JPH06242157A - 測定装置 - Google Patents
測定装置Info
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- JPH06242157A JPH06242157A JP2775893A JP2775893A JPH06242157A JP H06242157 A JPH06242157 A JP H06242157A JP 2775893 A JP2775893 A JP 2775893A JP 2775893 A JP2775893 A JP 2775893A JP H06242157 A JPH06242157 A JP H06242157A
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- JP
- Japan
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- measurement
- signal cable
- value
- resistance value
- resistance
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 接触部分、信号ケーブルの経年劣化による抵
抗値変化を補正して精度の高い配線板搭載上のアナログ
部品の抵抗値を得ること。 【構成】 アナログ部品の抵抗値測定は、テストデータ
４を測定装置１に入力し、テストデータのうち入力パタ
ーン１１をテスト実行部６から信号ケーブル２、アナロ
グ部品と信号ケーブルとの間の接触部分１４を介してア
ナログ部品１５に印加、その出力を測定実行部６に取込
む。補正値計算部９は、あらかじめ記憶装置８に記録し
た過去の所定回数の測定結果と所定のアルゴリズムによ
って、信号ケーブル、およびアナログ部品と信号ケーブ
ルとの間の接触部分について当該部分の経年劣化を考慮
した抵抗値を算出する。過去の測定回数が所定以下に場
合は補正値データ記憶装置１７に予め用意してあるデー
タを使う。
抗値変化を補正して精度の高い配線板搭載上のアナログ
部品の抵抗値を得ること。 【構成】 アナログ部品の抵抗値測定は、テストデータ
４を測定装置１に入力し、テストデータのうち入力パタ
ーン１１をテスト実行部６から信号ケーブル２、アナロ
グ部品と信号ケーブルとの間の接触部分１４を介してア
ナログ部品１５に印加、その出力を測定実行部６に取込
む。補正値計算部９は、あらかじめ記憶装置８に記録し
た過去の所定回数の測定結果と所定のアルゴリズムによ
って、信号ケーブル、およびアナログ部品と信号ケーブ
ルとの間の接触部分について当該部分の経年劣化を考慮
した抵抗値を算出する。過去の測定回数が所定以下に場
合は補正値データ記憶装置１７に予め用意してあるデー
タを使う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はプリント配線板の測定装
置、特に上記プリント配線板上に搭載されたアナログ部
品の経年劣化による抵抗値の変化分を精度よく補正でき
るようにした測定装置に関する。
置、特に上記プリント配線板上に搭載されたアナログ部
品の経年劣化による抵抗値の変化分を精度よく補正でき
るようにした測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、プリント配線板上に搭載されたア
ナログ部品の抵抗値を測定する測定装置においては、被
測定対象であるプリント配線板上のアナログ部品ととも
に上記プリント配線板とこれを測定する測定装置とを接
続する信号ケーブル、さらに信号ケーブルとアナログ部
品との接触部分をも含めた総合的な抵抗を測定してい
る。測定結果の判定はあらかじめ用意した期待値と測定
値を比較して行うが、その際の測定値は、上記信号ケー
ブル、および信号ケーブルとアナログ部品との接触部分
の抵抗値を差引いた補正後の値を使用する。その補正に
は、あらかじめ信号ケーブル、および信号ケーブルとア
ナログ部品との接触部分について測定した抵抗値を直接
