JPH06235739A - 検電器 - Google Patents
検電器Info
- Publication number
- JPH06235739A JPH06235739A JP4600093A JP4600093A JPH06235739A JP H06235739 A JPH06235739 A JP H06235739A JP 4600093 A JP4600093 A JP 4600093A JP 4600093 A JP4600093 A JP 4600093A JP H06235739 A JPH06235739 A JP H06235739A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- capacitor
- probe
- measurement target
- input
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 検電器において、超高抵抗器を使用せずに検
電器を構成すると共に、計測対象の周波数の変動があっ
ても計測値の補正をせずに常に正確な計測値を得る。 【構成】 プローブ２に接続された入力コンデンサ３１
と、入力コンデンサ３１から計測表示手段２０に入力さ
れる入力端子に接続された分圧コンデンサ３２とにより
分圧手段３０を構成する。
電器を構成すると共に、計測対象の周波数の変動があっ
ても計測値の補正をせずに常に正確な計測値を得る。 【構成】 プローブ２に接続された入力コンデンサ３１
と、入力コンデンサ３１から計測表示手段２０に入力さ
れる入力端子に接続された分圧コンデンサ３２とにより
分圧手段３０を構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、非接触状態あるいは
接触状態で電圧を計測して表示する検電器に関する。
接触状態で電圧を計測して表示する検電器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より電圧を計測して表示する手段と
して電圧計が広く用いられている。ところが、電圧計を
用いて電圧を計測する場合、電圧計のプローブを計測対
象の端子等に接触させなければならないため感電のおそ
れがあり、検電作業の安全面で問題があった。また、最
近の低圧用の配分電盤は安全性を高めるため閉鎖型が多
くなってきているので、電圧計のプローブを配分電盤の
端子等に接触させることが困難であった。そこで、プロ
ーブを計測対象に近接させることで計測対象の電圧を計
測して表示することができる検電器が開発された。
して電圧計が広く用いられている。ところが、電圧計を
用いて電圧を計測する場合、電圧計のプローブを計測対
象の端子等に接触させなければならないため感電のおそ
れがあり、検電作業の安全面で問題があった。また、最
近の低圧用の配分電盤は安全性を高めるため閉鎖型が多
くなってきているので、電圧計のプローブを配分電盤の
端子等に接触させることが困難であった。そこで、プロ
ーブを計測対象に近接させることで計測対象の電圧を計
測して表示することができる検電器が開発された。
【０００３】図４は検電器の一例を示す概略斜視図であ
る。本体１の一端には、導電性ゴム等で成るプローブ２
が装着されており、このプローブ２にて計測対象の電圧
が検出される。検出された電圧はプローブ２に接続され
かつ本体１に内蔵された分圧手段にて分圧される。そし
て、分圧手段の出力電圧は分圧手段に接続されかつ本体
１に内蔵された計測表示手段にて計測され、その値が本
体１の側面に配設された液晶表示板３に表示される。こ
のような構成において、例えば絶縁被覆電線の電圧を計
測し表示させたい場合は、作業者が検電器の本体１を持
ってプローブ２を絶縁被覆電線の表面に押し当て、本体
１に配設されたスイッチ４を押す。これにより絶縁被覆
電線の電圧が計測され、その値が液晶表示板３に表示さ
れる。このように検電器によれば計測対象に非接触でそ
の電圧を計測して表示させることができるので、検電作
業の安全性を高めることができる。
る。本体１の一端には、導電性ゴム等で成るプローブ２
が装着されており、このプローブ２にて計測対象の電圧
が検出される。検出された電圧はプローブ２に接続され
かつ本体１に内蔵された分圧手段にて分圧される。そし
て、分圧手段の出力電圧は分圧手段に接続されかつ本体
