etching process can be completely prevented.

【0018】[0018]

【発明の効果】上述したように本発明によれば、駆動回
路は通常のICに用いられる高品質の単結晶シリコン基
板上に形成されているため高速動作が可能である。また
駆動回路と画素領域とはICプロセス中に互いに配線さ
れているので、数μmピッチでの接続が可能であり、従
来は光弁装置と別に製造した駆動用ICとを外部で接続
するために100μm以上のピッチが必要であることに
比べると、著しい微細化が可能であり、接続部が無いの
で信頼性も向上する。このように従来のポリシリコンま
たはアモルファスシリコンをスイッチトランジスタとし
たアクティブマトリクス型の光弁装置やスイッチ素子を
持たない単純マトリクス型の光弁装置に比べて高速動作
可能な駆動回路を内蔵した小型の光弁装置を形成できる
光弁用半導体装置を得ることができる。
As described above, according to the present invention, since the drive circuit is formed on the high quality single crystal silicon substrate used for a normal IC, high speed operation is possible. Further, since the driving circuit and the pixel region are wired to each other during the IC process, they can be connected at a pitch of several μm, and conventionally, in order to externally connect the light valve device and a separately manufactured driving IC. Compared with the need for a pitch of 100 μm or more, it is possible to make the structure extremely fine, and since there is no connecting portion, the reliability is also improved. As described above, compared with the conventional active matrix type light valve device using polysilicon or amorphous silicon as a switch transistor and the simple matrix type light valve device without a switch element, a small optical device with a built-in drive circuit that can operate at high speed is provided. A light valve semiconductor device capable of forming a valve device can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の光弁用半導体装置による光弁装置の一
実施例を示す模式的断面図である。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of a light valve device by a light valve semiconductor device of the present invention.

【図2】本発明の光弁用半導体装置の製造方法の工程順
断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view in order of the steps of a method for manufacturing a semiconductor device for a light valve according to the present invention.

【図3】本発明の光弁用半導体装置の外部との接続端子
部付近の模式的断面図である。
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of the vicinity of a connection terminal portion with the outside of the light valve semiconductor device of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 単結晶シリコン基板 102 エッチングストップ層 103 駆動回路 104 画素領域 105 接着剤層 106 支持基板 107 シリコン窒化膜 108 保護絶縁膜 201 配向膜 202 シール 203 液晶層 204 対向電極 205 対向基板 301 接続端子 401 空隙 101 Single Crystal Silicon Substrate 102 Etching Stop Layer 103 Driving Circuit 104 Pixel Region 105 Adhesive Layer 106 Supporting Substrate 107 Silicon Nitride Film 108 Protective Insulating Film 201 Alignment Film 202 Seal 203 Liquid Crystal Layer 204 Counter Electrode 205 Counter Substrate 301 Connection Terminal 401 Void

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 単結晶シリコン基板上に形成された画素
領域と駆動回路を同一チップ内に内蔵した光弁用半導体
装置において、画素領域下の該単結晶シリコン基板は除
去され、光透過を可能としたことを特徴とする光弁用半
導体装置。
1. In a light valve semiconductor device in which a pixel region formed on a single crystal silicon substrate and a drive circuit are built in the same chip, the single crystal silicon substrate under the pixel region is removed to allow light transmission. A semiconductor device for a light valve, characterized in that
【請求項2】 該画素領域は各画素ごとにスイッチトラ
ンジスタを有するアクティブマトリクス型であることを
特徴とする請求項1記載の光弁用半導体装置。
2. The semiconductor device for a light valve according to claim 1, wherein the pixel region is an active matrix type having a switch transistor for each pixel.
【請求項3】 該画素領域はスイッチ素子を持たない単
純マトリクス型であることを特徴とする請求項1記載の
光弁用半導体装置。
3. The light valve semiconductor device according to claim 1, wherein the pixel region is of a simple matrix type having no switch element.
【請求項4】 該エッチングストップ層は、シリコン酸
化膜、シリコン窒化膜、または、シリコン酸化膜とシリ
コン窒化膜との複合膜のいずれか一つからなることを特
徴とする請求項1ないし4記載の光弁用半導体装置。
4. The etching stop layer is made of any one of a silicon oxide film, a silicon nitride film, and a composite film of a silicon oxide film and a silicon nitride film. Light valve semiconductor device.
【請求項5】 外部と電気的接続を行うための接続端子
部が、該駆動回路に接近して該単結晶シリコン基板上に
形成され、該単結晶シリコン基板上には支持基板が接着
された光弁用半導体装置であって、該単結晶シリコン基
板上の該接続端子部は該支持基板と接着されていないこ
とを特徴とする請求項1記載の光弁用半導体装置。
5. A connection terminal portion for electrically connecting to the outside is formed on the single crystal silicon substrate close to the drive circuit, and a support substrate is bonded on the single crystal silicon substrate. 2. The semiconductor device for a light valve according to claim 1, wherein the connection terminal portion on the single crystal silicon substrate is not bonded to the supporting substrate.
【請求項6】 エッチングストップ層が形成された単結
晶シリコン基板上に駆動回路と画素領域を形成する工程
と、該駆動回路と画素領域上に透明な支持基板を接着す
る工程と、該画素領域の下方の該単結晶シリコン基板を
該エッチングストップ層を残して、エッチング除去する
工程とからなる光弁用半導体装置の製造方法。
6. A step of forming a drive circuit and a pixel region on a single crystal silicon substrate on which an etching stop layer is formed, a step of adhering a transparent support substrate on the drive circuit and the pixel region, and the pixel region. And a step of etching away the single crystal silicon substrate below the substrate, leaving the etching stop layer.
【請求項7】 該エッチングストップ層は、シリコン酸
化膜、シリコン窒化膜、またはシリコン酸化膜とシリコ
ン窒化膜との複合膜のいずれか一つからなることを特徴
とする請求項6記載の光弁用半導体装置の製造方法。
7. The light valve according to claim 6, wherein the etching stop layer is made of any one of a silicon oxide film, a silicon nitride film, and a composite film of a silicon oxide film and a silicon nitride film. Of manufacturing semiconductor device for automobile.
JP2948993A 1993-02-18 1993-02-18 Semiconductor device for light valve and its manufacture Pending JPH06242469A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009042559A (en) * 2007-08-09 2009-02-26 Citizen Finetech Miyota Co Ltd Method for manufacturing transmissive liquid crystal display element, transmissive liquid crystal display element, and liquid crystal projector

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JP2009042559A (en) * 2007-08-09 2009-02-26 Citizen Finetech Miyota Co Ltd Method for manufacturing transmissive liquid crystal display element, transmissive liquid crystal display element, and liquid crystal projector

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