用いており、その測定時点から補正に使用する時点まで
の間での当該部分の経年劣化による抵抗値の変化が盛り
込まれない。これにより、上記補正に誤差を生じ、被測
定対象であるアナログ部品についての測定結果の判定を
誤まるという問題点があった。関連する公知例としては
特開平１−２６６６３８号がある。
ナログ部品の抵抗値を測定する測定装置においては、被
測定対象であるプリント配線板上のアナログ部品ととも
に上記プリント配線板とこれを測定する測定装置とを接
続する信号ケーブル、さらに信号ケーブルとアナログ部
品との接触部分をも含めた総合的な抵抗を測定してい
る。測定結果の判定はあらかじめ用意した期待値と測定
値を比較して行うが、その際の測定値は、上記信号ケー
ブル、および信号ケーブルとアナログ部品との接触部分
の抵抗値を差引いた補正後の値を使用する。その補正に
は、あらかじめ信号ケーブル、および信号ケーブルとア
ナログ部品との接触部分について測定した抵抗値を直接
用いており、その測定時点から補正に使用する時点まで
の間での当該部分の経年劣化による抵抗値の変化が盛り
込まれない。これにより、上記補正に誤差を生じ、被測
定対象であるアナログ部品についての測定結果の判定を
誤まるという問題点があった。関連する公知例としては
特開平１−２６６６３８号がある。
【０００３】図５を用いて、従来のプリント配線板の抵
抗測定の概略を説明する。１は測定装置を示したもので
ある。当該測定装置１は、測定実行部６および測定結果
比較部７から構成される。プリント配線板３上に搭載し
たアナログ部品１５の抵抗値の測定は、テストデータ４
を測定装置１に入力し、テストデータのうち入力パター
ン１１を測定実行部６から信号ケーブル２、アナログ部
品と信号ケーブルとの間の接触部分１４を介してアナロ
グ部品１５に印加し、そのときの出力を測定実行部６に
取込む。その際の測定結果は被測定対象であるアナログ
部品１５とともに信号ケーブル２、アナログ部品と信号
ケーブルとの間の接触部分１４をも含んでいる。
抗測定の概略を説明する。１は測定装置を示したもので
ある。当該測定装置１は、測定実行部６および測定結果
比較部７から構成される。プリント配線板３上に搭載し
たアナログ部品１５の抵抗値の測定は、テストデータ４
を測定装置１に入力し、テストデータのうち入力パター
ン１１を測定実行部６から信号ケーブル２、アナログ部
品と信号ケーブルとの間の接触部分１４を介してアナロ
グ部品１５に印加し、そのときの出力を測定実行部６に
取込む。その際の測定結果は被測定対象であるアナログ
部品１５とともに信号ケーブル２、アナログ部品と信号
ケーブルとの間の接触部分１４をも含んでいる。
【０００４】測定実行部６は測定結果から、あらかじめ
用意した補正値を差引きアナログ部品１５の抵抗値とし
て測定結果比較部７に送出する。測定結果比較部７はテ
ストデータ４のうち期待値（定格ＲA）１０と上記アナ
ログ部品１５の抵抗値とを比較し、あらかじめ定めた許
容値内であればパス、許容値外ならばフェイルとして５
の測定結果リストに出力する。上記補正値は、信号ケー
ブル、および信号ケーブルとアナログ部品との接触部分
について過去のある時点で測定した抵抗値を用いてお
り、その測定時点から補正に使用する時点までの間での
当該部分の経年劣化による抵抗値の変化が盛り込まれて
いない。したがって、この場合の補正した抵抗値は、そ
の間の経年劣化の影響が含まれていないため精度がよく
ない。
用意した補正値を差引きアナログ部品１５の抵抗値とし
て測定結果比較部７に送出する。測定結果比較部７はテ
ストデータ４のうち期待値（定格ＲA）１０と上記アナ
ログ部品１５の抵抗値とを比較し、あらかじめ定めた許
容値内であればパス、許容値外ならばフェイルとして５
の測定結果リストに出力する。上記補正値は、信号ケー
ブル、および信号ケーブルとアナログ部品との接触部分
について過去のある時点で測定した抵抗値を用いてお
り、その測定時点から補正に使用する時点までの間での
当該部分の経年劣化による抵抗値の変化が盛り込まれて