１に内蔵された計測表示手段にて計測され、その値が本
体１の側面に配設された液晶表示板３に表示される。こ
のような構成において、例えば絶縁被覆電線の電圧を計
測し表示させたい場合は、作業者が検電器の本体１を持
ってプローブ２を絶縁被覆電線の表面に押し当て、本体
１に配設されたスイッチ４を押す。これにより絶縁被覆
電線の電圧が計測され、その値が液晶表示板３に表示さ
れる。このように検電器によれば計測対象に非接触でそ
の電圧を計測して表示させることができるので、検電作
業の安全性を高めることができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】図３は上述した従来の
検電器の回路例を示す概略構成図である。プローブ２に
接続された入力抵抗器１１と、入力抵抗器１１から計測
表示手段２０に入力される入力端子に接続された分圧抵
抗器１２とにより分圧手段１０を構成している。なお、
直流分による電圧誤差を取除くために、直流遮断用のコ
ンデンサが同図中の１３，１４の位置に挿入されること
がある。このような構成の回路を備えた検電器にて計測
対象５の検電を非接触にて行なう場合、プローブ２を計
測対象５に近接させると両者間で通常数ｐＦ以下の容量
結合が形成される。この結合容量は計測対象５とプロー
ブ２との距離、対向面積及びそれらの間に存在する物質
の誘電率によって変化する。従って、検電状況の影響が
少なく、かつ効率的な検電を行なうには分圧手段１０の
入力インピーダンスを、計測対象５とプローブ２との間
に形成される結合容量のインピーダンスと同等又はそれ
以上にすることが望ましい。ここで、計測対象５に例え
ば一般的な商用電源である２００Ｖ，５０Ｈｚの電圧が
印加されているとし、計測対象５とプローブ２との間に
例えば３ｐＦの容量結合が形成された場合、このインピ
ーダンスは数１により約１．０６ＧΩとなる。
検電器の回路例を示す概略構成図である。プローブ２に
接続された入力抵抗器１１と、入力抵抗器１１から計測
表示手段２０に入力される入力端子に接続された分圧抵
抗器１２とにより分圧手段１０を構成している。なお、
直流分による電圧誤差を取除くために、直流遮断用のコ
ンデンサが同図中の１３，１４の位置に挿入されること
がある。このような構成の回路を備えた検電器にて計測
対象５の検電を非接触にて行なう場合、プローブ２を計
測対象５に近接させると両者間で通常数ｐＦ以下の容量
結合が形成される。この結合容量は計測対象５とプロー
ブ２との距離、対向面積及びそれらの間に存在する物質
の誘電率によって変化する。従って、検電状況の影響が
少なく、かつ効率的な検電を行なうには分圧手段１０の
入力インピーダンスを、計測対象５とプローブ２との間
に形成される結合容量のインピーダンスと同等又はそれ
以上にすることが望ましい。ここで、計測対象５に例え
ば一般的な商用電源である２００Ｖ，５０Ｈｚの電圧が
印加されているとし、計測対象５とプローブ２との間に
例えば３ｐＦの容量結合が形成された場合、このインピ
ーダンスは数１により約１．０６ＧΩとなる。
【０００５】
【数１】 １／（２π・５０・３・１０−１２）＝１．０６・１０９ 従って、分圧手段１０の入力インピーダンスは１．０６
ＧΩ以上が望ましい。一方、計測表示手段２０は可搬化
のため電池駆動されることが多く、その入力電圧範囲は
数百ｍＶ程度であることが望まれるため、前掲の例にお
いては分圧手段１０において１／１０００程度の分圧比
が必要となる。以上のことから、分圧手段１０を構成す
る入力抵抗器１１として約１ＧΩ以上の超高抵抗器が必
要となる。しかしながら、このような超高抵抗器は高価
であって入手困難であり、また精度や安定度に難点があ
るため計測精度が低下するという欠点があった。
ＧΩ以上が望ましい。一方、計測表示手段２０は可搬化
のため電池駆動されることが多く、その入力電圧範囲は
数百ｍＶ程度であることが望まれるため、前掲の例にお
いては分圧手段１０において１／１０００程度の分圧比
が必要となる。以上のことから、分圧手段１０を構成す
る入力抵抗器１１として約１ＧΩ以上の超高抵抗器が必
要となる。しかしながら、このような超高抵抗器は高価
であって入手困難であり、また精度や安定度に難点があ
るため計測精度が低下するという欠点があった。
【０００６】また、数１から明白なように、計測対象５
とプローブ２との間に形成される結合容量のインピーダ
