JPH0623568Y2 - グロ−放電型成膜装置 - Google Patents

グロ−放電型成膜装置

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JPH0623568Y2
JPH0623568Y2 JP1987024828U JP2482887U JPH0623568Y2 JP H0623568 Y2 JPH0623568 Y2 JP H0623568Y2 JP 1987024828 U JP1987024828 U JP 1987024828U JP 2482887 U JP2482887 U JP 2482887U JP H0623568 Y2 JPH0623568 Y2 JP H0623568Y2
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JP
Japan
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bias voltage
film forming
discharge type
electrode
self
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JP1987024828U
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JPS63131757U (ja
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博 高宮
盛衛 早川
望 生地
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

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  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、1ロットで複数の成膜を完了するための多面
放電構造を備えたグロー放電型成膜装置に関するもので
ある。
[従来の技術] ブラズマCVD、スパッタリング等の薄膜製造装置では、
放電を安定させる目的と1ロット毎の処理量を増加させ
る目的とを兼ねて、チャンバ内に複数のグロー放電場を
構成し、それぞれの放電場にセットした基板上に同時に
薄膜を形成するようにした多面放電型構造を採用したも
のが多い。
ところで、このような多面放電型構造による場合、各々
のグロー放電を互いに等質なものにする必要があるた
め、諸設定条件に厳格な同一性が要求される。しかし、
配置上の制約からチャンバ内に放電場を対称的に構成で
きなかったり、配置上は同一であっても電気的条件が等
価でなかったりして、成膜してみると基板相互で薄膜の
形成速度が異なるといった不具合があった。
そこで、例えば特開昭61−8914号公報、あるいは特開昭
61−15321号公報に示されるように、従来の装置に各グ
ロー放電場の成膜速度を調節し得る手段を付設したもの
が試みられている。
このものは、単一のRF電源にマッチング回路を介し相互
に絶縁された複数のRF電極を並列に接続してなり、少な
くとも一つのRF電極と前記マッチング回路のRF出力端と
の間に直列に、バイアス電圧の可変手段である可変コン
デンサ等を介設した構成であって、これらのリアクタン
スを変化させることにより、成膜速度を調節することが
可能にされている。
[考案が解決しようとする問題点] しかし、この手段は、一度成膜したデータを基に試行錯
誤的にリアクタンスを再調整するものであったり、成膜
状況を視覚観察しながら手操作で随時修正するものであ
ったりという具合に、測定手法が適正でないため操作に
収束性がなく、調節に厳密さと駿敏さを欠く問題があ
る。また、OESなどのプラズマ診断法によるものもあ
るが、この手法による場合、窓の汚れで正確な測定が阻
害されたり、配置上の制約から効果的な測定場所を選定
できなかったりする不具合を伴う。
本考案は、上記不具合に鑑み、測定手段を適正化し、成
膜速度を厳密かつリアルタイムに調節することが可能な
グロー放電型成膜装置を実現することを目的としてい
る。
[問題点を解決するための手段] 本考案は、上記目的を達成するために、次にような手段
を採用したものである。
すなわち、本考案のグロー放電型成膜装置は、単一のRF
電源にマッチング回路を介し相互に絶縁された複数のRF
電極を並列に接続して多面放電型構造を構成してなる成
膜装置において、各RF電極の各々の自己バイアス電圧を
検出するバイアス電圧検出手段と、少なくとも一つのRF
電極と前記マッチング回路のRF出力端との間に介設され
該RF電極の自己バイアス電圧を変化させ得るバイアス電
圧可変手段とを具備してなることを特徴といている。
[作用] このような手段により、成膜速度と極めて相関性の強い
RF電極の自己バイアス電圧を検出して直接測定すれば、
成膜状況のより正確なモニタリングが可能となるので、
これを基にすれば、バイアス電圧可変手段の調節操作を
適切に行なうことができる。また、ハードウェア的に、
検出より得た電圧信号を利用し、これを比較増幅してバ
イアス電圧可変手段にフィードバックするような回路を
組むことも可能となり、より厳密でリアルタイムな修正
機構が容易に構成できる。
[実施例] 以下、本考案の一実施例を図面を参照して説明する。
第1図に示すように、チャンバ1内には絶縁物2を介し
て二つのRF電極3a,3bが背中あわせに設置されてお
り、これら両RF電極3a,3bは、一定距離を隔てて対
設したグランド電極の役割をなす基板ホルダ4a、4b
とそれぞれ対になって、2つのグロー放電場Sa、Sb