いない。したがって、この場合の補正した抵抗値は、そ
の間の経年劣化の影響が含まれていないため精度がよく
ない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、プリ
ント配線板に搭載したアナログ部品の抵抗値を測定装置
で測定する場合、測定結果は、当該部品の抵抗値の他
に、被測定対象と測定装置との間の信号ケーブル、およ
び信号ケーブルとアナログ部品との接触部分の抵抗値を
も含んで測定しており、測定結果を判定する場合には上
記測定系の抵抗値を差引く補正を行うが、測定系の経年
劣化による抵抗値の変化が含まれていないため精度がよ
くない。本発明の目的は、測定系の経年劣化による抵抗
値の変化を含んだ補正を実施することにより、測定結果
の判定精度を向上することにある。
ント配線板に搭載したアナログ部品の抵抗値を測定装置
で測定する場合、測定結果は、当該部品の抵抗値の他
に、被測定対象と測定装置との間の信号ケーブル、およ
び信号ケーブルとアナログ部品との接触部分の抵抗値を
も含んで測定しており、測定結果を判定する場合には上
記測定系の抵抗値を差引く補正を行うが、測定系の経年
劣化による抵抗値の変化が含まれていないため精度がよ
くない。本発明の目的は、測定系の経年劣化による抵抗
値の変化を含んだ補正を実施することにより、測定結果
の判定精度を向上することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】被測定対象であるプリン
ト配線板に搭載されたアナログ部品の抵抗値を信号ケー
ブルを介して測定する測定装置において、該測定装置内
に、上記プリント配線板と信号ケーブルとの間の接触抵
抗、および上記信号ケーブルの抵抗などの測定系の抵抗
を含めた上記アナログ部品の抵抗値の過去の測定結果を
測定日付とともに格納する記憶装置、および上記プリン
ト配線板に搭載のアナログ部品について抵抗値を測定す
る際に、上記記憶装置から上記過去の測定結果を取り出
して参照することにより上記測定系の経年劣化に対する
補正値を算出する補正値計算部を具備している。
ト配線板に搭載されたアナログ部品の抵抗値を信号ケー
ブルを介して測定する測定装置において、該測定装置内
に、上記プリント配線板と信号ケーブルとの間の接触抵
抗、および上記信号ケーブルの抵抗などの測定系の抵抗
を含めた上記アナログ部品の抵抗値の過去の測定結果を
測定日付とともに格納する記憶装置、および上記プリン
ト配線板に搭載のアナログ部品について抵抗値を測定す
る際に、上記記憶装置から上記過去の測定結果を取り出
して参照することにより上記測定系の経年劣化に対する
補正値を算出する補正値計算部を具備している。
【０００７】
【作用】測定装置内に測定結果を格納する記憶装置を用
意し、当該記憶装置にあらかじめプリント配線板搭載ア
ナログ部品と信号ケーブルとの間の接触部分、信号ケー
ブルの抵抗値を測定日付とともに記録しておき、上記プ
リント配線板に搭載のアナログ部品について抵抗値を測
定する際に、上記記憶装置から上記過去の測定結果を取
り出して参照し、所定のアルゴリズムで上記測定系の経
年劣化に対する補正値を算出するようにしたので、プリ
ント配線板の測定値を精度よく得ることが可能になる。
意し、当該記憶装置にあらかじめプリント配線板搭載ア
ナログ部品と信号ケーブルとの間の接触部分、信号ケー
ブルの抵抗値を測定日付とともに記録しておき、上記プ
リント配線板に搭載のアナログ部品について抵抗値を測
定する際に、上記記憶装置から上記過去の測定結果を取
り出して参照し、所定のアルゴリズムで上記測定系の経
年劣化に対する補正値を算出するようにしたので、プリ
ント配線板の測定値を精度よく得ることが可能になる。
【０００８】
【実施例】図１は本発明の一実施例である。測定装置１
は、測定実行部６、測定結果比較部７、記憶装置８、補
正値計算部９、補正制御部１６、および補正値データ記
憶部１７から構成される。プリント配線板３に搭載した
アナログ部品１５の抵抗値の測定は、テストデータ４を
測定装置１に入力する。テストデータのうち入力パター