ンスは計測対象５の周波数の変動に従って変動し、例え
ば５０Ｈｚから６０Ｈｚに変動した場合には２０％程度
もの誤差となりうるから、その他の検電条件が同一であ
っても正確な計測値を得るにはその補正が必要になると
いう欠点があった。一方、検電を接触にて行なう場合
も、感電を防止するために非接触による検電と同様の超
高抵抗器を使用する必要があり、上述した欠点があっ
た。この発明は上述した事情から成されたものであり、
この発明の目的は、超高抵抗器を使用せずに検電器を構
成することができると共に、計測対象の周波数の変動が
あっても計測値の補正をせずに常に正確な計測値を得る
ことができる検電器を提供することにある。
とプローブ２との間に形成される結合容量のインピーダ
ンスは計測対象５の周波数の変動に従って変動し、例え
ば５０Ｈｚから６０Ｈｚに変動した場合には２０％程度
もの誤差となりうるから、その他の検電条件が同一であ
っても正確な計測値を得るにはその補正が必要になると
いう欠点があった。一方、検電を接触にて行なう場合
も、感電を防止するために非接触による検電と同様の超
高抵抗器を使用する必要があり、上述した欠点があっ
た。この発明は上述した事情から成されたものであり、
この発明の目的は、超高抵抗器を使用せずに検電器を構
成することができると共に、計測対象の周波数の変動が
あっても計測値の補正をせずに常に正確な計測値を得る
ことができる検電器を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明は、計測対象に
近接又は接触させることにより前記計測対象の電圧を検
出するプローブと、検出した電圧を分圧する分圧手段
と、前記分圧手段の出力電圧を計測して表示する計測表
示手段とを備えた検電器に関するものであり、この発明
の上記目的は、前記分圧手段としてコンデンサを用いる
ことによって達成される。
近接又は接触させることにより前記計測対象の電圧を検
出するプローブと、検出した電圧を分圧する分圧手段
と、前記分圧手段の出力電圧を計測して表示する計測表
示手段とを備えた検電器に関するものであり、この発明
の上記目的は、前記分圧手段としてコンデンサを用いる
ことによって達成される。
【０００８】
【作用】この発明にあっては、検出した電圧を分圧する
手段に低容量のコンデンサを用いるようにしているの
で、超高抵抗器を不要とし、また計測対象の周波数に従
って分圧手段の入力インピーダンスが計測対象とプロー
ブとの間に形成される結合容量のインピーダンスと並行
して変動するため、正確な計測値を常に得ることができ
る。
手段に低容量のコンデンサを用いるようにしているの
で、超高抵抗器を不要とし、また計測対象の周波数に従
って分圧手段の入力インピーダンスが計測対象とプロー
ブとの間に形成される結合容量のインピーダンスと並行
して変動するため、正確な計測値を常に得ることができ
る。
【０００９】
【実施例】図１はこの発明の検電器の回路例を示す概略
構成図である。プローブ２に接続された入力コンデンサ
３１と、入力コンデンサ３１から計測表示手段２０に入
力される入力端子に接続された分圧コンデンサ３２とに
より分圧手段３０を構成している。なお、入力コンデン
サ３１としては例えばセラミック・コンデンサが使用さ
れ、入力コンデンサ３３としては例えばセラミック・コ
ンデンサやメタライズド・フィルム・コンデンサが使用
される。本発明の検電器の分圧手段３０における入力イ
ンピーダンスはＣ（３１）／Ｃ（３２）／（Ｃ（３１）
＋Ｃ（３２））、分圧比はＣ（３１）／（Ｃ（３１）＋
Ｃ（３２））で与えられる。なお、Ｃ（ ）は（ ）内
の番号のコンデンサ容量値を表わす。ここで前掲の例の
ように分圧比を１／１０００とした場合、入力インピー
ダンスはＣ（３１）にほぼ依存するので、Ｃ（３１）を
計測対象５とプローブ２との間に形成される結合容量と
同等又はそれ以下にすれば良い。
構成図である。プローブ２に接続された入力コンデンサ
３１と、入力コンデンサ３１から計測表示手段２０に入
力される入力端子に接続された分圧コンデンサ３２とに
より分圧手段３０を構成している。なお、入力コンデン
サ３１としては例えばセラミック・コンデンサが使用さ
れ、入力コンデンサ３３としては例えばセラミック・コ
ンデンサやメタライズド・フィルム・コンデンサが使用
される。本発明の検電器の分圧手段３０における入力イ