を形成している。そして、前記基板ホルダ4a、4bの
裏側には、セットした基板5a、5bを加熱して成膜効
率をアップさせるためのヒータ6a、6bが該基板ホル
ダ4a、4bに対し近接配置されている。
また、前記チャンバ1の外部には、グロー放電に供する
ための単一のRF電源7が設備されており、その出力端7
aには、電力効率をアップさせる目的でマッチング回路
8が接続されている。そして、前記各RF電極3a、3b
がこのマッチング回路8の出力端8aに互いに並列に接
続され、ここからインピーダンス整合されたRFパワーを
導入できるようになっている。この際、前記マッチング
回路8の出力端8aと前記各RF電極3a、3bとのそれ
ぞの間には、バイアス電圧可変手段9であるバリコンC
va、Cvbが介設されており、各RF電極3a、3bへのRF
パワー導入量を、これらバリコンCva、Cvbのキャパシ
タンスの大きさを増減させることによって変更すること
が可能となっている。
一方、各RF電極3a、3bの自己バイアス電圧を検出す
るためのバイアス電圧検出手段であるフィルタ回路10
a、10bが、各RF電極3a、3bと前記バリコンCv
a、Cvbとの間にそれぞれ接続されている。このフィル
タ回路10a、10bは、それぞれチョークコイル11
a、11bとバイパスコンデンサ12a、12bをチョ
ーク入力形に連設してなり、各々RFノイズを含まない自
己バイアス電圧Va、Vbを端子A、Bに取出し得るよ
うにしたものある。ここでは、これら両端子A、Bにオ
シロスコープやペンレコーダ等入力インピーダンスの高
い器材(図示省略)を接続して、その電圧差を測定する
ようになっている。
次に、以上の構成により実際に成膜した場合の結果を次
に説明する。
第2図に示すものは、端子A、Bの電位Va、Vbをモ
ニタリングしながら両者が同一となるようにバリコンC
va、Cvbを調節した際に、前記両電圧Va、Vbの時間
変化の様子をペンレコーダによって記録したものであ
る。この図に示されるように、放電の開始直後には両電
圧Va、Vbの一致が見られており、この場合における
両基板5a、5b上の成膜速度の差は、該両基板5a、
5bの成膜速度の平均値の±2%以内にすることができ
たものである。
なお、以上の構成によるものの他に、両端子A、Bと前
記バリコンCva、Cvbとの間に自動コントロールシステ
ムを介設することも可能である。第3図は、前記自動コ
ントロールシステム13の一例として構成したもののブ
ロックダイヤグラムを示しており、各々の自己バイアス
電圧Va、Vbは入力先の誤差増幅器14で比較され、
誤差がある場合にのみその誤差を増幅してバリコンCva
の容量可変用モータMを駆動し、基板5a上の成膜速度
を基板5b上のそれに一致させるようにしたものであ
る。このような構成であれば、常に自己バイアス電圧を
相互に一致させておくことができ、より厳密でリアルタ
イムな成膜速度の調節が実現できるものである。
なお、本考案は電極数が三枚以上のものであっても同様
に適用でき、また平行平板型に限定されない。さらに、
バイアス電圧検出手段やバイアス電圧可変手段の構成も
上記実施例のみに限定されず、その趣旨を逸脱しない範
囲で種々変形が可能である。
[考案の効果] 本考案は、以上のように、成膜速度と極めて相関性の強
い自己バイアス電圧を検出して測定し、その測定結果に
応じてバイアス電圧可変手段を操作する構成より、成膜
速度の調節を適正化したグロー放電型成膜装置を提供で
きるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本考案の一実施例を示し、第1図
は概略的な全体図、第2図は作用説明図である。また、
第3図は他の実施例に用いた自動コントロールシステム
のブロックダイヤグラムを示している。 3a、3b……RF電極、7……RF電源 8……マッチング回路、8a……RF出力端 9……バイアス電圧可変手段 10a、10b……バイアス電圧検出手段(フィルタ回
路)

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】単一のRF電源にマッチング回路を介し相互
    に絶縁された複数のRF電極を並列に接続して多面放電型
    構造を構成してなる成膜装置において、各RF電極の自己
    バイアス電圧を検出するバイアス電圧検出手段と、少な
    くとも一つのRF電極と前記マッチング回路のRF出力端と
    の間に介設され該RF電極の自己バイアス電圧を変化させ
    得るバイアス電圧可変手段とを具備してなることを特徴
    とするグロー放電型成膜装置。
JP1987024828U 1987-02-21 1987-02-21 グロ−放電型成膜装置 Expired - Lifetime JPH0623568Y2 (ja)

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JPS63131757U JPS63131757U (ja) 1988-08-29
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP5190316B2 (ja) * 2007-10-04 2013-04-24 キヤノンアネルバ株式会社 高周波スパッタリング装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59183827A (ja) * 1983-03-31 1984-10-19 Japan Synthetic Rubber Co Ltd プラズマ連続処理装置

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