ン１１を測定実行部６から信号ケーブル２、アナログ部
品と信号ケーブルとの間の接触部分１４を介してアナロ
グ部品１５に印加し、その出力を測定実行部６に取込
む。その際得られた測定結果（今回の測定結果という）
は被測定対象であるアナログ部品１５とともに信号ケー
ブル２、アナログ部品と信号ケーブルとの間の接触部分
１４の抵抗も含んでいる。
は、測定実行部６、測定結果比較部７、記憶装置８、補
正値計算部９、補正制御部１６、および補正値データ記
憶部１７から構成される。プリント配線板３に搭載した
アナログ部品１５の抵抗値の測定は、テストデータ４を
測定装置１に入力する。テストデータのうち入力パター
ン１１を測定実行部６から信号ケーブル２、アナログ部
品と信号ケーブルとの間の接触部分１４を介してアナロ
グ部品１５に印加し、その出力を測定実行部６に取込
む。その際得られた測定結果（今回の測定結果という）
は被測定対象であるアナログ部品１５とともに信号ケー
ブル２、アナログ部品と信号ケーブルとの間の接触部分
１４の抵抗も含んでいる。
【０００９】測定実行部６は、測定結果１２を補正制御
部１６へ送出する。補正制御部１６は記憶装置８に記憶
されている過去の測定結果を参照する。今回測定結果を
得るために測定した部品と同じ部品について３つ以上の
過去の測定結果が記憶されている場合は、それらの過去
の測定結果を補正値計算部９に送出する。補正値計算部
９は、記憶装置８から受け取った過去の測定結果をもと
に補正値計算を実行し、補正値を求める。求めた補正値
１８を補正制御部１６に送出する。補正制御部１６は今
回の測定結果１２から補正値１８を差引き、補正後の抵
抗値１９を求め、求めた補正後の抵抗値１９を測定結果
比較部７に送出する。測定結果比較部７は、測定結果比
較部７はテストデータ４のうち期待値（定格値ＲA）１
０と上記アナログ部品１５の抵抗値とを比較し、あらか
じめ定めた許容値内であればパス、許容値外ならばフェ
イルとして測定結果リスト５に出力する。
部１６へ送出する。補正制御部１６は記憶装置８に記憶
されている過去の測定結果を参照する。今回測定結果を
得るために測定した部品と同じ部品について３つ以上の
過去の測定結果が記憶されている場合は、それらの過去
の測定結果を補正値計算部９に送出する。補正値計算部
９は、記憶装置８から受け取った過去の測定結果をもと
に補正値計算を実行し、補正値を求める。求めた補正値
１８を補正制御部１６に送出する。補正制御部１６は今
回の測定結果１２から補正値１８を差引き、補正後の抵
抗値１９を求め、求めた補正後の抵抗値１９を測定結果
比較部７に送出する。測定結果比較部７は、測定結果比
較部７はテストデータ４のうち期待値（定格値ＲA）１
０と上記アナログ部品１５の抵抗値とを比較し、あらか
じめ定めた許容値内であればパス、許容値外ならばフェ
イルとして測定結果リスト５に出力する。
【００１０】一方、記憶装置８に記憶されている過去の
測定結果を参照した際、今回測定結果を得るために測定
した部品と同じ部品について２つ以下しか過去の測定結
果が記憶されていない場合は、補正値データ記憶装置１
７から読みだした予め用意してある補正値データを、今
回の測定結果１２から差し引いた結果を補正後の抵抗値
１９として測定結果比較部７に送出する。
測定結果を参照した際、今回測定結果を得るために測定
した部品と同じ部品について２つ以下しか過去の測定結
果が記憶されていない場合は、補正値データ記憶装置１
７から読みだした予め用意してある補正値データを、今
回の測定結果１２から差し引いた結果を補正後の抵抗値
１９として測定結果比較部７に送出する。
【００１１】
【表１】
【００１２】表１は図１の記憶装置８に記録する情報を
示したものである。該情報は、アイテム番号２１、測定
日付２２、アナログ部品タイプ名２３、測定値２４、抽
出フラグ２５から構成される。補正値計算部９は表１の
情報を記憶装置８から取出し、数式１を用いて補正値を
計算する。なお、記憶装置に記録された過去測定結果の
うちどれを取り出すかは、後述する図４のフローチャー