ンピーダンスはＣ（３１）／Ｃ（３２）／（Ｃ（３１）
＋Ｃ（３２））、分圧比はＣ（３１）／（Ｃ（３１）＋
Ｃ（３２））で与えられる。なお、Ｃ（ ）は（ ）内
の番号のコンデンサ容量値を表わす。ここで前掲の例の
ように分圧比を１／１０００とした場合、入力インピー
ダンスはＣ（３１）にほぼ依存するので、Ｃ（３１）を
計測対象５とプローブ２との間に形成される結合容量と
同等又はそれ以下にすれば良い。
【００１０】そして、入力コンデンサ３１の耐圧は計測
対象の電圧以上であればよく、誘電体を適当に選択すれ
ば超高抵抗器に比べ精度や安定度において優れたコンデ
ンサを入力コンデンサ３１として安価かつ容易に入手す
ることができる。また、入力インピーダンスは計測対象
５とプローブ２との間に形成される結合容量のインピー
ダンスと並行して計測対象５の周波数に従って変動する
ため、計測値の周波数によるずれを考慮しなくてもよ
い。
対象の電圧以上であればよく、誘電体を適当に選択すれ
ば超高抵抗器に比べ精度や安定度において優れたコンデ
ンサを入力コンデンサ３１として安価かつ容易に入手す
ることができる。また、入力インピーダンスは計測対象
５とプローブ２との間に形成される結合容量のインピー
ダンスと並行して計測対象５の周波数に従って変動する
ため、計測値の周波数によるずれを考慮しなくてもよ
い。
【００１１】図２は図１に示すこの発明の検電器の回路
の詳細例を示す構成図である。プローブ２にて検出され
た計測対象５の電圧は、計測対象５とプローブ２との間
に形成される結合容量及び入力コンデンサ３１，３３の
直列合成コンデンサと、分圧コンデンサ３２とにより分
圧され、ＦＥＴ２１及びソース抵抗器２２で構成される
インピーダンス変換回路を経て演算増幅器２３、帰還抵
抗器２４及び分圧抵抗器２５で構成される増幅器に入力
される。増幅器で適当な電圧まで増幅された信号は結合
コンデンサ２６を通じて交流電圧計２７に送出される。
の詳細例を示す構成図である。プローブ２にて検出され
た計測対象５の電圧は、計測対象５とプローブ２との間
に形成される結合容量及び入力コンデンサ３１，３３の
直列合成コンデンサと、分圧コンデンサ３２とにより分
圧され、ＦＥＴ２１及びソース抵抗器２２で構成される
インピーダンス変換回路を経て演算増幅器２３、帰還抵
抗器２４及び分圧抵抗器２５で構成される増幅器に入力
される。増幅器で適当な電圧まで増幅された信号は結合
コンデンサ２６を通じて交流電圧計２７に送出される。
【００１２】なお、入力コンデンサが直列接続された２
個のコンデンサ３１，３３で構成されているが、これは
万一片方のコンデンサが破壊した際の感電を防止するた
めである。また、バイアス抵抗器２８はインピーダンス
変換回路のＦＥＴ２１のゲート端子に直流バイアスを与
えるためのものであり、計測対象５の周波数における分
圧コンデンサ３２のインピーダンスに比して十分に大き
な値に設定され、分圧比及び周波数特性に害を与えない
ようになっている。
個のコンデンサ３１，３３で構成されているが、これは
万一片方のコンデンサが破壊した際の感電を防止するた
めである。また、バイアス抵抗器２８はインピーダンス
変換回路のＦＥＴ２１のゲート端子に直流バイアスを与
えるためのものであり、計測対象５の周波数における分
圧コンデンサ３２のインピーダンスに比して十分に大き
な値に設定され、分圧比及び周波数特性に害を与えない
ようになっている。
【００１３】
【発明の効果】以上のようにこの発明の検電器によれ
ば、超高抵抗器を不要とし、また計測対象の周波数の変
動があっても常に正確な計測値を得ることができるの
で、高精度であって安価な検電器を提供することができ
る。
ば、超高抵抗器を不要とし、また計測対象の周波数の変
動があっても常に正確な計測値を得ることができるの
で、高精度であって安価な検電器を提供することができ
る。
【図１】この発明の検電器の回路例を示す概略構成図で
ある。
ある。
【図２】図１に示すこの発明の検電器の回路の詳細例を
示す構成図である。
示す構成図である。
【図３】従来の検電器の回路例を示す概略構成図であ
る。
る。
【図４】一般的な検電器の一例を示す概略斜視図であ
る。
る。