トの説明で述べる。
示したものである。該情報は、アイテム番号２１、測定
日付２２、アナログ部品タイプ名２３、測定値２４、抽
出フラグ２５から構成される。補正値計算部９は表１の
情報を記憶装置８から取出し、数式１を用いて補正値を
計算する。なお、記憶装置に記録された過去測定結果の
うちどれを取り出すかは、後述する図４のフローチャー
トの説明で述べる。
【００１３】
【数１】
【００１４】数式１において、dxはアナログ部品を測定
する現在の日付、Ｒdxはアナログ部品の信号ケーブルお
よび信号ケーブルと部品との接触部分の抵抗値を含めた
現在の日付dxにおける測定予測値、ＲAはアナログ部品
Ａの抵抗期待値（定格値）、dp、dq、drは表１のアナロ
グ部品の過去の測定日付、Ｒdp、Ｒdq、Ｒdrは表１のア
ナログ部品の過去の測定日付dp、dq、drにおける測定値
である。アナログ部品Ａ、Ｂ、Ｃ、・・・毎に上記数式
１を用いて補正値を計算する。数式１において、右辺第
１項は値変動の起点（前回の測定値）、右辺第２項は経
年劣化による変動の変化率が一定、すなわち時間の関数
である測定値の時間による二次導関数が一定、と仮定し
たときの起点（前回の測定値）からの予測される変動
分、右辺第３項は補正値を求める際の基準値（今の場合
は部品の定格値）を意味している。
する現在の日付、Ｒdxはアナログ部品の信号ケーブルお
よび信号ケーブルと部品との接触部分の抵抗値を含めた
現在の日付dxにおける測定予測値、ＲAはアナログ部品
Ａの抵抗期待値（定格値）、dp、dq、drは表１のアナロ
グ部品の過去の測定日付、Ｒdp、Ｒdq、Ｒdrは表１のア
ナログ部品の過去の測定日付dp、dq、drにおける測定値
である。アナログ部品Ａ、Ｂ、Ｃ、・・・毎に上記数式
１を用いて補正値を計算する。数式１において、右辺第
１項は値変動の起点（前回の測定値）、右辺第２項は経
年劣化による変動の変化率が一定、すなわち時間の関数
である測定値の時間による二次導関数が一定、と仮定し
たときの起点（前回の測定値）からの予測される変動
分、右辺第３項は補正値を求める際の基準値（今の場合
は部品の定格値）を意味している。
【００１５】図２は数式１を用いての補正値の計算を図
示したものである。横軸は測定日付け、縦軸は測定値で
ある。過去の測定日時dp、dq、drにおける測定値をＲd
p、Ｒdq、Ｒdrとした場合、現在の測定日時dxにおける
測定予測値Ｒdｘを示している。
示したものである。横軸は測定日付け、縦軸は測定値で
ある。過去の測定日時dp、dq、drにおける測定値をＲd
p、Ｒdq、Ｒdrとした場合、現在の測定日時dxにおける
測定予測値Ｒdｘを示している。
【００１６】図３は記憶装置８に情報を記録する際の手
順をフローチャートにて示したものである。ステップ３
１の判断ボックスでは記録しようとする測定値が妥当な
ものかを判定している。ステップ３１において不当な測
定値と判断した場合はステップ３７に移る。ステップ３
７では記憶装置８への記録を行わない。一方、ステップ
３１において妥当な測定値と判断した場合、ステップ３
２の判断ボックスに移る。ステップ３２において記憶装
置８の空きエリアの有無を調べ、空きエリアが有りの場
合には、ステップ３３でアイテム番号を＋１し、ステッ
プ３４で測定値を記録する。ステップ３２の判定の結
果、空きエリアが無しの場合にはステップ３５に進み一
番古い測定値を不要情報として削除し、ステップ３６で
測定値を並べ替え（アイテム番号の付け替え）、その
後、再度ステップ３２の判断ボックスにて８の記憶装置
の空きエリアが生じるまで、ステップ３５、ステップ３
６の処理を繰り返し、情報を記録を完了する。
順をフローチャートにて示したものである。ステップ３
１の判断ボックスでは記録しようとする測定値が妥当な
ものかを判定している。ステップ３１において不当な測
定値と判断した場合はステップ３７に移る。ステップ３
７では記憶装置８への記録を行わない。一方、ステップ
３１において妥当な測定値と判断した場合、ステップ３
２の判断ボックスに移る。ステップ３２において記憶装
置８の空きエリアの有無を調べ、空きエリアが有りの場
合には、ステップ３３でアイテム番号を＋１し、ステッ
プ３４で測定値を記録する。ステップ３２の判定の結
果、空きエリアが無しの場合にはステップ３５に進み一
番古い測定値を不要情報として削除し、ステップ３６で
測定値を並べ替え（アイテム番号の付け替え）、その
後、再度ステップ３２の判断ボックスにて８の記憶装置
の空きエリアが生じるまで、ステップ３５、ステップ３
６の処理を繰り返し、情報を記録を完了する。
【００１７】図４は、記憶装置８から補正値の計算に必
要な情報（過去の測定結果）を抽出する際の手順をフロ
ーチャートで示したものである。記憶装置８からアイテ
ム番号の小さい順に情報を参照、被測定対象と同じアナ
ログ部品であるかをステップ４３の判断ボックスにて調
べ、ステップ４４にて同一と判定されたアナログ部品の
アイテムに対応する表１の抽出フラグ２５に'１’を立
て、以下記憶装置８に記録されている情報すべてについ
てステップ４３、ステップ４４の処理を行う。ステップ
４２にて情報すべてについての処理完了を判断し、ステ
ップ４５にて上記抽出フラグ'１’の情報のうち、アイ
テム番号の最も小さい情報とアイテム番号の最も大きい
情報を取り出し、両者各々の測定日付から、その真中の
日付に最も近い測定日付の情報を取り出し、必要な情報
の抽出を完了する。補正値計算部９はこの抽出した情報
と数式１に代入して補正値を計算する。
要な情報（過去の測定結果）を抽出する際の手順をフロ
ーチャートで示したものである。記憶装置８からアイテ
ム番号の小さい順に情報を参照、被測定対象と同じアナ
ログ部品であるかをステップ４３の判断ボックスにて調
べ、ステップ４４にて同一と判定されたアナログ部品の
アイテムに対応する表１の抽出フラグ２５に'１’を立
て、以下記憶装置８に記録されている情報すべてについ
てステップ４３、ステップ４４の処理を行う。ステップ
４２にて情報すべてについての処理完了を判断し、ステ
ップ４５にて上記抽出フラグ'１’の情報のうち、アイ
テム番号の最も小さい情報とアイテム番号の最も大きい
情報を取り出し、両者各々の測定日付から、その真中の
日付に最も近い測定日付の情報を取り出し、必要な情報
の抽出を完了する。補正値計算部９はこの抽出した情報
と数式１に代入して補正値を計算する。
【００１８】
【発明の効果】本発明によればプリント配線板搭載のア
ナログ部品の抵抗値を測定装置にて測定する際、当該部
品の抵抗値の他に、被測定対象と測定装置との間の信号
ケーブル、および信号ケーブルとアナログ部品との接触
部分の抵抗値をも含んで測定し、測定結果判定時に上記
測定系の抵抗値を差引く補正を行うが、測定系の経年劣
化による抵抗値の変化を盛り込んだ補正を実施すること
が可能となるため測定の精度を向上できる。また、本発
明は、測定精度の向上により、プリント配線板の製造不
良、組立不良を電子計算機装置へ組み込む以前に摘出す
ることも可能となる副次的効果もある。。
ナログ部品の抵抗値を測定装置にて測定する際、当該部
品の抵抗値の他に、被測定対象と測定装置との間の信号
ケーブル、および信号ケーブルとアナログ部品との接触
部分の抵抗値をも含んで測定し、測定結果判定時に上記
測定系の抵抗値を差引く補正を行うが、測定系の経年劣
化による抵抗値の変化を盛り込んだ補正を実施すること
が可能となるため測定の精度を向上できる。また、本発
明は、測定精度の向上により、プリント配線板の製造不
良、組立不良を電子計算機装置へ組み込む以前に摘出す
ることも可能となる副次的効果もある。。
【図１】本発明の一実施例を示す測定装置構成の概要を
示した図である。
示した図である。
【図２】本発明の一実施例を示す補正値計算算出方法を
示した図である。
示した図である。
【図３】本発明の一実施例を示す記憶装置に情報を記録
する際の手順のフローチャートである。
する際の手順のフローチャートである。
【図４】本発明の一実施例を示す記憶装置から必要な情
報を抽出する際の手順のフローチャートである。