１ 本体 ２ プローブ ３ 液晶表示板 ４ スイッチ ５ 計測対象 １０，３０ 分圧手段 １１ 入力抵抗器 １２ 分圧抵抗器 １３，１４，３３ コンデンサ ２０ 計測表示手段 ２１ ＦＥＴ ２２ ソース抵抗器 ２３ 演算増幅器 ２４ 帰還抵抗器 ２５ 分圧抵抗器 ２６ 結合コンデンサ ２７ 電圧計 ２８ バイアス抵抗器 ３１ 入力コンデンサ ３２ 分圧コンデンサ
Claims (1)
- 【請求項１】 計測対象に近接又は接触させることによ
り前記計測対象の電圧を検出するプローブと、検出した
電圧を分圧する分圧手段と、前記分圧手段の出力電圧を
計測して表示する計測表示手段とを備えた検電器におい
て、前記分圧手段としてコンデンサを用いたことを特徴
とする検電器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4600093A JPH06235739A (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | 検電器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4600093A JPH06235739A (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | 検電器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06235739A true JPH06235739A (ja) | 1994-08-23 |
Family
ID=12734821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4600093A Pending JPH06235739A (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | 検電器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06235739A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007502423A (ja) * | 2003-08-14 | 2007-02-08 | クァンタム・アプライド・サイエンス・アンド・リサーチ・インコーポレーテッド | 低ノイズ電界センサ |
| JP2012177571A (ja) * | 2011-02-25 | 2012-09-13 | Hitachi Electric Systems Ltd | 交流電力測定装置 |
| KR101721366B1 (ko) * | 2016-05-25 | 2017-03-29 | 조병학 | 휴대용 전기울타리 전압측정기 |
| JP2018132346A (ja) * | 2017-02-14 | 2018-08-23 | 日置電機株式会社 | 電圧検出装置 |
| CN113504403A (zh) * | 2017-09-08 | 2021-10-15 | 亚德诺半导体无限责任公司 | 用于改善共模抑制比的方法和设备及包括这种设备的系统 |
-
1993
- 1993-02-10 JP JP4600093A patent/JPH06235739A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007502423A (ja) * | 2003-08-14 | 2007-02-08 | クァンタム・アプライド・サイエンス・アンド・リサーチ・インコーポレーテッド | 低ノイズ電界センサ |
| JP2012177571A (ja) * | 2011-02-25 | 2012-09-13 | Hitachi Electric Systems Ltd | 交流電力測定装置 |
| KR101721366B1 (ko) * | 2016-05-25 | 2017-03-29 | 조병학 | 휴대용 전기울타리 전압측정기 |
| JP2018132346A (ja) * | 2017-02-14 | 2018-08-23 | 日置電機株式会社 | 電圧検出装置 |
| CN113504403A (zh) * | 2017-09-08 | 2021-10-15 | 亚德诺半导体无限责任公司 | 用于改善共模抑制比的方法和设备及包括这种设备的系统 |
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