報を抽出する際の手順のフローチャートである。
【図５】従来技術での測定装置構成の概要を示した図で
ある。
ある。
１ 測定装置 ２ 信号ケーブル ３ プリント配線板 ４ テストデータ ５ テスト結果リスト ６ 測定実行部 ７ 測定結果比較部 ８ 記憶装置 ９ 補正値計算部 １０ 期待値 １１ 入力パターン １２ 補正後のアナログ部品抵抗値 １３ 補正値 １４ アナログ部品と信号ケーブルとの間の接触部分 １５ アナログ部品 １６ 補正制御部 １７ 補正値データ記憶装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小森 昭一 神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社日 立コンピュータエレクトロニクス内 (72)発明者 川口 善仁 神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社日 立コンピュータエレクトロニクス内 (72)発明者 石山 俊 神奈川県海老名市下今泉810番地 株式会 社日立製作所オフィスシステム事業部内
Claims (1)
- 【請求項１】 被測定対象であるプリント配線板に搭載
されたアナログ部品の抵抗値を信号ケーブルを介して測
定する測定装置において、該測定装置は、上記プリント
配線板と信号ケーブルとの間の接触抵抗、および上記信
号ケーブルの抵抗などの測定系の抵抗を含めた上記アナ
ログ部品の抵抗値を測定する測定実行部と、上記測定実
行部による過去の測定結果を測定日付とともに格納する
記憶装置と、上記プリント配線板に搭載のアナログ部品
について抵抗値を測定する際に、上記記憶装置から上記
過去の測定結果を取り出して参照することにより上記測
定系の経年劣化に対する補正値を算出する補正値計算部
を具備することを特徴とした測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2775893A JPH06242157A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2775893A JPH06242157A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06242157A true JPH06242157A (ja) | 1994-09-02 |
Family
ID=12229917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2775893A Pending JPH06242157A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06242157A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2015145615A1 (ja) * | 2014-03-26 | 2015-10-01 | 日産自動車株式会社 | インピーダンス測定装置及びインピーダンス測定方法 |
| JP2018179818A (ja) * | 2017-04-17 | 2018-11-15 | 日置電機株式会社 | 測定装置、測定データ処理装置および測定システム |
-
1993
- 1993-02-17 JP JP2775893A patent/JPH06242157A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2015145615A1 (ja) * | 2014-03-26 | 2015-10-01 | 日産自動車株式会社 | インピーダンス測定装置及びインピーダンス測定方法 |
| JP2018179818A (ja) * | 2017-04-17 | 2018-11-15 | 日置電機株式会社 | 測定装置、測定データ処理装置および測定システム |
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